JPH02217473A - 窒化アルミニウムフィルムの形成方法 - Google Patents
窒化アルミニウムフィルムの形成方法Info
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- JPH02217473A JPH02217473A JP1048429A JP4842989A JPH02217473A JP H02217473 A JPH02217473 A JP H02217473A JP 1048429 A JP1048429 A JP 1048429A JP 4842989 A JP4842989 A JP 4842989A JP H02217473 A JPH02217473 A JP H02217473A
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
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- C07F5/00—Compounds containing elements of Groups 3 or 13 of the Periodic Table
- C07F5/06—Aluminium compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/301—AIII BV compounds, where A is Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
- C23C16/303—Nitrides
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C07F5/06—Aluminium compounds
- C07F5/061—Aluminium compounds with C-aluminium linkage
- C07F5/066—Aluminium compounds with C-aluminium linkage compounds with Al linked to an element other than Al, C, H or halogen (this includes Al-cyanide linkage)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は新規なアルミニウム/窒素化合物に関するもの
でありおよびこの化合物を使って窒化アルミニウム層を
形成する方法に関するものである。窒化アルミニウムは
熱伝導性が高く、電気抵抗が大きいので、半導体素子に
おいて重要な化合物である。例えば、これは、回路によ
って出される熱の放散性の良いことが要求される電子バ
イブリド回路技術用の不動バリヤー層または基板として
使用することができる。
でありおよびこの化合物を使って窒化アルミニウム層を
形成する方法に関するものである。窒化アルミニウムは
熱伝導性が高く、電気抵抗が大きいので、半導体素子に
おいて重要な化合物である。例えば、これは、回路によ
って出される熱の放散性の良いことが要求される電子バ
イブリド回路技術用の不動バリヤー層または基板として
使用することができる。
一般に、塊状窒化アルミニウムは、密度の高い塊状材料
を形成する高温焼結反応を含むセラミック法によって形
成され、この方法で薄い(数ナノメーター)層状のもの
をつくるのは駕しい。薄層は一般に、高温で揮発性であ
りかつ蒸気相中でアンモニアまたは類似の窒素含有揮発
性化合物と反応して窒化アルミニウムを形成する無機ア
ルミニウム化合物、例えばハロゲン化物、の反応によっ
て蒸着させることができる。これらの蒸着法は、反応を
進めるために要する高温(通常は、1000℃を越える
)での蒸着のための複雑な反応器を必要とするやっかい
なものである。そのような装置は高価であり、また半導
体に必要な大規模操作には不適当である。
を形成する高温焼結反応を含むセラミック法によって形
成され、この方法で薄い(数ナノメーター)層状のもの
をつくるのは駕しい。薄層は一般に、高温で揮発性であ
りかつ蒸気相中でアンモニアまたは類似の窒素含有揮発
性化合物と反応して窒化アルミニウムを形成する無機ア
ルミニウム化合物、例えばハロゲン化物、の反応によっ
て蒸着させることができる。これらの蒸着法は、反応を
進めるために要する高温(通常は、1000℃を越える
)での蒸着のための複雑な反応器を必要とするやっかい
なものである。そのような装置は高価であり、また半導
体に必要な大規模操作には不適当である。
窒化アルミニウム蒸着の別のルートは高欄等が5urf
ace 5cience 86 (1979) 238
−245で提案している。アルミニウムトリス−ジアル
キルアミド[AI(NR2) 3] zを300〜50
0℃で分解して層を得ているが、これは分析すると酸素
および炭素並びにアルミニウムおよび窒素が得られる。
ace 5cience 86 (1979) 238
−245で提案している。アルミニウムトリス−ジアル
キルアミド[AI(NR2) 3] zを300〜50
0℃で分解して層を得ているが、これは分析すると酸素
および炭素並びにアルミニウムおよび窒素が得られる。
これらの化合物を、危険でなく、結晶性で、易分解性の
(しかし、分解が容易過ぎない)化合物に代えるのが好
ましい。
(しかし、分解が容易過ぎない)化合物に代えるのが好
ましい。
rnterranto in Materials
Re5earch SocietySymposiu
m Proceecftngs 73 (198
6) 986 では[(C143) 2^INL ]
3でAINを蒸着しているが、この化合物は揮発しに
くく、またアンモニアを蒸着中に存在させており、これ
は蒸着に悪影響を及ぼすことがある。
Re5earch SocietySymposiu
m Proceecftngs 73 (198
6) 986 では[(C143) 2^INL ]
3でAINを蒸着しているが、この化合物は揮発しに
くく、またアンモニアを蒸着中に存在させており、これ
は蒸着に悪影響を及ぼすことがある。
本発明では、以下の化合物(これは重合し得る):
(式中、R1はメチル、エチルまたはn−プロピルであ
り、R2は水素、プロピル、第2ブチル、第3ブチルま
たはアリールである) を提供するものである。
り、R2は水素、プロピル、第2ブチル、第3ブチルま
たはアリールである) を提供するものである。
R1はメチルであるのが好ましい。R2はイソプロピル
であるのが好ましい。
であるのが好ましい。
本発明はまた、基板上に窒化アルミニウムの層を形成す
る方法において、基板を500〜900℃(または他の
適当な分解温度)に加熱しそしてこれを1種以上の前記
のような化合物(好ましくはこれまたはこれらのみ)の
蒸気に曝すことより成る方法を提供するものである。前
記の蒸気は実質的に何も他に含んでいないか、あるいは
少なくとも他の反応体化合物、あるいは少なくとも他の
アルミニウムおよび/または窒素含有反応体化合物を含
んでいないのが好ましい。本発明の化合物は一般に揮発
性であり真空中で一般に70℃または80℃〜150℃
の温度にて昇華して分子流となる。(本発明では)これ
を排気された熱い壁で囲まれた反応器管に送入するかあ
るいは蒸着が必要な局部的に加熱された面(基板)上の
管に送る、この装置の形は有機金属化学蒸着(MOCV
D)法に使用される反応器と類似のものであるが、本質
的に異なるのは、本発明は、MOCVDに一般的なより
高いガス圧に適した粘性流の状態ではなく、高真空、有
利にはクヌーセン流の状態下で操作するという点である
。すなわち1本発明の方法では、酒気圧は高くとも10
”Paであるのが好ましく、従って分子線エピタキシー
(MBE−超高真空、10’トル、 10−’Pa*
fi) トMOCVD (10トル、 103Pa
を越える)との中間の範囲である。蒸気を制御して(好
ましくは、少なくとも10−”Paの圧力にて)反応器
に送入すると、前記の化合物の分解が加熱面上で生じ、
その結果窒化アルミニウムフィルムが形成される。アル
ミニウムおよび窒素原子はもちろんどの時点でも正確に
同じ数が放たれている。
る方法において、基板を500〜900℃(または他の
適当な分解温度)に加熱しそしてこれを1種以上の前記
のような化合物(好ましくはこれまたはこれらのみ)の
蒸気に曝すことより成る方法を提供するものである。前
記の蒸気は実質的に何も他に含んでいないか、あるいは
少なくとも他の反応体化合物、あるいは少なくとも他の
アルミニウムおよび/または窒素含有反応体化合物を含
んでいないのが好ましい。本発明の化合物は一般に揮発
性であり真空中で一般に70℃または80℃〜150℃
の温度にて昇華して分子流となる。(本発明では)これ
を排気された熱い壁で囲まれた反応器管に送入するかあ
るいは蒸着が必要な局部的に加熱された面(基板)上の
管に送る、この装置の形は有機金属化学蒸着(MOCV
D)法に使用される反応器と類似のものであるが、本質
的に異なるのは、本発明は、MOCVDに一般的なより
高いガス圧に適した粘性流の状態ではなく、高真空、有
利にはクヌーセン流の状態下で操作するという点である
。すなわち1本発明の方法では、酒気圧は高くとも10
”Paであるのが好ましく、従って分子線エピタキシー
(MBE−超高真空、10’トル、 10−’Pa*
fi) トMOCVD (10トル、 103Pa
を越える)との中間の範囲である。蒸気を制御して(好
ましくは、少なくとも10−”Paの圧力にて)反応器
に送入すると、前記の化合物の分解が加熱面上で生じ、
その結果窒化アルミニウムフィルムが形成される。アル
ミニウムおよび窒素原子はもちろんどの時点でも正確に
同じ数が放たれている。
本発明の方法で使用する新規な化合物はジアルキルアル
ミニウム(モノ/ジ)アルキルアミドである。アルミニ
ウムに付いているアルキル基は、アルミニウムに遮蔽効
果を及ぼし、分子間相互作用を最小限にしそして高揮発
性に導く基であるのが好ましい。これらの基は、一般に
金属アルミニウムを生成することになる分解へ導くベー
タ離脱反応を行なわないものであることが重要である。
ミニウム(モノ/ジ)アルキルアミドである。アルミニ
ウムに付いているアルキル基は、アルミニウムに遮蔽効
果を及ぼし、分子間相互作用を最小限にしそして高揮発
性に導く基であるのが好ましい。これらの基は、一般に
金属アルミニウムを生成することになる分解へ導くベー
タ離脱反応を行なわないものであることが重要である。
エチル基、特にメチル基が適している。窒素に付いてい
るアルキルまたはアリール基は、500℃〜900℃で
容易に分解するようにベータ離脱反応が行なわれる基、
例えば共にイソプロピル、であるのが好ましい。ベータ
離脱反応ではアルケンを失って、先駆体分子中の窒素原
子に付いた水素原子を残すので、R’ =Hである化合
物を使用することも可能である。
るアルキルまたはアリール基は、500℃〜900℃で
容易に分解するようにベータ離脱反応が行なわれる基、
例えば共にイソプロピル、であるのが好ましい。ベータ
離脱反応ではアルケンを失って、先駆体分子中の窒素原
子に付いた水素原子を残すので、R’ =Hである化合
物を使用することも可能である。
これらの新規な化合物は500℃と800℃との間の温
度で分解して当原子量のアルミニウムおよび窒素が形成
するAIN層となる。従って、この2元化合物は単一先
駆体成分から形成され、フィルム蒸着のために他の成分
または担体気体は必要ではない。
度で分解して当原子量のアルミニウムおよび窒素が形成
するAIN層となる。従って、この2元化合物は単一先
駆体成分から形成され、フィルム蒸着のために他の成分
または担体気体は必要ではない。
これは従来のAIN蒸着法に較べて簡略化された方法で
あるので、フィルム蒸着に使用される装置を記載のよう
に単純で安価なものにすることができる。
あるので、フィルム蒸着に使用される装置を記載のよう
に単純で安価なものにすることができる。
形成されるAINフィルムの物理的性質は分解温度およ
び蒸着される表面によって決まる。前記の温度範囲のよ
り低い範囲、すなわち500〜550℃でアモルファス
表面を用いると、生成されるフィルムはアモルファスで
あるかまたは平均微結晶サイズが一般に1マイクロメー
タの非常に微細な多結晶質となる。これより高い成長温
度では、直径が1マイクロメータを越えるより大きな微
結晶から成るフィルムとなる。蒸着に使用される表面が
シリコンまたは砒化ガリウムのような半導体材料の単結
晶ウェファ−であると、形成される層は配向した立方晶
またはエピタキシャル単結晶層より成る。連続した高密
度のフィルムを形成するには、AINと熱膨張が合わな
いがその差が小さいウェファ−を使用するのが好ましい
。しかしながら、基板は上記温度で損なわれることのな
いどのような材料でもよい。例えば、シリコン、石英お
よびサファイアがある。
び蒸着される表面によって決まる。前記の温度範囲のよ
り低い範囲、すなわち500〜550℃でアモルファス
表面を用いると、生成されるフィルムはアモルファスで
あるかまたは平均微結晶サイズが一般に1マイクロメー
タの非常に微細な多結晶質となる。これより高い成長温
度では、直径が1マイクロメータを越えるより大きな微
結晶から成るフィルムとなる。蒸着に使用される表面が
シリコンまたは砒化ガリウムのような半導体材料の単結
晶ウェファ−であると、形成される層は配向した立方晶
またはエピタキシャル単結晶層より成る。連続した高密
度のフィルムを形成するには、AINと熱膨張が合わな
いがその差が小さいウェファ−を使用するのが好ましい
。しかしながら、基板は上記温度で損なわれることのな
いどのような材料でもよい。例えば、シリコン、石英お
よびサファイアがある。
本発明を添付の図面を参照し例を示して説明する。
有機金属分子線エピタキシャル(MOMBE)蒸着に適
した装置の形を第1図に略図で示す。先駆体(前記化合
物)は排気された室1に入っており、この室は分解室2
に直接つながっており、室2内において、被覆する表面
を、室1から生じる蒸気流に対して都合のよいように並
べる。先駆体は室1をサーモスタット制御の小さいオー
ブン3によって70〜150℃に加熱することにより気
化される。より大きな電気炉4は蒸着が必要な表面を5
00〜900℃の温度に加熱するのに使用する。
した装置の形を第1図に略図で示す。先駆体(前記化合
物)は排気された室1に入っており、この室は分解室2
に直接つながっており、室2内において、被覆する表面
を、室1から生じる蒸気流に対して都合のよいように並
べる。先駆体は室1をサーモスタット制御の小さいオー
ブン3によって70〜150℃に加熱することにより気
化される。より大きな電気炉4は蒸着が必要な表面を5
00〜900℃の温度に加熱するのに使用する。
室2は管5によってトラップ6を通して排気され、この
トラップ6は液体窒素または他の適当な冷却液に浸けて
もよく、こうすることによって分解されなかった先駆体
および反応生成物は凝縮される。このトラップはバルブ
7および8によって遮衛することができ、これによって
化学加工ステージョン内の内容物を処理することができ
る。毒性の材料または生成物を伴う必要がないことが本
方法の特徴である。装置は回転または拡散ポンプ9.1
0によってまたは分子篩、ターボ分子またはチタン昇華
ポンプのような他の種類の高真空ポンプによって排気さ
れる。
トラップ6は液体窒素または他の適当な冷却液に浸けて
もよく、こうすることによって分解されなかった先駆体
および反応生成物は凝縮される。このトラップはバルブ
7および8によって遮衛することができ、これによって
化学加工ステージョン内の内容物を処理することができ
る。毒性の材料または生成物を伴う必要がないことが本
方法の特徴である。装置は回転または拡散ポンプ9.1
0によってまたは分子篩、ターボ分子またはチタン昇華
ポンプのような他の種類の高真空ポンプによって排気さ
れる。
分解室2の別の形を第2図に示す。ここで窒化アルミニ
ウムフィルムを被覆する表面11は、表面に向けられた
赤外ランプまたは抵抗加熱プレートまたは内部サセプタ
ー12につながった外部高周波加熱コイルによって局部
的に加熱される。この配列では、先駆体材料の分解が反
応器壁」二で生じないというおよび熱電対13をサセプ
ターまたは加熱スプレダー内に挿入して分解温度の正確
な指示を与えて制御することができるという利点がある
。
ウムフィルムを被覆する表面11は、表面に向けられた
赤外ランプまたは抵抗加熱プレートまたは内部サセプタ
ー12につながった外部高周波加熱コイルによって局部
的に加熱される。この配列では、先駆体材料の分解が反
応器壁」二で生じないというおよび熱電対13をサセプ
ターまたは加熱スプレダー内に挿入して分解温度の正確
な指示を与えて制御することができるという利点がある
。
この装置の特徴は先駆体材料の揮発速度を、先駆体領域
をオーブンによって保つ温度により制御することができ
ることである。これによって、フィルムの成長速度を制
御することが可能となり、これは装置の操作の再現性に
重要なことである。
をオーブンによって保つ温度により制御することができ
ることである。これによって、フィルムの成長速度を制
御することが可能となり、これは装置の操作の再現性に
重要なことである。
さらに、ガス流は境界層効果および分解室の長さに添っ
た蒸気の激減を生じる流体力学的制限を受けないので、
フィルムの厚さの均一性は従来のAINの悉気暦蒸着よ
りもすぐれている。直径25M1のウェファ−を横切る
ばらつきが、ナトリウム光の1波長未満の干渉縞で示さ
れるフィルムが、再現的に得られた。
た蒸気の激減を生じる流体力学的制限を受けないので、
フィルムの厚さの均一性は従来のAINの悉気暦蒸着よ
りもすぐれている。直径25M1のウェファ−を横切る
ばらつきが、ナトリウム光の1波長未満の干渉縞で示さ
れるフィルムが、再現的に得られた。
適当な先駆体材料の例として、ジメチルアルミニウムジ
−イソプロピルアミドをIl造し、大気水分に48時間
曝した後も外観が変化しないかつ蒸着面に非常に強力に
付着する。緻密で連続した均一なAINフィルムを65
0℃で成長させるのに使用した。これらの表面は石英ガ
ラス、シリコン、サファイア、砒化ガリウム、インジウ
ムホスフィン、金属ニッケルおよびモリブデン等である
。シリコン上のフィルムの構造はエピタキシャルであっ
た:層は600℃を越える基板温度で成長することがで
きた。500℃での層の成長は見たところアモルファス
であるが、近付いて調べると非常に小さい微結晶からな
ることが分かった。大気水分は窒化アルミニウム格子に
ほんの少し侵入してこれを分解することができるので、
この構造は(予想外のことではないが)空気中で48時
間以内に明らかに劣化した。
−イソプロピルアミドをIl造し、大気水分に48時間
曝した後も外観が変化しないかつ蒸着面に非常に強力に
付着する。緻密で連続した均一なAINフィルムを65
0℃で成長させるのに使用した。これらの表面は石英ガ
ラス、シリコン、サファイア、砒化ガリウム、インジウ
ムホスフィン、金属ニッケルおよびモリブデン等である
。シリコン上のフィルムの構造はエピタキシャルであっ
た:層は600℃を越える基板温度で成長することがで
きた。500℃での層の成長は見たところアモルファス
であるが、近付いて調べると非常に小さい微結晶からな
ることが分かった。大気水分は窒化アルミニウム格子に
ほんの少し侵入してこれを分解することができるので、
この構造は(予想外のことではないが)空気中で48時
間以内に明らかに劣化した。
本発明の方法を実施例によって詳しく説明するジイソプ
ロピルアミンNH(CHMe 2 ) 2(3,15g
、31.2 mmol )のペンタン(20cm”)
溶液をMe、AIの溶液(13備3の2.3M ヘキサ
ン溶液、30mmol)上へ一196℃で滴加した。内
容物を0℃に暖め、溶媒を真空中で除くと粗Me 3A
l・NIP(CHHen ) 2が残った。これを室温
、1.Paにてフラスコ中に一78℃で蒸留した。精製
した付加物を窒素の大気圧下1時間145℃に加熱し、
得られた固体を90℃/IPaで昇華したところ純粋な
[Me、 AIN(CHMez ) x ] zが得ら
れた。この材料の試料を第1図に示す室lの反応器に入
九た。室1および2の圧力は約10−”Paに減じ、室
2の温度は650℃に上げた。室1の温度が70℃に上
昇すると試料は昇華しくIPa台の蒸気圧に対して)そ
の後室2の加熱基板上で分解した。このようにして、A
INは連続した薄い層として、石英ガラスそして、シリ
コン、サファイア、砒化ガリウムおよびインジウムホス
フィンの単結晶ウェファ−上に蒸着した。
ロピルアミンNH(CHMe 2 ) 2(3,15g
、31.2 mmol )のペンタン(20cm”)
溶液をMe、AIの溶液(13備3の2.3M ヘキサ
ン溶液、30mmol)上へ一196℃で滴加した。内
容物を0℃に暖め、溶媒を真空中で除くと粗Me 3A
l・NIP(CHHen ) 2が残った。これを室温
、1.Paにてフラスコ中に一78℃で蒸留した。精製
した付加物を窒素の大気圧下1時間145℃に加熱し、
得られた固体を90℃/IPaで昇華したところ純粋な
[Me、 AIN(CHMez ) x ] zが得ら
れた。この材料の試料を第1図に示す室lの反応器に入
九た。室1および2の圧力は約10−”Paに減じ、室
2の温度は650℃に上げた。室1の温度が70℃に上
昇すると試料は昇華しくIPa台の蒸気圧に対して)そ
の後室2の加熱基板上で分解した。このようにして、A
INは連続した薄い層として、石英ガラスそして、シリ
コン、サファイア、砒化ガリウムおよびインジウムホス
フィンの単結晶ウェファ−上に蒸着した。
本発明は特定のアルミニウム/窒素化合物を使って窒化
アルミニウム層を形成する方法に関するものである。窒
化アルミニウムは熱伝導性が高く、?llt気抵抗が大
きいので、半導体素子において重要な化合物である。例
えば、これは、回路によって出される熱の放散性の良い
ことが要求される電子バイブリド回路技術用の不動バリ
ヤー層または基板として使用することができる。
アルミニウム層を形成する方法に関するものである。窒
化アルミニウムは熱伝導性が高く、?llt気抵抗が大
きいので、半導体素子において重要な化合物である。例
えば、これは、回路によって出される熱の放散性の良い
ことが要求される電子バイブリド回路技術用の不動バリ
ヤー層または基板として使用することができる。
−mに、塊状窒化アルミニウムは、密度の高い塊状材料
を形成する高温焼結反応を含むセラミツ、り法によって
形成され、この方法で薄い(数ナノメーター)層状のも
のをつくるのは難しい。薄層は一殿に、高温で揮発性で
ありかつ蒸気相中でアンモニアまたは類似の窒素含有揮
発性化合物と反応して窒化アルミニウムを形成する無機
アルミニウム化合物、例えばハロゲン化物、の反応によ
って蒸着させることができる。これらの蒸着法は、反応
を進めるために要する高温(通常は、1000℃を越え
る)での蒸着のための複雑な反応器を必要とするやっか
いなものである。そのような装置は高価であり、また半
導体に必要な大規模操作には不適当である。
を形成する高温焼結反応を含むセラミツ、り法によって
形成され、この方法で薄い(数ナノメーター)層状のも
のをつくるのは難しい。薄層は一殿に、高温で揮発性で
ありかつ蒸気相中でアンモニアまたは類似の窒素含有揮
発性化合物と反応して窒化アルミニウムを形成する無機
アルミニウム化合物、例えばハロゲン化物、の反応によ
って蒸着させることができる。これらの蒸着法は、反応
を進めるために要する高温(通常は、1000℃を越え
る)での蒸着のための複雑な反応器を必要とするやっか
いなものである。そのような装置は高価であり、また半
導体に必要な大規模操作には不適当である。
窒化アルミニウム蒸着の別のルートは高欄等が5urf
ace 5cience 86 (1979) 238
−245で提案している。アルミニウムトリス−ジアル
キルアミド[^1(NR2) 3 ] 2を300〜5
00℃で分解して層を得ているが、これは分析すると酸
素および炭素並びにアルミニウムおよび窒素が得られる
。これらの化合物を、危険でなく、結晶性で、易分解性
の(しかし、分解が容易過ぎない)化合物に代えるのが
好ましい。
ace 5cience 86 (1979) 238
−245で提案している。アルミニウムトリス−ジアル
キルアミド[^1(NR2) 3 ] 2を300〜5
00℃で分解して層を得ているが、これは分析すると酸
素および炭素並びにアルミニウムおよび窒素が得られる
。これらの化合物を、危険でなく、結晶性で、易分解性
の(しかし、分解が容易過ぎない)化合物に代えるのが
好ましい。
Interrante in Materials
Re5earch SocietySymposiu
m Proceedings 73 (1986
) 986 では[(CH3) z AINH□]3
でAINを蒸着しているが、この化合物は揮発しにくく
、またアンモニアを蒸着中に存在させており、これは蒸
着に悪影響を及ぼすことがある。
Re5earch SocietySymposiu
m Proceedings 73 (1986
) 986 では[(CH3) z AINH□]3
でAINを蒸着しているが、この化合物は揮発しにくく
、またアンモニアを蒸着中に存在させており、これは蒸
着に悪影響を及ぼすことがある。
本発明では、基板を化合物分解温度に加熱し、これを1
f1以上の下記の化合物: (式中 R1およびR2は個々にエチルまたはn−プロ
ピルであり、そしてR3およびR4は個々に水素、第2
ブチル、第3ブチルまたはアリールである) の蒸気に曝すことより成る、基板上に窒化アルミニウム
層を形成する方法を提供する。 R1およびR2の少な
くとも1つはエチルであるのが好ましい R3およびR
4の少なくとも1つは水素であるのが好ましい。
f1以上の下記の化合物: (式中 R1およびR2は個々にエチルまたはn−プロ
ピルであり、そしてR3およびR4は個々に水素、第2
ブチル、第3ブチルまたはアリールである) の蒸気に曝すことより成る、基板上に窒化アルミニウム
層を形成する方法を提供する。 R1およびR2の少な
くとも1つはエチルであるのが好ましい R3およびR
4の少なくとも1つは水素であるのが好ましい。
前記の蒸気は実質的に何も他に含んでいないか、あるい
は少なくとも他の反応体化合物、あるいは少なくとも他
のアルミニウムおよび/または窒素含有反応体化合物を
含んでいないのが好ましい、本発明の化合物は一般に揮
発性であり真空中で一般に70℃または80℃〜150
℃の温度にて昇華して分子流となる。(本発明では)こ
れを排気された熱い壁で囲まれた反応器管に送入するか
あるいは蒸着が必要な局部的に加熱された而(基板)上
の管に送る。この装置の形は有機金属化学蒸着(MOC
VD)法に使用される反応器と類似のものであるが、本
質的に異なるのは1本発明は、MOCVDに一般的なよ
り高いガス圧に適した粘性流の状態ではなく、高真空、
有利にはクヌーセン流の状態下で操作するという点であ
る。すなおち、本発明の方法では、蒸気圧は高くとも1
02Paであるのが好ましく、従って分子線エピタキシ
ー(MBE−超高真空、10−@トル、10−’Pa未
満)とMOCvD(10トル、10’Paを越える)と
の中間の範囲である。;9!!気を制御して(好ましく
は、少なくとも10−’Paの圧力にて)反応器に送入
すると、前記の化合物の分解が加熱面上で生じ、その結
果窒化アルミニウムフィルムが形成される。アルミニウ
ムおよび窒素原子はもちろんどの時点でも正確に同じ数
が放たれている。
は少なくとも他の反応体化合物、あるいは少なくとも他
のアルミニウムおよび/または窒素含有反応体化合物を
含んでいないのが好ましい、本発明の化合物は一般に揮
発性であり真空中で一般に70℃または80℃〜150
℃の温度にて昇華して分子流となる。(本発明では)こ
れを排気された熱い壁で囲まれた反応器管に送入するか
あるいは蒸着が必要な局部的に加熱された而(基板)上
の管に送る。この装置の形は有機金属化学蒸着(MOC
VD)法に使用される反応器と類似のものであるが、本
質的に異なるのは1本発明は、MOCVDに一般的なよ
り高いガス圧に適した粘性流の状態ではなく、高真空、
有利にはクヌーセン流の状態下で操作するという点であ
る。すなおち、本発明の方法では、蒸気圧は高くとも1
02Paであるのが好ましく、従って分子線エピタキシ
ー(MBE−超高真空、10−@トル、10−’Pa未
満)とMOCvD(10トル、10’Paを越える)と
の中間の範囲である。;9!!気を制御して(好ましく
は、少なくとも10−’Paの圧力にて)反応器に送入
すると、前記の化合物の分解が加熱面上で生じ、その結
果窒化アルミニウムフィルムが形成される。アルミニウ
ムおよび窒素原子はもちろんどの時点でも正確に同じ数
が放たれている。
本発明の方法で使用する化合物はジアルキルアルミニウ
ムジアルキルアミドであるのが好ましいアルミニウムに
付いているアルキル基は、アルミニウムに遮蔽効果を及
ぼし、分子間相互作用を最小限にしそして高揮発性に導
く基であるのが好ましい。これらの基は、一般に金属ア
ルミニウムを生成することになる分解へ導くベータS脱
反応を行なおないものであることが重要である。エチル
基、特にメチル基が適している。窒素に付いているアル
キルまたはアリール基は、500℃〜900℃で容易に
分解するようにベータ離脱反応が行なわれる基1例えば
イソプロピル、であるのが好ましい、ベータIi!脱反
応ではアルケンを失って、先駆体分子中の窒素原子に付
いた水素原子を残すので、ジアルキルアルミニウムアミ
ド(すなわち、R3=R’ =H)を使用することも可
能である。
ムジアルキルアミドであるのが好ましいアルミニウムに
付いているアルキル基は、アルミニウムに遮蔽効果を及
ぼし、分子間相互作用を最小限にしそして高揮発性に導
く基であるのが好ましい。これらの基は、一般に金属ア
ルミニウムを生成することになる分解へ導くベータS脱
反応を行なおないものであることが重要である。エチル
基、特にメチル基が適している。窒素に付いているアル
キルまたはアリール基は、500℃〜900℃で容易に
分解するようにベータ離脱反応が行なわれる基1例えば
イソプロピル、であるのが好ましい、ベータIi!脱反
応ではアルケンを失って、先駆体分子中の窒素原子に付
いた水素原子を残すので、ジアルキルアルミニウムアミ
ド(すなわち、R3=R’ =H)を使用することも可
能である。
これらの化合物は500℃と800℃との間の温度で分
解して当原子量のアルミニウムおよび窒素が形成するA
IN層となる。従って、この2元化合物は単一先駆体成
分から形成され、フィルム蒸着のために他の成分または
担体気体は必要ではない。
解して当原子量のアルミニウムおよび窒素が形成するA
IN層となる。従って、この2元化合物は単一先駆体成
分から形成され、フィルム蒸着のために他の成分または
担体気体は必要ではない。
これは従来のAIN蒸着法に較べて簡略化された方法で
あるので、フィルム蒸着に使用される装置を記載のよう
に単純で安価なものにすることができる。
あるので、フィルム蒸着に使用される装置を記載のよう
に単純で安価なものにすることができる。
形成されるAINフィル11の物理的性質は分解温度お
よび蒸着される表面によって決まる。前記の温度範囲の
より低い範囲、すなわち500〜550℃でアモルファ
ス表面を用いると、生成されるフィルムはアモルファス
であるかまたは平均微結晶サイズが一般に1マイクロメ
ータの非常に微細な多結品質となる。これより高い成長
温度では。
よび蒸着される表面によって決まる。前記の温度範囲の
より低い範囲、すなわち500〜550℃でアモルファ
ス表面を用いると、生成されるフィルムはアモルファス
であるかまたは平均微結晶サイズが一般に1マイクロメ
ータの非常に微細な多結品質となる。これより高い成長
温度では。
直径が1マイクロメータを越えるより大きな微結品から
成るフィルムとなる。蒸着に使用される表面がシリコン
または砒化ガリウムのような半導体材料の単結晶ウェフ
ァ−であると、形成される層は配向した立方晶またはエ
ピタキシャル単結晶層より成る。連続した高密度のフィ
ルムを形成するには、AINと熱膨張が合ねないがその
差が小さいウェファ−を使用するのが好ましい。しかし
ながら、基板は上記温度で損なわれることのないどのよ
うな材料でもよい。例えば、シリコン、石英およびサフ
ァイアがある。
成るフィルムとなる。蒸着に使用される表面がシリコン
または砒化ガリウムのような半導体材料の単結晶ウェフ
ァ−であると、形成される層は配向した立方晶またはエ
ピタキシャル単結晶層より成る。連続した高密度のフィ
ルムを形成するには、AINと熱膨張が合ねないがその
差が小さいウェファ−を使用するのが好ましい。しかし
ながら、基板は上記温度で損なわれることのないどのよ
うな材料でもよい。例えば、シリコン、石英およびサフ
ァイアがある。
本発明を添付の図面を参照し例を示して説明する。
有機金属分子線エピタキシャル(MOMBE)蒸着に適
した装置の形を第1図に略図で示す、先駆体(前記化合
物)は排気された室1に入っており、この室は分解室2
に直接つながっており、室2内において、被覆する表面
を、室1から生じる蒸気流に対して都合のよいように並
べる。先駆体は室1をサーモスタット制御の小さいオー
ブン3によって70〜150℃に加熱することにより気
化される。より大きな電気炉4は蒸着が必要な表面を5
00〜900℃の温度に加熱するのに使用する。
した装置の形を第1図に略図で示す、先駆体(前記化合
物)は排気された室1に入っており、この室は分解室2
に直接つながっており、室2内において、被覆する表面
を、室1から生じる蒸気流に対して都合のよいように並
べる。先駆体は室1をサーモスタット制御の小さいオー
ブン3によって70〜150℃に加熱することにより気
化される。より大きな電気炉4は蒸着が必要な表面を5
00〜900℃の温度に加熱するのに使用する。
室2は管5によってトラップ6を通して排気され、この
トラップ6は液体窒素または他の適当な冷却液に浸けて
もよく、こうすることによって分解されなかった先駆体
および反応生成物は凝縮される。このトラップはバルブ
7および8によって遮所することができ、これによって
化学加工ステージョン内の内容物を処理することができ
る。毒性の材料または生成物を伴う必要がないことが本
方法の特徴である。装置は回転または拡散ポンプ9.1
0によってまたは分子篩、ターボ分子またはチタン昇華
ポンプのような他の種類の高真空ポンプによって排気さ
れる。
トラップ6は液体窒素または他の適当な冷却液に浸けて
もよく、こうすることによって分解されなかった先駆体
および反応生成物は凝縮される。このトラップはバルブ
7および8によって遮所することができ、これによって
化学加工ステージョン内の内容物を処理することができ
る。毒性の材料または生成物を伴う必要がないことが本
方法の特徴である。装置は回転または拡散ポンプ9.1
0によってまたは分子篩、ターボ分子またはチタン昇華
ポンプのような他の種類の高真空ポンプによって排気さ
れる。
分解室2の別の形を第2図に示す。ここで窒化アルミニ
ウムフィルムを被覆する表面11は、表面に向けられた
赤外ランプまたは抵抗加熱プレートまたは内部サセプタ
ー12につながった外部高周波加熱コイルによって局部
的に加熱される。この配列では、先駆体材料の分解が反
応器壁土で生じないというおよび熱電対13をサセプタ
ーまたは加熱スプレダー内に挿入して分解温度の正確な
指示を与えてI!11#することができるという利点が
ある。
ウムフィルムを被覆する表面11は、表面に向けられた
赤外ランプまたは抵抗加熱プレートまたは内部サセプタ
ー12につながった外部高周波加熱コイルによって局部
的に加熱される。この配列では、先駆体材料の分解が反
応器壁土で生じないというおよび熱電対13をサセプタ
ーまたは加熱スプレダー内に挿入して分解温度の正確な
指示を与えてI!11#することができるという利点が
ある。
この装置の特徴は先駆体材料の揮発速度を、先駆体領域
をオーブンによって保つ温度により制御することができ
ることである。これによって、フィルムの成長速度を制
御することが可能となり、これは装置の操作の再現性に
重要なことである。
をオーブンによって保つ温度により制御することができ
ることである。これによって、フィルムの成長速度を制
御することが可能となり、これは装置の操作の再現性に
重要なことである。
さらに、ガス流は境界層効果および分解室の長さに添っ
た蒸気の激減を生じる流体力学的制限を受けないので、
フィルムの厚さの均一性は従来のAINの蒸気層蒸着よ
りもすぐれている。直径25mのウェファ−を横切るば
らつきが、ナトリウム光の1波長未満の干渉縞で示され
るフィルムが、再現的に得られた。
た蒸気の激減を生じる流体力学的制限を受けないので、
フィルムの厚さの均一性は従来のAINの蒸気層蒸着よ
りもすぐれている。直径25mのウェファ−を横切るば
らつきが、ナトリウム光の1波長未満の干渉縞で示され
るフィルムが、再現的に得られた。
適当な先駆体材料の例として、ジメチルアルミニウムジ
−イソプロピルアミドを製造し、大気水分に48時間曝
した後も外観が変化しないかつ蒸着面に非常に強力に付
着する、緻密で連続した均一なAINフィルムを700
℃で成長させるのに使用した。これらの表面は石英ガラ
ス、シリコン、サファイア、砒化ガリウム、インジウム
ホスフィン、金属ニッケルおよびモリブデン等である。
−イソプロピルアミドを製造し、大気水分に48時間曝
した後も外観が変化しないかつ蒸着面に非常に強力に付
着する、緻密で連続した均一なAINフィルムを700
℃で成長させるのに使用した。これらの表面は石英ガラ
ス、シリコン、サファイア、砒化ガリウム、インジウム
ホスフィン、金属ニッケルおよびモリブデン等である。
シリコン上のフィルムの構造はエピタキシャルであった
;層は600℃を越える基板温度で成長することができ
た。500℃での層の成長は見たところアモルファスで
あるが、近付いて調べると非常に小さい微結晶からなる
ことが分かった。大気水分は窒化アルミニウム格子にほ
んの少し侵入してこれを分解することができるので、こ
の構造は(予想外のことではないが)空気中で48時間
以内に明らかに劣化した。
;層は600℃を越える基板温度で成長することができ
た。500℃での層の成長は見たところアモルファスで
あるが、近付いて調べると非常に小さい微結晶からなる
ことが分かった。大気水分は窒化アルミニウム格子にほ
んの少し侵入してこれを分解することができるので、こ
の構造は(予想外のことではないが)空気中で48時間
以内に明らかに劣化した。
本発明の方法を実施例によって詳しく説明するジイソプ
ロピルアミンN■(CHMe 2 ) z (3,1
5g 、31.2 ++u++ol )のペンタン(2
0013)溶液をEt、 AIの溶液(2,3M ヘ
キサン溶液、30 mmol)上へ一196℃で滴加し
た。内容物を0℃に暖め、溶媒を真空中で除くと粗Et
3Al・NH(Ct1Me2 ) 2が残った。これ
を室温、IPaにてフラスコ中に一78℃で蒸留した。
ロピルアミンN■(CHMe 2 ) z (3,1
5g 、31.2 ++u++ol )のペンタン(2
0013)溶液をEt、 AIの溶液(2,3M ヘ
キサン溶液、30 mmol)上へ一196℃で滴加し
た。内容物を0℃に暖め、溶媒を真空中で除くと粗Et
3Al・NH(Ct1Me2 ) 2が残った。これ
を室温、IPaにてフラスコ中に一78℃で蒸留した。
精製した付加物を窒素の大気圧下1時rI!J145℃
に加熱し、得られた固体を120℃/IPaで昇華した
ところ純粋な[Et2 AIN(CHMez ) z
] zが得られた。この材料の試料を第1図に示す室1
の反応器に入れた。室1および2の圧力は約10””P
aに減じ、室2の温度は700℃に上げた。室1の温度
が100℃に上昇すると試料は昇華しくIPa台の蒸気
圧に対して)、その後室2の加熱基板上で分解した。こ
のようにして、AINは連続した薄い層として、石英ガ
ラスそして、シリコン、サファイア、砒化ガリウムおよ
びインジウムホスフィンの単結晶ウェファ−上に蒸着し
た。
に加熱し、得られた固体を120℃/IPaで昇華した
ところ純粋な[Et2 AIN(CHMez ) z
] zが得られた。この材料の試料を第1図に示す室1
の反応器に入れた。室1および2の圧力は約10””P
aに減じ、室2の温度は700℃に上げた。室1の温度
が100℃に上昇すると試料は昇華しくIPa台の蒸気
圧に対して)、その後室2の加熱基板上で分解した。こ
のようにして、AINは連続した薄い層として、石英ガ
ラスそして、シリコン、サファイア、砒化ガリウムおよ
びインジウムホスフィンの単結晶ウェファ−上に蒸着し
た。
第1図は、本発明の方法で使用する有機金属分子線エピ
タキシー装置の略図である。 第2図は、第1図の装置の一部である。成長室別の配列
を示すものである。 1−一排気室、 2−一分解室、 3−−オーブン、 11−一窒化アルミニウムフィルム。
タキシー装置の略図である。 第2図は、第1図の装置の一部である。成長室別の配列
を示すものである。 1−一排気室、 2−一分解室、 3−−オーブン、 11−一窒化アルミニウムフィルム。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)下記の化合物: ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、R^1はメチル、エチルまたはn−プロピルで
あり、R^2は水素、プロピル、第2ブチル、第3ブチ
ルまたはアリールである) (2)R^1がメチルである、請求項第(1)に記載の
化合物。 (3)R^2がイソプロピルである、請求項第(1)ま
たは(2)に記載の化合物。 (4)下記の化合物: ▲数式、化学式、表等があります▼ (5)請求項第(1)〜(4)のいずれかに記載の化合
物の重合体である化合物。 (6)基板を化合物分解温度に加熱し、これを1種以上
のアルミニウム含有化合物の蒸気に曝すことより成る、
基板上に窒化アルミニウム層を形成する方法。 (7)前記の蒸気が他のアルミニウム含有化合物を含ん
でいない、請求項第(6)に記載の方法。 (8)前記の蒸気が他の窒素含有化合物を含んでいない
、請求項第(6)または(7)に記載の方法。 (9)前記の蒸気が他の反応体を含んでいない、請求項
第(6)に記載の方法。 (10)前記の蒸気が実質的に他になにも含んでいない
、請求項第(6)に記載の方法。(11)前記化合物を
70℃〜150℃で加熱することによって前記の蒸気を
発生させる、請求項第(6)〜(10)のいずれかに記
載の方法(12)基板を500℃〜900℃の温度に保
つ、請求項第(6)〜(11)のいずれかに記載の方法
。 (13)基板温度が800℃以下である、請求項第(1
2)に記載の方法。 (14)基板をクヌーセン流に当てる、請求項第(6)
〜(13)のいずれかに記載の方法。 (15)蒸気圧が10^−^1Pa〜10^2Paであ
る、請求項第(6)〜(14)のいずれかに記載の方法
。 (16)請求項第(6)〜(15)のいずれかに記載の
方法によって上に窒化アルミニウムフィルムが形成され
た基板。 (17)基板を化合物分解温度に加熱し、これを1種以
上の下記の化合物: ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、R^1およびR^2は個々にエチルまたはn−
プロピルであり、そしてR^3およびR^4は個々に水
素、第2ブチル、第3ブチルまたはアリールである) の蒸気に曝すことより成る、基板上に窒化アルミニウム
層を形成する方法。 (18)R^1およびR^2の少なくとも1つがエチル
である、請求項第(17)に記載の方法。 (19)R^3およびR^4の少なくとも1つがHであ
る、請求項第(17)または(18)に記載の方法。 (20)前記化合物が前記の式の重合体である、請求項
第(17)〜(19)のいずれかに記載の方法。 (21)前記の蒸気が他のアルミニウム含有化合物を含
んでいない、請求項第(17)〜(20)のいずれかに
記載の方法。 (22)前記の蒸気が他の窒素含有化合物を含んでいな
い、請求項第(17)〜(21)のいずれかに記載の方
法。 (23)前記の蒸気が他の反応体を含んでいない、請求
項第(17)〜(20)のいずれかに記載の方法。 (24)前記の蒸気が実質的に他になにも含んでいない
、請求項第(17)〜(20)のいずれかに記載の方法
。 (25)前記化合物を70℃〜150℃で加熱すること
によって前記の蒸気を発生させる、請求項第(17)〜
(24)のいずれかに記載の方法。 (26)基板を500℃〜900℃の温度に保つ、請求
項第(17)〜(25)のいずれかに記載の方法。 (27)基板温度が800℃以下である、請求項第(2
6)に記載の方法。 (28)基板をクヌーセン流に当てる、請求項第(17
)〜(27)のいずれかに記載の方法。 (29)蒸気圧が10^−^1Pa〜10^2Paであ
る、請求項第(17)〜(28)のいずれかに記載の方
法。 (30)請求項第(17)〜(29)のいずれかに記載
の方法によって上に窒化アルミニウムフィルムが形成さ
れた基板。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB888804707A GB8804707D0 (en) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | Forming aluminium nitride films |
| GB8804707 | 1988-02-29 | ||
| GB8805524 | 1988-03-08 | ||
| GB888805524A GB8805524D0 (en) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | Forming aluminium nitride films |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02217473A true JPH02217473A (ja) | 1990-08-30 |
Family
ID=26293555
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1048429A Pending JPH02217473A (ja) | 1988-02-29 | 1989-02-28 | 窒化アルミニウムフィルムの形成方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0331448A3 (ja) |
| JP (1) | JPH02217473A (ja) |
| KR (1) | KR890013038A (ja) |
| GB (1) | GB2221215A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100254529B1 (ko) * | 1997-08-12 | 2000-05-01 | 김충섭 | 유기알루미늄 화합물을 이용한 규소 (111) 기질 상의 질화알루미늄 막의 제조 방법 |
| JP2002220213A (ja) * | 2001-01-18 | 2002-08-09 | Sony Corp | Iiib族窒素化合物の合成方法 |
| WO2016108398A1 (ko) * | 2014-12-31 | 2016-07-07 | 주식회사 유진테크 머티리얼즈 | 유기 13족 전구체 및 이를 이용한 박막 증착 방법 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3907579A1 (de) * | 1989-03-09 | 1990-09-13 | Merck Patent Gmbh | Verwendung von metallorganischen verbindungen zur abscheidung duenner filme aus der gasphase |
| US5340896A (en) * | 1990-10-09 | 1994-08-23 | Jensen James A | Thermoset polymeric precursors for aluminum nitride |
| CA2045002A1 (en) * | 1990-10-09 | 1992-04-10 | James A. Jensen | Polymer precursors for aluminum nitride |
| US5457173A (en) * | 1990-10-09 | 1995-10-10 | Lanxide Technology Company, Lp | Polymer precursors for aluminum nitride |
| US5260397A (en) * | 1990-10-09 | 1993-11-09 | Jensen James A | Thermoset polymeric precursor for aluminum nitride |
| US5455322A (en) * | 1992-06-12 | 1995-10-03 | Lanxide Technology Company, Lp | Aluminum nitride from inorganic polymers |
| US9988488B2 (en) | 2013-03-26 | 2018-06-05 | Indian Institute Of Technology Madras | Catalyst for poly(lactide) synthesis and uses thereof |
| CN115261660B (zh) * | 2022-09-30 | 2022-12-20 | 昆明理工大学 | 一种高强高导热铝合金材料的制备方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1621358A1 (de) * | 1966-11-08 | 1971-04-29 | Texas Instruments Inc | Verfahren zur Aufbringung duenner Filme aus dielektrischem Material auf ein Substrat |
| US3565704A (en) * | 1967-12-19 | 1971-02-23 | Westinghouse Electric Corp | Aluminum nitride films and processes for producing the same |
| US3922475A (en) * | 1970-06-22 | 1975-11-25 | Rockwell International Corp | Process for producing nitride films |
| US4096092A (en) * | 1977-02-11 | 1978-06-20 | Exxon Research & Engineering Co. | Ziegler type catalyst system |
| GB1603449A (en) * | 1978-05-31 | 1981-11-25 | Chemetal Corp | Method for the formation of hard deposits |
| DE3379059D1 (en) * | 1982-10-19 | 1989-03-02 | Secr Defence Brit | Organometallic chemical vapour deposition of films |
| JPS6221778A (ja) * | 1985-07-17 | 1987-01-30 | 東芝タンガロイ株式会社 | 立方晶窒化ホウ素被覆体及びその製造方法 |
| JPS62276832A (ja) * | 1986-05-26 | 1987-12-01 | Hitachi Ltd | 被膜形成方法およびそれを用いた半導体装置の製造方法 |
| US4832986A (en) * | 1987-07-06 | 1989-05-23 | Regents Of The University Of Minnesota | Process for metal nitride deposition |
-
1989
- 1989-02-28 KR KR1019890002535A patent/KR890013038A/ko not_active Withdrawn
- 1989-02-28 GB GB8904473A patent/GB2221215A/en not_active Withdrawn
- 1989-02-28 JP JP1048429A patent/JPH02217473A/ja active Pending
- 1989-02-28 EP EP19890302008 patent/EP0331448A3/en not_active Withdrawn
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| KR100254529B1 (ko) * | 1997-08-12 | 2000-05-01 | 김충섭 | 유기알루미늄 화합물을 이용한 규소 (111) 기질 상의 질화알루미늄 막의 제조 방법 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB8904473D0 (en) | 1989-04-12 |
| KR890013038A (ko) | 1989-09-21 |
| GB2221215A (en) | 1990-01-31 |
| EP0331448A2 (en) | 1989-09-06 |
| EP0331448A3 (en) | 1990-10-31 |
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