JPH02196221A - 液晶ディスプレイパネル及びその製造方法 - Google Patents
液晶ディスプレイパネル及びその製造方法Info
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- JPH02196221A JPH02196221A JP1014959A JP1495989A JPH02196221A JP H02196221 A JPH02196221 A JP H02196221A JP 1014959 A JP1014959 A JP 1014959A JP 1495989 A JP1495989 A JP 1495989A JP H02196221 A JPH02196221 A JP H02196221A
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- Japan
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- display panel
- crystal display
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、大画面化、高精細化に適したアクティブマト
リクス方式の液晶ディスプレイパネル及びその製造方法
に関するものである。
リクス方式の液晶ディスプレイパネル及びその製造方法
に関するものである。
最近、平面ディスプレイパネルの大形化、高画質化が強
く求められており、各種平面ディスプレイパネルの中に
あって、液晶ディスプレイパネルは最も実用化が進めら
れていて、上記の要求に対しても最も有望なものと見ら
れる。
く求められており、各種平面ディスプレイパネルの中に
あって、液晶ディスプレイパネルは最も実用化が進めら
れていて、上記の要求に対しても最も有望なものと見ら
れる。
しかも、上記の要求に対し、いわゆる単純マトリクス方
式ではコントラストを高くしたり、走査線本数を多くし
たりすることができず、その要求に対応することが困難
であって、いわゆる、アクティブマトリクス方式の方の
が盛んに研究開発されている。この方式は、各画素毎に
スイッチング素子を設けたもので、走査電極と信号電極
から選択信号を送り、上記の各スイッチング素子をオン
−オフし、点灯画素を選択するものである。
式ではコントラストを高くしたり、走査線本数を多くし
たりすることができず、その要求に対応することが困難
であって、いわゆる、アクティブマトリクス方式の方の
が盛んに研究開発されている。この方式は、各画素毎に
スイッチング素子を設けたもので、走査電極と信号電極
から選択信号を送り、上記の各スイッチング素子をオン
−オフし、点灯画素を選択するものである。
上記のスイッチング素子として、例えば、Proc。
Japan Display ’86. pp、62〜
67に述べられている様に、三端子型と二端子型の非線
形素子を用いるものが有る。三端子型素子は、いわゆる
TFT (Thin Film Transistor
;薄膜トランジスタ)であって、a −S i :
H(Hydro generated amorp
hous 5ilicon ;アモルファスシリコン
)またはp−3i (poly 5ilicon
;ポリシリコン)を用いて作られている。二端子型素
子も各種方式のダイオードが用いられている。
67に述べられている様に、三端子型と二端子型の非線
形素子を用いるものが有る。三端子型素子は、いわゆる
TFT (Thin Film Transistor
;薄膜トランジスタ)であって、a −S i :
H(Hydro generated amorp
hous 5ilicon ;アモルファスシリコン
)またはp−3i (poly 5ilicon
;ポリシリコン)を用いて作られている。二端子型素
子も各種方式のダイオードが用いられている。
さて、この様なアクティブマトリクス方式の液晶ディス
プレイパネルは、次のようにして構成される。
プレイパネルは、次のようにして構成される。
即ち、まず、無アルカリガラスまたはその表面にSiO
□のコーティングを施したソーダライムガラスから成る
第1のガラス板上に、上記スイッチング素子とそのスイ
ッチング素子と接続され、透明導電体であるI To
(Indium Tin 0xide)膜から成る画素
電極と、を形成し、また、第1のガラス板と同じ材質の
第2のガラス板上に、カラーフィルタと、ITO膜から
成る対向電極を形成する。
□のコーティングを施したソーダライムガラスから成る
第1のガラス板上に、上記スイッチング素子とそのスイ
ッチング素子と接続され、透明導電体であるI To
(Indium Tin 0xide)膜から成る画素
電極と、を形成し、また、第1のガラス板と同じ材質の
第2のガラス板上に、カラーフィルタと、ITO膜から
成る対向電極を形成する。
そして、第1及び第2のガラス板を互いに、前記素子及
び電極等の形成された側を内側にして対向さ−せ、その
間の空間に液晶を注入し、封止する。
び電極等の形成された側を内側にして対向さ−せ、その
間の空間に液晶を注入し、封止する。
その際、第1及び第2のガラス板の間の間隔(いわゆる
液晶ギャップ)は、複数のビーズを分散させて挟み込む
ことによって、液晶ディスプレイパネル上のいずれの位
置においてもほぼ等しくなるように保たれている。
液晶ギャップ)は、複数のビーズを分散させて挟み込む
ことによって、液晶ディスプレイパネル上のいずれの位
置においてもほぼ等しくなるように保たれている。
上記した従来のアクティブマトリクス方式の液晶ディス
プレイパネルにおいては、次のような問題点があった。
プレイパネルにおいては、次のような問題点があった。
(1)寄生容量の存在によって、クロストークが発生し
、そのため、コントラストが劣化したり、中間調表示に
狂いが生じたりするという問題があった。
、そのため、コントラストが劣化したり、中間調表示に
狂いが生じたりするという問題があった。
例えば、スイッチング素子として、TPTを用いた場合
には、例えば、P roc、 E uro D 1sp
lay’87.pp、59〜62に示される様に、ゲー
ト・ソース間の寄生容量やその他の寄生容量が存在し、
それにより、不要信号の洩れ込みが起きる。そこで、そ
れを補正するための液晶ディスプレイパネルの駆動方法
が、例えば、1986. JapanDisplay
’86. pp、 196”199に示される様に、
種々工夫されているが、現状では、満足すべき結果は得
られていない。
には、例えば、P roc、 E uro D 1sp
lay’87.pp、59〜62に示される様に、ゲー
ト・ソース間の寄生容量やその他の寄生容量が存在し、
それにより、不要信号の洩れ込みが起きる。そこで、そ
れを補正するための液晶ディスプレイパネルの駆動方法
が、例えば、1986. JapanDisplay
’86. pp、 196”199に示される様に、
種々工夫されているが、現状では、満足すべき結果は得
られていない。
また、TPTを用いる場合、走査電極を第1のガラス板
(以降、下板と呼ぶ、)上に、信号電極を第2のガラス
板(以降、上板と呼ぶ。)上にそれぞれ設ける様な配線
形式もあるが、その様な配線形式の場合、寄生容量によ
る影響はやや大きくなる傾向にあって、この場合につい
ても、例えば、Proe、 Euro Display
’87. pp、55〜58に示される様に、TFT
ゲート用走査電極の駆動波形などの工夫が行なわれてい
る。
(以降、下板と呼ぶ、)上に、信号電極を第2のガラス
板(以降、上板と呼ぶ。)上にそれぞれ設ける様な配線
形式もあるが、その様な配線形式の場合、寄生容量によ
る影響はやや大きくなる傾向にあって、この場合につい
ても、例えば、Proe、 Euro Display
’87. pp、55〜58に示される様に、TFT
ゲート用走査電極の駆動波形などの工夫が行なわれてい
る。
また、一方、歩留り、工数等の点から大画面化に適する
と見られる二端子型素子を用いる場合には、走査電極と
信号電極の配線形式として前述した配線形式(走査電極
は下板上に、信号電極は上板上にそれぞれ設ける配線形
式)が用いられており、従って、寄生容量による影響が
大きい。
と見られる二端子型素子を用いる場合には、走査電極と
信号電極の配線形式として前述した配線形式(走査電極
は下板上に、信号電極は上板上にそれぞれ設ける配線形
式)が用いられており、従って、寄生容量による影響が
大きい。
(2)大画面化した場合、走査電極1本当たりの寄生容
量及び信号型lit本当たりの寄生容量がそれぞれ大き
くなるため1.信号源がら離れた位置にある画素に対し
、その信号書き込み速度が遅くなり、その結果として、
輝度傾斜が発生するという問題があった。
量及び信号型lit本当たりの寄生容量がそれぞれ大き
くなるため1.信号源がら離れた位置にある画素に対し
、その信号書き込み速度が遅くなり、その結果として、
輝度傾斜が発生するという問題があった。
(3)大画面化した場合、ガラス板(即ち、上板及び下
板)の自重及び液晶の自重により、液晶ディスプレイパ
ネルが撓んでしまって、液晶ギャップが液晶ディスプレ
イパネル上の位置によって異なるようになり、その結果
として、階調が画面内で変動するという問題があった。
板)の自重及び液晶の自重により、液晶ディスプレイパ
ネルが撓んでしまって、液晶ギャップが液晶ディスプレ
イパネル上の位置によって異なるようになり、その結果
として、階調が画面内で変動するという問題があった。
本発明の目的は、上記した従来技術の問題点を解決し、
クロストークが少なく、かつ、大画面化した場合でも、
信号源から離れた位置にある画素に対する信号書き込み
速度が遅くなったり、或いは、液晶ギャップが不均一に
なったりすることのない液晶ディスプレイパネル及びそ
の製造方法を提供することにある。
クロストークが少なく、かつ、大画面化した場合でも、
信号源から離れた位置にある画素に対する信号書き込み
速度が遅くなったり、或いは、液晶ギャップが不均一に
なったりすることのない液晶ディスプレイパネル及びそ
の製造方法を提供することにある。
上記した目的を達成するために、本発明では、各画素電
極の各々の四辺部分に対応する、走査電極部分及び前記
スイッチング素子部分を含む、隣接する画素電極との間
の境界部分において、所定の部分を除いて、下板と」皿
板との間に、液晶の誘電率よりも低い誘電率を有する物
質から成る充填体を設けるようにした。
極の各々の四辺部分に対応する、走査電極部分及び前記
スイッチング素子部分を含む、隣接する画素電極との間
の境界部分において、所定の部分を除いて、下板と」皿
板との間に、液晶の誘電率よりも低い誘電率を有する物
質から成る充填体を設けるようにした。
また、その際、前記充填体は、前記下板と前記上板とに
それぞれ固着するようにしても良い。
それぞれ固着するようにしても良い。
比誘電率が通常10以上と高い液晶に対して、比誘電率
がそれよりも低い充填体(例えば、エポキシ系樹脂、ポ
リイミド系樹脂を用いる場合、比誘電率は3である。)
を上記の如く設けることにより、下板上の画素電極と走
査電極との間の寄生容L M素電極と隣接画素電極との
間の寄生容量。
がそれよりも低い充填体(例えば、エポキシ系樹脂、ポ
リイミド系樹脂を用いる場合、比誘電率は3である。)
を上記の如く設けることにより、下板上の画素電極と走
査電極との間の寄生容L M素電極と隣接画素電極との
間の寄生容量。
画素電極と上板上の隣接信号電極との間の寄生容量、下
板上の走査電極と上板上の信号電極との間の寄生容量等
が小さくなる。そのため、画素電極が次の走査電極や隣
接信号電極に印加される電圧による妨害を受けて、画素
電極の電圧が変動する、いわゆるクロストークが少なく
なり、コントラストの劣化や中間調表示の狂いのような
画像上の問題が生じなくなる。
板上の走査電極と上板上の信号電極との間の寄生容量等
が小さくなる。そのため、画素電極が次の走査電極や隣
接信号電極に印加される電圧による妨害を受けて、画素
電極の電圧が変動する、いわゆるクロストークが少なく
なり、コントラストの劣化や中間調表示の狂いのような
画像上の問題が生じなくなる。
なお、前記境界部分には充填体を設けない部分も存在す
るので、互いに隣接する画素間においては、液晶は容易
に行き来でき、従って、液晶注入に関して支障はない。
るので、互いに隣接する画素間においては、液晶は容易
に行き来でき、従って、液晶注入に関して支障はない。
また、前記充填体を前記下板と前記上板とにそれぞれ固
着するようにした場合、前記充填体によって前記下板と
前記上板とは画素毎に固定されるため、大画面化した場
合、ガラス板や液晶の自重により、液晶ディスプレイパ
ネルが多少撓んだとしても、液晶ディスプレイパネル上
のいずれの位置においても液晶ギャップを等しくするこ
とができ、従って、画面内での階調の変動を無くすこと
ができる。
着するようにした場合、前記充填体によって前記下板と
前記上板とは画素毎に固定されるため、大画面化した場
合、ガラス板や液晶の自重により、液晶ディスプレイパ
ネルが多少撓んだとしても、液晶ディスプレイパネル上
のいずれの位置においても液晶ギャップを等しくするこ
とができ、従って、画面内での階調の変動を無くすこと
ができる。
以下、本発明の第1の実施例を第1図により説明する。
第1図(a)は本発明の第1の実施例を示す斜視図、第
1図(b)は第1図(a)における画素の一つを拡大し
て示した平面図、第1図(C)は第1図(b)における
A−A’方向の断面を示す断面図、第1図(d)は第1
図(b)におけるB−B’力方向断面を示す断面図、で
ある。
1図(b)は第1図(a)における画素の一つを拡大し
て示した平面図、第1図(C)は第1図(b)における
A−A’方向の断面を示す断面図、第1図(d)は第1
図(b)におけるB−B’力方向断面を示す断面図、で
ある。
第1図において、下板1は無アルカリガラスから成り、
その表面に、ITO膜を0.12μmの厚さで堆積した
導電性の透明な画素電極2が形成され、その画素電極2
と同時に同じ表面に形成されたITO配線電極上に、更
にCr膜を0.1 p mの厚さで堆積しホトエツチン
グして、走査電極9が形成され、さらに画素電極2と走
査電極9にまたがって、二端子型素子8が形成されてい
る。
その表面に、ITO膜を0.12μmの厚さで堆積した
導電性の透明な画素電極2が形成され、その画素電極2
と同時に同じ表面に形成されたITO配線電極上に、更
にCr膜を0.1 p mの厚さで堆積しホトエツチン
グして、走査電極9が形成され、さらに画素電極2と走
査電極9にまたがって、二端子型素子8が形成されてい
る。
そして、上記下板1上に形成された各構成要素2.8.
9をすべて覆う様に、シリコンナイトライドから成る保
護膜3が1amの厚さで形成され、さらに、保護膜3の
上の、画素電極2の境界部分(二端子型素子8を含む、
画素電極2と隣接画素電極との間のITO膜の形成され
ていない部分)に、ポリイミドから成る充填体11が回
転塗付(又はローラ塗付)−加熱硬化−ホトエッチング
により形成される。さらに、これ等のすべての上に、ポ
リイミドを主成分とした配向膜4が0.1μmの厚さで
形成されている。なお、この配向膜4にはいわゆるラビ
ングが施されている。
9をすべて覆う様に、シリコンナイトライドから成る保
護膜3が1amの厚さで形成され、さらに、保護膜3の
上の、画素電極2の境界部分(二端子型素子8を含む、
画素電極2と隣接画素電極との間のITO膜の形成され
ていない部分)に、ポリイミドから成る充填体11が回
転塗付(又はローラ塗付)−加熱硬化−ホトエッチング
により形成される。さらに、これ等のすべての上に、ポ
リイミドを主成分とした配向膜4が0.1μmの厚さで
形成されている。なお、この配向膜4にはいわゆるラビ
ングが施されている。
一方、上板7も無アルカリガラスから成り、その表面に
カラーフィルタ(図示せず)が形成され、その上に、下
板1上の走査電極9と直交する向きに、画素電極2の幅
と同じ幅で、ITO膜を0.12μmの厚さで堆積しホ
トエツチングして、信号電極6が形成され、さらに、そ
の上にポリイミドを主成分とした配向膜4′が0.1μ
mの厚さで形成されている。この配向膜4′にもラビン
グが施されている。また、信号電極6は画素電極2の対
向電極の役割を果しており、一定の幅で連続して、上板
7の表示部端部から信号電極端子まで直線的に設けられ
ている。
カラーフィルタ(図示せず)が形成され、その上に、下
板1上の走査電極9と直交する向きに、画素電極2の幅
と同じ幅で、ITO膜を0.12μmの厚さで堆積しホ
トエツチングして、信号電極6が形成され、さらに、そ
の上にポリイミドを主成分とした配向膜4′が0.1μ
mの厚さで形成されている。この配向膜4′にもラビン
グが施されている。また、信号電極6は画素電極2の対
向電極の役割を果しており、一定の幅で連続して、上板
7の表示部端部から信号電極端子まで直線的に設けられ
ている。
そうして、上記の構成要素4′、6を形成した上板7の
外周部に、シール剤(図示せず)としてエポキシ系接着
剤をスクリーン印刷により塗布し、乾燥した後、上記上
板7.下板1を各構成要素を形成した面を内側にして、
位置合せを行い、加熱プレスして仮に貼り合せる。そし
て、加熱−加圧を行い、上記シール剤を硬化すると共に
、充填体11の上面(配向膜が付着)と上板7の配向膜
4′を接着させる。この後、シール剤に設けた注入口を
用いて液晶5を上板7.下板1の間のすべての空隙部分
に充満させ、その後、注入口を、例えばUV硬化の接着
剤により封止する。そして、上板7端部の信号電極端子
群(図示せず)、下板1端部の走査電極端子群(図示せ
ず)をそれぞれ、走査IC,信号ICに接着配線する。
外周部に、シール剤(図示せず)としてエポキシ系接着
剤をスクリーン印刷により塗布し、乾燥した後、上記上
板7.下板1を各構成要素を形成した面を内側にして、
位置合せを行い、加熱プレスして仮に貼り合せる。そし
て、加熱−加圧を行い、上記シール剤を硬化すると共に
、充填体11の上面(配向膜が付着)と上板7の配向膜
4′を接着させる。この後、シール剤に設けた注入口を
用いて液晶5を上板7.下板1の間のすべての空隙部分
に充満させ、その後、注入口を、例えばUV硬化の接着
剤により封止する。そして、上板7端部の信号電極端子
群(図示せず)、下板1端部の走査電極端子群(図示せ
ず)をそれぞれ、走査IC,信号ICに接着配線する。
以上の製造工程を第2図を用いてもう一度説明する。
第2図は第1図の液晶ディスプレイパネルを製造するた
めの製造工程の主要部分を示す工程図である。
めの製造工程の主要部分を示す工程図である。
尚、第2図では、上板7.下板1に対するパターン形成
工程の前半部分を略している。
工程の前半部分を略している。
上板7に対しては、信号電極6を形作るITO膜パータ
ーン形成(ステップa)の後、配向膜4′形成(ステッ
プb)、ラビング(ステップC)。
ーン形成(ステップa)の後、配向膜4′形成(ステッ
プb)、ラビング(ステップC)。
シール剤印刷(ステップd)、シール剤乾燥(ステップ
e)が順次行われる。一方、下板1に対しては、保護膜
形成(ステップf)の後、充填体形成(ブロックg)、
配向膜4形成(ステップh)。
e)が順次行われる。一方、下板1に対しては、保護膜
形成(ステップf)の後、充填体形成(ブロックg)、
配向膜4形成(ステップh)。
ラビング(ステップi)が順次行われる。次いで、この
工程までを終えた上板7.下板1を合わせて、光学式ア
ライナの使用による上板・下板位置合せ(ステップj)
を行い、そして、加熱・加圧(ステップk)により上板
7と下板1の接着、シールパターン形成を行う。そして
、真空排気中で注入口を液晶5に接触させ、液晶5をパ
ネル内部に吸引して、液晶注入(ステップりを行った後
、封止(ステップm)を行って、第1図の液晶ディスプ
レイパネルができあがる。
工程までを終えた上板7.下板1を合わせて、光学式ア
ライナの使用による上板・下板位置合せ(ステップj)
を行い、そして、加熱・加圧(ステップk)により上板
7と下板1の接着、シールパターン形成を行う。そして
、真空排気中で注入口を液晶5に接触させ、液晶5をパ
ネル内部に吸引して、液晶注入(ステップりを行った後
、封止(ステップm)を行って、第1図の液晶ディスプ
レイパネルができあがる。
ここで、第1図の液晶ディスプレイパネルの画面対角サ
イズは、20インチ(縦249+ms、横443M)で
あって、走査電極数Nは1ooo本。
イズは、20インチ(縦249+ms、横443M)で
あって、走査電極数Nは1ooo本。
信号電極数Mは2700本(3原色分1oox3)であ
り、画素ピッチは水平方向で164μm。
り、画素ピッチは水平方向で164μm。
垂直方向で249μmであり、走査電極9の幅は20μ
m、走査電極9と画素xi:極2との間の間隔は】0μ
m2画素電極2同志の間隔及び信号電極6同志の間隔は
10μm、信号電極6の幅は154μmである。
m、走査電極9と画素xi:極2との間の間隔は】0μ
m2画素電極2同志の間隔及び信号電極6同志の間隔は
10μm、信号電極6の幅は154μmである。
次に、第1図の液゛晶ディスプレイパネルを駆動した場
合の成る画素における電圧応答について説明する。
合の成る画素における電圧応答について説明する。
第3図は第1図の液晶ディスプレイパネルの等価回路を
示す回路図である。
示す回路図である。
第3図において、sl、s2.・・・は走査電極、di
、d、2.・・・は信号電極であり、−本の走査電極の
一画素光りの抵抗値をR3+−本の信号電極の一画素光
りの抵抗値をR6としている。また、二端子型素子8の
等価回路は抵抗RN [、+容量CNLの並列回路とな
り、液晶5の一画素光りの等価回路は液晶抵抗R+、
c *液晶容it Ct cの並列回路となって、これ
等二端子型素子8と液晶5が直列回路となって走査電極
と信号電極との間に入っている。
、d、2.・・・は信号電極であり、−本の走査電極の
一画素光りの抵抗値をR3+−本の信号電極の一画素光
りの抵抗値をR6としている。また、二端子型素子8の
等価回路は抵抗RN [、+容量CNLの並列回路とな
り、液晶5の一画素光りの等価回路は液晶抵抗R+、
c *液晶容it Ct cの並列回路となって、これ
等二端子型素子8と液晶5が直列回路となって走査電極
と信号電極との間に入っている。
この他、図中、点線で結ばれた容量が寄生容量として存
在する。これ等寄生容量を指摘すると、走査電極と信号
電極との間の寄生容量C!l D +走査電極と画素電
極との間の寄生容量csr、隣接走査電掻と画素!掻と
の間の寄生容量C3PZ隣接信号電極と画素電極との間
の寄生容ff1cd9等である。
在する。これ等寄生容量を指摘すると、走査電極と信号
電極との間の寄生容量C!l D +走査電極と画素電
極との間の寄生容量csr、隣接走査電掻と画素!掻と
の間の寄生容量C3PZ隣接信号電極と画素電極との間
の寄生容ff1cd9等である。
第4図及び第5図はそれぞれ第3図の走査電極及び信号
電極に印加される電圧波形とそれにより液晶に加えられ
る電圧波形の一例を示す波形図である。
電極に印加される電圧波形とそれにより液晶に加えられ
る電圧波形の一例を示す波形図である。
第4図及び第5図において、(a)はそれぞれ第3図の
走査電極slに印加される電圧vsの波形、(b)はそ
れぞれ第3図の信号電極d2に印加される電圧v4の波
形、である。また、(C)はそれぞれ第3図の液晶の一
画素光りの等価回路(液晶抵抗RL C+液晶容I C
L Cの並列回路)の両端に加えられる電圧VLCの波
形であり、二端子型素子の立ち上り電圧閾値■1によっ
て規格化されている。また、(d)はそれぞれ第3図の
液晶の一画素光りの等価回路(液晶抵抗RL C+液晶
容量CLcの並列回路)の両端に、隣接信号電極より漏
れ込んでくるクロストークの電圧波形であり、二端子型
素子の立ち上り電圧閾値■1によって規格化されている
。
走査電極slに印加される電圧vsの波形、(b)はそ
れぞれ第3図の信号電極d2に印加される電圧v4の波
形、である。また、(C)はそれぞれ第3図の液晶の一
画素光りの等価回路(液晶抵抗RL C+液晶容I C
L Cの並列回路)の両端に加えられる電圧VLCの波
形であり、二端子型素子の立ち上り電圧閾値■1によっ
て規格化されている。また、(d)はそれぞれ第3図の
液晶の一画素光りの等価回路(液晶抵抗RL C+液晶
容量CLcの並列回路)の両端に、隣接信号電極より漏
れ込んでくるクロストークの電圧波形であり、二端子型
素子の立ち上り電圧閾値■1によって規格化されている
。
走査電極S1には、第4図の例及び第5図の例とも、電
圧V、として、選択期間T、で”S+保持期間T、で■
□となるパルス波形がフ!/−ム時間T、毎に極性反転
して印加されている。
圧V、として、選択期間T、で”S+保持期間T、で■
□となるパルス波形がフ!/−ム時間T、毎に極性反転
して印加されている。
一方、信号型tid2には、第4図の例では、電圧V、
として、選択期間T、で−■6.保持期間T、でV!1
(VD >VH)となるパルス波形がフレーム時間
Tt毎に極性反転して印加されている。
として、選択期間T、で−■6.保持期間T、でV!1
(VD >VH)となるパルス波形がフレーム時間
Tt毎に極性反転して印加されている。
従って、第4図の例では、信号電極d2につながる複数
の画素のうち、対象となる画素はONとなる(即ち、点
灯し)、それ以外の全ての画素はOFFとなる(即ち、
消灯する)、最も不利なON状態となる。
の画素のうち、対象となる画素はONとなる(即ち、点
灯し)、それ以外の全ての画素はOFFとなる(即ち、
消灯する)、最も不利なON状態となる。
また、第5図の例では、信号電極d2に、電圧V、とし
て、選択期間T、で■6.保持期間T。
て、選択期間T、で■6.保持期間T。
で−■。となるパルス波形がフレーム時間Tt毎に極性
反転して印加されている。従って、第5図の例では、信
号電極d2につながる複数の画素のうち、対象となる画
素はOFFとなり、それ以外の全ての画素はONとなる
、最も不利なOFF状態となる。
反転して印加されている。従って、第5図の例では、信
号電極d2につながる複数の画素のうち、対象となる画
素はOFFとなり、それ以外の全ての画素はONとなる
、最も不利なOFF状態となる。
第4図及び第5図の例では、フレーム時間T。
は1/60secとし、選択期間T、はTt/N=1/
60000secである。また、二端子型素子の立ち上
り電圧閾値■、をIOVに設定しである。印加電圧絶対
値が、このVT以下の電圧では、二端子型素子の抵抗R
MLは4.7X10”Ω(オフ抵抗値)となり、−画素
当りの液晶抵抗RLcと等しい値が得られ、7丁以上の
電圧では、抵抗RNLは4.7X10’Ω(オン抵抗値
)となり、オンオフ比として10’の値が得られている
。ここでは、走査電極の電圧波形の■、を■1と等しく
選び■□をVlの1/lOとし、信号電極の電圧波形の
voを走査電極の電圧波形の■3の1/2とし、Vcは
VDと等しく選んである。
60000secである。また、二端子型素子の立ち上
り電圧閾値■、をIOVに設定しである。印加電圧絶対
値が、このVT以下の電圧では、二端子型素子の抵抗R
MLは4.7X10”Ω(オフ抵抗値)となり、−画素
当りの液晶抵抗RLcと等しい値が得られ、7丁以上の
電圧では、抵抗RNLは4.7X10’Ω(オン抵抗値
)となり、オンオフ比として10’の値が得られている
。ここでは、走査電極の電圧波形の■、を■1と等しく
選び■□をVlの1/lOとし、信号電極の電圧波形の
voを走査電極の電圧波形の■3の1/2とし、Vcは
VDと等しく選んである。
さて、最も不利なON状態である第4図の例の場合、電
圧vLcの値は、選択期間T1以内に、その最大となり
得る値V、+V、−V、(本実施例では規格化値で0.
5)に達して飽和し、保持期間Tbの初期に容1cnL
の効果により、0.44に急減した後、緩やかに減少し
、保持期間Tbの終了時において0.33となり、RM
S値(自乗平均値)としては0.39となる。
圧vLcの値は、選択期間T1以内に、その最大となり
得る値V、+V、−V、(本実施例では規格化値で0.
5)に達して飽和し、保持期間Tbの初期に容1cnL
の効果により、0.44に急減した後、緩やかに減少し
、保持期間Tbの終了時において0.33となり、RM
S値(自乗平均値)としては0.39となる。
この表示状態において、最も大きな妨害を対象となる画
素に与える電圧波形を、隣接信号電極に加える実験を行
う。この最も大きな妨害を与える電圧波形とは、保持期
間T、中−VDとなる電圧波形、即ち、隣接信号電極に
つながる全ての画素をONとする電圧波形である。
素に与える電圧波形を、隣接信号電極に加える実験を行
う。この最も大きな妨害を与える電圧波形とは、保持期
間T、中−VDとなる電圧波形、即ち、隣接信号電極に
つながる全ての画素をONとする電圧波形である。
上記した実験の結果、電圧VLCの波形は殆んど変らず
、画像上でON状態となっている対象画素の輝度も変動
がなかった。また、その時の電圧VLCO値を調べたと
ころ、隣接信号電極からのクロストークとして第4図(
d)に実線で示す樺な微量の波形しか、第4図(C)の
波形に加わっていないことがわかった。
、画像上でON状態となっている対象画素の輝度も変動
がなかった。また、その時の電圧VLCO値を調べたと
ころ、隣接信号電極からのクロストークとして第4図(
d)に実線で示す樺な微量の波形しか、第4図(C)の
波形に加わっていないことがわかった。
一方、最も不利なOFF状態である第5図の例の場合は
、電圧vtcO値はRMS値として、o、。
、電圧vtcO値はRMS値として、o、。
14(規格化値)であった。
この表示状態において、最も大きな妨害を対象となる画
素に与える電圧波形を、隣接信号電極に加える実験を行
う。この最も大きな妨害を与える電圧波形とは、保持期
間T、中VDとなる電圧波形、即ち、隣接信号電極につ
ながる全ての画素をOFFとする電圧波形である。
素に与える電圧波形を、隣接信号電極に加える実験を行
う。この最も大きな妨害を与える電圧波形とは、保持期
間T、中VDとなる電圧波形、即ち、隣接信号電極につ
ながる全ての画素をOFFとする電圧波形である。
上記した実験の結果、電圧vtcの波形は変らず、画像
上でOFF状態となっている対象画素の輝度も変動がな
かった。また、その時の電圧VLCの値を調べたところ
、隣接信号電極からのクロストークとして第5図(d)
に実線で示す様な微量の波形しか、第5図(C)の波形
に加わっていないことがわかった。
上でOFF状態となっている対象画素の輝度も変動がな
かった。また、その時の電圧VLCの値を調べたところ
、隣接信号電極からのクロストークとして第5図(d)
に実線で示す様な微量の波形しか、第5図(C)の波形
に加わっていないことがわかった。
さて、本実施例である第1図の液晶ディスプレイパネル
との比較の為に、従来の液晶ディスプレイパネルに対し
ても、最も不利なON状態で、対象となる画素を駆動し
、かつ、最も大きな妨害をその画素に与える電圧波形を
隣接信号電極に加える実験を、前述した第4図の例の場
合と同様に行った。
との比較の為に、従来の液晶ディスプレイパネルに対し
ても、最も不利なON状態で、対象となる画素を駆動し
、かつ、最も大きな妨害をその画素に与える電圧波形を
隣接信号電極に加える実験を、前述した第4図の例の場
合と同様に行った。
その実験の結果、画像上でON状態となっている対象画
素の輝度は、第4図の例の場合よりも低下してしまった
。また、電圧VLCO値を調べたところ、隣接信号電極
からのクロストークとして、第4図(d)に点線で示す
様な、初期値(規格化値)約−0,1の緩い減衰波形が
、第4図(C)の波形に加わっていることがわかった。
素の輝度は、第4図の例の場合よりも低下してしまった
。また、電圧VLCO値を調べたところ、隣接信号電極
からのクロストークとして、第4図(d)に点線で示す
様な、初期値(規格化値)約−0,1の緩い減衰波形が
、第4図(C)の波形に加わっていることがわかった。
これにより、従来例では電圧VLCの値が本実施例より
約20%余り低下していることがわかり、寄生容1c、
、による結合がクロストークの大きな原因となっている
ことをも確認できた。換言すれば、本発明によりクロス
トークに強くなり、画像表示内容に依存して輝度が変動
するという問題が解決できることを示した。
約20%余り低下していることがわかり、寄生容1c、
、による結合がクロストークの大きな原因となっている
ことをも確認できた。換言すれば、本発明によりクロス
トークに強くなり、画像表示内容に依存して輝度が変動
するという問題が解決できることを示した。
次いで、従来の液晶ディスプレイパネルに対し、最も不
利なOFF状態で、対象となる画素を駆動し、かつ、最
も大きな妨害をその画素に与える電圧波形を隣接信号電
極に加える実験も、前述した第5図の例の場合と同様に
行った。
利なOFF状態で、対象となる画素を駆動し、かつ、最
も大きな妨害をその画素に与える電圧波形を隣接信号電
極に加える実験も、前述した第5図の例の場合と同様に
行った。
その実験の結果、対象画素のOFF状態は第5図の例の
場合よりも劣化し、画像上では完全な黒でなくわずかに
灰色がかってきた。また、電圧V、。。
場合よりも劣化し、画像上では完全な黒でなくわずかに
灰色がかってきた。また、電圧V、。。
の値についても調べたところ、隣接信号電極からのクロ
ストークとして、第5図(d)に点線で示す様な、初期
値(規格化値)約+0.1の緩い減衰波形が、第5図(
C)の波形に加わっていることが明らかとなった。即ち
、ON状態の時のほぼ20%を越える電圧が電圧V41
.として液晶に加わっており、この電圧により液晶のも
れ光が大きくなっていることが判明した。
ストークとして、第5図(d)に点線で示す様な、初期
値(規格化値)約+0.1の緩い減衰波形が、第5図(
C)の波形に加わっていることが明らかとなった。即ち
、ON状態の時のほぼ20%を越える電圧が電圧V41
.として液晶に加わっており、この電圧により液晶のも
れ光が大きくなっていることが判明した。
また、従来の液晶ディスプレイパネルに対し、最も不利
なOFF状態で、対象となる画素を駆動し、隣接信号電
極にはその画素に妨害を与えない様な電圧波形を加える
実験も、行った。
なOFF状態で、対象となる画素を駆動し、隣接信号電
極にはその画素に妨害を与えない様な電圧波形を加える
実験も、行った。
その実験の結果、電圧VLCの波形には初期値(規格化
値)約0.02の緩い減衰波形が余計に加わっていて、
電圧V1.Cの値が規格化値で0.034に達していた
。このことから従来例では、対象となる画素を駆動する
走査電極の電圧以外に、寄生容、!tCsr’による結
合により隣接走査電極の電圧を拾っていることがわかっ
た。
値)約0.02の緩い減衰波形が余計に加わっていて、
電圧V1.Cの値が規格化値で0.034に達していた
。このことから従来例では、対象となる画素を駆動する
走査電極の電圧以外に、寄生容、!tCsr’による結
合により隣接走査電極の電圧を拾っていることがわかっ
た。
また、従来例において対象となる画素の輝度を一定とす
る中間調表示を行う場合、隣接画素の表示状態に依存し
て、実際には対象となる画素の輝度は変動してしまうが
、この現象も、寄生容量CSP’による結合によって隣
接走査電極の電圧が、また、寄生容量CdPによる結合
によって隣接信号電極の電圧が、それぞれ洩れ込むこと
によるものであることがわかった。
る中間調表示を行う場合、隣接画素の表示状態に依存し
て、実際には対象となる画素の輝度は変動してしまうが
、この現象も、寄生容量CSP’による結合によって隣
接走査電極の電圧が、また、寄生容量CdPによる結合
によって隣接信号電極の電圧が、それぞれ洩れ込むこと
によるものであることがわかった。
即ち、輝度変動の原因となる寄生容量C4p+cs+、
’は、従来例では、各々、約0.056pF。
’は、従来例では、各々、約0.056pF。
約0.0 O57p Fに達しているが、本実施例では
、各々、約0.0065pF、0゜002pFに減少し
ている。
、各々、約0.0065pF、0゜002pFに減少し
ている。
この様に、寄生容量が従来例では多く、本実施例では減
少しているのは、従来例では、画素境界部が比誘電率1
0の液晶で満たされ、保護膜(SiNx比誘電率7.配
向膜:比誘電率3)を含めた等価的な比誘電率が8.7
4となっているのに対し、本実施例では比誘電率3の充
填体(ポリイミド系樹脂)で満され、保護膜(SiNs
比誘電率7)を含めた画素境界部の等価的な比誘電率が
3.3となっているためである。
少しているのは、従来例では、画素境界部が比誘電率1
0の液晶で満たされ、保護膜(SiNx比誘電率7.配
向膜:比誘電率3)を含めた等価的な比誘電率が8.7
4となっているのに対し、本実施例では比誘電率3の充
填体(ポリイミド系樹脂)で満され、保護膜(SiNs
比誘電率7)を含めた画素境界部の等価的な比誘電率が
3.3となっているためである。
従って、比誘電率が液晶の比誘電率より小さい充填体を
もって画素境界部の大部分の体積を満たせば、問題とな
る寄生容量が減少することは明らかであり、画質改善の
効果が有る。
もって画素境界部の大部分の体積を満たせば、問題とな
る寄生容量が減少することは明らかであり、画質改善の
効果が有る。
第6図は第1図の液晶ディスプレイパネルを製造するた
めの他の製造工程の主要部分を示す工程図である。
めの他の製造工程の主要部分を示す工程図である。
尚、第6図では、上板7.下板1に対するパターン形成
工程の前半部分を略している。
工程の前半部分を略している。
第6図の製造工程では、前述の第2図の製造工程と異な
り、下板1上に充填体の形成を行わず、上板7において
、配向膜のラビング(ステップC)を行った後に、液晶
ギャップ設定用のビーズ分散(ステップn)を行い、そ
の後、シール剤印刷(ステップd)を兼ねて、充填体の
印刷を行い、シール剤乾燦(ステップe)を行う。以後
の工程は第2図の工程と同じである。
り、下板1上に充填体の形成を行わず、上板7において
、配向膜のラビング(ステップC)を行った後に、液晶
ギャップ設定用のビーズ分散(ステップn)を行い、そ
の後、シール剤印刷(ステップd)を兼ねて、充填体の
印刷を行い、シール剤乾燦(ステップe)を行う。以後
の工程は第2図の工程と同じである。
第6図の製造工程によれば、独立の充填体形成工程(塗
付、乾燥、ホトエツチング)を省略することが出来る。
付、乾燥、ホトエツチング)を省略することが出来る。
次に、本発明の第2の実施例を第7図を用いて説明する
。
。
第7図(a)は本発明の第2の実施例を示す斜視図、第
7図(b)は第7図(a)における画素の一つを拡大し
て示した平面図、第7図(C)は第7図(b)における
A−A’力方向断面を示す断面図、第7図(d)は第7
図(b)におけるBB′方向の断面を示す断面図、第7
図(e)は第7図(b)におけるC−C’力方向断面を
示す断面図、である。
7図(b)は第7図(a)における画素の一つを拡大し
て示した平面図、第7図(C)は第7図(b)における
A−A’力方向断面を示す断面図、第7図(d)は第7
図(b)におけるBB′方向の断面を示す断面図、第7
図(e)は第7図(b)におけるC−C’力方向断面を
示す断面図、である。
本実施例が第1図の実施例と異なる点は、画素電極2の
境界部分に形成される充填体11のうち、二端子型素子
8を含む走査電極9の部分に形成される充填体が、二端
子型素子8とそれに極近い部分の走査電極9を横断して
、隣接画素電極の端部を結ぶ区域のみに限られている点
と、信号電極6の境界部分に形成される充填体が、信号
電極6に平行な画素電極2の二辺の全長とほぼ同じ長さ
となっている点である。
境界部分に形成される充填体11のうち、二端子型素子
8を含む走査電極9の部分に形成される充填体が、二端
子型素子8とそれに極近い部分の走査電極9を横断して
、隣接画素電極の端部を結ぶ区域のみに限られている点
と、信号電極6の境界部分に形成される充填体が、信号
電極6に平行な画素電極2の二辺の全長とほぼ同じ長さ
となっている点である。
この様に構成することで、各画素間を液晶が流れ易くな
り、液晶注入工程(第2図または第6図のステップりに
おいて、液晶の注入が容易どなり、作業時間が短縮され
る。また、画像上の効果も、第1図の実施例と同様とな
る。
り、液晶注入工程(第2図または第6図のステップりに
おいて、液晶の注入が容易どなり、作業時間が短縮され
る。また、画像上の効果も、第1図の実施例と同様とな
る。
次に、本発明の第3の実施例を第8図を用いて説明する
。
。
第8図(a)は本発明の第3の実施例における画素の一
つを拡大して示した平面図、第8図(b)は第8図(a
)におけるA−A’力方向断面を示す断面図、第8図(
C)は第8図(a)におけるB−B’力方向断面を示す
断面図、第8図(d)は第8図(a)におけるc−c’
力方向断面を示す断面図、である。
つを拡大して示した平面図、第8図(b)は第8図(a
)におけるA−A’力方向断面を示す断面図、第8図(
C)は第8図(a)におけるB−B’力方向断面を示す
断面図、第8図(d)は第8図(a)におけるc−c’
力方向断面を示す断面図、である。
本実施例が第1図または第7図の実施例と異なる点は、
画素電極2の境界部分に形成される充填体11のうち、
二端子型素子8を含む走査電極9の部分に形成される充
填体が、下板l上に形成され、信号電極6の境界部分に
形成される充填体が、上板7上に形成され、かつ、これ
ら充填体が、対向する上板7または下板1に接していな
い点である。
画素電極2の境界部分に形成される充填体11のうち、
二端子型素子8を含む走査電極9の部分に形成される充
填体が、下板l上に形成され、信号電極6の境界部分に
形成される充填体が、上板7上に形成され、かつ、これ
ら充填体が、対向する上板7または下板1に接していな
い点である。
なお、本実施例の製造工程とし。て、第2図に示した製
造工程を適用する場合は、新たに、上板7上に充填体を
形成する工程(ビーズ分散も必要)を挿入し、また、第
6図に示した製造工程を適用する場合は、新たに、下板
l上に充填体を形成する工程を挿入すれば良い。
造工程を適用する場合は、新たに、上板7上に充填体を
形成する工程(ビーズ分散も必要)を挿入し、また、第
6図に示した製造工程を適用する場合は、新たに、下板
l上に充填体を形成する工程を挿入すれば良い。
本実施例によれば、第7図の実施例と同様の画像上の効
果及び製造工程上の効果を得ることができる。
果及び製造工程上の効果を得ることができる。
なお、本実施例の変形例として、画素電極2の境界部分
に形成される充填体11のうち、下板1上に形成される
充填体(即ち、二端子型素子8を含む走査電極9の部分
に形成される充填体)を走査電極9の方向に画素電極2
の四隅付近まで延長し、また、上板7上に形成される充
填体(即ち、信号電極6の境界部分に形成される充填体
)を信号電極6の方向に画素電極2の四隅付近まで延長
し、両方の充填体を画素電極2の四隅付近で対向して接
触させ、両方の充填体の厚さの和をもって、液晶ギャッ
プを定めるようにすることもできる。
に形成される充填体11のうち、下板1上に形成される
充填体(即ち、二端子型素子8を含む走査電極9の部分
に形成される充填体)を走査電極9の方向に画素電極2
の四隅付近まで延長し、また、上板7上に形成される充
填体(即ち、信号電極6の境界部分に形成される充填体
)を信号電極6の方向に画素電極2の四隅付近まで延長
し、両方の充填体を画素電極2の四隅付近で対向して接
触させ、両方の充填体の厚さの和をもって、液晶ギャッ
プを定めるようにすることもできる。
その際、下板1上に形成される充填体の厚さと上板7上
に形成される充填体の厚さとは必ずしも等しくする必要
はなく、寄生容量を低減させることを考えて、上板7上
に形成される充填体の厚さをより厚くする方が効果的で
ある。
に形成される充填体の厚さとは必ずしも等しくする必要
はなく、寄生容量を低減させることを考えて、上板7上
に形成される充填体の厚さをより厚くする方が効果的で
ある。
次に、本発明の第4の実施例を第9図を用いて説明する
。
。
第9図(a)は本発明の第4の実施例における画素の一
つを拡大して示した平面図、第9図(b)は第9図(a
)におけるA−A’力方向断面を示す断面図、第9図(
c)は第9図(a)におけるB−B’力方向断面を示す
断面図、第9図(d)は第9図(a)におけるC−C’
力方向断面を示す断面図、である。
つを拡大して示した平面図、第9図(b)は第9図(a
)におけるA−A’力方向断面を示す断面図、第9図(
c)は第9図(a)におけるB−B’力方向断面を示す
断面図、第9図(d)は第9図(a)におけるC−C’
力方向断面を示す断面図、である。
本実施例が第1図、第7図または第8図の実施例と異な
る点は、保護膜3が充填体11の形成されている部分に
だけ形成されている点である。
る点は、保護膜3が充填体11の形成されている部分に
だけ形成されている点である。
本実施例の製造工程を第10図を用いて説明する。
第10図は第9図の液晶ディスプレイパネルを製造する
ための製造工程の主要部を示す工程図である。
ための製造工程の主要部を示す工程図である。
なお、第10図において、上板1の製造工程は省略しで
ある。
ある。
まず、下板1上に、ITO膜、Cr膜の堆積(ステップ
0)を順次行い、次に、走査電極92画素電極2の形成
パターン形成(ステップP)をホトエツチングにより行
う。この状態ではITO膜の画素電極2上にもCr膜が
積層されている。
0)を順次行い、次に、走査電極92画素電極2の形成
パターン形成(ステップP)をホトエツチングにより行
う。この状態ではITO膜の画素電極2上にもCr膜が
積層されている。
次いで、a−3illを全面に堆積し、その上にさらに
Cr膜を0.1 p mの厚さで堆積し、二端子型素子
8のホトレジストパターンを通常のホトレジストパター
ン形成工程で形成する。そして、フッソを含むガスでド
ライエツチング(RIE等)L2、ホトレジストパター
ンを除去し、下端子型素子8の形成(ステップq)を柊
える。
Cr膜を0.1 p mの厚さで堆積し、二端子型素子
8のホトレジストパターンを通常のホトレジストパター
ン形成工程で形成する。そして、フッソを含むガスでド
ライエツチング(RIE等)L2、ホトレジストパター
ンを除去し、下端子型素子8の形成(ステップq)を柊
える。
さらに、外部接続の端子部をマスクし、シリコンナイト
ライドから成る保護膜3の堆積(ステップr)をプラズ
マCVDを用いて行い、その後、ポリイミド系樹脂から
成る充填体膜の形式(ステップS)を回転塗付またはロ
ーラフート・で行う。
ライドから成る保護膜3の堆積(ステップr)をプラズ
マCVDを用いて行い、その後、ポリイミド系樹脂から
成る充填体膜の形式(ステップS)を回転塗付またはロ
ーラフート・で行う。
充填体膜乾燥後、ホトレジストを塗布し、それが乾燥し
た後、充填体のボトレジストパターンを形成する。
た後、充填体のボトレジストパターンを形成する。
そして、充填体膜をエツチングした後、フッソを含むガ
スを用いたドライエツチング(RIE等)ヲ行い、さら
にボトレジストパターンを除去し、充填体パターン及び
保護膜パターンの形成(ステップt)を終える。そして
、画素電極2上のCr膜をエツチング(ステップu)し
7て除去した後、配向膜4,4′の形成(ステップh
)を行う。
スを用いたドライエツチング(RIE等)ヲ行い、さら
にボトレジストパターンを除去し、充填体パターン及び
保護膜パターンの形成(ステップt)を終える。そして
、画素電極2上のCr膜をエツチング(ステップu)し
7て除去した後、配向膜4,4′の形成(ステップh
)を行う。
配向膜形成工程以降の下板1の製造工程及び」−板7の
製造工程は第2図に示したのと同様である。
製造工程は第2図に示したのと同様である。
本実施例では、走査電極9」二のCr膜は一部欠G3る
が、走査電極9の抵抗は殆んど増加しない。
が、走査電極9の抵抗は殆んど増加しない。
また、走査電極9の部分に形成される充填体のパターン
は、角が直角でなく45sに落しであるが、これは液晶
注入の際の抵抗を下げ、注入を容易とするためである。
は、角が直角でなく45sに落しであるが、これは液晶
注入の際の抵抗を下げ、注入を容易とするためである。
本実施例では、画素電極2上に保護膜3が無く、そのた
め、液晶容”It e t cが等価的に太き(なり、
駆動の効率が向上する。また、下板1の製造に要するホ
トマスクも、充填体を形成するための分も含めて3枚で
足りる。即ち、第1図2第7図の実施例に比べて、ホ[
・マスクが1枚節約できる。また、画像上の効果は前記
した第1図、第7図、第8図の実施例と同等かそれ以上
である。
め、液晶容”It e t cが等価的に太き(なり、
駆動の効率が向上する。また、下板1の製造に要するホ
トマスクも、充填体を形成するための分も含めて3枚で
足りる。即ち、第1図2第7図の実施例に比べて、ホ[
・マスクが1枚節約できる。また、画像上の効果は前記
した第1図、第7図、第8図の実施例と同等かそれ以上
である。
次に、本発明の第5の実施例を第11図を用いて説明す
る。
る。
第11図(a)は本発明の第5の実施例における画素の
一つを拡大し7て示した平面図、第11図(b)は第1
1図(a)におけるA−A’力方向断面を示す断面図1
、第11図(C)は第11図(a)におりるB−B’力
方向断面を示す断面図、第11図(d)は第11図(a
)におけるC−C′力方向断面を示す断面図、である。
一つを拡大し7て示した平面図、第11図(b)は第1
1図(a)におけるA−A’力方向断面を示す断面図1
、第11図(C)は第11図(a)におりるB−B’力
方向断面を示す断面図、第11図(d)は第11図(a
)におけるC−C′力方向断面を示す断面図、である。
本実施例は、前述の第9図の実施例において、シリコン
ナイトライドから成る保護膜3を削除したものであって
、充填体11が保護膜の役割を兼ねており、工程数が削
減できる。
ナイトライドから成る保護膜3を削除したものであって
、充填体11が保護膜の役割を兼ねており、工程数が削
減できる。
また、本実施例においては、充填体11に感光性ポリイ
ミド樹脂を用いることができ、ホトレジスト及びその塗
布工程を削除することができると言う利点が生まれる。
ミド樹脂を用いることができ、ホトレジスト及びその塗
布工程を削除することができると言う利点が生まれる。
本発明によれば、画素電極と隣接信号電極、隣接走査電
極との間の寄生容量を従来の10%近くに減少させるこ
とができる。従って、クロス[・−りが少なくなるため
、コントラストの劣化や中間調表示の狂いも無く、高精
細な液晶ディスプi/イパネルを実現することができ、
また、大画面化しても、信号源から離れた位置にある画
素に対し、その信号書き込み速度が遅くなって、輝度傾
斜が発生することもない。
極との間の寄生容量を従来の10%近くに減少させるこ
とができる。従って、クロス[・−りが少なくなるため
、コントラストの劣化や中間調表示の狂いも無く、高精
細な液晶ディスプi/イパネルを実現することができ、
また、大画面化しても、信号源から離れた位置にある画
素に対し、その信号書き込み速度が遅くなって、輝度傾
斜が発生することもない。
また、充填体によって下板と上板を固定することも可能
であるため、大画面化した場合、ガラス板や液晶の自重
により、液晶ディスプレイパネルが多少撓んだとしても
、液晶ディスプレイパネル上のいずれの位置においても
液晶ギャップを等しくすることができ、従って、画面内
での階調の変動を無くずことができる。
であるため、大画面化した場合、ガラス板や液晶の自重
により、液晶ディスプレイパネルが多少撓んだとしても
、液晶ディスプレイパネル上のいずれの位置においても
液晶ギャップを等しくすることができ、従って、画面内
での階調の変動を無くずことができる。
また、特に、スイッチング素子として、歩留りの低下が
少なく工程数の少ない二端子型素子を用いても、画質劣
化のない大画面で高精細な液晶デイスレイパネルを、十
分製造することができため、非常に高価で実現性も低い
と見られていた20インチ級の高精細な液晶デイスレイ
パネルを実現することも可能である。
少なく工程数の少ない二端子型素子を用いても、画質劣
化のない大画面で高精細な液晶デイスレイパネルを、十
分製造することができため、非常に高価で実現性も低い
と見られていた20インチ級の高精細な液晶デイスレイ
パネルを実現することも可能である。
第1図(a)は本発明の第1の実施例を示す斜視図、第
1図(b)は第1図(a)における画素の一つを拡大し
て示した平面図、第1図(C)は第1図(b)における
A−A’力方向断面を示す断面図、第1図(d)は第1
図(b)におけるB−B’力方向断面を示す断面図、第
2図は第1図の液晶ディスプレイパネルを製造するため
の製造工程の主要部分を示す工程図、第3図は第1図の
液晶ディスプレイパネルの等価回路を示す回路図、第4
図及び第5図はそれぞれ第3図の走査電極及び信号電極
に印加される電圧波形とそれにより液晶に加えられる電
圧波形の一例を示す波形図、第6図は第1図の液晶ディ
スプレイパネルを製造するための他の製造工程の主要部
分を示す工程図、第7図(a)は本発明の第2の実施例
を示す斜視図、第7図(b)は第7図(a)における画
素の一つを拡大して示した平面図、第7図(C)は第7
図(b)におけるA−A’力方向断面を示す断面図、第
7図(d)は第7図(b)におけるB−B′方向の断面
を示す断面図、第7図(e)は第7図(b)におけるc
−c’力方向断面を示す断面図、第8図(a)は本発明
の第3の実施例における画素の一つを拡大して示した平
面図、第8図(b)は第8図(a)におけるA−A’力
方向断面を示す断面図、第8図(C)は第8図(a)に
おけるB−B’力方向断面を示す断面図、第8図(d)
は第8図(a)におけるc−c’力方向断面を示す断面
図、第9図(a)は本発明の第4の実施例における画素
の一つを拡大して示した平面図、第9図(b)は第9図
(a)におけるA−A’力方向断面を示す断面図、第9
図(C)は第9図(a)におけるB−B’力方向断面を
示す断面図、第9図(d)は第9図(a)におけるc−
c’力方向断面を示す断面図、第10図は第9図の液晶
ディスプレイパネルを製造するための製造工程の主要部
を示す工程図、第11図(a)は本発明の第5の実施例
における画素の一つを拡大して示した平面図、第11図
(b)は第11図(a)におけるA−A’力方向断面を
示す断面図、第11図(C)は第11図(a)における
B−B’力方向断面を示す断面図、第11図(d)は第
11図(a)におけるc−c’力方向断面を示す断面図
、である。 符号の説明 l・・・下板、2・・・画素電極、3・・・保護膜、4
.4′・・・配向膜、5・・・液晶、6・・・信号電極
、7・・・上板、8・・・二端子型素子、9・・・走査
電極、11・・・充填体。 第1図(a) 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 第 図(b) 第 図Cd) 第 図 千違反 上J& 第 図 第 図 第 図(a) 第 図 千J及 二ふ( 第7図(b) 第 図(d)第 図(e) 第 図(c) 第 図(a) 蘂 図(e) 第 図(d) 第 図(b) 第10 図 千才反 第9 図(a) 第 図(c) 第 図(d) 1a11 図(a) 第 図(c)第11 図(d) 第11 図(1))
1図(b)は第1図(a)における画素の一つを拡大し
て示した平面図、第1図(C)は第1図(b)における
A−A’力方向断面を示す断面図、第1図(d)は第1
図(b)におけるB−B’力方向断面を示す断面図、第
2図は第1図の液晶ディスプレイパネルを製造するため
の製造工程の主要部分を示す工程図、第3図は第1図の
液晶ディスプレイパネルの等価回路を示す回路図、第4
図及び第5図はそれぞれ第3図の走査電極及び信号電極
に印加される電圧波形とそれにより液晶に加えられる電
圧波形の一例を示す波形図、第6図は第1図の液晶ディ
スプレイパネルを製造するための他の製造工程の主要部
分を示す工程図、第7図(a)は本発明の第2の実施例
を示す斜視図、第7図(b)は第7図(a)における画
素の一つを拡大して示した平面図、第7図(C)は第7
図(b)におけるA−A’力方向断面を示す断面図、第
7図(d)は第7図(b)におけるB−B′方向の断面
を示す断面図、第7図(e)は第7図(b)におけるc
−c’力方向断面を示す断面図、第8図(a)は本発明
の第3の実施例における画素の一つを拡大して示した平
面図、第8図(b)は第8図(a)におけるA−A’力
方向断面を示す断面図、第8図(C)は第8図(a)に
おけるB−B’力方向断面を示す断面図、第8図(d)
は第8図(a)におけるc−c’力方向断面を示す断面
図、第9図(a)は本発明の第4の実施例における画素
の一つを拡大して示した平面図、第9図(b)は第9図
(a)におけるA−A’力方向断面を示す断面図、第9
図(C)は第9図(a)におけるB−B’力方向断面を
示す断面図、第9図(d)は第9図(a)におけるc−
c’力方向断面を示す断面図、第10図は第9図の液晶
ディスプレイパネルを製造するための製造工程の主要部
を示す工程図、第11図(a)は本発明の第5の実施例
における画素の一つを拡大して示した平面図、第11図
(b)は第11図(a)におけるA−A’力方向断面を
示す断面図、第11図(C)は第11図(a)における
B−B’力方向断面を示す断面図、第11図(d)は第
11図(a)におけるc−c’力方向断面を示す断面図
、である。 符号の説明 l・・・下板、2・・・画素電極、3・・・保護膜、4
.4′・・・配向膜、5・・・液晶、6・・・信号電極
、7・・・上板、8・・・二端子型素子、9・・・走査
電極、11・・・充填体。 第1図(a) 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 第 図(b) 第 図Cd) 第 図 千違反 上J& 第 図 第 図 第 図(a) 第 図 千J及 二ふ( 第7図(b) 第 図(d)第 図(e) 第 図(c) 第 図(a) 蘂 図(e) 第 図(d) 第 図(b) 第10 図 千才反 第9 図(a) 第 図(c) 第 図(d) 1a11 図(a) 第 図(c)第11 図(d) 第11 図(1))
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、第1の透明板の一方の面に、少なくとも、第1の方
向に向かって延びる複数の走査電極と、各走査電極間に
それぞれ該走査電極に沿って複数個ずつ配され、各々ほ
ぼ四角形状を成し、透明な複数の画素電極と、各画素電
極と各々の画素電極における隣接する2本の走査電極の
うちの1本との間にそれぞれ接続される複数のスイッチ
ング素子と、をそれぞれ形成し、第2の透明板の一方の
面に、透明な対向電極を形成し、前記第1の透明板の、
前記走査電極、画素電極及びスイッチング素子の形成さ
れた面(以下、第1の面と称す。)と前記第2の透明板
の、前記対向電極の形成された面(以下、第2の面と称
す。)とを対向させ、その間の空間に液晶を注入し、封
止して成る液晶ディスプレイパネルにおいて、 各画素電極の各々の四辺部分に対応する、前記走査電極
部分及び前記スイッチング素子部分を含む、隣接する画
素電極との間の境界部分において、所定の部分を除いて
、前記第1の透明板の第1の面と前記第2の透明板の第
2の面との間に、前記液晶の誘電率よりも低い誘電率を
有する物質から成る充填体を設けたことを特徴とする液
晶ディスプレイパネル。 2、請求項1に記載の液晶ディスプレイパネルにおいて
、前記境界部分における前記充填体を設けない部分は、
各画素電極の各々の四隅部分であることを特徴とする液
晶ディスプレイパネル。 3、請求項1または2に記載の液晶ディスプレイパネル
において、前記充填体の高さでもって、前記第1の透明
板の第1の面と前記第2の透明板の第2の面との間の間
隔を規定したことを特徴とする液晶ディスプレイパネル
。 4、請求項1、2または3に記載の液晶ディスプレイパ
ネルにおいて、前記充填体は、前記第1の透明板の第1
の面における、前記境界部分のうちの前記第1の方向に
沿った部分に形成された第1の充填体と、前記第2の透
明板の第2の面における、前記境界部分のうちの前記第
1の方向とほぼ直交する第2の方向に沿った部分に形成
された第2の充填体と、から成ることを特徴とする液晶
ディスプレイパネル。 5、請求項4に記載の液晶ディスプレイパネルにおいて
、前記第1の充填体及び第2の充填体は、その一部が前
記第1の透明板の第1の面と前記第2の透明板の第2の
面との間で重なり合い、前記第1及び第2の充填体の高
さでもって、前記第1の透明板の第1の面と前記第2の
透明板の第2の面との間の間隔を規定したことを特徴と
する液晶ディスプレイパネル。 6、請求項1、2、3、4または5に記載の液晶ディス
プレイパネルにおいて、前記充填体は、樹脂から成るこ
とを特徴とする液晶ディスプレイパネル。 7、請求項6に記載の液晶ディスプレイパネルにおいて
、前記樹脂はポリイミド系樹脂またはエポキシ系樹脂で
あることを特徴とする液晶ディスプレイパネル。 8、請求項1、2、3、4、5、6または7に記載の液
晶ディスプレイパネルにおいて、前記充填体は、前記第
1の透明板の第1の面及び前記第2の透明板の第2の面
にそれぞれ固着したことを特徴とする液晶ディスプレイ
パネル。 9、請求項1、2、3、4、5、6、7または8に記載
の液晶ディスプレイパネルにおいて、前記スイッチング
素子は二端子型素子から成ることを特徴とする液晶ディ
スプレイパネル。 10、請求項1、2、3、4、5、6、7 8または9に記載の液晶ディスプレイパネルにおいて、
前記第1の透明板の第1の面上に保護膜を設けたことを
特徴とする液晶ディスプレイパネル。 11、請求項10に記載の液晶ディスプレイパネルにお
いて、前記保護膜を、前記第1の透明板の第1の面上の
、前記充填体の設けられる部分のみに設けたことを特徴
とする液晶ディスプレイパネル。 12、請求項1、2、3、4、5、6、7、8、9、1
0または11に記載の液晶ディスプレイパネルにおいて
、前記充填体は、露光現像及びエッチングにより形成さ
れることを特徴とする液晶ディスプレイパネル。 13、請求項12に記載の液晶ディスプレイパネルにお
いて、前記充填体が形成された後に、配向膜が形成され
、該配向膜にラビングが施されることを特徴とする液晶
ディスプレイパネル。 14、請求項1、2、3、4、5、6、7、8、9、1
0または11に記載の液晶ディスプレイパネルにおいて
、前記充填体は、印刷により形成されることを特徴とす
る液晶ディスプレイパネル。 15、請求項1、2、3、4、5、6、7、8または9
に記載の液晶ディスプレイパネルを製造する製造方法に
おいて、前記第1の透明板の一方の面に透明な画素電極
膜及び金属膜を順次堆積し、前記走査電極のパターン及
び前記画素電極のパターンを形成する第1の工程と、形
成された前記走査電極及び前記画素電極にまたがって前
記スイッチング素子を形成する第2の工程と、形成され
た前記走査電極、前記画素電極及び前記スイッチング素
子の上に充填体膜を形成し、その後、ホトエッチングに
より前記充填体のパターンを形成する第3の工程と、前
記画素電極上に形成された前記充填体のパターンをマス
クとして前記画素電極上の不要金属膜をエッチングする
第4の工程と、形成された前記走査電極、前記画素電極
、前記スイッチング素子及び前記充填体の上に配向膜を
形成し、該配向膜にラビングを施す第5の工程と、を具
備したことを特徴とする液晶ディスプレイパネルの製造
方法。 16、請求項15に記載の製造方法において、前記充填
体膜に感光性樹脂を用いることにより、ホトレジストを
兼用するようにしたことを特徴とする液晶ディスプレイ
パネルの製造方法。 17、請求項10または11に記載の液晶ディスプレイ
パネルを製造する製造方法において、前記第1の透明板
の一方の面に透明な画素電極膜及び金属膜を順次堆積し
、前記走査電極のパターン及び前記画素電極のパターン
を形成する第1の工程と、形成された前記走査電極及び
前記画素電極にまたがって前記スイッチング素子を形成
する第2の工程と、形成された前記走査電極、前記画素
電極及び前記スイッチング素子の上に前記保護膜及び充
填体膜を順次堆積し、その後、ホトエッチングにより前
記保護膜のパターン及び前記充填体のパターンをそれぞ
れ形成する第3の工程と、前記画素電極上に形成された
前記保護膜のパターン及び前記充填体のパターンをマス
クとして前記画素電極上の不要金属膜をエッチングする
第4の工程と、形成された前記走査電極、前記画素電極
、前記スイッチング素子、前記保護膜及び前記充填体の
上に配向膜を形成し、該配向膜にラビングを施す第5の
工程と、を具備したことを特徴とする液晶ディスプレイ
パネルの製造方法。 18、請求項1、2、3、4、5、6、7、8、9、1
0、11、12、13または14に記載の液晶ディスプ
レイパネルを製造する製造方法において、前記第2の透
明板の第2の面上における、複数の前記画素電極と対向
する領域の周囲にシール用樹脂を印刷する第1の工程と
、前記シール用樹脂の乾燥後、前記第1の透明板の第1
の面と前記第2の透明板の第2の面との位置合わせを行
う第2の工程と、前記第1の透明板及び前記第2の透明
板に加圧・加熱を施し、前記シール用樹脂及び前記充填
体によって前記第1の透明板及び前記第2の透明板を固
着させる第3の工程と、を具備したことを特徴とする液
晶ディスプレイパネルの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1014959A JPH02196221A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 液晶ディスプレイパネル及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1014959A JPH02196221A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 液晶ディスプレイパネル及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02196221A true JPH02196221A (ja) | 1990-08-02 |
Family
ID=11875517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1014959A Pending JPH02196221A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 液晶ディスプレイパネル及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02196221A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1040380A1 (en) * | 1998-07-24 | 2000-10-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | ELIMINATION OF REVERSE-TILT IN HIGH-DENSITY REFLECTIVE LCDs |
| EP1256836A3 (en) * | 1995-06-06 | 2003-05-02 | L.G. Philips LCD Co., Ltd. | LCD with bus lines overlapped by pixel electrodes and insulating layer therebetween |
| KR100947536B1 (ko) * | 2003-06-03 | 2010-03-12 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터-액정표시장치 |
-
1989
- 1989-01-26 JP JP1014959A patent/JPH02196221A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1256836A3 (en) * | 1995-06-06 | 2003-05-02 | L.G. Philips LCD Co., Ltd. | LCD with bus lines overlapped by pixel electrodes and insulating layer therebetween |
| US8198110B2 (en) | 1995-06-06 | 2012-06-12 | Lg Display Co., Ltd. | Method of making a TFT array with photo-imageable insulating layer over address lines |
| EP1040380A1 (en) * | 1998-07-24 | 2000-10-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | ELIMINATION OF REVERSE-TILT IN HIGH-DENSITY REFLECTIVE LCDs |
| US6473149B2 (en) * | 1998-07-24 | 2002-10-29 | Koninklijke Phillips Electronics N.V. | Elimination of the reverse-tilt in high-density reflective LCDs |
| KR100947536B1 (ko) * | 2003-06-03 | 2010-03-12 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터-액정표시장치 |
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