JPH0221490A - ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ - Google Patents

ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ

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JPH0221490A
JPH0221490A JP63169866A JP16986688A JPH0221490A JP H0221490 A JPH0221490 A JP H0221490A JP 63169866 A JP63169866 A JP 63169866A JP 16986688 A JP16986688 A JP 16986688A JP H0221490 A JPH0221490 A JP H0221490A
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JP
Japan
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signal
address
row
outputs
circuit
Prior art date
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Application number
JP63169866A
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Inventor
Hideaki Uehara
英敬 上原
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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    • G11CSTATIC STORES
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    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、列アドレスストローブ信号CASが例えば高
レベルから低レベルに変化した後、行アドレスストロー
ブ信号RASを高レベルから低レベルにして内部で発生
された内部アドレス信号によりメモリをリフレッシュす
る機能(以下、CBRリフレシュ機能という)を有する
ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(以下、D
RAMという)、特に外部アドレス信号と内部アドレス
信号の切換え機能を持つ行プリデコーダを内蔵したDR
AMに関するものである。
(従来の技術) 従来、この種の技術としては、例えば第2図〜第5図の
ようなものがあった。以下、その構成を図を用いて説明
する。
第2図は従来のDRAMの一構成例を示す概略構成図で
ある。
このDR,AMは、複数のメモリセル及びセンスアンプ
を有するメモリセルマトリクス1を備え、そのメモリセ
ルマトリクス1には行選択用の行アドレスデコーダ2、
列選択用の列アドレスデコーダ3、及び図示しない入出
力回路等が接続されている。
また、CBR刀フシフレシュ用部アドレス信号AO〜A
Nを出力するカウンタ4、行アドレスバッファ5、及び
列アドレスバッファ6が設けられ、その行アドレスバッ
ファ5が行プリデコーダ7を介して行アドレスデコーダ
2に接続されると共に、列アドレスバッフ76が列プリ
デコーダ8を介して列アドレスデコーダ3に接続されて
いる。行アドレスバッファ5には、第1の制御回路であ
る行アドレスストローブ制御回路(以下、RAS制御回
路という)9、及び第2の制御回路であるCBR制御回
路10も接続されている。
RAS制御回路9は行アドレスストローブ信号RASを
入力してアドレスバッファイネーブル信号ABE及び反
転行アドレスストローブ信号RASを出力する回路、C
BR制御回路10は列アドレスストローブ信号CAS及
び反転行アドレスストローブ信号RASを入力してアド
レス切換え用の信号CBRを出力する回路である。行ア
ドレスバッファ5は、信号ABEにより活性化され、信
号CBRにより、外部アドレス信号ADO〜ADHまた
はカウンタ4から出力される内部アドレス信号AO〜A
Nのいずれか一方を入力し、行アドレス信号RAO〜R
ANを出力する回路である。行プリデコーダ7は、行ア
ドレス信号RAO〜RANを解読して行プリデコードア
ドレス信号RPO〜RPMを行アドレスデコーダ2へ出
力する機能を有している。一方、列アドレスバッファ6
は、信号CASにより外部アドレス信号ADO〜ADN
から列アドレス信号CAO〜CANを取込む回路である
。列プリデコーダ8は、列アドレス信号CAO〜CAN
を解読し、列プリデコードアドレス信号CPO〜CPM
を列アドレスデコーダ3へ出力する回路で゛ある。
第3図は、第2図中の行アドレスバッファ5の構成図で
ある。
この行アドレスバッファ5は、信号CBRのII L 
11で外部アドレス信号ADO〜ADHを入力し、信号
CBRのII H++でカウンタ4がらの内部アドレス
信号AO〜ANを入力するスイッチ手段11を有し、そ
のスイッチ手段11の出力側に、信号ABEのll H
++で活性化されて行アドレス信号RAO〜R,A N
を出力するバッファ回路12が接続されている。
第4図は、第2図中のCBR制御回#110の一構成例
を示す回路図である。
このCBR制御回路10は、MOSレベルの信号RAS
を反転するインバータ20と、そのインバータ20の出
力及びTTLレベル(トランジスタ・トランジスタ・ロ
ジックレベル)の信号CASの否定論理積をとるナント
ゲート(以下、NANDゲートという)21とを備えて
いる。
NANDゲート21の出力側には、2個のNANDゲー
ト22a、22bからなるセット・リセット型のフリッ
プフロップ回路(以下、FF回路という)22が接続さ
れ、そのFF回路22の出力側に、信号CBR出力用の
インバータ23が接続されている。
第5図は、第4図中のNANDゲート22の−構成例を
示す回路図である。
このNANDゲート22は、2個のPチャネルMQSト
ランジスタ(以下、PMO8という)31.32、及び
2個のNチャネルIIT’1O8)−ランジスタ33,
34で構成されている。信号CASがPMO831及び
NMO833の各ゲートに接続されると共に、インバー
タ21の出力1則がPMO832及びNMO834の各
ゲー1−に接続されている。PMO331,32は電源
電位Vccと出力ノードNとの間に並列接続され、その
出力ノードNとアースとの間にNMO833,34が直
列接続されている。信号CAS及びインバータ21の出
力が“H”の時、PMO331,32がオフ、NMO3
33,34がオンして出力ノードNがL′′となる。信
号CAS及びインバータ24の出力が“H″及びII 
L ++、またはI L l”及び゛”L”の時は出力
ノードNが“H”となる。
以上のように構成されるDRAMの動作を説明する。
第2図において読出し動作を行うには、行アドレススト
ローブ信号RASによりRAS制御回路9から118 
++のアドレスバッファイネーブル信号ABEが出力さ
れると共に、列アドレスストローブ信号CASによりC
BR制御回H@ 10が“L”の信号CBRが出力され
る。すると、第3図の行アドレスバッファ5において、
スイッチ手段11が信号CBRの11 L ++により
外部アドレス信号ADO〜ADN側に入り、その外部ア
ドレス信号ADO〜ADNがスイッチ手段11を通して
バッファ回路12に供給される。バッファ回B12は信
号ABEのII H++により活性化され、外部アドレ
ス信号ADO〜ADNから行アドレス信号RAO〜RA
Sのみを取込む。取込まれた行アドレス信号RAO〜R
ANは、行プリデコーダ7で解読されて行プリデコーダ
アドレス信号RPO〜RPMとなり、さらにその信号R
PO〜RPMが行アドレスデコーダ2で解読されてメモ
リセルマトリクス1の行方向が選択される。
一方、第2図の列アドレスバッファ6は列アドレススト
ローブ信号CASにより、外部アドレス信号ADO〜A
DNから列アドレス信号CAO〜CANのみを取込む。
取込まれた列アドレス信号CAO〜CANは、列プリデ
コーダ8で解読されて列プリデコードアドレス信号CP
O〜CPMとなり、さらにその信号CPO〜CPMが列
アドレスデコーダ3で解読されてメモリセルマトリクス
1の列方向が選択される。メモリセルマトリクス1にお
いて選択されたメモリセルのデータは、図示しないセン
スアンプで検出、増幅された後、入出力回路等を通して
読出しデータとして出力される。
データを書込む場合は、前記と同様に、メモリセルマト
リクス1の行方向と列方向を選択した後、その選択され
たメモリセルへ外部のデータを書込めばよい。
次に、第6図を参照しつつCBRリフレシュ動作を説明
する。なお、第6図は第3図のタイムチャーl−である
行アドレスストローブ信号RASが“H°′のスタンバ
イモードにおいて、列アドレスストローブ信号CASが
II HIIからit L ++に立下がった後、行ア
ドレスストローブ信号RASが“′H°゛からII L
 IIに立下がってCBRリフレシュモードになると、
第2図及び第4図のCBR制御回路10は′“Hllの
信号CBRを出力し、第3図における行アドレスバツフ
ア5中のスイッチ手段11を内部アドレス信号AO〜A
N側に切換える。次いで、RAS制御回路9は“H”の
信号ABEを出力し、行アドレスバツフア5中のバッフ
ァ回路12を活性化する。バッファ回路12は、カウン
タ4から出力される内部アドレス信号AO〜ANに基づ
き、所定時間後に行アドレス信号RAO〜RASを出力
する。この行アドレス信号RAO〜RANにより、行プ
リデコーダ7及び行アドレスデコーダ2を通してメモリ
セルマトリクス1中のセンスアンプが活性化され、メモ
リセルが順次リフレッシュされていく。
このCBRリフレシュ時において、第3図のバッファ回
路12は信号ABEの“H”により活性かされるが、そ
の活性化時に内部アドレス入力であるか、外部アドレス
入力であるかが決まっていなければ、誤動作の原因とな
る。そのため、スイッチ手段11を切換えるための信号
CBRは、少なくともバッファ回路12が活性化される
前にII H++となるようにCBR制御回路10の動
作速度が設定される。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記構成のDRAMでは、次のような課
題があった。
アドレス切換え用の信号CBRを出力するCBR制御回
路10は、第4図及び第5図に示すように、スタンバイ
時(待機時)においてTTLレベルの列アドレスストロ
ーブ信号CAS、及びMOSレベルの反転性アドレスス
1〜ローブ信号RASが入力されると、入力段のNAN
Dゲート22におけるNMO833,34に例えば30
0μA程度の電流■が流れるので、スタンバイ時におい
ても電力を消費する。その上、CBR制御回路10は信
号ABEよりも速く信号CBRを゛トIl+にしなけれ
ばならないので、例えば入力段のNANDゲート22に
おけるMOSトランジスタのディメンションを大きくし
て動作速度を向上させることが必要となる。ところが、
MOSトランジスタのディメンションが大きくなると、
スタンバイ時の消費電力が増える。逆にスタンバイ時の
電力消費量を減らそうとすると、信号CBRの出力動作
が遅くなり、外部アドレス入力と内部アドレス入力の切
換えがバッファ回路12の動作開始に間にあわなくなっ
て誤動作するおそれがある。従って、CBR制御回路1
0においてスタンバイ時の電力消費を少なくしつつ動作
速度を速くすることが困難であった。
本発明は前記従来技術が持っていた問題点として、CB
R制御回路におけるスタンバイ時の消費電力が大きい点
について解決したDRAMを提供するものである。
(課題を解決するための手段) 前記課題を解決するために、請求項1の発明では、アド
レスバッファイネーブル信号を出力する第1の制御回路
、アドレス切換え用の信号を出力する第2の制御回路、
行アドレスバッファ、行プリデコーダ、及び行アドレス
デコーダ等を備えたCBRリフレシュ機能をもつDRA
Mにおいて、前記行アドレスバッファは、前記外部アド
レス信号が入力された後に前記アドレスバッファイネー
ブル信号により活性化され、所定時間後に外部行アドレ
ス信号を出力する回ByI成にする。さらに前記行プリ
デコーダは、前記アドレス切換え用の信号により前記外
部行アドレス信号または内部アドレス信号のいずれか一
方を切換え入力するスイッチ手段と、このスイッチ手段
により入力された信号を解読して行プリデコードアドレ
ス信号を出力するデコード回路とで構成したもので゛あ
る。
また請求項2の発明では、前記行プリデコーダを、前記
行アドレスバッファから出力される外部行アドレス信号
を解読する第1のデコード回路と、前記内部アドレス信
号を解読する第2のデコード回路と、前記アドレス切換
え用の信号により前記第1または第2のデコード回路の
出力を切換え出力するスイッチ手段とで構成したもので
ある。
(作用) 請求項1の発明では、以上のようにDRAMを構成した
ので、行プリデコーダ中のスイッチ手段は、内部アドレ
ス信号が入力される直前にアドレス切換え用の信号を受
信して切換え動作を行えばよいので、第1の制御回路か
ら出力されるアドレスバッファイネーブル信号の動作速
度に対して、第2の制御回路の動作速度に余裕を持たせ
る働きをする。請求項2の発明のスイッチ手段も同様の
働きをする。従って前記課題を解決できるのである。
(実施例) 第1図は本発明の第1の実施例を示すDRAMにおける
行アドレスバッファ及び行プリデコーダの構成図である
この行アドレスバッファ50及び行プリデコーダ70は
、第2図のDRAMにおいて行アドレスバッファ5及び
行プリデコーダ7に代えて設けられる回路である。
行アドレスバッファ50は、アドレス信号数に対応して
複数個(N+1>設けられるので、外部アドレス信号A
DO〜ADNを入力し、第2図のRAS制御回路9から
出力されるアドレスバッファイネーブル信号ABEの“
H”により活性化されて所定時間後に外部行アドレス信
号R,ADO〜RADNを出力する回路である。この回
路の出力側に接続される複数個(N+1)の行プリデコ
ーダ70は、スイッチ手段71と、デコード回路72と
でそれぞれ構成されている。スイッチ手段71は、外部
行アドレス信号RADO〜RADN、または第2図のカ
ウンタ4から出力される内部アドレス信号AO〜ANの
うちのいずれか一方を、第2図のCBR制御回路10か
ら出力されるアドレス切換え用の信号CBRによって切
換え入力する機能を有し、トランスファゲート等で構成
されている。デコード回路70は、スイッチ手段71か
らの信号を解読して行プリデコードアドレス信号RPO
〜RPIVIを生成し、それを第2図の行アドレスデコ
ーダ2へ供給する機能を有し、NANDゲートやノアゲ
ート(以下、NORゲートという)等の論理回路で構成
されている。
第7図は第1図のタイムチャートであり、この図を参照
しつつCBRリフレシュ動作を説明する。
行アドレススl−ローブ信号RAS及び列アドレススト
ローブ信号CASが゛トI”のスタンバイモードでは、
第2図のRAS制御回路9がら出力されるアドレスバッ
ファイネーブル信号ABE及び反転行アドレスストロー
ブ信号RASが“t、++であるため、第1図の行アド
レスバッフr50は不活性状態である。また第2図のC
BR制御回路10は、信号CASがlI HII及び玉
ASがII L IIであるため、第4図に示すように
、NANDゲート22の出力が“L”、FF回路23の
出力が元の状態(= ”H” )であり、それがインバ
ータ24で反転されてアドレス切換え用の信号CBRが
“L′°となる。信号CBRが“Ll+の時は、第1図
のスイッチ手段71が行アドレスバッファ50の出力側
に接続されている。列アドレスストローブ信号CASが
“H′°からII L IIに立下がると、第2図及び
第4図のCBR制御回路10では、NANDゲート22
の出力が“H”、FF回路23の出力がL′°となるた
め、後述するCBRリフレシュモード期間においてイン
バータ24の出力信号CBRがH++に立上がり、第1
図のスイッチ手段71が第2図のカウンタ4の出力側に
切換わる。
列アドレスストローブ信号RASが118 ++からI
I L ++に立下がってCBRリフシッシュモードに
なると、第2図のRAS制御回路9がら出力されるアド
レスバッファイネーブル信号ABEがH”ニ立上カリ、
続いて反転行アドレスストローブ信号RASもII H
++に立上がる。第1図の行アドレスバッファ50は、
外部アドレス信号ADO〜ADNが入力された後、信号
ABEの“Hllにより活性化され、所定時間後に外部
行アドレス信号R,ADO〜RADNを出力する。行プ
リデコーダ70では、外部行アドレス信号RADO〜R
ADNを受信する前に、スイッチ手段71がカウンタ4
の出力1則に切換えられているため、そのカウンタ4か
ら出力される内部アドレス信号AO〜ANをデコード回
路72で解読し、行プリデコードアドレス信号RPO〜
RPMを第2図の行アドレスデコーダ2へ出力する。す
ると行アドレスデコーダ2は、行プリデコードアドレス
信号RPO〜RPMを解読してメモリセルマトリクス1
の行方向を選択し、メモリセルを順次リフレシュしてい
く。
行アドレスストローブ信号RAS及び列アドレスストロ
ーブ信号CASが“L”がら′”H”に立上がってスタ
ンバイモードになると、第2図のRAS制御回路9から
出力される反転行アドレスストローブ信号RAS及びア
ドレスバッファイネーブル信号ABEが゛トI′°がら
II L ++に立下がり、続いてCBR制御回路10
がら出力されるアドレス切換え用の信号CBRも“Hl
lから“L”に立下がる。信号ABEの“L″により第
1図の行アドレスバッファ50が不活性状態になると共
に、信号CBRの′L′°によりスイッチ手段71が行
アドレスバッファ5oの出力側へ切換ゎり、CBRリフ
レシュ動作が終る。
本実施例では、次のような利点がある。
CBRリフレシュ時の外部アドレス信号ADO〜ADH
と内部アドレス信号AO〜ANの切換えを、従来のよう
に行アドレスバッファ5ではなく、行プリデコーダ70
中のスイッチ手段71で行っている。そのため、行プリ
デコーダ70は内部アドレス信号AO〜ANが入力され
る直前にアドレス切換え用の信号CBRを受信すればよ
いので、CBR制御回路10内の入力段のNANDゲー
ト22を高速度で動作させる必要がない。従ってそのN
ANDゲート22を構成するMOSトランジスタのデイ
メンジョンを小さくできるので、CBR制御回路10内
でのスタンバイ時の消費電力を減少させることが可能と
なる。
第8図は本発明の他の実施例を示す行プリデコーダの構
成図であり、第1図中の要素と共通の要素には同一の符
号が付されている。
この実施例では、アドレス信号数に対応する複数個(N
+1)の行アドレスバッファ50−0〜50−Nの出力
側に、複数個(M+1、但し2 (N+1)=M+1)
行プリデコーダ70−0〜70−Mが接続されている。
行プリデコーダ70−0は、第1のデコード回路である
NANDゲート72−OAと、第2のデコード回路であ
るNANDゲート72−OBとを備え、それらの各出力
側にスイッチ手段であるトランスファゲート7l−OA
、7l−OBがそれぞれ接続され、さらにそのトランス
ファゲート7l−OA、7l−OBの出力側に、行プリ
デコードアドレス信号RPOを出力するためのインバー
タ73−〇が接続されている。NANDゲート72−O
Aは、行アドレスバッファ50−0.50−1から出力
される外部行アドレス信号RADO,RADIを解読し
て外部プリデコードアドレス信号を出力する回路であり
、まなNANDゲーIへ72−OBは、第2図のカウン
タ4から出力される内部アドレス信号AO,Alを解読
して内部プリデコードアドレス信号を出力する回路であ
る。トランスファゲート7l−OAは、アドレス切換え
用の信号CBRによりオン。オフ動作するPMO3QI
と、アドレス切換え用の反転信号CBRによりオン。
オフ動作するNMO3Q2との、並列接続で構成されて
いる。トランスファゲート7l−OBは、反転信号CB
Hによりオン、オフ動作するPMO8と、信号CBRに
よりオン。オフ動作するPMO8との、並列接続で構成
されている。以下同様に他のプリデコーダ70−1〜7
0−M、例えば70−Mも、NANDゲート72  M
A、72MB、トランスファゲート71−MA、71−
MB、及びインバータ73−Mより構成されている。
以上の構成において、信号CBRが“H′°、反転信号
CBRがlI L IIのとき、トランスファゲート7
l−OA〜71−MAがオフ、トランスファゲート7l
−OB〜71−MBがオンとなり、NANDゲート72
−OB〜?2−MBから出力される内部プリデコードア
ドレス信号がそのトランスファゲート7l−−OB〜7
1−MBを通してインバータ73−0〜73−Mへ伝達
され、該インバータ73−0〜73−Mで反転されて行
プリデコードアドレス信号RPO〜RPMとして出力さ
れ、第2図の行アドレスデコーダ2へ供給される。信号
CBRが“(L ++、反転信号CBRが“H”のとき
は、トランスファゲート7l−OA〜71−MAがオン
、トランスファゲート7l−OB〜71−MBがオフと
なり、NANDゲート72−OA〜72−MAから出力
される外部プリデコードアドレス信号がインバータ73
−0〜73−Mへ伝達され、そのインバータ73−0〜
73−Mで反転されて行プリデコードアドレス信号とし
て出力される。
前記第1の実施例の行プリデコーダ70では、スイッチ
手段71で外部アドレス信号RADO〜RADNと内部
アドレス信号AO〜ANとの切換えを行った後に、それ
らの信号をデコード回路72で解読している。これに対
して第2の実施例では、外部行アドレス信号RADO〜
RADN及び内部アドレス信号AO〜ANをNANDゲ
ート72−OA、72−OB〜72−MA、72−MB
で解読した後、それらの解読結果をトランスファゲート
7l−OA、7l−OB〜71−MA〜71.−MBで
切換えて出力するようにしている点で異なるものの、第
1の実施例とほぼ同様の利点が得られる。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
(a)  第8図のNANDゲート72−OA。
72−OB〜72−MA、72−MBは、NORゲート
等の他の論理回路で構成してもよい。
(b)  第8図のトランスファゲート7l−OA。
7l−OB〜71−MA、71−MBは、各1個のMO
Sトランジスタや、あるいは他のスイッチ手段で構成す
ることも可能である。
(発明の効果) 以E詳細に説明したように、請求項1.2の発明によれ
ば、CBRリフレシュ時の内部アドレス信号と外部アド
レス信号の切換えを行プリデコーダで行う構成にしたの
で、アドレスバッファイネーブル信号に対してアドレス
切換え用の信号を遅く出しても的確な動作が行える。そ
のため、CBR制御回路の入力部は高速度で動作させる
必要がなく、その入力部の半導体素子のデイメンジョン
を小さくできるので、スタンバイ時の消費電力を減少さ
せることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示すものでDRAMに
おける行アドレスバッファ及び行プリデコーダの構成図
、第2図は従来のDRAMの概略構成図、第3図は第2
図中の行アドレスバッファの構成図、第4図は第2図中
のCBR制御回路の回路図、第5図は第4図中のNAN
Dゲートの回路図、第6図は第3図のタイムチャート、
第7図は第1図のタイムチャート、第8図は本発明の第
2の実施例を示すプリデコーダの構成図である。 1・・・・・・メモリセルマトリクス、2・・・・・・
行アドレスデコーダ、3・・・・・・列アドレスデコー
ダ、4・・・・・・カウンタ、6・・・・・・列アドレ
スバッファ、8・・・・・・列プリデコーダ、9・・・
・・・RAS制御回路、10・・・・・・CBR制御回
路、50.50−0〜50−N・・・・・・行アドレス
バッファ、70.70−0〜70−M・・・・・・行プ
リデコーダ、71・・・・・・スイッチ手段、7l−O
A、7l−OB〜71−MA、71−MB・・・・・・
トランスファゲート、72・・・・・・デコード回路、
72−OA、72−OB〜72−MA。 72−MB・・・・・・NANDゲート。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、行アドレスストローブ信号に基づきアドレスバッフ
    ァイネーブル信号を出力する第1の制御回路と、列アド
    レスストローブ信号に基づきアドレス切換え用の信号を
    出力する第2の制御回路と、前記アドレス切換え用の信
    号により外部アドレス信号または内部アドレス信号のい
    ずれか一方を入力して行アドレス信号を出力する行アド
    レスバッファと、前記行アドレス信号を解読して行プリ
    デコードアドレス信号を出力する行プリデコーダと、前
    記行プリデコードアドレス信号を解読してメモリセルマ
    トリクスの行方向を選択する行アドレスデコーダとを備
    えたダイナミック・ランダム・アクセス・メモリにおい
    て、 前記行アドレスバッファは、前記外部アドレス信号が入
    力された後に前記アドレスバッファイネーブル信号によ
    り活性化され、所定時間後に外部行アドレス信号を出力
    する回路構成にし、 前記行プリデコーダは、前記アドレス切換え用の信号に
    より前記外部行アドレス信号または内部アドレス信号の
    いずれか一方を切換え入力するスイッチ手段と、前記ス
    イッチ手段により入力された信号を解読して行プリデコ
    ードアドレス信号を出力するデコード回路とで構成した
    ことを特徴とするダイナミック・ランダム・アクセス・
    メモリ。 2、前記行プリデコーダは、前記行アドレスバッファか
    ら出力される外部行アドレス信号を解読してプリデコー
    ドアドレス信号を出力する第1のデコード回路と、前記
    内部アドレス信号を解読してプリデコードアドレス信号
    を出力する第2のデコード回路と、前記アドレス切換え
    用の信号により前記第1または第2のデコード回路の出
    力を切換え出力するスイッチ手段とで、構成した請求項
    1記載のダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ。
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