JPH02213740A - 磁気ディスクの摩擦摩耗試験装置 - Google Patents
磁気ディスクの摩擦摩耗試験装置Info
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- JPH02213740A JPH02213740A JP3557489A JP3557489A JPH02213740A JP H02213740 A JPH02213740 A JP H02213740A JP 3557489 A JP3557489 A JP 3557489A JP 3557489 A JP3557489 A JP 3557489A JP H02213740 A JPH02213740 A JP H02213740A
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- JP
- Japan
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- friction
- magnetic disk
- waveform
- arm
- rotation
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は回転する磁気ディスクと磁気ヘッドとの摩擦
によって生ずる磁気ディスクの摩耗を磁気ディスクの周
方向の摩擦係数をモニタリングしながら行う試験装置に
関する。
によって生ずる磁気ディスクの摩耗を磁気ディスクの周
方向の摩擦係数をモニタリングしながら行う試験装置に
関する。
［従来の技術］
第７図は従来装置を示す試験様の斜視図であり、磁気ヘ
ッド１を先端に取付けた長さ２００＝程度のアーム２は
、その後端にバランサ６を備え、その中間が架台側の支
柱７に回動自在かつ天びん状に支承され、架台に固定さ
れたスピンドルモータ８の回転板９に取付けられた供試
磁気ディスク１０の表面に磁気ヘッド１が所定の荷重を
保持して接触するようバランサ６の位置が調整される。
ッド１を先端に取付けた長さ２００＝程度のアーム２は
、その後端にバランサ６を備え、その中間が架台側の支
柱７に回動自在かつ天びん状に支承され、架台に固定さ
れたスピンドルモータ８の回転板９に取付けられた供試
磁気ディスク１０の表面に磁気ヘッド１が所定の荷重を
保持して接触するようバランサ６の位置が調整される。
供試磁気ディスク１０を図中矢印で示す方向に例えば毎
分１００回転程度の一定回転速度で回転させると、供試
磁気ディスク（以下ディスクと略称する）１０と磁気ヘ
ッド（以下ヘッドと略称する）■との摩擦力によりアー
ム２をディスクの回転方向と同じ方向に回転しようとす
るトルクが作用するので、このトルクを受は止める側に
歪ゲージ５を設けて摩擦力に比例した電圧信号に変換し
、ペンレコーダ１１に記録する。ディスクの摩擦係数μ
は歪ゲージ５が受けた荷重をヘッドに加えた荷重で徐し
た値に比例するので、歪ゲージ５の出力信号の大きさか
ら摩擦係数μを容易に求めることができ、さらに出力信
号の増幅率を謂整することによりμ値をペンレコーダに
記憶することも可能である。
分１００回転程度の一定回転速度で回転させると、供試
磁気ディスク（以下ディスクと略称する）１０と磁気ヘ
ッド（以下ヘッドと略称する）■との摩擦力によりアー
ム２をディスクの回転方向と同じ方向に回転しようとす
るトルクが作用するので、このトルクを受は止める側に
歪ゲージ５を設けて摩擦力に比例した電圧信号に変換し
、ペンレコーダ１１に記録する。ディスクの摩擦係数μ
は歪ゲージ５が受けた荷重をヘッドに加えた荷重で徐し
た値に比例するので、歪ゲージ５の出力信号の大きさか
ら摩擦係数μを容易に求めることができ、さらに出力信
号の増幅率を謂整することによりμ値をペンレコーダに
記憶することも可能である。
第８図は従来装置で得られた摩擦係数μの経時変化を示
す特性線図であり、６０分間の測定値を示したものであ
る０図において、μＰｆ１．−Ｐはμ値の振動分、μａ
ｙはμの平均値である０図の場合、μａｖは時間の経過
とともに僅かに上昇する傾向を示すが、μＰ９Ｃ’ｅは
最初僅かに増加するもののその後の変化が少なく、かつ
その振幅がμａｖに対して著しく小さいことがわかる。
す特性線図であり、６０分間の測定値を示したものであ
る０図において、μＰｆ１．−Ｐはμ値の振動分、μａ
ｙはμの平均値である０図の場合、μａｖは時間の経過
とともに僅かに上昇する傾向を示すが、μＰ９Ｃ’ｅは
最初僅かに増加するもののその後の変化が少なく、かつ
その振幅がμａｖに対して著しく小さいことがわかる。
Ｃ発明が解決しようとするＩＩ＃Ｊｌ）磁気ヘッドとの
摺動接触によって磁気ディスク表面に生ずる摩耗は磁気
ディスク表面の円周上に一様に生ずるものではなく、円
周上の各位置で異なるとともに摺動回数の積み重ねによ
っても変化し、これに基づいて摩擦係数μも変化する。
摺動接触によって磁気ディスク表面に生ずる摩耗は磁気
ディスク表面の円周上に一様に生ずるものではなく、円
周上の各位置で異なるとともに摺動回数の積み重ねによ
っても変化し、これに基づいて摩擦係数μも変化する。
ところが、従来装置においては摩擦係数μの位置的変動
によってアーム２に生じた回転力がアーム２の上下動（
シーソー運動）によって吸収され歪ゲージに加わる荷重
が減変するとともに、ペンレコーダ１１の速度応答性が
低いために摩擦係数の位置的変動分であるμＰｐ−Ｐの
変化に追従できず、ペンレコーダ１１には実際より著し
く小さいμｒｐ−４値しか記録されず、したがって供試
磁気ディスクの摩擦摩耗特性を正確に評価できないとい
う問題がある。
によってアーム２に生じた回転力がアーム２の上下動（
シーソー運動）によって吸収され歪ゲージに加わる荷重
が減変するとともに、ペンレコーダ１１の速度応答性が
低いために摩擦係数の位置的変動分であるμＰｐ−Ｐの
変化に追従できず、ペンレコーダ１１には実際より著し
く小さいμｒｐ−４値しか記録されず、したがって供試
磁気ディスクの摩擦摩耗特性を正確に評価できないとい
う問題がある。
この発明の目的は、試験期間中の任意の１回転における
摩擦係数の局所的変化を精度よく検出することにより試
験精度を向上することにある。
摩擦係数の局所的変化を精度よく検出することにより試
験精度を向上することにある。
上記課題を解決するために、この発明によれば、架台に
支持されたロータリエンコーダを有するスピンドルモー
タにより一定速度で回転駆動される供試磁気ディスクと
、この供試磁気ディスク面と平行な方向に回動自在にＬ
字状の屈折部が前記架台側にすべり軸受支持された伝動
アームと、この伝動アームの一方の腕の先端に前記供試
磁気ディスク面に所定荷重で接触するよう支持された磁
気ヘッドと、前記伝動アームの他方の腕に接触するよう
架台側に設けられ磁気ヘッドと磁気ディスクとの摩擦力
を電気信号に変換して出力する歪ゲージとからなる摩擦
摩耗試験桟と、前記歪ゲージおよびロータリエンコーダ
の出力信号波形の瞬時値を１０ｍＳ以下、好ましくは５
ｍＳ以下のサンプリング周期Ａ／Ｄ変換して記憶しこれ
と同等以下の変換速度で記憶データをＤ／Ａ変換して出
力する波形メモリとを備えるものとする。
支持されたロータリエンコーダを有するスピンドルモー
タにより一定速度で回転駆動される供試磁気ディスクと
、この供試磁気ディスク面と平行な方向に回動自在にＬ
字状の屈折部が前記架台側にすべり軸受支持された伝動
アームと、この伝動アームの一方の腕の先端に前記供試
磁気ディスク面に所定荷重で接触するよう支持された磁
気ヘッドと、前記伝動アームの他方の腕に接触するよう
架台側に設けられ磁気ヘッドと磁気ディスクとの摩擦力
を電気信号に変換して出力する歪ゲージとからなる摩擦
摩耗試験桟と、前記歪ゲージおよびロータリエンコーダ
の出力信号波形の瞬時値を１０ｍＳ以下、好ましくは５
ｍＳ以下のサンプリング周期Ａ／Ｄ変換して記憶しこれ
と同等以下の変換速度で記憶データをＤ／Ａ変換して出
力する波形メモリとを備えるものとする。
上記手段において、磁気ヘッドを支持する試験器の伝動
アームを剛性の高いＬ字状に形成してその屈折部を架台
にすべり軸受支持させたことにより、伝動アームのシー
ソー運動が排除されて微細な摩擦力変化を歪ゲージに正
確に伝達できる。また、歪ゲージの出力信号とロータリ
ーエンコーダが１回転ごとに発するインデックス信号と
を波形メモリにサンプル周期１０ｍＳ以下 好ましくは
５ｍｓ以下でディジタル信号に変換して記憶させ、かつ
ゆっくりした速度でＤ／Ａ変換してペンレコーダ等の記
録部に波形を記録できるようにしたことにより、試験期
間中の任意の１回転分あるいは数回軽分の波形を繰り返
しレコーダに記録することが可能となり、かつ１回転分
の波形とディスクの周方向位置とをインデックス信号を
街に知ることができるので、試験期間中のμａｖの変゛
化はもとより、１回転中の局所的なμｐｐの変化をも正
確かつ容易に知ることができ、したがって供試磁気ディ
スクの摩擦摩耗特性を正確かつ詳細に評価することがで
きる。
アームを剛性の高いＬ字状に形成してその屈折部を架台
にすべり軸受支持させたことにより、伝動アームのシー
ソー運動が排除されて微細な摩擦力変化を歪ゲージに正
確に伝達できる。また、歪ゲージの出力信号とロータリ
ーエンコーダが１回転ごとに発するインデックス信号と
を波形メモリにサンプル周期１０ｍＳ以下 好ましくは
５ｍｓ以下でディジタル信号に変換して記憶させ、かつ
ゆっくりした速度でＤ／Ａ変換してペンレコーダ等の記
録部に波形を記録できるようにしたことにより、試験期
間中の任意の１回転分あるいは数回軽分の波形を繰り返
しレコーダに記録することが可能となり、かつ１回転分
の波形とディスクの周方向位置とをインデックス信号を
街に知ることができるので、試験期間中のμａｖの変゛
化はもとより、１回転中の局所的なμｐｐの変化をも正
確かつ容易に知ることができ、したがって供試磁気ディ
スクの摩擦摩耗特性を正確かつ詳細に評価することがで
きる。
以下この発明を゛実施例に基づいて説明する。
第１図はこの発明の実施例装置を示す波形メモリのブロ
ック図を含む斜視図である０図において、２０は摩擦摩
耗試験桟（以下試験桟と略称する）であり、その架台２
４上にはロータリエンコーダ１日を有するスピンドルモ
ータ８により矢印方向に一定の回転速度（例えば１００
回転毎分）で回転駆動されるディスク１０が配される。
ック図を含む斜視図である０図において、２０は摩擦摩
耗試験桟（以下試験桟と略称する）であり、その架台２
４上にはロータリエンコーダ１日を有するスピンドルモ
ータ８により矢印方向に一定の回転速度（例えば１００
回転毎分）で回転駆動されるディスク１０が配される。
また、調整ねじ２６により上下動可能なステージ２７に
すべり軸受２３を介して回動自在に軸支されたＬ字状の
伝動アーム２２が設けられ、２つのアームの一方の先端
にはヘッド２１がディスク１０の表面に所定荷重で接触
するよう支持され、他方のアームに接するステージ２７
側には歪ゲージ２５が設けられ、調整ねじ２６によりス
テージ２７を上下動させることにより、ヘッド２１とデ
ィスクとの接触荷重が所定の値に保持される。
すべり軸受２３を介して回動自在に軸支されたＬ字状の
伝動アーム２２が設けられ、２つのアームの一方の先端
にはヘッド２１がディスク１０の表面に所定荷重で接触
するよう支持され、他方のアームに接するステージ２７
側には歪ゲージ２５が設けられ、調整ねじ２６によりス
テージ２７を上下動させることにより、ヘッド２１とデ
ィスクとの接触荷重が所定の値に保持される。
３０は波形メモリであり、歪ゲージ２５の出力電圧信号
２５Ａは増幅器３１で所定レベルに増幅された後、その
瞬時値がＡ／Ｄ変換器３２が持つサンプルホールド回路
によるサンプル周期τ例えば１ｍＳから１０ｍＳの範囲
の変換速度でディジタル信号に変換され、波形メモリ部
３３に記憶される。また、ロータリエンコーダ１８が１
回転ごとに発するインデックスパルス１８ＡもＡ／Ｄ変
換器３２を介して波形メモリ部３３に前記ディジタル信
号と同時に記憶される。波形メモリ部３３の記憶データ
はＤ／Ａ変換器３４によって前記変換速度と同等または
それよりゆっくりした速度で読み出され、出力波形３４
Ａが例えば高速ペンレコーダ等の記録部４０に記録され
る。
２５Ａは増幅器３１で所定レベルに増幅された後、その
瞬時値がＡ／Ｄ変換器３２が持つサンプルホールド回路
によるサンプル周期τ例えば１ｍＳから１０ｍＳの範囲
の変換速度でディジタル信号に変換され、波形メモリ部
３３に記憶される。また、ロータリエンコーダ１８が１
回転ごとに発するインデックスパルス１８ＡもＡ／Ｄ変
換器３２を介して波形メモリ部３３に前記ディジタル信
号と同時に記憶される。波形メモリ部３３の記憶データ
はＤ／Ａ変換器３４によって前記変換速度と同等または
それよりゆっくりした速度で読み出され、出力波形３４
Ａが例えば高速ペンレコーダ等の記録部４０に記録され
る。
なお、３５は波形メモリに設けられた演算部であり、例
えば電圧信号をμ値に換算して例えばプリンタなどの記
録部に表示される。
えば電圧信号をμ値に換算して例えばプリンタなどの記
録部に表示される。
第２図および第３図は実施例装置によって表示器に記録
されたディスク１回転分の検出波形図であり、第２図は
試験開始直後の初期波形、第３図は５分間経過後の波形
であり、第３図の場合振動幅を２本の包路線で簡略化し
て示しである。図において、検出電圧の平均レベルＶａ
ｖは５分経過後幾分増加する程度であるが、インデック
スパルス１８Ａにより識別されるディスク１回転分の周
Ｂ、ＩＩ Ｔ内での検出電圧の変動幅ｖｐｐは初期値と
５分経過値とで大きく異なっており、ディスク１０の円
周上の所定の角度領域でディスク表面が局部的に摩耗し
、摩擦力が増加したことを精度よく現している。
されたディスク１回転分の検出波形図であり、第２図は
試験開始直後の初期波形、第３図は５分間経過後の波形
であり、第３図の場合振動幅を２本の包路線で簡略化し
て示しである。図において、検出電圧の平均レベルＶａ
ｖは５分経過後幾分増加する程度であるが、インデック
スパルス１８Ａにより識別されるディスク１回転分の周
Ｂ、ＩＩ Ｔ内での検出電圧の変動幅ｖｐｐは初期値と
５分経過値とで大きく異なっており、ディスク１０の円
周上の所定の角度領域でディスク表面が局部的に摩耗し
、摩擦力が増加したことを精度よく現している。
第４図は実施例装置におけるＡ／Ｄ変換器の波形変換速
度（瞬時値のサンプリング周期に相応する）τを変えて
得られたμ値を示す特性線図であり、回の横軸にはτ−
１ｍＳにおけるｐｐｐ値を、縦軸にはτを２ｍＳから１
００ｍＳの範囲で変えた場合のＩｐｐ値をτ−１ｍＳに
おけるμｐｐを基準値として標準化して示しである０図
においてＡ／Ｄ変換器３２のサンプル周期τが２ｍＳま
たは５ｍＳである場合、摩擦係数の場所による変化幅μ
ｐｐはτｗ１ｍｓにおけるそれ（図では４５”の直線）
に近い値を示し、τ−ＬＯｍＳの場合もその差は比較的
小さい。これに対しτが４０ｍＳまたは１００ｍＳと遅
くなるとμｐｐは大幅に低下する。このことは、摩擦力
が周期数ｍＳから１０数ｍＳ程度の振動分を含んでいる
ものと考えられ、Ａ／Ｄ変換器３２の変換速度で決まる
振動波形のサンプル周期τが歪ゲージ２５の出力電圧信
号２５Ａの振動周期より十分短くないと振動のピーク値
を見落してしまうことになり、したがって摩擦力の変化
を正確に把握するためには、τを１０ｍ ｓ以下１好ま
しくは５ｍＳ以下とする必要があることがわかる。
度（瞬時値のサンプリング周期に相応する）τを変えて
得られたμ値を示す特性線図であり、回の横軸にはτ−
１ｍＳにおけるｐｐｐ値を、縦軸にはτを２ｍＳから１
００ｍＳの範囲で変えた場合のＩｐｐ値をτ−１ｍＳに
おけるμｐｐを基準値として標準化して示しである０図
においてＡ／Ｄ変換器３２のサンプル周期τが２ｍＳま
たは５ｍＳである場合、摩擦係数の場所による変化幅μ
ｐｐはτｗ１ｍｓにおけるそれ（図では４５”の直線）
に近い値を示し、τ−ＬＯｍＳの場合もその差は比較的
小さい。これに対しτが４０ｍＳまたは１００ｍＳと遅
くなるとμｐｐは大幅に低下する。このことは、摩擦力
が周期数ｍＳから１０数ｍＳ程度の振動分を含んでいる
ものと考えられ、Ａ／Ｄ変換器３２の変換速度で決まる
振動波形のサンプル周期τが歪ゲージ２５の出力電圧信
号２５Ａの振動周期より十分短くないと振動のピーク値
を見落してしまうことになり、したがって摩擦力の変化
を正確に把握するためには、τを１０ｍ ｓ以下１好ま
しくは５ｍＳ以下とする必要があることがわかる。
第５図および第６図は実施例装置によって得られたディ
スク表面への潤滑剤塗布厚がμａｖおよびμｐｐに及ぼ
す影響を示す特性線図であり、試験開始後６０分間経過
した時点での特性値を従来装置によって得られた特性値
と比較して示したものである。第５図に示すｕａｖ値は
実施例装置を用いた方が塗布厚が厚い領域でのｐａｖ値
の変化を従来装置によるそれより幾分よく表している程
度であるが、第６図におけるｕｐｐ値には両者の差が顕
著に現れており、従来装置を用いたのではほとんど検知
できない潤滑剤の塗布厚の影響が摩擦力の振動分を正確
に検出する能力を有する実施例装置を用いることにより
精度よく把握することが可能となり、例えば塗布厚８人
から１５人程度の潤滑剤を塗布しておくと、６０分間の
摩擦摩耗試験においてもディスクに局部的なμｐｐの大
きな部分、いいかえればディスク表面の局部的な摩耗劣
化が生じないよう保護する効果が得られるという重要な
知見を得ることができる。
スク表面への潤滑剤塗布厚がμａｖおよびμｐｐに及ぼ
す影響を示す特性線図であり、試験開始後６０分間経過
した時点での特性値を従来装置によって得られた特性値
と比較して示したものである。第５図に示すｕａｖ値は
実施例装置を用いた方が塗布厚が厚い領域でのｐａｖ値
の変化を従来装置によるそれより幾分よく表している程
度であるが、第６図におけるｕｐｐ値には両者の差が顕
著に現れており、従来装置を用いたのではほとんど検知
できない潤滑剤の塗布厚の影響が摩擦力の振動分を正確
に検出する能力を有する実施例装置を用いることにより
精度よく把握することが可能となり、例えば塗布厚８人
から１５人程度の潤滑剤を塗布しておくと、６０分間の
摩擦摩耗試験においてもディスクに局部的なμｐｐの大
きな部分、いいかえればディスク表面の局部的な摩耗劣
化が生じないよう保護する効果が得られるという重要な
知見を得ることができる。
二の発明は前述のように、ヘッドを支持するアームを關
性の高いＬ字状としてすべり軸受でステージに軸支持す
るとともに、歪ゲージの出力信号をサンプル周期が１０
ｍＳ以下、好ましくは５ｍＳ以下のＡ／Ｄ変換器を有す
る波形メモリに記憶させ、ゆっくりＤ／Ａ変換して表示
できるよう構成ベンレコーダの応答速度が遅いために振
動分に連軸できないという従来技術の問題点が排除され
、摩擦力の振動分のピーク値を見逃すことなく正確に把
握でき、かつロータリーエンコーダが発するインデック
スパルスを同時に記憶させることにより長い試験時間中
の任意の１回転分の摩擦係数やその局所的な変化、およ
びその経時変化などを詳細かつ精度よく把握できる磁気
ディスクの摩擦摩耗試験装置を提供することができる。
性の高いＬ字状としてすべり軸受でステージに軸支持す
るとともに、歪ゲージの出力信号をサンプル周期が１０
ｍＳ以下、好ましくは５ｍＳ以下のＡ／Ｄ変換器を有す
る波形メモリに記憶させ、ゆっくりＤ／Ａ変換して表示
できるよう構成ベンレコーダの応答速度が遅いために振
動分に連軸できないという従来技術の問題点が排除され
、摩擦力の振動分のピーク値を見逃すことなく正確に把
握でき、かつロータリーエンコーダが発するインデック
スパルスを同時に記憶させることにより長い試験時間中
の任意の１回転分の摩擦係数やその局所的な変化、およ
びその経時変化などを詳細かつ精度よく把握できる磁気
ディスクの摩擦摩耗試験装置を提供することができる。
また、振動分の検出精度が向上したことにより、従来装
置では評価できなかった潤滑剤を塗布することによって
得られるディスクの保護作用を定量的に把握することも
可能となり、磁気ディスクの耐摩耗性の改善などに貢献
できる利点が得られる。さらに、試験時間中に波形メモ
リへのデータの集録と、記憶データのペンレコーダによ
る記録とを交互に繰り返して行うことにより、長時間の
試験期間中のディスクの摩耗状態の変化をモニタリング
しながら試験を行える利点が得られる。
置では評価できなかった潤滑剤を塗布することによって
得られるディスクの保護作用を定量的に把握することも
可能となり、磁気ディスクの耐摩耗性の改善などに貢献
できる利点が得られる。さらに、試験時間中に波形メモ
リへのデータの集録と、記憶データのペンレコーダによ
る記録とを交互に繰り返して行うことにより、長時間の
試験期間中のディスクの摩耗状態の変化をモニタリング
しながら試験を行える利点が得られる。
第１図はこの発明の実施例装置を示す斜視図、第２図お
よび第３図は実施例装置で得られた互いに異なる時点の
記録波形図、第４図は実施例装置で得られたサンプリン
グ時間と摩擦係数との関係を示す特性線図、第５図およ
び第６図は実施例装置で得られた潤滑剤厚みと摩擦係数
との関係を示す特性線図、第７図は従来装置を示す斜視
図、第８図は従来装置によるペンレコーダの記録波形図
である。 １．２１：磁気ヘッド、２：アーム、５，２５：歪ゲー
ジ、８ニスピンドルモータ、１０ｊ供試磁気デイスク（
ディスク）、１１：ペンレコーダ、２０：［１擦摩耗試
験桟、１８：ロータリーエンコーダ、２２：伝動アーム
、２３：すべり軸受、２４：架台、２６：調整ねじ、２
７：ステージ、３０８波形メモリ、３１：増幅器、３２
：Ａ／Ｄ変換器、３３：波形メモリ部、３４：Ｄ／Ａ変
換器、４０Ｆ記録部、２５Ａ：歪ゲージの出力信号、１
８Ａ ：インデックスパルス、Ｔニー回転の周期、τ；
サンプリング周期、μａシ：摩擦係数の平均値、μｐｐ
：摩擦係数の振動ε） 第１図 第２図 第３図 ’Ｃ＝１ｍＳ？”ｆ４らＨｒ−、ノＬ通第４図 第５図
よび第３図は実施例装置で得られた互いに異なる時点の
記録波形図、第４図は実施例装置で得られたサンプリン
グ時間と摩擦係数との関係を示す特性線図、第５図およ
び第６図は実施例装置で得られた潤滑剤厚みと摩擦係数
との関係を示す特性線図、第７図は従来装置を示す斜視
図、第８図は従来装置によるペンレコーダの記録波形図
である。 １．２１：磁気ヘッド、２：アーム、５，２５：歪ゲー
ジ、８ニスピンドルモータ、１０ｊ供試磁気デイスク（
ディスク）、１１：ペンレコーダ、２０：［１擦摩耗試
験桟、１８：ロータリーエンコーダ、２２：伝動アーム
、２３：すべり軸受、２４：架台、２６：調整ねじ、２
７：ステージ、３０８波形メモリ、３１：増幅器、３２
：Ａ／Ｄ変換器、３３：波形メモリ部、３４：Ｄ／Ａ変
換器、４０Ｆ記録部、２５Ａ：歪ゲージの出力信号、１
８Ａ ：インデックスパルス、Ｔニー回転の周期、τ；
サンプリング周期、μａシ：摩擦係数の平均値、μｐｐ
：摩擦係数の振動ε） 第１図 第２図 第３図 ’Ｃ＝１ｍＳ？”ｆ４らＨｒ−、ノＬ通第４図 第５図
Claims (1)
- １）架台に支持されたロータリエンコーダを有するスピ
ンドルモータにより一定速度で回転駆動される供試磁気
ディスクと、この供試磁気ディスク面と平行な方向に回
動自在にＬ字状の屈折部が前記架台側にすべり軸受支持
された伝動アームと、この伝動アームの一方の腕の先端
に前記供試磁気ディスク面に所定荷重で接触するよう支
持された磁気ヘッドと、前記伝動アームの他方の腕に接
触するよう架台側に設けられ磁気ヘッドと磁気ディスク
との摩擦力を電気信号に変換して出力する歪ゲージとか
らなる摩擦摩耗試験桟と、前記歪ゲージおよびロータリ
エンコーダの出力信号波形の瞬時値を１０ｍＳ以下、好
ましくは５ｍＳ以下のサンプリング周期Ａ／Ｄ変換して
記憶しこれと同等以下の変換速度で記憶データをＤ／Ａ
変換して出力する波形メモリとを備えたことを特徴とす
る磁気ディスクの摩擦摩耗試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3557489A JPH02213740A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 磁気ディスクの摩擦摩耗試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3557489A JPH02213740A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 磁気ディスクの摩擦摩耗試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02213740A true JPH02213740A (ja) | 1990-08-24 |
Family
ID=12445532
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3557489A Pending JPH02213740A (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 磁気ディスクの摩擦摩耗試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02213740A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0658867A (ja) * | 1992-08-05 | 1994-03-04 | Nippon Steel Corp | 摩擦力測定方法とその測定装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61215946A (ja) * | 1985-03-22 | 1986-09-25 | Pateiitec Kk | 磁気デイスクの摩擦摩耗試験装置 |
| JPS6230934A (ja) * | 1985-08-01 | 1987-02-09 | Teijin Ltd | 磁気デイスクの評価方法及び装置 |
| JPS6352038A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-05 | Sony Corp | 磁気デイスクの摩擦測定方法 |
| JPH02198337A (ja) * | 1989-01-27 | 1990-08-06 | Fujitsu Ltd | 媒体表面評価装置 |
-
1989
- 1989-02-15 JP JP3557489A patent/JPH02213740A/ja active Pending
Patent Citations (4)
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