JPH02208830A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
- Publication number
- JPH02208830A JPH02208830A JP1029073A JP2907389A JPH02208830A JP H02208830 A JPH02208830 A JP H02208830A JP 1029073 A JP1029073 A JP 1029073A JP 2907389 A JP2907389 A JP 2907389A JP H02208830 A JPH02208830 A JP H02208830A
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- JP
- Japan
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- signal
- peak position
- pulses
- recording
- optical disk
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は情報記録再生装置に係るもので、特に相変化書
換型光ディスクにレーザ光を照射して情報を繰り返し記
録再生する光ディスク装置に関する。
換型光ディスクにレーザ光を照射して情報を繰り返し記
録再生する光ディスク装置に関する。
従来の技術
近年レーザ光を1μm程度に絞って光ディスクに情報を
繰り返し記録し再生することが行なわれている。
繰り返し記録し再生することが行なわれている。
第4図は従来の光ディスク装置のブロック図である。第
4図において、1は情報を繰り返し記録再生する相変化
書換型の光ディスク、2は光ディスクに光ビームを集光
して情報を記録再生する光学ヘッド、3は信号の変化点
をパルス化するエツジ検出回路、4は光学ヘッド2に内
蔵された半導体レーザを記録パワーと消去パワーで駆動
する半導体レーザ駆動回路、5は光学ヘッド2からの微
弱な信号を増幅するプリアンプ、6はビットの有無を判
断する振幅検出回路、7は再生信号から情報を抽出する
ピーク位置検出回路、100はNRZデータ、101は
ライトデータ、102は半導体レーザ駆動信号、103
は再生信号、104は比較電圧V、105は振幅検出信
号、106はリードデータである。
4図において、1は情報を繰り返し記録再生する相変化
書換型の光ディスク、2は光ディスクに光ビームを集光
して情報を記録再生する光学ヘッド、3は信号の変化点
をパルス化するエツジ検出回路、4は光学ヘッド2に内
蔵された半導体レーザを記録パワーと消去パワーで駆動
する半導体レーザ駆動回路、5は光学ヘッド2からの微
弱な信号を増幅するプリアンプ、6はビットの有無を判
断する振幅検出回路、7は再生信号から情報を抽出する
ピーク位置検出回路、100はNRZデータ、101は
ライトデータ、102は半導体レーザ駆動信号、103
は再生信号、104は比較電圧V、105は振幅検出信
号、106はリードデータである。
光学へラド2の光ビームは、ライトデータ101により
半導体レーザ駆動回路4で変調されて、指定のセクタに
以前に記録された信号の消去を行いながら同時に新しく
データを記録する、いわゆるオーバーライドを行なう、
また、光ディスクl上に記録された信号は、反射光の変
化として光学へラド2で検出され、プリアンプ5で増幅
される。
半導体レーザ駆動回路4で変調されて、指定のセクタに
以前に記録された信号の消去を行いながら同時に新しく
データを記録する、いわゆるオーバーライドを行なう、
また、光ディスクl上に記録された信号は、反射光の変
化として光学へラド2で検出され、プリアンプ5で増幅
される。
さらにピーク位置検出回路により再生信号103のピー
ク位置が検出されてリードデータ106となる。
ク位置が検出されてリードデータ106となる。
以上のように構成された光ディスク装置について第5図
(a)〜(i)に示す波形図を参照しながら、その動作
を詳しく説明する。
(a)〜(i)に示す波形図を参照しながら、その動作
を詳しく説明する。
第5図(a)はNRZデータ100で、エツジ検出回路
3により第5図(ロ)に示すパルスのエツジの位置情報
を持つライトデータ101に変換される。
3により第5図(ロ)に示すパルスのエツジの位置情報
を持つライトデータ101に変換される。
第5図(C)は半導体レーザ駆動信号102の波形であ
る。半導体レーザ駆動信号102は、固相で消去する場
合を示していて、前に記録された信号のピントを消去パ
ワーPeで消去しながら記録パワー P wで新しいビ
ット第5図(ロ)を記録する。再生時には再生パワーP
rで半導体レーザを直流発光させ記録ビットからの反射
光の変化を光学ヘッド2で検出し、プリアンプ5で増幅
されて第5図(e)に示す再生信号103となる。第5
図(a)に示したNRZデータ100のエツジの位置情
報は再生信号103のピーク位置に現れている。このピ
ーク位置を検出するためピーク位置検出回路5では次の
ような処理を行なう。まず、再生信号を微分し微分信号
第5図(0を得る。この微分信号第5図(f)を交流的
零レベルで比較して、零交差信号第5図(2)を得る。
る。半導体レーザ駆動信号102は、固相で消去する場
合を示していて、前に記録された信号のピントを消去パ
ワーPeで消去しながら記録パワー P wで新しいビ
ット第5図(ロ)を記録する。再生時には再生パワーP
rで半導体レーザを直流発光させ記録ビットからの反射
光の変化を光学ヘッド2で検出し、プリアンプ5で増幅
されて第5図(e)に示す再生信号103となる。第5
図(a)に示したNRZデータ100のエツジの位置情
報は再生信号103のピーク位置に現れている。このピ
ーク位置を検出するためピーク位置検出回路5では次の
ような処理を行なう。まず、再生信号を微分し微分信号
第5図(0を得る。この微分信号第5図(f)を交流的
零レベルで比較して、零交差信号第5図(2)を得る。
この零交差信号第5図(2)には、再生信号のピーク位
置に対応する零交差点以外に、記録ビット間で無数の零
交差点が発生する0本来のピーク位置に対応する点のみ
を抜き出すため、再生信号に対して振幅検出を行なう、
すなわち、第5図(e)に示す再生信号を比較電圧■で
比較して振幅検出信号第5図(ロ)を得、零交差信号第
5図((至)との論理積をとれば、第5図0)に示すよ
うに再生信号のピーク位置のみを下がりエツジとして取
り出すことができる。これがリードデータ106となる
。
置に対応する零交差点以外に、記録ビット間で無数の零
交差点が発生する0本来のピーク位置に対応する点のみ
を抜き出すため、再生信号に対して振幅検出を行なう、
すなわち、第5図(e)に示す再生信号を比較電圧■で
比較して振幅検出信号第5図(ロ)を得、零交差信号第
5図((至)との論理積をとれば、第5図0)に示すよ
うに再生信号のピーク位置のみを下がりエツジとして取
り出すことができる。これがリードデータ106となる
。
比較電圧Vは固定直流電圧または再生信号の振幅変動に
追従する浮動しきい値で再生信号振幅に対する割合は固
定である。
追従する浮動しきい値で再生信号振幅に対する割合は固
定である。
発明が解決しようとする課題
光ディスク上の同一場所に操り返し記録すると徐々に前
に記録したビットが完全に消去されなくなり、再生信号
に消し残りとなって現われてくる。
に記録したビットが完全に消去されなくなり、再生信号
に消し残りとなって現われてくる。
第6図(a)は消し残りが現われた再往信号である。
この消し残りが比較電圧Vより太き(なるとり−ドデー
タ第6図軸)には、誤ワたパルスが発生し、再生情報に
ビットエラーを引き起こす、また再生信号には第6図(
C)に示すようにビット単位での振幅の不揃いが起きる
ことがある。これは光ディスク上に付着した、あるいは
光ディスク内に存在するごみ、異物等によるものである
。これらによって生じる振幅の不揃いが電圧■より小さ
くなると振幅検出信号が得られな、くなるため、パルス
の欠落が生じやはりビットエラーになる。
タ第6図軸)には、誤ワたパルスが発生し、再生情報に
ビットエラーを引き起こす、また再生信号には第6図(
C)に示すようにビット単位での振幅の不揃いが起きる
ことがある。これは光ディスク上に付着した、あるいは
光ディスク内に存在するごみ、異物等によるものである
。これらによって生じる振幅の不揃いが電圧■より小さ
くなると振幅検出信号が得られな、くなるため、パルス
の欠落が生じやはりビットエラーになる。
しかしながら上記の構成では、比較電圧■は固定直流電
圧値もしくは振幅に対する固定割合値であるため、電圧
Vが低いと消し残りによりリードデータに誤ったパルス
が発生し、逆に比較電圧Vが高いと振幅の不揃いにより
リードデータにパルスの欠落が生じる。比較電圧Vには
最適な固定値あるいは固定割合値は存在せず、ビットエ
ラーが発生し易いと言う問題点があった。
圧値もしくは振幅に対する固定割合値であるため、電圧
Vが低いと消し残りによりリードデータに誤ったパルス
が発生し、逆に比較電圧Vが高いと振幅の不揃いにより
リードデータにパルスの欠落が生じる。比較電圧Vには
最適な固定値あるいは固定割合値は存在せず、ビットエ
ラーが発生し易いと言う問題点があった。
本発明は上記問題点に鑑み、光ディスク上の同一場所に
繰り返し記録されることにより生じる消し残りや、光デ
ィスク上あるいは光ディスク内に存在するごみがあって
もビットエラーが生じにくい光ディスク装置を提供する
ものである。
繰り返し記録されることにより生じる消し残りや、光デ
ィスク上あるいは光ディスク内に存在するごみがあって
もビットエラーが生じにくい光ディスク装置を提供する
ものである。
課題を解決するための手段
上記問題点を解決するため本発明は、記録信号の先頭に
一定個数のランダムパターンパルスを追加した信号を光
ディスクに記録する手段と、再生信号を複数の比較電圧
で比較して複数の振幅検出信号を得る手段と、複数の振
幅検出信号を用いて再生信号のピーク点を抽出した複数
のピーク位置信号を得る手段と、複数のピーク位置信号
のうちのひとつを選択する手段と、ランダムパターンパ
ルスが記録された領域のピーク位置信号のパルス数を計
数する手段という構成を備えたものである。
一定個数のランダムパターンパルスを追加した信号を光
ディスクに記録する手段と、再生信号を複数の比較電圧
で比較して複数の振幅検出信号を得る手段と、複数の振
幅検出信号を用いて再生信号のピーク点を抽出した複数
のピーク位置信号を得る手段と、複数のピーク位置信号
のうちのひとつを選択する手段と、ランダムパターンパ
ルスが記録された領域のピーク位置信号のパルス数を計
数する手段という構成を備えたものである。
作用
本発明は上記した構成によって、記録したパルス数がわ
かっている領域の再生信号に対し複数の比較電圧から得
たピーク位置信号のパルスを計数して記録したパルス数
と比較し、両者の差の絶対値が最小となるものを選んで
リードデータとなるピーク位置信号を選択することによ
り常に最適の比較電圧を得ることができる。
かっている領域の再生信号に対し複数の比較電圧から得
たピーク位置信号のパルスを計数して記録したパルス数
と比較し、両者の差の絶対値が最小となるものを選んで
リードデータとなるピーク位置信号を選択することによ
り常に最適の比較電圧を得ることができる。
実施例
以下本発明の一実施例の光ディスク装置について、図面
を参照しながら説明する。第1図は本発明の一実施例に
おける光ディスク装置のブロック図を示すものである。
を参照しながら説明する。第1図は本発明の一実施例に
おける光ディスク装置のブロック図を示すものである。
第1図で、第4図と同じ番号を付けたものは同じものを
示す、8は記録信号の先頭に一定個数のランダムパター
ンパルスを追加するパルス付加回路である。9は振幅検
出回路でN個(N≧2)設けるがここではN−6を例に
とりて説明する。10はピーク検出回路、11はピーク
位置信号のパルス数を計数するカウンタで、振幅検出回
路と同様にN個設けている。12はリードデータ選択回
路で、ピーク検出回路から送られるN個のピーク位置信
号からひとつを選択し、リードデータとして送出する。
示す、8は記録信号の先頭に一定個数のランダムパター
ンパルスを追加するパルス付加回路である。9は振幅検
出回路でN個(N≧2)設けるがここではN−6を例に
とりて説明する。10はピーク検出回路、11はピーク
位置信号のパルス数を計数するカウンタで、振幅検出回
路と同様にN個設けている。12はリードデータ選択回
路で、ピーク検出回路から送られるN個のピーク位置信
号からひとつを選択し、リードデータとして送出する。
以上のように構成された光ディスク装置について、以下
第1図のブロック図及び第2図、第3図に示す波形図を
用いてその動作を説明する。
第1図のブロック図及び第2図、第3図に示す波形図を
用いてその動作を説明する。
第2図はランダムパターンパルスが付加されたライトデ
ータ107である。BはNRZデータ100のエツジを
取り出した記録信号107でその先頭にランダムパター
ンパルスが付加されている。このランダムパターンは光
ディスクにデータを記録するたびにパターンがランダム
に変化する信号で、付加されるパルス数は常に一定であ
る。
ータ107である。BはNRZデータ100のエツジを
取り出した記録信号107でその先頭にランダムパター
ンパルスが付加されている。このランダムパターンは光
ディスクにデータを記録するたびにパターンがランダム
に変化する信号で、付加されるパルス数は常に一定であ
る。
記録パターンが一定であると光ディスク上では常に同じ
位置にピットが形成されるため消し残りが現われなくな
ってしまうため、記録のたびにランダムなパターンを発
生してやる必要がある。このライトデータ107により
光ビームが半導体レーザ駆動回路で変調されて光ディス
クl上の指定のセクタにオーバーライドされる。
位置にピットが形成されるため消し残りが現われなくな
ってしまうため、記録のたびにランダムなパターンを発
生してやる必要がある。このライトデータ107により
光ビームが半導体レーザ駆動回路で変調されて光ディス
クl上の指定のセクタにオーバーライドされる。
光ディスク1上に記録された信号は、反射光の変化とし
て光学ヘッド2で検出され、プリアンプ5で増幅されて
再生信号となる。セクタ単位で記録されているから、各
セクタの先頭はランダムパターンの再生信号である。こ
の再生信号は、各々異なる比較電圧を有する6個の振幅
検出回路9に入力される。比較電圧は第3図(a)に示
すように例えばVtを最も低く、v6を最も高く設定し
ておく。■1〜v6の6個の比較電圧で同時に比較する
ことにより6種類の振幅検出信号を得る。繰り返し記録
したことによる消し残りのため、v1■2から得た振幅
検出信号は本来の記録ピット以外のところに、検出パル
スが存在している。逆にv6から得たta幅検出信号は
再生信号振幅の不揃いのため、記録ピットがあるにもか
かわらず検出パルスの欠落が起きている。これら6種類
の振幅検出信号を用いて各々別のピーク位置検出回路に
より、再生信号のピーク位置を検出する。従って比較レ
ベルVl、V2から得たピーク位置信号には第3図(b
)に示すように本来の記録ピットに対応した再生信号の
ピーク位置以外にパルスが発生し、v6から得たピーク
位置信号には第3図(C)に示すようにピーク位置でパ
ルスが欠落してしまう。
て光学ヘッド2で検出され、プリアンプ5で増幅されて
再生信号となる。セクタ単位で記録されているから、各
セクタの先頭はランダムパターンの再生信号である。こ
の再生信号は、各々異なる比較電圧を有する6個の振幅
検出回路9に入力される。比較電圧は第3図(a)に示
すように例えばVtを最も低く、v6を最も高く設定し
ておく。■1〜v6の6個の比較電圧で同時に比較する
ことにより6種類の振幅検出信号を得る。繰り返し記録
したことによる消し残りのため、v1■2から得た振幅
検出信号は本来の記録ピット以外のところに、検出パル
スが存在している。逆にv6から得たta幅検出信号は
再生信号振幅の不揃いのため、記録ピットがあるにもか
かわらず検出パルスの欠落が起きている。これら6種類
の振幅検出信号を用いて各々別のピーク位置検出回路に
より、再生信号のピーク位置を検出する。従って比較レ
ベルVl、V2から得たピーク位置信号には第3図(b
)に示すように本来の記録ピットに対応した再生信号の
ピーク位置以外にパルスが発生し、v6から得たピーク
位置信号には第3図(C)に示すようにピーク位置でパ
ルスが欠落してしまう。
6種類のピーク位置信号はカウンタllaからカウンタ
llfで各々そのパルス数が計数される。
llfで各々そのパルス数が計数される。
計数結果とピーク位置信号がリードデータ選択回路12
に入力される。各セクタの先頭にあるランダムパターン
は予め記録されたパルス数がわかっているから記録パル
ス数とピーク位置信号のパルス計数値とを比較し、両者
の差の絶対値が最小になるようなピーク位置信号を選択
する。候補が複数存在するときは、どの比較電圧から得
たピーク位置信号を選択するか予め決めておく0例えば
、候補の中で最も低い比較電圧から得たものを選択する
、あるいは候補の中で最も高い比較電圧から得たものを
選択する、などである0本実施例では、中間となる比較
電圧から得たピーク位置信号を選択するようにしている
。従って、比較電圧v4から得たピーク位置信号、即ち
ピーク検出回路10dから出力されたピーク位置信号が
選択される。ランダムパターンの後に続く再生信号に対
してはこのピーク位置信号がリードデータとなる。
に入力される。各セクタの先頭にあるランダムパターン
は予め記録されたパルス数がわかっているから記録パル
ス数とピーク位置信号のパルス計数値とを比較し、両者
の差の絶対値が最小になるようなピーク位置信号を選択
する。候補が複数存在するときは、どの比較電圧から得
たピーク位置信号を選択するか予め決めておく0例えば
、候補の中で最も低い比較電圧から得たものを選択する
、あるいは候補の中で最も高い比較電圧から得たものを
選択する、などである0本実施例では、中間となる比較
電圧から得たピーク位置信号を選択するようにしている
。従って、比較電圧v4から得たピーク位置信号、即ち
ピーク検出回路10dから出力されたピーク位置信号が
選択される。ランダムパターンの後に続く再生信号に対
してはこのピーク位置信号がリードデータとなる。
以上のように、ランダムパターンパルス記録領域で最適
な比較電圧を選ぶことが可能である。
な比較電圧を選ぶことが可能である。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、繰り返し記録によ
る消し残りや再生信号振幅の不揃いがあっても、リード
データ中で誤パルスの発生やパルスの欠落を最少に抑え
ること、即ちビットエラーを最少に抑えることができ、
光ディスク装置の信幀性を高めることができるので、実
用的効果は大きい。
る消し残りや再生信号振幅の不揃いがあっても、リード
データ中で誤パルスの発生やパルスの欠落を最少に抑え
ること、即ちビットエラーを最少に抑えることができ、
光ディスク装置の信幀性を高めることができるので、実
用的効果は大きい。
第1図は本発明の一実施例における光ディスク装置のブ
ロック図、第2図、第3図は第1図の動作を示す波形図
、第4図は従来の光ディスク装置のブロック図、第5図
、第6図は第4図の動作を示す波形図である。 l・・・・・・光ディスク、2・旧・・光学ヘッド、8
・・・・・・ランダムパルス付加回路、9・・・・・・
振幅検出回路、10・・・・・・ピーク検出回路、11
・旧・・カウンタ、12・・・・・・リードデータ選択
回路。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名転 酩 第 図 第 図 (9)姫I確舌 (j)IJ−D”−ダ
ロック図、第2図、第3図は第1図の動作を示す波形図
、第4図は従来の光ディスク装置のブロック図、第5図
、第6図は第4図の動作を示す波形図である。 l・・・・・・光ディスク、2・旧・・光学ヘッド、8
・・・・・・ランダムパルス付加回路、9・・・・・・
振幅検出回路、10・・・・・・ピーク検出回路、11
・旧・・カウンタ、12・・・・・・リードデータ選択
回路。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名転 酩 第 図 第 図 (9)姫I確舌 (j)IJ−D”−ダ
Claims (1)
- パルスの間隔に情報が存在するように変調して得た記録
信号の先頭に、一定個数のランダムパターンパルスを追
加した信号を、セクタ単位で光ディスクに記録する手段
と、光ディスクから再生信号を得る手段と、前記再生信
号を複数の比較電圧で同時に比較して複数の振幅検出信
号を得る手段と、前記複数の振幅検出信号を用いて前記
再生信号のピーク位置を検出した複数のピーク位置信号
を得る手段と、前記複数のピーク位置信号のうちのひと
つを選択する手段と、前記ランダムパターンパルスが記
録された領域の前記複数のピーク位置信号のパルス数を
計数する手段とを備え、記録時に追加したランダムパタ
ーンパルスの個数と前記ピーク位置信号のパルス数の計
数値の差の絶対値が最小になる比較電圧から得た振幅検
出信号を用いたピーク位置信号を再生信号に対する読み
出しデータとすることを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1029073A JPH02208830A (ja) | 1989-02-08 | 1989-02-08 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1029073A JPH02208830A (ja) | 1989-02-08 | 1989-02-08 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02208830A true JPH02208830A (ja) | 1990-08-20 |
Family
ID=12266178
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1029073A Pending JPH02208830A (ja) | 1989-02-08 | 1989-02-08 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02208830A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6314427A (ja) * | 1986-07-07 | 1988-01-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マスク装置 |
| JPS63239655A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録再生装置 |
-
1989
- 1989-02-08 JP JP1029073A patent/JPH02208830A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6314427A (ja) * | 1986-07-07 | 1988-01-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マスク装置 |
| JPS63239655A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 情報記録再生装置 |
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