JPH0219488B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0219488B2 JPH0219488B2 JP56208478A JP20847881A JPH0219488B2 JP H0219488 B2 JPH0219488 B2 JP H0219488B2 JP 56208478 A JP56208478 A JP 56208478A JP 20847881 A JP20847881 A JP 20847881A JP H0219488 B2 JPH0219488 B2 JP H0219488B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- key
- keyboard
- tested
- test
- keyboards
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Input From Keyboards Or The Like (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明はキーボードの試験方法に関する。
(b) 従来技術と問題点
キーボードを試験するにはキーボードを構成す
る多数のキーのそれぞれについて、その機能とキ
ーの種別を示すキートツプ上の表示とを検査しな
ければならない。上記多数のキーにはその機能か
ら見て文字キーと機能キーとがあり、文字キーは
表示装置上に文字を表示せしめるためのキーであ
るのに対し、機能キーはシステムに一連の動作の
実行を指令するためのキーである。このような機
能キーの機能を直接試験するには、試験対象キー
ボードに、各キーの機能に関連して対になる本体
装置などの各種装置を接続し、各機能キーを押下
して前記各種装置を実際に動作させ、その動作が
正常か否かを確かめねばならない。
る多数のキーのそれぞれについて、その機能とキ
ーの種別を示すキートツプ上の表示とを検査しな
ければならない。上記多数のキーにはその機能か
ら見て文字キーと機能キーとがあり、文字キーは
表示装置上に文字を表示せしめるためのキーであ
るのに対し、機能キーはシステムに一連の動作の
実行を指令するためのキーである。このような機
能キーの機能を直接試験するには、試験対象キー
ボードに、各キーの機能に関連して対になる本体
装置などの各種装置を接続し、各機能キーを押下
して前記各種装置を実際に動作させ、その動作が
正常か否かを確かめねばならない。
従つてかかるキーボードを試験するのに、従来
は一連のシステムを必要とし、しかも試験者は多
種類にわたるキーボードの各キーの機能を熟知し
ていなければならなかつた。
は一連のシステムを必要とし、しかも試験者は多
種類にわたるキーボードの各キーの機能を熟知し
ていなければならなかつた。
(c) 発明の目的
本発明の目的は上記問題点を解消し、キーボー
ドの機能を知らなくても試験可能なキーボードの
試験方法を提供することにある。
ドの機能を知らなくても試験可能なキーボードの
試験方法を提供することにある。
(d) 発明の構成
本発明の特徴は、複数個のキーが二次元的に配
列されてなり、前記キーを押下することにより各
キーに対応するコードを送出する種類の異なる複
数のキーボードを試験する方法において、中央処
理装置と記憶装置と表示装置とキーボード選択用
のセレクタ・スイツチとを設け、前記記憶装置に
は前記複数種類の被試験キーボードの試験プログ
ラムとキーの配列及びそれらキーのコードとを予
め格納しておき、キーボードの試験に際して、前
記セレクタ・スイツチ操作による被試験キーボー
ドの機種選択に応じて前記中央処理装置が前記記
憶装置から対応する試験プログラムを読み出しそ
のプログラムに従つて前記表示装置に被試験キー
ボードの被試験キーを順次、キーの配列順にキー
トツプの表示符号で表示して指示し、該指定され
たキーの押下に応じて前記中央処理装置がその送
出されるコードと前記記憶装置に格納されたコー
ドとを比較して当該キーの良否結果を前記表示装
置に表示せしめることにある。
列されてなり、前記キーを押下することにより各
キーに対応するコードを送出する種類の異なる複
数のキーボードを試験する方法において、中央処
理装置と記憶装置と表示装置とキーボード選択用
のセレクタ・スイツチとを設け、前記記憶装置に
は前記複数種類の被試験キーボードの試験プログ
ラムとキーの配列及びそれらキーのコードとを予
め格納しておき、キーボードの試験に際して、前
記セレクタ・スイツチ操作による被試験キーボー
ドの機種選択に応じて前記中央処理装置が前記記
憶装置から対応する試験プログラムを読み出しそ
のプログラムに従つて前記表示装置に被試験キー
ボードの被試験キーを順次、キーの配列順にキー
トツプの表示符号で表示して指示し、該指定され
たキーの押下に応じて前記中央処理装置がその送
出されるコードと前記記憶装置に格納されたコー
ドとを比較して当該キーの良否結果を前記表示装
置に表示せしめることにある。
(e) 発明の実施例
以下本発明の一実施例を第１図及び第２図によ
り説明する。
り説明する。
第１図は上記一実施例に使用した、キーボード
の試験装置を示す要部システム構成図である。同
図において、１はマイクロプロセツサ（MPU）
のような中央処理装置、２は記憶装置、３はイン
タフエース、４は試験対象キーボードの機種に対
応する試験プログラムを選択するためのセレク
タ・スイツチのような操作卓、５はCRTのよう
な表示装置、６はスピーカ、７は試験対象キーボ
ード、８はバス線でこれにより前記記憶装置２や
インタフエース３がMPU１に接続される。また
上記記憶装置２は、２組の読み出し専用半導体記
憶装置（ROM）９，１０により構成し、一方、
９に各種の被試験キーボードの試験プログラム
を、他方１０にキーの配列及びそれら各キーのコ
ードを予めキーボードの種類に対応して格納して
ある。
の試験装置を示す要部システム構成図である。同
図において、１はマイクロプロセツサ（MPU）
のような中央処理装置、２は記憶装置、３はイン
タフエース、４は試験対象キーボードの機種に対
応する試験プログラムを選択するためのセレク
タ・スイツチのような操作卓、５はCRTのよう
な表示装置、６はスピーカ、７は試験対象キーボ
ード、８はバス線でこれにより前記記憶装置２や
インタフエース３がMPU１に接続される。また
上記記憶装置２は、２組の読み出し専用半導体記
憶装置（ROM）９，１０により構成し、一方、
９に各種の被試験キーボードの試験プログラム
を、他方１０にキーの配列及びそれら各キーのコ
ードを予めキーボードの種類に対応して格納して
ある。
次に上記試験装置を用いた本実施例のキーボー
ドの試験方法を、第２図のフローチヤートを参照
しながら説明する。
ドの試験方法を、第２図のフローチヤートを参照
しながら説明する。
まずセレクタ・スイツチ４を所定の位置にセツ
トすることにより、試験対象キーボード７の機種
を試験装置に通知する。MPU１はセレクタ・ス
イツチ４から送出された信号により試験対象機種
を検知し、記憶装置２のROM９をして対応する
試験プログラムを呼び出して試験装置の初期化等
の試験の準備を行なつた後、表示装置５の画面上
に試験可能であることを表示する。
トすることにより、試験対象キーボード７の機種
を試験装置に通知する。MPU１はセレクタ・ス
イツチ４から送出された信号により試験対象機種
を検知し、記憶装置２のROM９をして対応する
試験プログラムを呼び出して試験装置の初期化等
の試験の準備を行なつた後、表示装置５の画面上
に試験可能であることを表示する。
試験可能となつたら、試験対象キーボード７を
試験装置に接続する。すると表示装置５に試験す
べきキーが順次、キーボードのキー配列順にキー
トツプの表示符号、例えば文字、数字、記号、キ
ー機能の表示名などで１個ずつ表示されるので、
試験者は表示に従つて指定されたキーを押下す
る。例えば表示装置５に『Ａ』と表示されたとき
は、試験者はキートツプ上に『Ａ』と刻印された
キーを押す。キーが押されるとキーボード７から
押されたキーに対応するコードが送出され、
MPU１はこれを記憶装置２のROM１０に格納
されている当該機種の『Ａ』のコードと比較す
る。そして両者が一致しているか否かによつて、
良または不良であることを、表示装置５の画面に
表示する。このときスピーカ６より音声或いは音
色を用いて上記良否を知らせることも可能であ
る。
試験装置に接続する。すると表示装置５に試験す
べきキーが順次、キーボードのキー配列順にキー
トツプの表示符号、例えば文字、数字、記号、キ
ー機能の表示名などで１個ずつ表示されるので、
試験者は表示に従つて指定されたキーを押下す
る。例えば表示装置５に『Ａ』と表示されたとき
は、試験者はキートツプ上に『Ａ』と刻印された
キーを押す。キーが押されるとキーボード７から
押されたキーに対応するコードが送出され、
MPU１はこれを記憶装置２のROM１０に格納
されている当該機種の『Ａ』のコードと比較す
る。そして両者が一致しているか否かによつて、
良または不良であることを、表示装置５の画面に
表示する。このときスピーカ６より音声或いは音
色を用いて上記良否を知らせることも可能であ
る。
本実施例ではこの操作を表示に従つて順次繰り
返すのであるが、ここで注目すべきは各キーの機
能を直接検査するのではなく、キーを押下したと
きに送出されるコードを検査するのみであるか
ら、従来の試験方法のように一連のシステムを接
続する必要がなく、しかも上記コードの検査は試
験装置が行うので試験者は各キーの機能を熟知し
ている必要はないことである。
返すのであるが、ここで注目すべきは各キーの機
能を直接検査するのではなく、キーを押下したと
きに送出されるコードを検査するのみであるか
ら、従来の試験方法のように一連のシステムを接
続する必要がなく、しかも上記コードの検査は試
験装置が行うので試験者は各キーの機能を熟知し
ている必要はないことである。
以後、上記操作を終了の表示が出るまで繰り返
すことにより、キーボード７の試験が終了する。
すことにより、キーボード７の試験が終了する。
このように本実施例においては、試験者は表示
に従つて指定されたキーを押下することと、その
キートツプの刻印を確認するのみで良く、従来方
法のように各キーの機能を熟知している必要はな
くなつた。しかも本実施例では、キーボードのキ
ー配列が合わせてチエツクすることができ、キー
を１度押下し良であればプログラムは次に進むた
めチヤタリングなどのスイツチ不良を発見するこ
とができる。また、試験対象キーボード７の機種
を変更するに際しても、単にセレクタ・スイツチ
４の設定を変更するのみで良く、試験対象キーボ
ードが多種類にわたつてもなんら問題はない。
に従つて指定されたキーを押下することと、その
キートツプの刻印を確認するのみで良く、従来方
法のように各キーの機能を熟知している必要はな
くなつた。しかも本実施例では、キーボードのキ
ー配列が合わせてチエツクすることができ、キー
を１度押下し良であればプログラムは次に進むた
めチヤタリングなどのスイツチ不良を発見するこ
とができる。また、試験対象キーボード７の機種
を変更するに際しても、単にセレクタ・スイツチ
４の設定を変更するのみで良く、試験対象キーボ
ードが多種類にわたつてもなんら問題はない。
なお本発明は上記一実施例に限定されることな
く種々変形して実施し得る。
く種々変形して実施し得る。
例えば試験対象機種に対応する試験プログラム
を選択するための手段は、上述のセレクタ・スイ
ツチに変えて、キーボードに機種を示すバーコー
ドを添付しておき、これをバーコード読取り装置
により検知し、対応する試験プログラムを呼び出
すようにしても良い。試験対象機種が一種類の場
合にはこのような試験プログラムの選択手段を要
しないことは勿論である。
を選択するための手段は、上述のセレクタ・スイ
ツチに変えて、キーボードに機種を示すバーコー
ドを添付しておき、これをバーコード読取り装置
により検知し、対応する試験プログラムを呼び出
すようにしても良い。試験対象機種が一種類の場
合にはこのような試験プログラムの選択手段を要
しないことは勿論である。
(f) 発明の効果
以上説明した如く本発明によれば、試験対象キ
ーボードの多数のキーの機能を熟知している必要
がないので、キーボードの試験が極めて容易とな
る。また本発明を実施するに当つては機能キーに
関連する各種装置よりなる一連のシステムを使用
する必要がなく、使用する試験装置は通常用いら
れるデイスプレイ装置を若干改良することにより
作成出来るので、装置費用も安価である。
ーボードの多数のキーの機能を熟知している必要
がないので、キーボードの試験が極めて容易とな
る。また本発明を実施するに当つては機能キーに
関連する各種装置よりなる一連のシステムを使用
する必要がなく、使用する試験装置は通常用いら
れるデイスプレイ装置を若干改良することにより
作成出来るので、装置費用も安価である。
第１図は本発明の一実施例に用いた試験装置を
示す要部システム構成図、第２図は上記第１図の
試験装置による試験方法を説明するためのフロー
チヤートである。 図において、１は中央処理装置、２は記憶装
置、４は試験対象キーボード選択用の操作卓、５
は表示装置、７は試験対象キーボードを示す。
示す要部システム構成図、第２図は上記第１図の
試験装置による試験方法を説明するためのフロー
チヤートである。 図において、１は中央処理装置、２は記憶装
置、４は試験対象キーボード選択用の操作卓、５
は表示装置、７は試験対象キーボードを示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数個のキーが二次元的に配列されてなり、
前記キーを押下することにより各キーに対応する
コードを送出する種類の異なる複数のキーボード
を試験する方法において、 中央処理装置と記憶装置と表示装置とキーボー
ド選択用のセレクタ・スイツチとを設け、前記記
憶装置には前記複数種類の被試験キーボードの試
験プログラムとキーの配列及びそれらキーのコー
ドとを予め格納しておき、キーボードの試験に際
して、 前記セレクタ・スイツチ操作による被試験キー
ボードの機種選択に応じて前記中央処理装置が前
記記憶装置から対応する試験プログラムを読み出
しそのプログラムに従つて前記表示装置に被試験
キーボードの被試験キーを順次、キーを配列順に
キートツプの表示符号で表示して指示し、該指定
されたキーの押下に応じて前記中央処理装置がそ
の送出されるコードと前記記憶装置に格納された
コードとを比較して当該キーの良否結果を前記表
示装置に表示せしめることを特徴とするキーボー
ドの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56208478A JPS58107946A (ja) | 1981-12-22 | 1981-12-22 | キ−ボ−ドの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56208478A JPS58107946A (ja) | 1981-12-22 | 1981-12-22 | キ−ボ−ドの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58107946A JPS58107946A (ja) | 1983-06-27 |
| JPH0219488B2 true JPH0219488B2 (ja) | 1990-05-02 |
Family
ID=16556826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56208478A Granted JPS58107946A (ja) | 1981-12-22 | 1981-12-22 | キ−ボ−ドの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58107946A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0250747U (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-10 | ||
| JP4707141B2 (ja) * | 2005-07-25 | 2011-06-22 | ソニー・エリクソン・モバイルコミュニケーションズ株式会社 | 電子機器、携帯電話機、操作要素機能割り当て変更方法および操作要素機能割り当て変更プログラム |
| CN106155850A (zh) * | 2015-04-21 | 2016-11-23 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 快速键自动化测试系统及方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5437028U (ja) * | 1977-08-18 | 1979-03-10 | ||
| IT1123524B (it) * | 1979-08-16 | 1986-04-30 | Montedison Spa | N-acil-triclorometiltiocarbammati fungicidi |
-
1981
- 1981-12-22 JP JP56208478A patent/JPS58107946A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58107946A (ja) | 1983-06-27 |
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| JPH0219488B2 (ja) | ||
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