JPH02176459A - 液体クロマトグラフ・質量分析装置 - Google Patents
液体クロマトグラフ・質量分析装置Info
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- JPH02176459A JPH02176459A JP63332977A JP33297788A JPH02176459A JP H02176459 A JPH02176459 A JP H02176459A JP 63332977 A JP63332977 A JP 63332977A JP 33297788 A JP33297788 A JP 33297788A JP H02176459 A JPH02176459 A JP H02176459A
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- Japan
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- ionizing
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、液体クロマトグラフ・質量分析装置（ＬＣ−
ＭＳ）に関する。
ＭＳ）に関する。
（従来の技術）
ＬＣ−ＭＳにおいて、流出溶液をイオン化する方法とし
て、流出溶液を気化させた後、フィラメントから放出さ
れる電子を試料ガス或は反応ガス分子に衝突させる電子
衝撃イオン化法或は化学イオン化法、電圧を印加した電
極先端に形成されるコロナ放電によりイオン化させるデ
ィスチャージイオン化法、ＬＣからの試料溶液を加熱し
た細管を通し、摩擦によるイオン化と蒸発とを同時に行
うサーモスプレィイオン化法がある。他方イオンの飛行
時間差により質量分析を行う飛行時間型質量分析法はイ
オン検出効率が良く高感度が得られるので最近よく用い
られるようになってきたが、この場合超短時間で試料を
一時にイオン化する必要があり、上記いずれの方式にお
いてもこのようなパルスイオン化は難しく、飛行時間型
質量分析装置では、パルスイオン化が可能な方式として
レーザ照射イオン化法が用いられている。しかし。
て、流出溶液を気化させた後、フィラメントから放出さ
れる電子を試料ガス或は反応ガス分子に衝突させる電子
衝撃イオン化法或は化学イオン化法、電圧を印加した電
極先端に形成されるコロナ放電によりイオン化させるデ
ィスチャージイオン化法、ＬＣからの試料溶液を加熱し
た細管を通し、摩擦によるイオン化と蒸発とを同時に行
うサーモスプレィイオン化法がある。他方イオンの飛行
時間差により質量分析を行う飛行時間型質量分析法はイ
オン検出効率が良く高感度が得られるので最近よく用い
られるようになってきたが、この場合超短時間で試料を
一時にイオン化する必要があり、上記いずれの方式にお
いてもこのようなパルスイオン化は難しく、飛行時間型
質量分析装置では、パルスイオン化が可能な方式として
レーザ照射イオン化法が用いられている。しかし。
レーザイオン化方式ではイオン化できる試料が限定され
ると云う問題がある。
ると云う問題がある。
（発明が解決しようとする課題）
本発明は、飛行時間型質量分析装置で多種のイオン化方
式を適用可能にして、分析可能な試料範囲を拡大しよう
とすることを目的とする。
式を適用可能にして、分析可能な試料範囲を拡大しよう
とすることを目的とする。
（課題を解決するための手段）
液体クロマトグラフのカラムにベーパライザを介して接
続される試料イオン化室と、このイオン化室より導入さ
れたイオンを飛行時間型質量分析法により質量分析する
質量分析手段とよりなり、上記イオン化室に試料にレー
ザを照射するレーザ照射手段、試料をイオン化する電子
を放射するフィラメント、ディスチャージイオン化法に
より試料をイオン化するディスチャージ電極等を付設し
て、サーモスプレィ法、を子衝撃イオン化法、化学イオ
ン化法、ディスチャージイオン化法、レーザイオン化法
等の各種イオン化法を選択実施可能とし、上記イオン化
室と質量分析手段との間にイオンビーム偏向電極を配置
して質量分析空間に入射するイオンビームをパルス変調
することを可能にした。
続される試料イオン化室と、このイオン化室より導入さ
れたイオンを飛行時間型質量分析法により質量分析する
質量分析手段とよりなり、上記イオン化室に試料にレー
ザを照射するレーザ照射手段、試料をイオン化する電子
を放射するフィラメント、ディスチャージイオン化法に
より試料をイオン化するディスチャージ電極等を付設し
て、サーモスプレィ法、を子衝撃イオン化法、化学イオ
ン化法、ディスチャージイオン化法、レーザイオン化法
等の各種イオン化法を選択実施可能とし、上記イオン化
室と質量分析手段との間にイオンビーム偏向電極を配置
して質量分析空間に入射するイオンビームをパルス変調
することを可能にした。
（作用）
飛行時間型の質量分析装置は、印加した電圧とガスの電
荷によって与えられるエネルギーによって、イオンガス
を同時に加速させた時に、質量が大きい程加速される速
度が小さく、検出器に到達するまでにかかる時間が長く
なると云うことを利用して、イオンガスが検出器にＩＩ
！達する時間によって、イオン化ガスの質量を分析しよ
うとするものである。従って、分析精度はできるだけ多
くのイオンガスに如何に同時に加速するかによって決定
される。従って、分析精度を向上させるためには狭い空
間内の試料を如何に集中的にイオン化させるかと云うこ
とが問題になる０本発明はサーモスプレィ法、を子衝撃
イオン化法、化学イオン化法、ディスチャージイオン化
法、レーザイオン化法等の各種イオン化法を行う各種の
イオン化手段を設置し、試料により夫々適したイオン化
法を選択可能にしようとするものである。しかし、レー
ザイオン化法以外は試料を極短時間でパルス的にイオン
化することが難しい、そこで本発明においては、上記イ
オン化室と質量分析手段との間にイオンビーム偏向電極
を配置し、イオン化室で各種のイオン化法でイオン化さ
れたイオンを上記偏向電極間を通過させるようにし、分
析する場合だけ偏向電極の電圧を極短時間カットし、質
量分析空間に入射するイオンビームをパルス変調するよ
うにした。このことにより、試料によって適宜なイオン
化法を選択することが可能となり、試料に最適なイオン
化法を用いて飛行時間型質量分析できるようになった。
荷によって与えられるエネルギーによって、イオンガス
を同時に加速させた時に、質量が大きい程加速される速
度が小さく、検出器に到達するまでにかかる時間が長く
なると云うことを利用して、イオンガスが検出器にＩＩ
！達する時間によって、イオン化ガスの質量を分析しよ
うとするものである。従って、分析精度はできるだけ多
くのイオンガスに如何に同時に加速するかによって決定
される。従って、分析精度を向上させるためには狭い空
間内の試料を如何に集中的にイオン化させるかと云うこ
とが問題になる０本発明はサーモスプレィ法、を子衝撃
イオン化法、化学イオン化法、ディスチャージイオン化
法、レーザイオン化法等の各種イオン化法を行う各種の
イオン化手段を設置し、試料により夫々適したイオン化
法を選択可能にしようとするものである。しかし、レー
ザイオン化法以外は試料を極短時間でパルス的にイオン
化することが難しい、そこで本発明においては、上記イ
オン化室と質量分析手段との間にイオンビーム偏向電極
を配置し、イオン化室で各種のイオン化法でイオン化さ
れたイオンを上記偏向電極間を通過させるようにし、分
析する場合だけ偏向電極の電圧を極短時間カットし、質
量分析空間に入射するイオンビームをパルス変調するよ
うにした。このことにより、試料によって適宜なイオン
化法を選択することが可能となり、試料に最適なイオン
化法を用いて飛行時間型質量分析できるようになった。
（実施例）
図に本発明の一実施例を示す６図において、■はイオン
化室で、１はＬＣから流出してくる試料溶液を加熱気化
するベーパライザで、内径の異なるものを用いることに
より、摩擦によるイオン化も併せ行うサーモスプレーイ
オン化用プローブと交換可能である。２はレーザ銃でレ
ーザ光を窓３を透過してベーパライザ１から出てくる試
料溶液に集中照射することにより、試料溶液を気化する
と共にイオン化するか或は気化された試料ガスをイオン
ｆヒする。レーザ光の照射位置はできるだけベーパライ
ザ出口近傍が良い、４は電子を試料ガスに衝突させ試料
ガスをイオン化するフィラメントでイオン化室Ｉに対し
負電圧が印加される。５はコロナ放電により試料ガスを
イオン化させるディスチャージ電極、Ｒはイオンを導入
口６より押出すリベラ電極、７はイオン化室■でイオン
化されイオン化室Ｉから導入口６を通して押出された試
料ガスイオンを飛行時間型質量分析器Ｍ内に導入するイ
オン導入収束レンズ系、８は偏向電極で通常は電圧を印
加して導入されたイオンガスを偏向して質量分析器にイ
オンガスが入射しないようにしておき、飛行時間型質量
分析器で分析を行う時だけ、極短時間電圧をカットして
質量分析器にイオンガスを導入するようにしている。９
はイオンガスを加速させる加速ｔｆＩ、１０はイオンガ
スを検出する検出器である。
化室で、１はＬＣから流出してくる試料溶液を加熱気化
するベーパライザで、内径の異なるものを用いることに
より、摩擦によるイオン化も併せ行うサーモスプレーイ
オン化用プローブと交換可能である。２はレーザ銃でレ
ーザ光を窓３を透過してベーパライザ１から出てくる試
料溶液に集中照射することにより、試料溶液を気化する
と共にイオン化するか或は気化された試料ガスをイオン
ｆヒする。レーザ光の照射位置はできるだけベーパライ
ザ出口近傍が良い、４は電子を試料ガスに衝突させ試料
ガスをイオン化するフィラメントでイオン化室Ｉに対し
負電圧が印加される。５はコロナ放電により試料ガスを
イオン化させるディスチャージ電極、Ｒはイオンを導入
口６より押出すリベラ電極、７はイオン化室■でイオン
化されイオン化室Ｉから導入口６を通して押出された試
料ガスイオンを飛行時間型質量分析器Ｍ内に導入するイ
オン導入収束レンズ系、８は偏向電極で通常は電圧を印
加して導入されたイオンガスを偏向して質量分析器にイ
オンガスが入射しないようにしておき、飛行時間型質量
分析器で分析を行う時だけ、極短時間電圧をカットして
質量分析器にイオンガスを導入するようにしている。９
はイオンガスを加速させる加速ｔｆＩ、１０はイオンガ
スを検出する検出器である。
測定動作について説明を行う、レーザ光のみでイオン化
する時は、レーザ光をパルス的にベーパライザ１の出射
開口付近に照射し、ベーパライザ１から流出する試料溶
液をイオン化する。レーザ光によりイオン化された試料
ガスはイオン導入収束レンズ系７により、導入口６から
偏向電［１８の間を通過し質量分析空間に入射される。
する時は、レーザ光をパルス的にベーパライザ１の出射
開口付近に照射し、ベーパライザ１から流出する試料溶
液をイオン化する。レーザ光によりイオン化された試料
ガスはイオン導入収束レンズ系７により、導入口６から
偏向電［１８の間を通過し質量分析空間に入射される。
この場合偏向電極９は測定中カットしておき、レーザ発
光の時点を基準にして検出器１０の出力信号のタイミン
グを測定することにより、飛行時間方式の質量分析が行
われる。このようにレーザイオン化法を用いた場合は、
導入してきたイオンガスが全部質量分析器に入射するよ
うにしていても良いが、分析精度をより向上させるため
にはレーザ発光と同期させて適当なおくれ時間をとり、
偏向電極９をパルス的にカットした方が良い、導入口６
より入射したイオンガスは加速電極９で加速される。
光の時点を基準にして検出器１０の出力信号のタイミン
グを測定することにより、飛行時間方式の質量分析が行
われる。このようにレーザイオン化法を用いた場合は、
導入してきたイオンガスが全部質量分析器に入射するよ
うにしていても良いが、分析精度をより向上させるため
にはレーザ発光と同期させて適当なおくれ時間をとり、
偏向電極９をパルス的にカットした方が良い、導入口６
より入射したイオンガスは加速電極９で加速される。
質量数ｍ、電荷をＺ、印加電圧Ｖとすると、イオンが加
速される速度Ｖは、 ・＝４”ｉＴ割）； となり、Ｖ ／ ｍの大きいイオンから順に検出器で検
出されることとなり、検出時間によって質量分析を行う
。
速される速度Ｖは、 ・＝４”ｉＴ割）； となり、Ｖ ／ ｍの大きいイオンから順に検出器で検
出されることとなり、検出時間によって質量分析を行う
。
ベーパライザ１．フィラメント４及びディスチャージ電
極５等を用いて試料をイオン化する時は、イオン化は連
続的に行われるので、偏向を極８の電圧をパルス的にカ
ットし、イオン化された試料ガスをパルス変調して質量
分析器に短時間の閏だけ入射させる。
極５等を用いて試料をイオン化する時は、イオン化は連
続的に行われるので、偏向を極８の電圧をパルス的にカ
ットし、イオン化された試料ガスをパルス変調して質量
分析器に短時間の閏だけ入射させる。
（発明の効果）
試料により夫々適したイオン化法があるが、本発明によ
れば、多種のイオン化法を選択でき、従って材料の種類
の制限なしに高感度の飛行時間型質量分析を利用するこ
とができ、測定精度及び感度が向上した。
れば、多種のイオン化法を選択でき、従って材料の種類
の制限なしに高感度の飛行時間型質量分析を利用するこ
とができ、測定精度及び感度が向上した。
図は本発明の一実施例の構成図である。
Claims (1)
- 液体クロマトグラフのカラムにベーパライザを介して接
続される試料イオン化室と、このイオン化室より導入さ
れたイオンを飛行時間型質量分析法により質量分析する
質量分析手段とよりなり、上記イオン化室に試料にレー
ザを照射するレーザ照射手段、試料をイオン化する電子
を放射するフィラメント、ディスチャージイオン化法に
より試料をイオン化するディスチャージ電極等を付設し
て、サーモスプレイ法、電子衝撃イオン化法、化学イオ
ン化法、ディスチャージイオン化法、レーザイオン化法
等の各種イオン化法を選択実施可能とし、上記イオン化
室と質量分析手段との間にイオンビーム偏向電極を配置
して質量分析空間に入射するイオンビームをパルス変調
することを可能にしたことを特徴とする液体クロマトグ
ラフ・質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63332977A JPH0830695B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63332977A JPH0830695B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02176459A true JPH02176459A (ja) | 1990-07-09 |
| JPH0830695B2 JPH0830695B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=18260938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63332977A Expired - Fee Related JPH0830695B2 (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0830695B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003515105A (ja) * | 1999-10-29 | 2003-04-22 | エムディーエス インコーポレイテッド スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン | 大気圧光イオン化（ａｐｐｉ）：液体クロマトグラフィ−質量分析法のための新しいイオン化方法 |
| WO2005104181A1 (ja) * | 2004-03-30 | 2005-11-03 | Yamanashi Tlo Co., Ltd. | 質量分析のためのイオン化方法および装置 |
| JP2006120642A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Agilent Technol Inc | マルチモード・イオン化モード分離器 |
| WO2007108410A1 (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Hamamatsu Photonics K.K. | イオン化装置 |
| WO2007108211A1 (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Rigaku Corporation | ガス分析装置 |
| JP2008209293A (ja) * | 2007-02-27 | 2008-09-11 | Hitachi High-Tech Science Systems Corp | 液体クロマトグラフ質量分析計 |
| JP2010014539A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Tokyo Metropolitan Univ | 液体試料イオン化法、質量分析法及びそれらの装置 |
| JP2014222190A (ja) * | 2013-05-14 | 2014-11-27 | 国立大学法人福井大学 | 試料溶液の質量分析方法及びその装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58175250A (ja) * | 1982-04-07 | 1983-10-14 | Hitachi Ltd | 複合イオン源 |
| JPS61195554A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-29 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析計 |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP63332977A patent/JPH0830695B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58175250A (ja) * | 1982-04-07 | 1983-10-14 | Hitachi Ltd | 複合イオン源 |
| JPS61195554A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-29 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析計 |
Cited By (14)
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| JP2003515105A (ja) * | 1999-10-29 | 2003-04-22 | エムディーエス インコーポレイテッド スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン | 大気圧光イオン化（ａｐｐｉ）：液体クロマトグラフィ−質量分析法のための新しいイオン化方法 |
| JPWO2005104181A1 (ja) * | 2004-03-30 | 2008-03-13 | 国立大学法人山梨大学 | 質量分析のためのイオン化方法および装置 |
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| US7465920B2 (en) | 2004-03-30 | 2008-12-16 | University Of Yamanashi | Ionization method and apparatus for mass analysis |
| JP2006120642A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Agilent Technol Inc | マルチモード・イオン化モード分離器 |
| WO2007108410A1 (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Hamamatsu Photonics K.K. | イオン化装置 |
| JP2007250450A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Hamamatsu Photonics Kk | イオン化装置 |
| WO2007108211A1 (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Rigaku Corporation | ガス分析装置 |
| US20090008571A1 (en) * | 2006-03-17 | 2009-01-08 | Shigeki Matsuura | Ionizing Device |
| US8044343B2 (en) | 2006-03-17 | 2011-10-25 | Rigaku Corporation | Gas analyzer |
| US8592779B2 (en) | 2006-03-17 | 2013-11-26 | Hamamatsu Photonics K.K. | Ionizing device |
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| JP2014222190A (ja) * | 2013-05-14 | 2014-11-27 | 国立大学法人福井大学 | 試料溶液の質量分析方法及びその装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0830695B2 (ja) | 1996-03-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |