JPH0219708A

JPH0219708A - カメラの測距装置

Info

Publication number: JPH0219708A
Application number: JP63167673A
Authority: JP
Inventors: Tomoya Kitajima; 友也北島; Akira Suzuki; 明鈴木
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1988-07-07
Filing date: 1988-07-07
Publication date: 1990-01-23
Anticipated expiration: 2012-03-05
Also published as: US4947202A; JP2586931B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、カメラの測距装置に関し、より詳細には、被
写体の像をそれぞれ２つの受光素子上に結像させる結像
光学系をそれぞれの受光光軸が所定の基線長だけ離れる
ように配設し、上記２つの受光素子に結像されたそれぞ
れの像を比較することで上記被写体までの距離を測定す
るいわゆる、三角測量に基づいた受動型の測距を行うカ
メラの測距装置に関するものである。

〔従来の技術〕

カメラにおいて、被写体距離を検出する基本的な原理の
１つとして、三角測量の原理を応用したものがある。こ
の三角測量に基づいたものとしては、被写体からの自然
光を受ける受動型と、被写体に補助光を投光しその反射
光の入射位置を検出する能動型とに大別される。

そして、このような三角測量の原理を用いた種々の測距
装置が従来より提案されており、例えば、特開昭６０−
５３９０９号、特開昭６０−５３１９０号、特開昭６０
−６８３０７号公報には、それぞれ上記能動型、上記受
動型および撮影レンズを所定の位置に固定する固定型の
三種類の測距装置を併設したものが開示されている（以
下、「第１の従来例」という）。

また、特開昭５６−１４３９０４号および特開昭５８−
１００８０７号公報には、上記受動型に上記補助光を投
光する投光手段を付設したものが開示されている（以下
、「第２の従来例」という）〔発明が解決しようとする
課題〕上記第１の従来例においては、三種類の測距装置を独立
的に設けることから、広い配設スペースが必要となると
共に、製作コストが上昇するという問題があり、上記第
２の従来例においては、受動型が有する欠点、すなわち
被写体がコントラストのない壁のようなものだったり、
あるいは低照度下にあってコントラストの差がほとんど
現われない場合に測距不能になるという欠点は解決され
るものの、光学系を構成する部材の大きさ、特に受光素
子の大きさから発生する制約、つまり近距離側で測距不
能となる制約が残されたままとなっている。

本発明は、上述の事情に鑑みなされたもので、その目的
とするところは、簡略な構成で占有スペースが殆んど増
加せず、受動型の利点を活しつつ能動型の利点を加え、
受動型における限界位置よりも至近側での測距が可能な
カメラの測距装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、上述の目的を達成するために、被写体の像を
それぞれ２つの受光素子上に結像させる結像光学系をそ
れぞれの受光光軸が所定の基線長だけ離れるように配設
し、上記２つの受光素子に結像されたそれぞれの像を比
較することで上記被写体までの距離を測定する受動型の
測距を行うカメラの測距装置において、多数の画素を直
線状に配設した受光部を有する上記２つの受光素子と。

仮想の中心線に対して対称的に且つ上記受光部の受光面
が略直角となるように配設した２つの受光素子に対し無
限遠からの第１の光線がそれぞれ上記受光部の一方側の
端部に入射し、近距離側で測距が不能となる限界位置を
通過してきた第２の光線が上記受光部の上記端部と逆の
端部にそれぞれ入射し上記受光光軸が上記第１の光線と
略一致するように配設した上記結像光学系としての受光
光学系と、上記被写体に補助光を投光する投光手段と、
上記補助光の投光光軸が上記２つの受光軸の間に形成さ
れる平面内にありしかも該受光光軸のいずれか一方に近
く且っ略平行となるような投光光学系とを具備し、上記
補助光が上記被写体で反射した反射光を上記受光素子の
少なくともいずれか一方で受ける能動型の測距をも可能
とし、上記限界位置よりも至近側に位置する被写体は上
記能動型で測距するように構成したことを特徴とするも
のである。

さらに、本発明は、上述の目的を達成するために、受動
型の測距を行うカメラの測距装置において、多数の画素
を直線状に配設した受光部を有する上記２つの受光素子
と、仮想の中心線に対して対称的に且つ上記受光部の受
光面が略直角となるように配設した２つの受光素子に対
し無限遠からの第１の光線がそれぞれ上記受光部の一方
側の端部に入射し、近距離側で測距が不能となる限界位
置を通過してきた第２の光線が上記受光部の上記端部と
逆の端部にそれぞれ入射し上記受光光軸が上記第１の光
線と略一致するように配設した上記結像光学系としての
受光光学系と、上記被写体に補助光を投光する投光手段
と、上記補助光の投光光軸が上記２つの受光光軸を含む
平面内にあり且つ上記第１の光線と上記第２の光線との
間にそれぞれ形成される２つの光路のうち少なくともい
ずれか一方の光路に上記限界位置にて交わるような投光
光学系とを具備し、上記補助光が上記被写体で反射した
反射光を上記受光素子の少なくともいずれか一方で受け
る能動型の測距をも可能とし、上記限界位置よりも至近
側に位置する被写体は上記能動型で測距するように構成
したことを特徴とするものである。

〔作　用〕

本発明は、上述のように構成したから、受動型の測距に
おいては、無限遠から限界位置までに位置する被写体に
対応した像がそれぞれの線形受光素子上の対応する位置
に結像され、これらの像の相対的な位置関係を検出する
ことによって当該被写体距離が測定でき、能動型の測距
においては、請求項１に記載の発明の場合、上記限界位
置から最至近位置までに位置する被写体からの反射光が
少なくとも投光光軸に近い側の線型受光素子の所定の位
置から第２の光線を受ける端部までの間の対応する位置
に入射し、この入射位置を検出することで当該被写体距
離が測定でき、請求項２に記載の発明の場合、受光しよ
うとする線形受素子に係る光路と交わる投光光軸は、第
１の光線または第２の光線上の限界位置で交わり、第２
の光線または第１の光線の最至近位置で交わるから、限
界位置から最至近位置までの被写体からの反射光は、当
該線形受光素子の両端部間の対応する位置に入射し、こ
の入射位置を検出することによって、当該被写体距離が
測定できる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて具体的に説
明する。

第１図は、第１の実施例に係るカメラの測距装置の全体
構成を模式的に示す平面図である。

同図において、１は仮想の中心線、２および３はこの中
心線１に対称的に配設された受光素子の受光部としての
センサアレイで、この例では説明を煩雑にしないため、
それぞれ６個の画素が直線状に配列されている例を示す
。２ａおよび３ａは上記センサアレイ２および３の中心
線１寄り側の端部である内端の画素、２ｂおよび３ｂは
上記センサアレイ２および３の中心線１から最も遠い端
部である外端の画素、４および５はそれぞれ上記センサ
アレイ２および３の前方に所定の距離（焦点距離）で配
設された結像レンズ（以下、単に「レンズ」という）で
ある。

６は無限遠位置（以下□、［ｏｏ位置」という）、７は
受動型の測距において近距離側に生じる測距可能な限界
である限界位置、７ａはこの限界位置７と中心線１とが
交わる限界点、８は上記レンズ４．５が配設される基準
位置、９および１０はψ位置６に位置する被写体（図示
せず）からそれぞれレンズ４，５を介して画素２ａ　、
３ａに入射される第１の光線としてのω光線、１１およ
び１２はそれぞれ上記ω光線９および１０と略一致する
受光光軸である６尚、レンズ４，５はそれぞれ受光光軸
１１，１２上に配設され、受光光軸間は基線長りだけ離
れている。

１３および１４はそれぞれ上記限界点７ａを通過し、レ
ンズ４および５を介して画素２ｂおよび３ｂに入射する
第２の光線としての近い光線で、以上をもって受動型の
測距を行う受光光学系を構成している。

１５は補助光としての投光ビーム１５ａを投光する投光
手段としての投光部、１６は上記投光ビーム１５ａが投
光される投光光軸で、受光光軸１１と１２との間に形成
される平面内に在り、しかも中心線１よりもセンサアレ
イ２側（図において左方側）に近い距離Ｌａの位置にあ
り且つ受光光軸１１．１２に平行となるように投光光学
系が構成されている。１７は投光光軸１６が近い光線１
３と交わる至近側としての至近位置、１８および１９は
上記投光ビーム１５ａが至近位置１７および限界位置７
に位置する被写体（図示せず）で反射した反射ビームで
ある。

ＺｌおよびＺｆはそれぞれ受動型の測距可能範囲および
不能範囲、Ｚ２は能動型の測距によって拡張された拡張
範囲、２０は■光線９と近い光線１３とで形成される光
路、２１はφ光線１０と近い光線１４とで形成される光
路である。

尚、以下の図面で、第１図と共通の部位には同一符号を
付すものとする。

第２図および第３図は、いずれも本発明の第２および第
３の実施例のカメラの測距装置の全体構成を示す平面図
である。

尚、受光光学系の構成は、第１の実施例と同一であり、
投光部１５および投光ビーム１５ａも共通とする。

第２図および第３図において、２２および２３は投光ビ
ーム１５ａが投光される投光光軸で、いずれも受光光軸
１１と１２を含む平面内に在り、しかも投光光軸２２は
光路２ｏと交わり、投光光軸２３は光路２０および２１
と交わるように投光光学系が構成されている。尚、より
詳しくは、第２図において、投光部１５はレンズ４と５
との間に位置し、投光光軸２２は限界位置７にて受光光
軸１１、つまりω光線９と交わるように構成され、一方
、第３図において、投光部１５はレンズ４の外側（図中
左方）に位置し、投光光軸２３は限界点７ａを通過する
ように構成されている。

第２図において、２４および２５は、投光ビーム１５ａ
がそれぞれ至近位置１７および限界位置７上にある被写
体で反射した反射ビームである。

第３図の２６は限界位置７よりも少しψ位！！６側の測
距可能範囲Ｚｌ内の位置である範囲内位置、２７および
２８は投光ビーム１５ａがそれぞれ限界点７ａに位置す
る被写体で反射した反射ビーム、２９、および３０はそ
れぞれ至近位置１７および範囲内位置２６に位置する被
写体で反射した反射ビームである。

第４図〜第６図は、受動型の測距原理を説明するための
模式図である。

第４図において、Ｄ１〜Ｄ５はそれぞれ被写体距離、３
１は被写体、３２〜３６はそれぞれ上記被写体距離Ｄ１
〜Ｄ５に位置する被写体３１を個々に示した被写体であ
る。尚、被写体距離Ｄ１およびＤ５は、それぞれ限界位
置７およびω位置６と時間−である。また、第４図では
図示していないが被写体３１は、第１図等に示した中心
線１上にあるものとする。

第５図において、ＣＬＩ〜ＣＬ５およびＣＲＩ〜ＣＲ５
は、それぞれ被写体３２〜３６がセンサアレイ２および
３に結像している状態の画像、さらに３２ａ〜３６ａお
よび３２ｂ　〜３６ｂは、それぞれ上記画像ＣＬＩ〜Ｃ
Ｌ５およびＣＲＩ〜ＣＲ５内の各被写体３２〜３６に対
応する像である。

第６図において、３７はセンサアレイ２が有する６個の
画素に対応した６個のエリアＡ１〜Ａ６から成る基準メ
モリ、ＤＴａは像３６ａに対応する基準データ、３８は
センサアレイ３が有する６個の画素に対応した６個のエ
リア８１〜Ｂ６から成る比較用のシフトレジスタ、ＤＴ
ｂは像３６ｂに対応する比較データである。また、３８
ａ〜３８ｆは、シフトレジスタ３８の各状態である。

第７図は、能動型の測距における特性図を示し、縦軸Ｉ
Ｌはセンサアレイ２に入射する像の輝度、横軸Ｎは画素
の配列に対応している。

第７図において、３９は反射光１８，２４゜２７を受け
た場合の輝度分布、４０は投光ビーム１５ａを投光しな
い場合の輝度分布である。

このように構成された本実施例の作用および動作につい
て説明する。まず、第４図〜第６図に基づいて、受動型
の測距動作を説明する。第４図に示すように被写体３１
が被写体距離Ｄ１に位置する場合、すなわ−ち被写体３
２の場合、その中央部からの近い光線１３がレンズ４を
通してセンサアレイ２の外端の画素２ｂに入射され、し
かも光路２０内には被写体３２の図中左半分しか入って
いないので、第５図の画像ＣＬＩに示すように、上記左
半分のみが像３２ａとしてとらえられる。−方、被写体
３２の中央部からの近い光線１４がレンズ５を通してセ
ンサアレイ３の外端の画素３ｂに入射され、しかも光路
２１内には被写体３２の図中右半分しか入っていないの
で、画像ＣＲＩ　Ｌ：示すように上記右半分のみが像３
２ｂとしてとらえられる（結像する）。

次に、被写体３３の場合は、近い光線１３および１４よ
りも少し光路２０および２１内に入っているので、それ
ぞれ画像ＣＬ２およびＣＲ２に示すように、像３３ａお
よび３３ｂが外端側２ｂおよび３ｂよりも少し内側に結
像する。そして、被写体距離Ｄ３においては、互いの光
路２０，２１が一致するので、つまり被写体３４は両光
路２０゜２１の中央に位置するので、画像ＣＬ３．ＣＲ
３のように像３４ａ　、３４ｂはセンサアレイ２，３の
略中夫に結像する。以下、同様に、被写体距離がＤ４．
Ｄ５と増大するに伴ってセンサアレイ２では画像Ｃ：Ｌ
４．ＣＬ５のように像３５ａ。

３６ａは順次内端側２ａに近づき、また、センサアレイ
３では、ＣＲ４，ＣＲ５に示すように内端３ａ側に近づ
いた位置に結像する。すなわち、被写体距離Ｄ１〜Ｄ５
の変化に対して第５図でわかるように、像３２ａは外端
２ｂ側から順次内端２ａ側に移動して像３６ａとなり、
また像３２ｂは外端３ｂから順次内端３ａに移動して像
３６ｂとなるような変化を示す。従って、像（例えば３
２ａと３２ｂ）の間隔を検出することによって被写体距
離Ｄ１〜Ｄ５が知られるのである。尚。

上述の説明からもわかるように、仮に被写体３２が被写
体距離Ｄ１よりも至近側に位置したとすると、光路２０
，２１の共通部から外れて近い光線１３．１４がセンサ
２，３のそれぞれの外端の画素２ａ　、３ａから外れ、
結像できなくなる。従って、被写体距離Ｄ１〜Ｄ５が受
動型の測距可能範囲Ｚ１となり、Ｄｌより至近側が測距
不能範囲Ｚｆとなる。

次に、上記間隔を検出する動作を述べる０例えば、被写
体３１として被写体距ｉ！ｉＤ５に位置する被写体３６
を代表して説明する。従って画像は、ＣＬ５．ＣＲ５で
ある。まず、第６図に示すようにいずれか一方のセンサ
アレイの画像（例えばＣＬ５）を基準にするため、セン
サアレイ２の各画素のデータを基準メモリ３７のエリア
Ａ１〜Ａ６にそれぞれ１対１に転送する。従って、像３
６ａのデータＤＴａは、エリアＡ６に記憶される。−方
、比較すべきセンサアレイ３の各画素のデータをシフト
レジスタ３８（詳しくは３８ａ）のエリアＢ１〜Ｂ６に
１対１に転送する。従って、この時点（状態３８ａ）で
は像３６ｂに対応するデータＤＴｂがエリアＢ１にセッ
トされる。そして、シフトレジスタ３８を１工リア分だ
けシフトさせて比較データＤＴｂをエリアＢ１からエリ
アＢ２に移しくシフトし）、基準メモリ３７のエリアＡ
１〜Ａ６と状態３８ｂのシフトレジスタ３８の各エリア
８１〜Ｂ６を１対１に比較する。以下、同様にシフトと
比較を繰返し、状態３８ｆに至り、比較データＤＴｂが
エリアＢ６にシフトされて基準メモリ３７と内容が一致
する。つまり、シフト可能な最大のシフト回数である５
回のシフトで内容が一致したのであるから、これをω位
置６を定義しておけば、被写体距離Ｄ５が検出できる。

さて、次に本発明の要部である能動型の測距動作につい
て述べる。第１図に示すように、不能範囲Ｚｆでは、受
動型の測距はできないから、至近位置１７にある被写体
（図示せず）の被写体距離は検出できない。ところが、
投光部１５から投光ビーム１５ａが投射されると、至近
位置１７上に位置する被写体においては、近い光線１３
上の反射光１８上の反射光（図示せず）がセンサアレイ
２で受光でき、さらに限界位置７上の被写体においては
、投光ビーム１５ａが反射光１９として受光できる。従
って、拡張範囲Ｚ２においての測距が可能となる。

また、限界位置７からω位置６内に位置する被写体でも
投光ビーム１５ａが被写体に当って反射し再びセンサア
レイに到達する限りにおいて、測距可能である。

次に能動型の検出原理を光線１８を例に述べる。

第７図に示すように投光ビーム１５ａ、つまり。

反射光１８がない場合の輝度分布４０に対して、反射光
１８がある場合は、輝度分布３９のようになり投光ビー
ム１５ａが投射されている部位の輝度が高くなる。つま
り、反射光１８の場合はセンサアレイ２の外端部の画素
２ｂに入射するがら。

画素２ｂの輝度が最高となる。そして、受光光軸１１と
投光光軸１６間の距離Ｌａは予めわかっているから、能
動型の場合、このＬａが基線長りに対応する三角測量の
原理が適用でき、画素２ｂを至近位置１７、画素２ａを
ω位置６と定義し、その間の画素も適宜、被写体距離（
位置）に対応させておけば、どの画素が最高の輝度であ
るかを調べることによって被写体距離が検出できる。

このように第１実施例では不能範囲Ｚｆのうち少なくと
も拡張範囲Ｚ２の分だけ近距離側の測距範囲が拡張され
たことになる。

次に、第２図では、限界位置７からの反射光２５は外端
の画素２ｂに、至近位置１７のからの反射光２４は内端
の画素２ａに入射するので、拡張範囲Ｚ２内に位置する
被写体からの反射光はすべてセンサアレイ２で受光でき
る。従って、画素２ｂを至近位置１７、画素２ａを限界
位置７と定義しておけば、この間の被写体距離が検出で
きる。

第３図においては、至近位置１７からの反射ビーム２９
はセンサアレイ２の内端の画素２ａに、限界位置７から
の反射ビーム２７，２８０’）ち−方の反射ビーム２７
はセンサアレイ２の外端の画素２ｂに入射し、範囲内位
置２６からの反射光３０は内端の画素３ａに、限界位置
７からの反射光２８は外端の画素３ｂに入射するから１
画素２ｂおよび２ａをそれぞれ限界位置７および至近位
置１７と定義し、画素３ａおよび３ｂをそれぞれ範囲内
位置２６および限界位置７と定義しておけば、拡張範囲
Ｚ２内の被写体距離はセンサアレイ２で。

共通範囲Ｚ３内の被写体距離はセンサアレイ３で検出で
きる。

このように、第１の実施例によれば、受動型の測距を行
う受光光学系の受光光軸１１から距離Ｌａの位置に投光
光軸１６があるように投光光学系を構成したから、受動
型の測距可能範囲Ｚ１に加えて、不能範囲Ｚｆ内でも拡
張範囲Ｚ２の分だけ能動型測距によって測距範囲を拡大
できるという利点がある。

また、限界位置７以遠でも投光ビーム１５ａが到達可能
な限り能動型の測距ができ、受動型の原理的欠点である
低コントラストおよび低輝度の被写体に対しての測距が
可能になるという利点もある。

また、第２あるいは第３の実施例によれば、上記受光光
学系の光路２０と、あるいは光路２０゜２１と投光光軸
２２あるいは２３が交わるように投光光学系を構成した
から、第２図の場合、能動型の測距において、単に拡張
範囲Ｚ２の分だけ測距範囲が拡張されるという利点に加
えて、上記拡張範囲ｚ２内の距離変化をセンサアレイ２
の内端の画素２ａから外端の画素２ｂに至るフルサイズ
で検出するので、第１実施例に比べて検出の分解能が高
くなるという利点がある。

また、第３図に示す第３実施例の場合、上述の第２の場
合と同様に、センサアレイ２によって。

拡張範囲Ｚ２内の距離変化が高い分解能で検出できる利
点に加え、センサアレイ３によって共通範囲Ｚ３内の距
離変化も高い分解能で検出できるという利点がある。し
かも共通範囲Ｚ３内は、受動型の測距可能範囲Ｚ１内で
あるから、上述した受動型の原理的欠点をカバーできる
という利点がある。

また、本実施例によれば、受動型の測距を行う受光光学
系およびセンサアレイ２，３を共用し、投光部１５を付
設するだけの簡素な構成であるから、装置の大型化を来
たすことがなく、受動型の利点である測距範囲が広いと
いうことを活かしつつ、能動型の測距によって不能範囲
Ｚｆ内を至近位置〕７まで測距可能となし得るという利
点がある。

尚１本発明は、上述の実施例に限定されることなく、そ
の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の変形実施ができる
ものである。

例えば、第１図、第２図では、センサアレイ２で反射光
１８，１９，２４．２５を受光する例を示したが、勿論
、センサアレイ３で受光するように構成してもよい。

また、センサアレイ２，３の画素は、説明を煩雑にしな
いため６個としたが、価格および測距精度（分解能）等
の兼ね合いにおいてその個数を増してもよい。

また、第６図では、基準メモリ３７とシフトレジスタ３
８で像の間隔を検出するように説明したが、マイクロコ
ンピュータを用いて、直接、各画素のアドレス（番地）
を比較するように構成してもよい。

また、受動型の測距動作を説明するに際して、１つの画
素に１つの像（例えば３６ａまたは３６ｂ）が対応して
いるかのように述べたが、実際には、数個の画素を１つ
のグループとして像３６ａ　、３６ｂをとらえている場
合が多く、例えば全画素数が６４個とし、このうちの連
続した。

１０個の画素を１つのグループとして扱う（処理する）
ように構成されている場合、仮に像３６ａが上記１０個
のうち５個の画素上に結像しているとすれば、像３６ａ
が該グループ内のどこの位置にあってもこのグループと
しては像３６ａを検出していることになる（このことを
「グループ検出型」という）。つまり、このグループ検
出型は、換言すると、第８図に示すように、実際のセン
サアレイ２，３の物理的なサイズはそれぞれ画素２ａ　
、２ｂおよび３ａ　、３ｂで決まるが、上記グループ検
出型の動作を行うことで、見かけ上センサアレイ２，３
のサイズが画素４１ａ、４１ｂおよび４２ａ、４２ｂの
ように拡大されたことになる。その結果、受光可能な角
度（範囲）が拡大され、ω光線９，１０はそれぞれ拡大
されたω光線４３．４４となり、近い光線１３．１４は
それぞれ拡大された近い光線４５．４６となる。

従って、上記グループ検出型の動作を行う場合は、第２
図に示すように投光光軸２２が限界線７と受光光軸１１
との交点を通過する構成に限らず、第８図に示すように
、投光光軸４７が、限界位置７上の受光光軸１１よりも
中心ｔｉＡＪ寄りの点を通過するするように投光光学系
を構成してもよい。

この場合、第２図と比べて、拡張範囲Ｚ２を同一に設定
した場合、基準位置８に対する投光光軸４７の角度αを
大きく設定できるので、測距可能範囲ｚ１内にも投光ビ
ーム１５ａが投射できるという利点がある。尚、この変
形例の考え方は、第３図にも適用できる。

〔発明の効果〕

以上、詳述したように、請求項１に記載の発明によれば
、受動型の測距を行う受光光学系が有する１つの結像光
学系の受光光軸に投光光軸が平行になるような投光光学
系を設けて能動型の測距を可能にし、上記受動型の測距
が不能となる限界位置よりも至近側の被写体距離は上記
能動型で測距するように構成し、さらに請求項２に記載
の発明によれば、上記受光光学系の光路に投光光軸が交
わるよう投光光学系を設けて上記限界位置よりも至近側
の被写体距離は上記能動型で測定するように構成したか
ら、構成部材の共用化により安価にして簡略に構成する
ことができ、従って、小型でありながら、受動型の利点
を活かしつつ受動型の欠点を補い、しかも至近側の測距
範囲を拡張し得るカメラの測距装置を提供することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の第１の実施例に係る全体構成を示す
平面図、第２図および第３図は、本発明の第２および第
３の実施例の全体構成をそれぞれ示す平面図、第４図〜
第６図は、いずれも受動型の測距原理を説明するための
模式図、第７図は、縦軸ＩＬがセンサアレイに入射する
像の輝度を示し横軸Ｎが画素の配列に対応させた能動型
の測距における特性図、第８図は、第２実施例の変形例
を示す平面図である。１・・・・・・仮想中心線、２．３・・・・・・センサアレイ、２ａ、２ｂ、３ａ、３ｂ、４１ａ、４１ｂ。４２ａ、４２ｂ・・・・・・画素、４．５・・・・・・Ｍ（＆レンズ（レンズ）、６・・・
・・・無限遠位置（ｏｏ位ｆｆｌり、７・・・・・・限
界位置、９．１０・・・・・・ψ光線、１１．１２・・・・・・受光光軸、Ｌ・・・・・・基線長、１３．１４・・・・・・近い光線。１５・・・・・・投光部、１５ａ・・・・・・投光ビーム、Ｌａ・・・・・・距離、１６．２２．２３，４７・・・・・・投光光軸、１７・
・・・・・至近位置。１８．１９，２４，２５，２７〜３ｏ・・・・・・反射
ビーム、Ｚｌ・・・・・・受動型の測距可能範囲、ｚ２・・・・
・・拡張範囲、Ｚｆ・・・・・・不能範囲、２０．２１・・・・・・光路、２６・・・・・・範囲内位置、３１．３２〜３６・・・・・・被写体。Ｄ１〜Ｄ５・・・・・・被写体距離。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被写体の像をそれぞれ２つの受光素子上に結像さ
せる結像光学系をそれぞれの受光光軸が所定の基線長だ
け離れるように配設し、上記２つの受光素子に結像され
たそれぞれの像を比較することで上記被写体までの距離
を測定する受動型の測距を行うカメラの測距装置におい
て、多数の画素を直線状に配設した受光部を有する上記
２つの受光素子と、仮想の中心線に対して対称的に且つ
上記受光部の受光面が略直角となるように配設した２つ
の受光素子に対し無限遠からの第１の光線がそれぞれ上
記受光部の一方側の端部に入射し、近距離側で測距が不
能となる限界位置を通過してきた第２の光線が上記受光
部の上記端部と逆の端部にそれぞれ入射し上記受光光軸
が上記第１の光線と略一致するように配設した上記結像
光学系としての受光光学系と、上記被写体に補助光を投
光する投光手段と、上記補助光の投光光軸が上記２つの
受光軸の間に形成される平面内にありしかも該受光光軸
のいずれか一方に近く且つ略平行となるような投光光学
系とを具備し、上記補助光が上記被写体で反射した反射
光を上記受光素子の少なくともいずれか一方で受ける能
動型の測距をも可能とし、上記限界位置よりも至近側に
位置する被写体は上記能動型で測距するように構成した
ことを特徴とするカメラの測距装置。
（２）被写体の像をそれぞれ２つの受光素子上に結像さ
せる結像光学系をそれぞれの受光光軸が所定の基線長だ
け離れるように配設し、上記２つの受光素子に結像され
たそれぞれの像を比較することで上記被写体までの距離
を測定する受動型の測距を行うカメラの測距装置におい
て、多数の画素を直線状に配設した受光部を有する上記
２つの受光素子と、仮想の中心線に対して対称的に且つ
上記受光部の受光面が略直角となるように配設した２つ
の受光素子に対し無限遠からの第１の光線がそれぞれ上
記受光部の一方側の端部に入射し、近距離側で測距が不
能となる限界位置を通過してきた第２の光線が上記受光
部の上記端部と逆の端部にそれぞれ入射し上記受光光軸
が上記第１の光線と略一致するように配設した上記結像
光学系としての受光光学系と、上記被写体に補助光を投
光する投光手段と、上記補助光の投光光軸が上記２つの
受光光軸を含む平面内にあり且つ上記第１の光線と上記
第２の光線との間にそれぞれ形成される２つの光路のう
ち少なくともいずれか一方の光路に上記限界位置にて交
わるような投光光学系とを具備し、上記補助光が上記被
写体で反射した反射光を上記受光素子の少なくともいず
れか一方で受ける能動型の測距をも可能とし、上記限界
位置よりも至近側に位置する被写体は上記能動型で測距
するように構成したことを特徴とするカメラの測距装置
。