JPH02205642A - リードフレーム用高強度銅合金 - Google Patents

リードフレーム用高強度銅合金

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JPH02205642A
JPH02205642A JP1022843A JP2284389A JPH02205642A JP H02205642 A JPH02205642 A JP H02205642A JP 1022843 A JP1022843 A JP 1022843A JP 2284389 A JP2284389 A JP 2284389A JP H02205642 A JPH02205642 A JP H02205642A
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copper alloy
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lead frame
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soldering
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Hajime Abe
元 阿部
Noboru Hagiwara
登 萩原
Hajime Sasaki
元 佐々木
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C9/00Alloys based on copper
    • C22C9/04Alloys based on copper with zinc as the next major constituent

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  • Conductive Materials (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、リードフレーム用として有用な高強度銅合金
に関し、とくに優れた耐半田付界面剥離性を有すると共
に加工硬化による強度向上特性を有する高強度銅合金に
関するものである。
〔従来の技術] 従来、半導体機器用リードフレーム材としては、熱膨張
係数が低く、半導体素子や封止材との接着性や封着性の
良好な42合金(Fe−42%Ni )やコバール(F
e −29%Ni −17%Co )などの高ニッケル
合金が主に用いられてきた。
しかし、最近半導体素子の集積度が益々増大し、電力消
費の高い素子が多くなり、導電性および熱伝導性の良好
なリードフレーム材への要求が一層高まってきている。
上記高ニッケル合金は、引張強さにおいては、65kg
r/ms”と良好であるが、導電率は3%lAC3程度
と極めて低く、通常導電率とほぼ並行した性質を示す熱
伝導性においてら十分なものとはいえない。
そこで、上記高ニッケル合金に代えて、導電率および熱
伝導性共に優れている銅合金をリードフレーム材として
使用しようという傾向が顕著になってきたう 上述した半導体機器のリードフレーム材として一般に要
求される特性には、上記導電性や熱伝導性に優れている
ことのほかに、信頭性の上から実装時や機器への組込み
等に付加される外力に十分耐え得る強度を有することお
よび半田付は工程を有するために半田付は特性に優れて
いることが、不可欠な条件とされる。
通常の銅系材料をリードフレーム材に適用しようとして
も、強度の上で不十分であり、なんらかの強度向上策が
必要である。金属材料の強度を上げる一般的方法として
は、合金元素を添加する方法および冷間加工度を大きく
する方法の二つがあり、リードフレーム材においてもそ
のような施策がとられてきた。
[発明が解決しようとする課題J 銅合金の場合、ある種の合金元素を添加すると熱処理に
より強度を増大し得る析出硬化型合金とすることができ
る。しかし、この析出硬化に依存しても十分に大きな強
度が得られないことがあり、そのような場合には固溶硬
化型の合金元素を添加し、冷間加工による硬化をも併用
する必要がある。
また、リードフレームにおいてはアウターリードを基板
に半田付けして使用することが多い。
強度を向上させるために合金元素を添加した銅合金を用
いたリードフレーム材においては、上記半田付けを行な
った後に、半田付けの界面において経時的に脆性剥離が
発生する現象がみられることがあり、信頼性の上から大
きな間組となっている。このような脆性層の形成は、素
材としてのCuと半田の中のsn成分および添加元素が
拡散することによって生ずるものと考えられており、X
y1マイクロアナライザによる所見によっても、銅合金
と半田との界面にCu−3n系におけるε相あるいはη
相といっな脆性の大きい金属間化合物が拡散形成される
ことが確認されている。さらに、添加元素のマイグレー
ション層が界面に拡散形成され(Fe 、P、Siにお
いてとくに顕著である)、これらが前記脆性剥離の原因
となることも明らかになっている。
本発明の目的は、上記したような従来技術の問題点を解
消し、銅系合金の強度を大きな冷間加工を加えることに
より向上させ得ると共に半田付界面剥離性についても大
巾に改善し得る新規なリードフレーム用高強度銅合金を
提供しようとするものである。
[課題を解決するための手段] 本発明は、Ni1.0〜5.0%、Sn0.5〜2.5
%、Zn3.3〜7.0%、Si  0. 2〜1.0
%、P0.003〜0,3%、を含み、残部Cuおよび
不可避なる不純物をもって構成した銅合金にある。
「作用I CuにNi 、Siを上記範囲において添加した合金は
、析出硬化型合金を梢成し、熱処理によって析出硬化し
強度を向上させることができる。
しかし、十分に大きな強度を求める場合には、析出硬化
にのみ依存することは適当ではなく、固溶硬化型の元素
を添加し、加工硬化に基く強度の向上をも図る必要があ
る。
Snは、そのように加工硬化させ得る元素として添加し
固溶体化処理するものであるが、含有量が0.5%以下
ではその効果が不十分であり、2.5%を越えると導電
率の低下が大きくなり好ましくない。
また、Ni含有量については、1.0%以下では高強度
効果が低く、5.0%以上になると加工性が劣化し導電
率を低下させるため好ましくない。
Si含有量については、0.2%以下では同じく強度の
向上効果が小さく、1,0%以上になると後述する第1
表からもわかるように界面tl1M防止に要するznの
添加量を増大させねばならず、結果的に導電率が低下す
ることとなり好ましくない。
znは、その理由の詳細についてはなお不明であるが、
後に詳述するように、銅合金の半田付けにおける界面剥
離防止に非常に有効に作用する。
しかし、この含有量が3.3%以下では析出硬化せしめ
る上で有効なSi添加との関係から半田界面剥離防止効
果が不十分となり好ましくなく、7.0%以上になると
導電率の低下が大きくなり同じく好ましくない。
Pは脱酸剤として添加するものであり、上記界面剥離防
止に有効なznが脱酸のなめに消費され本来の界面剥離
防止効果が低下する結果となるのを防止するためのもの
である。しかし、Pの含有量が0.003%以下では脱
酸効果が小さ(Znの消費が大きくなり、0.3%以上
になると加工性が低下する1導電率の低下が大きくなり
好ましくないのである。
[実施例J 以下に、本発明について実施例を参照し説明する。
第1表は、各種元素を表示した量だけ添加した銅合金に
znを表中に示した種々な量をもって添加し、5n−4
0%pb半田にドブ付はメツキした後、150℃で表に
それぞれ示した時間だけ加熱し、これを0.25Rで9
0゛曲げしその後曲げ戻した場合の界面の剥離の有無を
顕微鏡で!+1察した結果を示すものである。
第 表 表において、Oは界面剥離の生じないもの、Xは界面剥
離を生じた場合をそれぞれ示す。
第1表よりわかるように、添加元素の違いによってその
効果に差異があるものの、Znを添加することにより半
田付界面剥離を適確に防止することが可能になる。この
ようにZnに界面剥離防止効果のある理由については、
前述したように未だ詳細については不明なところが多い
、しかし、SlやPの含有量が多くなると、その効果が
阻害される#J!肉がはっきりと現れる。従って、その
有効性がわかっていいてもSlやPを余り多く添加する
ことは好ましくないことかわかる。
550mm’ x0. 25Rm’ (7)板とした後
500℃X1分の熱処理を施した。
つぎに、上記板材より15薗マX0.25+u+’X5
0m’の供試片を切り出し、半田付界面剥離性について
評価した。
各供試片を250℃に保持したsn −40%pb半田
洛中においてドブ付はメツキし、これを大気中において
150’Cx1OOO時間加熱した後、0.25Rで9
0゛曲げしその後曲げ戻して界面における剥離の有無を
100倍の顕微鏡で観察評価した。
第2表に評価結果を示す。
実施例 第2表に示す組成よりなる銅合金を水冷@型を/[いて
半連続鋳造し、850℃で熱間圧延を施して550關’
X10mm’の板とした。これを焼鈍、冷間圧延を繰返
し、550間’X0.5ffil+’の板とし、さらに
800℃×30分熱処理して急冷しな、その後加工度6
6%で冷間圧延し、第 表 本発明に係る合金は、析出硬化に加工硬化が加わり、引
張強さにおいていずれも69krf/+m”以上という
高い値を示しており、前記した高ニッケル合金にまさる
強度を保持し得ることがわかる。
しかも、第2表かられがるように本発明合金は、所定量
以上のZnを含有させることにより半田付界面剥離の発
生を完全に防止することができる。
これに対し、Znを含有しない比較例では、いずれの場
合も界面剥離が生じている。また、Slの含有量が高い
ものにあっては、znを2.5%あるいは3.0%添加
しているにも拘らず界面#I離を生じており、Si含有
量を高くし強度を大きくしようとする場合にはZnKも
3.3%以上添加しないと効果のないことがわかる。
[発明の効果] 以上の通り、本発明に係る銅合金によれば、析出硬化に
加え加工硬化がみられる結果、高ニッケル合金にまさる
強度を保持することができ、また、適切にZnが添加さ
れることで半田付界面剥離を完全に防止することが可能
となるものであって、これによってリードフレームの銅
合金化に適切に対応できることとなる意義は大きい。
代理人  弁理士  佐 藤 不二雄

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)Ni1.0〜5.0%、Sn0.5〜2.5%、
    Zn3.3〜7.0%、Si 0.2〜1.0%、P0.003〜0.3 %、を含み、残部Cuおよび不可避なる不 純物よりなるリードフレーム用高強度銅合 金。
JP1022843A 1989-02-01 1989-02-01 リードフレーム用高強度銅合金 Expired - Fee Related JP2870780B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007070651A (ja) * 2005-09-02 2007-03-22 Hitachi Cable Ltd 銅合金材およびその製造方法
CN115896536A (zh) * 2022-12-26 2023-04-04 江西科美格新材料有限公司 一种锡锌铜合金及其制备方法和应用

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JPS63293130A (ja) * 1987-05-26 1988-11-30 Mitsubishi Shindo Kk 半導体装置用Cu合金製リ−ドフレ−ム材

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