JPH02198220A - 固体リレー - Google Patents
固体リレーInfo
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- JPH02198220A JPH02198220A JP1018960A JP1896089A JPH02198220A JP H02198220 A JPH02198220 A JP H02198220A JP 1018960 A JP1018960 A JP 1018960A JP 1896089 A JP1896089 A JP 1896089A JP H02198220 A JPH02198220 A JP H02198220A
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Links
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Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、入力信号を発光素子で光信号に変換し、発光
素子と光結合された光起電力ダイオードアレイで光信号
を電気信号に変換し、その電気信号によって出力用の金
属酸化膜半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)
を駆動させ、出力用接点信号を得るようにした光結合を
用いた固体リレーに関するものである。
素子と光結合された光起電力ダイオードアレイで光信号
を電気信号に変換し、その電気信号によって出力用の金
属酸化膜半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)
を駆動させ、出力用接点信号を得るようにした光結合を
用いた固体リレーに関するものである。
[従来の技術]
第5図は従来の固体リレー(特開昭55−133132
号公報)の回路図である。入力端子6a。
号公報)の回路図である。入力端子6a。
6b間には、発光ダイオード1が接続されている。
光起電力ダイオードアレイ2は、発光ダイオード1と光
結合されている。入力端子6a、6b間に入力電流が流
れると、発光ダイオード1が光信舟を発生し、この光信
号により光起電力ダイオードアレイ2の両端に光起電力
が発生する。光起電力ダイオードアレイ2の両端は、ゲ
ート絶縁形の電界効果トランジスタ(MOSFET)3
のゲート・ソース間に接続されている。また、光起電力
ダイオードアレイ2の両端には、残留電荷放電用の抵抗
性インピーダンス3aが並列接続されている。
結合されている。入力端子6a、6b間に入力電流が流
れると、発光ダイオード1が光信舟を発生し、この光信
号により光起電力ダイオードアレイ2の両端に光起電力
が発生する。光起電力ダイオードアレイ2の両端は、ゲ
ート絶縁形の電界効果トランジスタ(MOSFET)3
のゲート・ソース間に接続されている。また、光起電力
ダイオードアレイ2の両端には、残留電荷放電用の抵抗
性インピーダンス3aが並列接続されている。
入力端子6a、6b間に入力電流が流れると、光起電力
ダイオードアレイ2の両端に光起電力が発生する。この
光起電力をMOSFET3のゲート・ソース間に印加し
、MOSFET3の電流通電電極に接続された出力端子
7a、7b間のインピーダンスを著しく異なる別の値に
変化させる。以下、MOSFET3がNチャンネルのエ
ンハンスメントモードである場合について説明する。
ダイオードアレイ2の両端に光起電力が発生する。この
光起電力をMOSFET3のゲート・ソース間に印加し
、MOSFET3の電流通電電極に接続された出力端子
7a、7b間のインピーダンスを著しく異なる別の値に
変化させる。以下、MOSFET3がNチャンネルのエ
ンハンスメントモードである場合について説明する。
リレーの入力端子6a、6b間に電流が流れると、出力
端子7 a、 7 b間がOFF状態からON状態に変
化し、機械的に可動部分を持たずに、電気機械的なリレ
ーと同じ作用をすることになる。ここで、抵抗性インピ
ーダンス3aはMOSFET3のゲート・ソース間の静
電容量に蓄積された電荷を放電させる働きを有するもの
であり、この抵抗性インピーダンス3aが存在しないと
、上記の回路例で入力電流が切れたときに出力端子7a
、7b間をOFF状態に戻すことができない。
端子7 a、 7 b間がOFF状態からON状態に変
化し、機械的に可動部分を持たずに、電気機械的なリレ
ーと同じ作用をすることになる。ここで、抵抗性インピ
ーダンス3aはMOSFET3のゲート・ソース間の静
電容量に蓄積された電荷を放電させる働きを有するもの
であり、この抵抗性インピーダンス3aが存在しないと
、上記の回路例で入力電流が切れたときに出力端子7a
、7b間をOFF状態に戻すことができない。
しかしながら、入力端子6a、6b間に電流を流し、リ
レーをON状態にしようとするときには、この抵抗性イ
ンピーダンス3aの存在は、フォトダイオードアレイ2
の光起電力をバイパスする点から好ましくない、リレー
動作をさせるために要する最低の入力電流、つまり、感
動電流(Ipon)を小さくするためには、抵抗性イン
ピーダンス3aの値を大きく設定する必要があり、入力
電流が切れてから出力端子7 a、 7 b間が復帰す
るまでの時間Toffを短くするためには、抵抗性イン
ピーダンス3aの値を小さく設定する必要があるという
矛盾が存在する点、及び、MOSFET3のゲート・ソ
ース間の電圧は入力電流が感動電流(IFon)近傍の
電流域のときに入力電流に比例して変化するため、MO
SFET3の電流通電電極に接続された出力端子7a、
7b間のインピーダンスがON状態とOFF状態の中間
的な位置で存在してしまうという欠点がある。
レーをON状態にしようとするときには、この抵抗性イ
ンピーダンス3aの存在は、フォトダイオードアレイ2
の光起電力をバイパスする点から好ましくない、リレー
動作をさせるために要する最低の入力電流、つまり、感
動電流(Ipon)を小さくするためには、抵抗性イン
ピーダンス3aの値を大きく設定する必要があり、入力
電流が切れてから出力端子7 a、 7 b間が復帰す
るまでの時間Toffを短くするためには、抵抗性イン
ピーダンス3aの値を小さく設定する必要があるという
矛盾が存在する点、及び、MOSFET3のゲート・ソ
ース間の電圧は入力電流が感動電流(IFon)近傍の
電流域のときに入力電流に比例して変化するため、MO
SFET3の電流通電電極に接続された出力端子7a、
7b間のインピーダンスがON状態とOFF状態の中間
的な位置で存在してしまうという欠点がある。
このような問題点を解決するために、従来、第6図に示
すような固体リレー(特願昭61−255022号)が
提案されている。この回路にあっては、光起電力ダイオ
ードアレイ2の両端に発生する光起電力は、インピーダ
ンス要素4を介して出力用のMOSFET3のゲート・
ソース間に印加されると同時に、ノーマリ・オン型の静
電誘導型トランジスタ(S I T)又は電界効果型ト
ランジスタ(FET)よりなる駆動用トランジスタ5を
介して流れる。したがって、MOSFET3のゲート容
量を充電する電流と、駆動用トランジスタ5を介して流
れる電流が、インピーダンス要素4を介して流れる0、
このため、インピーダンス要素4の両端電圧降下により
駆動用トランジスタ5のゲート・ソース間に図示された
極性のバイアス電圧が加わる。このバイアス電圧により
駆動用トランジスタ5が瞬時に高インピーダンス状態と
なる。それ故、駆動用トランジスタ5の存在により出力
用のMOSFET3のゲート・ソース間の充電動作を遅
延することはない。
すような固体リレー(特願昭61−255022号)が
提案されている。この回路にあっては、光起電力ダイオ
ードアレイ2の両端に発生する光起電力は、インピーダ
ンス要素4を介して出力用のMOSFET3のゲート・
ソース間に印加されると同時に、ノーマリ・オン型の静
電誘導型トランジスタ(S I T)又は電界効果型ト
ランジスタ(FET)よりなる駆動用トランジスタ5を
介して流れる。したがって、MOSFET3のゲート容
量を充電する電流と、駆動用トランジスタ5を介して流
れる電流が、インピーダンス要素4を介して流れる0、
このため、インピーダンス要素4の両端電圧降下により
駆動用トランジスタ5のゲート・ソース間に図示された
極性のバイアス電圧が加わる。このバイアス電圧により
駆動用トランジスタ5が瞬時に高インピーダンス状態と
なる。それ故、駆動用トランジスタ5の存在により出力
用のMOSFET3のゲート・ソース間の充電動作を遅
延することはない。
入力電流が入力端子6 a、 6 b間に定常的に流れ
ている間は、駆動用トランジスタ5を介してわずかな電
流がインピーダンス要素4に流れ、これにより駆動用ト
ランジスタ5のゲート・ソース間にバイアス電圧が加わ
り、駆動用トランジスタ5は高インピーダンス状態を維
持する。このとき、インピーダンス要素4に加わる電圧
値V4は、駆動用トランジスタ5の遮断特性とインピー
ダンス要素4の値に応じて決まる。
ている間は、駆動用トランジスタ5を介してわずかな電
流がインピーダンス要素4に流れ、これにより駆動用ト
ランジスタ5のゲート・ソース間にバイアス電圧が加わ
り、駆動用トランジスタ5は高インピーダンス状態を維
持する。このとき、インピーダンス要素4に加わる電圧
値V4は、駆動用トランジスタ5の遮断特性とインピー
ダンス要素4の値に応じて決まる。
入力端子6a、6b間の入力電流が遮断されると、MO
8FET3のゲート容量に蓄積されていた電荷は、駆動
用トランジスタ5を介して放電される。
8FET3のゲート容量に蓄積されていた電荷は、駆動
用トランジスタ5を介して放電される。
このとき、駆動用トランジスタ5のゲート・ソース間に
は前記バイアス電圧が加わらないので、駆動用トランジ
スタ5はオン状態であり、したがって、この放電動作は
極めて短時間で完了する。
は前記バイアス電圧が加わらないので、駆動用トランジ
スタ5はオン状態であり、したがって、この放電動作は
極めて短時間で完了する。
[発明が解決しようとする課題]
従来の固体リレーでは、入力側の発光素子1に流す入力
電流が小さい場合には、リレー出力がオフ状態からオン
状態になるのに要するオン時間Tonに比較して、リレ
ー出力がオン状態からオフ状態になるのに要するオフ時
間Toffはかなり速い。
電流が小さい場合には、リレー出力がオフ状態からオン
状態になるのに要するオン時間Tonに比較して、リレ
ー出力がオン状態からオフ状態になるのに要するオフ時
間Toffはかなり速い。
しかしながら、ノイズに対する誤動作の防止について配
慮した場合には、オン時間Tonとオフ時間Toffは
同程度である方が、ノイズに対する誤動作が少なく、良
好な結果が得られる。なぜなら、オン時間Ton又はオ
フ時間Toffのうち、短い方の時間よりも持続時間の
長いノイズに対しては、固体リレーが応答してしまうた
めである。したがって、発光素子1への入力信号電流が
小さい場合には、オフ時間Toffはオン時間Tonと
同程度に遅い方が良い。
慮した場合には、オン時間Tonとオフ時間Toffは
同程度である方が、ノイズに対する誤動作が少なく、良
好な結果が得られる。なぜなら、オン時間Ton又はオ
フ時間Toffのうち、短い方の時間よりも持続時間の
長いノイズに対しては、固体リレーが応答してしまうた
めである。したがって、発光素子1への入力信号電流が
小さい場合には、オフ時間Toffはオン時間Tonと
同程度に遅い方が良い。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、オン時間とオフ時間のバランス
が良好な固体リレーを提供することにある。
の目的とするところは、オン時間とオフ時間のバランス
が良好な固体リレーを提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明にあっては、上記の課題を解決するために、第1
図乃至第4図に示すように、入力信号に応答して光信号
を発生する発光素子1と、前記光信号を受光して光起電
力を発生する光起電力ダイオードアレイ2と、光起電力
ダイオードアレイ2と直列的に接続されたインピーダン
ス要素4と、前記光起電力を前記インピーダンス要素4
を介してゲート・ソース間に印加されて、第1のインピ
ーダンス状態から第2のインピーダンス状態に変化する
出力用MOSFET3と、出力用MOSFET3のゲー
ト・ソース間に一対の通電電極を接続され、前記インピ
ーダンス要素4と光起電力ダイオードアレイ2との接続
点に制御電極を接続されて、光起電力ダイオードアレイ
2による光起電力の発生時に前記インピーダンス要素4
の両端に生じる電圧にて高インピーダンス状態にバイア
スされるノーマリ・オン型の駆動用トランジスタ5とを
有し、前記インピーダンス要素4は低濃度の不純物半導
体領域44に導電型の異なる不純物を拡散させた拡散領
域40の抵抗よりなり、不純物半導体領域44と拡散領
域40の間に生じるPN接合が光起電力の発生時には逆
バイアスされるように不純物半導体領域44を拡散領域
40の一端(アルミニウム電極42)に接続し、拡散領
域40は所定の間隔で蛇行するように形成され、拡散領
域40の蛇行する間隔は、光起電力による出力用MOS
FET3のゲート・基板間容量の充電時に拡散領域40
と不純物半導体領域44の間に生じる空乏層がつながる
ような間隔に設定され、拡散領域40と不純物半導体領
域44の間に生じる空乏層を拡げるような電位を印加さ
れたアルミニウム薄膜51を拡散領域40を覆うように
配して成る固体リレーにおいて、前記アルミニウム薄膜
51は光起電力ダイオードアレイ2における前記インピ
ーダンス要素4と接続される側の端子(アルミニウム電
極41)に接続され、前記アルミニウム薄膜51の上面
には絶縁膜50を介して第2のアルミニウム薄膜52が
配され、第2のアルミニウム薄膜52は光起電力ダイオ
ードアレイ2における前記インピーダンス要素4とは接
続されない側の端子に接続されていることを特徴とする
ものである。
図乃至第4図に示すように、入力信号に応答して光信号
を発生する発光素子1と、前記光信号を受光して光起電
力を発生する光起電力ダイオードアレイ2と、光起電力
ダイオードアレイ2と直列的に接続されたインピーダン
ス要素4と、前記光起電力を前記インピーダンス要素4
を介してゲート・ソース間に印加されて、第1のインピ
ーダンス状態から第2のインピーダンス状態に変化する
出力用MOSFET3と、出力用MOSFET3のゲー
ト・ソース間に一対の通電電極を接続され、前記インピ
ーダンス要素4と光起電力ダイオードアレイ2との接続
点に制御電極を接続されて、光起電力ダイオードアレイ
2による光起電力の発生時に前記インピーダンス要素4
の両端に生じる電圧にて高インピーダンス状態にバイア
スされるノーマリ・オン型の駆動用トランジスタ5とを
有し、前記インピーダンス要素4は低濃度の不純物半導
体領域44に導電型の異なる不純物を拡散させた拡散領
域40の抵抗よりなり、不純物半導体領域44と拡散領
域40の間に生じるPN接合が光起電力の発生時には逆
バイアスされるように不純物半導体領域44を拡散領域
40の一端(アルミニウム電極42)に接続し、拡散領
域40は所定の間隔で蛇行するように形成され、拡散領
域40の蛇行する間隔は、光起電力による出力用MOS
FET3のゲート・基板間容量の充電時に拡散領域40
と不純物半導体領域44の間に生じる空乏層がつながる
ような間隔に設定され、拡散領域40と不純物半導体領
域44の間に生じる空乏層を拡げるような電位を印加さ
れたアルミニウム薄膜51を拡散領域40を覆うように
配して成る固体リレーにおいて、前記アルミニウム薄膜
51は光起電力ダイオードアレイ2における前記インピ
ーダンス要素4と接続される側の端子(アルミニウム電
極41)に接続され、前記アルミニウム薄膜51の上面
には絶縁膜50を介して第2のアルミニウム薄膜52が
配され、第2のアルミニウム薄膜52は光起電力ダイオ
ードアレイ2における前記インピーダンス要素4とは接
続されない側の端子に接続されていることを特徴とする
ものである。
なお、アルミニウム薄膜51.52は他の金属薄膜であ
っても良いことは言うまでもない。
っても良いことは言うまでもない。
[作用]
本発明にあっては、インピーダンス要素4を構成する拡
散領域40にフィールド・プレート効果を与えるアルミ
ニウム薄膜51と、遮光用の第2のアルミニウム薄膜5
2とにより、容量C6が形成されている。この容量C8
は、第1図に示すように、光起電力ダイオードアレイ2
の両端に並列接続されることになる。このように光起電
力ダイオードアレイ2の両端に容量C0が接続されると
、オン時間Tonに関しては、MOSFET3のゲート
・ソース間容量に容量C8が加わって、その充電時間が
僅かに長くなるだけで、余り大きな影響はない。しかし
ながら、オフ時間Toffに関しては、容量C8に蓄積
された電荷が駆動用トランジスタ5とインピーダンス要
素4を介して放電されるまでは、駆動用トランジスタ5
が高インピーダンス状態に自己バイアスされ続けること
になるので、MO8FET3のゲート・ソース間容量の
放電時間が大きく増大することになり、オフ時間Tar
(の増大はオン時間Tonの増大よりも大きくなる。
散領域40にフィールド・プレート効果を与えるアルミ
ニウム薄膜51と、遮光用の第2のアルミニウム薄膜5
2とにより、容量C6が形成されている。この容量C8
は、第1図に示すように、光起電力ダイオードアレイ2
の両端に並列接続されることになる。このように光起電
力ダイオードアレイ2の両端に容量C0が接続されると
、オン時間Tonに関しては、MOSFET3のゲート
・ソース間容量に容量C8が加わって、その充電時間が
僅かに長くなるだけで、余り大きな影響はない。しかし
ながら、オフ時間Toffに関しては、容量C8に蓄積
された電荷が駆動用トランジスタ5とインピーダンス要
素4を介して放電されるまでは、駆動用トランジスタ5
が高インピーダンス状態に自己バイアスされ続けること
になるので、MO8FET3のゲート・ソース間容量の
放電時間が大きく増大することになり、オフ時間Tar
(の増大はオン時間Tonの増大よりも大きくなる。
したがって、オン時間Tonとオフ時間T o r f
のバランスを良好とすることができる。
のバランスを良好とすることができる。
[実施例]
第1図は本発明の一実施例の等価回路図である。
この回路は、光起電力ダイオードアレイ2の両端に、容
量C6が並列接続されている点、出力用MOSFET3
が2個のMOS F ET 3a、3bを逆直列接続し
て構成されている点、及び駆動用トランジスタ5が2個
のノーマリ・オン型の静電誘導トランジスタ5a、5b
を直列接続して構成されている点を除いては、第6図に
示す従来例と同様である。2個のM OS F E T
3 a 、 3 bを逆直列接続したことにより、出
力端子7a、7b間又は7c、7b間で直流回路を開閉
できると共に、出力端子7a。
量C6が並列接続されている点、出力用MOSFET3
が2個のMOS F ET 3a、3bを逆直列接続し
て構成されている点、及び駆動用トランジスタ5が2個
のノーマリ・オン型の静電誘導トランジスタ5a、5b
を直列接続して構成されている点を除いては、第6図に
示す従来例と同様である。2個のM OS F E T
3 a 、 3 bを逆直列接続したことにより、出
力端子7a、7b間又は7c、7b間で直流回路を開閉
できると共に、出力端子7a。
7c間で交流回路を開閉できる。また、2個のノーマリ
・オン型の静電誘導トランジスタ5a、5bを直列接続
することにより、特願昭62−197442号に開示さ
れているように、小さな入力電流で固体リレーを駆動す
ることができる。
・オン型の静電誘導トランジスタ5a、5bを直列接続
することにより、特願昭62−197442号に開示さ
れているように、小さな入力電流で固体リレーを駆動す
ることができる。
本実施例にあっては、第1図に示す構成の固体リレーに
おいて、光起電力ダイオードアレイ2と、インピーダン
ス要素4及び駆動用トランジスタ5を1チツプの誘電体
分離基板上に形成している。
おいて、光起電力ダイオードアレイ2と、インピーダン
ス要素4及び駆動用トランジスタ5を1チツプの誘電体
分離基板上に形成している。
第2図はこの誘電体分離基板におけるインピーダンス要
素4の部分の斜視図であり、第3図は第2図のA−A’
線についての断面図である。誘電体分離基板は、多結晶
シリコン基板46の上に、複数個の単結晶シリコン領域
が、S i O2のような絶縁膜45に包まれて島のよ
うに存在する基板である。本実施例では、インピーダン
ス要素4が形成される単結晶シリコン領域にN型の不純
物を低濃度にドープして不純物半導体領域44としてい
る。
素4の部分の斜視図であり、第3図は第2図のA−A’
線についての断面図である。誘電体分離基板は、多結晶
シリコン基板46の上に、複数個の単結晶シリコン領域
が、S i O2のような絶縁膜45に包まれて島のよ
うに存在する基板である。本実施例では、インピーダン
ス要素4が形成される単結晶シリコン領域にN型の不純
物を低濃度にドープして不純物半導体領域44としてい
る。
また、表面には、P型の不純物を高濃度に拡散された拡
散領域40が形成されている。この拡散領域40は、第
2図に示すように、蛇行して形成されている。拡散領域
40は不純物濃度が高いので、低抵抗層となっており、
その不純物濃度に応じた抵抗率を有する。拡散領域40
及び不純物半導体領域44の表面は、SiO□よりなる
絶縁膜47で覆われている。拡散領域40の両端にはオ
ーミック接触でアルミニウム電極41.42が接続され
ている。アルミニウム電!41.42間の抵抗値は、拡
散領域40の抵抗率と、拡散領域40の幅と長さでほぼ
決まる。拡散領域40の不純物濃度は表面はど高く、電
流密度は表面近くほど高い。
散領域40が形成されている。この拡散領域40は、第
2図に示すように、蛇行して形成されている。拡散領域
40は不純物濃度が高いので、低抵抗層となっており、
その不純物濃度に応じた抵抗率を有する。拡散領域40
及び不純物半導体領域44の表面は、SiO□よりなる
絶縁膜47で覆われている。拡散領域40の両端にはオ
ーミック接触でアルミニウム電極41.42が接続され
ている。アルミニウム電!41.42間の抵抗値は、拡
散領域40の抵抗率と、拡散領域40の幅と長さでほぼ
決まる。拡散領域40の不純物濃度は表面はど高く、電
流密度は表面近くほど高い。
したがって、拡散領域40の深さは抵抗値には余り関係
しない。、実施例では、N型の不純物半導体領域44の
比抵抗は60ΩcI11.P型の不純物拡散領域40の
幅は3μm、間隔は4μm、不純物としてはB(ボロン
)を用い、濃度は2.5X10’コdoseとした。一
方のアルミニウム電極42は、N型の不純物を低濃度に
拡散された不純物半導体領域44にもオーミック接触し
ている。したがって、N型の不純物半導体領域44は、
駆動用トランジスタ5のソース並びに出力端子7bと同
じ安定な電位に保持される。なお、アルミニウム電極4
2と不純物半導体領域44がオーミック接触する部分に
は、N型の不純物を高濃度に拡散した電極領域43が形
成されている。他方のアルミニウム電極41は、絶縁J
li47を介して拡散領域40の上面に配されたアルミ
ニウム薄膜51に接続されておリ、このアルミニウム薄
膜51は拡散領域40と不純物半導体領域44との間に
生じるPN接合の空乏層を拡げるフィールド・プレート
として作用する。なお、実際の製造工程においては、ア
ルミニウム電極41とアルミニウム薄膜51は同一の蒸
着工程で形成されることは言うまでもない。基板の上に
は、アルミニウム電f!41.42の形成後に、CVD
法を用いてSiO2よりなる5000人程度0バッシベ
ーション膜(絶縁膜50)が被着されている。また、光
起電力ダイオードアレイ2以外の部分には、光によるリ
ーク電流の発生を防止するために、遮光用のアルミニウ
ム薄膜52を被着している。ただし、第2図においては
、フィールド・プレート用のアルミニウム薄膜51や、
遮光用のアルミニウム薄膜52を除去した状態を図示し
ている。
しない。、実施例では、N型の不純物半導体領域44の
比抵抗は60ΩcI11.P型の不純物拡散領域40の
幅は3μm、間隔は4μm、不純物としてはB(ボロン
)を用い、濃度は2.5X10’コdoseとした。一
方のアルミニウム電極42は、N型の不純物を低濃度に
拡散された不純物半導体領域44にもオーミック接触し
ている。したがって、N型の不純物半導体領域44は、
駆動用トランジスタ5のソース並びに出力端子7bと同
じ安定な電位に保持される。なお、アルミニウム電極4
2と不純物半導体領域44がオーミック接触する部分に
は、N型の不純物を高濃度に拡散した電極領域43が形
成されている。他方のアルミニウム電極41は、絶縁J
li47を介して拡散領域40の上面に配されたアルミ
ニウム薄膜51に接続されておリ、このアルミニウム薄
膜51は拡散領域40と不純物半導体領域44との間に
生じるPN接合の空乏層を拡げるフィールド・プレート
として作用する。なお、実際の製造工程においては、ア
ルミニウム電極41とアルミニウム薄膜51は同一の蒸
着工程で形成されることは言うまでもない。基板の上に
は、アルミニウム電f!41.42の形成後に、CVD
法を用いてSiO2よりなる5000人程度0バッシベ
ーション膜(絶縁膜50)が被着されている。また、光
起電力ダイオードアレイ2以外の部分には、光によるリ
ーク電流の発生を防止するために、遮光用のアルミニウ
ム薄膜52を被着している。ただし、第2図においては
、フィールド・プレート用のアルミニウム薄膜51や、
遮光用のアルミニウム薄膜52を除去した状態を図示し
ている。
上述のように、光起電力の発生時には、インピーダンス
要素4に光起電力による電流が流れて、一方のアルミニ
ウム電極42が他方のアルミニウム電極41よりも高電
位となるので、拡散領域40と不純物半導体領域44の
間のPN接合は、逆バイアス状態となる。不純物半導体
領域44の不純物濃度が低いので、印加電圧が低くても
、空乏層は不純物半導体領域44の側に大きく拡がる。
要素4に光起電力による電流が流れて、一方のアルミニ
ウム電極42が他方のアルミニウム電極41よりも高電
位となるので、拡散領域40と不純物半導体領域44の
間のPN接合は、逆バイアス状態となる。不純物半導体
領域44の不純物濃度が低いので、印加電圧が低くても
、空乏層は不純物半導体領域44の側に大きく拡がる。
さらに、拡散領域40の上に存在するアルミニウム薄膜
51を低電圧側の電極41と接続させることにより、フ
ィールドプレート作用が強められ、印加電圧の低い状態
で空乏層を拡げることが可能となる。そして、前記逆バ
イアス電圧が所定値を越えると、不純物半導体領域44
の中で空乏層がつながってしま・い、電子が流れ得る状
態となる。
51を低電圧側の電極41と接続させることにより、フ
ィールドプレート作用が強められ、印加電圧の低い状態
で空乏層を拡げることが可能となる。そして、前記逆バ
イアス電圧が所定値を越えると、不純物半導体領域44
の中で空乏層がつながってしま・い、電子が流れ得る状
態となる。
このため、拡散領域40の蛇行する抵抗パターンをA−
A’線方向にバイパスして電流が流れるようになり、イ
ンピーダンス要素4の抵抗値が下がる。
A’線方向にバイパスして電流が流れるようになり、イ
ンピーダンス要素4の抵抗値が下がる。
したがって、光起電力の発生時における印加電圧と通電
電流の関係は、ツェナーダイオードと類似した特性とな
り、所定値以上の印加電圧が加わると、通電電流が急速
に増加する。このため、入力信号が立ち上がって、出力
用MOSFET3のゲート・ソース間容量が充電される
ときに、インピーダンス要素4に加わる電圧が前記所定
値よりも大きければ、インピーダンス要素4の通電電流
は著しく増大し、ゲート・ソース間容量が急速に充電さ
れるものである。出力用MO8FET3のゲート・ソー
ス間容量の充電電圧が上昇すると、インピーダンス要素
4に分担される電圧は低くなるので、インピーダンス要
素4の抵抗値が増大し、少ない通電電流で大きなバイア
ス電圧を発生することができるようになる。
電流の関係は、ツェナーダイオードと類似した特性とな
り、所定値以上の印加電圧が加わると、通電電流が急速
に増加する。このため、入力信号が立ち上がって、出力
用MOSFET3のゲート・ソース間容量が充電される
ときに、インピーダンス要素4に加わる電圧が前記所定
値よりも大きければ、インピーダンス要素4の通電電流
は著しく増大し、ゲート・ソース間容量が急速に充電さ
れるものである。出力用MO8FET3のゲート・ソー
ス間容量の充電電圧が上昇すると、インピーダンス要素
4に分担される電圧は低くなるので、インピーダンス要
素4の抵抗値が増大し、少ない通電電流で大きなバイア
ス電圧を発生することができるようになる。
第4図は本発明の要部構成を示す断面図である。
同図に示すように、本発明では、遮光用のアルミニウム
薄膜52を、光起電力ダイオードアレイ2の高電位側の
出力端子21(出力用MOSFET3のゲート側)に接
続している。したがって、このアルミニウム薄膜52と
、光起電力ダイオードアレイ2の低電位側に接続された
フィールド・プレートとして働くアルミニウム薄膜51
との間には、第1図の等価回路に示すように、容量C6
が形成される。この容量C0が光起電力ダイオードアレ
イ2の両端に並列接続されることにより、オン時間To
nとオフ時間T o f fのバランスを良好とするこ
とができる。
薄膜52を、光起電力ダイオードアレイ2の高電位側の
出力端子21(出力用MOSFET3のゲート側)に接
続している。したがって、このアルミニウム薄膜52と
、光起電力ダイオードアレイ2の低電位側に接続された
フィールド・プレートとして働くアルミニウム薄膜51
との間には、第1図の等価回路に示すように、容量C6
が形成される。この容量C0が光起電力ダイオードアレ
イ2の両端に並列接続されることにより、オン時間To
nとオフ時間T o f fのバランスを良好とするこ
とができる。
本実施例において、オン時間Tonとオフ時間Toff
の測定結果は次表のようになった。同表において、従来
例と本発明の固体リレーは、同一の製造プロセスにより
作成し、最後に遮光用のアルミニウム薄JI52を、光
起電力ダイオードアレイ2の高電位側の出力端子(出力
用MOSFET3のゲート側)に接続する工程以外は全
て同一の条件で両者の比較を行った。
の測定結果は次表のようになった。同表において、従来
例と本発明の固体リレーは、同一の製造プロセスにより
作成し、最後に遮光用のアルミニウム薄JI52を、光
起電力ダイオードアレイ2の高電位側の出力端子(出力
用MOSFET3のゲート側)に接続する工程以外は全
て同一の条件で両者の比較を行った。
上表から明らかなように、光起電力ダイオードアレイ2
の両端に容量C0を並列接続することにより、オン時間
Tonは僅かに増大するだけであるが、オフ時間Tof
fは大きく増大し、結果的にオン時間Tonとオフ時間
Toffのバランスを良好とし、ノイズによる誤動作の
可能性を少なくすることができる。つまり、従来例では
オン時間Tonが0.92111secであり、リレー
の応答速度としては約1 m5ecであるにも拘わらず
、オフ時間Toffが0.23m5ecであるために、
入力回路に0.23m5ec以上のパルス幅のノイズを
含むことはできなかった。これに対して、本発明では、
オン時間Tonが1.02m5ecであり、リレーの応
答速度としては約lll1secの性能をそのまま保ち
ながら、入力回路に1 m5ec未満のパルス幅のノイ
ズが含まれていても誤動作することはないものである。
の両端に容量C0を並列接続することにより、オン時間
Tonは僅かに増大するだけであるが、オフ時間Tof
fは大きく増大し、結果的にオン時間Tonとオフ時間
Toffのバランスを良好とし、ノイズによる誤動作の
可能性を少なくすることができる。つまり、従来例では
オン時間Tonが0.92111secであり、リレー
の応答速度としては約1 m5ecであるにも拘わらず
、オフ時間Toffが0.23m5ecであるために、
入力回路に0.23m5ec以上のパルス幅のノイズを
含むことはできなかった。これに対して、本発明では、
オン時間Tonが1.02m5ecであり、リレーの応
答速度としては約lll1secの性能をそのまま保ち
ながら、入力回路に1 m5ec未満のパルス幅のノイ
ズが含まれていても誤動作することはないものである。
なお、実施例の説明では、出力用のMOSFET3がN
チャンネルのエンハンスメントモードである場合につい
て説明したが、Pチャンネルであっても良く、デプリー
ションモードであっても良いことは言うまでもない。
チャンネルのエンハンスメントモードである場合につい
て説明したが、Pチャンネルであっても良く、デプリー
ションモードであっても良いことは言うまでもない。
[発明の効果コ
本発明にあっては、発光素子と光結合された光起電力ダ
イオードアレイの光起電力をインピーダンス要素を介し
て出力用MOSFETのゲート・ソース間に印加し、こ
の出力用MOSFETのゲート・ソース間に並列接続さ
れたノーマリ・オン型の駆動用トランジスタを前記イン
ピーダンス要素の両端電圧にて高インピーダンス状態に
バイアスするようにした固体リレーにおいて、前記イン
ピーダンス要素を上面に金属薄膜を配された拡散抵抗に
て構成し、前記金属薄膜とその上面に絶縁膜を介して配
された第2の金属薄膜とで構成された容量が光起電力ダ
イオードアレイに並列接続されるようにしたから、出力
用MOSFETの充電時間の増大よりも放電時間の増大
が大きくなり、オン時間とオフ時間のバランスの良好な
固体リレーを実現できるという効果がある。
イオードアレイの光起電力をインピーダンス要素を介し
て出力用MOSFETのゲート・ソース間に印加し、こ
の出力用MOSFETのゲート・ソース間に並列接続さ
れたノーマリ・オン型の駆動用トランジスタを前記イン
ピーダンス要素の両端電圧にて高インピーダンス状態に
バイアスするようにした固体リレーにおいて、前記イン
ピーダンス要素を上面に金属薄膜を配された拡散抵抗に
て構成し、前記金属薄膜とその上面に絶縁膜を介して配
された第2の金属薄膜とで構成された容量が光起電力ダ
イオードアレイに並列接続されるようにしたから、出力
用MOSFETの充電時間の増大よりも放電時間の増大
が大きくなり、オン時間とオフ時間のバランスの良好な
固体リレーを実現できるという効果がある。
しかも、拡散抵抗の上面に配された金属薄膜は、拡散領
域と半導体基板の間に生じる空乏層を拡げるフィールド
・プレート効果を有し、この金属薄膜の上面に絶縁膜を
介して配された第2の金属薄膜は、光結合型の固体リレ
ーにおいては必須の遮光膜として使用できるので、従来
の固体リレーに比べて何ら製造工程が複雑になることは
なく、単に、第2の金属薄膜を光起電力ダイオードアレ
イにおける前記インピーダンス要素とは接続されない側
の端子に接続するという構成を採用するだけで、オン時
間とオフ時間のバランスの良好な固体リレーを提供でき
るという利点がある。
域と半導体基板の間に生じる空乏層を拡げるフィールド
・プレート効果を有し、この金属薄膜の上面に絶縁膜を
介して配された第2の金属薄膜は、光結合型の固体リレ
ーにおいては必須の遮光膜として使用できるので、従来
の固体リレーに比べて何ら製造工程が複雑になることは
なく、単に、第2の金属薄膜を光起電力ダイオードアレ
イにおける前記インピーダンス要素とは接続されない側
の端子に接続するという構成を採用するだけで、オン時
間とオフ時間のバランスの良好な固体リレーを提供でき
るという利点がある。
第1図は本発明の一実施例の等価回路図、第2図は同上
に用いるインピーダンス要素の斜視図、第3図は同上の
断面図、第4図は本発明に対する比較例の断面図、第5
図は従来例の回路図、第6図は他の従来例の回路図であ
る。 1は発光ダイオード、2は光起電力ダイオードアレイ、
3は出力用MOSFET、4はインピーダンス要素、5
は駆動用トランジスタ、40は拡散領域、41.42は
アルミニウム電極、44は不純物半導体領域、51.5
2はアルミニウム薄膜である。 第1図 1:発光素子 2二光起電力ダイオードアレイ 3、出力用MOSFET 4:インピーダンス要素 5:Ii!動用トランジスタ
に用いるインピーダンス要素の斜視図、第3図は同上の
断面図、第4図は本発明に対する比較例の断面図、第5
図は従来例の回路図、第6図は他の従来例の回路図であ
る。 1は発光ダイオード、2は光起電力ダイオードアレイ、
3は出力用MOSFET、4はインピーダンス要素、5
は駆動用トランジスタ、40は拡散領域、41.42は
アルミニウム電極、44は不純物半導体領域、51.5
2はアルミニウム薄膜である。 第1図 1:発光素子 2二光起電力ダイオードアレイ 3、出力用MOSFET 4:インピーダンス要素 5:Ii!動用トランジスタ
Claims (1)
- (1)入力信号に応答して光信号を発生する発光素子と
、前記光信号を受光して光起電力を発生する光起電力ダ
イオードアレイと、光起電力ダイオードアレイと直列的
に接続されたインピーダンス要素と、前記光起電力を前
記インピーダンス要素を介してゲート・ソース間に印加
されて、第1のインピーダンス状態から第2のインピー
ダンス状態に変化する出力用MOSFETと、出力用M
OSFETのゲート・ソース間に一対の通電電極を接続
され、前記インピーダンス要素と光起電力ダイオードア
レイとの接続点に制御電極を接続されて、光起電力ダイ
オードアレイによる光起電力の発生時に前記インピーダ
ンス要素の両端に生じる電圧にて高インピーダンス状態
にバイアスされるノーマリ・オン型の駆動用トランジス
タとを有し、前記インピーダンス要素は低濃度の不純物
半導体領域に導電型の異なる不純物を拡散させた拡散領
域の抵抗よりなり、不純物半導体領域と拡散領域の間に
生じるPN接合が光起電力の発生時には逆バイアスされ
るように不純物半導体領域を拡散領域の一端に接続し、
拡散領域は所定の間隔で蛇行するように形成され、拡散
領域の蛇行する間隔は、光起電力による出力用MOSF
ETのゲート、基板間容量の充電時に拡散領域と不純物
半導体領域の間に生じる空乏層がつながるような間隔に
設定され、拡散領域と半導体基板の間に生じる空乏層を
拡げるような電位を印加された金属薄膜を拡散領域を覆
うように配して成る固体リレーにおいて、前記金属薄膜
は光起電力ダイオードアレイにおける前記インピーダン
ス要素と接続される側の端子に接続され、前記金属薄膜
の上面には絶縁膜を介して第2の金属薄膜が配され、第
2の金属薄膜は光起電力ダイオードアレイにおける前記
インピーダンス要素とは接続されない側の端子に接続さ
れていることを特徴とする固体リレー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1018960A JPH02198220A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 固体リレー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1018960A JPH02198220A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 固体リレー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02198220A true JPH02198220A (ja) | 1990-08-06 |
Family
ID=11986217
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1018960A Pending JPH02198220A (ja) | 1989-01-26 | 1989-01-26 | 固体リレー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02198220A (ja) |
-
1989
- 1989-01-26 JP JP1018960A patent/JPH02198220A/ja active Pending
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