JPH02192781A - ホール素子および磁気センサシステム - Google Patents

ホール素子および磁気センサシステム

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JPH02192781A
JPH02192781A JP1012916A JP1291689A JPH02192781A JP H02192781 A JPH02192781 A JP H02192781A JP 1012916 A JP1012916 A JP 1012916A JP 1291689 A JP1291689 A JP 1291689A JP H02192781 A JPH02192781 A JP H02192781A
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JP
Japan
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substrate
hall element
magnetic flux
hall
magnetic sensor
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JP1012916A
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Masatoshi Kimura
雅俊 木村
Toshio Kumamoto
敏夫 熊本
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N52/00Hall-effect devices
    • H10N52/101Semiconductor Hall-effect devices

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  • Hall/Mr Elements (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はホール素子および磁気センサシステムに関す
るものであり、特に、装置の規模を小さくすることがで
きるように改良されたホール素子および磁気センサシス
テムに関するものである。
[従来の技術] 従来の磁気センサシステムの説明に入る前に、ホール効
果について説明しておく。第13図はホール効果を説明
するための概念図である。第13図を参照して、X軸方
向に−様な電流Ixが流れている細長い導体の板に、垂
直な磁場Hzを加えると、H2,I。に垂直な方向yに
起電力Eyが生じ、外部で接続された導体ACBに電流
が流れる。この現象をホール効果といい、簡易磁場検出
器、方位検出器等に利用されている。
第14図は、従来のホール素子を用いた磁気センサシス
テムの概念図である。ホール素子10がX−Y平面、Y
−X平面およびZ−X平面に配置されている。それぞれ
のホール素子の出力端子は、切換スイッチ11を介して
、A/D変換器12に電気的接続され、A/D変換変換
器12はディジタル信号処理回路13に電気的接続され
ている。
次に、従来のホール素子10の構造について説明する。
第15図は、従来のホール素子の斜視図であり、第16
図は第15図における矢印XVIの方向から見た矢視図
であり、第17図は第15図における矢印X■の方向か
ら見た矢視図であり、第18図は第15図における矢印
X■の方向から見た矢視図である。これらの図を参照し
て、ホール素子10はP型半導体基板14を備えている
。P型半導体基板14は、表面14aと裏面14bと側
面14cを有している。P型半導体基板14内にはN型
半導体領域7が設けられている。N型半導体領域7を側
方から挾むように1対の電流電極9,9が設けられてい
る。さらに、N型半導体領域7を、上記1対の電流電極
9.9の配置された方向に対して直交する方向から挾む
ように1対のホール電圧検知電極8.8が設けられてい
る。次に、これらの図を参照して、ホール素子10の動
作について説明する。1対の電流電極9,9間に電流を
流し、矢印X■の方向(すなわち、基板に対して垂直な
方向)からN型半導体領域7に磁束成分Bを導入すると
、ホール効果によって、ホール電圧検知電極88間にホ
ール起電力が、生じる。
第14図に戻って、従来の磁気センサシステムは、上述
のようなホール素子10をX−Y平面。
Y−Z平面およびZ−X平面に配置することにより、構
成されている。X−Y平面に配置されたホール素子10
は、磁束のZ軸方向の成分B2を検出し、Y−X平面に
配置されたホール素子10は磁束のX軸方向の成分Bx
を検出し、Z−X平面に配置されたホール素子10は磁
束のY軸方向の成分BYを検出する。そして、切換スイ
ッチ11によって、各方向の磁束成分を別々にA/D変
換器12に入力し、その後、ディジタル信号処理回路1
3によって、その大きさ、方向などが計算される。
次に、従来のホール素子の製造方法について説明する。
第19A図〜第19F図は、従来のホール素子の製造工
程を斜視図で示したものである。第19A図を参照して
、P型半導体基板14の上にレジスト15を塗布する。
次に、第19B図を参照して、電流電極およびホール電
圧検知電極を形成する部分のレジスト15を開口する。
次に、第19C図を参照して、レジスト15をマスクに
して、N十型不純物イオン16を注入し、その後、該N
+型不純物イオンをP型半導体基板14内に拡散させる
。次にレジスト15を除去する。これによって、電流電
極およびホール電圧検知電極が形成される。次に、第1
9D図を参照して、P型半導体基板14の全面にレジス
ト17を塗布し、レジスト17の電流電極およびホール
電圧の検知電極に挾まれた部分を開口する。次に、第1
9E図を参照して、レジスト17をマスクにしてN型不
純物イオン18をイオン注入し、その後、該N+型不純
物イオンをP型半導体基板14内に拡散させる。こうし
て、第19F図を参照して、P型半導体基板14内に、
1対の電流電極9.つと、1対のホール電圧検知電圧8
.8と、これら1対の電流電極9,9および1対のホー
ル電圧検知電極8゜8によって挾まれたN型半導体領域
7とが形成される。
[発明が解決しようとする課題] 従来のホール素子および磁気センサステムは以上のよう
に構成されており、第14図を参照して、ホール素子1
0を3方向に配置する必要があり、その結果、装置の規
模が大きくなるという問題点があった。装置の規模が大
きくなると、消費電力も大きくなり、問題であった。
それゆえに、この発明の目的は、装置の規模の小型化が
図れるホール素子を提供することを目的とする。
この発明の他の目的は、消費電力を少なくできる磁気セ
ンサシステムを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明にかかるホール素子は、表面、裏面および該表
面と裏面を接続する側面を有する基板と、上記基板内に
設けられた半導体領域と、上記基板内に設けられ、上記
半導体領域を表面側および裏面側から挾むように設けら
れた1対の電流電極と、上記基板内に設けられ、上記半
導体領域を側面側から挾むように設けられた1対のホー
ル電圧検知電極と、を備えている。
この発明にかかる磁気センサは、第1の基板と、該第1
の基板の上に設けられた第2の基板とを備え、上記第1
の基板は、該第1の基板に対して垂直な方向の磁束成分
を検出する第1のホール素子を含み、上記第2の基板は
、上記第1のホール素子の検出する磁束成分の磁界方向
に対して垂直な方向の磁束成分を検出する第2のホール
素子を含んでいる。
また、当該磁気センサシステムの好ましい実施態様によ
れば、上記第2の基板の上に設けられた第3の基板をさ
らに備え、上記第3の基板は、上記第1のホール素子お
よび上記第2のホール素子が検出する磁束成分の磁界方
向と直交する方向の磁束成分を検出する第3のホール素
子を含む。
さらに、当該磁気センサシステムは、上記第3の基板の
上に設けられた第4の基板をさらに備え、上記第4の基
板にはA/D変換器と、該A/D変換器に電気的接続さ
れたディジタル信号処理回路が形成され、上記第1のホ
ール素子、上記第2のホール素子および上記第3のホー
ル素子の出力端は上記A/D変換器に電気的接続されて
いるのが好ましい。
[作用] この発明にかかるホール素子によれば、基板内に設けら
れた半導体領域を、基板の表面側および裏面側から挾む
ように1対の電流電極が設けられ、さらに、上記半導体
領域を側面側から挾むように設けられた1対のホール電
圧検知電極が設けられているので、基板を水平面内に置
いたときに、基板に対して平行な方向の磁束成分を検出
できる。
したがって、第15図に示す従来のホール素子の上にこ
のホール素子を積上げて、磁気センサシステムを構成す
ることが可能となり、磁気センサシステムの装置の規模
の小型化が図れるようになる。
また、この発明にかかる磁気センサシステムによれば、
第1の基板と、該第1の基板の上に設けられた第2の基
板とを備え、上記第1の基板は、該第1の基板に対して
垂直な方向の磁束成分を検出する第1のホール素子を含
み、上記第2の基板は、上記第1のホール素子の検出す
る磁束成分の磁界方向に対して垂直な方向の磁束成分を
検出する第2のホール素子を含んでいる。これにより2
方向の磁束成分を検出できる。そして、11の基板の上
に第2の基板を積上げるという構成であるので、ホール
素子間の距離が短くなる。その結果、従来の磁気センサ
システムと比べて、消費電力が少なくなる。
また、上記第2の基板の上に第3の基板をさらにM重ね
、この第3の基板内に、上記第1のホール素子および上
記第2のホール素子が検出する磁束成分の磁界方向と直
交する方向の磁束成分を検出する第3のホール素子を含
ませると、3方向の磁束成分を検出できるようになる。
この場合にも、ホール素子間の距離が従来の磁気センサ
システムに比べて短くなり、消費電力が少なくなる。
さらに、上記第3の基板の上に第4の基板を積重ね、こ
の第4の基板にA/D変換器と、該A/D変換器に電気
的接続されたディジタル信号処理回路を形成し、上記第
1のホール素子、第2のホール素子および第3のホール
素子を上記A/D変換器に電気的接続すると、磁束成分
の大きさ、方向などが計算される。この場合にも、各素
子間の距離は従来の磁気センサシステムに比べて短くな
り、消費電力が少なくなる。
[実施例] 以下、この発明の実施例を図について説明する。
第1図は、この発明にかかる磁気センサシステムの概念
図である。
第1図を参照して、第1の基板1の上に絶縁膜5aを介
して第2の基板2が設けられ、第2の基板2の上に絶縁
膜5bを介して第3の基板3が設けられ、第3の基板3
の上に絶縁膜5cを介して第4の基板4が設けられてい
る。第1の基板1は、該第1の基板1に対して垂直な方
向の磁束成分B2を検出する第1のホール素子、たとえ
ば第15図に示すホール素子を含んでいる。第2の基板
2は、上記第1のホール素子の検出する磁束成分の磁界
方向に対して垂直な方向の磁束成分を検出する第2のホ
ール素子を含む。第3の基板3は、上記第1のホール素
子および上記第2のホール素子が検出する磁束成分の磁
界成分と直交する方向の磁束成分を検出する第3のホー
ル素子を含む。第4の基板にはA/D変換器と、該A/
D変換器に電気的に接続されたディジタル信号処理回路
が形成されている。・そして、第1のホール素子、第2
のホール素子および第3のホール素子は、スルホール(
図示せず)により、上記A/D変換器に電気的接続され
ている。次に、第1図に示す磁気センサシステムの動作
を説明する前に、第2の基板2および第3の基板3に形
成された第2のホール素子および第3のホール素子の構
造について説明する。
第2図は、本発明にかかるホール素子の斜視図である。
第3図は第2図における矢印■方向から見た矢視図であ
り、第4図は第2図における矢印■方向から見た矢視図
であり、第5図は第2図における矢印V方向から見た矢
視図である。これらの図を参照して、ホール素子10は
P型半導体基板14を備える。P型半導体基板14は、
表面14aと裏面14bと側面14cを有している。P
型半導体基板14内には、N型半導体領域7が設けられ
ている。N型半導体領域7を、表面14a側および裏面
14b側から挾むように1対の電流電極9,9が設けら
れている。さらに、N型半導体基板7を側面14C側か
ら挾むように1対のホール電圧検知電極8,8が設けら
れている。
次に、これらの図を参照して、このホール素子の動作に
ついて説明する。1対の電流電極9,9間に電流を流し
、矢印Bの方向からN型半導体領域7に磁束成分を導入
すると、ホール効果によって、ホール電圧検知電極8,
8間にホール起電力が生じる。
さて、再び第1図に戻って、第2の基板2として、第2
図に示すホール素子を、Y軸方向の磁束成分Byを検出
できるように、すなわち、矢印V方向とY軸方向を揃え
るように配置する(これを、以下第2のホール素子とい
う)。第3の基板3として、第2図に示すようなホール
素子を、X軸方向の磁束成分Bxを検出できるように、
すなわち、矢印V方向とX軸方向を揃えるように配置す
る(これを、以下、第3のホール素子という)。
次に、第1図に示す磁気センサシステムの動作について
説明する。
第1の基板1に含まれる第1のホール素子は、Z軸方向
の磁束成分を検出する。第2の基板2に含まれる第2の
ホール素子はY軸方向の磁束成分を検出する。第3の基
板3に含まれる第3のホール素子はX軸方向の磁束成分
を検出する。こうして、3方向の磁束成分が検出され、
その信号は第4の基板4に形成されたA/D変換器およ
びディジタル信号処理回路に送られ、磁束成分の大きさ
、方向などが計算される。
この実施例によれば、第1の基板1、第2の基板2、第
3の基板3および第4の基板4は1つのチップにまとめ
られるので、装置の規模は小さくなり、小型化が図れる
。また、素子間の距離が従来の磁気センサシステムと比
較して、短くなるので、消費電力が少なくなる。
なお、第1図に示す磁気センサシステムは、第1の基板
1、第2の基板2、第3の基板3および第4の基板4を
絶縁膜5a、5b、5cを介して貼り合わせることによ
って作成されてもよいし、たとえばシリコンのデポジシ
ョンを繰返し行なうことによって作成されてもよい。
次に、第2図に示すホール素子の製造方法について説明
する。第6A図〜第6F図は、第2図に示すホール素子
の製造工程を示した図である。
第6A図を参照して、P型半導体基板14の上にレジス
ト15を塗布する。次に、第6B図を参照して、レジス
ト15の電流電極を形成する部分を開口する。次に、第
6C図を参照して、レジスト15をマスクにして、高い
エネルギでN+型不純物イオン16を注入し、さらにも
う1回、低いエネルギでN+型不純物イオン16を注入
する。
すると、第6D図(第6C図におけるD−D線に沿う断
面図)を参照して、N型半導体領域7と、N型半導体領
域7を表面側および裏面側から挾むように形成された1
対の電流電極9,9が形成される。その理由を第7図を
参照して説明する。第7図を参照して、横軸は表面から
の距離を表わしており、縦軸は不純物濃度を表わしてい
る。曲線19は、高いエネルギでN+型不純物イオン1
6を注入したときの、N型不純物の濃度分布曲線を表わ
している。曲線20は、低いエネルギでN十型不純物イ
オン16を注入したときの、N型不純物の濃度分布曲線
を表わしている。第7図のようにN型不純物が分布する
ので、第6C図を参照して、レジスト15をマスクにし
て、高いエネルギでN+不純物イオン16を注入し、さ
らにもう1回、低いエネルギでN+型不純物イオン16
を注入すると、N型半導体領域7が形成され、さらにN
型半導体領域7を表面側および裏面側から挾むように1
対の電流電極9,9が形成される。
次に、レジスト15を除去する。
その後、第6E図を参照して、P型半導体基板14の全
面にレジスト17を塗布し、レジスト17のホール電圧
検知電極を形成する部分を開口する。次に、レジスト1
7をマスクにして、N+型不純物イオン16をイオン注
入し、該不純物イオン16をP型半導体基板14内に拡
散させる。そして、レジスト17を除去する。
こうして、第6F図を参照して、表面、裏面および該表
面と該裏面を接続する側面を有する半導体基板14と、
上記半導体基板内に設けられた半導体領域7と、上記半
導体基板14内に設けられ、上記半導体領域を表面側お
よび裏面側から挾むように設けられた1対の電流電極9
,9と、上記半導体基板14内に設けられ、上記半導体
領域7を側面側から挾むように設けられた1対のホール
電圧検知電極8.8とを備えるホール素子が形成される
なお、上記実施例では、電流電極、N型半導体基板およ
びホール電圧検知電極を、PN接合により、半導体基板
から分離した場合を例示したが、この発明はこれに限ら
れない。
すなわち、第8図に示すような、表面19aと裏面19
bと表面19aと裏面19bを接続する側方面19cを
有する5i02基板19と、上記5i02基板19内に
設けられた半導体領域7と、上記5L02基板19内に
設けられ、上記半導体領域7を側方から挾むように設け
られた1対の電流電極9,9と、上記5L02基板]9
内に設けられ、上記半導体領域7を、上記1対の電流電
極9.9の配置された方向に対して垂直な方向から挾む
ように設けられた1対のホール電圧検知電極8.8とを
備えたホール素子も、上述の第1のホール素子として使
用できる。この場合には、素子が5i02で分離されて
いるので、リーク電流の発生は完全に阻止される。
また、第9図に示すような、表面19a1裏面19bお
よび該表面と裏面を接続する側面を有する5i02基板
19と、上記5i02基板内に設けられた半導体領域7
と、上記5i02基板内に設けられ、上記半導体領域7
を表面19a側および裏面19b側から挾むように設け
られた1対の電流電極9,9と、上記5i02基板内に
設けられ、上記半導体領域7を側面側から挾むように設
けられた1対のホール電圧検知電極8,8とを備えたホ
ール素子を、第2のホール素子または第3のホール素子
として利用してもよい。この場合にも、素子が5i02
で分離されているので、リーク電流の発生は完全に阻止
される。
第10図は、第8図に示すホール素子の形成方法を説明
するための斜視図である。すなわち、第10図を参照し
て、シリコン半導体基板20を準備し、ホール素子を形
成したい部分だけに半導体層21を形成し、その他の部
分をLOCO3法によって酸化する。次いで、第19A
図〜第19F図に示す工程を経由することによって、第
8図に示すホール素子が形成される。
第11図は、第9図に示すホール素子の形成方法を説明
するための斜視図である。すなわち、第11図を参照し
て、シリコン半導体基板20を準備し、ホール素子を形
成したい部分だけに半導体層21を形成し、その他の部
分をLOCO5法によって酸化する。次いで、第6A図
〜第6F図に示す工程を経由することによって、第9図
に示すホール素子が形成される。
第12図は、この発明にかかる磁気センサシステムに使
用されるホール素子の他の実施例の平面図(第16図に
対応するもの)である。第12図を参照して、N型半導
体基板22内に複数個のP型頭域23が形成されている
。P型頭域23のそれぞれにはN型半導体領域7が形成
されている。
また、P型頭域23のそれぞれには、N型半導体領域7
を側方から挾むように1対の電流電極9゜9が形成され
ている。また、P型頭域23のそれぞれには、N型半導
体領域7を、上記1対の電流電極9,9の配置された方
向に対して垂直な方向から挾むように設けられた1対の
ホール電圧検知電極8.8が設けられている。第12図
に示すような、基板に対して垂直な方向の磁束成分を検
出するホール素子を複数個含む基板を、第1図に示す磁
気センサシステムに取入れると、チップ内での磁束成分
の変化をも検出できるようになる。なお、複数個のホー
ル素子は、5in2基板内に設けられてもよい。
なお、上記実施例では、第1図を参照して、Z軸方向の
磁束成分B2を検出する第1の基板1と、Y軸方向の磁
束成分BYを検出する第2の基板、X軸方向の磁束成分
Bxを検出する第3の基板を備えた磁気センサシステム
を例示したが、この発明はこのものに限定されるもので
なく、Z軸方向の磁束成分とY軸方向の磁束成分のみを
検出できればよいという磁気センサシステムにおいては
、第3の基板を除去してもよい。
以上、具体的な実施例を挙げて、この発明のホール素子
および磁気センサシステムについて説明したが、本発明
は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、
他の色々な形で実施することができる。それゆえ、前述
の実施例はあらゆる点で単なる例示にすぎず、限定的に
解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲
によって示すものであって、明細書本文には何ら拘束さ
れない。さらに、特許請求の範囲の均等範囲に属する変
形や変更は、すべて本発明の範囲内のものである。
[発明の効果コ 以上説明したとおり、この発明にかかるホール素子によ
れば、表面、裏面および該表面と裏面を接続する側面を
有する基板と、上記基板内に設けられた半導体領域と、
上記基板内に設けられ、上記半導体領域を表面側および
裏面側から挾むように設けられた1対の電流電極と、上
記基板内に設けられ、上記半導体領域を側面側から挾む
ように設けられた1対のホール電圧検知電極を備えてい
るので、基板を水平面内に置いたときに、基板に対して
平行な方向の磁束成分を検出できる。したがって、従来
のホール素子の上に当該ホール素子を積上げて磁気セン
サシステムを構成することが可能となり、磁気センサシ
ステムの装置の規模の小型化が図れるようになる。
また、この発明にかかる磁気センサシステムによれば、
第1の基板と、該第1の基板の上に設けられた第2の基
板とを備え、上記第1の基板は、該第1の基板に対して
垂直な方向の磁束成分を検出する第1のホール素子を含
み、上記第2の基板内は、上記第1のホール素子の検出
する磁束成分の磁界方向に対して垂直な方向の磁束成分
を検出する第2のホール素子を含んでいる。このように
、第1の基板の上に第2の基板を積上げるという構成を
とっているので、ホール素子間の距離が短くなる結果、
従来の磁気センサシステムと比べて消費電力が少なくな
る。
また、上記第2の基板の上に第3の基板をさらに積重ね
、この第3の基板内に、上記第1のホール素子および上
記第2のホール素子が検出する磁束成分の磁界方向と直
交する方向磁束成分を検出する第3のホール素子を含ま
せると、3方向の磁束成分を検出できるようになる。こ
の場合にも、ホール素子間の距離が従来の磁気センサシ
ステムに比べて短くなり、消費電力が少なくなる。
さらに、上記第3の基板の上に第4の基板を積重ね、こ
の第4の基板にA/D変換器と、該A/D変換器に電気
的に接続されたディジタル信号処理回路を形成し、上記
第1のホール素子、第2のホール素子および第3のホー
ル素子の出力端を上記A/D変換器に電気的に接続する
と、磁束成分の大きさ、方向などが計算される。この場
合にも、各素子間の距離は従来の磁気センサシステムに
比べて短くなり、消費電力が少なくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明にかかる磁気センサシステムの概念
図である。第2図は、本発明にかかるホール素子の斜視
・図である。第3図は第2図における矢印■方向から見
た矢視図であり、第4図は第2図における矢印■方向か
ら見た矢視図であり、第5図は第2図における矢印V方
向から見た矢視図である。第6A図〜第6F図は、第2
図に示すホール素子の製造工程を示した図である。第7
図は第2図に示すホール素子の製造の原理を説明するた
めの図である。第8図は、この発明にかかるホール素子
の他の実施例の斜視図である。第9図は、この発明にか
かるホール素子のさらに他の実施例の斜視図である。第
10図は第8図に示すホール素子の製造方法を説明する
ための図である。 第11図は第10図に示すホール素子の製造方法を説明
するための図である。第12図は、この発明にかかるホ
ール素子のさらに他の実施例の斜視図である。第13図
はホール効果を説明するための図である。第14図は従
来の磁気センサシステムの概念図である。第15図は従
来の磁気センサシステムに使用されている従来のホール
素子の斜視図である。第16図は第15図における矢印
X■力方向ら見た矢視図であり、第17図は第15図に
おける矢印X■力方向ら見た矢視図であり、第18図は
第15図における矢印X■力方向ら見た矢視図である。 第19A図〜第19F図は第15図に示すホール素子の
製造工程を示した図である。 図において、1は第1の基板、2は第2の基板、3は第
3の基板、7はN型半導体領域、8はホール電圧検知電
極、9は電流電極、10はホール素子、14はP型半導
体基板である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)表面、裏面および該表面と該裏面を接続する側面
    を有する基板と、 前記基板内に設けられた半導体領域と、 前記基板内に設けられ、前記半導体領域を表面側および
    裏面側から挾むように設けられた1対の電流電極と、 前記基板内に設けられ、前記半導体領域を側面側から挾
    むように設けられた1対のホール電圧検知電極と、 を備えたホール素子。
  2. (2)第1の基板と、該第1の基板の上に設けられた第
    2の基板とを備え、 前記第1の基板は、該第1の基板に対して垂直の方向の
    磁束成分を検出する第1のホール素子を含み、 前記第2の基板は、前記第1のホール素子の検出する磁
    束成分の磁界方向に対して垂直な方向の磁束成分を検出
    する第2のホール素子を含む、磁気センサシステム。
  3. (3)前記第2の基板の上に設けられた第3の基板をさ
    らに備え、 前記第3の基板は、前記第1のホール素子および前記第
    2のホール素子が検出する磁束成分の磁界方向と直交す
    る方向の磁束成分を検出する第3のホール素子を含む、
    請求項2記載 の磁気センサシステム。
  4. (4)前記第3の基板の上に設けられた第4の基板をさ
    らに備え、 前記第4の基板にはA/D変換器と、該A/D変換器に
    電気的接続されたディジタル信号処理回路が形成され、 前記第1のホール素子、第2のホール素子および第3の
    ホール素子は前記A/D変換器に電気的接続されている
    、請求項3記載の磁 気センサシステム。
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