JPH0217473Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0217473Y2 JPH0217473Y2 JP17650884U JP17650884U JPH0217473Y2 JP H0217473 Y2 JPH0217473 Y2 JP H0217473Y2 JP 17650884 U JP17650884 U JP 17650884U JP 17650884 U JP17650884 U JP 17650884U JP H0217473 Y2 JPH0217473 Y2 JP H0217473Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spacer
- foil
- grooves
- capacitor element
- electrolyte
- Prior art date
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- Expired
Links
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
［考案の技術分野］
この考案はアルミ箔を電極箔とし、スペーサと
ともに巻回してコンデンサ素子とした電解コンデ
ンサに関する。 ［考案の技術的背景とその問題点］ 従来、アルミ箔からなる電極箔とスペーサとを
巻回してコンデンサ素子とした電解コンデンサ
は、陽極箔と陰極箔との間にコンデンサ紙などの
スペーサを介在させ、これらを巻回してコンデン
サ素子を構成していた。しかし、使用されている
スペーサは表面が凹凸がなく平らなクラフト紙や
マニラ紙が用いられ、このためコンデンサ素子に
駆動用電解液を含浸する場合、コンデンサ素子を
収容した含浸釜を減圧して含浸しないと、電解液
がコンデンサ素子内部まで浸透しない場合があ
り、含浸液量が不十分となる場合があつた。コン
デンサ素子に電解液が十分に浸透しない場合は、
特にtanδが悪化するという問題点がある。この対
策として特開昭59−32121号公報記載のようにス
ペーサの幅方向に溝を設け電解液の含浸性を改良
したものが知られている。しかし、この技術は単
に溝を設けたスペーサを用い、含浸性を向上させ
ることを主旨としており、コンデンサ素子構成上
や特性上の問題点には何ら言及されていない。ま
た、この場合電解液の含浸液量は改善されるもの
のtanδのロツト内バラツキが大きいものとして問
題視されている。さらにコンデンサ素子の内部に
電解液が浸透するときの経路は、スペーサの端部
からコンデンサ素子の幅方向に向かつて浸透する
場合と、電極箔に接続した引出端子付近の隙間か
ら浸透したのち、コンデンサ素子の巻回方向に浸
透する場合の２経路があり、前記幅方向にのみ溝
をつけたスペーサの場合には前記浸透経路の後者
に対しては浸透を阻害することになり、スペーサ
が長いコンデンサでは溝のない平らなスペーサに
比し浸透に長時間を要する欠点もあつた。 ［考案の目的］ この考案は互いに交差した溝を設けたスペーサ
と電極箔とを巻回したコンデンサ素子の構造と特
性との関係について追及し、コンデンサ素子に対
する電解液の含浸時間の短縮と含浸性の向上およ
びtanδ特性の優れた電解コンデンサを得ることを
目的としたものである。 ［考案の概要］ この考案になる電解コンデンサは、アルミ箔か
らなる陽極箔および陰極箔と、該陽極箔と陰極箔
間に介在させたスペーサとを巻回してコンデンサ
素子とした電解コンデンサにおいて、前記スペー
サがその片面に互いに交差した溝を設けてあり、
該溝を設けた片面を前記陽極箔に接するよう配置
したことを特徴とするものである。 ［考案の実施例］ 第１図に示すようなマニラ紙からなるスペーサ
１の片面に互いに交差した溝２を設けた。スペー
サ１の幅は14mm×厚さ50μm、溝２は深さ25μm×
幅30μmで、溝２の間隔は互いに0.33mmである。
第２図に示すようにこのスペーサ１を介して幅11
mmのアルミ箔からなる陽極箔３と陰極箔４を巻回
してコンデンサ素子５を構成するが、スペーサ１
の溝２を設けた片面を陽極箔３に接するよう配置
する。したがつて該陽極箔３はスペーサ１の溝２
を設けた片面で挟み込まれた陰極箔４にはスペー
サ１の平滑な面のみが接する。このようにスペー
サ１、陽極箔３、陰極箔４を介して巻回したの
ち、エチレングリコール65wt％＋ホウ酸アンモ
ニウム35wt％からなる駆動用電解液を含浸する
など所定の工程を経て作成した定格50V−330μF
（素子寸法12.5mmφ×14mmι）の電解コンデンサ
各20個についてtanδを測定した結果を第３図、ま
たコンデンサ素子の下部３mmを電解液に浸漬し素
子全体に電解液が浸透するまでの時間を下表に示
す。 なお参考例としてスペーサの幅方向にのみ溝を
設け、（スペーサの幅・厚さ、溝の深さ・幅・間
隔は本考案と同じ）溝を設けた片面を陽極箔に接
するよう配置した場合のtanδを第４図に、また従
来例の両面とも平滑な面を有するスペーサ（幅14
mm×厚さ50μm）を使用した場合のtanδを第５図
に示し、参考例・従来例についても下表に浸透す
るまでの時間を示した。
ともに巻回してコンデンサ素子とした電解コンデ
ンサに関する。 ［考案の技術的背景とその問題点］ 従来、アルミ箔からなる電極箔とスペーサとを
巻回してコンデンサ素子とした電解コンデンサ
は、陽極箔と陰極箔との間にコンデンサ紙などの
スペーサを介在させ、これらを巻回してコンデン
サ素子を構成していた。しかし、使用されている
スペーサは表面が凹凸がなく平らなクラフト紙や
マニラ紙が用いられ、このためコンデンサ素子に
駆動用電解液を含浸する場合、コンデンサ素子を
収容した含浸釜を減圧して含浸しないと、電解液
がコンデンサ素子内部まで浸透しない場合があ
り、含浸液量が不十分となる場合があつた。コン
デンサ素子に電解液が十分に浸透しない場合は、
特にtanδが悪化するという問題点がある。この対
策として特開昭59−32121号公報記載のようにス
ペーサの幅方向に溝を設け電解液の含浸性を改良
したものが知られている。しかし、この技術は単
に溝を設けたスペーサを用い、含浸性を向上させ
ることを主旨としており、コンデンサ素子構成上
や特性上の問題点には何ら言及されていない。ま
た、この場合電解液の含浸液量は改善されるもの
のtanδのロツト内バラツキが大きいものとして問
題視されている。さらにコンデンサ素子の内部に
電解液が浸透するときの経路は、スペーサの端部
からコンデンサ素子の幅方向に向かつて浸透する
場合と、電極箔に接続した引出端子付近の隙間か
ら浸透したのち、コンデンサ素子の巻回方向に浸
透する場合の２経路があり、前記幅方向にのみ溝
をつけたスペーサの場合には前記浸透経路の後者
に対しては浸透を阻害することになり、スペーサ
が長いコンデンサでは溝のない平らなスペーサに
比し浸透に長時間を要する欠点もあつた。 ［考案の目的］ この考案は互いに交差した溝を設けたスペーサ
と電極箔とを巻回したコンデンサ素子の構造と特
性との関係について追及し、コンデンサ素子に対
する電解液の含浸時間の短縮と含浸性の向上およ
びtanδ特性の優れた電解コンデンサを得ることを
目的としたものである。 ［考案の概要］ この考案になる電解コンデンサは、アルミ箔か
らなる陽極箔および陰極箔と、該陽極箔と陰極箔
間に介在させたスペーサとを巻回してコンデンサ
素子とした電解コンデンサにおいて、前記スペー
サがその片面に互いに交差した溝を設けてあり、
該溝を設けた片面を前記陽極箔に接するよう配置
したことを特徴とするものである。 ［考案の実施例］ 第１図に示すようなマニラ紙からなるスペーサ
１の片面に互いに交差した溝２を設けた。スペー
サ１の幅は14mm×厚さ50μm、溝２は深さ25μm×
幅30μmで、溝２の間隔は互いに0.33mmである。
第２図に示すようにこのスペーサ１を介して幅11
mmのアルミ箔からなる陽極箔３と陰極箔４を巻回
してコンデンサ素子５を構成するが、スペーサ１
の溝２を設けた片面を陽極箔３に接するよう配置
する。したがつて該陽極箔３はスペーサ１の溝２
を設けた片面で挟み込まれた陰極箔４にはスペー
サ１の平滑な面のみが接する。このようにスペー
サ１、陽極箔３、陰極箔４を介して巻回したの
ち、エチレングリコール65wt％＋ホウ酸アンモ
ニウム35wt％からなる駆動用電解液を含浸する
など所定の工程を経て作成した定格50V−330μF
（素子寸法12.5mmφ×14mmι）の電解コンデンサ
各20個についてtanδを測定した結果を第３図、ま
たコンデンサ素子の下部３mmを電解液に浸漬し素
子全体に電解液が浸透するまでの時間を下表に示
す。 なお参考例としてスペーサの幅方向にのみ溝を
設け、（スペーサの幅・厚さ、溝の深さ・幅・間
隔は本考案と同じ）溝を設けた片面を陽極箔に接
するよう配置した場合のtanδを第４図に、また従
来例の両面とも平滑な面を有するスペーサ（幅14
mm×厚さ50μm）を使用した場合のtanδを第５図
に示し、参考例・従来例についても下表に浸透す
るまでの時間を示した。
【表】
この結果から明らかなように本考案になる電解
コンデンサでは駆動用電解液がスペーサ１に設け
た互いに交差した溝２によつて生じる毛管現象に
よつて早期に、かつ容易に含浸できるとともに保
持されるので陽極箔３に形成されたエツチングピ
ツトへ浸透しやすくなり、結果としてtanδ特性を
改善することができた。なお前記実施例では第１
図に示すごとく互いに直角に交差する溝２につい
て述べたが、第６図のごとき溝の角度を変えたも
のや、溝の形状が凹状以外の溝でも同様の効果を
得ることができる。 ［考案の効果］ この考案になる電解コンデンサでは、スペーサ
に互いに交差した溝を設けたことによつて駆動用
電解液の含浸速度が早く保持が容易で、かつ保持
量も多くなるので、tanδ特性を向上させることが
できる。
コンデンサでは駆動用電解液がスペーサ１に設け
た互いに交差した溝２によつて生じる毛管現象に
よつて早期に、かつ容易に含浸できるとともに保
持されるので陽極箔３に形成されたエツチングピ
ツトへ浸透しやすくなり、結果としてtanδ特性を
改善することができた。なお前記実施例では第１
図に示すごとく互いに直角に交差する溝２につい
て述べたが、第６図のごとき溝の角度を変えたも
のや、溝の形状が凹状以外の溝でも同様の効果を
得ることができる。 ［考案の効果］ この考案になる電解コンデンサでは、スペーサ
に互いに交差した溝を設けたことによつて駆動用
電解液の含浸速度が早く保持が容易で、かつ保持
量も多くなるので、tanδ特性を向上させることが
できる。
第１図は本考案に使用するスペーサの斜視図、
第２図は本考案になる電解コンデンサ素子の構成
を説明するための斜視図、第３図〜第５図はtanδ
特性を示す分布図であり第３図は本発明、第４図
は参考例、第５図は従来例を示す分布図、第６図
は本考案に使用するスペーサの他の実施例を示す
斜視図である。 １……スペーサ、２…互いに交差した溝、３…
…陽極箔、４……陰極箔、５……コンデンサ素
子。
第２図は本考案になる電解コンデンサ素子の構成
を説明するための斜視図、第３図〜第５図はtanδ
特性を示す分布図であり第３図は本発明、第４図
は参考例、第５図は従来例を示す分布図、第６図
は本考案に使用するスペーサの他の実施例を示す
斜視図である。 １……スペーサ、２…互いに交差した溝、３…
…陽極箔、４……陰極箔、５……コンデンサ素
子。
Claims (1)
- アルミ箔からなる陽極箔および陰極箔と、該陽
極箔と陰極箔間に介在させたスペーサとを巻回し
てコンデンサ素子とした電解コンデンサにおい
て、前記スペーサがその片面に互いに交差した溝
を設けてあり、該溝を設けた片面を前記陽極箔に
接するよう配置したことを特徴とする電解コンデ
ンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17650884U JPH0217473Y2 (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17650884U JPH0217473Y2 (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6190236U JPS6190236U (ja) | 1986-06-12 |
| JPH0217473Y2 true JPH0217473Y2 (ja) | 1990-05-16 |
Family
ID=30734106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17650884U Expired JPH0217473Y2 (ja) | 1984-11-19 | 1984-11-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0217473Y2 (ja) |
-
1984
- 1984-11-19 JP JP17650884U patent/JPH0217473Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6190236U (ja) | 1986-06-12 |
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