JPH0219921Y2

JPH0219921Y2 -

Info

Publication number: JPH0219921Y2
Application number: JP1984142697U
Authority: JP
Priority date: 1984-09-19
Filing date: 1984-09-19
Publication date: 1990-05-31
Also published as: JPS6157501U

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野この考案は、抵抗器に関し、特にトリミング形
状に係るものである。

(ロ) 従来の技術一般に例えば、チツプ抵抗器は第２図及び第３
図に示すように、基板の両側に一対の電極ａ，ａ
が設けられると共に、両電極ａ，ａ間に抵抗体ｂ
が設けられて構成されている。そして、この抵抗
器の抵抗値は周知のように抵抗体ｂの長さｌに比
例し、幅ｗに反比例する。

そこで、従来より抵抗体の一部をレーザトリミ
ング法などで取り除き、カツト溝ｃ，ｄを形成し
て、抵抗値を調整している。このトリミング技術
としては、例えば実開昭55−9589、特開昭55−
160403、特開昭57−35305などがある。

このカツト溝ｃ，ｄは第２図に示すように垂直
方向のみからなるＩ型カツト溝ｃと、第３図に示
すように、垂直方向と水平方向とからなるＬ型カ
ツト溝ｄがある。

(ハ) 考案が解決しようとする課題上述した抵抗器において、例えば、両カツト溝
ｃ，ｄを抵抗体ｂの幅ｗの約1/2まで形成すると、
Ｉ型カツト溝ｃでは抵抗値が約1.3倍に増加し、
Ｌ型カツト溝ｄでは約２倍〜2.2倍に増加するこ
とになる。しかし、これでは調整幅が30％や100
％程度であり、調整幅が狭く、適用範囲が狭小で
あるという問題があつた。特に、何れのカツト溝
ｃ，ｄでも抵抗体ｂの幅ｗのみを変化させてお
り、調整幅が小さかつた。

さらに、Ｌ型カツト溝ｄにおいては、特に第３
図上半分のみが導電路ｅとなり、下半分が抵抗機
能に何ら寄与せず、歩留りが悪いという問題があ
つた。

この考案は、斯かる点に鑑みなされたもので、
抵抗値の調整幅を大きくした抵抗器を提供するこ
とを目的とするものである。

(ニ) 課題を解決するための手段及び作用この考案の抵抗器の構成を、一実施例に対応す
る第１図を用いて説明すると、抵抗体２と一対の
電極３，３とを備えてなるものにおいて、前記抵
抗体２に抵抗値をトリミングする２つの溝４，５
が形成され、このカツト溝４，５が、前記両電極
３，３方向に直交する垂直部４ａ，５ａ、両電極
３，３方向の水平部４ｂ，５ｂとよりＬ字型に形
成され、各垂直部４ａ，５ａがそれぞれ抵抗体２
の側部一辺２ｂ，２ａの両電極３，３方向に互い
にずれた位置より他辺２ａ，２ｂに向かつて延設
される一方、この垂直部４ａ，５ａの一端より、
もう一方のカツト溝垂直部５ａ，４ａから遠ざか
る方向に前記水平部４ｂ，５ｂが延設されている
と共に、両垂直部４ａ，５ａ間の間隔w₂及び前
記他辺２ａ，２ｂと水平部４ｂ，５ｂとの間隔を
等しくしてなることを特徴とするものである。従
つて、導電路６の長さが長く、幅が均一に狭くな
り抵抗値の調整幅を大きくすることができる。

(ホ) 実施例以下、実施例によりこの考案をさらに詳細に説
明する。

第１図はこの考案の１実施例を示すチツプ抵抗
器の平面図である。同図に示す１はチツプ抵抗器
であつて、原膜抵抗体２を備えている。

この抵抗器１は、基板（図示省略）に一対の電
極３，３が両側に形成されると共に、両電極３，
３間に抵抗体２が形成されて構成されている。さ
らに、抵抗器１にはＬ字型カツト溝４，５が形成
されている。

この両カツト溝４，５は、抵抗体２等を焼成し
た後、レーザトリミング法等により抵抗体２の一
部を取り除いて形成されている。このカツト溝
４，５は、抵抗値をトリミングするもので、両電
極３，３方向に直交（第１図において上下方向）
する垂直部４ａ，５ａと、両電極３，３方向（第
１図において、左右方向）の水平部４ｂ，５ｂと
より構成されている。

両垂直部４ａ，５ａは、それぞれ抵抗体２の側
部の一辺２ｂ，２ａでほぼ対角位置より他辺２
ａ，２ｂに向かつて延設され、つまり、１つの垂
直部４ａは抵抗体２の下辺２ｂ左側より上方に、
他の垂直部５ａは上辺２ａ右側部より下方に延設
されている。そして、垂直部４ａ，５ａの長さは
抵抗体２の幅ｗの約2/3に構成されている。また、
垂直部４ａ，５ａ間の間隔w₂は、幅Ｗの約1/3に
構成されている。

両水平部４ｂ，５ｂは、それぞれ垂直部４ａ，
５ａの一端より、他の垂直部５ａ，４ａから遠ざ
かるように延設されている。水平部４ｂ，５ｂと
抵抗体２の上辺２ａ、下辺２ｂとの間隔w₁，w₃
は共にw₂に等しく、すなわち幅ｗの約1/3となつ
ている。従つて、導電路６はクランク状に屈曲す
る、均一な幅のものとなつている。この実施例チ
ツプ抵抗器１では、水平部４ｂ，５ｂの長さを変
更することにより抵抗値が調整される。

抵抗器の抵抗値をトリミングする場合は、先ず
レーザ光を抵抗体２の側部の一辺の一点にあて、
その点より他の辺に向けて、抵抗体２をカツトし
てゆき、垂直部４ａ，５ａを形成し、その後、水
平部４ｂ，５ｂの形成に移り、所定の抵抗値を得
る水平部４ｂ，５ｂの一端でトリミングを終了す
るが、その際、レーザ光の移動方向の末、カツト
部分にクラツクが発生することがある。実施例抵
抗器１は、このクラツクによる影響が少ないとい
う長所がある。

また、上記実施例はチツプ抵抗器１について説
明したが、この考案は、チツプ抵抗器以外の各種
の抵抗器にも適用することができる。

(ヘ) 考案の効果以上のように、この考案の抵抗器によれば、２
つのＬ字型カツト溝を形成して所謂ダブルＬトリ
ミングに構成したために、抵抗値を大幅に増加さ
せることができる。従つて、抵抗値の調整範囲が
著しく広がり、自由な抵抗値に設定することがで
き、その適用範囲を拡大することができる。

また、チツプ抵抗器のように面積が限られてい
ても調整範囲が大きく、極めて有利であり、しか
も、同抵抗値、同面積の抵抗器を得るのに、従来
のものより面積抵抗の小さいものが使用できるか
らノイズ等も少なくすることができるので、信頼
性を向上させることができる。

さらにまた、抵抗体のほとんど全てを利用する
から、歩留りを向上させることができる。

加えて、レーザトリミング時に、カツト溝末部
に生じるクラツクの影響を少なくすることもでき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図のこの考案の１実施例を示すチツプ抵抗
器の平面図、第２図及び第３図は従来例を示し、
それぞれ異なるカツト溝を備えたチツプ抵抗器の
平面図である。１：チツプ抵抗器、２：抵抗体、３：電極、
４，５：カツト溝、４ａ，５ａ：垂直部、４ｂ，
５ｂ：水平部、６：導電路。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】抵抗体と一対の電極とを備えて成る抵抗器にお
いて、前記抵抗体に抵抗値をトリミングする２つのカ
ツト溝が形成され、このカツト溝が、前記両電極
方向に直交する垂直部と、両電極方向の水平部と
よりＬ字型に形成され、各垂直部がそれぞれ抵抗
体の側部の一辺の両電極方向に互いにずれた位置
より他辺に向かつて延設される一方、この垂直部
の一端より、もう一方のカツト溝垂直部から遠ざ
かる方向に、前記水平部が延設されていると共
に、両垂直部間の間隔及び前記他辺と水平部との
間隔を等しくしてなることを特徴とする抵抗器。