JPH02173264A - 高硬度多層膜 - Google Patents
高硬度多層膜Info
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- JPH02173264A JPH02173264A JP32857188A JP32857188A JPH02173264A JP H02173264 A JPH02173264 A JP H02173264A JP 32857188 A JP32857188 A JP 32857188A JP 32857188 A JP32857188 A JP 32857188A JP H02173264 A JPH02173264 A JP H02173264A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高硬度多層膜に関する。
一般に、ダイヤモンド薄膜や立方晶系窒化ホウ素(cB
N)薄膜は極めて高硬度でかつ電気的特性や熱伝導性に
優れているため、広い用途を有している。特に、これら
薄膜は、切削工具、プレス金型等に通用することにより
、長寿命化を図ることができる点で期待されている。
N)薄膜は極めて高硬度でかつ電気的特性や熱伝導性に
優れているため、広い用途を有している。特に、これら
薄膜は、切削工具、プレス金型等に通用することにより
、長寿命化を図ることができる点で期待されている。
このような高硬度、高耐性を有する薄膜は種々の合成法
によって創成されており、例えばダイヤモンド薄膜およ
びcBNl膜の形成技術に関しては、精密工学会誌第5
3@第10号(通5634号、1987年10月)に超
硬質薄膜形成技術として具体的内容が開示されている。
によって創成されており、例えばダイヤモンド薄膜およ
びcBNl膜の形成技術に関しては、精密工学会誌第5
3@第10号(通5634号、1987年10月)に超
硬質薄膜形成技術として具体的内容が開示されている。
上記学会誌の中で、ダイヤモンドm1llの合成方法と
しては、原料ガスとして炭化水素と水素または含酸素有
機化合物と水素を使いかつ加熱したフィラメントを用い
て混合ガスを分解して成膜する熱フイラメントCVD法
、原料ガスとしてメタンおよび水素を用いてマイクロ波
プラズマ中で成膜するマイクロ波CVD法、原料ガスの
分解、励起のために電子を加速させて成膜する電子衝撃
CVD法、イオンビームをグラファイトターゲットに照
射して炭素をスパッタさせ成膜するイオンビームスパッ
タ法または粒子をイオン化させて蒸着を行って成膜する
イオン蒸着法などが掲げられている。
しては、原料ガスとして炭化水素と水素または含酸素有
機化合物と水素を使いかつ加熱したフィラメントを用い
て混合ガスを分解して成膜する熱フイラメントCVD法
、原料ガスとしてメタンおよび水素を用いてマイクロ波
プラズマ中で成膜するマイクロ波CVD法、原料ガスの
分解、励起のために電子を加速させて成膜する電子衝撃
CVD法、イオンビームをグラファイトターゲットに照
射して炭素をスパッタさせ成膜するイオンビームスパッ
タ法または粒子をイオン化させて蒸着を行って成膜する
イオン蒸着法などが掲げられている。
一方、cBNの合成方法としては、原料ガスとしてジボ
ラン、アンモニアおよび水素を用いて高周波プラズマと
熱フイラメント加熱により成膜するRFプラズマCVD
法、高出力CO,レーザをhBN母材に照射し、蒸発さ
せ、基板を窒素イオンで照射しながら成膜するレーザP
VD法、窒素ガスフロー雰囲気中でホロカソード放電蒸
発源と電子ビーム蒸発源を用いて成膜する活性化反応蒸
着法または30〜40KeVで加速した窒素イオンを基
板上に照射し、電子銃でホウ素を蒸発させて成膜するI
VD法などが掲げられている。
ラン、アンモニアおよび水素を用いて高周波プラズマと
熱フイラメント加熱により成膜するRFプラズマCVD
法、高出力CO,レーザをhBN母材に照射し、蒸発さ
せ、基板を窒素イオンで照射しながら成膜するレーザP
VD法、窒素ガスフロー雰囲気中でホロカソード放電蒸
発源と電子ビーム蒸発源を用いて成膜する活性化反応蒸
着法または30〜40KeVで加速した窒素イオンを基
板上に照射し、電子銃でホウ素を蒸発させて成膜するI
VD法などが掲げられている。
従来、上記IWA形成技術によって基板上に成膜された
ダイヤモンド薄膜やcBN薄膜は、それぞれ単一層で形
成されていた。
ダイヤモンド薄膜やcBN薄膜は、それぞれ単一層で形
成されていた。
しかし、従来のように、ダイヤモンド1Jffllまた
はcBN薄膜の単一層で構成したものでは、それぞれ長
所を有するものの、短所も有しており、満足できるもの
ではなかった。すなわち、硬度に関しては、ダイヤモン
ド薄膜の方がcBN薄膜より優れており、耐熱性に関し
てはcBNEi膜の方がダイヤモンド薄膜より優れてい
る。また、ダイヤモンド薄膜は主として非鉄金属に適し
ており、cBN薄膜は鉄系材料に適していて実用価値が
大きい、さらに、ダイヤモンド薄膜、cBN薄膜ともに
、単一層では、膜応力の影響により基材との密着性が悪
いという問題点があった。
はcBN薄膜の単一層で構成したものでは、それぞれ長
所を有するものの、短所も有しており、満足できるもの
ではなかった。すなわち、硬度に関しては、ダイヤモン
ド薄膜の方がcBN薄膜より優れており、耐熱性に関し
てはcBNEi膜の方がダイヤモンド薄膜より優れてい
る。また、ダイヤモンド薄膜は主として非鉄金属に適し
ており、cBN薄膜は鉄系材料に適していて実用価値が
大きい、さらに、ダイヤモンド薄膜、cBN薄膜ともに
、単一層では、膜応力の影響により基材との密着性が悪
いという問題点があった。
本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてなされたもので
、硬度および耐熱性に優れており、基材との密着性に優
れた高硬度多層膜を提供することを目的とする。
、硬度および耐熱性に優れており、基材との密着性に優
れた高硬度多層膜を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本発明は、立方晶系窒化ホ
ウ素薄膜とダイヤモンド薄膜とを交互に基板上に積層し
、各薄膜の膜厚をそれぞれ10〜100 n−とじ、全
積層数を4層以上にして高硬度多層膜を構成した。
ウ素薄膜とダイヤモンド薄膜とを交互に基板上に積層し
、各薄膜の膜厚をそれぞれ10〜100 n−とじ、全
積層数を4層以上にして高硬度多層膜を構成した。
本発明において、各薄膜の膜厚を10〜1100nとし
たのは、I!lyi、がIon―未満であると膜として
の成膜時の制御が困難となり、一方膜厚が1100nを
越えると膜の応力が太き(なってしまい、剥離し易(な
ってしまうからである、また、全積層数を4層以上とし
たのは3層以下であると摩耗が早くなってしまうととも
に、硬度や耐熱性等の機能を発揮できなくなってしまう
からである。
たのは、I!lyi、がIon―未満であると膜として
の成膜時の制御が困難となり、一方膜厚が1100nを
越えると膜の応力が太き(なってしまい、剥離し易(な
ってしまうからである、また、全積層数を4層以上とし
たのは3層以下であると摩耗が早くなってしまうととも
に、硬度や耐熱性等の機能を発揮できなくなってしまう
からである。
本発明の高硬度多層膜を製造するには、ホウ素含有ガス
と窒素含有ガスとの混合ガス、炭化水素と水素とを混合
させたまものを交互にマイクロ波プラズマ中に通過させ
て励起状態にし、500〜1200℃に加熱した基板上
にcBNl膜とダイヤモンド薄膜とを交互に積層し、成
膜を行うものである。
と窒素含有ガスとの混合ガス、炭化水素と水素とを混合
させたまものを交互にマイクロ波プラズマ中に通過させ
て励起状態にし、500〜1200℃に加熱した基板上
にcBNl膜とダイヤモンド薄膜とを交互に積層し、成
膜を行うものである。
cBNを合成するホウ素含有ガス及び窒素含有ガスとダ
イヤモンドを合成する炭化水素及び水素とは、それぞれ
コンビエータによって精度良く制御された電磁パルプに
より、原料ガスが瞬時に切り換えられるようにする。ま
た、各原料ガスはマス・フロー・コントローラによって
正確にitを制御し、減圧した反応管の中に導入する。
イヤモンドを合成する炭化水素及び水素とは、それぞれ
コンビエータによって精度良く制御された電磁パルプに
より、原料ガスが瞬時に切り換えられるようにする。ま
た、各原料ガスはマス・フロー・コントローラによって
正確にitを制御し、減圧した反応管の中に導入する。
安定なプラズマ状態を維持するには、反応管内の圧力を
0、1Torr〜100Torrの範囲内に設定するの
が好ましい、この範囲外では、安定したプラズマ状態を
維持するのが困難となる。
0、1Torr〜100Torrの範囲内に設定するの
が好ましい、この範囲外では、安定したプラズマ状態を
維持するのが困難となる。
次に、cBN薄膜とダイヤモンド薄膜とを積層する手順
について説明する。
について説明する。
まず、反応管内をlXl0−’↑orr以下まで真空排
気する。 I Xl0−’Torr以下に圧力が達し
た時点で、パージ用窒素ガスを30分間流し続ける。こ
の時には、マイクロ波電源を投入し、プラズマ状態とし
ておく、管内パージが完了したら、cBN合成に必要な
ホウ素含有ガスおよび窒素含有ガスを反応管内に流して
マイクロ波プラズマ中でcBNIIIiを成膜する。所
望の膜厚に達した時点で原料ガスの供給を瞬時に停止さ
せ、パージ用窒素を1分以上流す、パージが完了したら
、今度はダイヤモンド合成に必要な炭化水素及び水素を
反応管内に流してマイクロ波プラズマ中でダイヤモンド
合成膜を成膜する。所望の膜厚に達した時点で原料ガス
の供給を瞬時に停止させ、パージ用窒素を流す。以降、
この作業@繰り返し、所望の層数まで成膜を行う。
気する。 I Xl0−’Torr以下に圧力が達し
た時点で、パージ用窒素ガスを30分間流し続ける。こ
の時には、マイクロ波電源を投入し、プラズマ状態とし
ておく、管内パージが完了したら、cBN合成に必要な
ホウ素含有ガスおよび窒素含有ガスを反応管内に流して
マイクロ波プラズマ中でcBNIIIiを成膜する。所
望の膜厚に達した時点で原料ガスの供給を瞬時に停止さ
せ、パージ用窒素を1分以上流す、パージが完了したら
、今度はダイヤモンド合成に必要な炭化水素及び水素を
反応管内に流してマイクロ波プラズマ中でダイヤモンド
合成膜を成膜する。所望の膜厚に達した時点で原料ガス
の供給を瞬時に停止させ、パージ用窒素を流す。以降、
この作業@繰り返し、所望の層数まで成膜を行う。
(作用〕
上記構成の本発明の高硬度多層膜によれば、ダイヤモン
ド薄膜とcBN薄膜との両者の特性が得られ、十分な硬
度および耐熱性を発揮するとともに、基板と良好に密着
する。
ド薄膜とcBN薄膜との両者の特性が得られ、十分な硬
度および耐熱性を発揮するとともに、基板と良好に密着
する。
(第1実施例)
図は、本実施例において使用した成膜装置を示すもので
、反応管1には、ホウ素含有ガスタンク2、窒素含有ガ
スタンク3、炭化水素タンク4、水素タンク5およびパ
ージ用窒素タンク6がそれぞれ連通接続されている。ま
た、反応管lには排気ポンプ7が接続されており、反応
管l内を所望の圧力に排気できるようになっている。さ
らに、反応管lの外周には、マイクロ波発振器8が配設
されている。9は反応管1内に設けられた基板である。
、反応管1には、ホウ素含有ガスタンク2、窒素含有ガ
スタンク3、炭化水素タンク4、水素タンク5およびパ
ージ用窒素タンク6がそれぞれ連通接続されている。ま
た、反応管lには排気ポンプ7が接続されており、反応
管l内を所望の圧力に排気できるようになっている。さ
らに、反応管lの外周には、マイクロ波発振器8が配設
されている。9は反応管1内に設けられた基板である。
このような構成の成膜装置を用いて4層構造の高硬度多
層膜を形成した。
層膜を形成した。
基板9としてシリコン・ウェハを使用し、cBN用原料
ガスとしてB g H&およびN Hxをそれぞれ10
cc/winおよび20cc/winの割合で流し、ダ
イヤモンド用原料ガスとしてCH,およびH!をそれぞ
れ4 cc/winおよび200cc/winの割合で
流した。
ガスとしてB g H&およびN Hxをそれぞれ10
cc/winおよび20cc/winの割合で流し、ダ
イヤモンド用原料ガスとしてCH,およびH!をそれぞ
れ4 cc/winおよび200cc/winの割合で
流した。
反応管l内圧力は20Torrに調整し、マイクロ波出
力600Wで基板温度800°Cとし、cBN薄膜−層
を1100n、ダイヤモンド薄膜−層を1100nとし
て、基板9側からcBN薄膜、ダイヤモンド薄膜の繰り
返しで成膜を行い、cBNllll、ダイヤモンド薄膜
を交互に積層し、最上層をダイヤモンド薄膜とする4層
構成の高硬度子N膜を作成した。
力600Wで基板温度800°Cとし、cBN薄膜−層
を1100n、ダイヤモンド薄膜−層を1100nとし
て、基板9側からcBN薄膜、ダイヤモンド薄膜の繰り
返しで成膜を行い、cBNllll、ダイヤモンド薄膜
を交互に積層し、最上層をダイヤモンド薄膜とする4層
構成の高硬度子N膜を作成した。
作成した膜を分析したところ、ラマンスペクトルにより
ダイヤモンドが、赤外吸収スペクトルよりcBNがそれ
ぞれ合成されていることを確認できた。
ダイヤモンドが、赤外吸収スペクトルよりcBNがそれ
ぞれ合成されていることを確認できた。
この第1実施例の条件で、超硬合金製の切削チップに高
硬度多層膜のコーティングを行った。また、同様の超硬
合金製の切削チップにダイヤモンド膜単層をコーティン
グしたもの(従来品1)、cBNWi、単層をコーティ
ングしたもの(従来品2)を作成した。そして、これら
の切削チップを用いて、同一条件で切削テストを行った
。その結果、本実施例に係る切削チップは、単層コーテ
イング品である従来品lおよび2に比べて、約3倍の寿
命であった。
硬度多層膜のコーティングを行った。また、同様の超硬
合金製の切削チップにダイヤモンド膜単層をコーティン
グしたもの(従来品1)、cBNWi、単層をコーティ
ングしたもの(従来品2)を作成した。そして、これら
の切削チップを用いて、同一条件で切削テストを行った
。その結果、本実施例に係る切削チップは、単層コーテ
イング品である従来品lおよび2に比べて、約3倍の寿
命であった。
(第2実施例)
第1実施例と同様の成膜装置を用いた。基板9としてシ
リコン・ウェハを使用し、cBN用原料ガスとしてBC
ffi、およびN2をそれぞれ5 cc/sinおよび
10cc/I+inの割合で流し、ダイヤモンド用原料
ガフ、としてC,)(、およびHlをそれぞれlcc/
−inおよび50cc/sinの割合で流した0反応管
1内圧力は40Torrに調整し、 マイクロ洩出カフ
00Wで基板温度900’Cとし、cBN薄膜−層を1
On+s、ダイヤモンド薄膜−層をIonmとして、基
板9側からcBN薄膜、ダイヤモンド薄膜の繰り返しで
成膜を行い、最上層をダイヤモンド薄膜とする30層構
成の高硬度子N膜を作成した。
リコン・ウェハを使用し、cBN用原料ガスとしてBC
ffi、およびN2をそれぞれ5 cc/sinおよび
10cc/I+inの割合で流し、ダイヤモンド用原料
ガフ、としてC,)(、およびHlをそれぞれlcc/
−inおよび50cc/sinの割合で流した0反応管
1内圧力は40Torrに調整し、 マイクロ洩出カフ
00Wで基板温度900’Cとし、cBN薄膜−層を1
On+s、ダイヤモンド薄膜−層をIonmとして、基
板9側からcBN薄膜、ダイヤモンド薄膜の繰り返しで
成膜を行い、最上層をダイヤモンド薄膜とする30層構
成の高硬度子N膜を作成した。
作成した膜を分析したところ、ラマンスペクトルにより
ダイヤモンドが、赤外吸収スペクトルよりcBNがそれ
ぞれ合成されていることを確認できた。
ダイヤモンドが、赤外吸収スペクトルよりcBNがそれ
ぞれ合成されていることを確認できた。
この第2実施例の条件で、超硬合金製の切削チップに高
硬度多層膜のコーティングを行った。また、同様の超硬
合金製の切削チップにダイヤモンド膜単層をコーティン
グしたもの(従来品1)、cBNll単層をコーティン
グしたもの(従来品2)を作成した。そして、これらの
切削チップを用いて、同一条件で切削テストを行った。
硬度多層膜のコーティングを行った。また、同様の超硬
合金製の切削チップにダイヤモンド膜単層をコーティン
グしたもの(従来品1)、cBNll単層をコーティン
グしたもの(従来品2)を作成した。そして、これらの
切削チップを用いて、同一条件で切削テストを行った。
その結果、本実施例に係る切削チップは、単層コーテイ
ング品である従来品1および2に比べて、約5倍の寿命
であった。
ング品である従来品1および2に比べて、約5倍の寿命
であった。
(第3実施例)
第1実施例と同様成膜装置を用いた。基板9としてシリ
コン・ウェハを使用し、cBN用原料ガスとしてBBr
sおよびN8をそれぞれ5 cc/m111および15
cc/a+inの割合で流し、ダイヤモンド用原料ガス
としてCHaおよびH!をそれぞれ2 cc/5iin
および100cc/sinの割合で流した0反応管1内
圧力は50Torrに調整し、マイクロ波出力600W
で基板温度800°Cとし、cBN薄膜−層を20nm
、ダイヤモンド1wA−層を3On−として、基板9側
からcBN’am、ダイヤダイヤモンド単体に積層し、
最上層をダイヤモンド薄膜とする20層構成の高硬度多
層膜を作成した。
コン・ウェハを使用し、cBN用原料ガスとしてBBr
sおよびN8をそれぞれ5 cc/m111および15
cc/a+inの割合で流し、ダイヤモンド用原料ガス
としてCHaおよびH!をそれぞれ2 cc/5iin
および100cc/sinの割合で流した0反応管1内
圧力は50Torrに調整し、マイクロ波出力600W
で基板温度800°Cとし、cBN薄膜−層を20nm
、ダイヤモンド1wA−層を3On−として、基板9側
からcBN’am、ダイヤダイヤモンド単体に積層し、
最上層をダイヤモンド薄膜とする20層構成の高硬度多
層膜を作成した。
作成した膜を分析したところ、ラマンスペクトルにより
ダイヤモンドが、赤外吸収スペクトルよりcBNがそれ
ぞれ合成されていることを確認できた。
ダイヤモンドが、赤外吸収スペクトルよりcBNがそれ
ぞれ合成されていることを確認できた。
この第3実施例の条件で、超硬合金製の切削チップに高
硬度多層膜のコーティングを行った。また、同様の超硬
合金製の切削チップにダイヤモンド膜単層をコーティン
グしたもの(従来品1)、cBN膜単層をコーティング
したもの(従来品2)を作成した。そして、これらの切
削チップを用いて、同一条件で切削テストを行った。そ
の結果、本実施例に係る切削チップは、単層コーテイン
グ品である従来品lおよび2に比べて、約3倍の寿命で
あった。
硬度多層膜のコーティングを行った。また、同様の超硬
合金製の切削チップにダイヤモンド膜単層をコーティン
グしたもの(従来品1)、cBN膜単層をコーティング
したもの(従来品2)を作成した。そして、これらの切
削チップを用いて、同一条件で切削テストを行った。そ
の結果、本実施例に係る切削チップは、単層コーテイン
グ品である従来品lおよび2に比べて、約3倍の寿命で
あった。
上記各実施例で作成した高硬度多層膜は、cBN、ダイ
ヤモンド単体の膜に比べて基材への密着性は大幅に高め
られ、耐熱、耐摩耗性に関しても優れた特性を有してい
た。なお、両方の膜の特長を出すためには、少なくとも
4N以上の積層が必要となり、膜厚に関しても10〜1
00r+aの間に維持することが膜応力を緩和する上で
重要である。
ヤモンド単体の膜に比べて基材への密着性は大幅に高め
られ、耐熱、耐摩耗性に関しても優れた特性を有してい
た。なお、両方の膜の特長を出すためには、少なくとも
4N以上の積層が必要となり、膜厚に関しても10〜1
00r+aの間に維持することが膜応力を緩和する上で
重要である。
I12厚がこの範囲外であると、膜の耐久性は低下する
。
。
以上のように、本発明の高硬度多層膜によれば、cBN
薄膜とダイヤモンド薄膜とを交互に基板上に積層し、各
薄膜の膜厚をそれぞれ10〜100ntsにするととも
に、全積層数を47J以上としたので、硬度および耐熱
性に優れるとともに、従来の単層膜に比して基材との密
着性が極めて良好となり、各種切削用工具および耐摩耗
用工具、高温にさらされるプレス金型等の長寿命化を図
ることができる。
薄膜とダイヤモンド薄膜とを交互に基板上に積層し、各
薄膜の膜厚をそれぞれ10〜100ntsにするととも
に、全積層数を47J以上としたので、硬度および耐熱
性に優れるとともに、従来の単層膜に比して基材との密
着性が極めて良好となり、各種切削用工具および耐摩耗
用工具、高温にさらされるプレス金型等の長寿命化を図
ることができる。
図は本発明の実施例で使用した成膜装置を示す概略構成
図である。 1・・・反応管 2・・・ホウ素含有ガスタンク 3・・・窒素含有ガスタンク 4・・・度化水素タンク 5・・・水素タンク 6・・・パージ用窒素タンク 9・・・基板
図である。 1・・・反応管 2・・・ホウ素含有ガスタンク 3・・・窒素含有ガスタンク 4・・・度化水素タンク 5・・・水素タンク 6・・・パージ用窒素タンク 9・・・基板
Claims (1)
- (1)立方晶系窒化ホウ素薄膜とダイヤモンド薄膜とを
交互に基板上に積層し、各薄膜の膜厚がそれぞれ10〜
100nmであるとともに、全積層数が4層以上である
ことを特徴とする高硬度多層膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32857188A JPH02173264A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 高硬度多層膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32857188A JPH02173264A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 高硬度多層膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02173264A true JPH02173264A (ja) | 1990-07-04 |
Family
ID=18211762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32857188A Pending JPH02173264A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 高硬度多層膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02173264A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5491002A (en) * | 1992-03-20 | 1996-02-13 | General Electric Company | Multilayer CVD diamond films |
| EP0684106A3 (en) * | 1994-05-23 | 1996-08-21 | Sumitomo Electric Industries | Method and device for producing a semiconductor covered with hard material by polishing. |
| US5597625A (en) * | 1993-02-10 | 1997-01-28 | California Institute Of Technology | Low pressure growth of cubic boron nitride films |
| US5736226A (en) * | 1994-06-09 | 1998-04-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Wafer and method of producing a wafer |
| US5776246A (en) * | 1994-04-07 | 1998-07-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Diamond wafer and method of producing a diamond wafer |
| JP2015044700A (ja) * | 2013-08-27 | 2015-03-12 | 日本電信電話株式会社 | ダイヤモンド成長用基板及びその作製方法、並びにこの基板を用いた大面積単結晶ダイヤモンド薄膜及び自立膜の作製方法 |
-
1988
- 1988-12-26 JP JP32857188A patent/JPH02173264A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5491002A (en) * | 1992-03-20 | 1996-02-13 | General Electric Company | Multilayer CVD diamond films |
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| US5597625A (en) * | 1993-02-10 | 1997-01-28 | California Institute Of Technology | Low pressure growth of cubic boron nitride films |
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| US5855998A (en) * | 1994-05-23 | 1999-01-05 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Hard material-coated wafer, method of making same, polishing apparatus and polishing method of hard material-coated wafer |
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| US6193585B1 (en) | 1994-05-23 | 2001-02-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of polishing a hard material-coated wafer |
| US6428399B1 (en) | 1994-05-23 | 2002-08-06 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Polishing apparatus for polishing a hard material-coated wafer |
| US5736226A (en) * | 1994-06-09 | 1998-04-07 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Wafer and method of producing a wafer |
| US5874130A (en) * | 1994-06-09 | 1999-02-23 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Wafer and method of producing a wafer |
| JP2015044700A (ja) * | 2013-08-27 | 2015-03-12 | 日本電信電話株式会社 | ダイヤモンド成長用基板及びその作製方法、並びにこの基板を用いた大面積単結晶ダイヤモンド薄膜及び自立膜の作製方法 |
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