JPH0219752A - X線撮影検査方法 - Google Patents

X線撮影検査方法

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Publication number
JPH0219752A
JPH0219752A JP63169228A JP16922888A JPH0219752A JP H0219752 A JPH0219752 A JP H0219752A JP 63169228 A JP63169228 A JP 63169228A JP 16922888 A JP16922888 A JP 16922888A JP H0219752 A JPH0219752 A JP H0219752A
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JP
Japan
Prior art keywords
ray
inspection method
ray film
rays
inspected
Prior art date
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Pending
Application number
JP63169228A
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English (en)
Inventor
Shinji Kamiharashi
上原子 信次
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0219752A publication Critical patent/JPH0219752A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は一般の非破壊検査に用いられるX線透過方式に
よる検査方法に関する、特に電線・ケーブルに用いられ
る架橋ポリエチレン絶縁体あるいは押出しモールド、テ
ープ巻モールド接続部のような厚肉円筒形状部内部の欠
陥(異物、ボイド。
亀裂等)を検査するのに有効なX線撮影検査方法に関す
るものである。
〔従来の技術〕
一般にX線透過試験といわれる非破壊検査方法ではX線
、α線、β線、中性子線を用い被検査物の組織・成分・
幾何学的欠陥の検出が行なわれている。
従来の電線・ケーブルに用いられる架橋ポリエチレン絶
縁体あるいは押出しモールド、テープ巻モールド接続部
のような厚肉円筒形状部内部の欠陥を検査する方法とし
て、 この被破壊検査方法が用いられており、その検査方法と
して、被検査試料の後面にX線用フィルムを平板状に設
置し、被検査試料を透してX線を照射し、その影像をX
線フィルム上に感光させ、該フィルムを現像して欠陥 
   パパ を検出する方法が行なわれている。
例えば第2図に示すように、X&’i!1fItより厚
肉円筒形状部を通してX線を照射し、平板状に設置した
X線フィルム6に感光させる撮影方法であった。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、第2図に示すように、X線源1より電線
・ケーブルの厚肉円筒形状部の中心の金属導体3に近い
プラスチック絶縁体を透過するX線4と外側のプラスチ
ック絶縁体2を透過するX線5とでは、空気中7を通過
するX線量が大きく違い、空気中7を通過するX線がX
線フィルム等で乱反射して影像の露光をぼかし現像後の
X線フィルム上の欠陥部の影像かみずらくなるため、X
線フィルム上での欠陥検査が難しかった。
本発明の目的は上記問題点を解消し、X線フィルムの現
像後の影像濃度を明確にして、欠陥検出精度を向上させ
るためのX線写真の撮影方法によるX線検査方法を提供
することにある。
〔課題を解決するための手段及び作用〕本発明の要旨は
、従来被検査試料の後面に平板状にセットしていたX線
フィルムを試料の形状に合せて巻付けることにより、空
気中で散乱するX線をなくし、X線フィルムの現像後の
影像濃度を明確に保ったことにある。
即ち、本発明の上記目的は、円筒形状の被検査試料の形
状に合わせてX線フィルムを巻付けて、撮影することを
特徴とするX線撮影検査方法によって達成される。
〔実 施 例〕
本発明の1実施例を第1図を用いて説明する。
但し、本発明は本実施例の電線番ケーブル関係の非破壊
検査にのみ限られるものではない。
金属導体3とプラスチック絶縁体2よりなる架橋化ポリ
エチレン絶縁ケーブルの外面にX線フィルム6を半円状
に巻付け、その外側を鉛板8で遮蔽し、X線源1より照
射し撮影を行った。撮影後X線フィルム6を現像し、ケ
ーブルの欠陥検査をしたところ、X線フィルム全体の現
像後の濃度がほぼ一定で、欠陥部の欠陥影像が明確であ
り、異物・ボイド・亀裂等に関し、従来より明確な判定
を行うことが出来るようになった。
[発明の効果] 本発明の被検査試料の形状に合わせてX線フィルムを巻
付けて撮影することを特徴とするX線検査方法により、
X線フィルムの現像後の影像濃度が明確になり従来より
欠陥検出の判定が明確になった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のX線撮影検査方法の被検査試料の撮影
方法を示す側面図、第2図は従来のX線検査方法の被検
査試料の撮影方法を示す側面図である。 l・・・X線源 2・・・プラスチック絶縁体 3・・・金属導体 4.5・・・透過X線 6・・・X線フィルム 7・・・空間    8・・・鉛板 第 1  日 第 2 目

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、X線源のある側の反対側の被検査試料の外面にX線
    フィルムを巻付けて撮影することを特徴とするX線撮影
    検査方法。
JP63169228A 1988-05-10 1988-07-07 X線撮影検査方法 Pending JPH0219752A (ja)

Priority Applications (2)

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JP63169228A JPH0219752A (ja) 1988-07-07 1988-07-07 X線撮影検査方法
US07/523,224 US5064255A (en) 1988-05-10 1990-05-14 Opening/closing device of a door member

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JP63169228A JPH0219752A (ja) 1988-07-07 1988-07-07 X線撮影検査方法

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JPH0219752A true JPH0219752A (ja) 1990-01-23

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05188014A (ja) * 1992-01-13 1993-07-27 Ngk Insulators Ltd ナトリウム−硫黄電池における溶射皮膜の非破壊検査方法
JP2018081046A (ja) * 2016-11-18 2018-05-24 札幌施設管理株式会社 配管検査方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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