JPS5937446A - 耐光性試験機用放射照度モニタ−装置 - Google Patents
耐光性試験機用放射照度モニタ−装置Info
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- JPS5937446A JPS5937446A JP14874882A JP14874882A JPS5937446A JP S5937446 A JPS5937446 A JP S5937446A JP 14874882 A JP14874882 A JP 14874882A JP 14874882 A JP14874882 A JP 14874882A JP S5937446 A JPS5937446 A JP S5937446A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、人工光源を用い友耐光性試験装置において光
源から試験片にあたる特定波長の紫外線の分光放射照度
の経時変化および試験中の積算値を求めると共に、ラン
プの点灯条件が適正に保たれているか否かを監視するた
めの耐光性試験装置用放射照度モニター装置に関するも
のである。
源から試験片にあたる特定波長の紫外線の分光放射照度
の経時変化および試験中の積算値を求めると共に、ラン
プの点灯条件が適正に保たれているか否かを監視するた
めの耐光性試験装置用放射照度モニター装置に関するも
のである。
このような目的のために従来から光電式光センサーを用
いた光モニター装置が用いらｎているが、種々な欠点を
持っている。例えば光電式光センサーの分光感度が温度
の影響全骨けその影響が波長によって異ること、又暗電
流が温度によって変ること１等が知られているにもかか
わらず従来のものは光センサーの温度について注意が払
われていなかった。
いた光モニター装置が用いらｎているが、種々な欠点を
持っている。例えば光電式光センサーの分光感度が温度
の影響全骨けその影響が波長によって異ること、又暗電
流が温度によって変ること１等が知られているにもかか
わらず従来のものは光センサーの温度について注意が払
われていなかった。
本発明においては光センサーの温度を一定に調節制御す
ることによってこのような欠点を除いたものである。
ることによってこのような欠点を除いたものである。
また従来のものは耐光性を試験する材料が表化する波長
領域の紫外線の放射照度またはその時間積算値をモニタ
ーしているが、可視部の狭い特定波長のモニターは行な
われていない、一般に人工光源の放射照度は点灯条件を
一定に保った場合に点灯時間の経過に従って低下するが
、その傾向すなわち動程曲線は第１図のようである。可
視部のある波長の放射照度は第１図のａのようにわずか
の低下を示し、紫外部のある波長は第１３図すのように
可視部にくらべてはるかに大きな低下を示す。
領域の紫外線の放射照度またはその時間積算値をモニタ
ーしているが、可視部の狭い特定波長のモニターは行な
われていない、一般に人工光源の放射照度は点灯条件を
一定に保った場合に点灯時間の経過に従って低下するが
、その傾向すなわち動程曲線は第１図のようである。可
視部のある波長の放射照度は第１図のａのようにわずか
の低下を示し、紫外部のある波長は第１３図すのように
可視部にくらべてはるかに大きな低下を示す。
点灯条件が一定に保たれない場合、例えば電源電圧が変
動する場合には放射照度は電源電圧の二乗秒度に比例し
て変化するので、可視部でも第１図のａにくらべて大き
な変動を示す。更に光源として紫外線螢光ランプを用い
た場合にはランプの周囲温度と風速とによってランプ温
度が変化し、全波長域の放射温度の影響を受ける。
動する場合には放射照度は電源電圧の二乗秒度に比例し
て変化するので、可視部でも第１図のａにくらべて大き
な変動を示す。更に光源として紫外線螢光ランプを用い
た場合にはランプの周囲温度と風速とによってランプ温
度が変化し、全波長域の放射温度の影響を受ける。
このように点灯条件を監視するためには紫外部だけでな
く可視部の変化の少ない波長の光をモニターする必要が
あり、そのためには可視部全領域でなく変化の少ない波
長領域をモニターしなければならない。
く可視部の変化の少ない波長の光をモニターする必要が
あり、そのためには可視部全領域でなく変化の少ない波
長領域をモニターしなければならない。
これらを満足させるために、本発明においては２個以上
の光電式光センサーを、自動温度制御装置を備えた同一
の例へばアルミニウム製の金属ノコツク中に取付けるこ
とによって、全ての光センサーが一定温度に保之れるよ
うにして複数波長での放射照度を同時に測定し、可視部
の一波長での測定を点灯条件の監視に利用し、紫外部の
一波長または複数波長での測定をランプの劣化の監視と
試験試料の受光部のモニターに利用し次。又、放射照度
とその時間積算値は共に重要なので、両者を同時にモニ
ターできるようにしｔものである。
の光電式光センサーを、自動温度制御装置を備えた同一
の例へばアルミニウム製の金属ノコツク中に取付けるこ
とによって、全ての光センサーが一定温度に保之れるよ
うにして複数波長での放射照度を同時に測定し、可視部
の一波長での測定を点灯条件の監視に利用し、紫外部の
一波長または複数波長での測定をランプの劣化の監視と
試験試料の受光部のモニターに利用し次。又、放射照度
とその時間積算値は共に重要なので、両者を同時にモニ
ターできるようにしｔものである。
以下に第２図及び第８図に基いて本発明の実施例を具体
的に説明する。
的に説明する。
第２図は本発明に係る受光部の断面であって、本実施例
では紫外部と可視部と全夫々−波長づつの放射照度を測
定することが出来るものである。
では紫外部と可視部と全夫々−波長づつの放射照度を測
定することが出来るものである。
■及び１′は受光部のコサイン特性改善のための拡散板
で、焼結アルミナ板又は砂すり石英板を採用しである。
で、焼結アルミナ板又は砂すり石英板を採用しである。
２及びτはモニターすべき波長の光を通過させる友めの
干渉フィルターで、該干渉フィルター２としては紫外用
で最大透過波長の誤差土面以内、透過中値幅１０ｎｍ程
度のものを用いである。
干渉フィルターで、該干渉フィルター２としては紫外用
で最大透過波長の誤差土面以内、透過中値幅１０ｎｍ程
度のものを用いである。
最大透過波長は光源の分光特性、試験試料の光劣化の作
用波長、フィルターの入手し易さ、などから決定するも
のである。３１８ｎｍ、 ８６５ｎｍなど水銀輝線スペ
クトルに相当する波長のものが入手し易い。光源として
紫外線螢光ランプを使う場合には螢光体から発光する連
続スペクトル光と上記輝線スペクトル光とをまとめて測
定することになる。ここでは８１８ｎｍのものを用いた
が、３１３土１０ｎｍすなわち８０８ｎｍ から８２８
ｎｍまでの紫外線放射照度を求めるとは考えず、８１８
ｎｍにおける分光放射照度ｖｉ−１０ｎｍの波長幅で測
定するものと考えて値付けした・ただし紫外部干渉フィ
ルターの分光透過率は最大透過波長を中心として左右不
対称である。
用波長、フィルターの入手し易さ、などから決定するも
のである。３１８ｎｍ、 ８６５ｎｍなど水銀輝線スペ
クトルに相当する波長のものが入手し易い。光源として
紫外線螢光ランプを使う場合には螢光体から発光する連
続スペクトル光と上記輝線スペクトル光とをまとめて測
定することになる。ここでは８１８ｎｍのものを用いた
が、３１３土１０ｎｍすなわち８０８ｎｍ から８２８
ｎｍまでの紫外線放射照度を求めるとは考えず、８１８
ｎｍにおける分光放射照度ｖｉ−１０ｎｍの波長幅で測
定するものと考えて値付けした・ただし紫外部干渉フィ
ルターの分光透過率は最大透過波長を中心として左右不
対称である。
前記した干渉フィルターゾは可視部用干渉フィルターで
、紫外線螢光ランプ光源の場合に最大透過波長５４６±
ｌｎｍ、透過中値幅８ｎｍ透過率の左右対称性のよいも
のを用いた。これは螢光ランプの株色の水銀輝線に相当
する波長を監視するもので、この波長の光は第１図で示
すようにランプの劣化にともなう経時変化が少ない。
、紫外線螢光ランプ光源の場合に最大透過波長５４６±
ｌｎｍ、透過中値幅８ｎｍ透過率の左右対称性のよいも
のを用いた。これは螢光ランプの株色の水銀輝線に相当
する波長を監視するもので、この波長の光は第１図で示
すようにランプの劣化にともなう経時変化が少ない。
紫外線螢光ランプではこの領域に螢光体発光はなく５５
４６簡における輝線の放射照度だけを測定していること
になる。
４６簡における輝線の放射照度だけを測定していること
になる。
８及びぎは光センサーへの斜入射を防止するための光ガ
イドでハニカム状に形成しである。干渉フィルター２及
びτは斜入射によって透過波長が変るので、測定する波
長領域を正確に保ち九い場合に必要であるが、相対的モ
ニターで充分な場合には省略することもできる。
イドでハニカム状に形成しである。干渉フィルター２及
びτは斜入射によって透過波長が変るので、測定する波
長領域を正確に保ち九い場合に必要であるが、相対的モ
ニターで充分な場合には省略することもできる。
４及び４′は光センサーとしてのシリコンフォトダイオ
ードで、同一性能のものを前記干渉フィルター２及びゾ
との組合せによって４は紫外部４′は可視部用とする。
ードで、同一性能のものを前記干渉フィルター２及びゾ
との組合せによって４は紫外部４′は可視部用とする。
可視部の放射照度が大きすぎる場合には干渉フィルター
２′と光センサ−４′との間にフォトエツチングによる
金属減光板（図示せず）を入れて入射光を調節できる。
２′と光センサ−４′との間にフォトエツチングによる
金属減光板（図示せず）を入れて入射光を調節できる。
更に紫外部の測定波長の数をふやす場合には金属ブロッ
ク７としてのアルミニウムブロック内に上記と同様な受
光系を増設すればよい。
ク７としてのアルミニウムブロック内に上記と同様な受
光系を増設すればよい。
５＃′ｉ温度センサー、６け半導体発熱体であり、金属
ブロック７としてのアルミニウムブロック内の温度を一
定に保つために用いられる。８けシリカゲルであって、
アルミニウムブロック内を乾燥させるものである。紫外
用干渉フィルター２に組合された黒色のバンドパスフィ
ルター（図示せず）は特に水蒸気によって加水分解劣化
するので、ブロック７内ｔｆｉＯリングとハーメチック
シール９で完全に防湿構造としである。
ブロック７としてのアルミニウムブロック内の温度を一
定に保つために用いられる。８けシリカゲルであって、
アルミニウムブロック内を乾燥させるものである。紫外
用干渉フィルター２に組合された黒色のバンドパスフィ
ルター（図示せず）は特に水蒸気によって加水分解劣化
するので、ブロック７内ｔｆｉＯリングとハーメチック
シール９で完全に防湿構造としである。
１０はブロック支持および測定回路を通すためのパイプ
である。１１は熱絶縁用高分子発泡体で、表面は光劣化
を防止するためアルミニウム箔などで包んである。
である。１１は熱絶縁用高分子発泡体で、表面は光劣化
を防止するためアルミニウム箔などで包んである。
第８図は測光回路および温度調節回路のブロックダイヤ
グラムである。
グラムである。
１８及び１８′は光センサ−（４，４′）の光電流を電
圧に変換する光電流−電圧変換回路であり、電流測定用
ＩＣの負帰還抵抗を変えることにより又次段増幅回路の
増幅率を変えることによって感度を調整するよう成しで
ある。又感度の値付（７） けは分光放射照度標準ランプによって値付けされたハロ
ゲンランプを用いて行なう。
圧に変換する光電流−電圧変換回路であり、電流測定用
ＩＣの負帰還抵抗を変えることにより又次段増幅回路の
増幅率を変えることによって感度を調整するよう成しで
ある。又感度の値付（７） けは分光放射照度標準ランプによって値付けされたハロ
ゲンランプを用いて行なう。
１２及び１２′は光電流−電圧変換回路（１８，１８’
）で測定さ几た電圧値全周波数に変換する電圧−周波数
変換回路、１８及び１３′は短時間の積分で瞬間の放射
照度を計算する演算回路、１４及び１（は照射の開始か
ら終了まで積分をっｙけて積算放射照度を計算する積分
回路である。１５薦１５’はそれらをディジタル表示す
る表示器である。
）で測定さ几た電圧値全周波数に変換する電圧−周波数
変換回路、１８及び１３′は短時間の積分で瞬間の放射
照度を計算する演算回路、１４及び１（は照射の開始か
ら終了まで積分をっｙけて積算放射照度を計算する積分
回路である。１５薦１５’はそれらをディジタル表示す
る表示器である。
又必要に応じてディジタルプリントすることもできる。
１６はアナログ除算回路であり、紫外／可視の比率を求
めることができるように成しである。
めることができるように成しである。
温度センサー６としては絶対温度測定用ＩＣを用い、温
度調節回路１７によって半導体発熱体６の発熱を自動制
御してアルミニウムブロック７を一定温度に保つように
成しである。
度調節回路１７によって半導体発熱体６の発熱を自動制
御してアルミニウムブロック７を一定温度に保つように
成しである。
光センサ一温度は暗電流減少の点からは低い方が望まし
いが、簡易化のため加熱保温としである。設定温度は周
囲の窒気湛度の予想最高値と（８） しである。
いが、簡易化のため加熱保温としである。設定温度は周
囲の窒気湛度の予想最高値と（８） しである。
次に叙上の構成から成る本発明の作用について説明する
。
。
一定温度に制御され友金属ブロック７内の光センサ−４
に拡散板１、干渉フィルター２．光ガイド８を介して光
源（図示せず）からの紫外部の特定波長を入射せしめる
と同時に光センサーイに拡散板１′、干渉フィルター２
′、光ガイド８′を介して光源からの可視部の特定波長
を入射せしめる。
に拡散板１、干渉フィルター２．光ガイド８を介して光
源（図示せず）からの紫外部の特定波長を入射せしめる
と同時に光センサーイに拡散板１′、干渉フィルター２
′、光ガイド８′を介して光源からの可視部の特定波長
を入射せしめる。
光センサ−（４，４’）に入射した光は光電流−電圧変
換回路（１８，１８’ ）により電気信号に変換され、
次段で電圧−周波数変換回路（１２゜１２′）により周
波数に変換さｎ１演算回路ｏ８．１ Ｂ’ ） 、積分
回路（１４，１４Ｊｔ−介して表示器（１５，１５’
） に放射照度がデジタル表示せしめらｎる。
換回路（１８，１８’ ）により電気信号に変換され、
次段で電圧−周波数変換回路（１２゜１２′）により周
波数に変換さｎ１演算回路ｏ８．１ Ｂ’ ） 、積分
回路（１４，１４Ｊｔ−介して表示器（１５，１５’
） に放射照度がデジタル表示せしめらｎる。
而して１本発明は叙上の如き構成及び作用を有するもの
で、特に温度調節をした光センサーに少なくとも紫外部
と可視部の２つの特定波長の光を同時に入射すべく成し
たので、高精度の測定を簡単に行い得る等の効果がある
。
で、特に温度調節をした光センサーに少なくとも紫外部
と可視部の２つの特定波長の光を同時に入射すべく成し
たので、高精度の測定を簡単に行い得る等の効果がある
。
第１図は螢光灯から放射される紫外部ａ及び可視部すの
放射照度の時間に対する一般的変化を表わす図で、横軸
に時間ｔ１縦軸に放射照度Ｑを採っである。 第２図は本発明に係るモニター装置の概略図、第８図は
同じくその電気回路のブロックダイヤグラムである。 ４．４’・ｉセンサー ５・・・温度センサー７・・
・金属ブロック １５．１５’・・・表示器特許出願
人 峰 松 陽 − 第１図 命嘔 １−− 第２図 第３図 ６
放射照度の時間に対する一般的変化を表わす図で、横軸
に時間ｔ１縦軸に放射照度Ｑを採っである。 第２図は本発明に係るモニター装置の概略図、第８図は
同じくその電気回路のブロックダイヤグラムである。 ４．４’・ｉセンサー ５・・・温度センサー７・・
・金属ブロック １５．１５’・・・表示器特許出願
人 峰 松 陽 − 第１図 命嘔 １−− 第２図 第３図 ６
Claims (1)
- 経時変化の大きい紫外部め特定波長の放射照度と経時変
化の小さい可視部の特定波長の放射照度とを、一定温度
に調節制御された金属ブロックケース内においた二個又
はそれ以上の数の光電光センサーによって同時に測定し
、可視部を基準にして紫外部の放射照度の経時低下およ
び光源ランプの点灯条件の維持状態をモニターすること
を特徴とする耐光性試験機用放射照度モニター装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14874882A JPS5937446A (ja) | 1982-08-26 | 1982-08-26 | 耐光性試験機用放射照度モニタ−装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14874882A JPS5937446A (ja) | 1982-08-26 | 1982-08-26 | 耐光性試験機用放射照度モニタ−装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5937446A true JPS5937446A (ja) | 1984-02-29 |
| JPH0216982B2 JPH0216982B2 (ja) | 1990-04-19 |
Family
ID=15459738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14874882A Granted JPS5937446A (ja) | 1982-08-26 | 1982-08-26 | 耐光性試験機用放射照度モニタ−装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5937446A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02115726A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 | Matsushita Electric Works Ltd | 受光量計測装置 |
| JP2016038387A (ja) * | 2014-08-07 | 2016-03-22 | アトラス マテリアル テスティング テクノロジー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 暴露装置用の複数のセンサを備えるセンサ装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0415783U (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-07 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5429034U (ja) * | 1977-07-29 | 1979-02-26 |
-
1982
- 1982-08-26 JP JP14874882A patent/JPS5937446A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5429034U (ja) * | 1977-07-29 | 1979-02-26 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02115726A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 | Matsushita Electric Works Ltd | 受光量計測装置 |
| JP2016038387A (ja) * | 2014-08-07 | 2016-03-22 | アトラス マテリアル テスティング テクノロジー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 暴露装置用の複数のセンサを備えるセンサ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0216982B2 (ja) | 1990-04-19 |
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