JPH0228516A - 基準点補正装置 - Google Patents
基準点補正装置Info
- Publication number
- JPH0228516A JPH0228516A JP1147364A JP14736489A JPH0228516A JP H0228516 A JPH0228516 A JP H0228516A JP 1147364 A JP1147364 A JP 1147364A JP 14736489 A JP14736489 A JP 14736489A JP H0228516 A JPH0228516 A JP H0228516A
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- Japan
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- zero point
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は！Ｉｔ流最、長さなどの各積置を測定する測定
装置の基準点補正装置に関す、る。
装置の基準点補正装置に関す、る。
重量、流量、長さなどを高精度に測定する測定装置では
、時間の経過によって基準点（例えば零点）が変動して
測定精度の劣化を招くことが多い。
、時間の経過によって基準点（例えば零点）が変動して
測定精度の劣化を招くことが多い。
このため、従来では一定時間ごとに零点を測定して零点
記憶回路１に基準点を更新記憶させて、測定器（例えば
秤）２の測定信号（計量信号）から減算回路３で零点を
減算している。
記憶回路１に基準点を更新記憶させて、測定器（例えば
秤）２の測定信号（計量信号）から減算回路３で零点を
減算している。
しかしこの方法では、第２図に示すように温度変化に伴
って零点が変化した場合に、Ａ１℃、Ａ２℃、Ａ３℃に
おいて零点を測定して零点記憶回路１に更新記憶させた
とすると、Ａ１、Ａ２、Ａ３の中間におけるＡ”Ｃ１Ａ
“℃において誤差ＥＥ ｎが生じる。従ってこのような
Ｆ１４差を小さくするには、できるだけこきざみに小さ
い温度変化ごとに零点を測定し更新記憶させなければな
らない。このため高速度で多数の被測定物を連続的に測
定する測定装置では、零点測定のために、しばしば被測
定物の連続供給を中断することとなり、高速測定の妨げ
となっていた。
って零点が変化した場合に、Ａ１℃、Ａ２℃、Ａ３℃に
おいて零点を測定して零点記憶回路１に更新記憶させた
とすると、Ａ１、Ａ２、Ａ３の中間におけるＡ”Ｃ１Ａ
“℃において誤差ＥＥ ｎが生じる。従ってこのような
Ｆ１４差を小さくするには、できるだけこきざみに小さ
い温度変化ごとに零点を測定し更新記憶させなければな
らない。このため高速度で多数の被測定物を連続的に測
定する測定装置では、零点測定のために、しばしば被測
定物の連続供給を中断することとなり、高速測定の妨げ
となっていた。
本発明は上記の欠点を改め、基準点の測定を上記のよう
にこきざみにしなくてもＷ４差がほとんど生じないよう
にした基準点補正装置を提供することを目的としている
。
にこきざみにしなくてもＷ４差がほとんど生じないよう
にした基準点補正装置を提供することを目的としている
。
以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。な
お、説明の都合上、定負荷状態にて測定したときの測定
値を基準点に対応させ、無負荷状態にて測定したときの
測定値を零点に対応させることとし、以下この零点を用
いて説明する。
お、説明の都合上、定負荷状態にて測定したときの測定
値を基準点に対応させ、無負荷状態にて測定したときの
測定値を零点に対応させることとし、以下この零点を用
いて説明する。
第３図は計Ｉ装置に適用した本発明の一実施例を示すプ
ロツク図である。
ロツク図である。
第３図において、１１は被測定物をのせるための秤量皿
、１２は計量器、１３は秤量皿を空にして零点を測定し
た場合の計量器１２の零点を記憶し、零点信号をホール
ドする零点ホールド回路である。１４はスイッチ１５が
閉成されたときに零点ホールド回路１３にホールドされ
た零点信号を記憶する口重点記憶回路、１６は零点ホー
ルド回路１３にホールドされた零点から口重点記憶回路
１４に記憶された口重点を減算する減算回路である。
、１２は計量器、１３は秤量皿を空にして零点を測定し
た場合の計量器１２の零点を記憶し、零点信号をホール
ドする零点ホールド回路である。１４はスイッチ１５が
閉成されたときに零点ホールド回路１３にホールドされ
た零点信号を記憶する口重点記憶回路、１６は零点ホー
ルド回路１３にホールドされた零点から口重点記憶回路
１４に記憶された口重点を減算する減算回路である。
１７は計量器１２の周囲温度に対応した信号を出力する
温度センサ、１８は温度センサ１７からの温度信号をホ
ールドする温度ホールド回路である。１９はスイッチ２
０がスイッチ１５と同期して閉成されたときに温度ホー
ルド回路１８にホールドされた温度信号を記憶する口温
度記憶回路、２１は温度ホールド回路１８にホールドさ
れた温度から口温度記憶回路１９に記憶された口温度を
減算する減算回路である。
温度センサ、１８は温度センサ１７からの温度信号をホ
ールドする温度ホールド回路である。１９はスイッチ２
０がスイッチ１５と同期して閉成されたときに温度ホー
ルド回路１８にホールドされた温度信号を記憶する口温
度記憶回路、２１は温度ホールド回路１８にホールドさ
れた温度から口温度記憶回路１９に記憶された口温度を
減算する減算回路である。
２２は、減算回路１６から出力される新零点と口重点と
の差を、減算回路２１から出力される新温度と口温度と
の差で除算して１℃当りの零点変化度を算出する除算回
路である。２３はスイッチ２４がスイッチ１５及び２ｏ
が同期して閉成されるより前に閉成されたとき除算回路
２２の出力信号（零点変化度）を記憶する零点変化度記
憶回路、２５は零点変化度記憶回路２３から出力される
零点変化度に減算回路２１から出力される新潟度と口温
度との差を乗算する乗算回路である。
の差を、減算回路２１から出力される新温度と口温度と
の差で除算して１℃当りの零点変化度を算出する除算回
路である。２３はスイッチ２４がスイッチ１５及び２ｏ
が同期して閉成されるより前に閉成されたとき除算回路
２２の出力信号（零点変化度）を記憶する零点変化度記
憶回路、２５は零点変化度記憶回路２３から出力される
零点変化度に減算回路２１から出力される新潟度と口温
度との差を乗算する乗算回路である。
２６は零点ホールド回路１３にホールドされた零点に乗
算回路２５の出力値を加算する加算回路、２７は計量器
１２から出力される測定信号から加算回路２６の出力値
を減算して零点補正を行なう減算回路、２８は減算回路
２７の出力信号に基づいて被測定物の重量を表示する表
示回路である。
算回路２５の出力値を加算する加算回路、２７は計量器
１２から出力される測定信号から加算回路２６の出力値
を減算して零点補正を行なう減算回路、２８は減算回路
２７の出力信号に基づいて被測定物の重量を表示する表
示回路である。
スイッチ１５．２０．２４はそれぞれタイミング信号Ｔ
Ｉ 、Ｔ２ 、Ｔｓによって閉成される。第４図はタイ
ミング信号Ｔｓ 、Ｔ２ 、Ｔｓ及び侵述するタイミン
グ信号Ｔｏの関係を示している。
Ｉ 、Ｔ２ 、Ｔｓによって閉成される。第４図はタイ
ミング信号Ｔｓ 、Ｔ２ 、Ｔｓ及び侵述するタイミン
グ信号Ｔｏの関係を示している。
次に上記実施例に°よる零点補正の動作を説明する。
零点変化度記憶回路２３には次のようにして零点変化度
がセットされる。
がセットされる。
即ち、まず秤量皿１１を空にし、このときの計量器１２
の出力値（零点）を例えば第４図に示すタイミングＴｏ
において記憶して、零点ホールド回路１３にホールドさ
せる。第５図に示すように温度変化に伴って零点が変化
したとし、この零点測定のときの温度が八１℃で計量器
１２の出力値（零点）が７１であるとする。スイッチ１
５及び２０を一時、同期して閉成させると、口重点記憶
回路１４に、零点ホールド回路１３にホールドされた零
点Ｚ１は記憶されると共に、温度ホールド回路１８にホ
ールドされた温度センサ１７からの温度値Ａ１℃が口温
度記憶回路１９に記憶される。
の出力値（零点）を例えば第４図に示すタイミングＴｏ
において記憶して、零点ホールド回路１３にホールドさ
せる。第５図に示すように温度変化に伴って零点が変化
したとし、この零点測定のときの温度が八１℃で計量器
１２の出力値（零点）が７１であるとする。スイッチ１
５及び２０を一時、同期して閉成させると、口重点記憶
回路１４に、零点ホールド回路１３にホールドされた零
点Ｚ１は記憶されると共に、温度ホールド回路１８にホ
ールドされた温度センサ１７からの温度値Ａ１℃が口温
度記憶回路１９に記憶される。
次に所定時間経過後、秤量皿１１を再び空にし、計量器
１２からの出力値（零点）を零点ホールド回路１３にホ
ールドする。第５図に示すようにこのときの温度がＡ２
℃で計量器１２の出力値（零点）が７２であるとすると
、このとき温度ホールド回路１８には温度センサ１７か
らの温度値Ａ２℃がホールドされている。従って減算回
路１６からは零点ホールド回路１３にホールドされた零
点ｚ２と口重点記憶回路１４に記憶された口重点２１と
の差Ｚ２−Ｚｓが出力される。一方、減算回路２１から
は温度ホールド回路１８にホールドされた温度Ａ２℃と
口温度Ａ１℃との差Ａ２−Ａｘが出力され、除算回路２
２は（Ｚｚ −Ｘｓ ）／（Ａ２−Ａｌ）を算出する。
１２からの出力値（零点）を零点ホールド回路１３にホ
ールドする。第５図に示すようにこのときの温度がＡ２
℃で計量器１２の出力値（零点）が７２であるとすると
、このとき温度ホールド回路１８には温度センサ１７か
らの温度値Ａ２℃がホールドされている。従って減算回
路１６からは零点ホールド回路１３にホールドされた零
点ｚ２と口重点記憶回路１４に記憶された口重点２１と
の差Ｚ２−Ｚｓが出力される。一方、減算回路２１から
は温度ホールド回路１８にホールドされた温度Ａ２℃と
口温度Ａ１℃との差Ａ２−Ａｘが出力され、除算回路２
２は（Ｚｚ −Ｘｓ ）／（Ａ２−Ａｌ）を算出する。
スイッチ２４がタイミング信号Ｔ３によって一時閉成さ
れると、除算回！２２（７）ｆｆｌ力１ （Ｚｔ −Ｚ
ｔ ） ／ （Ａ２−Ａｓ ）が零点変化度記憶回路２
３に記憶される。タイミング信号Ｔ３の直後にタイミン
グ信号Ｔｓ 、 Ｔ２が出力されてスイッチ１５及び２
０が同期して一時閉成され、零点ホールド回路１３にホ
ールドされた零点Ｚ２が口重点記憶回路１４に７１の代
りに記憶され、温度ホールド回路１８にホールドされた
温度値Ａ２が口温度記憶回路１９にＡ１の代りに記憶さ
れる。
れると、除算回！２２（７）ｆｆｌ力１ （Ｚｔ −Ｚ
ｔ ） ／ （Ａ２−Ａｓ ）が零点変化度記憶回路２
３に記憶される。タイミング信号Ｔ３の直後にタイミン
グ信号Ｔｓ 、 Ｔ２が出力されてスイッチ１５及び２
０が同期して一時閉成され、零点ホールド回路１３にホ
ールドされた零点Ｚ２が口重点記憶回路１４に７１の代
りに記憶され、温度ホールド回路１８にホールドされた
温度値Ａ２が口温度記憶回路１９にＡ１の代りに記憶さ
れる。
このようにして新たな零点（ｚ２）を測定したトキ零点
変化度（Ｚｔ −Ｚｔ ）／ （Ａ２−Ａｔ ）が零点
変化度記憶回路２３にセットされ、乗算回路２５へ出力
される。そして、その後の被測定物の測定において温度
が零点ｚ２の測定時の温度Ａ２から変化しない間は、温
度ホールド回路１８にはＡ２℃がホールドされ、口温度
記憶回路１９にもＡ２℃が記憶されているので、減算回
路２１の出力値はＡ２−Ａｔ ＝０であるため、乗算回
路２５の出力値は（（Ｚｔ −Ｚｔ ）／ （Ａ２−Ａ
１））×０−０となる。従って、加算回路２６の出力値
は零点ホールド回路１３の出力値ｚ２と乗算回路２５（
Ｆ）ｆｆｌ力１ｉ（ｌヲ加算した値２２ ＋０＝２２と
なる。そして、この値Ｚ２が被測定物を秤量皿１１にの
せた場合の計量器１２の出力値から減算回路２７で減算
されてＩＭを表わす信号として表示回路２８へ出力され
る。
変化度（Ｚｔ −Ｚｔ ）／ （Ａ２−Ａｔ ）が零点
変化度記憶回路２３にセットされ、乗算回路２５へ出力
される。そして、その後の被測定物の測定において温度
が零点ｚ２の測定時の温度Ａ２から変化しない間は、温
度ホールド回路１８にはＡ２℃がホールドされ、口温度
記憶回路１９にもＡ２℃が記憶されているので、減算回
路２１の出力値はＡ２−Ａｔ ＝０であるため、乗算回
路２５の出力値は（（Ｚｔ −Ｚｔ ）／ （Ａ２−Ａ
１））×０−０となる。従って、加算回路２６の出力値
は零点ホールド回路１３の出力値ｚ２と乗算回路２５（
Ｆ）ｆｆｌ力１ｉ（ｌヲ加算した値２２ ＋０＝２２と
なる。そして、この値Ｚ２が被測定物を秤量皿１１にの
せた場合の計量器１２の出力値から減算回路２７で減算
されてＩＭを表わす信号として表示回路２８へ出力され
る。
そして温度がＡ２℃より上昇してＡ”Ｃになったとする
と、温度ホールド回路１８からはＡ′が出力されるので
、減算回路２１からは（Ａ’ −Ａ２）が乗算回路２５
へ出力される。このため乗算回路２５か１３４ｔ （（
Ｚｔ−Ｚｘ ）／ ＜Ａ２−Ａｌ ））Ｘ （Ａ’ −
Ａ２ ）が出力される。第５図に示すように（Ｚｔ−Ｚ
ｘ ）／ （Ａ２−Ａｓ ） はＰ点とＱ点とを結ぶ直
線の傾きを表わしているから、（（Ｚａ −Ｚｌ ）／
（Ａ２−ＡＩ））Ｘ （Ａ’Ａ２）は、直線ＰＱの延
長線とＡ′を通る縦線との交点Ｒと、Ｑを通る横線とＡ
′を通る縦線との交点■とを結ぶ直線の長さＲＶを表わ
している。
と、温度ホールド回路１８からはＡ′が出力されるので
、減算回路２１からは（Ａ’ −Ａ２）が乗算回路２５
へ出力される。このため乗算回路２５か１３４ｔ （（
Ｚｔ−Ｚｘ ）／ ＜Ａ２−Ａｌ ））Ｘ （Ａ’ −
Ａ２ ）が出力される。第５図に示すように（Ｚｔ−Ｚ
ｘ ）／ （Ａ２−Ａｓ ） はＰ点とＱ点とを結ぶ直
線の傾きを表わしているから、（（Ｚａ −Ｚｌ ）／
（Ａ２−ＡＩ））Ｘ （Ａ’Ａ２）は、直線ＰＱの延
長線とＡ′を通る縦線との交点Ｒと、Ｑを通る横線とＡ
′を通る縦線との交点■とを結ぶ直線の長さＲＶを表わ
している。
従って加算回路２６からは零点ホールド回路１３の出力
値ｚ２に長さＲＶを加算した加算結果２′が出力される
。このため従来では前回測定した零点ｚ２を零点として
出力していたのに対し、実際の零点の変化に追随したＺ
′が零点として出力されることになる。
値ｚ２に長さＲＶを加算した加算結果２′が出力される
。このため従来では前回測定した零点ｚ２を零点として
出力していたのに対し、実際の零点の変化に追随したＺ
′が零点として出力されることになる。
またＡ２℃より温度が下がって例えばＡ“℃になると、
減弊回路２１は負の値（Ａ”−Ａ２ ）となるから、乗
算回路２５の出力値（（Ｚｔ −Ｚｔ ）／ （Ａ２−
Ａｔ ＞ ） Ｘ （Ａ“＝Ａ２ ）は負の値となり、
加算回路２６からはｚ２より下がった２”の値が出力さ
れる。
減弊回路２１は負の値（Ａ”−Ａ２ ）となるから、乗
算回路２５の出力値（（Ｚｔ −Ｚｔ ）／ （Ａ２−
Ａｔ ＞ ） Ｘ （Ａ“＝Ａ２ ）は負の値となり、
加算回路２６からはｚ２より下がった２”の値が出力さ
れる。
このように、この回路によれば前回と前々回の二回の零
点測定によって零点変化の傾きがセットされ、温度変化
に追随したＷ＋差の少ない零点が加棹回路２６から出力
されることになる。
点測定によって零点変化の傾きがセットされ、温度変化
に追随したＷ＋差の少ない零点が加棹回路２６から出力
されることになる。
そして、次に零点測定を行なって例えばＡ３℃で零点が
７３だとすると、同様にして零点変化度記憶回路２３ｋ
ｌ：ハ（Ｚａ −Ｚｚ ）／ （Ａ３−Ａ２ ）が記憶
され、口温度記憶回路１９にはＡ３℃が記憶され、Ｒと
Ｗを結ぶ直線の傾きに基づいて温度変化に追随させた乗
算回路２５の出力値がＺａに加算回路２６で加算される
。
７３だとすると、同様にして零点変化度記憶回路２３ｋ
ｌ：ハ（Ｚａ −Ｚｚ ）／ （Ａ３−Ａ２ ）が記憶
され、口温度記憶回路１９にはＡ３℃が記憶され、Ｒと
Ｗを結ぶ直線の傾きに基づいて温度変化に追随させた乗
算回路２５の出力値がＺａに加算回路２６で加算される
。
なお、上記実施例では温度変化を基準に零点補正する場
合を説明したが、零点が経時変化する場合には測定回数
を基準として行なってもよい。即ち、この場合は第６図
に示すように計量測定の回数をカウントするカウンタ３
１の出力をスイッチ３２を介して旧回数記憶回路３３に
記憶させ、前々回の零点測定のときのカウンタ３１の出
力Ｂｊを旧回数記憶回路３３に記憶させ、前回の零点測
定のときのカウンタ３１の出力Ｂ２との差（８２−８１
）を減算回路２１から出力させる。前々回測定の零点が
Ｚｘ、前回測定の零点が７２とすると、除算回路２２か
らは（Ｚｔ−Ｚｔ ）／ （Ｂ２−Ｂｓ ）が出力され
、この値が零点変化度記憶回路２３にセットされ、旧回
数記憶回路３３にはＢ２が記憶される。
合を説明したが、零点が経時変化する場合には測定回数
を基準として行なってもよい。即ち、この場合は第６図
に示すように計量測定の回数をカウントするカウンタ３
１の出力をスイッチ３２を介して旧回数記憶回路３３に
記憶させ、前々回の零点測定のときのカウンタ３１の出
力Ｂｊを旧回数記憶回路３３に記憶させ、前回の零点測
定のときのカウンタ３１の出力Ｂ２との差（８２−８１
）を減算回路２１から出力させる。前々回測定の零点が
Ｚｘ、前回測定の零点が７２とすると、除算回路２２か
らは（Ｚｔ−Ｚｔ ）／ （Ｂ２−Ｂｓ ）が出力され
、この値が零点変化度記憶回路２３にセットされ、旧回
数記憶回路３３にはＢ２が記憶される。
従って以後の計量測定において零点変化度記憶回路２３
にセットされた値に以後の計量測定回数を８２で除した
値を乗算してＺ２に加算回路２６で加算する。
にセットされた値に以後の計量測定回数を８２で除した
値を乗算してＺ２に加算回路２６で加算する。
なお、上記実施例では、零点変化度を用いて零点補正す
る場合を説明したが、これを零点変化の変化度を用いて
零点補正を行なえば、更に精度の良い零点補正ができる
。
る場合を説明したが、これを零点変化の変化度を用いて
零点補正を行なえば、更に精度の良い零点補正ができる
。
第８図はこのような零点補正の場合を示すブロック図、
第９図はタイミング信号Ｔｏ、Ｔｔ、Ｔｔ 、Ｔｓ 、
Ｔ４の関係を示す。第８図で減算回路１６、除算回路２
２、スイッチ２４、零点変化度記憶回路２３、乗算回路
２５とそれぞれ同様な構成で同様な作用をする減算回路
４１、除算回８４２、スイッチ４３、零点変化の変化度
記憶回路４４、乗算回ｌ！Ｉ４５を設けることによって
、零点変化の変化度を用いて零点補正ができる。これら
詳細は上述した説明から明らかであるので、その詳細な
説明は省略する。
第９図はタイミング信号Ｔｏ、Ｔｔ、Ｔｔ 、Ｔｓ 、
Ｔ４の関係を示す。第８図で減算回路１６、除算回路２
２、スイッチ２４、零点変化度記憶回路２３、乗算回路
２５とそれぞれ同様な構成で同様な作用をする減算回路
４１、除算回８４２、スイッチ４３、零点変化の変化度
記憶回路４４、乗算回ｌ！Ｉ４５を設けることによって
、零点変化の変化度を用いて零点補正ができる。これら
詳細は上述した説明から明らかであるので、その詳細な
説明は省略する。
なお、上記実施例では重量測定装置の場合について説明
したが、長さ、流量などの測定装膠にも適用できること
は勿論である。
したが、長さ、流量などの測定装膠にも適用できること
は勿論である。
以上説明したように本発明の基準点補正装置では、温度
変化又は測定回数に追随して自動的に変化させて基準点
を補正させるようにしたので、基＊！：ａｍ定をこきざ
みに行なわなくても測定誤差をなくすることができる。
変化又は測定回数に追随して自動的に変化させて基準点
を補正させるようにしたので、基＊！：ａｍ定をこきざ
みに行なわなくても測定誤差をなくすることができる。
第１図は従来の零点補正装置を示すブロック図、第２図
は温度による零点の変動の一例を示すグラフ、第３図は
本発明め一実施例を示すブロック図、第４図はタイミン
グ信号を示すタイムチャート、第５図は本発明の一実施
例による零点補正の原理を説明するためのクラブ、第６
図は本発明の他の実施例を示すブロック図、第７図は第
６図に示す実施例の感度補正の原理を説明するためのグ
ラフである。第８図は本発明の更に他の実施例を示すブ
ロック図、第９図はタイミング信号を示すタイムチャー
トである。 １・・・・・・零点記憶回路、２・・・・・・測定器、
３・・・・・・減算回路、１１・・・・・・秤１皿、１
２・・・・・・計量ｉｌ！、１３・・・・・・零点ホー
ルド回路、１４・・・・・・口重点記憶回路、１５・・
・・・・スイッチ、１６・・・・・・減算回路、１７−
−−−−−温度センサ、１８・・・・・・温度ホールド
回路、１９・・・・・・口温度記憶回路、２０・・・・
・・スイッチ、２１−−−−−−減算回路、２２・・・
・・・除算回路、２３・・・・・・°零点変化度記憶回
路、２４・・・・・・スイッチ、２５・・・・・・乗算
回路、２６・・・・・・加算回路、２７・・・・・・減
算回路、２８・・・・・・表示回路、３１・・・・・・
カウンタ、３２・・・・・・スイッチ、３３・・・・・
・旧回数記憶回路。 特許出願人 アンリツ株式会社 代理人 弁理士 早 川 誠 志 第 曹 履 第 第 図 第 図 第
は温度による零点の変動の一例を示すグラフ、第３図は
本発明め一実施例を示すブロック図、第４図はタイミン
グ信号を示すタイムチャート、第５図は本発明の一実施
例による零点補正の原理を説明するためのクラブ、第６
図は本発明の他の実施例を示すブロック図、第７図は第
６図に示す実施例の感度補正の原理を説明するためのグ
ラフである。第８図は本発明の更に他の実施例を示すブ
ロック図、第９図はタイミング信号を示すタイムチャー
トである。 １・・・・・・零点記憶回路、２・・・・・・測定器、
３・・・・・・減算回路、１１・・・・・・秤１皿、１
２・・・・・・計量ｉｌ！、１３・・・・・・零点ホー
ルド回路、１４・・・・・・口重点記憶回路、１５・・
・・・・スイッチ、１６・・・・・・減算回路、１７−
−−−−−温度センサ、１８・・・・・・温度ホールド
回路、１９・・・・・・口温度記憶回路、２０・・・・
・・スイッチ、２１−−−−−−減算回路、２２・・・
・・・除算回路、２３・・・・・・°零点変化度記憶回
路、２４・・・・・・スイッチ、２５・・・・・・乗算
回路、２６・・・・・・加算回路、２７・・・・・・減
算回路、２８・・・・・・表示回路、３１・・・・・・
カウンタ、３２・・・・・・スイッチ、３３・・・・・
・旧回数記憶回路。 特許出願人 アンリツ株式会社 代理人 弁理士 早 川 誠 志 第 曹 履 第 第 図 第 図 第
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定物を定負荷状態にて測定したときの測定値を記憶
する基準値記憶回路と、 該基準値記憶回路に記憶された基準値と、所定の時間経
過後の定負荷状態の被測定物の測定値との差を算出する
第１の減算回路と、 前記第１の減算回路から出力される基準値の差を経過時
間差値によつて除算する除算回路と、前記除算回路の出
力値を記憶する基準値変化度記憶回路と、 前記基準値変化度記憶回路に記憶された基準値変化度に
経過時間差値を乗算する乗算回路と、前記乗算回路の出
力値を前記基準値記憶回路に記憶された基準値に加算す
る加算回路と、 前記測定値から前記加算回路の出力値を減算して基準値
を補正する第２の減算回路と を具備する基準点補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1147364A JPH0228516A (ja) | 1989-06-10 | 1989-06-10 | 基準点補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1147364A JPH0228516A (ja) | 1989-06-10 | 1989-06-10 | 基準点補正装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58187593A Division JPS6079224A (ja) | 1983-10-06 | 1983-10-06 | 基準点補正装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4112292A Division JPH0658237B2 (ja) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | 基準点補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0228516A true JPH0228516A (ja) | 1990-01-30 |
| JPH0560043B2 JPH0560043B2 (ja) | 1993-09-01 |
Family
ID=15428540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1147364A Granted JPH0228516A (ja) | 1989-06-10 | 1989-06-10 | 基準点補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0228516A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0616197A1 (de) * | 1993-03-19 | 1994-09-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Kalibrieren von Messgeräten und Messgerät mit einer Steuereinheit zur Durchführung des Verfahrens |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54139572A (en) * | 1978-03-27 | 1979-10-30 | Babcock Hitachi Kk | Automatic proofreading device of analysis meter |
| JPS5760217A (en) * | 1980-09-30 | 1982-04-12 | Toshiba Corp | Compensating device for measured value |
| JPS5819587A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 計算機用時計 |
-
1989
- 1989-06-10 JP JP1147364A patent/JPH0228516A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54139572A (en) * | 1978-03-27 | 1979-10-30 | Babcock Hitachi Kk | Automatic proofreading device of analysis meter |
| JPS5760217A (en) * | 1980-09-30 | 1982-04-12 | Toshiba Corp | Compensating device for measured value |
| JPS5819587A (ja) * | 1981-07-27 | 1983-02-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 計算機用時計 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0616197A1 (de) * | 1993-03-19 | 1994-09-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Kalibrieren von Messgeräten und Messgerät mit einer Steuereinheit zur Durchführung des Verfahrens |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0560043B2 (ja) | 1993-09-01 |
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