JPH02186278A - 部品測定装置 - Google Patents
部品測定装置Info
- Publication number
- JPH02186278A JPH02186278A JP1007009A JP700989A JPH02186278A JP H02186278 A JPH02186278 A JP H02186278A JP 1007009 A JP1007009 A JP 1007009A JP 700989 A JP700989 A JP 700989A JP H02186278 A JPH02186278 A JP H02186278A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connection
- test board
- measurement
- measured
- test
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(wc 要〕
本発明は部品測定装置に関し、
被測定部品を挿脱する試験ボードを部品搭載前の接続状
態でチエツクすることを目的とし、被測定部品を挿脱す
る試験ボードと、該試験ボードに試験信号を供給し出力
を測定する測定ユニットと、該測定ユニットと前記試験
ボードとを接続する接続機構とを備えた部品測定装置に
おいて、該測定ユニットと該接続機構とを接続する接続
線をそれぞれ切断するスイッチと、前記スイッチと該接
続機構との間の複数の該接続線のうち、所定の2組の該
接続線を選択し引き出す選択手段と、選択された該接続
線間で所定の特性を測定する測定部と、該選択手段を制
御して測定対象の該接続線を該測定部に接続し該スイッ
チを接続または切断制御して該測定部に測定せしめると
ともに、得られた測定値と対応する期待値とを比較する
試験部とを設け、被測定部品未搭載の該試験ボードを接
続した状態で前記所定の特性を測定し、得られた測定値
と期待値とを比較して該試験ボードの正常性ならびに該
試験ボードの接続状態を試験するように構成する。
態でチエツクすることを目的とし、被測定部品を挿脱す
る試験ボードと、該試験ボードに試験信号を供給し出力
を測定する測定ユニットと、該測定ユニットと前記試験
ボードとを接続する接続機構とを備えた部品測定装置に
おいて、該測定ユニットと該接続機構とを接続する接続
線をそれぞれ切断するスイッチと、前記スイッチと該接
続機構との間の複数の該接続線のうち、所定の2組の該
接続線を選択し引き出す選択手段と、選択された該接続
線間で所定の特性を測定する測定部と、該選択手段を制
御して測定対象の該接続線を該測定部に接続し該スイッ
チを接続または切断制御して該測定部に測定せしめると
ともに、得られた測定値と対応する期待値とを比較する
試験部とを設け、被測定部品未搭載の該試験ボードを接
続した状態で前記所定の特性を測定し、得られた測定値
と期待値とを比較して該試験ボードの正常性ならびに該
試験ボードの接続状態を試験するように構成する。
本発明は、部品測定装置の改良に関する。
半導体部品等の各種電気的特性を測定する測定部W(以
下テスタ)は、複数種別の部品の測定を可能とするため
、被測定部品に応じた試験ボードが準備され、接続機構
により、プログラマブル電源、信号発生器等からなる測
定ユニットにその都度接続して測定するように構成され
ている。
下テスタ)は、複数種別の部品の測定を可能とするため
、被測定部品に応じた試験ボードが準備され、接続機構
により、プログラマブル電源、信号発生器等からなる測
定ユニットにその都度接続して測定するように構成され
ている。
この測定ユニットは、試験ボードに至るまでのケーブル
インピーダンスや、接続機構の接触抵抗などの影響を無
くすため、FORCI!線(供給線)の他に5ENSE
線(フィードバック!151)を設けて試験ボードに所
定の信号を供給しているため、試験ボード内部でFOR
CB線と5BNSE線との間で接続不良が発生すると、
FORCB線に異常な電圧が供給されて被測定部品を破
壊する恐れがある。
インピーダンスや、接続機構の接触抵抗などの影響を無
くすため、FORCI!線(供給線)の他に5ENSE
線(フィードバック!151)を設けて試験ボードに所
定の信号を供給しているため、試験ボード内部でFOR
CB線と5BNSE線との間で接続不良が発生すると、
FORCB線に異常な電圧が供給されて被測定部品を破
壊する恐れがある。
この試験ボードは、被測定部品に対処して利用者が準備
するようになっており、接続不良、接触等の障害をチエ
ツクしたいとか、制作された試験ボードをデパックした
いという要望がある。
するようになっており、接続不良、接触等の障害をチエ
ツクしたいとか、制作された試験ボードをデパックした
いという要望がある。
[従来の技術1
以下、本発明の要旨をより一層明らかにするため、テス
タの概要を説明しておく。
タの概要を説明しておく。
第3図は従来のテスタブロック図である。
第3図において、複数の測定ユニット2a、2bは、制
御装置lから出力される制御信号により、所定の電圧、
電流等の電源および試験信号を試験ボード4に供給し被
測定部品である集積回路icの出力信号を測定する。
御装置lから出力される制御信号により、所定の電圧、
電流等の電源および試験信号を試験ボード4に供給し被
測定部品である集積回路icの出力信号を測定する。
試験ボード4は、被測定ICに対応するソケット6と、
ソケット端子と所定の測定ユニット2a、2bとを切替
え接続するとともに出力端子には負荷等を接続する設定
回路5とをプリント板に装着したもので、コネクタまた
はボゴコンタクトビン(バネ付きの接触ビン)等で構成
される接続aJR3によって測定ユニット2a、2bに
接続される。
ソケット端子と所定の測定ユニット2a、2bとを切替
え接続するとともに出力端子には負荷等を接続する設定
回路5とをプリント板に装着したもので、コネクタまた
はボゴコンタクトビン(バネ付きの接触ビン)等で構成
される接続aJR3によって測定ユニット2a、2bに
接続される。
接続線詩は測定ユニット2a、2bからの供給線(FO
RCB線)31.ICの出力線等の他、試験ボード4内
でFORCE線3C色線続された5ENSt!線30が
それぞれ設けられており、例えば測定ユニット2aは5
ENSE線30を参照してFORCB 11A31に信
号を出力する。
RCB線)31.ICの出力線等の他、試験ボード4内
でFORCE線3C色線続された5ENSt!線30が
それぞれ設けられており、例えば測定ユニット2aは5
ENSE線30を参照してFORCB 11A31に信
号を出力する。
これによりFORCE線3C色線!m 5BNSE線3
0との接続点Pで所定の信号が供給され、接続機構3
、FORCE線3C色線−ブルインピーダンス等が補正
されて所定の電圧が試験ボード4に供給される。
0との接続点Pで所定の信号が供給され、接続機構3
、FORCE線3C色線−ブルインピーダンス等が補正
されて所定の電圧が試験ボード4に供給される。
以上のごとく、テスタの測定ユニット2a、2bの出力
はプログラマブルに設定できるため、試験ボード4の設
定回路5を制御することにより種々の条件で測定が可能
となっており、また試験ボード4を交換することにより
、複数種別の部品の測定が可能となっている。
はプログラマブルに設定できるため、試験ボード4の設
定回路5を制御することにより種々の条件で測定が可能
となっており、また試験ボード4を交換することにより
、複数種別の部品の測定が可能となっている。
試験ボードは、通常利用者によって準備されており、部
品の多ピン化に伴い、接続不良、接触等の障害が発生し
易くなっている。
品の多ピン化に伴い、接続不良、接触等の障害が発生し
易くなっている。
特にFORCB線と5ENSE線とが接続不良になると
、被測定部品に異常電圧が印可される可能性があり、破
壊する恐れがある。
、被測定部品に異常電圧が印可される可能性があり、破
壊する恐れがある。
また、利用者にとって制作した試験ボードをデバッグす
ることは容易でないという課題もある。
ることは容易でないという課題もある。
本発明は、上記課題に鑑み、測定装置に接続した状態で
部品搭載前の試験ボードをチエツクする部品測定装置を
堤供することを目的とする。
部品搭載前の試験ボードをチエツクする部品測定装置を
堤供することを目的とする。
C課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、本発明の部品測定装置は、第
1図本発明の原理図に示すように、測定ユニット(2)
と接続機構(3)とを接続する接続線(35)をそれぞ
れ切断するスイッチ(40)と、前記スイッチと該接続
機構との間の複数の該接続線(35)のうち、所定の2
組の該接続線を選択し引き出す選択手段(41)と、 選択された該接続線間で所定の特性を測定する測定部(
42)と、 該選択手段(41)を制御して測定対象の該接続線を該
測定部(42)に接続し該スイッチ(40)を接続また
は切断制御して該測定部(42)に測定せしめるととも
に、得られた測定値と対応する期待値とを比較する試験
部(15)とを備える。
1図本発明の原理図に示すように、測定ユニット(2)
と接続機構(3)とを接続する接続線(35)をそれぞ
れ切断するスイッチ(40)と、前記スイッチと該接続
機構との間の複数の該接続線(35)のうち、所定の2
組の該接続線を選択し引き出す選択手段(41)と、 選択された該接続線間で所定の特性を測定する測定部(
42)と、 該選択手段(41)を制御して測定対象の該接続線を該
測定部(42)に接続し該スイッチ(40)を接続また
は切断制御して該測定部(42)に測定せしめるととも
に、得られた測定値と対応する期待値とを比較する試験
部(15)とを備える。
試験部15は、スイッチ40を切断状態に設定するとと
もに選択手段41を制御して所定の2m1iの接続線3
5(接地線を含む)を選択する。
もに選択手段41を制御して所定の2m1iの接続線3
5(接地線を含む)を選択する。
これにより、測定ユニット2を開放した試験ボード4側
をみた測定回路が形成でき、マルチメータ等で構成され
る測定部42にインピーダンスを測定せしめ、得られた
測定値と期待値(予め測定した正常値)と比較する。
をみた測定回路が形成でき、マルチメータ等で構成され
る測定部42にインピーダンスを測定せしめ、得られた
測定値と期待値(予め測定した正常値)と比較する。
例えばPORCE線−5ENSf!線間の抵抗値、各接
続線35〜接地間の抵抗値等を測定し、それぞれ期待値
と比較することにより、試験ボード4の正常性、測定ユ
ニット2に対する試験ボード4の接続状態を判別する。
続線35〜接地間の抵抗値等を測定し、それぞれ期待値
と比較することにより、試験ボード4の正常性、測定ユ
ニット2に対する試験ボード4の接続状態を判別する。
またスイッチ40を接続状態に設定し、測定ユニット2
に対し所定の電圧出力を指示して供給線の電圧測定値と
指示した電圧値(期待値)とを比較し、正常性を検証す
る。
に対し所定の電圧出力を指示して供給線の電圧測定値と
指示した電圧値(期待値)とを比較し、正常性を検証す
る。
以上の測定はスイッチ40および選択手段41を順次制
御してシーケンシ十ルに行われ、期待値と比較すること
により、試験ボード4のデバッグならびに接続時におけ
る試験ボード4の正常性ならびに接続状態を試験するこ
とができる。
御してシーケンシ十ルに行われ、期待値と比較すること
により、試験ボード4のデバッグならびに接続時におけ
る試験ボード4の正常性ならびに接続状態を試験するこ
とができる。
本発明の実施例を図を用いて詳細に説明する。
第2図は実施例のテスタブロック図である。
第2図は、測定対象の接続線35として、FORCE線
31.33 、5ENSE H2O,32ならびに接地
線GNDを例示したものである0図中、 lは制御装置であって、各測定ユニット2a、2bなら
びに設定回路5を制御して被測定部品の測定制御を行い
、測定結果を収集するとともに、試験部15の指示によ
り、指定の電圧、信号を測定ユニット2a、2bに出力
せしめるもの、 S 10.S11.S12.S13は、それぞれスイッ
チ40を構成するリレー接点で、試験部15により制御
されるもの、 520、321 、522.523ならびにS24.S
25は、それぞれ選択手段41を構成するリレー接点で
、試験部15により個別に制御されて2組の接続線35
をマルチメータ17に接続するもの、 17はマルチメータで、試験部15の指示により、イン
ピーダンス、電圧等をそれぞれ測定し、測定値としてデ
ィジタル値を出力するもの、15は試験部であって、ス
イッチ40、選択手段41の各リレー接点をそれぞれ制
御して所定の測定回路を設定するとともに、マルチメー
タ17に対しインピーダンス測定、電圧測定の切替えを
指示し制御装置1には試験信号の出力を指示して試験制
御を行い、またマルチメータ17の出力する測定値と期
待値とを比較して正常性を検証するものであり、その他
全図を通じて同一符号は同一対象物を表す。
31.33 、5ENSE H2O,32ならびに接地
線GNDを例示したものである0図中、 lは制御装置であって、各測定ユニット2a、2bなら
びに設定回路5を制御して被測定部品の測定制御を行い
、測定結果を収集するとともに、試験部15の指示によ
り、指定の電圧、信号を測定ユニット2a、2bに出力
せしめるもの、 S 10.S11.S12.S13は、それぞれスイッ
チ40を構成するリレー接点で、試験部15により制御
されるもの、 520、321 、522.523ならびにS24.S
25は、それぞれ選択手段41を構成するリレー接点で
、試験部15により個別に制御されて2組の接続線35
をマルチメータ17に接続するもの、 17はマルチメータで、試験部15の指示により、イン
ピーダンス、電圧等をそれぞれ測定し、測定値としてデ
ィジタル値を出力するもの、15は試験部であって、ス
イッチ40、選択手段41の各リレー接点をそれぞれ制
御して所定の測定回路を設定するとともに、マルチメー
タ17に対しインピーダンス測定、電圧測定の切替えを
指示し制御装置1には試験信号の出力を指示して試験制
御を行い、またマルチメータ17の出力する測定値と期
待値とを比較して正常性を検証するものであり、その他
全図を通じて同一符号は同一対象物を表す。
なお、期待値は予め正常な試験ボード4で測定するかま
たは計算値で求め、試験部15が参照可能に登録される
。
たは計算値で求め、試験部15が参照可能に登録される
。
以上構成のテスタに被測定部品未搭載の試験ボード4を
接続機構3により接続して試験指示入力を行うと、試験
部15の制御によって以下の測定。
接続機構3により接続して試験指示入力を行うと、試験
部15の制御によって以下の測定。
試験が順次行われる。
(1) PORCE vA−5ENSE線間の抵抗値
測定S10.S11.S12.S13を開き、520と
521 とを閉じる(S22〜525は開放)とともに
、マルチメータ17にインピーダンス測定を指示する。
測定S10.S11.S12.S13を開き、520と
521 とを閉じる(S22〜525は開放)とともに
、マルチメータ17にインピーダンス測定を指示する。
これにより、FORCE線(図ではF)31と5ENS
E線(SE) 30との間の抵抗値(期待値はケーブル
インピーダンス)がマルチメータ17より試験部15に
出力され、試験部I5は対応する期待値と比較して正常
性を検証する。
E線(SE) 30との間の抵抗値(期待値はケーブル
インピーダンス)がマルチメータ17より試験部15に
出力され、試験部I5は対応する期待値と比較して正常
性を検証する。
続いて、520. S21を開放、S22. S23を
閉じて、PORCE線33と5ENSE線32との間の
インピーダンスを測定せしめ、期待値と比較する。
閉じて、PORCE線33と5ENSE線32との間の
インピーダンスを測定せしめ、期待値と比較する。
以上により、FORClE線一対応する5ENSE線間
の接続状態の正常性が判別される。
の接続状態の正常性が判別される。
(2)測定ユニット接続線間のインピーダンス測定52
0、 S23またはS21 、322のみ閉じることに
より、そのインピーダンスを測定して測定ユニット2a
、2bの接続線間の接触状態を検証する。
0、 S23またはS21 、322のみ閉じることに
より、そのインピーダンスを測定して測定ユニット2a
、2bの接続線間の接触状態を検証する。
なお、試験ボード4内で抵抗等で接続されている場合は
、設定回路5を種々制御して検証する。
、設定回路5を種々制御して検証する。
この場合、制御装置1に設定制御を指示する。
(3) FORCE &9f、 5ENS!!線−接
地間のインピーダンス測定 S20と525とを閉じ、他のすべてを開放する。
地間のインピーダンス測定 S20と525とを閉じ、他のすべてを開放する。
これにより、5ENSE線30− GND間のインピー
ダンスが測定され、接地されているか否か、正常なイン
ピーダンスであるか否かが検証される。
ダンスが測定され、接地されているか否か、正常なイン
ピーダンスであるか否かが検証される。
同様に、S21 と525を閉じ、他をすべて開放する
と、FORCE線3l−GNl、間のインピーダンスが
測定される。
と、FORCE線3l−GNl、間のインピーダンスが
測定される。
以下同様の制御で、各接続線とGND間のインピーダン
スが測定され、その正常性が検証される。
スが測定され、その正常性が検証される。
(4)各測定ユニットの出力チェック
510−313を閉じ、上記(3)の選択制御で各接続
線35とGNDとをマルチメータ17に接続するととも
に、制御装置1に指示して設定回路5を設定せしめ、測
定ユニッ)2a、2bより所定の電圧を出力せしめる。
線35とGNDとをマルチメータ17に接続するととも
に、制御装置1に指示して設定回路5を設定せしめ、測
定ユニッ)2a、2bより所定の電圧を出力せしめる。
これにより、各接続線35の出力電圧が測定され、出力
指示した電圧(期待値)と比較して正常性を検証する。
指示した電圧(期待値)と比較して正常性を検証する。
なお、検証結果は図示省略した出力装置に出力されるが
、異常データのみメツセージ出力するか、またはすべて
の測定値と対応する期待値とを出力し、異常データをマ
ークする。
、異常データのみメツセージ出力するか、またはすべて
の測定値と対応する期待値とを出力し、異常データをマ
ークする。
以上のごとく、リレー制御とマルチメータ17への接続
(選択)制御により接続線間(接地線を含む)のインピ
ーダンスならびに測定ユニットの出力が測定され、期待
値と比較することにより簡易に試験ボード4のチエツク
ならびに試験ボード4の接続状態のチエツクを行うこと
ができる。
(選択)制御により接続線間(接地線を含む)のインピ
ーダンスならびに測定ユニットの出力が測定され、期待
値と比較することにより簡易に試験ボード4のチエツク
ならびに試験ボード4の接続状態のチエツクを行うこと
ができる。
なお、実施例ではFORCfi線、 5ENSE線を例
としたが、その他の接続線(出力線等)についても同様
に行うことは勿論であり、また正常性のチエツクは行わ
ずプリンタ等に測定値と対応する期待値とを出力する方
式でもよいことは勿論である。
としたが、その他の接続線(出力線等)についても同様
に行うことは勿論であり、また正常性のチエツクは行わ
ずプリンタ等に測定値と対応する期待値とを出力する方
式でもよいことは勿論である。
本発明は、試=験ボードを接続した状態で試験する部品
測定装置を提供するもので、■トラブル発生時に異常の
発生した箇所の切り分けができ、修理に要する工数と時
間が大幅に短縮できる、■接続機構における接触不良の
有無を簡単に確認でき、被測定部品の破壊等のトラブル
を予防できるとともに測定結果の信頼度が向上する、■
試験ボードをデバッグする時間が大幅に短縮できる、
等の効果がある。
測定装置を提供するもので、■トラブル発生時に異常の
発生した箇所の切り分けができ、修理に要する工数と時
間が大幅に短縮できる、■接続機構における接触不良の
有無を簡単に確認でき、被測定部品の破壊等のトラブル
を予防できるとともに測定結果の信頼度が向上する、■
試験ボードをデバッグする時間が大幅に短縮できる、
等の効果がある。
第1図は本発明の原理図、第2図は実施例のテスタブロ
ック図、第3図は従来のテスタブロック図である。 図中、1は制御装置、2.2a、2bは測定ユニット、
3は接続機構、4は試験ボード、5は設定回路、6はソ
ケット、I5は試験部、17はマルチメータ、40はス
イッチ、41は選択手段、42は測定部、35は接続線
、sio〜S13,520〜S25はリレー接点である
。
ック図、第3図は従来のテスタブロック図である。 図中、1は制御装置、2.2a、2bは測定ユニット、
3は接続機構、4は試験ボード、5は設定回路、6はソ
ケット、I5は試験部、17はマルチメータ、40はス
イッチ、41は選択手段、42は測定部、35は接続線
、sio〜S13,520〜S25はリレー接点である
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定部品を挿脱する試験ボード(4)と、該試験ボー
ドに試験信号を供給し出力を測定する測定ユニット(2
)と、該測定ユニットと前記試験ボードとを接続する接
続機構(3)とを備えた部品測定装置において、 該測定ユニット(2)と該接続機構(3)とを接続する
接続線(35)をそれぞれ切断するスイッチ(40)と
、 前記スイッチと該接続機構との間の複数の該接続線(3
5)のうち、所定の2組の該接続線を選択し引き出す選
択手段(41)と、 選択された該接続線間で所定の特性を測定する測定部(
42)と、 該選択手段(41)を制御して測定対象の該接続線を該
測定部(42)に接続し該スイッチ(40)を接続また
は切断制御して該測定部(42)に測定せしめるととも
に、得られた測定値と対応する期待値とを比較する試験
部(15)とを設け、 被測定部品未搭載の該試験ボードを接続した状態で前記
所定の特性を測定し、得られた測定値と期待値とを比較
して該試験ボードの正常性ならびに該試験ボードの接続
状態を試験することを特徴とする部品測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1007009A JPH02186278A (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | 部品測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1007009A JPH02186278A (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | 部品測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02186278A true JPH02186278A (ja) | 1990-07-20 |
Family
ID=11654057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1007009A Pending JPH02186278A (ja) | 1989-01-12 | 1989-01-12 | 部品測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02186278A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012154914A (ja) * | 2011-01-27 | 2012-08-16 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 絶縁性検査装置 |
| US8737202B2 (en) * | 2012-05-29 | 2014-05-27 | Alcatel Lucent | Automatic connection recovery |
-
1989
- 1989-01-12 JP JP1007009A patent/JPH02186278A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012154914A (ja) * | 2011-01-27 | 2012-08-16 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 絶縁性検査装置 |
| US8737202B2 (en) * | 2012-05-29 | 2014-05-27 | Alcatel Lucent | Automatic connection recovery |
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