JPH02223008A - 磁気記録媒体及びその製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体及びその製造方法Info
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- JPH02223008A JPH02223008A JP6414189A JP6414189A JPH02223008A JP H02223008 A JPH02223008 A JP H02223008A JP 6414189 A JP6414189 A JP 6414189A JP 6414189 A JP6414189 A JP 6414189A JP H02223008 A JPH02223008 A JP H02223008A
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- Japan
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- recording medium
- magnetic recording
- medium according
- manufacturing
- film
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は磁気記録媒体に関する。更に詳細には、本発明
は適正な低いレベルの保磁力に制御し、かつ垂直磁気異
方性に優れた垂直磁気記録媒体およびその製造方法に関
する。
は適正な低いレベルの保磁力に制御し、かつ垂直磁気異
方性に優れた垂直磁気記録媒体およびその製造方法に関
する。
[従来の技術]
AヌまたはAl合金を陽極酸化し、生成したアルマイト
の微細孔中にFe等の強磁性金属をメッキ充填した磁気
記録媒体は、その形状効果から良好な垂直磁気異方性を
ボし、高密度磁気記録媒体として期待されている。
の微細孔中にFe等の強磁性金属をメッキ充填した磁気
記録媒体は、その形状効果から良好な垂直磁気異方性を
ボし、高密度磁気記録媒体として期待されている。
[発明が解決しようとする課題]
例えば、シュウ酸浴中でAλまたはA、l!金合金陽極
酸化(浴電圧〜40V)すると、形成されるアルマイト
のセル径は約1000人であり、直径1000人のセル
が記録時の最小単位となる。代表的な垂直磁化膜である
CoCr膜では、膜中のコラム径は200〜300人で
あり、記録時の最小単位は〜300人と考えられる。従
って、C0Cr膜なみの高密度記録を達成するには、ア
ルマイト−メッキ膜の場合、セル径を小さくする必要が
ある。硫酸浴(浴電圧〜17V)を用いて作製したアル
マイトはセル径が約450人と小さいが、ボア径が約1
50人であり、この状態でFeメッキを行って微細孔中
にFeを析出させて垂直磁化膜を形成すると、垂直方向
の保磁力が20000e以上の大きな値を示し、磁気ヘ
ッドによる磁気記録ができないという問題が生じる。
酸化(浴電圧〜40V)すると、形成されるアルマイト
のセル径は約1000人であり、直径1000人のセル
が記録時の最小単位となる。代表的な垂直磁化膜である
CoCr膜では、膜中のコラム径は200〜300人で
あり、記録時の最小単位は〜300人と考えられる。従
って、C0Cr膜なみの高密度記録を達成するには、ア
ルマイト−メッキ膜の場合、セル径を小さくする必要が
ある。硫酸浴(浴電圧〜17V)を用いて作製したアル
マイトはセル径が約450人と小さいが、ボア径が約1
50人であり、この状態でFeメッキを行って微細孔中
にFeを析出させて垂直磁化膜を形成すると、垂直方向
の保磁力が20000e以上の大きな値を示し、磁気ヘ
ッドによる磁気記録ができないという問題が生じる。
また、陽極酸化被膜の微細孔径を〜350人程度にまで
拡大処理し、保磁力を〜5000e程度まで低下させる
と、垂直磁化膜の形状異方性が劣化すると共に、各々の
Fe粒子間距離が短くなり、各Fe粒子間の磁気的分離
が不十分となって、磁性膜は垂直磁化膜から面内磁化膜
に移行し、高密度磁気記録媒体として必要な垂直磁気異
方性が低下するという問題があった。また、上述したシ
ュウ酸浴で作製したアルマイトの場合、保磁力を磁気記
録可能な10000e以下に制御するには、ボア径を4
00Å以上に拡大する必要があった。
拡大処理し、保磁力を〜5000e程度まで低下させる
と、垂直磁化膜の形状異方性が劣化すると共に、各々の
Fe粒子間距離が短くなり、各Fe粒子間の磁気的分離
が不十分となって、磁性膜は垂直磁化膜から面内磁化膜
に移行し、高密度磁気記録媒体として必要な垂直磁気異
方性が低下するという問題があった。また、上述したシ
ュウ酸浴で作製したアルマイトの場合、保磁力を磁気記
録可能な10000e以下に制御するには、ボア径を4
00Å以上に拡大する必要があった。
従って、本発明の目的はアルマイト、Feメッキ膜にお
いて、飽和磁化が200〜600 e m u/ccで
、垂直方向の保磁力が500〜10000eである、高
密度記録に適した垂直磁化膜を有する磁気記録媒体およ
びその製造方法を提供することである。
いて、飽和磁化が200〜600 e m u/ccで
、垂直方向の保磁力が500〜10000eである、高
密度記録に適した垂直磁化膜を有する磁気記録媒体およ
びその製造方法を提供することである。
[課題を解決するための手段]
前記L1的を達成するための手段として、本発明では、
AlもしくはAl合金を陽極酸化して生成したアルマイ
ト微細孔中にFeを主体とした磁性金属を充填した垂直
磁気記録媒体において、Fe粒子が結晶学的に不連続で
あることを特徴とする磁気記録媒体を提供する。
AlもしくはAl合金を陽極酸化して生成したアルマイ
ト微細孔中にFeを主体とした磁性金属を充填した垂直
磁気記録媒体において、Fe粒子が結晶学的に不連続で
あることを特徴とする磁気記録媒体を提供する。
アルマイト微細孔中に充填されたFe粒子を結晶学的に
不連続にする方法の一例は、アルマイト微細孔中にFe
をメッキ充填し、このメッキしたFe中に、リン(P)
原子を含有させることからなる。
不連続にする方法の一例は、アルマイト微細孔中にFe
をメッキ充填し、このメッキしたFe中に、リン(P)
原子を含有させることからなる。
本発明では、前記の磁気記録媒体と併せて、Alもしく
はAl合金からなる基体の表面を陽極酸化してアルマイ
トを生成し、その微細孔中にP原子を含むFe系の強磁
性体を充填して垂直磁化膜を形成し、磁気記録媒体を製
造する方法において、F eをメッキ充填するFeメッ
キ浴中に所定量の亜リン酸塩および/または次亜リン酸
塩を添加した事を特徴とする磁気記録媒体の製造方法も
提供する。
はAl合金からなる基体の表面を陽極酸化してアルマイ
トを生成し、その微細孔中にP原子を含むFe系の強磁
性体を充填して垂直磁化膜を形成し、磁気記録媒体を製
造する方法において、F eをメッキ充填するFeメッ
キ浴中に所定量の亜リン酸塩および/または次亜リン酸
塩を添加した事を特徴とする磁気記録媒体の製造方法も
提供する。
別法として、A、ItもしくはA、It合金からなる基
体の表面を陽極酸化してアルマイトを生成し、その微細
孔中にP原子を含むFe系の強磁性体を充填して垂直磁
化膜を形成することにより磁気記録媒体を製造する方法
において、Feメッキ浴に所定量の次亜リン酸塩および
/または亜リン酸塩の少なくとも一種類の化合物を添加
して所定の組成を有するFe−Pメッキ浴を調製し、こ
のメッキ浴中の溶存酸素を除去し、不活性ガス雰囲気下
で前記Fe−Pメッキ浴中に陽極酸化被膜を浸漬して電
気メッキ法により上記陽極酸化被膜の微細孔中に所定量
のP原子を含むFeを析出させて充填し、垂直磁化膜を
形成することもできる。
体の表面を陽極酸化してアルマイトを生成し、その微細
孔中にP原子を含むFe系の強磁性体を充填して垂直磁
化膜を形成することにより磁気記録媒体を製造する方法
において、Feメッキ浴に所定量の次亜リン酸塩および
/または亜リン酸塩の少なくとも一種類の化合物を添加
して所定の組成を有するFe−Pメッキ浴を調製し、こ
のメッキ浴中の溶存酸素を除去し、不活性ガス雰囲気下
で前記Fe−Pメッキ浴中に陽極酸化被膜を浸漬して電
気メッキ法により上記陽極酸化被膜の微細孔中に所定量
のP原子を含むFeを析出させて充填し、垂直磁化膜を
形成することもできる。
[作用コ
アルマイト微細孔中にFeをメッキ充填した垂直磁化膜
の磁気特性は、代表的な垂直磁化膜であるCoCr合金
膜の磁気特性および記録再生特性を考慮し、飽和磁化を
200〜800emu/cCに、垂直方向保磁力を50
0〜10000eに制御することが好ましい。
の磁気特性は、代表的な垂直磁化膜であるCoCr合金
膜の磁気特性および記録再生特性を考慮し、飽和磁化を
200〜800emu/cCに、垂直方向保磁力を50
0〜10000eに制御することが好ましい。
飽和磁化に関しては、ボア径とセル径の比から求まる有
孔率で調整し、前記の範囲内に収めることができる。一
方、垂直方向保磁力はボア径に太き(依存する。垂直方
向保磁力を記録再生可能な10000e以下に制御する
には、シュウ酸浴で作製したアルマイトではボア径を4
00人以−Lにする必要がある。従って、ボア径が40
0Å未満のアルマイト膜は垂直方向保磁力の面から記録
媒体として不適当であった。また、ボア径が400Å以
上の場合において、ボア径を変化させることなくメッキ
膜の保磁力を変化させることは不可能であった。ボア径
をむやみに拡大すると、セルの機械強度が低下すると共
に、垂直膜が面内膜に移行するので好ましくない。従っ
て、機械的強度の高い磁気記録媒体を得るには、ボア径
の拡大を最少限にとどめ、垂直方向保磁力を制御する必
要がある。
孔率で調整し、前記の範囲内に収めることができる。一
方、垂直方向保磁力はボア径に太き(依存する。垂直方
向保磁力を記録再生可能な10000e以下に制御する
には、シュウ酸浴で作製したアルマイトではボア径を4
00人以−Lにする必要がある。従って、ボア径が40
0Å未満のアルマイト膜は垂直方向保磁力の面から記録
媒体として不適当であった。また、ボア径が400Å以
上の場合において、ボア径を変化させることなくメッキ
膜の保磁力を変化させることは不可能であった。ボア径
をむやみに拡大すると、セルの機械強度が低下すると共
に、垂直膜が面内膜に移行するので好ましくない。従っ
て、機械的強度の高い磁気記録媒体を得るには、ボア径
の拡大を最少限にとどめ、垂直方向保磁力を制御する必
要がある。
本発明によれば、ボア径が400Å未満であっても、ア
ルマイト微細孔中のFeにP原子を添加することにより
垂直方向保磁力を10000e以下に制御することが可
能となる。また、ボア径が4oOÅ以上である場合でも
、ボア径を変化させることなく、垂直方向保磁力を低下
させる目的に使用可能である。
ルマイト微細孔中のFeにP原子を添加することにより
垂直方向保磁力を10000e以下に制御することが可
能となる。また、ボア径が4oOÅ以上である場合でも
、ボア径を変化させることなく、垂直方向保磁力を低下
させる目的に使用可能である。
前記のように、Al陽極酸化被膜のボア径が400人未
満の微細孔中に、P原子を0.28t%以上25.0a
t%以下含むFe系の強磁性体を析出し充填することに
より、垂直磁化膜としての特性を保持したままで、飽和
磁化が200〜600emu/ccの範囲で、かつ垂直
方向の保磁力を500〜10000eの範囲に調整し制
御することが可能となる。
満の微細孔中に、P原子を0.28t%以上25.0a
t%以下含むFe系の強磁性体を析出し充填することに
より、垂直磁化膜としての特性を保持したままで、飽和
磁化が200〜600emu/ccの範囲で、かつ垂直
方向の保磁力を500〜10000eの範囲に調整し制
御することが可能となる。
Fe中にリン原子(P)を含有させることによりアルマ
イト−Feメッキ膜の保磁力が低下する原因を以下に説
明する。
イト−Feメッキ膜の保磁力が低下する原因を以下に説
明する。
第1図(a)および(b)にアルマイトより取り出した
Fe粒子の透過型電子顕微鏡像を示す。
Fe粒子の透過型電子顕微鏡像を示す。
第1図(a)に示されるように、Pを12at%含仔す
る場合、Fe粒子内に微細な組織が存在していることが
わかる。一方、第1図(b)に示されるように、Pを含
有しない場合、微細な組織は観察されない。
る場合、Fe粒子内に微細な組織が存在していることが
わかる。一方、第1図(b)に示されるように、Pを含
有しない場合、微細な組織は観察されない。
第2図(a−イ)および(b−イ)にPを含む場合き含
まない場合のFe粒子の明視野像を、また、第2図(a
−口)および(b−口)にその電子線回折図形を示す。
まない場合のFe粒子の明視野像を、また、第2図(a
−口)および(b−口)にその電子線回折図形を示す。
Pの有無に拘らず、(110)面からの回折が最も強<
、(110)而の回折スポットから求めたFeの<ii
o>方向はFe粒子の長袖方向と一致した。しかし、第
2図(a−口)に示されるように、Pを含む場合、(1
10)のスポットが、第2図(b−口)のPを含まない
場合に比べ円周方向に拡がっており、Pを含むほうがF
e粒子の(110)配向性が劣っている。
、(110)而の回折スポットから求めたFeの<ii
o>方向はFe粒子の長袖方向と一致した。しかし、第
2図(a−口)に示されるように、Pを含む場合、(1
10)のスポットが、第2図(b−口)のPを含まない
場合に比べ円周方向に拡がっており、Pを含むほうがF
e粒子の(110)配向性が劣っている。
第3図(a)および(b)に、Fe粒子の(110)ス
ポットから結像した暗視野像を示す。第3図(a)では
、Pを12at%含有するのでFe粒子は長袖方向に約
0.5μmの長さで部分的に明るく結像しており単結晶
の長さとしては〜0゜5μmと考えられる。一方、Pを
含有しない第3図(b)の場合、長袖方向に2μmを越
える長さでFe粒子が明るく結像しており、この範囲で
Feが単結晶として存在している。
ポットから結像した暗視野像を示す。第3図(a)では
、Pを12at%含有するのでFe粒子は長袖方向に約
0.5μmの長さで部分的に明るく結像しており単結晶
の長さとしては〜0゜5μmと考えられる。一方、Pを
含有しない第3図(b)の場合、長袖方向に2μmを越
える長さでFe粒子が明るく結像しており、この範囲で
Feが単結晶として存在している。
第4図にはP含有量が25at%のときのFe粒子の(
110)スポットから結像した暗視野像を示す。Fe粒
子は、Pを12at%含有する第3図(a)のFe粒子
よりも一層細かなFe微結晶により構成されていること
が分かる。
110)スポットから結像した暗視野像を示す。Fe粒
子は、Pを12at%含有する第3図(a)のFe粒子
よりも一層細かなFe微結晶により構成されていること
が分かる。
以」−の実験結果から、F e粒子内にPを含有させる
と、Fe粒子は結晶学的に連続性を失い、(110)配
向性が劣化し、内部に微細組織を有するようになる。こ
の結果、針状Fe粒子の異方性が低下し、磁化反転機構
がバックリングモードあるいはファンニングモードに近
づき、弱い外部磁界により磁化反転が起こる。すなわち
、保磁力が低下すると考えられる。
と、Fe粒子は結晶学的に連続性を失い、(110)配
向性が劣化し、内部に微細組織を有するようになる。こ
の結果、針状Fe粒子の異方性が低下し、磁化反転機構
がバックリングモードあるいはファンニングモードに近
づき、弱い外部磁界により磁化反転が起こる。すなわち
、保磁力が低下すると考えられる。
Fe中に添加するP原子の供給源としては、Feメッキ
浴に可溶性のリン化合物が用いられる。
浴に可溶性のリン化合物が用いられる。
リン化合物としてはリンの原子価が3価以下の、亜リン
酸塩および次亜リン酸塩、例えば、亜リン酸ナトリウム
CNa2HPO3)および次亜リン酸ナトリウム(Na
PH202)などが好適に使用できる。亜リン酸塩およ
び次亜リン酸塩は単独でも、あるいは、二種類以上を組
み合わせて併用することもできる。原子価が3価よりも
高いPはFe中に混入されない。従って、リン酸(Ha
P04)はFeメッキ浴中に添加してもアルマイト微細
孔中のFeには取り込まれない。この場合、Pの原子価
は15価であり、Pの電子配列はNeと同じである。従
って、15価のPは安定化し、メッキの際、電子の授受
を行わないことが関係していると考えられる。
酸塩および次亜リン酸塩、例えば、亜リン酸ナトリウム
CNa2HPO3)および次亜リン酸ナトリウム(Na
PH202)などが好適に使用できる。亜リン酸塩およ
び次亜リン酸塩は単独でも、あるいは、二種類以上を組
み合わせて併用することもできる。原子価が3価よりも
高いPはFe中に混入されない。従って、リン酸(Ha
P04)はFeメッキ浴中に添加してもアルマイト微細
孔中のFeには取り込まれない。この場合、Pの原子価
は15価であり、Pの電子配列はNeと同じである。従
って、15価のPは安定化し、メッキの際、電子の授受
を行わないことが関係していると考えられる。
Fe中の原子の含有量は、25− 0at%以下が好ま
しく、このP原子の含有量が25.0at%を超えると
、垂直方向保磁力が5000e末溝に減少し、磁気特性
が劣化するので好ましくない。なお、Fe中のP原子の
含有量の下限については Fe中に添加するP原子は少
量であっても保磁力の低減に効果があり、Ms200〜
600emu/cCで垂直方向の保磁力が500〜10
000eの範囲に制御することができるP原子含有量で
あれば良いが、−膜内な指標としてはN O−2at%
以上であることが好ましい。
しく、このP原子の含有量が25.0at%を超えると
、垂直方向保磁力が5000e末溝に減少し、磁気特性
が劣化するので好ましくない。なお、Fe中のP原子の
含有量の下限については Fe中に添加するP原子は少
量であっても保磁力の低減に効果があり、Ms200〜
600emu/cCで垂直方向の保磁力が500〜10
000eの範囲に制御することができるP原子含有量で
あれば良いが、−膜内な指標としてはN O−2at%
以上であることが好ましい。
Fe中のPM子の含有量は、メッキ浴中に添加されるリ
ン化合物の濃度の他、メッキ時間、印加電圧、pH1浴
温などのメッキ条件を変化させることによりコントロー
ルすることができる。
ン化合物の濃度の他、メッキ時間、印加電圧、pH1浴
温などのメッキ条件を変化させることによりコントロー
ルすることができる。
本発明の磁気記録媒体の作製に使用される亜リン酸塩お
よび次亜リン酸塩は空気中あるいはメッキ浴中の酸化種
により徐々に酸化されてリン酸塩となり、これがメッキ
洛中のFeと反応してリン酸鉄[Fe3 (PO4)2
などコの沈殿を生じる。
よび次亜リン酸塩は空気中あるいはメッキ浴中の酸化種
により徐々に酸化されてリン酸塩となり、これがメッキ
洛中のFeと反応してリン酸鉄[Fe3 (PO4)2
などコの沈殿を生じる。
同時に、FePメッキ浴中にP成分が減少し、メッキ浴
の組成が大きく変化する。その結果、Fe−Pメッキ膜
中に含有されるP成分も減少する方向に大きく変化し、
形成される垂直磁化膜の保磁力が増大し、予め設定され
た低い保磁力レベルに制御することが極めて困難になる
という問題があった。
の組成が大きく変化する。その結果、Fe−Pメッキ膜
中に含有されるP成分も減少する方向に大きく変化し、
形成される垂直磁化膜の保磁力が増大し、予め設定され
た低い保磁力レベルに制御することが極めて困難になる
という問題があった。
この問題を避けるために、例えば、メッキ洛中に溶存し
ている酸化種(例えば、酸素)を不活性ガスなどで置換
し、除去することが好ましい。置換方法としては、例え
ば、Fe−Pメッキ浴を調製するために用いる*(例え
ば、精製水、脱イオン水、純水など)中に不活性ガスを
バブリングさせるか、または、;A製したFe−Pメッ
キ浴中に不活性ガスをバブリングさせることにより行わ
れる。前記のようにして脱酸素したFe−Pメッキ浴を
不活性ガス雰囲気下に置き、電気メッキ処理を行う。
ている酸化種(例えば、酸素)を不活性ガスなどで置換
し、除去することが好ましい。置換方法としては、例え
ば、Fe−Pメッキ浴を調製するために用いる*(例え
ば、精製水、脱イオン水、純水など)中に不活性ガスを
バブリングさせるか、または、;A製したFe−Pメッ
キ浴中に不活性ガスをバブリングさせることにより行わ
れる。前記のようにして脱酸素したFe−Pメッキ浴を
不活性ガス雰囲気下に置き、電気メッキ処理を行う。
このような構成により、Fe−Pメッキ浴中に含有され
る次亜リン酸塩または亜リン酸塩などの酸化を最大限に
防止し、常にFe−Pメッキ浴の組成を設定範囲内でほ
ぼ一定に保持することができ、所望する低レベルの保磁
力に制御した垂直磁化膜を有する磁気記録媒体が得られ
る。
る次亜リン酸塩または亜リン酸塩などの酸化を最大限に
防止し、常にFe−Pメッキ浴の組成を設定範囲内でほ
ぼ一定に保持することができ、所望する低レベルの保磁
力に制御した垂直磁化膜を有する磁気記録媒体が得られ
る。
本発明で使用できる不活性ガスは例えば、N2、Art
HeまたはKrなどである。これらのガスは単独でも、
あるいは二種類以上を組合わせて混合ガスとして使用す
ることもできる。入手容易性とコストの点から、N2ガ
スが好ましい。
HeまたはKrなどである。これらのガスは単独でも、
あるいは二種類以上を組合わせて混合ガスとして使用す
ることもできる。入手容易性とコストの点から、N2ガ
スが好ましい。
AJ2またはAl合金は通常の物理蒸着法により非磁性
基体−Lに成膜させることができる。物理蒸着法自体は
当業者に周知であり特に説明を要しないであろう。また
、非磁性基体とA、It金属層との間にTiなどの下地
層を介在させることもできる。
基体−Lに成膜させることができる。物理蒸着法自体は
当業者に周知であり特に説明を要しないであろう。また
、非磁性基体とA、It金属層との間にTiなどの下地
層を介在させることもできる。
下地層を介在させる場合、下地層の厚さは特に限定され
ない。−膜内には、0.01μm〜10μmの範囲内で
あることが好ましい。
ない。−膜内には、0.01μm〜10μmの範囲内で
あることが好ましい。
AJまたはAl合金の陽極酸化法自体は当業者に周知な
ので、ここでは特に説明しない。
ので、ここでは特に説明しない。
本発明の磁気記録媒体に使用される非磁性基板としては
、アルミニウム基板の他に、ポリイミド。
、アルミニウム基板の他に、ポリイミド。
ポリエチレンテレフタレート等の高分子フィルム。
ガラス類、セラミック、陽極酸化アルミ、黄銅などの金
属板+Si単結晶板1表面を熱酸化処理したSi単結晶
板などがある。
属板+Si単結晶板1表面を熱酸化処理したSi単結晶
板などがある。
また、本発明の磁気記録媒体としては、ポリエステルフ
ィルム、ポリイミドフィルムなどの合成樹脂フィルムを
基体とする磁気テープや磁気ディスク、合成樹脂フィル
ム、アルミニウム板およびガラス板等からなる円盤やド
ラムを基体とする磁気ディスクや磁気ドラムなど、磁気
ヘッドと摺接する構造の種々の形態を包含する。
ィルム、ポリイミドフィルムなどの合成樹脂フィルムを
基体とする磁気テープや磁気ディスク、合成樹脂フィル
ム、アルミニウム板およびガラス板等からなる円盤やド
ラムを基体とする磁気ディスクや磁気ドラムなど、磁気
ヘッドと摺接する構造の種々の形態を包含する。
[実施例コ
以下、実施例により本発明を更に詳細に説明する。
実l[[[
純度99.99%の圧延AJ板(厚さ65μm。
20*mX20+gn)を5vt%のNaOH水溶液で
アルカリエツチングし、水洗後、E3volXのHNO
3水溶液で中和した。その後、1モル/λのH2S04
水溶液中において、I A / d m2の電流密度で
陽極酸化(対極;カーボン)を行い、陽極酸化被膜を0
.45μm形成した。この時のセル径およびボア径はそ
れぞれ460人、150人であった。
アルカリエツチングし、水洗後、E3volXのHNO
3水溶液で中和した。その後、1モル/λのH2S04
水溶液中において、I A / d m2の電流密度で
陽極酸化(対極;カーボン)を行い、陽極酸化被膜を0
.45μm形成した。この時のセル径およびボア径はそ
れぞれ460人、150人であった。
次に、30℃、lvt%のH3PO4水溶液中に、9分
間浸漬して陽極酸化被膜の微細孔径の拡大処理を行い、
ボア径を250人に拡大した。この後、Fe1o411
(NH4)280441E3H20をAモル/オ* N
aPHz 02 ・H2OをBモル/Jl。
間浸漬して陽極酸化被膜の微細孔径の拡大処理を行い、
ボア径を250人に拡大した。この後、Fe1o411
(NH4)280441E3H20をAモル/オ* N
aPHz 02 ・H2OをBモル/Jl。
H3BO3を0.2モル/Jlおよびグリセリンを2m
、l/J加えてなるメッキ浴を用い、Fe−Pの電気メ
ッキを行った。この際、5A+28=l。
、l/J加えてなるメッキ浴を用い、Fe−Pの電気メ
ッキを行った。この際、5A+28=l。
Oの関係を保ちつつ、B/Aを0〜5の間で変化させ、
メッキ洛中の次亜リン酸ナトリウムの添加量を調整した
。メッキ浴中に2規定のH2SO4を添加し、pHを3
.3に調整し、浴温を22℃とした。メッキに使用した
電源はAC300Hzの正弦波で、16Vp−p(アル
マイト側に一8V。
メッキ洛中の次亜リン酸ナトリウムの添加量を調整した
。メッキ浴中に2規定のH2SO4を添加し、pHを3
.3に調整し、浴温を22℃とした。メッキに使用した
電源はAC300Hzの正弦波で、16Vp−p(アル
マイト側に一8V。
対極(カーボン)側に18V)、14Vp−p (ア
ルマイト側に一8V、対極側に18V)および15Vp
−p (アルマイト側に一10V、対極側に15V)
である。メッキ時間を30秒〜5分とし、P含有量の異
なるアルマイト−Feメッキ膜を作製した。
ルマイト側に一8V、対極側に18V)および15Vp
−p (アルマイト側に一10V、対極側に15V)
である。メッキ時間を30秒〜5分とし、P含有量の異
なるアルマイト−Feメッキ膜を作製した。
裏iti
実施例1において30℃、lvt%のH3po、。
水溶液中に7分間浸漬してボア径を220人に拡大した
以外は実施例1と同様の方法でアルマイト−Feメッキ
膜を作製した。
以外は実施例1と同様の方法でアルマイト−Feメッキ
膜を作製した。
I血性1
実施例1において30℃、1wt%のH3PO4水溶液
中に11分間浸漬してボア径を270人に拡大した以外
は実施例1と同様の方法でアルマイ)−Feメッキ膜を
作製した。
中に11分間浸漬してボア径を270人に拡大した以外
は実施例1と同様の方法でアルマイ)−Feメッキ膜を
作製した。
実施1目。
純度99.99%の圧延Al板(厚さ85 tt m
*20ssX20em)を5vt%のNaOH水溶液で
アルカリエツチングし、水洗後、8voL%のHNO3
水溶液で中和した。その後、1モル/J!のH2SO4
水溶液中においてs I A / d m2の電流密度
で陽極酸化(対極;カーボン)を行い、陽極酸化被膜を
0.45μm形成した。この時のセル径およびボア径は
それぞれ460人、150人であった。
*20ssX20em)を5vt%のNaOH水溶液で
アルカリエツチングし、水洗後、8voL%のHNO3
水溶液で中和した。その後、1モル/J!のH2SO4
水溶液中においてs I A / d m2の電流密度
で陽極酸化(対極;カーボン)を行い、陽極酸化被膜を
0.45μm形成した。この時のセル径およびボア径は
それぞれ460人、150人であった。
次に、30℃、1wt%のH3PO4水溶液中に、9分
間浸漬して陽極酸化被膜の微細孔径の拡大処理を行い、
ボア径を250人に拡大した。この後、Fe50+ ”
(NH4)2804 命eH20を50g/λ、 8
3 BO3を15g/λ、グリセリンを2m、It/J
l含有する基本Feメッキ浴にNa2HPOa・5H2
0をOg/λ、0.28g/J。
間浸漬して陽極酸化被膜の微細孔径の拡大処理を行い、
ボア径を250人に拡大した。この後、Fe50+ ”
(NH4)2804 命eH20を50g/λ、 8
3 BO3を15g/λ、グリセリンを2m、It/J
l含有する基本Feメッキ浴にNa2HPOa・5H2
0をOg/λ、0.28g/J。
0.55g/J!、1.38g/Jそれぞれ添加し、F
e−Pの電気メッキを行い、P含有量の兄なるアルマイ
ト−Feメッキ膜を作製した。メッキの用いた電源はA
C300Hz、15Vp−pで、アルマイト側に一10
V1対極(カーボン)側に15V印加される様に、DC
バイアスをかけた。メッキ時間を10〜25秒とした。
e−Pの電気メッキを行い、P含有量の兄なるアルマイ
ト−Feメッキ膜を作製した。メッキの用いた電源はA
C300Hz、15Vp−pで、アルマイト側に一10
V1対極(カーボン)側に15V印加される様に、DC
バイアスをかけた。メッキ時間を10〜25秒とした。
前記の実施例1〜4で得られたアルマイト−Feメッキ
膜のP含有量(Feに対する存在比:at%)と、膜面
垂直方向の保磁力の関係を第5図に示す。なお、P*
Feの定量はEPMA(波長分散型X線マイクロアナラ
イザー)で行い、保磁力測定はVSM (試料振動かた
磁力計)で行った。
膜のP含有量(Feに対する存在比:at%)と、膜面
垂直方向の保磁力の関係を第5図に示す。なお、P*
Feの定量はEPMA(波長分散型X線マイクロアナラ
イザー)で行い、保磁力測定はVSM (試料振動かた
磁力計)で行った。
この図から明らかなように、Pの含有量が増加するに従
い、保磁力が減少する。図より、Pの含有量を0.2〜
25.0at%に変化させることで、ポア径400Å未
満においても、保磁力を500〜10000eの範囲内
に自由に制御することが可能となる。
い、保磁力が減少する。図より、Pの含有量を0.2〜
25.0at%に変化させることで、ポア径400Å未
満においても、保磁力を500〜10000eの範囲内
に自由に制御することが可能となる。
第6図にPの含有量とメッキ膜の飽和磁化の関係を示す
。Pを含有しない場合、アルマイト−Feメッキ膜の飽
和磁化は、実施例1および4において、410emu/
cc (有孔率0.25より算出した値は430emu
/cc)、実施例2において、320emu/cc (
有孔率0.20より算出した値は340emu/cc)
、実施例3において、470emu/cc (有孔率〇
、 285より算出した値は490emu/cc)であ
る。いずれの場合も有孔率から算出した値よりも約り%
小さいが、これは鉄酸化物あるいは孔の乱れに起因して
いると考えられる。Pの含有量が増加すると飽和磁化は
減少するが、200emu/CCを下回ることはなく、
出力低下には大きな影響を与えないと考えられる。
。Pを含有しない場合、アルマイト−Feメッキ膜の飽
和磁化は、実施例1および4において、410emu/
cc (有孔率0.25より算出した値は430emu
/cc)、実施例2において、320emu/cc (
有孔率0.20より算出した値は340emu/cc)
、実施例3において、470emu/cc (有孔率〇
、 285より算出した値は490emu/cc)であ
る。いずれの場合も有孔率から算出した値よりも約り%
小さいが、これは鉄酸化物あるいは孔の乱れに起因して
いると考えられる。Pの含有量が増加すると飽和磁化は
減少するが、200emu/CCを下回ることはなく、
出力低下には大きな影響を与えないと考えられる。
I直外1
純度99.99%の圧延AJl板(厚さ658 m *
20■mX20m5)を用い、実施例1と同じ前処理の
後、3vt%のシュウ酸浴中において、40Vの定電圧
を使用し、陽極酸化(対極:カーボン)を行い、8μm
の厚さのアルマイトを形成した。この時のセル径とボア
径はそれぞれ960人、320人であった。次に、30
℃、1wt%のリン酸水溶液中に上記試料を19分間浸
漬し、ボア径を500人に拡大した。この後、この後、
F e S 04・(NH4)2 SO4・6H20を
50g/J。
20■mX20m5)を用い、実施例1と同じ前処理の
後、3vt%のシュウ酸浴中において、40Vの定電圧
を使用し、陽極酸化(対極:カーボン)を行い、8μm
の厚さのアルマイトを形成した。この時のセル径とボア
径はそれぞれ960人、320人であった。次に、30
℃、1wt%のリン酸水溶液中に上記試料を19分間浸
漬し、ボア径を500人に拡大した。この後、この後、
F e S 04・(NH4)2 SO4・6H20を
50g/J。
83 Bo3を15g/J、グリセリンを2mJ! /
λ金含有る基本Feメッキ浴にNaPH2O2・N20
をOg/J!、0.14g/J、0.88g/J2.1
.35g/λそれぞれ添加し、Fe−Pのメッキを行っ
た。浴のI)Hを2規定のH2SO4により3.0に調
整し、浴温を22℃とした。
λ金含有る基本Feメッキ浴にNaPH2O2・N20
をOg/J!、0.14g/J、0.88g/J2.1
.35g/λそれぞれ添加し、Fe−Pのメッキを行っ
た。浴のI)Hを2規定のH2SO4により3.0に調
整し、浴温を22℃とした。
メッキノ用いた電源!tAc500Hz、15Vp−p
でアルマイト側に一10v、対極(カーボン)側に15
V印加されるようにDCバイアスをかけた。メッキ時間
を7〜10分とした。
でアルマイト側に一10v、対極(カーボン)側に15
V印加されるようにDCバイアスをかけた。メッキ時間
を7〜10分とした。
第7図にメッキ浴中のNaPHz 02 /Fe2ナイ
オンのモル比と膜の保磁力の関係を示す。NaP820
2m添加時に保磁力8000eを示すが、メッキ浴中の
NaPH2O2のモル比が増加すると、保磁力が減少す
る。この様に、ボア径が400Å以上の場合においても
、Fe中にPを含有させることで、ボア径を拡大するこ
となく(本実施例ではボア径500人で一定)、保磁力
を制御することが可能となる。
オンのモル比と膜の保磁力の関係を示す。NaP820
2m添加時に保磁力8000eを示すが、メッキ浴中の
NaPH2O2のモル比が増加すると、保磁力が減少す
る。この様に、ボア径が400Å以上の場合においても
、Fe中にPを含有させることで、ボア径を拡大するこ
となく(本実施例ではボア径500人で一定)、保磁力
を制御することが可能となる。
L五旌1
純度99.99%の圧延AJ板(厚さ85μm。
20 ms X 20■謙)を用い、2Nの濃度の硫酸
洛中において、I A / d m2の電流密度で陽極
酸化(対極:カーボン)を行い、0.45μmの厚さの
アルミニューム陽極酸化被膜(アルマイト)を形成させ
た。この時のセル径とボア径はそれぞれ460人、15
0人であった。次に30℃、lvt%のリン酸(83P
O4)水溶液中に上記試料を9分間浸漬して、陽極酸化
被膜のボア径を0.025μmに拡大する処理を行った
。
洛中において、I A / d m2の電流密度で陽極
酸化(対極:カーボン)を行い、0.45μmの厚さの
アルミニューム陽極酸化被膜(アルマイト)を形成させ
た。この時のセル径とボア径はそれぞれ460人、15
0人であった。次に30℃、lvt%のリン酸(83P
O4)水溶液中に上記試料を9分間浸漬して、陽極酸化
被膜のボア径を0.025μmに拡大する処理を行った
。
Fe−Pメッキ浴を調製するに当たり、純水(蒸留水)
中にN2ガスを約1時間バブリングさせて、水中の溶存
酸素をN2ガスで置換した。このN2ガスで置換した純
水に、モール塩50 g/J 。
中にN2ガスを約1時間バブリングさせて、水中の溶存
酸素をN2ガスで置換した。このN2ガスで置換した純
水に、モール塩50 g/J 。
ホウ酸1りg/J、グリセリン2 m J / J!
、次亜リン酸ナトリウム1.4g/Jを溶解させ、2規
定の硫酸を添加し、pHを3.0に調整した。
、次亜リン酸ナトリウム1.4g/Jを溶解させ、2規
定の硫酸を添加し、pHを3.0に調整した。
このFe−Pメッキ浴をメッキ槽に入れ、メッキ槽全体
をビニール製のドラフトで包囲し、外部よりN2ガスを
150mλ/分の流量で上記ドラフトへ導入し続けなが
ら、上記陽極酸化被膜のボア径の拡大処理を施した試料
表面にFe−Pメッキを行い、第9図に示す断面構造の
垂直磁化膜を作製した。なお、Fe−Pメッキに使用し
た電源は、AC300Hz、15Vp−pで、陽極酸化
被膜側に一10V、対極(カーボン)側に15vかかる
ようにDCバイアスを印加し、メッキ時間を20秒とし
た。この条件下で、上記の陽極酸化被膜を設けた試料を
用い、50個以−りの上記試料に対しでそれぞれFe−
Pメッキを行い、それぞれの試料のFe−Pメッキ膜中
のPの含有量を調べたところ、Pの含有量は7.5〜8
.0at%を示した。
をビニール製のドラフトで包囲し、外部よりN2ガスを
150mλ/分の流量で上記ドラフトへ導入し続けなが
ら、上記陽極酸化被膜のボア径の拡大処理を施した試料
表面にFe−Pメッキを行い、第9図に示す断面構造の
垂直磁化膜を作製した。なお、Fe−Pメッキに使用し
た電源は、AC300Hz、15Vp−pで、陽極酸化
被膜側に一10V、対極(カーボン)側に15vかかる
ようにDCバイアスを印加し、メッキ時間を20秒とし
た。この条件下で、上記の陽極酸化被膜を設けた試料を
用い、50個以−りの上記試料に対しでそれぞれFe−
Pメッキを行い、それぞれの試料のFe−Pメッキ膜中
のPの含有量を調べたところ、Pの含有量は7.5〜8
.0at%を示した。
第8図の実線aに、本実施例の方法で作製したアルマイ
)/Fe−Pメッキ膜の垂直方向の保磁力(kOe)と
アルマイト/Fe−Pメッキ膜の形成回数(回)の関係
を示す。図から明らかなように、本発明の方法によれば
、50回以上アルマイ)/Fe−Pメッキ膜の形成を行
っても垂直磁化膜の保磁力をほぼ一定の約8000eに
制御可能であることがわかる。
)/Fe−Pメッキ膜の垂直方向の保磁力(kOe)と
アルマイト/Fe−Pメッキ膜の形成回数(回)の関係
を示す。図から明らかなように、本発明の方法によれば
、50回以上アルマイ)/Fe−Pメッキ膜の形成を行
っても垂直磁化膜の保磁力をほぼ一定の約8000eに
制御可能であることがわかる。
光1阻工
実施例6において使用した不活性ガスをN2ガスからA
r s HeまたはKrガスに変更したこと以外は、
実施例6と同様にして、アルマイト/Fe−Pメッキ膜
を形成した。形成した垂直磁化膜の保磁力を調べたとこ
ろ第8図における実線で示されたものとほぼ同様な結果
が得られた。
r s HeまたはKrガスに変更したこと以外は、
実施例6と同様にして、アルマイト/Fe−Pメッキ膜
を形成した。形成した垂直磁化膜の保磁力を調べたとこ
ろ第8図における実線で示されたものとほぼ同様な結果
が得られた。
匿佼涯1
実施例6において、純水中にN2ガスをバブリングさせ
ること、およびメッキ浴をN2ガス雰囲気のドラフトで
包囲することを除いた以外は、実施例6と同様な方法で
アルマイト/Fe−Pメッキ膜の形成を行い、垂直磁化
膜を作製した。
ること、およびメッキ浴をN2ガス雰囲気のドラフトで
包囲することを除いた以外は、実施例6と同様な方法で
アルマイト/Fe−Pメッキ膜の形成を行い、垂直磁化
膜を作製した。
本比較例における垂直磁化膜の保磁力とアルマイト/
F e −Pメッキ膜の形成回数の関係を第8図の点a
bに示す。図示されているように、F e−Pメッキ浴
中の溶存酸素の除去処理および上記メッキ浴を不活性ガ
スで包囲しなかった比較例1においては、作製したアル
マイ)/Fe−Pメッキ膜の垂直方向の保磁力は、アル
マイ)/Fe−Pメッキ膜の形成回数が7回から増加し
始め、その形成回数が50回位で13000e以上に増
大し、本比較例におけるFe−Pメッキ浴は保磁力を設
定の低レベルに制御する能力がなくなっていることを示
している。
F e −Pメッキ膜の形成回数の関係を第8図の点a
bに示す。図示されているように、F e−Pメッキ浴
中の溶存酸素の除去処理および上記メッキ浴を不活性ガ
スで包囲しなかった比較例1においては、作製したアル
マイ)/Fe−Pメッキ膜の垂直方向の保磁力は、アル
マイ)/Fe−Pメッキ膜の形成回数が7回から増加し
始め、その形成回数が50回位で13000e以上に増
大し、本比較例におけるFe−Pメッキ浴は保磁力を設
定の低レベルに制御する能力がなくなっていることを示
している。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、ボア径やセル径
および膜厚、軸比などの物理的ファクターに依存するこ
となく、アルマイト微細孔中に充填されるFeなどの強
磁性金属にP原子を含有させ、その含有率を調節するこ
とにより、200〜600emu/ccの範囲内の飽和
磁化において、垂直方向保磁力を500〜10000e
の範囲内で自由にコントロールすることが可能となる。
および膜厚、軸比などの物理的ファクターに依存するこ
となく、アルマイト微細孔中に充填されるFeなどの強
磁性金属にP原子を含有させ、その含有率を調節するこ
とにより、200〜600emu/ccの範囲内の飽和
磁化において、垂直方向保磁力を500〜10000e
の範囲内で自由にコントロールすることが可能となる。
また、メッキ浴およびメッキ雰囲気から酸化種を除くこ
とにより、Fe−pメッキ浴中の次亜リン酸塩または亜
リン酸塩の酸化が効果的に防止され、Fe中に含有され
るPの量を予め設定した任意の値にほぼ一定に保持する
ことができる。
とにより、Fe−pメッキ浴中の次亜リン酸塩または亜
リン酸塩の酸化が効果的に防止され、Fe中に含有され
るPの量を予め設定した任意の値にほぼ一定に保持する
ことができる。
その結果、垂直磁化膜の保磁力を任意の設定値に制御す
ることが可能となり、磁気ヘッドによる高密度記録を達
成することができる優れた磁気特性を有する垂直磁気記
録媒体が得られる。
ることが可能となり、磁気ヘッドによる高密度記録を達
成することができる優れた磁気特性を有する垂直磁気記
録媒体が得られる。
言うまでもなく、本発明によるP原子含有率の調節に加
えて、従来の物理的ファクターの調節を併用することも
できる。
えて、従来の物理的ファクターの調節を併用することも
できる。
第1図(a)はPを12wt%含むFe粒子の透過型電
子顕微鏡による明視野像を示す写真であり、第1図(b
)はPを含まないFe粒子の透過型電子顕微鏡による明
視野像を示す写真であり、第2図(a)の(イ)はPを
12wt%含むFe粒子の透過型電子顕微鏡による明視
野像を示す写真であり、第2図(a)の(ロ)はその電
子線回折パターンを示す写真であり、第2図(b)の(
イ)はPを含まないFe粒子の透過型電子顕微鏡による
明視野像を示す写真であり、第2図(b)の(ロ)はそ
の電子線回折パターンを示す写真であり、第3図(a)
はPを12wt%含むFe粒子の暗視野像を示す写真で
あり、第3図(b)はPを含まないFe粒子の暗視野像
を示す写真であり、第4図はPを25vt%含有するF
e粒子の暗視野像を示す写真であり、第5図はP含有量
と垂直方向保磁力の関係を示す特性図であり、第6図は
P含有量と飽和磁化の関係を示す特性図であり、第7図
はNaPHz 02 /F132+イオンのモル比と垂
直方向保磁力の関係を示す特性図であり、第8図はアル
マイト/Fe−Pメッキ膜の形成回数と作製した垂直磁
化膜の垂直方向保磁力との関係を示す特性図であり、第
9図は実施例6で作製された垂直磁化膜を有する磁気記
録媒体の断面構造を示す模式図である。 1・・・アルミニウム基板。 2・・・陽極酸化被膜。 3・・・Fe−Pメッキ膜。 4・・・アルマイト/F e−Pメッキ膜特許出廓人 日立マクセル株式会社 代理人 弁理士 梶 山 拮 是
子顕微鏡による明視野像を示す写真であり、第1図(b
)はPを含まないFe粒子の透過型電子顕微鏡による明
視野像を示す写真であり、第2図(a)の(イ)はPを
12wt%含むFe粒子の透過型電子顕微鏡による明視
野像を示す写真であり、第2図(a)の(ロ)はその電
子線回折パターンを示す写真であり、第2図(b)の(
イ)はPを含まないFe粒子の透過型電子顕微鏡による
明視野像を示す写真であり、第2図(b)の(ロ)はそ
の電子線回折パターンを示す写真であり、第3図(a)
はPを12wt%含むFe粒子の暗視野像を示す写真で
あり、第3図(b)はPを含まないFe粒子の暗視野像
を示す写真であり、第4図はPを25vt%含有するF
e粒子の暗視野像を示す写真であり、第5図はP含有量
と垂直方向保磁力の関係を示す特性図であり、第6図は
P含有量と飽和磁化の関係を示す特性図であり、第7図
はNaPHz 02 /F132+イオンのモル比と垂
直方向保磁力の関係を示す特性図であり、第8図はアル
マイト/Fe−Pメッキ膜の形成回数と作製した垂直磁
化膜の垂直方向保磁力との関係を示す特性図であり、第
9図は実施例6で作製された垂直磁化膜を有する磁気記
録媒体の断面構造を示す模式図である。 1・・・アルミニウム基板。 2・・・陽極酸化被膜。 3・・・Fe−Pメッキ膜。 4・・・アルマイト/F e−Pメッキ膜特許出廓人 日立マクセル株式会社 代理人 弁理士 梶 山 拮 是
Claims (19)
- (1)AlもしくはAl合金を陽極酸化して生成したア
ルマイト微細孔中にFeを主体とした磁性金属を充填し
た垂直磁気記録媒体において、Fe粒子が結晶学的に不
連続であることを特徴とする磁気記録媒体。 - (2)AlもしくはAl合金を陽極酸化して生成したア
ルマイト微細孔中にFeを主体とした磁性金属をメッキ
充填してなる垂直磁気記録媒体において、メッキしたF
e中に、リン(P)原子を含むことを特徴とする請求項
1記載の磁気記録媒体。 - (3)微細孔中にメッキ充填したFe中のPの含有率が
0.2at%以上25.0at%以下であることを特徴
とする請求項2記載の磁気記録媒体。 - (4)垂直磁化膜の飽和磁化が200〜600emu/
ccの範囲において、垂直方向の保磁力が500〜10
000eの範囲内にあることを特徴とする請求項1また
は2記載の磁気記録媒体。 - (5)微細孔の孔径が400Å未満であることを特徴と
する請求項1または2記載の磁気記録媒体。 - (6)微細孔中にメッキ充填したFe中のP原子が亜リ
ン酸塩および/または次亜リン酸塩に由来するものであ
ることを特徴とする請求項2記載の磁気記録媒体。 - (7)亜リン酸塩が亜リン酸ナトリウム(Na_2HP
O_3)であり、次亜リン酸塩が次亜リン酸ナトリウム
(NaPH_2O_2)であることを特徴とする請求項
6記載の磁気記録媒体。 - (8)AlもしくはAl合金からなる基体の表面を陽極
酸化してアルマイトを生成し、その微細孔中にP原子を
含むFe系の強磁性体を充填して垂直磁化膜を形成する
ことにより磁気記録媒体を製造する方法において、Fe
をメッキ充填するFeメッキ浴中に所定量の、次亜リン
酸塩および/または亜リン酸塩の少なくとも一種類の化
合物を添加することを特徴とする磁気記録媒体の製造方
法。 - (9)亜リン酸塩が亜リン酸ナトリウム(Na_2HP
O_3)であり、次亜リン酸塩が次亜リン酸ナトリウム
(NaPH_2O_2)であることを特徴とする請求項
8記載の磁気記録媒体の製造方法。 - (10)微細孔中にメッキ充填したFe中のPの含有率
が0.2at%以上25.0at%以下であることを特
徴とする請求項8記載の磁気記録媒体の製造方法。 - (11)垂直磁化膜の飽和磁化が200〜800emu
/ccの範囲において、垂直方向の保磁力が500〜1
000Oeの範囲内にあることを特徴とする請求項8記
載の磁気記録媒体の製造方法。 - (12)微細孔の孔径が400Å未満であることを特徴
とする請求項8または10記載の磁気記録媒体の製造方
法。 - (13)AlもしくはAl合金からなる基体の表面を陽
極酸化してアルマイトを生成し、その微細孔中にP原子
を含むFe系の強磁性体を充填して垂直磁化膜を形成す
ることにより磁気記録媒体を製造する方法において、F
eメッキ浴に所定量の次亜リン酸塩および/または亜リ
ン酸塩の少なくとも一種類の化合物を添加して所定の組
成を有するFe−Pメッキ浴を調製し、このメッキ浴中
の溶存酸素を除去し、不活性ガス雰囲気下で前記Fe−
Pメッキ浴中に陽極酸化被膜を浸漬して電気メッキ法に
より上記陽極酸化被膜の微細孔中に所定量のP原子を含
むFeを析出させて充填し、垂直磁化膜を形成すること
を特徴とする磁気記録媒体の製造方法。 - (14)Fe−Pメッキ浴中の溶存酸素を除去する手段
が、Fe−Pメッキ浴の調製に使用される水中に不活性
ガスをバブリングさせるか、または、調製したFe−P
メッキ浴中に不活性ガスをバブリングさせることからな
ることを特徴とする請求項13記載の磁気記録媒体の製
造方法。 - (15)不活性ガスはN_2、Ar、HeおよびKrか
らなる群から選択される少なくとも一種類のガスである
ことを特徴とする請求項13または14記載の磁気記録
媒体の製造方法。 - (16)亜リン酸塩が亜リン酸ナトリウム(Na_2H
PO_3)であり、次亜リン酸塩が次亜リン酸ナトリウ
ム(NaPH_2O_2)であることを特徴とする請求
項13記載の磁気記録媒体の製造方法。 - (17)微細孔中にメッキ充填したFe中のPの含有率
が0.2at%以上25.0at%以下であることを特
徴とする請求項13記載の磁気記録媒体の製造方法。 - (18)垂直磁化膜の飽和磁化が200〜600emu
/ccの範囲において、垂直方向の保磁力が500〜1
000Oeの範囲内にあることを特徴とする請求項13
記載の磁気記録媒体の製造方法。 - (19)微細孔の孔径が400Å未満であることを特徴
とする請求項13または17記載の磁気記録媒体の製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6414189A JPH02223008A (ja) | 1988-06-03 | 1989-03-16 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63-135442 | 1988-06-03 | ||
| JP13544288 | 1988-06-03 | ||
| JP63-288846 | 1988-11-17 | ||
| JP6414189A JPH02223008A (ja) | 1988-06-03 | 1989-03-16 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02223008A true JPH02223008A (ja) | 1990-09-05 |
Family
ID=26405271
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6414189A Pending JPH02223008A (ja) | 1988-06-03 | 1989-03-16 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02223008A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004070712A1 (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-19 | Fujitsu Limited | 磁気記録媒体及びその製造方法、磁気記録媒体に用いられる磁気媒体基板、並びに磁気記憶装置 |
| WO2004084193A1 (ja) * | 2003-03-19 | 2004-09-30 | Fujitsu Limited | 磁気記録媒体及びその製造方法、並びに、磁気記録装置及び磁気記録方法 |
| US7629021B2 (en) | 2005-06-16 | 2009-12-08 | Yamagata Fujitsu Limited | Method for producing a stamper |
-
1989
- 1989-03-16 JP JP6414189A patent/JPH02223008A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004070712A1 (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-19 | Fujitsu Limited | 磁気記録媒体及びその製造方法、磁気記録媒体に用いられる磁気媒体基板、並びに磁気記憶装置 |
| US7112377B2 (en) | 2003-02-06 | 2006-09-26 | Fujitsu Limited | Magnetic recording medium, method of manufacturing the same, magnetic medium substrate employed in the magnetic recording medium, and magnetic storage unit |
| WO2004084193A1 (ja) * | 2003-03-19 | 2004-09-30 | Fujitsu Limited | 磁気記録媒体及びその製造方法、並びに、磁気記録装置及び磁気記録方法 |
| US7629021B2 (en) | 2005-06-16 | 2009-12-08 | Yamagata Fujitsu Limited | Method for producing a stamper |
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