JPH02174265A - 多極の双方向半導体制御素子 - Google Patents
多極の双方向半導体制御素子Info
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- JPH02174265A JPH02174265A JP33007588A JP33007588A JPH02174265A JP H02174265 A JPH02174265 A JP H02174265A JP 33007588 A JP33007588 A JP 33007588A JP 33007588 A JP33007588 A JP 33007588A JP H02174265 A JPH02174265 A JP H02174265A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、雷サージ等の異常電圧から機器を防護する
ための多極の双方向半導体制御素子に関する。
ための多極の双方向半導体制御素子に関する。
(従来の技術)
従来、この種の双方向半導体制御素子としては第8図に
示すものが知られている。この双方向半導体制御素子l
は、順次に隣接する半導体層Nl、半導体層P2、半導
体層N3、半導体層P4及び半導体層N5の5層領域か
ら成り、半導体層N1、N3−及びN5はn型半導体、
半導体層P2、及びP4はp型半導体である。一方の端
部における半導体層N1と半導体層P2とは電極2によ
って短絡され、他方の端部における半導体層P4と半導
体層N5とは電極3によって短絡されている。電極2に
は端子4が形成され、電極3には端子5が形成されてい
る また、この従来の双方向半導体制御素子の電圧−電流特
性は第9図に示すように、高抵抗領域6a、6bと比較
的低い微分抵抗を有する降伏領域7a、7bと移行領域
8a、8bと低抵抗領域IIa、llbとから成るスイ
ッチ特性を持っている。図中の点9a、9bはブレーク
オーバ電圧、点10a、10bは保持電流である。
示すものが知られている。この双方向半導体制御素子l
は、順次に隣接する半導体層Nl、半導体層P2、半導
体層N3、半導体層P4及び半導体層N5の5層領域か
ら成り、半導体層N1、N3−及びN5はn型半導体、
半導体層P2、及びP4はp型半導体である。一方の端
部における半導体層N1と半導体層P2とは電極2によ
って短絡され、他方の端部における半導体層P4と半導
体層N5とは電極3によって短絡されている。電極2に
は端子4が形成され、電極3には端子5が形成されてい
る また、この従来の双方向半導体制御素子の電圧−電流特
性は第9図に示すように、高抵抗領域6a、6bと比較
的低い微分抵抗を有する降伏領域7a、7bと移行領域
8a、8bと低抵抗領域IIa、llbとから成るスイ
ッチ特性を持っている。図中の点9a、9bはブレーク
オーバ電圧、点10a、10bは保持電流である。
次に、この従来の双方向半導体制御素子を用いて通信中
継機器用保安器を構成した例を第10図に示す。
継機器用保安器を構成した例を第10図に示す。
中継器11の入カドランス12の側の通信線の心線14
と心線15との間に素子18、心線14.15とアース
24との間に素子19および20、出カドランス13の
側の心線16.17とアース24との間にに素子21お
よび22、心線16と心線17との間に素子23が、そ
れぞれ接続されている。雷サージが、例えば、心線14
とアース24との間に印加されると、素子19がONし
て雷サージ電流をアース24へ流して中継器11を防護
する。通常、襲雷時において、心線14とアース24と
の間及び心線15とアース24との間には、同時刻に同
電圧のサージが印加される。このとき、素子工9と素子
20とに動作特性の差があると、その差に応じた電圧(
最大で各素子のブレークオーバ電圧の差)が心線1・4
と心線15との間、すなわち中継器11に印加されるの
で、中継器11が損傷することがある。また、心線14
と心線15との間に直接異常電圧が印加された場合、心
線14と心線15との間には素子19と素子20とが直
列に挿入されることとなり、動作電圧は素子19.20
が単独の場合より大きくなり(最大で各素子のブレーク
オーバ電圧の和)、中継器11を防護できない場合があ
る。これらを避けるために素子19と素子20とは動作
特性の等しいものを使うことが望ましく、さらに、心線
I4と心線15との間に素子18を入れる場合が多い0
以上のことは出カドランス13の側も同様であり、この
例では四個ないし六個の双方向半導体制御素子が必要と
なる。
と心線15との間に素子18、心線14.15とアース
24との間に素子19および20、出カドランス13の
側の心線16.17とアース24との間にに素子21お
よび22、心線16と心線17との間に素子23が、そ
れぞれ接続されている。雷サージが、例えば、心線14
とアース24との間に印加されると、素子19がONし
て雷サージ電流をアース24へ流して中継器11を防護
する。通常、襲雷時において、心線14とアース24と
の間及び心線15とアース24との間には、同時刻に同
電圧のサージが印加される。このとき、素子工9と素子
20とに動作特性の差があると、その差に応じた電圧(
最大で各素子のブレークオーバ電圧の差)が心線1・4
と心線15との間、すなわち中継器11に印加されるの
で、中継器11が損傷することがある。また、心線14
と心線15との間に直接異常電圧が印加された場合、心
線14と心線15との間には素子19と素子20とが直
列に挿入されることとなり、動作電圧は素子19.20
が単独の場合より大きくなり(最大で各素子のブレーク
オーバ電圧の和)、中継器11を防護できない場合があ
る。これらを避けるために素子19と素子20とは動作
特性の等しいものを使うことが望ましく、さらに、心線
I4と心線15との間に素子18を入れる場合が多い0
以上のことは出カドランス13の側も同様であり、この
例では四個ないし六個の双方向半導体制御素子が必要と
なる。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、従来の双方向半導体制御素子では、次のよう
な問題点があった。
な問題点があった。
異常電圧から機器を防護する保安器等を構成する場合、
次のように、多数の双方向半導体制御素子を必要とする
。−本の通信線の心線に対し少なくとも一個の双方向半
導体制御素子を用いなCすればならない、また、双方向
半導体制御素子は同一ロットで製造されたものでも動作
特性に差異を生じる場合があり、動作特性の差異に起因
する機器の損傷を避けるための双方向半導体制御素子を
付加しなければならない。
次のように、多数の双方向半導体制御素子を必要とする
。−本の通信線の心線に対し少なくとも一個の双方向半
導体制御素子を用いなCすればならない、また、双方向
半導体制御素子は同一ロットで製造されたものでも動作
特性に差異を生じる場合があり、動作特性の差異に起因
する機器の損傷を避けるための双方向半導体制御素子を
付加しなければならない。
そこで、この発明は、上記の問題点を解決した多極の双
方向半導体制御素子を提供することを目的とする。
方向半導体制御素子を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
このような目的を達成するために、この発明の多極の双
方向半導体制御素子は、複数のpnpn型二端子サイリ
スタから成る双方向半導体制御素子において、第1の導
電型から成る第1の半導体層と、第1の半導体層の一方
の主面に互いに離間して形成された第2の導電型から成
る複数以上の第2の半導体層と、複数以上の第2の半導
体層の各々に第2の半導体層に内包され且つ第2の半導
体層の外部表面に露出して形成された第1の導電型から
成る第3の半導体層と、第1の半導体層の他方の主面に
互いに離間して形成された第2の導電型から成る複数以
上の第4の半導体層と、複数以上の第4の半導体層の各
々に第4の半導体層に内包され且つ第4の半導体層の外
部表面に露出して形成された第1の導電型から成る第5
の半導体層と、複数以上の第2の半導体層と第2の半導
体層に形成された第3の半導体層とを各々の外部表面に
おいて対を成して短絡して形成された複数以上の電極と
、複数以上の第4の半導体層と第4の半導体層に形成さ
れた第5の半導体層とを各々の外部表面において対を成
して短絡して形成された複数以上の電極とから成るもの
である。
方向半導体制御素子は、複数のpnpn型二端子サイリ
スタから成る双方向半導体制御素子において、第1の導
電型から成る第1の半導体層と、第1の半導体層の一方
の主面に互いに離間して形成された第2の導電型から成
る複数以上の第2の半導体層と、複数以上の第2の半導
体層の各々に第2の半導体層に内包され且つ第2の半導
体層の外部表面に露出して形成された第1の導電型から
成る第3の半導体層と、第1の半導体層の他方の主面に
互いに離間して形成された第2の導電型から成る複数以
上の第4の半導体層と、複数以上の第4の半導体層の各
々に第4の半導体層に内包され且つ第4の半導体層の外
部表面に露出して形成された第1の導電型から成る第5
の半導体層と、複数以上の第2の半導体層と第2の半導
体層に形成された第3の半導体層とを各々の外部表面に
おいて対を成して短絡して形成された複数以上の電極と
、複数以上の第4の半導体層と第4の半導体層に形成さ
れた第5の半導体層とを各々の外部表面において対を成
して短絡して形成された複数以上の電極とから成るもの
である。
(作用)
この発明においては、複数のpnpn型二端子サイリス
タが同じ半導体基板に隣接して形成され多極の双方向半
導体制御素子を構成する。したがって、各pnpn型二
端子サイリスタは、互いに極めて近い動作特性になる。
タが同じ半導体基板に隣接して形成され多極の双方向半
導体制御素子を構成する。したがって、各pnpn型二
端子サイリスタは、互いに極めて近い動作特性になる。
また、保安器等を構成する場合、使用する素子数が減少
することにより、小型化が可能で端子数も減少する。
することにより、小型化が可能で端子数も減少する。
(実施例)
第1図は、この発明の多極の双方向半導体制御素子の一
実施例の断面図である。この多極の双方向半導体制御素
子25は、第1の導電型としてn型、第2の導電型とし
てp型を用いている。そして、n型半導体から成る第1
の半導体層N6、第3の半導体層N7a、N7b及び第
5の半導体層N8a、N8b、p型半導体から成る第2
の半導体層P10a、P10b及び第4の半導体層PI
la、pHbの5層頭域から成っている。半導体層N7
aと半導体層P10aとは電極26a1半導体層μ7b
と半導体層P10bとは電極26b、半導体11N8a
と半導体層pHaとは電極27a、半導体層N8bと半
導体層pHbとは電極27bによってそれぞれ短絡され
ている。
実施例の断面図である。この多極の双方向半導体制御素
子25は、第1の導電型としてn型、第2の導電型とし
てp型を用いている。そして、n型半導体から成る第1
の半導体層N6、第3の半導体層N7a、N7b及び第
5の半導体層N8a、N8b、p型半導体から成る第2
の半導体層P10a、P10b及び第4の半導体層PI
la、pHbの5層頭域から成っている。半導体層N7
aと半導体層P10aとは電極26a1半導体層μ7b
と半導体層P10bとは電極26b、半導体11N8a
と半導体層pHaとは電極27a、半導体層N8bと半
導体層pHbとは電極27bによってそれぞれ短絡され
ている。
第2図は1、この多極の双方向半導体制御素子を通信機
器の保安器として使用する例の結線図である。多極の双
方向半導体制御素子25の電極26aと電極26bとに
は端子28、電極27aには端子29゛a、電極27b
には端子29bがそれぞれ設けられる。端子28はアー
ス30へ、端子29aは通信線の心線31aへ、端子2
9bは通信線の心線31bへそれぞれ接続される。そし
て心線31a、31bは通信機器32へ接続される。
器の保安器として使用する例の結線図である。多極の双
方向半導体制御素子25の電極26aと電極26bとに
は端子28、電極27aには端子29゛a、電極27b
には端子29bがそれぞれ設けられる。端子28はアー
ス30へ、端子29aは通信線の心線31aへ、端子2
9bは通信線の心線31bへそれぞれ接続される。そし
て心線31a、31bは通信機器32へ接続される。
次に、この多極の双方向半導体制御素子の動作を説明す
る。まず、この多極の双方向半導体制′4■素子25を
、電極26aと電極27aとによって挟まれた双方向半
導体制御素子33aと、電極26bと電極27bとによ
って挟まれた双方向半導体制御l素子33bと、これら
の素子間の第一の半導体層N6から成る抵抗Rとに分割
して考える。
る。まず、この多極の双方向半導体制′4■素子25を
、電極26aと電極27aとによって挟まれた双方向半
導体制御素子33aと、電極26bと電極27bとによ
って挟まれた双方向半導体制御l素子33bと、これら
の素子間の第一の半導体層N6から成る抵抗Rとに分割
して考える。
ここで、襲雷時に、例えば端子28が正電位に端子29
aが負電位になるように、雷サージが印加されると、第
9図の電圧−電流特性を示して素子33aがONとなり
通信機器32を防護する。このとき、抵抗Rは耐圧を得
るために高比抵抗にしである第一の半導体層N6から成
っているので、その抵抗値は充分に大きく素子33bに
対する影響は極めて小さい、すなわち、素子33aと素
子33bとは電気的に絶縁しているものと見なせる。
aが負電位になるように、雷サージが印加されると、第
9図の電圧−電流特性を示して素子33aがONとなり
通信機器32を防護する。このとき、抵抗Rは耐圧を得
るために高比抵抗にしである第一の半導体層N6から成
っているので、その抵抗値は充分に大きく素子33bに
対する影響は極めて小さい、すなわち、素子33aと素
子33bとは電気的に絶縁しているものと見なせる。
したがって、素子33aと素子33bとは各々独立して
動作する。また、これらの素子において正方向動作と逆
方向動作との電流経路は構造上対称的であるため、正方
向特性と逆方向特性とは極めて近いものが容易に得られ
る。
動作する。また、これらの素子において正方向動作と逆
方向動作との電流経路は構造上対称的であるため、正方
向特性と逆方向特性とは極めて近いものが容易に得られ
る。
また、この多極の双方向半導体制御n素子25を構成す
る素子33aと素子33bとは、同一半導体基板に隣接
して同時に形成されるので、互いに極めて特性の近いも
のが得られる。したがって、従来の技術の説明で述べた
理由により、素子間の動作電圧の差異によって心線31
aと心線31bとの間に生じる電圧は元来低いものであ
る。
る素子33aと素子33bとは、同一半導体基板に隣接
して同時に形成されるので、互いに極めて特性の近いも
のが得られる。したがって、従来の技術の説明で述べた
理由により、素子間の動作電圧の差異によって心線31
aと心線31bとの間に生じる電圧は元来低いものであ
る。
第3図は、この多極の双方向半導体制御素子を通信機器
の保安器として使用する他の例の結線図である。この例
では心線31aと心83 l bとの間に生じる電圧か
ら確実に通信機器32を防護するために、三個の双方向
半導体制御素子から成る多極の双方向半導体制御素子3
4を用いたものである。第2図と同一部分には同一番号
を付しである。新たに設けられた三個口の素子33cは
、−方の電極35aに接続された端子36aが端子29
aに、他方の電極35bに接続された端子36bが端子
29bにそれぞれ接続されている。したがって、心線3
1aと心線31bとの間に電圧が生しても素子33cに
よってより確実に通信機器32を防護できる。
の保安器として使用する他の例の結線図である。この例
では心線31aと心83 l bとの間に生じる電圧か
ら確実に通信機器32を防護するために、三個の双方向
半導体制御素子から成る多極の双方向半導体制御素子3
4を用いたものである。第2図と同一部分には同一番号
を付しである。新たに設けられた三個口の素子33cは
、−方の電極35aに接続された端子36aが端子29
aに、他方の電極35bに接続された端子36bが端子
29bにそれぞれ接続されている。したがって、心線3
1aと心線31bとの間に電圧が生しても素子33cに
よってより確実に通信機器32を防護できる。
さらに、第4図は、第10図に示した従来の双方向半導
体制御素子を六個用いて構成した保安器を、この発明の
多極の双方向半導体制?ill素子を一個用いて置き換
えた例である。この多極の双方向半導体制御素子37で
は、双方向半導体制御素子38ないし43が第1の半導
体層N6を介して接続された構造をしている。中継器1
1の入カドランス12の側において、素子38の電極4
4aと素子40の電極46bとは端子50によって短絡
され通信用の心線14に接続され、素子38の電極44
bと素子39の電極45bとは端子51によって短絡さ
れ通信用の心線15に接続されている。出カドランス1
3の側において、素子41の電極47bと素子43の電
極49aとは端子53によって短絡され通信用の心線1
6に接続され、素子42の電極48bと素子43の電極
49bとは端子52によって短絡され通信用の心線17
に接続されている。また、素子39の電極45aと素子
−40の電極46aと素子41の電極47aと素子42
の電極48aとは端子54によって短絡されアース24
に接続されている。すなわち、素子38は心線14と心
線15との間、素子39は心線15とアース24との間
、素子40は心線14とアース24との間、素子41は
心線16とアース24との間、素子42は心線17とア
ース24との間、素子43は心線16と心線17との間
にそれぞれ設けられ、それらに発生した異常電圧から中
継器11等を防護する。なお、素子39と素子40とは
隣接して形成されるために動作特性がほとんど等しい。
体制御素子を六個用いて構成した保安器を、この発明の
多極の双方向半導体制?ill素子を一個用いて置き換
えた例である。この多極の双方向半導体制御素子37で
は、双方向半導体制御素子38ないし43が第1の半導
体層N6を介して接続された構造をしている。中継器1
1の入カドランス12の側において、素子38の電極4
4aと素子40の電極46bとは端子50によって短絡
され通信用の心線14に接続され、素子38の電極44
bと素子39の電極45bとは端子51によって短絡さ
れ通信用の心線15に接続されている。出カドランス1
3の側において、素子41の電極47bと素子43の電
極49aとは端子53によって短絡され通信用の心線1
6に接続され、素子42の電極48bと素子43の電極
49bとは端子52によって短絡され通信用の心線17
に接続されている。また、素子39の電極45aと素子
−40の電極46aと素子41の電極47aと素子42
の電極48aとは端子54によって短絡されアース24
に接続されている。すなわち、素子38は心線14と心
線15との間、素子39は心線15とアース24との間
、素子40は心線14とアース24との間、素子41は
心線16とアース24との間、素子42は心線17とア
ース24との間、素子43は心線16と心線17との間
にそれぞれ設けられ、それらに発生した異常電圧から中
継器11等を防護する。なお、素子39と素子40とは
隣接して形成されるために動作特性がほとんど等しい。
したがって、心線14と心線15との間に発生する異常
電圧は小さいので、素子3日は省略してもよい。同様に
素子43も省略してもよい。このように、保安器を構成
するのに、従来六個必要であった双方向半導体制御素子
が、この発明の多極の双方向半導体制御素子を使えば一
個で実現できる。したがって、保安器の小型化、保安器
筐体への組み込み工程の簡略化、素子の組合せ選択工程
の省略化などの製造工数の低減が図れる。
電圧は小さいので、素子3日は省略してもよい。同様に
素子43も省略してもよい。このように、保安器を構成
するのに、従来六個必要であった双方向半導体制御素子
が、この発明の多極の双方向半導体制御素子を使えば一
個で実現できる。したがって、保安器の小型化、保安器
筐体への組み込み工程の簡略化、素子の組合せ選択工程
の省略化などの製造工数の低減が図れる。
第5図は、この発明の多極の双方向半導体制御素子の断
面図である。このように、第1の半導体層N6、第2の
半導体層P10a、P10b、・・、第3の半導体層N
7 a、N7 b、 ・・・第4の半導体層pHa、
pHb、−・−1第5の半導体層N8a、N8b、・・
・、電極26a、26b、 ・・・、27a127b1
・ ・ ・から成る双方向半導体制御素子を並列に何
個形成してもよい。
面図である。このように、第1の半導体層N6、第2の
半導体層P10a、P10b、・・、第3の半導体層N
7 a、N7 b、 ・・・第4の半導体層pHa、
pHb、−・−1第5の半導体層N8a、N8b、・・
・、電極26a、26b、 ・・・、27a127b1
・ ・ ・から成る双方向半導体制御素子を並列に何
個形成してもよい。
第6図および第7図は、この発明の多極の双方向半導体
制御素子の他の実施例である。第1図及び第2図と同一
部分には同一番号を付し、説明を省略する。
制御素子の他の実施例である。第1図及び第2図と同一
部分には同一番号を付し、説明を省略する。
第6図において、第3の半導体層N7a、N7b及び第
5の半導体層N8a、N8bの設けられる位置が第1図
と異なっている。このように形成してもよい。
5の半導体層N8a、N8bの設けられる位置が第1図
と異なっている。このように形成してもよい。
第7図の第1の半導体1iN6において、第2の半導体
層P10a、P10bが形成されない面に溝55a、第
4の半導体層pHa、pHbが形成されない面に溝55
bがそれぞれ形成されている。これらの溝553,55
bによって、図中に示した抵抗Rの値を大きくでき、素
子33aと素子33bとの絶縁性をより高めることがで
きる。
層P10a、P10bが形成されない面に溝55a、第
4の半導体層pHa、pHbが形成されない面に溝55
bがそれぞれ形成されている。これらの溝553,55
bによって、図中に示した抵抗Rの値を大きくでき、素
子33aと素子33bとの絶縁性をより高めることがで
きる。
なお、溝55a、55bはどちらか一方だけを形成して
もよい。
もよい。
なお、以上の実施例において第3の半導体層と第5の半
導体層とのどちらか一方または両方に、保持電流を大き
くするために、電極側からスリラットを入れてもよい。
導体層とのどちらか一方または両方に、保持電流を大き
くするために、電極側からスリラットを入れてもよい。
さらに、以上の実施例では、第1の導電型としてn型、
第2の導電型としてp型を用いているが、勿論、第1の
導電型としてp型、第2の導電型としてn型を用いても
よい。
第2の導電型としてp型を用いているが、勿論、第1の
導電型としてp型、第2の導電型としてn型を用いても
よい。
(発明の効果)
以上説明したように、この発明の多極の双方向半導体制
御素子によれば、複数のpnpn型二端子サイリスタを
一体化して一個の半導体チップに形成したので、保安器
等を構成する素子数を減らすことができ、筐体への組み
込み工程の簡略化、素子の組合せ選択工程の省略化など
の製造工数の低減が図れる。
御素子によれば、複数のpnpn型二端子サイリスタを
一体化して一個の半導体チップに形成したので、保安器
等を構成する素子数を減らすことができ、筐体への組み
込み工程の簡略化、素子の組合せ選択工程の省略化など
の製造工数の低減が図れる。
第1図はこの発明の多極の双方向半導体制御素子の一実
施例を示す断面図、第2図はこの発明の多極の双方向半
導体制御素子を通信機器の保安器として使用する例の結
線図、第3図はこの発明の多極の双方向半導体制御素子
を通信機器の保安器として使用する他の例の結線図、第
4図はこの発明の多極の双方向半導体制御素子を通信機
器用中継器の保安器として使用する場合の結線図、第5
図はこの発明の多極の双方向半導体制御素子の断面図、
第6図および第7図はこの発明の多極の双方向半導体制
御素子の他の実施例を示す断面図、第8図は従来の双方
向半導体制御素子を示す断面図、第9図は従来の双方向
半導体制御素子の電圧−電流特性を示すグラフ、第1O
図は従来の双方向半導体制御素子を通信機器用中継器の
保安器として使用する場合の結線図である。 N6・・・第1の半導体層、PIOa、PIOb、Pl
ocm−−第2の半導体層、N7a、N1b、N1cm
−・第3の半導体層、pHa。 、pHb、pHc・・・第4の半導体層、N8a、N8
b、N8c ・−−第5の半導体層、26a、 、26
b、26c、28a、28b、28C・・・電極。 特許出願人・・・株式会社 白山製作所代理人 ・・・
弁理士 吉1)芳春 7a 7b 第 ! 図 第3図 第 図 第 図 第 7図 第4
施例を示す断面図、第2図はこの発明の多極の双方向半
導体制御素子を通信機器の保安器として使用する例の結
線図、第3図はこの発明の多極の双方向半導体制御素子
を通信機器の保安器として使用する他の例の結線図、第
4図はこの発明の多極の双方向半導体制御素子を通信機
器用中継器の保安器として使用する場合の結線図、第5
図はこの発明の多極の双方向半導体制御素子の断面図、
第6図および第7図はこの発明の多極の双方向半導体制
御素子の他の実施例を示す断面図、第8図は従来の双方
向半導体制御素子を示す断面図、第9図は従来の双方向
半導体制御素子の電圧−電流特性を示すグラフ、第1O
図は従来の双方向半導体制御素子を通信機器用中継器の
保安器として使用する場合の結線図である。 N6・・・第1の半導体層、PIOa、PIOb、Pl
ocm−−第2の半導体層、N7a、N1b、N1cm
−・第3の半導体層、pHa。 、pHb、pHc・・・第4の半導体層、N8a、N8
b、N8c ・−−第5の半導体層、26a、 、26
b、26c、28a、28b、28C・・・電極。 特許出願人・・・株式会社 白山製作所代理人 ・・・
弁理士 吉1)芳春 7a 7b 第 ! 図 第3図 第 図 第 図 第 7図 第4
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数のpnpn型二端子サイリスタから成る双方向半導
体制御素子において、 第1の導電型から成る第1の半導体層と、 第1の半導体層の一方の主面に互いに離間して形成され
た第2の導電型から成る複数以上の第2の半導体層と、 複数以上の第2の半導体層の各々に、第2の半導体層に
内包され、且つ第2の半導体層の外部表面に露出して形
成された第1の導電型から成る第3の半導体層と、 第1の半導体層の他方の主面に互いに離間して形成され
た第2の導電型から成る複数以上の第4の半導体層と、 複数以上の第4の半導体層の各々に、第4の半導体層に
内包され、且つ第4の半導体層の外部表面に露出して形
成された第1の導電型から成る第5の半導体層と、 複数以上の第4の半導体層と第4の半導体層に形成され
た第5の半導体層とを、各々の外部表面において対を成
して短絡して形成された複数以上の電極と、 複数以上の第4の半導体層と第4の半導体層に形成され
た第5の半導体層とを、各々の外部表面において対を成
して短絡して形成された複数以上の電極とから成ること
を特徴とする多極の双方向半導体制御素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63330075A JP2723941B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 多極の双方向半導体制御素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63330075A JP2723941B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 多極の双方向半導体制御素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02174265A true JPH02174265A (ja) | 1990-07-05 |
| JP2723941B2 JP2723941B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=18228504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63330075A Expired - Fee Related JP2723941B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 多極の双方向半導体制御素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2723941B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03136374A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-11 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | サージ防護デバイス |
| JPH03136373A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-11 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | サージ防護デバイス |
| US5689586A (en) * | 1994-03-02 | 1997-11-18 | Hewlett Packard Company | Methods to print N-tone images with multi-leveling techniques |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5721862A (en) * | 1980-07-14 | 1982-02-04 | Nec Corp | Bidirectional thyristor |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP63330075A patent/JP2723941B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5721862A (en) * | 1980-07-14 | 1982-02-04 | Nec Corp | Bidirectional thyristor |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03136374A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-11 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | サージ防護デバイス |
| JPH03136373A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-11 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | サージ防護デバイス |
| US5689586A (en) * | 1994-03-02 | 1997-11-18 | Hewlett Packard Company | Methods to print N-tone images with multi-leveling techniques |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2723941B2 (ja) | 1998-03-09 |
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