JPH02213754A - 産業用ct装置 - Google Patents

産業用ct装置

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Publication number
JPH02213754A
JPH02213754A JP1033809A JP3380989A JPH02213754A JP H02213754 A JPH02213754 A JP H02213754A JP 1033809 A JP1033809 A JP 1033809A JP 3380989 A JP3380989 A JP 3380989A JP H02213754 A JPH02213754 A JP H02213754A
Authority
JP
Japan
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specimen
detector
tire
plane
sectional plane
Prior art date
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Pending
Application number
JP1033809A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaji Fujii
正司 藤井
Takao Shoji
庄司 孝雄
Kiichiro Uyama
喜一郎 宇山
Kenji Arai
健治 新井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP1033809A priority Critical patent/JPH02213754A/ja
Publication of JPH02213754A publication Critical patent/JPH02213754A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は被検体を透過したtli射線の透過量を測定し
て被検体のl!1iliifiQを得るようにした産業
用CT装置に関するものである。
(従来の技術) 近年においてはX線等のtlI銅線を被検体へ照射して
被検体の断層像を得る産業用CT装置が種々開発されて
いる。
このような従来の産業用CT装置としては第8図に示す
ようなものが知られている。
第8図に示づ従来例はトラバースを行なうことなく、ロ
ーテーションのみによってIiM&を得ることができる
、いわゆる第3世代の産業用CTi置であって、セクタ
スキャン機構部101を有するセクタスキャン方式のC
T装置である。この従来のCT装置はX1a管103か
らファンビーム状のX線をパルス状に放射し、被検体で
あるタイヤ105の一方の側の断層面を透過したX線を
アーム107上に弓形状に配列された複数の検出器10
9で検出するようにしている。またタイヤ105はロー
テーション機構部111によって、当該断層面の略中心
を通る垂直軸を回転軸にして回転可能に構成されるとと
もに、荷重機構部113によって荷重が加えられるよう
になっている。
(発明が解決しようとする課題) 上述したように、第8図に示す従来例は、ドーナツ状の
、すなわち円環状の被検体をスキャニングする方式とし
て優れているが以下の欠点を有する。
例えば高エネルギーのX線を放射するための高いエネル
ギー形のX線管103を用いる場合には、同様に複数の
検出器109も^エネルギー形のものを用いる必要が生
じる。
しかしながら、第3世代のCT装置においては、複数の
検出器109が設けられ、各検出器がそれぞれリング状
のデータエリア1.すなわちスキャニングの回転中心(
以下、スキャン・センタという)に対して同心円上のデ
ータを担当するため、画像にリング状アーチファクトが
生ずる可能性が高く、検出器相互の特性均一度の要求が
厳しい。このため検出チャンネル間の感度補正、オフセ
ット補正等の種々な補正が必要となり、良好な画質を得
るための補正処理が難しく、且つ煩雑であった。
本発明は上記課題に鑑みてなされたもので、簡単な構成
により良好な画質の断層像を得ることのできる産業用C
T装置を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するために本発明が提供する産業用CT
装置は円環状の被検体の任意の断層面にファンビーム状
の放射線を放射する放射線源と、前記円環状の被検体の
回転中心の略近傍にあって、前記断層面を透過した放射
線を検出する検出手段と、前記断層面を含む平面内で、
かつ当該lIi層面の略中心を回転軸として、当該断層
面を所定角度づつ回転させる回転手段と、前記回転手段
によって前記断層面が所定角度づつ回転する毎に、前記
回転軸に対して垂直な方向へ前記放射線源と検出手段と
を一体に移動させ得る移動手段とを有して構成した。
(作用) 本発明は放射線源から円環状の被検体の任意の断層面へ
向けて放射された放射線を当該被検体の円環の中心近傍
に設けた検出手段によって検出する。また、この被検体
は回転手段によって前記!Ii1面の略中心を回転軸と
して当該断層面を含む平面内で所定角度づつ回転される
。このとき、移・動手段は前記断層面が回転移動する毎
に、前記放射源と検出手段とを一体にして前記回転軸に
対しで垂直な方向へ移動する。従って、1回の移動、す
なわちトラバースを行う毎に所定の角度だけ被検体を回
転させるようにして、トラバースと被検体の回転を交互
に行いつつ、被検体を透過した放射線を検出して良好な
画質の断面画像を得るようにしている。
(実施例) 以下本発明に係る一実施例を図面を参照して説明する。
まず第2図のブロック図を参照して構成を説明する。
検査表@1にはX線を連続的に放射するX線管3と、こ
のxm管3から放射されたX線を一定のファンビーム形
状に整形するコリメータ5と所定の方向以外のX線の入
射を防止するコリメータ7と、被検体を透過したX線を
検出するための検出器9と、検出器9から出力される検
出データにA/D変換等の処理を施してプロジェクショ
ンデータとして出力するデータ収集部11と、侵述、す
るトラバース機構部43、シフト機構部47、ロチ−ジ
ョン機構部55、位置決めm構部63等の機構部13と
、各種測定条件等の設定を入力するための操作パネル1
5とを有している。
また、検出器9はPHD (Photo  Diode
) トシンチレータによって構成される検出ブロックを
、例えば44個を組み合わせることによって、44チヤ
ンネルを有している。
CPU17は検査i置1、コンソール19及び制御盤2
1のそれぞれと接続され、装置全体の動作を制御すると
共に、データ収集部11から入力されるプロジェクショ
ンデータをもとに各種補正を施しながら被検体の断層像
を再構成する。
各種操作を行うためのコンソール19は撮影ユニット2
3、デイスプレィ25及びX線コントローラ27のそれ
ぞれと接続されている。
撮影ユニット23はコンソール19を介してCPU17
からの制御によってデイスプレィ25に表示される断層
像を撮影、記録する。
デイスプレィ25は、前記操作パネル15から入力され
る設定条件等を表示すると共に、CPU17によって再
構成された前記被検体の断層像を表示する。
制御盤21は機構部13、操作パネル15、CPU17
、コンソール19、X線コントローラ27のそれぞれと
接続されている。この制剪盤21はCPU17からの$
11111指令又は操作パネル15、コンソール19か
らの操作指令に基づいて機構部13及びX線コントロー
ラ27を制御する。
^圧トランス29は高圧発生器31と共に高圧の駆動用
の電力を発生し、X線管3へ供給する。
オイルクーラー33はX線i13及び高圧トランス29
を冷却する。
次にX線管3、検出器9、機構部13及びその周″32
2装置を第1図の斜視図を参照して説明する。
X#I管3と検出器9はそれぞれアーム41の両端へ取
付けられ、一体に駆動する。また、検出器9の外形は長
さL o s幅WDであって、X線管3に対向して設け
られている。
具体的に説明すると、X線管3から放射されるX線は前
記コリメータ5によってファン角αのファンビーム状に
形成され、このファン角αは第3図の平面図に示すよう
に、トラバース方向FTと垂直な軸線HTに対して第3
図上で左方向へ偏位した位置に設定されている。従って
検出器9はこの偏位して設定されたファン角αのファン
ビーム状のX線を検出すべく軸線HTから第3図上で左
方向へ偏位した位置に配置される。
トラバース機構部43は一対のレール45,45を有し
ており、このレール45に沿った方向であるトラバース
方向FTへアーム41を移動させることにより、X線管
3と検出器9とをトラバースする。
シフト機構部47は前記トラバース方向FTと直交する
方向に配設された一対のレール49を有しており、この
レール49に沿ってトラバース機構部43全体を移動さ
せることにより、X線管3と検出器9とを一体にトラバ
ース方向FTとは垂直な方向FSへ移動させる。
ローテーション機構部55は被検体であるタイヤ51を
クランパ53によって保持した状態で回転する。このと
きタイヤ51は断層面の略中心のスキャン・センタを通
る垂直軸を回転軸として当該断層面を含む平面内で回転
されるようになっている。
移動台車57は立設した状態のタイヤ51を右方向、す
なわちスキャン位置へ移動させるためのものである。こ
の移動台車57の上には加圧機構部59が設けられると
ともに、この加圧機構部59と対向する位置に加圧受板
61を設けており、加圧機構部59によってタイヤ51
を加圧、すなわちタイヤ51へ荷重をかけることができ
るようになっている。
位置決め機構部63はタイヤ51の位置決めを行うため
のものであり、これによってタイヤ51の回転中心軸が
設定される。具体的には前記ローテーション機構部55
によって回転されるタイヤ51の回転軸に一致するよう
に設定するようにしている。
次に被検体として通常の大きさのタイヤの断層像を得る
場合の作用を第3図及び第4図を参照して説明する。
まずステップS1ではX線管3及びタイレ51をスキャ
ンスタート位置に設定する。すなわちX線管3の放射中
心を位置paに設定すると共に、タイヤ51を回転させ
て、断層像を所望とする断層面51aとX線管3から放
射されるX線のファンビーム面を一致させるようにして
、当該タイヤ51をクランパ53によって保持する。こ
のとき、タイヤ51はローテーション機構部55によっ
て断層面の中心である位置Poを回転中心、すなわちス
キャンセンタとして回転可能に保持され、位lPoを通
る直線H8と1ll)IPとの成す角度θ(θ−180
−α)だけ回転できるようになっている。従ってスキャ
ンスタート位置ではタイヤ51の前記断層面51aが直
線H8上に位置している。
次にステップS3ではトラバース機構部43を駆動して
X線管3と検出器9とを一体にトラバース方向FT (
L)へ距11Laだけトラバースさせる。このトラバー
ス方向FT (L)へのトラバースに際して、X線管3
からファン角αで成るファンビーム状に形成されたX線
が放射され、スキャンエリアφRをスキャニングし、検
出チャンネル数に相当する量のデータDaが得られるよ
うになっている。
次にステップS5では断層面51aについての規定の量
のデータが得られたかどうかを判別しており、規定の量
のデータが得られない場合はステップS7へ進む。
ステップS7ではローテーション機構部55を駆動して
断層面51aのスキャンセンタPOを回転中心として反
時計方向へファン角と等しい角度αだけ回転させる。
ステップS7から再びステップS3へ戻り、トラバース
i横部43を駆動してxfs管3と検出器9とを一体に
前回と逆方向FT (R)へ距離1aだけトラバースさ
せる。この逆方向への移動に際しても、前記ステップ3
と同様にX1il管3からファン角αのファンビーム状
のX線を放射させて検出チャンネル数に相当する量のデ
ータ□bを得る。
以下同様に、X線管3と検出器9とを一体にトラバース
させた後にタイヤ51を順次、角度αだけ回転させてデ
ータの収集を継続する。従って第5図に示すようにタイ
ヤ51を角度α回転させる毎に検出チャンネル数に相当
する山のデータDa。
Ob、・・・・・・・・・が順次得られるようになって
いる。
ステップS5において断層面51aが角度θを回転した
場合、すなわち規定回数のデータが得られた場合にはス
テップS9へ進みスキャニング動作を終了する。
以上に示したスキャニング動作が終了した時点では、例
えばX線管3の放射中心が位置Pbへ位置するとともに
、タイヤ51の断層面51aに対称な位置の断面51b
は直線HP上に存在し、X線管3とタイヤ51が最も接
近した状態である。
このようにXl管3とタイヤ51が接近した状態におい
てもX線管3から放射されるXSビームがタイヤ51と
干渉しないように構成されている。
すなわち、X線管3から放射されるXJ)のファンビー
ムの向きおよびこのX線を検出する検出器9の位置を、
検出器9からXrjA管3の放射の中心点pbに向けて
引いた垂線HTに対して、例えばα/2だけ偏位させる
ことによって、当該ファンビームとタイヤ52との配置
上の余裕度をもたせている。
次に第6図を参照して更に大きなタイヤ幅及びタイヤの
高さ等を有するタイヤの断層像を得る場合の作用を説明
する。
まず被検体であるタイヤ52の形状に応じてスキャンエ
リアφRaが広くなるので、このスキャンエリアφRa
を確実にスキャニングするには、X線管3と検出器9を
トラバースさせる距離Lbを長く設定する必要がある。
また検出器9とタイヤ52とが干渉しないようにシフト
機構部47を動作してトラバース方向FTと垂直かつス
キャン・センタから遠ざかる方向FS (D)へ、X線
管3と検出器9とを一体に移動させる。このようにして
スキャンスタート位[Pcとスキャンエンド位li!P
dとを設定する。
第6図に示すよ、うにスキャニング動作が終了した時点
、すなわちX線管3とタイヤ52が最も接近した状態で
は、X線管3の中心が位置POからPdへ移動するとと
もに、タイヤ52の断層面52bが直線HPa上に存在
している。このときX線管3から放射されるX線のファ
ンビームの向きおよびこのX線を検出する検出器9の位
置を、検出B9からXI管3の放射の中心点Pdに向け
て引いた垂1aHTに対して、例えばα/2だけ偏位さ
せているので、この偏位した分だけ位NPdを右側に設
定することができ、Xva管3とタイヤ52との配置上
の余裕度をもたせることができる。
次に第7図を参照して本発明に係る他の実施例を説明す
る。
本実施例はX線管3から放射されるX線のファンビーム
を更に偏位させたことを特徴とする。
すなわちトラバース方向FTと垂直な垂線HTに対し位
1iP+を中心に任意の角度α書だけ回転させた直線H
T2と、更にファン角αだけ回転させた直線HT3との
間の領域へファンビーム状のX線を放射させるとともに
、この偏位したファンビーム状のxlIを検出し得る位
置に検出器9を配設するようにしている。
第7図に示す実施例はX線管3から放射されるファンビ
ーム状のX線を更に偏位させて構成したので、X線管と
被検体との配置上の余裕度を更に改善することができる
。尚、このときの偏位角度α1は、負の値であっても良
いのはいうまでもないことである。
[発明の効果] 以上説明してきたように本発明によれば、トラバースと
被検体の回転を交互に行う、いわゆる第2世代のCT装
置を用いて、円環状の被検体の断層面を検出し得るよう
に構成したので、良好な画質の断層像を容易に得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示した斜視図、第2図は本
発明に係る実施例のブロック図、第3図は第1図に示し
た実施例の作用を示した説明図、第4図はスキャニング
に関する動作を示しlζフローチャート、第5図は収集
されたデータを示した説明図、第6図は形状の異なる被
検体をスキャニングする場合の作用を示した説明図、第
7図は本発明に係る他の実施例を示した説明図、第8図
は従来例を示した斜視図である。 3・・・xIa管     9・・・検出器43・・・
トラバース機構部 47・・・シフト機構部 55・・・ローテーション機構部

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 円環状の被検体の任意の断層面にファンビーム状の放射
    線を放射する放射線源と、 前記円環状の被検体の回転中心の略近傍にあって、前記
    断層面を透過した放射線を検出する検出手段と、 前記断層面を含む平面内で、かつ当該断層面の略中心を
    回転軸として、当該断層面を所定角度づつ回転させる回
    転手段と、 前記回転手段によって前記断層面が所定角度づつ回転す
    る毎に、前記回転軸に対して垂直な方向へ前記放射線源
    と検出手段とを一体に移動させ得る移動手段と、 を有することを特徴とする産業用CT装置。
JP1033809A 1989-02-15 1989-02-15 産業用ct装置 Pending JPH02213754A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1033809A JPH02213754A (ja) 1989-02-15 1989-02-15 産業用ct装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1033809A JPH02213754A (ja) 1989-02-15 1989-02-15 産業用ct装置

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Publication Number Publication Date
JPH02213754A true JPH02213754A (ja) 1990-08-24

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ID=12396807

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JP1033809A Pending JPH02213754A (ja) 1989-02-15 1989-02-15 産業用ct装置

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JP (1) JPH02213754A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016505152A (ja) * 2013-02-04 2016-02-18 シクセプリュCyxplus 断層撮影法によるタイヤ非破壊検査装置及び方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6275337A (ja) * 1985-09-30 1987-04-07 Toshiba Corp リング状物体検査用ctスキヤナ

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6275337A (ja) * 1985-09-30 1987-04-07 Toshiba Corp リング状物体検査用ctスキヤナ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016505152A (ja) * 2013-02-04 2016-02-18 シクセプリュCyxplus 断層撮影法によるタイヤ非破壊検査装置及び方法

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