JPH08262076A - コンデンサの絶縁抵抗測定装置 - Google Patents
コンデンサの絶縁抵抗測定装置Info
- Publication number
- JPH08262076A JPH08262076A JP6829395A JP6829395A JPH08262076A JP H08262076 A JPH08262076 A JP H08262076A JP 6829395 A JP6829395 A JP 6829395A JP 6829395 A JP6829395 A JP 6829395A JP H08262076 A JPH08262076 A JP H08262076A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacitor
- leakage current
- discharge
- circuit
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】漏れ電流検出回路の入力部の抵抗の値を変更す
ることにより、容量の小さいコンデンサから容量の大き
いコンデンサまで、漏れ電流を計測する。 【構成】測定電源1と、この測定電源1に接続された印
加/放電切換器2と、この印加/放電切換器2に接続さ
れた電流制限回路3と、この電流制限回路3に接続され
たコンデンサCの電極に接触する測定端子4a、4b
と、この測定端子4bに接続されてコンデンサCの漏れ
電流を計測する漏れ電流検出回路6と、前記測定端子4
bと前記漏れ電流検出回路6との接続点10に接続され
たインピーダンス変換回路7と、このインピーダンス変
換回路7に接続されて前記コンデンサCの充放電電圧を
計測するウインドウコンパレータ回路8と、からなるコ
ンデンサの絶縁抵抗測定装置。
ることにより、容量の小さいコンデンサから容量の大き
いコンデンサまで、漏れ電流を計測する。 【構成】測定電源1と、この測定電源1に接続された印
加/放電切換器2と、この印加/放電切換器2に接続さ
れた電流制限回路3と、この電流制限回路3に接続され
たコンデンサCの電極に接触する測定端子4a、4b
と、この測定端子4bに接続されてコンデンサCの漏れ
電流を計測する漏れ電流検出回路6と、前記測定端子4
bと前記漏れ電流検出回路6との接続点10に接続され
たインピーダンス変換回路7と、このインピーダンス変
換回路7に接続されて前記コンデンサCの充放電電圧を
計測するウインドウコンパレータ回路8と、からなるコ
ンデンサの絶縁抵抗測定装置。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンデンサの漏れ電流
計測およびコンデンサ電極の測定端子との接触良否判定
を行うコンデンサの絶縁抵抗測定装置に関する。
計測およびコンデンサ電極の測定端子との接触良否判定
を行うコンデンサの絶縁抵抗測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種、コンデンサの絶縁抵抗測
定装置に関する技術としては、特開平6−130101
号公報に記載されている発明がある。この従来例は、コ
ンデンサの漏れ電流計測回路と、このコンデンサの電極
の測定端子の接触の良否判定回路とを、フォトカプラに
より電気的に絶縁して、測定電圧が高くても安全に計測
および判定できるようにしたものである。
定装置に関する技術としては、特開平6−130101
号公報に記載されている発明がある。この従来例は、コ
ンデンサの漏れ電流計測回路と、このコンデンサの電極
の測定端子の接触の良否判定回路とを、フォトカプラに
より電気的に絶縁して、測定電圧が高くても安全に計測
および判定できるようにしたものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来例においては、フォトカプラを動作させるために、長
い時間大きな電流を流し続ける必要があるので、容量の
大きいコンデンサにしか適用できなかった。
来例においては、フォトカプラを動作させるために、長
い時間大きな電流を流し続ける必要があるので、容量の
大きいコンデンサにしか適用できなかった。
【0004】したがって、本発明は、フォトカプラを使
用せず、かつ、漏れ電流検出回路の入力部のバイアス抵
抗の値を変更することにより、容量の小さいコンデンサ
から容量の大きいコンデンサまで、それらの漏れ電流を
計測することのできる、コンデンサの絶縁抵抗測定装置
を提供することを目的とする。
用せず、かつ、漏れ電流検出回路の入力部のバイアス抵
抗の値を変更することにより、容量の小さいコンデンサ
から容量の大きいコンデンサまで、それらの漏れ電流を
計測することのできる、コンデンサの絶縁抵抗測定装置
を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、測定電源と、この測定電源に接続された
印加/放電切換器と、この印加/放電切換器に接続され
た電流制限回路と、この電流制限回路に接続されたコン
デンサの電極に接触する測定端子と、この測定端子に接
続されてコンデンサの漏れ電流を計測する漏れ電流検出
回路と、前記測定端子と前記漏れ電流検出回路との接続
点に接続されたインピーダンス変換回路と、このインピ
ーダンス変換回路に接続されて前記コンデンサの充放電
電圧を計測するコンパレータ回路と、からなることを特
徴とする。
成するために、測定電源と、この測定電源に接続された
印加/放電切換器と、この印加/放電切換器に接続され
た電流制限回路と、この電流制限回路に接続されたコン
デンサの電極に接触する測定端子と、この測定端子に接
続されてコンデンサの漏れ電流を計測する漏れ電流検出
回路と、前記測定端子と前記漏れ電流検出回路との接続
点に接続されたインピーダンス変換回路と、このインピ
ーダンス変換回路に接続されて前記コンデンサの充放電
電圧を計測するコンパレータ回路と、からなることを特
徴とする。
【0006】
【作用】本発明は、漏れ電流検出回路に充放電検出回路
を並列に設け、特に、充放電検出回路を、インピーダン
ス変換回路、ウインドウコンパレータ回路などで構成す
る。漏れ電流検出回路の線路途中からインピーダンス変
換回路により、充放電検出のための電圧を取り入れる
が、このインピーダンス変換回路は入力抵抗が大きいの
で、漏れ電流検出回路の電流電圧に変動を及ぼさない。
を並列に設け、特に、充放電検出回路を、インピーダン
ス変換回路、ウインドウコンパレータ回路などで構成す
る。漏れ電流検出回路の線路途中からインピーダンス変
換回路により、充放電検出のための電圧を取り入れる
が、このインピーダンス変換回路は入力抵抗が大きいの
で、漏れ電流検出回路の電流電圧に変動を及ぼさない。
【0007】被測定コンデンサの充放電電流を電圧変換
し、その充放電電圧の充電初期時および放電初期時の急
俊な充放電の電圧変化を、ウインドウコンパレータ回路
により、その設定基準電圧と比べて、絶対値として大き
い場合に、それぞれ出力パルスを出すように設定してい
るので、この出力パルスの有無により、所定の充放電の
有無、そしてコンデンサ電極の測定端子との接触の良否
を判定することができる。
し、その充放電電圧の充電初期時および放電初期時の急
俊な充放電の電圧変化を、ウインドウコンパレータ回路
により、その設定基準電圧と比べて、絶対値として大き
い場合に、それぞれ出力パルスを出すように設定してい
るので、この出力パルスの有無により、所定の充放電の
有無、そしてコンデンサ電極の測定端子との接触の良否
を判定することができる。
【0008】コンデンサ電極と測定端子との接触不良に
より、被測定コンデンサの充電が完全に行われない場合
には、充電初期時の急俊な充電の電圧変化はなく、ま
た、放電初期時の急俊な放電の電圧変化もなく、したが
って、ウインドウコンパレータ回路は出力パルスを出さ
ず、前記接触不良が判定される。
より、被測定コンデンサの充電が完全に行われない場合
には、充電初期時の急俊な充電の電圧変化はなく、ま
た、放電初期時の急俊な放電の電圧変化もなく、したが
って、ウインドウコンパレータ回路は出力パルスを出さ
ず、前記接触不良が判定される。
【0009】
【実施例】つぎに、本発明の一実施例について図1を参
照して説明する。同図において、1は直流電圧Vボルト
の測定電源で、その正極側と負極側は印加/放電切換器
2の充電側接点2aと放電側接点2bとにそれぞれ接続
されている。また、測定電源1の負極側はグランドに接
続されている。
照して説明する。同図において、1は直流電圧Vボルト
の測定電源で、その正極側と負極側は印加/放電切換器
2の充電側接点2aと放電側接点2bとにそれぞれ接続
されている。また、測定電源1の負極側はグランドに接
続されている。
【0010】印加/放電切換器2は、電流制限回路3を
構成する抵抗R1の一端に接続されている。この抵抗R
1は充電時の突入電流を防止する為のものである。抵抗
R1の他端はコンデンサCの電極に接触する一方の測定
端子4aに接続されている。具体的構成としては、この
コンデンサCの一方の測定端子4aに近接して、他方の
測定端子4bが設けられる。
構成する抵抗R1の一端に接続されている。この抵抗R
1は充電時の突入電流を防止する為のものである。抵抗
R1の他端はコンデンサCの電極に接触する一方の測定
端子4aに接続されている。具体的構成としては、この
コンデンサCの一方の測定端子4aに近接して、他方の
測定端子4bが設けられる。
【0011】コンデンサCの他方の電極に接触する測定
端子4bには、漏れ電流検出回路6を構成する演算増幅
器OP1の反転入力端子(−)が、抵抗R2を介して接
続されている。この演算増幅器OP1の出力端子は抵抗
R3を介して反転入力端子に負帰還され、その非反転入
力端子(+)はグランドに接続されている。
端子4bには、漏れ電流検出回路6を構成する演算増幅
器OP1の反転入力端子(−)が、抵抗R2を介して接
続されている。この演算増幅器OP1の出力端子は抵抗
R3を介して反転入力端子に負帰還され、その非反転入
力端子(+)はグランドに接続されている。
【0012】コンデンサCの測定端子4bとバイアス抵
抗R2との接続点10には、インピーダンス変換回路7
として、ボルテージフォロワ回路を構成する演算増幅器
OP2の非反転入力端子(+)が接続されている。演算
増幅器OP2の出力端子は反転入力端子(−)に直接負
帰還されて、増幅度1のバッファ回路を構成している。
したがって、演算増幅器OP2は、入力抵抗無限大とな
り、接続点10からの電流の流入がないので、漏れ電流
検出回路6の漏れ電流検出精度には影響を及ぼさない。
抗R2との接続点10には、インピーダンス変換回路7
として、ボルテージフォロワ回路を構成する演算増幅器
OP2の非反転入力端子(+)が接続されている。演算
増幅器OP2の出力端子は反転入力端子(−)に直接負
帰還されて、増幅度1のバッファ回路を構成している。
したがって、演算増幅器OP2は、入力抵抗無限大とな
り、接続点10からの電流の流入がないので、漏れ電流
検出回路6の漏れ電流検出精度には影響を及ぼさない。
【0013】演算増幅器OP2の出力端子は、ウインド
ウコンパレータ回路8を構成する一つの演算増幅器OP
3の反転入力端子(−)と他の演算増幅器OP4の非反
転入力端子(+)との共通接続点11に接続されてい
る。演算増幅器OP3およびOP4のそれぞれの出力端
子の共通接続点12は、コンピュータ(図示せず)に接
続されている。演算増幅器OP3はその非反転入力端子
(+)に基準電圧+Vt1がバイアスされ、演算増幅器O
P4はその反転入力端子(−)に基準電圧−Vt2がバイ
アスされている。
ウコンパレータ回路8を構成する一つの演算増幅器OP
3の反転入力端子(−)と他の演算増幅器OP4の非反
転入力端子(+)との共通接続点11に接続されてい
る。演算増幅器OP3およびOP4のそれぞれの出力端
子の共通接続点12は、コンピュータ(図示せず)に接
続されている。演算増幅器OP3はその非反転入力端子
(+)に基準電圧+Vt1がバイアスされ、演算増幅器O
P4はその反転入力端子(−)に基準電圧−Vt2がバイ
アスされている。
【0014】本実施例は、以上のような構成よりなる
が、電流制限回路3は抵抗R1以外に、定電流ダイオー
ド等の定電流素子あるいは回路的に構成された定電流回
路でもよい。また、インピーダンス変換回路7は、ボル
テージフォロワ回路以外に非反転増幅回路でもよい。
が、電流制限回路3は抵抗R1以外に、定電流ダイオー
ド等の定電流素子あるいは回路的に構成された定電流回
路でもよい。また、インピーダンス変換回路7は、ボル
テージフォロワ回路以外に非反転増幅回路でもよい。
【0015】つぎに、本実施例の動作について説明す
る。被測定用のコンデンサCを測定端子4a、4b間に
挿入して、印加/放電切換器2を、図1に示すように、
充電側接点2aに投入接続して、コンデンサCを充電す
る。この際、充電電流は、測定電源1、印加/放電切換
器2、抵抗R1、測定端子4a、コンデンサC、測定端
子4b、漏れ電流検出回路6、そしてグランドを経由し
て流れることになる。この充電電流は印加/放電切換器
2の投入時は大きく、徐々に減衰してゼロに近似してい
くが、現実のコンデンサは理想コンデンサとは相違して
完全にゼロにはならず、ある一定の漏れ電流が残ること
になる。この漏れ電流を測定電源の電圧Vから換算して
求めたのがコンデンサCの絶縁抵抗となる。印加/放電
切換器2の投入時から一定時間経過して、前記漏れ電流
が一定になった時に、漏れ電流検出回路6において漏れ
電流が計測される。
る。被測定用のコンデンサCを測定端子4a、4b間に
挿入して、印加/放電切換器2を、図1に示すように、
充電側接点2aに投入接続して、コンデンサCを充電す
る。この際、充電電流は、測定電源1、印加/放電切換
器2、抵抗R1、測定端子4a、コンデンサC、測定端
子4b、漏れ電流検出回路6、そしてグランドを経由し
て流れることになる。この充電電流は印加/放電切換器
2の投入時は大きく、徐々に減衰してゼロに近似してい
くが、現実のコンデンサは理想コンデンサとは相違して
完全にゼロにはならず、ある一定の漏れ電流が残ること
になる。この漏れ電流を測定電源の電圧Vから換算して
求めたのがコンデンサCの絶縁抵抗となる。印加/放電
切換器2の投入時から一定時間経過して、前記漏れ電流
が一定になった時に、漏れ電流検出回路6において漏れ
電流が計測される。
【0016】一方、上記コンデンサCの充電時における
接続点10の電圧V1の変化を示したのが、図2Aの左
側の充電カーブとなる。この充電カーブの充電時間経過
時の収斂電圧は、上記した漏れ電流が残るためゼロ電圧
とはならない。接続点10の電圧V1 は、インピーダン
ス変換回路7の演算増幅器OP2 を経由してウインドウ
コンパレータ回路8の演算増幅器OP3 、OP4 の反転
入力端子、非反転入力端子のそれぞれの共通接続点11
に印加される。接続点10の電圧V1 は、充電電流の突
入時、+R2/(R1+R2)×Vとなる。この突入時
の電圧により、図2Bに示すように、演算増幅器OP3
は接続点12に電圧V2 として、反転出力電圧Vaを出
力する。そして、電圧V1 が徐々に降下して予め設定さ
れた基準電圧+Vt1より小さくなったとき、演算増幅器
OP3 は接続点12に電圧V2 として、非反転出力電圧
Vbを出力する。したがって、充電開始初期において、
ウインドウコンパレータ回路8は、その接続点12に電
圧V2 として、パルスaを出力する。
接続点10の電圧V1の変化を示したのが、図2Aの左
側の充電カーブとなる。この充電カーブの充電時間経過
時の収斂電圧は、上記した漏れ電流が残るためゼロ電圧
とはならない。接続点10の電圧V1 は、インピーダン
ス変換回路7の演算増幅器OP2 を経由してウインドウ
コンパレータ回路8の演算増幅器OP3 、OP4 の反転
入力端子、非反転入力端子のそれぞれの共通接続点11
に印加される。接続点10の電圧V1 は、充電電流の突
入時、+R2/(R1+R2)×Vとなる。この突入時
の電圧により、図2Bに示すように、演算増幅器OP3
は接続点12に電圧V2 として、反転出力電圧Vaを出
力する。そして、電圧V1 が徐々に降下して予め設定さ
れた基準電圧+Vt1より小さくなったとき、演算増幅器
OP3 は接続点12に電圧V2 として、非反転出力電圧
Vbを出力する。したがって、充電開始初期において、
ウインドウコンパレータ回路8は、その接続点12に電
圧V2 として、パルスaを出力する。
【0017】つぎに、印加/放電切換器2を放電側接点
2bに投入接続した場合には、コンデンサCの充電電荷
は抵抗(R1+R2)×Cの時定数で放電し、接続点1
0の電圧V1 は、図2Aの右側に示すような放電カーブ
となる。放電開始時、−R2/(R1+R2)×V近似
の電圧において、演算増幅器OP4 は接続点12に電圧
V2 として、非反転出力電圧Vaを出力する。そして、
電圧V1 が徐々に減衰して予め設定された基準電圧−V
t2より減少したとき、演算増幅器OP4 は接続点12に
電圧V2 として、非反転出力電圧Vbを出力する。した
がって、放電開始初期において、ウインドウコンパレー
タ回路8は、その接続点12に電圧V2として、パルス
bを出力する。
2bに投入接続した場合には、コンデンサCの充電電荷
は抵抗(R1+R2)×Cの時定数で放電し、接続点1
0の電圧V1 は、図2Aの右側に示すような放電カーブ
となる。放電開始時、−R2/(R1+R2)×V近似
の電圧において、演算増幅器OP4 は接続点12に電圧
V2 として、非反転出力電圧Vaを出力する。そして、
電圧V1 が徐々に減衰して予め設定された基準電圧−V
t2より減少したとき、演算増幅器OP4 は接続点12に
電圧V2 として、非反転出力電圧Vbを出力する。した
がって、放電開始初期において、ウインドウコンパレー
タ回路8は、その接続点12に電圧V2として、パルス
bを出力する。
【0018】ウインドウコンパレータ回路8は、接続点
V1 の充放電電圧が基準電圧+Vt1と基準電圧−Vt2と
の間では、その接続点12に電圧V2 として、電圧Vb
を出力する。
V1 の充放電電圧が基準電圧+Vt1と基準電圧−Vt2と
の間では、その接続点12に電圧V2 として、電圧Vb
を出力する。
【0019】以上のように、印加/放電切換器2の切り
替えにより、コンデンサCを充放電させたとき、ウイン
ドウコンパレータ回路8の出力するパルスa、bをコン
ピュータなどの制御指令判定装置(図示せず)で取り込
み、コンデンサの絶縁抵抗の当該計測の良否を判定する
ことになる。測定端子4a、4bとコンデンサCの電極
との接触不良があると、漏れ電流検出回路6で漏れ電流
が小さく計測され、真の絶縁抵抗値を計測できなくな
る。また、絶縁不良のコンデンサが漏れ電流小と計測さ
れて不良品として選別できないことになる。しかし、漏
れ電流計測と同時に、インピーダンス変換回路7以降に
より充放電特性を並行して計測すると、測定端子4a、
4bとコンデンサCの電極との間に接触不良がある場合
には、コンデンサCの充放電初期時に電位差の大きい急
俊な充放電特性カーブが現れず、接続点10の電圧V1
が絶対値でウインドウコンパレータ回路8の設定基準電
圧+Vt1、−Vt2以上にはならないので、ウインドウコ
ンパレータ回路8の接続点12の電圧V2 には、パルス
a、bは生じない。このパルスa、bの有無により、測
定端子4a、4bとコンデンサ電極との間に接触不良が
あったか否かを判別することができる。例えば、絶縁不
良のコンデンサが、測定端子4a、4bの接触不良によ
り、漏れ電流検出回路6で漏れ電流が小さくて絶縁良と
計測されたにしても、絶縁不良のコンデンサには前記負
のパルスa、bは生じないので、コンピュータの総合判
定で再検査のチェックがかかることになる。
替えにより、コンデンサCを充放電させたとき、ウイン
ドウコンパレータ回路8の出力するパルスa、bをコン
ピュータなどの制御指令判定装置(図示せず)で取り込
み、コンデンサの絶縁抵抗の当該計測の良否を判定する
ことになる。測定端子4a、4bとコンデンサCの電極
との接触不良があると、漏れ電流検出回路6で漏れ電流
が小さく計測され、真の絶縁抵抗値を計測できなくな
る。また、絶縁不良のコンデンサが漏れ電流小と計測さ
れて不良品として選別できないことになる。しかし、漏
れ電流計測と同時に、インピーダンス変換回路7以降に
より充放電特性を並行して計測すると、測定端子4a、
4bとコンデンサCの電極との間に接触不良がある場合
には、コンデンサCの充放電初期時に電位差の大きい急
俊な充放電特性カーブが現れず、接続点10の電圧V1
が絶対値でウインドウコンパレータ回路8の設定基準電
圧+Vt1、−Vt2以上にはならないので、ウインドウコ
ンパレータ回路8の接続点12の電圧V2 には、パルス
a、bは生じない。このパルスa、bの有無により、測
定端子4a、4bとコンデンサ電極との間に接触不良が
あったか否かを判別することができる。例えば、絶縁不
良のコンデンサが、測定端子4a、4bの接触不良によ
り、漏れ電流検出回路6で漏れ電流が小さくて絶縁良と
計測されたにしても、絶縁不良のコンデンサには前記負
のパルスa、bは生じないので、コンピュータの総合判
定で再検査のチェックがかかることになる。
【0020】なお、被測定コンデンサの容量の大小に対
応するためには、漏れ電流検出回路6の入力部の抵抗R
2の値を変更すればよい。即ち、大きい容量のコンデン
サの場合には抵抗R2の値を小さくし、小さい容量のコ
ンデンサの場合には抵抗R2の値を大きくすればよい。
応するためには、漏れ電流検出回路6の入力部の抵抗R
2の値を変更すればよい。即ち、大きい容量のコンデン
サの場合には抵抗R2の値を小さくし、小さい容量のコ
ンデンサの場合には抵抗R2の値を大きくすればよい。
【0021】
【発明の効果】本発明は、漏れ電流検出回路に並行して
充放電検出回路を設け、特に、充放電検出回路を、イン
ピーダンス変換回路、ウインドウコンパレータ回路など
で構成し、被測定コンデンサの充放電時の急俊な電圧の
変化を、設定基準電圧と比較して、ウインドウコンパレ
ータ回路から出力パルスを出すので、この出力パルスの
有無により、コンデンサの電極と測定端子との接触の良
否を判定することができる。
充放電検出回路を設け、特に、充放電検出回路を、イン
ピーダンス変換回路、ウインドウコンパレータ回路など
で構成し、被測定コンデンサの充放電時の急俊な電圧の
変化を、設定基準電圧と比較して、ウインドウコンパレ
ータ回路から出力パルスを出すので、この出力パルスの
有無により、コンデンサの電極と測定端子との接触の良
否を判定することができる。
【0022】また、漏れ電流検出回路の入力部の抵抗の
値を変更することにより、従来例より小さい容量のコン
デンサの接触の良否を判定することができるので、絶縁
抵抗を測定できるコンデンサの範囲が広がる。
値を変更することにより、従来例より小さい容量のコン
デンサの接触の良否を判定することができるので、絶縁
抵抗を測定できるコンデンサの範囲が広がる。
【図1】 本発明に係るコンデンサの絶縁抵抗測定装置
の一実施例を示す回路図
の一実施例を示す回路図
【図2】 図1に示す回路の動作を示すもので、Aはコ
ンデンサの絶縁抵抗測定装置における被測定コンデンサ
と漏れ電流検出回路との接続点の充放電特性図、Bはウ
インドウコンパレータ回路の出力パルス図
ンデンサの絶縁抵抗測定装置における被測定コンデンサ
と漏れ電流検出回路との接続点の充放電特性図、Bはウ
インドウコンパレータ回路の出力パルス図
1 測定電源 2 印加/放電切換器 2a 充電側接点 2b 放電側接点 3 電流制限回路 4a、4b 測定端子 6 漏れ電流検出回路 7 インピーダンス変換回路 8 ウインドウコンパレータ回
路 10、11、12 接続点
路 10、11、12 接続点
Claims (1)
- 【請求項1】測定電源と、この測定電源に接続された印
加/放電切換器と、この印加/放電切換器に接続された
電流制限回路と、この電流制限回路に接続されたコンデ
ンサの電極に接触する測定端子と、この測定端子に接続
されてコンデンサの漏れ電流を計測する漏れ電流検出回
路と、前記測定端子と前記漏れ電流検出回路との接続点
に接続されたインピーダンス変換回路と、このインピー
ダンス変換回路に接続されて前記コンデンサの充放電電
圧を計測するコンパレータ回路と、からなるコンデンサ
の絶縁抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6829395A JPH08262076A (ja) | 1995-03-27 | 1995-03-27 | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6829395A JPH08262076A (ja) | 1995-03-27 | 1995-03-27 | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08262076A true JPH08262076A (ja) | 1996-10-11 |
Family
ID=13369595
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6829395A Pending JPH08262076A (ja) | 1995-03-27 | 1995-03-27 | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08262076A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160008470A (ko) | 2014-07-14 | 2016-01-22 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | 콘덴서의 절연 저항 측정 장치 |
| CN106896274A (zh) * | 2015-12-18 | 2017-06-27 | 马涅蒂-马瑞利公司 | 用于绝缘电阻测量和绝缘损耗诊断的装置、系统和方法 |
-
1995
- 1995-03-27 JP JP6829395A patent/JPH08262076A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160008470A (ko) | 2014-07-14 | 2016-01-22 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | 콘덴서의 절연 저항 측정 장치 |
| CN105319443A (zh) * | 2014-07-14 | 2016-02-10 | 慧萌高新科技有限公司 | 电容器的绝缘电阻测定装置 |
| TWI647458B (zh) * | 2014-07-14 | 2019-01-11 | 日商慧萌高新科技有限公司 | Capacitor insulation resistance measuring device |
| CN106896274A (zh) * | 2015-12-18 | 2017-06-27 | 马涅蒂-马瑞利公司 | 用于绝缘电阻测量和绝缘损耗诊断的装置、系统和方法 |
| CN106896274B (zh) * | 2015-12-18 | 2020-10-27 | 马涅蒂-马瑞利公司 | 用于绝缘电阻测量和绝缘损耗诊断的装置、系统和方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8305035B2 (en) | Energy storage device | |
| US20040051534A1 (en) | Battery pack voltage detection apparatus | |
| US5600254A (en) | Process and circuit arrangement for measuring the resistance of a resistance sensor | |
| US5770956A (en) | Measurement amplifier | |
| US7362104B2 (en) | Current measurement device and test device | |
| JP3204091B2 (ja) | 充放電電流測定装置 | |
| KR100363294B1 (ko) | 프로브 접촉상태 검출방법 및 프로브 접촉상태 검출장치 | |
| JP3259370B2 (ja) | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 | |
| JPH08262076A (ja) | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 | |
| JP2001242204A (ja) | コンデンサの直流抵抗測定方法及びその装置 | |
| KR940007922B1 (ko) | 절연저항 측정장치 | |
| JPH0943284A (ja) | Icテストシステムにおけるdut電源ピンのバイパス容量測定装置及びバイパス容量開閉スイッチのコンタクトチェック装置 | |
| JPS6217666A (ja) | 電圧印加電流測定装置 | |
| WO2023026839A1 (ja) | インピーダンス測定装置 | |
| JP3673589B2 (ja) | コンデンサのリーク電流の測定方法およびその装置 | |
| JPS641649Y2 (ja) | ||
| JPH1056657A (ja) | 測定回路 | |
| JP3045664B2 (ja) | 電気伝導率測定装置 | |
| JPH04131770A (ja) | コンデンサの絶縁抵抗測定装置 | |
| JPH0157745B2 (ja) | ||
| JPH0714924Y2 (ja) | 放電電源回路付きインサーキットテスタ並びに測定、放電兼用電源回路付きインサーキットテスタ | |
| JPH09145748A (ja) | 電流測定装置 | |
| JPH0524222Y2 (ja) | ||
| JPH02176574A (ja) | 電子部品測定装置 | |
| JPH0954131A (ja) | 加入者線の断線有無検出方法およびその装置 |