JPH02214945A - 試験可能化信号を発生する試験モード可能化回路 - Google Patents

試験可能化信号を発生する試験モード可能化回路

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JPH02214945A
JPH02214945A JP1326184A JP32618489A JPH02214945A JP H02214945 A JPH02214945 A JP H02214945A JP 1326184 A JP1326184 A JP 1326184A JP 32618489 A JP32618489 A JP 32618489A JP H02214945 A JPH02214945 A JP H02214945A
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test mode
test
boat
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microcontroller
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JP1326184A
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English (en)
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Robert E Larsen
ロバート・イー・ラールセン
Khandker N Quader
カーンドカー・エヌ・クエーダー
Joseph H Salmon
ジヨセフ・エイチ・サーモン
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Intel Corp
Original Assignee
Intel Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はメモリ装置の分野に関するものであシ、とくに
マイクロ制御器で構成される外部メモリに関するもので
ある。
〔従来の技術〕
半導体メモリの分野においては、消去可能なプログラマ
ブル読出し専用メモリ(EPROM )の設計と製造は
周知である。それらのEFROM装置は半導体チップ上
に形成され、32Ktたは64にのような標準化された
容量のメモリとして典型的に構成される。それらのメモ
リチップは典型的には標準的なパッケージ内に配置され
る。EPROMのような半導体メモリ装置は他の半導体
装置とともに動作するために結合される。はとんどの場
合に、EPROMとメモリ装置の間のデータの転送を制
御するプロセッサへEPROMが結合される。基本的な
構成においては、EPROMのあるメモリ場所は、プロ
セッサがメモリへ結合されているアドレス線にアドレス
信号を発生した時に、プロセッサによりアクセスされる
。プロセッサにより供給される制御信号に応じて、デー
タは、メモリへ省き込まれる、すなわちプログラムされ
、またはメモリから読出される。メモリへ結合されてい
るデータバスに適切な情報を置くことによりデータ転送
が行われる。EPROMがよシプログラマプル論理アレ
イ装置のようなよシ大きい構造の一部でなければ、EP
ROMは、アドレッシングおよびデータ転送を行うため
に必要な回路以外の処理回路を含まない。
EPROMとともに動作するために用いられる1つのプ
ロセッサ群がマイクロ制御器として知られている。マイ
クロ制御器は、特注の応用を含めて、特別な応用に応え
るために用いられる特殊化されたプロセッサである。そ
れらの制御器は動作必要なもの全全て含んでおり、プロ
セッサ、論理回路、タイミング回路、制御回路、バッフ
ァ、ラッチおよびオンチップメモリを典型的に含むこと
ができる。はとんどの場合に、制御器チップに特定のア
プリケーションソフトウェアが埋込まれる。それらの制
御器は、情報をやりとシするための入力/出力(Ilo
)ボートも含む。
しかし、上記のEFROMのような外部メモリが与えら
れた制御器へ結合されると、それは制御器の1つまたは
複数のボートへ常に結合される。すなわち、制御器の与
えられた機能のために、与えられたマイクロ制御器オフ
チップメモリを必要としたとすると、オフチップメモリ
が制御器の1つまたは複数のボートへ結合される。Il
oを使用するためにそれらのボートは失われる。別のオ
フチップ回路を用いないと、マイクロ制御器へ外部メモ
リを結合するにはそれのI10性能に厳しい制約が課さ
れる。その理由は、外部メモリがマイクロ制御器の1つ
または複数のボートを独占するからである。
〔発明が解決しようとする課題〕
求められているのは、制御器のI10ボートの数を減少
することなしに、外部メモリをマイクロ制御器へ結合す
る技術である。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、マイクロ制御器へ結合すべき外部メモリを提
供するが、マイクロ制御器へボート拡張器を結合したこ
とにより使用されなくなったそれらのボートを再び使用
するようにするためのボート拡張器を提供するものであ
る。要するに、ボート拡張器はマイクロ制御器からのボ
ートの総数を増大し、しかも外部メモリをマイクロ制御
器へ結合するものである。本発明のボート拡張器は1つ
の半導体装置で製造され、特殊な接着剤回路を使用する
ことを要し々い。
好適な実施例のボート拡張器はマイクロ制御器の2つの
ボートへ結合される。各ボートは8ビツトポートである
。ボート拡張器をマイクロ制御器の2つのボートへ結合
するバスにおいて16ビツトアドレス信号と8ビツトデ
一タ信号が多重化される。ボート拡張器は32にパイ)
EPROMと、不揮発性構成のレジスタと、外部メモリ
性能およびボート拡張性能をマイクロ制御器に持たせる
特殊機能レジスタ/ボート制御器とを含む。ボート拡張
器のEFROMは外部メモリをマイクロ制御器に提供す
る。しかし、I10装置と占められたボートの間のデー
タ転送がボート拡張器の拡張ボートを介して行われる。
ボート拡張器はI10装置とマイクロ制御器の間のデー
タ転送点としてほぼ動作する。したがって、マイクロ制
御器とボート拡張器のEPROMの間またはマイクロ制
御器とボート拡張器を介する外部装置の間でデータ転送
を行うことができる。構成レジスタは、マイクロ制御器
によ、9EFROMまたは特殊機能レジスタを指図およ
びアドレスするためにプログラム可能なレジスタセット
を構成する。本発明のボート拡張器は、試験モードに不
意に入ることを阻止する特殊な試験起動回路も含む。試
験モードに入るためには、妥当な試験モードコードを、
マイクロ制御器へ結合されているボートラッチの1つへ
書込まねばならない。第2の条件として、マイクロ制御
器へ結合されている他のポートラッチへ妥当な試験モー
ド可能化コードを書込まねばならない。次に、電圧が約
12ボルトである読出し信号を十分に長い時間持続させ
ねばならない。3つの条件の全てが満されると、ボート
拡張器はそれの試験モードに入る。グリッチおよびノイ
ズパルスのような短いパルスが意図したいのに試験モー
ドを起動しないように、読出し信号の持続時間がパルス
幅検出器により測定される。満さなければならない3つ
の必要条件金膜けることにより、意図しないのに試験モ
ードに入ることを阻止するのに十分な安全対策が講じら
れる。
以下の説明にせいてはボート拡張を行い、かつチップ外
部のメモリを提供する装置について説明する。本発明を
完全に理解できるようにするために、以下の説明におい
ては、特定のメモリ容量、信号線等のような特定の事項
の詳細について数多く述べである。しかし、そのような
特定の詳細事項なしに本発明を実施できることが当業者
には明らかであろう。その他の場合には、本発明を不必
要に詳しく説明して本発明をあいまいにしないようにす
るために、周知の構造およびプロセスは詳しくは説明し
ない。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
まず、外部メモリをマイクロ制御器へ結合する従来の技
術が示されている第1図を参照する。マイクロ制御器1
2へ結合される外部メモリとしてEFROMllが示さ
れている。マイクロ制御器12は複数のポートを介して
外部装置と通信する。第1図に示されている特定の例は
4つのボー)0〜3を有するマイクロ制御器12を示す
。第1図に特定の例が示されているが、入力/出力(I
lo)ポートを有する各種のマイクロ制御器が従来の技
術において良く知られている。従来のマイクロ制御器の
特定の例が、アメリカ合衆国カリフォルニア州すンタ・
クララ(8anta C1ara)所在のインテルeコ
ーポレーション(Intel Corporation
 )により製造されている8051.8096.801
88マイクロ制御器フアミリイに関連する装置を含む。
第1図に示す例においては、マイクロ制御器12のポー
トのうちの2つのポー)0と2がそれぞれバス13.1
4により外部メモリEPROM11へ結合される。バス
13.14は双方向バスであって、EPROM11とマ
イクロ制御器12の双方向ボート0.2との間で情報を
転送するためのものである。
アドレス信号とデータ信号をバス13と14へ結合する
ために種々の従来技術が知られている。更に、与えられ
たバス13または14がマイクロ制御器12からアドレ
ス情報をEFROMllへ結合するためにのみ用いられ
るものとすると、それらのバスは双方向バスである必要
はない。また、マイクロ制御器12とEPROM11の
間で制御信号が制御線15に結合される。
典型的な動作においては、マイクロ制御器12はアドレ
ス信号を発生する。それらのアドレス信号は、EPRO
M11のアドレス場所をアクセスするためにバス13と
14の少くとも一方を介してEPROM11へ結合され
る。それからバス13と14の少くとも一方を介してデ
ータがEPRO,Mllへ書込まれ、またはEPROM
11から読出される。与えられたバスへアドレス信号と
データ信号を結合できるように、アドレス信号とデータ
信号を多重化できることを認めるべきである。
EPROM11のような外部メモIJ k使用するには
、第1図に示されている例において2つのポートを専用
することを必要とする。マイクロ制御器12にはそれの
I10通信のためにボート1と3だけが残される。I1
0データ転送を行うためにバス16と11がボート1と
3へそれぞれ結合される。第1図に示すように、外部メ
モリを4ポートマイクロ制御器12へ結合するために2
つのボートを用いると、マイクロ制御器12は他の2つ
のボート1と3を利用できるだけである。ボートOと2
を回復するために特殊化された「接着剤」回路を用いて
し勺とEPROM11をボートOと2へ必要な結合を行
うことを必要とする。
次に、第1図のマイクロ制御器12に等しい4ボートマ
イクロ制御器12aへ本発明のボート拡張器20が結合
されている状態が示されている第2図を参照する。ボー
ト拡張器20はEPROM2)を含む。このEPROM
2)は第1図に示されているEPROM11に等しい。
ボート拡張器20はバス13a141を介してマイクロ
制御器12mのボートOと2へ結合される。制御信号が
マイクロ制御器12)Lとボート拡張器20の間で制御
線15mを介して結合される。ボート1と3はバス16
a 、 17aをそれぞれ介して種々のI10装置へ結
合される。第1図に示されている部分と同じ部分を他の
図で示すために、第1図に示されている部分を表す参照
番号に添字ralをつけて、他の図の対応する部分を表
すことにする。
アドレス情報とデータ情報がマイクロ制御器12aのボ
ート0と2から供給され、EPROM2)が第1図を参
照して説明したようにしてアクセスされる。EPROM
2)に加えて、ボート拡張器20はボー)AとBを含む
。ボートAとBを有することの目的は、外部メモリ2)
がボー)0と2へ結合される時に、Iloのためにボー
ト0と2を使用を再び行うことである。これを行うため
に、本発明のボート拡張器20はボー)0と2から信号
を受け、それらの信号の宛先を選択する。
マイクロ制御器12aのボート0.2とEPROM2)
の態様の外部メモリの間でデータ転送を行う場合には、
ボート拡張器20はバス13m 、 14mを介して信
号をEPROM2)へ送らせ、またはEPROM2)か
ら送らせる。しかし、Iloのためにボート0と2を用
いるものとすると、信号はバス13a。
14mを介してボート拡張器20のボー)A、Bへ結合
される。ボートAとBへそれぞれ結合されているバス1
8.19により、I10装置とポートABO間でデータ
転送を行えるようにする。バス13m 、 14mで動
作するようにEPROM2) またはボー)BとAを選
択することによυ、マイクロ制御器12mのボートOと
2は、EPROM2)の態様の外部メモリをアクセスで
き、またはボートBとAを介してI10装置をアクセス
できる。したがって、本発明のボート拡張器は、外部メ
モリがマイクロ制御器のそれらの同じボートへ結合され
る時に失われたボートを回復する。
次に、本発明のボート拡張器20が詳しく示されている
第3図を参照する。マイクロ制御器12aのボート2が
バス14aを介してボート拡張器20のアドレスバッフ
ァ25へ結合される。そのアドレスバッファ25はアド
レスラッチ27へ結合される。マイクロ制御器12)の
ボートOがバス13&を介してボート拡張器20のアド
レスバッファ26へ結合され、このアドレスバッファ2
6はアドレスラッチ2Bへ結合される。アドレスラッチ
27と28の出力端子はEPROM2)、構成レジスタ
30または特殊機能レジスタ/ボート制御(S FR/
PC)器31へ結合される。
アドレスピッ/とデータ転送を行うために種々の技術を
使用できるが、本発明の好適な実施例は、先に述べたマ
イクロ制御器に主として適する下記の技術を利用する。
第1の期間中にマイクロ制御器12mからアドレスピッ
)Ao〜7がバス13aへ供給され、アドレスビットA
8〜15がバス14&へ供給される。次に、アドレスラ
ッチ27.28から出力させるために16のアドレスビ
ットがそれらのラッチへ供給される。第2の期間中に、
データピッ)Do〜7がバス13aと、I10バッファ
32を介して内部双方向データバス39へ供給される。
そのデータバス39はデータバスマルチプレクサ33へ
結合される。このデータバスマルチプレクサはEPRO
M2)、構成レジスタ30またはSFR/PC31を選
択してバス39へ接続し、データ転送を行う。アドレス
ラッチ27の出力端子は、EPROM2)に加えて、主
制御回路36へも結合される。
アドレス信号A、〜15の一部が構成レジスタ30内の
予めプログラムされているピットと比較され、EPRO
M2)と、構成レジスタ30と、SFR/PC31との
どれをアクセスするかを決定する。好適な実施例におい
ては、上位5ビツトが用いられるが、用いるビット数は
設計上の選択の問題である。また、マイクロ制御器12
&からの制御信号は線15&を介して主制御回路36へ
も加えられる。主制御回路36は制御信号をアドレスラ
ッチ27 、28と、I10バッファ32と、EPRO
M2)と、構成レジスタ30と、SFR/PC31と、
マルチプレクサ33と、ボートバッファ34.35とへ
加える。ポットバッファ34.35はボー)A、Bへそ
れぞれ結合される。ボートバッファ34.35は、SF
R/PC31とポー)A、Hの間でデータを転送するた
めに、SFB/PC31へも双方向的に結合される。
ボートバッファ34.35は双方向バス19.18へも
結合される。信号を保持するためにI10バッファ32
とボートバック734.35へ結合されるラッチのよう
々他の周知の回路は図示していない。
各種の制御信号を使用できるが、好適な実施例のボート
拡張器20により用いられる制御信号の代表的な例が第
3図に示されている。チップ可能化信号CE/(記号1
は低い起動された状態を示すために用いることにする)
が、アサートされた時に主装置を可能状態にする。信号
CE/がアサートされないと、ボート拡張器2)は待機
状態にあるから、アクセスできない。しかし、ボートは
それの現在の起動状態を保つ。SFR/PC器31から
の読出し状態を示すためにRD/が用いられる。ボート
拡張器2)に書込むため、すなわち、プログラムするた
めにWR/(PGM/)が用いられる。アドレスがラッ
チ27.28を流れることができるようにするためにA
LE信号が用いられる。Vpp(R8T)が、プログラ
ミング中に供給電圧をプログラムし、他のモード中はリ
セットを行う。EPROM2)または構成レジスタ30
からの読出し状態を示すためにプログラム格納可能化信
号PSEN/が用いられ、かつ、その信号は、RD/信
号とともにある条件において用いられてボート拡張器2
)に読出し動作を行わせる。
次に動作を説明する。ボート拡張器20は、マイクロ制
御器12aからの16ビツトアドレス信号により3つの
メモリプレーンをアクセスさせる。
ボート拡張器20のマツプされる適切なユニット2).
30または31を選択するために、メモリマツピングが
マイクロ制御器12aにより実際に行われる。3つのメ
モリプレーンはEPROM2) 、let成レジスタ3
0およびSFR/PC器31に対応する。
マツプされる3つのプレーンが第4図に示されている。
それら3つのメモリプレーンはEPROMプレーン40
、SFR/RAMプレーン41および構成プレーン42
によりそれぞれ構成される。SFR/RAMプレーンが
選択されると、8FR/PC器31の命令がプレーン内
の2にバイトプレーンを占めることができる。好適な実
施例においては、SFR/PC器の命令のために5バイ
トだけが実際に用いられる。使用され々い部分はRAM
用に用いることができる。他のアドレス場所は、マイク
ロ制御器12m内部または外部に設けられるRAMをア
クセスするために利用できる。第4図ではアドレス場所
は16進法で示されている。また、ボート拡張器20に
関する、製造者名、製品の型式等のような情報を供給す
るために、プレーンのアドレス0000に識別子が用い
られる。
正常な動作モードにおいては構成プレーン42はアクセ
スできない。EPROMプレーン40とSFR/RAM
プレーン41だけをアクセスできる。
しかし、プログラミング/照合モード中はEPROMプ
レーン40と構成プレーン42をアクセスできる。好適
な実施例のEPROM2)は32KX8バイトの素子で
ある。16ビツトアドレスは64にバイトをアクセスで
きるから、好適な実施例の32にパイ)’iEPROM
プレーン40の種々の場所にマツプできる。不揮発性レ
ジスタとして示されている構成レジスタ3001つが、
プレーン40内のEPROM2)をマツプするための開
始アドレスを供給する。省略時場所がEPROMプレー
ン40の下半分、アドレス0000−7FFFで示され
て因る、にあるのが示されている。EPROMプレーン
40は2つの32にバイトEPROM ′ff:マップ
できる。
好適々実施例においては、特殊機能レジスタ(8FR)
はSFR/RAMプレーン41の2にバイト場所に設け
られる。省略時場所はSFR/RAMプレーンの上側の
2にバイト場所にある。別の構成レジスタ30は2にバ
イ) SFRブロックの場所を決定する。ボート拡張器
20のボー)AとBけSFHに対する読出しまたは書込
みによりアクセスされる。
SFR/PC器31はそ器上1−トA、Bの間の情報の
転送をSFRに従って制御する。
初めに、本発明のボート拡張器20がマイクロ制御器1
2aへ結合されると、構成レジスタ30はボート拡張器
20の動作を構成するためにプログラムされる。この実
施例においては、3つの不揮発性レジスタが構成レジス
タ30を構成する。第1のレジスタはプレーン40内の
32にバイトEFROM2)をマツプするために用いら
れる。省略時位置はアドレス場所0000にある。この
実施例では、この第1のレジスタは、PSEN/信号と
RD/信号を内部で組合わせることによJ、EPROM
プレーンとSFR/RAMプレーンを組合わせるために
も用いられる。第2の構成レジスタは特殊機能レジスタ
にベースアドレスを供給するためにも用いられる。先に
述べたように、この実施例は、SFR/RAMプレーン
41の任意の2にバイト境界にSFRを設けることがで
きるように、2にバイト境界を用いる。デフオールドは
アドレスF800にある。
第3の構成レジスタは、トランジスタートランジスター
ロジック(TTL)または相補金属−酸化物一半導体(
CMO8)に適合するレベルのI10性能を得るために
、各ボートAとBを構成するために用いられる。更に、
この第3のレジスタは、プログラム可能なリセットを行
うためにR8Tの極性を補うことも許す。
構成レジスタがプログラムされると、EPROM2)と
特殊機能レジスタ31をアクセスするアドレスはプログ
ラムされてbる。マイクロ制御器12aがEFROMを
アクセスすることを望んだとするとマイクロ制御器12
aからのアドレス信号をマツプされるアドレスに一致さ
せねはならない。たとえば、EFROMがそれのデフオ
ールド場所にあるとすると、0000−7FFFのアド
レスがEPROM2)をアクセスできる。あるいは、ボ
ートAとBの少くとも一方がデータ転送を行うものとす
ると、マイクロ制御器12&はSFR/RAMプレーン
41内のSFHに対応するアドレスを供給する。そのS
FRは、SFR/RAMプレーン41にあるとすると、
F2O3−FFFFの間に存在する。マイクロ制御器1
2mとボートAとBの少くとも一方との間のデータ転送
が、SFR場所のアクセスと、SFHにデータを格納す
ることによって行われる。ボートは双方向性であって、
読出しと書込みを行うことができる。
SFR/RAMプレーン41の他のアドレス場所が、マ
イクロ制御器12&または他のメモリマツプされる装置
のRAM場所をアドレスするために用いられる。したが
って、本発明のボート拡張器2oは外部EPROMメモ
リを関連するマイクロ制御器へ提供でき、しかもそれと
同時に特殊機能レジスタがマイクロ制御器と拡張された
2つのボー)A、Hの間でデータを転送できるようにす
る。特殊機能レジスタEPROM2)を種々の場所にマ
ツプできるように構成プログラム30がプログラムされ
る。
このプログラムされるマツピング技術によ、jj)、E
PROM2)と拡張されたボー)A、Bをアドレッシン
グする際の融通性を高くできる。
この好適な実施例においては1つのマツピング技術につ
いて説明したが、EPROM2)とSFR/PC器31
をア器上1するために各種のマツピング技術を利用でき
ることを理解すべきである。たとえば、EPROMプレ
ーンの未使用部分にSFRレジスタをマツプできるよう
に、またはEPROMとSFRレジスタを上に置くこと
ができるように重畳技術を使用できる。更に、第2図に
示す4ボートマイクロ制御器装置では、ボー)0と2が
第2のボート拡張器で動作してボートOと2を拡張し、
EPROMの64にバイトをアクセスするボートを形成
するように、第2のボート拡張器をバス13&と14a
に結合できることを理解すべきである。その場合には、
第4図のアドレス8000−FFFFの間のアドレス信
号によりアクセスするために第2のEFROMをマツプ
できるように、2つのマツピング技術を組合わせること
ができる。32にバイトのEFROMを使用することに
より、そのようなEPROMを2つ16ビツトアドレツ
シング技術でアクセスできる。
以上述べた種々のマツピンク技術は説明のためであって
、本発明を限定するためのものではないことを理解すべ
きである。本発明の要旨を逸脱することなしに他の種々
の技術を容易に実現できる。
更に、既存の装置の代シに、EPROM2)の代シにス
タチックRAMを用いるというように、本発明の要旨を
逸脱するとと々しに他のユニットを容易に用いることが
できる。また、EFROMの容量、アドレス線およびデ
ータ線のビット数を特定の値として好適な実施例を説明
したが、それらの例は説明のためだけのものであって、
実際の値は設計上の選択の問題である。
試験モード可能化 試験モードというのは、部品にストレスを加えたシ、部
品の余裕を判定するために用いるのが普通である非ユー
ザーモードである。試験モードは、製造された部品を試
験するために厳密に用いられるものであるから、部品の
使用者がその試験モードに部品を入れることがないよう
に注意すべきである。意図すると否とを問わず、部品を
試験モードで使用すると、その部品に関連する装置に損
傷を加えることがある。いくつかの試験モード可能化技
術は、部品を特定の試験モードに置くために高電圧検出
器を利用する。ある場合には、ノイズの多い状態のため
に装置が試験モードに置かれることがらシ、それによっ
てその装置自体または関連する装置が損傷を受けたシ、
不正確な情報を読出させられた夛、書込ませられたシす
ることもある。
意図しないのに試験モードにさせられることを阻止する
ために、本発明のボート拡張器20はそれを阻止する特
殊な回路を利用する。特殊な試験起動回路が、試験モー
ドを可能にする試験モード可能化信号を発生するために
ボート拡張器20に設けられる。ここで第5図を参照す
る。2つのボートラッチ51.52がI10バッファ3
2の出力を受けるために結合される。ラッチ52の出力
端子が試験モード可能化回路55へ結合され、ラッチ5
1の出力端子が、特定の試験を行うために試験モードコ
ードを必要とする各種の回路へ結合される。高電圧検出
器回路53への入力として読出し信号RD/が結合され
る。高電圧検出回路53は、試験モードに入るために必
要な高電圧の存在を検出する。高電圧検出信号がフィル
タ54へ加えられ、そのフィルタによりF波された信号
が試験モード可能化回路55へ加えられる。
動作時には、好適な実施例のボート拡張器20がそれの
試験モードに入るまでに3つの条件が存在せねばならな
い。第1の条件は、特定の試験を行うために適正な試験
モード(TM)コードをラッチ51に書込まなければな
らないことである。第2の条件は、試験モード可能化(
TME)コードを他のラッチ52に書込まなければなら
ないことである。ボートラッチ51.52への入力はマ
イクロ制御器または他の信号発生器(試験用)によりバ
ス14m 、 13mを介して供給される。好適な実施
例においては、ラッチ51と52はボー)A、Bのため
のラッチによりそれぞれドライブされる。
しかし、ラッチ51と52はボートラッチの使用に限定
されるものではないことを理解すべきである。適切なT
MEコードがラッチ52により供給された時だけ試験モ
ード可能化回路、55が起動されるように、その回路5
5は予めプログラムされる。
第3の条件は、高電圧検出器回路53へ高電圧を供給せ
ねばならないことである。電源電圧vCCよシ高い電圧
のような高い電圧状態にRD/信号がなった時に高電圧
が存在する。好適な実施例においては直流の12Vが用
いられる。RD/信号が12ボルトの時は、RD/信号
は高電圧検出器回路53に検出信号を発生させる。その
検出信号はフィルタ54を介して試験モード可能化回路
55へ結合される。高電圧検出信号が試験モード可能化
回路55へ加えられ、かつ適切なTMコードが存在する
時に、試験モード可能化回路は試験モードを可能にする
試験モード可能化信号を常に発生する。
フィルタ回路54は、直列結合された一連のインバータ
(第5図には2つのインバータ57 、58が示されて
いる)とナントゲート59で構成されたパルス幅検出器
56を含む。ナントゲート590入力端子は第1のイン
バータ57の入力端子であυ、ナントゲート59の出力
端子は最後のインバータ58の出力端子である。意図し
ないのに高電圧が発生されることが起きないように、グ
リッチのような短いパルスを除去するためにパルス幅検
出器56は動作する。すなわち、電圧スパイ7のために
信号RD/が電源電圧VCCよυ高くなった夛、電源電
圧VCCが低くなって、高電圧検出回路53から高電圧
検出信号が発生されたとすると、所定のパルス幅よシ狭
いパルスを通過させないように存在するパルス幅検出器
56のために、その高電圧検出信号はフィルタ54を介
して結合することはできない。パルス幅検出器56を通
過できる最小パルス幅は直列インバータ列における遅延
により決定される。パルス幅検出器56を通過できる信
号のパルス幅は、インバータ5Tと58で表されている
インバータ列の遅延を受けた後で、パルスがインバータ
57の入力端子にいぜんとして存在するように十分な幅
でなければならない。
したがって、正しい試験を行うために試験モードに入る
ためには、3つの条件が存在せねばならない。すなわち
、ボート拡張器20が特定の試験を行うために有効な試
験モードコードを受けること、予めプログラムされたコ
ードに一致する有効な試験モード可能化コードを受ける
こと、および、12Vの読出し信号を十分に長い間有す
ること、がそれである。それら3つの条件が存在する時
だけ、このボート拡張器は正しい試験を行うことができ
る。別の実施例においては、試験モード可能化回路55
からの試験モード可能化信号を用いてTMコードをラッ
チ51に保持させることができる。
すなわち、ラッチ51は、試験モード可能化信号が発生
されるまではTMコードを受けることができない。
本発明の試験モード可能化技術をボート拡張器について
説明したが、試験モード可能化技術は他の装置で容易に
実現できる。たとえば、EPROMまたはスタチックR
AMのようなメモリを、有効なコードをそれのラッチに
書込むことを要求することにより、それの試験モードに
入れることができ、それから、読出し信号のような制御
信号を十分な時間だけ所定レベルへ移行させることがで
きる。
それら3つの条件がととのった時だけボート拡張器は希
望の試験を行う。更に、本発明の「保持可能化」技術を
実行するために他の装置をラッチの代シに使用できる。
以上、内部メモリと、意図しないのに試験モードに入る
ことを禁止する特殊な保護回路とを有するボート拡張器
について説明した。関連する装置に外部メモリを設ける
ことにより関連するプロセッサすなわち装置とともに動
作するためにボート拡張器が結合されるが、外部メモリ
へ結合したことにより失われたボートの使用も回復する
。別の接着回路は不要である。本発明のボート拡張器は
1つの半導体チップで製造されるが、本発明の実施のた
めにはそうすることは重要ではない。
【図面の簡単な説明】
第1図は外部メモリがマイクロ制御器へ結合された時に
2つのボートが失われる様子を示す略図、第2図は本発
明のボート拡張器に含まれるEPROMの態様の外部メ
モリがマイクロ制御器の2つのボートへ結合される時に
失われるボートを再び使用できるようにした様子を示す
略図、第3図は本発明のボート拡張器を示すブロック図
、第4図は本発明のボート拡張器を用いる時に利用でき
る3つのメモリマツピングプレーンを示す略図、第5図
は本発明のボート拡張器の試験モードの起動を示すブロ
ック図である。 20・・・・ボート拡張器、25,26・・・・アドレ
スバッファ、27.28−・・・アドレスラッチ、30
・・−・構成レジスタ、31・会・・特殊機能レジスタ
およびボート制御器、32・・・・I10バッファ、3
4,35・・・・ボートバッファ、36・−・・主制御
回路、51,52・・・・ポートラッチ、53・・・・
高電圧検出!、54・・・拳フィルタ、5511・Φ・
試験モード可能化回路、56・・・・パルス幅検出器。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試験モードコードを受ける第1のラッチと、試験
    モード可能化コードを受ける第2のラッチと、 試験起動電圧を検出する電圧検出器と、 この電圧検出器と前記第2のラツチへ結合される可能化
    回路と、 を備え、前記試験モード可能化コードは前記可能化回路
    に格納されている予めプログラムされた値と比較され、
    前記試験モード可能化コードが前記値に一致し、かつ前
    記試験起動電圧が存在したとすると、前記可能化回路が
    、前記試験モードコードにより決定される試験を実行す
    るための可能化信号を発生することを特徴とする試験可
    能化信号を発生する試験モード可能化回路。
  2. (2)試験モードコードを受ける第1のラッチと、試験
    モード可能化コードを受ける第2のラッチと、 試験起動電圧を検出し、試験起動信号を発生する電圧検
    出器と、 この電圧検出器へ結合され、その電圧検出器から受ける
    前記試験起動信号をろ波するフィルタと、このフィルタ
    と前記第2のラッチとに結合される可能化回路と、 を備え、前記試験モード可能化コードは前記可能化回路
    に格納されている予めプログラムされた値と比較されて
    、前記試験モード可能化コードが前記予めプログラムさ
    れた値に一致し、かつ前記試験起動電圧が存在したとす
    ると、前記可能化回路は前記試験モードコードにより決
    定される試験を行うための可能化信号を発生することを
    特徴とする半導体装置に対して与えられた試験を行うた
    めに半導体装置を試験モードに置くための試験可能化信
    号を発生する試験モード可能化回路。
JP1326184A 1988-12-30 1989-12-18 試験可能化信号を発生する試験モード可能化回路 Pending JPH02214945A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6525967B1 (en) 1995-02-10 2003-02-25 Micron Technology, Inc. Fast-sensing amplifier for flash memory
US6578124B1 (en) 1995-02-10 2003-06-10 Micron Technology, Inc. Serial command port method, circuit, and system including main and command clock generators to filter signals of less than a predetermined duration

Cited By (6)

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