JPH022085B2 - - Google Patents
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- JPH022085B2 JPH022085B2 JP58187593A JP18759383A JPH022085B2 JP H022085 B2 JPH022085 B2 JP H022085B2 JP 58187593 A JP58187593 A JP 58187593A JP 18759383 A JP18759383 A JP 18759383A JP H022085 B2 JPH022085 B2 JP H022085B2
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- Japan
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- circuit
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 241000094111 Parthenolecanium persicae Species 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
- G01D18/002—Automatic recalibration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えば重量、流量、長さなどの各種
量を測定する測定装置の基準点補正装置に関す
る。
量を測定する測定装置の基準点補正装置に関す
る。
重量、流量、長さなどを高精度に測定する測定
装置では、温度変化によつて基準点（例えば零
点）が変動して測定精度の劣化を招くことが多
い。
装置では、温度変化によつて基準点（例えば零
点）が変動して測定精度の劣化を招くことが多
い。
このため、従来では測定の途中で適宜に基準点
（例えば零点）を測定して零点記憶回路１に基準
点を更新記憶させて、測定器（例えば秤）２の測
定信号（計量信号）から減算回路３で零点を減算
している。
（例えば零点）を測定して零点記憶回路１に基準
点を更新記憶させて、測定器（例えば秤）２の測
定信号（計量信号）から減算回路３で零点を減算
している。
しかしこの方法では、第２図に示す曲線のよう
に温度変化に伴つて零点が変化した場合に、A1
℃、A2℃、A3℃において零点を測定して零点記
憶回路１に更新記憶させたとすると、A1、A2、
A3の中間におけるA′℃、A″℃において誤差E′、
E″が生じる。
に温度変化に伴つて零点が変化した場合に、A1
℃、A2℃、A3℃において零点を測定して零点記
憶回路１に更新記憶させたとすると、A1、A2、
A3の中間におけるA′℃、A″℃において誤差E′、
E″が生じる。
従つて、このような誤差を小さくするには、で
きるだけこきざみに小さい温度変化ごとに零点を
測定し更新記憶させなければらない。
きるだけこきざみに小さい温度変化ごとに零点を
測定し更新記憶させなければらない。
このため高速度で多数の被測定物を連続的に測
定する測定装置では、従来、零点測定のために、
しばしば被測定物の連続供給を中断することとな
り、高速測定の妨げとなつていた。
定する測定装置では、従来、零点測定のために、
しばしば被測定物の連続供給を中断することとな
り、高速測定の妨げとなつていた。
本発明は上記の欠点を改め、基準点の測定を上
記のようにこきざみにしなくても誤差がほとんど
生じないようにした基準点補正装置を提供するこ
とを目的としている。
記のようにこきざみにしなくても誤差がほとんど
生じないようにした基準点補正装置を提供するこ
とを目的としている。
以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明
する。
する。
第３図は計量装置に適用した本発明の一実施例
を示すブロツク図である。
を示すブロツク図である。
第３図において、１１は被測定物をのせるため
の秤量皿、１２は計量器である。
の秤量皿、１２は計量器である。
１３は、秤量皿を空にして零点を測定した場合
の計量器１２の零点を記憶し、零点信号をホール
ドする零点ホールド回路である。
の計量器１２の零点を記憶し、零点信号をホール
ドする零点ホールド回路である。
１４はスイツチ１５が閉成されたときに零点ホ
ールド回路１３にホールドされた零点信号を記憶
する旧零点記憶回路、１６は零点ホールド回路１
３にホールドされた零点から旧零点記憶回路１４
に記憶された旧零点を減算する減算回路である。
ールド回路１３にホールドされた零点信号を記憶
する旧零点記憶回路、１６は零点ホールド回路１
３にホールドされた零点から旧零点記憶回路１４
に記憶された旧零点を減算する減算回路である。
１７は計量器１２の周囲温度に対応した信号を
出力する温度センサ、１８は温度センサ１７から
の温度信号をホールドする温度ホールド回路であ
る。１９はスイツチ２０がスイツチ１５と同期し
て閉成されたときに温度ホールド回路１８にホー
ルドされた温度信号を記憶する旧温度記憶回路、
２１は温度ホールド回路１８にホールドされた温
度から旧温度記憶回路１９に記憶された旧温度を
減算する減算回路である。
出力する温度センサ、１８は温度センサ１７から
の温度信号をホールドする温度ホールド回路であ
る。１９はスイツチ２０がスイツチ１５と同期し
て閉成されたときに温度ホールド回路１８にホー
ルドされた温度信号を記憶する旧温度記憶回路、
２１は温度ホールド回路１８にホールドされた温
度から旧温度記憶回路１９に記憶された旧温度を
減算する減算回路である。
２２は、減算回路１６から出力される新零点と
旧零点との差を、減算回路２１から出力される新
温度と旧温度との差で除算して１℃当りの零点変
化度を算出する除算回路である。２３はスイツチ
２４がスイツチ１５及び２０が同期して閉成され
るより前に閉成されたとき除算回路２２の出力信
号（零点変化度）を記憶する零点変化度記憶回
路、２５は零点変化度記憶回路２３から出力され
る零点変化度に減算回路２１から出力される新温
度と旧温度との差を乗算する乗算回路である。
旧零点との差を、減算回路２１から出力される新
温度と旧温度との差で除算して１℃当りの零点変
化度を算出する除算回路である。２３はスイツチ
２４がスイツチ１５及び２０が同期して閉成され
るより前に閉成されたとき除算回路２２の出力信
号（零点変化度）を記憶する零点変化度記憶回
路、２５は零点変化度記憶回路２３から出力され
る零点変化度に減算回路２１から出力される新温
度と旧温度との差を乗算する乗算回路である。
２６は零点ホールド回路１３にホールドされた
零点に乗算回路２５の出力値を加算する加算回
路、２７は計量器１２から出力される測定信号か
ら加算回路２６の出力値を減算して零点補正を行
なう減算回路、２８は減算回路２７の出力信号に
基づいて被測定物の重量を表示する表示回路であ
る。
零点に乗算回路２５の出力値を加算する加算回
路、２７は計量器１２から出力される測定信号か
ら加算回路２６の出力値を減算して零点補正を行
なう減算回路、２８は減算回路２７の出力信号に
基づいて被測定物の重量を表示する表示回路であ
る。
スイツチ１５，２０，２４はそれぞれタイミン
グ信号T1，T2，T3によつて閉成される。第４図
はタイミング信号T1，T2，T3及び後述するタイ
ミング信号T0の関係を示している。
グ信号T1，T2，T3によつて閉成される。第４図
はタイミング信号T1，T2，T3及び後述するタイ
ミング信号T0の関係を示している。
次に上記実施例による零点補正の動作を説明す
る。
る。
零点変化度記憶回路２３には次のようにして零
点変化度がセツトされる。
点変化度がセツトされる。
即ち、まず秤量皿１１を空にし、このときの計
量器１２の出力値（零点）を例えば第４図に示す
タイミングT0において記憶して、零点ホールド
回路１３にホールドさせる。第５図に示すように
温度変化に伴つて零点が変化したとし、この零点
測定のときの温度がA1℃で計量器１２の出力値
（零点）がZ1であるとする。スイツチ１５及び２
０を一時、同期して閉成させると、旧零点記憶回
路１４に、零点ホールド回路１３にホールドされ
た零点Z1は記憶されると共に、温度ホールド回路
１８にホールドされた温度センサ１７からの温度
値1℃が旧温度記憶回路１９に記憶される。
量器１２の出力値（零点）を例えば第４図に示す
タイミングT0において記憶して、零点ホールド
回路１３にホールドさせる。第５図に示すように
温度変化に伴つて零点が変化したとし、この零点
測定のときの温度がA1℃で計量器１２の出力値
（零点）がZ1であるとする。スイツチ１５及び２
０を一時、同期して閉成させると、旧零点記憶回
路１４に、零点ホールド回路１３にホールドされ
た零点Z1は記憶されると共に、温度ホールド回路
１８にホールドされた温度センサ１７からの温度
値1℃が旧温度記憶回路１９に記憶される。
次に、温度が第５図に示すようにA2℃になつ
たとき、秤量皿１１を再び空にし、計量器１２か
らの出力値（零点）を零点ホールド回路１３にホ
ールドする。第５図に示すように、温度がA2℃
で計量器１２の出力値（零点）がZ2であると、こ
のとき温度ホールド回路１８には温度センサ１７
からの温度値A2℃がホールドされて、減算回路
２１からは温度ホールド回路１８にホールドされ
た温度A2℃と旧温度A1℃との差A2−A1が出力さ
れると共に、減算回路１６からは零点ホールド回
路１３にホールドされた零点Z2と旧零点記憶回路
１４に記憶された旧零点Z1との差Z2−Z1が出力さ
れる。従つて、除算回路２２は（Z2−Z1）／
（A2−A1）を算出する。スイツチ２４がタイミン
グ信号T3によつて一時閉成されると、除算回路
２２の出力値（Z2−Z1）／（A2−A1）が零点変
化度記憶回路２３に記憶される。
たとき、秤量皿１１を再び空にし、計量器１２か
らの出力値（零点）を零点ホールド回路１３にホ
ールドする。第５図に示すように、温度がA2℃
で計量器１２の出力値（零点）がZ2であると、こ
のとき温度ホールド回路１８には温度センサ１７
からの温度値A2℃がホールドされて、減算回路
２１からは温度ホールド回路１８にホールドされ
た温度A2℃と旧温度A1℃との差A2−A1が出力さ
れると共に、減算回路１６からは零点ホールド回
路１３にホールドされた零点Z2と旧零点記憶回路
１４に記憶された旧零点Z1との差Z2−Z1が出力さ
れる。従つて、除算回路２２は（Z2−Z1）／
（A2−A1）を算出する。スイツチ２４がタイミン
グ信号T3によつて一時閉成されると、除算回路
２２の出力値（Z2−Z1）／（A2−A1）が零点変
化度記憶回路２３に記憶される。
タイミング信号T3の直後にタイミング信号T1，
T2が出力されてスイツチ１５及び２０が同期し
て一時閉成され、零点ホールド回路１３にホール
ドされた零点Z2が旧零点記憶回路１４にZ1の代り
に記憶され、温度ホールド回路１８にホールドさ
れた温度値A2が旧温度記憶回路１９にA1の代り
に記憶される。
T2が出力されてスイツチ１５及び２０が同期し
て一時閉成され、零点ホールド回路１３にホール
ドされた零点Z2が旧零点記憶回路１４にZ1の代り
に記憶され、温度ホールド回路１８にホールドさ
れた温度値A2が旧温度記憶回路１９にA1の代り
に記憶される。
このようにして新たな零点（Z2）を測定したと
き、零点変化度（Z2−Z1）／（A2−A1）が零点
変化度記憶回路２３にセツトされ、乗算回路２５
へ出力される。
き、零点変化度（Z2−Z1）／（A2−A1）が零点
変化度記憶回路２３にセツトされ、乗算回路２５
へ出力される。
そして、その後の被測定物の測定において、温
度が零点Z2の測定時の温度A2から変化しない間
は、温度ホールド回路１８にはA2℃がホールド
され、旧温度記憶回路１９にもA2℃が記憶され
ているので、減算回路２１の出力値はA2−A2＝
０であるため、乗算回路２５の出力値は｛（Z2−
Z1）／（A−A1）｝×０＝０となる。従つて、加
算回路２６の出力値は零点ホールド回路１３の出
力値Z2と乗算回路２５の出力値０とを加算した値
Z2＋０＝Z2となる。そして、この値Z2が被測定物
を秤量皿１１にのせた場合の計量器１２の出力値
から減算回路２７で減算されて重量を表わす信号
として表示回路２８へ出力される。
度が零点Z2の測定時の温度A2から変化しない間
は、温度ホールド回路１８にはA2℃がホールド
され、旧温度記憶回路１９にもA2℃が記憶され
ているので、減算回路２１の出力値はA2−A2＝
０であるため、乗算回路２５の出力値は｛（Z2−
Z1）／（A−A1）｝×０＝０となる。従つて、加
算回路２６の出力値は零点ホールド回路１３の出
力値Z2と乗算回路２５の出力値０とを加算した値
Z2＋０＝Z2となる。そして、この値Z2が被測定物
を秤量皿１１にのせた場合の計量器１２の出力値
から減算回路２７で減算されて重量を表わす信号
として表示回路２８へ出力される。
しかし、温度がA2℃より上昇してA′℃になつ
たとすると、温度ホールド回路１８からはA′が
出力されるので、減算回路２１からは（A′−A2）
が乗算回路２５へ出力される。このため乗算回路
２５からは、｛（Z2−Z1）／（A2−A1）｝×（A′−
A2）が出力される。第５図に示すように（Z2−
Z1）／（A2−A1）はＰ点とＱ点とを結ぶ直線の
傾きを表わしているから、｛（Z2−Z1）／（A2−
A1）｝×（A′−A2）は、直線PQの延長線とA′を通
る縦線との交点Ｒと、Ｑを通る横線A′を通る縦
線との交点Ｖとを結ぶ直線のさを表わしてい
る。従つて、加算回路２６からは、零点ホールド
回路１３の出力値Z2に長さを加算した加算結
果Z′が出力される。このため、従来では前回測定
した零点Z2を零点として出力していたのに対し、
実際の零点の変化に追随したZ′が零点として出力
されることになる。
たとすると、温度ホールド回路１８からはA′が
出力されるので、減算回路２１からは（A′−A2）
が乗算回路２５へ出力される。このため乗算回路
２５からは、｛（Z2−Z1）／（A2−A1）｝×（A′−
A2）が出力される。第５図に示すように（Z2−
Z1）／（A2−A1）はＰ点とＱ点とを結ぶ直線の
傾きを表わしているから、｛（Z2−Z1）／（A2−
A1）｝×（A′−A2）は、直線PQの延長線とA′を通
る縦線との交点Ｒと、Ｑを通る横線A′を通る縦
線との交点Ｖとを結ぶ直線のさを表わしてい
る。従つて、加算回路２６からは、零点ホールド
回路１３の出力値Z2に長さを加算した加算結
果Z′が出力される。このため、従来では前回測定
した零点Z2を零点として出力していたのに対し、
実際の零点の変化に追随したZ′が零点として出力
されることになる。
また、A2℃より温度が下がつて例えばA″℃に
なると、減算回路２１は負の値（A″−A2）とな
るから、乗算回路２５の出力値｛（Z2−Z1）／
（A2−A1）｝×A″−A2）は負の値となり、加算回
路２６からはZ2より下がつたZ″の値が出力され
る。
なると、減算回路２１は負の値（A″−A2）とな
るから、乗算回路２５の出力値｛（Z2−Z1）／
（A2−A1）｝×A″−A2）は負の値となり、加算回
路２６からはZ2より下がつたZ″の値が出力され
る。
このように、この回路によれば、前回と前々回
の二回の零点測定によつて零点変化の傾きがセツ
トされ、温度変化に追随した誤差の少ない零点が
加算回路２６から出力されることになる。
の二回の零点測定によつて零点変化の傾きがセツ
トされ、温度変化に追随した誤差の少ない零点が
加算回路２６から出力されることになる。
そして、次に零点測定を行なつて、例えばA3
℃で零点がZ3だとすると、同様にして零点変化度
記憶回路２３には（Z3−Z2）／（A3−A2）が記
憶され、旧温度記憶回路１９にはA3℃が記憶さ
れ、ＲとＷを結ぶ直線の傾きに基づいて温度変化
に追随させた乗算回路２５の出力値がZ3に加算回
路２６で加算される。
℃で零点がZ3だとすると、同様にして零点変化度
記憶回路２３には（Z3−Z2）／（A3−A2）が記
憶され、旧温度記憶回路１９にはA3℃が記憶さ
れ、ＲとＷを結ぶ直線の傾きに基づいて温度変化
に追随させた乗算回路２５の出力値がZ3に加算回
路２６で加算される。
なお、上記実施例では重量測定装置の場合につ
いて説明したが、長さ、流量などの測定装置にも
適用できることは勿論である。
いて説明したが、長さ、流量などの測定装置にも
適用できることは勿論である。
以上説明したように、本発明の基準点補正装置
では、温度変化に追随して自動的に変化させて基
準点を補正させるようにしたので、基準点測定を
こきざみに行なわなくても、測定誤差をなくする
ことができる。
では、温度変化に追随して自動的に変化させて基
準点を補正させるようにしたので、基準点測定を
こきざみに行なわなくても、測定誤差をなくする
ことができる。
第１図は従来の零点補正装置を示すブロツク
図、第２図は温度による零点の変動の一例を示す
グラフ、第３図は本発明の一実施例を示すブロツ
ク図、第４図はタイミング信号を示すタイムチヤ
ート、第５図は本発明の一実施例による零点補正
の原理を説明するためのグラフである。 １……零点記憶回路、２……測定器、３……減
算回路、１１……秤量皿、１２……計量器、１３
……零点ホールド回路、１４……旧零点記憶回
路、１５……スイツチ、１６……減算回路、１７
……温度センサ、１８……温度ホールド回路、１
９……旧温度記憶回路、２０……スイツチ、２１
……減算回路、２２……除算回路、２３……零点
変化度記憶回路、２４……スイツチ、２５……乗
算回路、２６……加算回路、２７……減算回路、
２８……表示回路。
図、第２図は温度による零点の変動の一例を示す
グラフ、第３図は本発明の一実施例を示すブロツ
ク図、第４図はタイミング信号を示すタイムチヤ
ート、第５図は本発明の一実施例による零点補正
の原理を説明するためのグラフである。 １……零点記憶回路、２……測定器、３……減
算回路、１１……秤量皿、１２……計量器、１３
……零点ホールド回路、１４……旧零点記憶回
路、１５……スイツチ、１６……減算回路、１７
……温度センサ、１８……温度ホールド回路、１
９……旧温度記憶回路、２０……スイツチ、２１
……減算回路、２２……除算回路、２３……零点
変化度記憶回路、２４……スイツチ、２５……乗
算回路、２６……加算回路、２７……減算回路、
２８……表示回路。
１ 回転軸に取り付けられ、磁気信号が円周に沿
つて等間隔のビツト長を有する磁化の形で記録さ
れている磁気記憶媒体を有する円板と、前記回転
軸の回転に伴つて前記円板から生じる信号磁界の
振幅変化を電気抵抗の変化として感知できる様に
配置された強磁性薄膜磁気抵抗効果素子より成る
磁気センサーと、この磁気センサーへの信号磁界
振幅より小さい微小振幅交流バイアス磁界印加手
段と前記磁気センサーの駆動回路と、前記磁気セ
ンサーの出力信号を増幅する増幅回路と、この増
幅回路出力波形を整流して積分する振幅復調回路
と、この振幅復調回路出力をパルス化するコンパ
レータとから成ることを特徴とする角度検出器。 ２ 交流バイアス磁界印加手段が、絶縁体層を介
して前記磁気センサーに平行に、形成された導電
体層と、この導電体層へ交流バイアス信号電流を
流す発振器とから成る特許請求の範囲第１項に記
載の角度検出器。 ３ 交流バイアス磁界印加手段が、巻線及びギヤ
ツプを有し高透磁率磁性体から成るコアと、前記
巻線へ交流バイアス信号電流を流す発振器とで形
成され、前記ギヤツプの中又は、側面に、前記磁
気センサーが設置されている特許請求の範囲第１
項に記載の角度検出器。
つて等間隔のビツト長を有する磁化の形で記録さ
れている磁気記憶媒体を有する円板と、前記回転
軸の回転に伴つて前記円板から生じる信号磁界の
振幅変化を電気抵抗の変化として感知できる様に
配置された強磁性薄膜磁気抵抗効果素子より成る
磁気センサーと、この磁気センサーへの信号磁界
振幅より小さい微小振幅交流バイアス磁界印加手
段と前記磁気センサーの駆動回路と、前記磁気セ
ンサーの出力信号を増幅する増幅回路と、この増
幅回路出力波形を整流して積分する振幅復調回路
と、この振幅復調回路出力をパルス化するコンパ
レータとから成ることを特徴とする角度検出器。 ２ 交流バイアス磁界印加手段が、絶縁体層を介
して前記磁気センサーに平行に、形成された導電
体層と、この導電体層へ交流バイアス信号電流を
流す発振器とから成る特許請求の範囲第１項に記
載の角度検出器。 ３ 交流バイアス磁界印加手段が、巻線及びギヤ
ツプを有し高透磁率磁性体から成るコアと、前記
巻線へ交流バイアス信号電流を流す発振器とで形
成され、前記ギヤツプの中又は、側面に、前記磁
気センサーが設置されている特許請求の範囲第１
項に記載の角度検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58187593A JPS6079224A (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 基準点補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58187593A JPS6079224A (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 基準点補正装置 |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1147363A Division JPH0228515A (ja) | 1989-06-10 | 1989-06-10 | 基準点補正装置 |
| JP1147364A Division JPH0228516A (ja) | 1989-06-10 | 1989-06-10 | 基準点補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6079224A JPS6079224A (ja) | 1985-05-07 |
| JPH022085B2 true JPH022085B2 (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=16208819
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58187593A Granted JPS6079224A (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 基準点補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6079224A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0410790U (ja) * | 1990-05-18 | 1992-01-29 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1174778A4 (en) * | 1999-04-19 | 2005-06-29 | Seiko Instr Inc | SENSOR CLOCK, DATA INPUT SYSTEM OF SUCH A CLOCK, DATA ENTRY METHOD FOR SUCH A CLOCK, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM FOR CARRYING OUT SAID METHOD BY THE COMPUTER |
| JP5403793B2 (ja) * | 2009-04-21 | 2014-01-29 | 株式会社タニタ | 重量測定装置 |
-
1983
- 1983-10-06 JP JP58187593A patent/JPS6079224A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0410790U (ja) * | 1990-05-18 | 1992-01-29 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6079224A (ja) | 1985-05-07 |
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