JPH0218795B2 - - Google Patents
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- JPH0218795B2 JPH0218795B2 JP59237004A JP23700484A JPH0218795B2 JP H0218795 B2 JPH0218795 B2 JP H0218795B2 JP 59237004 A JP59237004 A JP 59237004A JP 23700484 A JP23700484 A JP 23700484A JP H0218795 B2 JPH0218795 B2 JP H0218795B2
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- Japan
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- signal
- defective pixel
- circuit
- output
- clock
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Color Television Image Signal Generators (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、撮像素子の画像欠陥補償装置に関
する。
する。
[従来の技術]
第7図は、テレビジヨン学会技術報告VOL.7、
No.14の19ページから24ページに示された従来の撮
像素子の画像欠陥補償装置である。図において、
撮像部1の出力信号はクランプ回路2でクランプ
される。クランプ回路2の出力は、乗算回路3に
与えられるとともに、遅延回路6を介して乗算回
路7に与えられる。乗算回路7は欠陥補償信号発
生回路8からの欠陥補償信号によつて制御され、
乗算回路3は該欠陥補償信号を反転回路5におい
て反転した信号によつて制御される。乗算回路3
の出力および乗算回路7の出力は加算回路4にお
いて加算されて、撮像素子の画像欠陥補償された
出力信号となる。
No.14の19ページから24ページに示された従来の撮
像素子の画像欠陥補償装置である。図において、
撮像部1の出力信号はクランプ回路2でクランプ
される。クランプ回路2の出力は、乗算回路3に
与えられるとともに、遅延回路6を介して乗算回
路7に与えられる。乗算回路7は欠陥補償信号発
生回路8からの欠陥補償信号によつて制御され、
乗算回路3は該欠陥補償信号を反転回路5におい
て反転した信号によつて制御される。乗算回路3
の出力および乗算回路7の出力は加算回路4にお
いて加算されて、撮像素子の画像欠陥補償された
出力信号となる。
次に動作について説明する。第8図は動作の説
明用線図である。撮像部1の出力信号の零レベル
がクランプ回路2により電位Eにクランプされ
る。これを第8図bに示す。第8図aは、フイル
タの配列を示すものであり、第8図bに示す信号
は第8図aに示すフイルタの配列に対応するもの
である。第8図bに示す信号が遅延回路6に入力
されると、第8図cに示す信号が出力される。乗
算回路3は入力端子3Aがローレベルの状態では
クランプ電位Eを出力し、ハイレベルの状態では
入力端子3Bの信号を出力するように動作する。
乗算回路7は入力端子7Aがローレベルの状態で
はクランプ電位Eを出力し、ハイレベルの状態で
は入力端子7Bの信号を出力するように動作す
る。今、第8図bに示すごとく、n番目の信号が
欠陥画素による信号であるとする。第8図dは、
それに対応した欠陥補償信号発生回路8の出力で
ある欠陥補償信号を出す。ところで乗算回路3の
入力端子3Aには反転回路5により第8図dに示
す欠陥補償信号の反転が入力されるので、その出
力は第8図eに示す信号になる。乗算回路7の入
力端子7Aには第8図dに示す欠陥補償信号が入
力されるので、その出力は第8図fに示す信号に
なる。加算回路4の出力は欠陥補償信号がローレ
ベルの状態では第8図bに示すクランプ回路2の
出力信号を出力し、ハイレベルの状態では第8図
cに示す遅延回路6の出力信号を出力する。以上
の動作により、第8図gに示すように、n番目の
欠陥画素による信号がn−2番目の画素の信号に
置換される。この画像欠陥補償装置の原理は、画
像の相関性により接近した画素の信号はほぼ同じ
値であるという原理に基づいている。
明用線図である。撮像部1の出力信号の零レベル
がクランプ回路2により電位Eにクランプされ
る。これを第8図bに示す。第8図aは、フイル
タの配列を示すものであり、第8図bに示す信号
は第8図aに示すフイルタの配列に対応するもの
である。第8図bに示す信号が遅延回路6に入力
されると、第8図cに示す信号が出力される。乗
算回路3は入力端子3Aがローレベルの状態では
クランプ電位Eを出力し、ハイレベルの状態では
入力端子3Bの信号を出力するように動作する。
乗算回路7は入力端子7Aがローレベルの状態で
はクランプ電位Eを出力し、ハイレベルの状態で
は入力端子7Bの信号を出力するように動作す
る。今、第8図bに示すごとく、n番目の信号が
欠陥画素による信号であるとする。第8図dは、
それに対応した欠陥補償信号発生回路8の出力で
ある欠陥補償信号を出す。ところで乗算回路3の
入力端子3Aには反転回路5により第8図dに示
す欠陥補償信号の反転が入力されるので、その出
力は第8図eに示す信号になる。乗算回路7の入
力端子7Aには第8図dに示す欠陥補償信号が入
力されるので、その出力は第8図fに示す信号に
なる。加算回路4の出力は欠陥補償信号がローレ
ベルの状態では第8図bに示すクランプ回路2の
出力信号を出力し、ハイレベルの状態では第8図
cに示す遅延回路6の出力信号を出力する。以上
の動作により、第8図gに示すように、n番目の
欠陥画素による信号がn−2番目の画素の信号に
置換される。この画像欠陥補償装置の原理は、画
像の相関性により接近した画素の信号はほぼ同じ
値であるという原理に基づいている。
なお、欠陥補償信号発生回路内には記憶装置が
含まれて欠陥画素の位置を記憶しており、それに
基づき欠陥補償信号を発生する。
含まれて欠陥画素の位置を記憶しており、それに
基づき欠陥補償信号を発生する。
[発明が解決しようとする問題点]
従来の画像欠陥補償装置は以上のように構成さ
れており、欠陥画素による信号を2クロツク前
の、つまり2画素離れた画素による信号で置換す
ることにより補償しているので、欠陥画素の前で
画像に急峻な変化がある場合にはその補償誤差が
大きいなどの問題点があつた。
れており、欠陥画素による信号を2クロツク前
の、つまり2画素離れた画素による信号で置換す
ることにより補償しているので、欠陥画素の前で
画像に急峻な変化がある場合にはその補償誤差が
大きいなどの問題点があつた。
この発明は上述の問題点を解決するためになさ
れたものであり、補償誤差の小さい画像欠陥補償
装置を提供することを目的としている。
れたものであり、補償誤差の小さい画像欠陥補償
装置を提供することを目的としている。
[問題点を解決するための手段]
この発明による撮像素子の画像欠陥補償装置
は、欠陥画素と同時に信号が読出されるもう1つ
の画素による信号と、欠陥画素による信号を読出
す時刻より1クロツク前の読出クロツクで読出さ
れる2つの画素による信号の合わせて3つの信号
を色フイルタの色により予め決まつている比率で
加算あるいは減算して補償信号を発生する手段
と、前記補償信号で欠陥画素の信号を置換する手
段とを備える。
は、欠陥画素と同時に信号が読出されるもう1つ
の画素による信号と、欠陥画素による信号を読出
す時刻より1クロツク前の読出クロツクで読出さ
れる2つの画素による信号の合わせて3つの信号
を色フイルタの色により予め決まつている比率で
加算あるいは減算して補償信号を発生する手段
と、前記補償信号で欠陥画素の信号を置換する手
段とを備える。
[作用]
この発明によれば、欠陥画素の信号は、欠陥画
素と同時に信号が読出されるもう1つの画素によ
る信号と、欠陥画素による信号を読出す時刻より
1クロツク前の読出クロツクで読出される2つの
画素による信号の合わせて3つの信号を色フイル
タの色により予め決まつている比率で加算あるい
は減算した補償信号により置換される。
素と同時に信号が読出されるもう1つの画素によ
る信号と、欠陥画素による信号を読出す時刻より
1クロツク前の読出クロツクで読出される2つの
画素による信号の合わせて3つの信号を色フイル
タの色により予め決まつている比率で加算あるい
は減算した補償信号により置換される。
[実施例]
第9図は、この発明の対象となる撮像素子の色
フイルタの配列の一例を示す。図においてWは白
フイルタ、Yeは黄フイルタ、Cyはシアンフイル
タ、Gは緑フイルタを示す。ここでこの発明の対
象となる撮像素子の色フイルタの色および配列は
第9図のものに限定されることなく、画素を水平
(行)方向および垂直(列)方向に配列した撮像
素子の画素中任意に選んだ2行×2列の4個の画
素上にある4色の色フイルタの色に関してその4
色の色フイルタのうちのどの3色をとつてもそれ
らが互いに独立な原刺激となつているものであれ
ばその色および配列はいずれであつてもよい。こ
こで3色が互いに独立な原刺激であるということ
は、その3色のうちの2色の正量あるいは負量加
法混色によつて残りの1色に等色しないことを意
味する。
フイルタの配列の一例を示す。図においてWは白
フイルタ、Yeは黄フイルタ、Cyはシアンフイル
タ、Gは緑フイルタを示す。ここでこの発明の対
象となる撮像素子の色フイルタの色および配列は
第9図のものに限定されることなく、画素を水平
(行)方向および垂直(列)方向に配列した撮像
素子の画素中任意に選んだ2行×2列の4個の画
素上にある4色の色フイルタの色に関してその4
色の色フイルタのうちのどの3色をとつてもそれ
らが互いに独立な原刺激となつているものであれ
ばその色および配列はいずれであつてもよい。こ
こで3色が互いに独立な原刺激であるということ
は、その3色のうちの2色の正量あるいは負量加
法混色によつて残りの1色に等色しないことを意
味する。
さらにこの発明の対象となる撮像素子は、前記
4色の色フイルタに対応した4本の出力線を備
え、読出クロツクに同期して2行(列方向に互い
に隣接した2つの画素)同時に信号を読出すよう
に構成されている。
4色の色フイルタに対応した4本の出力線を備
え、読出クロツクに同期して2行(列方向に互い
に隣接した2つの画素)同時に信号を読出すよう
に構成されている。
上述したようなこの発明が適用される第9図に
示すごときフイルタ配列の撮像素子に前述した従
来の画像欠陥補償装置の考え方を応用した場合を
以下に述べる。今説明のため、n番目のクロツク
に対応するW信号が欠陥画素による信号の場合を
考える。この場合には、n−2番目のクロツクに
対応するW信号でn番目のクロツクに対応するW
信号を置換することにより画像欠陥を補償するこ
とが可能である。Ye信号、Cy信号、G信号につ
いても欠陥画素による信号をその2クロツク前の
信号で置換するというW信号の場合と同様の方法
で画像欠陥補償することが可能である。しかしな
がらこの従来方法では、前述したように補償誤差
が大きいという問題点が存在する。
示すごときフイルタ配列の撮像素子に前述した従
来の画像欠陥補償装置の考え方を応用した場合を
以下に述べる。今説明のため、n番目のクロツク
に対応するW信号が欠陥画素による信号の場合を
考える。この場合には、n−2番目のクロツクに
対応するW信号でn番目のクロツクに対応するW
信号を置換することにより画像欠陥を補償するこ
とが可能である。Ye信号、Cy信号、G信号につ
いても欠陥画素による信号をその2クロツク前の
信号で置換するというW信号の場合と同様の方法
で画像欠陥補償することが可能である。しかしな
がらこの従来方法では、前述したように補償誤差
が大きいという問題点が存在する。
以下この発明の一実施例を図について説明す
る。第1図はこの発明による撮像素子の画像欠陥
補償装置の好ましい一実施例を示す概略ブロツク
図である。第1図において、撮像部50はW(白)
信号出力端子50A、Ye(黄)信号出力端子50
B、Cy(シアン)信号出力端子50C、およびG
(緑)信号出力端子50Dを有する。これらの出
力端子50A〜50Dは、スイツチ回路51〜6
2,63,65,67,69と接続されている。
スイツチ回路51〜54の出力は反転回路71の
入力端子71Aと接続され、反転回路71の出力
端子71Bは加算回路74の入力側と接続され
る。スイツチ回路55〜58の出力は遅延回路7
2の入力端子72Aと接続され、遅延回路72の
出力端子72Bは加算回路74の入力側と接続さ
れる。スイツチ回路59〜62の出力は遅延回路
73の入力端子73Aと接続され、遅延回路73
の出力端子73Bは加算回路74の入力側と接続
される。加算回路74の出力端子74Aはスイツ
チ回路64,66,68,70と接続されてい
る。スイツチ回路51〜70は欠陥補償制御信号
発生回路75によつて制御され、それぞれの端子
51A〜70Aがハイレベルのとき閉成され、端
子51A〜70Aがローレベルのとき開成され
る。欠陥補償制御信号発生回路75はその内部に
記憶装置を含み、欠陥画素の位置および欠陥画素
の色フイルタの種類を記憶している。出力端子8
0Aからは補償されたW信号が出力され、出力端
子80Bからは補償されたYe信号が出力され、
出力端子80Cからは補償されたCy信号が出力
され、また出力端子80Dからは補償されたG信
号が出力される。
る。第1図はこの発明による撮像素子の画像欠陥
補償装置の好ましい一実施例を示す概略ブロツク
図である。第1図において、撮像部50はW(白)
信号出力端子50A、Ye(黄)信号出力端子50
B、Cy(シアン)信号出力端子50C、およびG
(緑)信号出力端子50Dを有する。これらの出
力端子50A〜50Dは、スイツチ回路51〜6
2,63,65,67,69と接続されている。
スイツチ回路51〜54の出力は反転回路71の
入力端子71Aと接続され、反転回路71の出力
端子71Bは加算回路74の入力側と接続され
る。スイツチ回路55〜58の出力は遅延回路7
2の入力端子72Aと接続され、遅延回路72の
出力端子72Bは加算回路74の入力側と接続さ
れる。スイツチ回路59〜62の出力は遅延回路
73の入力端子73Aと接続され、遅延回路73
の出力端子73Bは加算回路74の入力側と接続
される。加算回路74の出力端子74Aはスイツ
チ回路64,66,68,70と接続されてい
る。スイツチ回路51〜70は欠陥補償制御信号
発生回路75によつて制御され、それぞれの端子
51A〜70Aがハイレベルのとき閉成され、端
子51A〜70Aがローレベルのとき開成され
る。欠陥補償制御信号発生回路75はその内部に
記憶装置を含み、欠陥画素の位置および欠陥画素
の色フイルタの種類を記憶している。出力端子8
0Aからは補償されたW信号が出力され、出力端
子80Bからは補償されたYe信号が出力され、
出力端子80Cからは補償されたCy信号が出力
され、また出力端子80Dからは補償されたG信
号が出力される。
次に動作について説明する。前述のごとくW信
号、Ye信号、Cy信号、およびG信号は、信号読
出クロツク(以下クロツクと記す)に対して第2
図b〜eのごとく出力される。全画素に同じ分光
分布特性でありかつ同じ光量の光が入射している
場合には、前述のW信号量(以下Wと記す)、Ye
信号量(以下Yeと記す)、Cy信号量(以下Cyと
記す)、G信号量(以下Gと記す)の間には各フ
イルタの分光透過特性により次の関係が成り立
つ。
号、Ye信号、Cy信号、およびG信号は、信号読
出クロツク(以下クロツクと記す)に対して第2
図b〜eのごとく出力される。全画素に同じ分光
分布特性でありかつ同じ光量の光が入射している
場合には、前述のW信号量(以下Wと記す)、Ye
信号量(以下Yeと記す)、Cy信号量(以下Cyと
記す)、G信号量(以下Gと記す)の間には各フ
イルタの分光透過特性により次の関係が成り立
つ。
W+G=Ye+Cy ……(1)
式(1)が成り立つ理由を以下に示す。赤信号量を
R、青信号量をBとすると、 W=R+G+B Ye=R+G Cy=B+G G=G よつて W+G=R+G+B+G =Ye+Cy となる。
R、青信号量をBとすると、 W=R+G+B Ye=R+G Cy=B+G G=G よつて W+G=R+G+B+G =Ye+Cy となる。
式(1)を変形すると次の4つの式が得られる。
W=Ye+Cy−G ……(2)
Ye=W+G−Cy ……(3)
Cy=W+G−Ye ……(4)
G=Ye+Cy−W ……(5)
第2図aに示すn番目のクロツクに対応するW
信号が欠陥画素による信号である場合について、
以下動作を説明する。ここでn番目のクロツクに
対応する本来あるべきW信号量をW(n)とする。
またn番目のクロツクに対応するG信号をG(n)
とし、n−1番目のクロツクに対応するYe信号、
Cy信号をそれぞれYe(n−1)、Cy(n−1)と
すると、画像の相関性により隣接した画素にはほ
ぼ同じ分光分布特性でありかつほぼ同じ光量の光
が入射するので、式(2)により次式が成り立つ。
信号が欠陥画素による信号である場合について、
以下動作を説明する。ここでn番目のクロツクに
対応する本来あるべきW信号量をW(n)とする。
またn番目のクロツクに対応するG信号をG(n)
とし、n−1番目のクロツクに対応するYe信号、
Cy信号をそれぞれYe(n−1)、Cy(n−1)と
すると、画像の相関性により隣接した画素にはほ
ぼ同じ分光分布特性でありかつほぼ同じ光量の光
が入射するので、式(2)により次式が成り立つ。
W(n)≒Ye(n−1)+Cy(n−1)−G(n)
……(6) 式(6)に示すW(n)の信号で欠陥画素による信
号を置換することにより欠陥補償がなされるわけ
である。第1図に示した回路は式(6)を実現した回
路である。以下、第2図、第3図を用いてその動
作を説明する。第3図は、端子51A,52A,
…,70Aの電圧を示す図である。スイツチ回路
51,52,…,70はそれぞれに対応する端子
51A,52A,…,70Aの電圧がハイレベル
のとき閉成され、ローレベルのとき開成される。
ここで第3図aに示すクロツクは、第2図aのク
ロツクと対応している。端子51A,52A,
…,70Aの電圧は、その内部に記憶装置を含
み、欠陥画素の位置および欠陥画素の色フイルタ
の種類を記憶している欠陥補償制御信号発生回路
75から発生される。スイツチ回路51,52,
…,70が第3図に示される電圧により開閉さ
れ、撮像部50の出力である50A,50B,5
0C,50Dの波形が第2図b,c,d,eに示
されるごとくであるとすると、入力端子71A,
72A,73A、出力端子71B,72B,73
B,74Aには第2図f,g,h,i,j,k,
lに示す波形が現われる。ここでは反転回路71
は入力信号の零レベルを基準として信号成分を正
負反転して出力し、遅延回路72および73は入
力信号を1クロツクの時間だけ遅延して出力し、
加算回路74は端子71B,72B,73Bの信
号成分を加算して出力するように構成されてい
る。第2図の( )内はそれれぞれ各端子を示
す。
……(6) 式(6)に示すW(n)の信号で欠陥画素による信
号を置換することにより欠陥補償がなされるわけ
である。第1図に示した回路は式(6)を実現した回
路である。以下、第2図、第3図を用いてその動
作を説明する。第3図は、端子51A,52A,
…,70Aの電圧を示す図である。スイツチ回路
51,52,…,70はそれぞれに対応する端子
51A,52A,…,70Aの電圧がハイレベル
のとき閉成され、ローレベルのとき開成される。
ここで第3図aに示すクロツクは、第2図aのク
ロツクと対応している。端子51A,52A,
…,70Aの電圧は、その内部に記憶装置を含
み、欠陥画素の位置および欠陥画素の色フイルタ
の種類を記憶している欠陥補償制御信号発生回路
75から発生される。スイツチ回路51,52,
…,70が第3図に示される電圧により開閉さ
れ、撮像部50の出力である50A,50B,5
0C,50Dの波形が第2図b,c,d,eに示
されるごとくであるとすると、入力端子71A,
72A,73A、出力端子71B,72B,73
B,74Aには第2図f,g,h,i,j,k,
lに示す波形が現われる。ここでは反転回路71
は入力信号の零レベルを基準として信号成分を正
負反転して出力し、遅延回路72および73は入
力信号を1クロツクの時間だけ遅延して出力し、
加算回路74は端子71B,72B,73Bの信
号成分を加算して出力するように構成されてい
る。第2図の( )内はそれれぞれ各端子を示
す。
以上の動作の結果、W信号出力端子80Aに
は、第2図mに示すごとく欠陥補償されたW信号
が得られる。他の出力端子80B,80C,80
Dには、第2図c,d,eに示される波形と同じ
波形が現われる。
は、第2図mに示すごとく欠陥補償されたW信号
が得られる。他の出力端子80B,80C,80
Dには、第2図c,d,eに示される波形と同じ
波形が現われる。
次に、Ye信号中に欠陥画素による信号がある
場合について考える。欠陥画素に対応するクロツ
クをi番目のクロツクとすると、前述したW信号
における欠陥補償と同様の考え方で式(6)に対応し
て次式が成り立つ。
場合について考える。欠陥画素に対応するクロツ
クをi番目のクロツクとすると、前述したW信号
における欠陥補償と同様の考え方で式(6)に対応し
て次式が成り立つ。
Ye(i)≒W(i−1)+G(i−1)−Cy(i) ……(7)
この式を実現するために、第4図b〜uに示さ
れる電圧を端子51A,52A,…,70Aに与
えて、スイツチ回路51,52,…,70を開閉
する。このようにして、Ye信号中に欠陥画素に
よる信号がある場合についても、前記のW信号に
おける場合と同様にしてその欠陥補償が可能とな
る。
れる電圧を端子51A,52A,…,70Aに与
えて、スイツチ回路51,52,…,70を開閉
する。このようにして、Ye信号中に欠陥画素に
よる信号がある場合についても、前記のW信号に
おける場合と同様にしてその欠陥補償が可能とな
る。
次に、Cy信号中に欠陥画素による信号がある
場合について考える。欠陥画素に対応するクロツ
クをj番目のクロツクとすると、前述のW信号に
おける欠陥補償と同様の考え方で式(6)に対応して
次式が成り立つ。
場合について考える。欠陥画素に対応するクロツ
クをj番目のクロツクとすると、前述のW信号に
おける欠陥補償と同様の考え方で式(6)に対応して
次式が成り立つ。
Cy(j)≒W(j−1)+G(j−1)−Ye(j) ……(8)
この式を実現するために、第5図b〜uに示さ
れる電圧を端子51A,52A,…,70Aに与
えて、スイツチ回路51,52,…,70を開閉
する。このようにして、Cy信号中に欠陥画素に
よる信号がある場合についても、前記のW信号に
おける場合と同様にしてその欠陥補償が可能とな
る。
れる電圧を端子51A,52A,…,70Aに与
えて、スイツチ回路51,52,…,70を開閉
する。このようにして、Cy信号中に欠陥画素に
よる信号がある場合についても、前記のW信号に
おける場合と同様にしてその欠陥補償が可能とな
る。
最後に、G信号中に欠陥画素による信号がある
場合について考える。欠陥画素に対応するクロツ
クをk番目のクロツクとすると、前述したW信号
における欠陥補償と同様の考え方で式(6)に対応し
て次式が成り立つ。
場合について考える。欠陥画素に対応するクロツ
クをk番目のクロツクとすると、前述したW信号
における欠陥補償と同様の考え方で式(6)に対応し
て次式が成り立つ。
G(k)≒Ye(k−1)+Cy(k−1)−W(k)
……(7) この式を実現するために、第6図b〜uに示さ
れる電圧を端子51A,52A,…,70Aに与
えて、スイツチ回路51,52,…,70を開閉
する。このようにして、G信号中に欠陥画素によ
る信号がある場合についても、前記のW信号にお
ける場合と同様にしてその欠陥補償が可能とな
る。
……(7) この式を実現するために、第6図b〜uに示さ
れる電圧を端子51A,52A,…,70Aに与
えて、スイツチ回路51,52,…,70を開閉
する。このようにして、G信号中に欠陥画素によ
る信号がある場合についても、前記のW信号にお
ける場合と同様にしてその欠陥補償が可能とな
る。
なお上記実施例では白、黄、シアン、緑の4色
の色フイルタの場合について述べたが、前述した
ように4色の色フイルタの色はその4色のうちの
どの3色をとつてもそれら3色が互いに独立な原
刺激となつていればどのような色でもよい。つま
り4色のうちのどの1色をとつても他の3色の負
量または正量加法混色により表わすことができれ
ば、遅延回路および加算回路等を用いて前述のご
とき欠陥補償回路を構成することができる。
の色フイルタの場合について述べたが、前述した
ように4色の色フイルタの色はその4色のうちの
どの3色をとつてもそれら3色が互いに独立な原
刺激となつていればどのような色でもよい。つま
り4色のうちのどの1色をとつても他の3色の負
量または正量加法混色により表わすことができれ
ば、遅延回路および加算回路等を用いて前述のご
とき欠陥補償回路を構成することができる。
[発明の効果]
以上のようにこの発明によれば、従来装置にお
ける場合と比較して欠陥画素との距離が近い画素
からの信号によつて欠陥画素からの信号を置換す
ることにより欠陥補償しているので、欠陥画素の
前で画像に急峻な変化がある場合においてもその
補償誤差を小さくすることができる。
ける場合と比較して欠陥画素との距離が近い画素
からの信号によつて欠陥画素からの信号を置換す
ることにより欠陥補償しているので、欠陥画素の
前で画像に急峻な変化がある場合においてもその
補償誤差を小さくすることができる。
第1図はこの発明の好ましい一実施例である撮
像素子の画像欠陥補償装置を示す概略ブロツク
図、第2図〜第6図はこの発明の一実施例の動作
の説明用線図、第7図は従来の撮像素子の画像欠
陥補償装置を示す概略ブロツク図、第8図は従来
装置の動作の説明用線図、第9図はこの発明の対
象となる撮像素子の色フイルタの配列の一例を示
す図である。 図において、50は撮像部、51〜70はスイ
ツチ回路、71は反転回路、72,73は遅延回
路、74は加算回路、75は欠陥補償制御信号発
生回路をそれぞれ示す。
像素子の画像欠陥補償装置を示す概略ブロツク
図、第2図〜第6図はこの発明の一実施例の動作
の説明用線図、第7図は従来の撮像素子の画像欠
陥補償装置を示す概略ブロツク図、第8図は従来
装置の動作の説明用線図、第9図はこの発明の対
象となる撮像素子の色フイルタの配列の一例を示
す図である。 図において、50は撮像部、51〜70はスイ
ツチ回路、71は反転回路、72,73は遅延回
路、74は加算回路、75は欠陥補償制御信号発
生回路をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 画素を行および列方向に配列しかつ読出クロ
ツクに同期して列方向に互いに隣接した2つの画
素に関する信号を同時に読出す撮像素子において
正常な信号を出力しない欠陥画素が存在する場合
の画像欠陥補償装置であつて、前記画素の任意の
2行×2列の4個の画素は異なつた4つの色に関
連し、かつ該4色のうちの任意の3色はそれぞれ
互いに独立な原刺激となつており、 前記欠陥画素と同時に読出される該欠陥画素と
列方向で接するもう1つの画素による第1の信号
と、前記欠陥画素による信号を読出す時刻より1
クロツク前の読出クロツクにより同時に読出され
る列方向に互いに接した2つの画素による第2の
信号および第3の信号とを前記4つの色により予
め定められている比率で加減算して補償信号を発
生する手段と、 前記欠陥画素による信号を前記補償信号で置換
する手段とを備える撮像素子の画像欠陥補償装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59237004A JPS61114683A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 撮像素子の画像欠陥補償装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59237004A JPS61114683A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 撮像素子の画像欠陥補償装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61114683A JPS61114683A (ja) | 1986-06-02 |
| JPH0218795B2 true JPH0218795B2 (ja) | 1990-04-26 |
Family
ID=17008957
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59237004A Granted JPS61114683A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 撮像素子の画像欠陥補償装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61114683A (ja) |
-
1984
- 1984-11-09 JP JP59237004A patent/JPS61114683A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61114683A (ja) | 1986-06-02 |
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