JPH02223477A - 光記録媒体 - Google Patents
光記録媒体Info
- Publication number
- JPH02223477A JPH02223477A JP1308540A JP30854089A JPH02223477A JP H02223477 A JPH02223477 A JP H02223477A JP 1308540 A JP1308540 A JP 1308540A JP 30854089 A JP30854089 A JP 30854089A JP H02223477 A JPH02223477 A JP H02223477A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording film
- substrate
- film
- recording
- cyclic olefin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、光あるいは熱等のエネルギービームの照射に
より基板上の記録膜にピットを形成して情報を記録する
ようにした光記録媒体に関する。
より基板上の記録膜にピットを形成して情報を記録する
ようにした光記録媒体に関する。
発明の技術的背景
光記録媒体には、エネルギービームの照射により、記録
膜の一部に穴もしくは凹部等の物理的変化部を形成する
方式のものと、記録膜の一部に光学的特性(屈折率、反
射率など)を変化させた光学特性変化部を形成する方式
のものとがある。
膜の一部に穴もしくは凹部等の物理的変化部を形成する
方式のものと、記録膜の一部に光学的特性(屈折率、反
射率など)を変化させた光学特性変化部を形成する方式
のものとがある。
いずれの方式の光記録媒体における記録膜としでも、テ
ルル(Te)等の低融点金属を主成分とする記録膜が従
来から知られている(特開昭58−71195号公報、
特開昭58−9234号公報)。低融点金属膜として代
表的なTe膜は、非常に低いエネルギーで所望の物理的
変化部もしくは光学特性変化部(以下、総称して、「ピ
ットJと称す)を形成でき、高感度材料として極めて有
望である。ここて感度とは単位面積当りのピット形成に
要するエネルギー(m J / ad )で定義される
。
ルル(Te)等の低融点金属を主成分とする記録膜が従
来から知られている(特開昭58−71195号公報、
特開昭58−9234号公報)。低融点金属膜として代
表的なTe膜は、非常に低いエネルギーで所望の物理的
変化部もしくは光学特性変化部(以下、総称して、「ピ
ットJと称す)を形成でき、高感度材料として極めて有
望である。ここて感度とは単位面積当りのピット形成に
要するエネルギー(m J / ad )で定義される
。
このように従来Teを主成分とする記録膜は知られてい
るが、これらの記録膜を通常の基板だとえばポリカーボ
ネート樹脂からなる基板に積層してなる光記録媒体は、
記録感度が充分ではないという問題点があり、さらに記
録感度が向上した光記録媒体の出現が望まれている。
るが、これらの記録膜を通常の基板だとえばポリカーボ
ネート樹脂からなる基板に積層してなる光記録媒体は、
記録感度が充分ではないという問題点があり、さらに記
録感度が向上した光記録媒体の出現が望まれている。
また上記のようなTeを主成分とする記録膜を通常の基
板たとえばポリカーボネート樹脂からなる基板に積層し
てなる光記録媒体は、基板と記録膜との密着性も充分で
はなかった。このため基板と記録膜との密着性を高める
ためにポリカーボネート樹脂基板の表面をプラズマ処理
する工程が必要となることがあった。
板たとえばポリカーボネート樹脂からなる基板に積層し
てなる光記録媒体は、基板と記録膜との密着性も充分で
はなかった。このため基板と記録膜との密着性を高める
ためにポリカーボネート樹脂基板の表面をプラズマ処理
する工程が必要となることがあった。
本発明者らは、上記のような光記録媒体の記録感度を高
め、しかも基板と記録膜との密着性を高めるべく鋭意研
究したところ、基板として特定の構造を有するエチレン
と環状オレフィンとのランダム共重合体を用い、かつ上
記のような基板に特定の記録膜を積層すれば、記録感度
に優れ、しかも基板と記録膜との密着性に優れた光記録
媒体が得られることを見出して本発明を完成するに至っ
た。
め、しかも基板と記録膜との密着性を高めるべく鋭意研
究したところ、基板として特定の構造を有するエチレン
と環状オレフィンとのランダム共重合体を用い、かつ上
記のような基板に特定の記録膜を積層すれば、記録感度
に優れ、しかも基板と記録膜との密着性に優れた光記録
媒体が得られることを見出して本発明を完成するに至っ
た。
なおTeを主成分として含む記録膜の耐酸化性を向上さ
せるために、記録膜の組成面からの検討も行なわれてお
り、たとえば特公昭59−33320号公報には、Cお
よびHが含まれたTe膜が提案されており、また特開昭
59−63038号公報には、Crが含まれたTe膜が
提案されている。しかしながら上記のような各公報に提
案されたTeを主成分として含む記録膜は、いずれもそ
の耐酸化性が充分であるとは言えない。
せるために、記録膜の組成面からの検討も行なわれてお
り、たとえば特公昭59−33320号公報には、Cお
よびHが含まれたTe膜が提案されており、また特開昭
59−63038号公報には、Crが含まれたTe膜が
提案されている。しかしながら上記のような各公報に提
案されたTeを主成分として含む記録膜は、いずれもそ
の耐酸化性が充分であるとは言えない。
発明の目的
本発明は、上記のような従来技術に伴う問題点を解決し
ようとするものであって、記録感度に優れ、しかも基板
と光記録膜との密着性に優れた光記録媒体を提供するこ
とを目的としている。
ようとするものであって、記録感度に優れ、しかも基板
と光記録膜との密着性に優れた光記録媒体を提供するこ
とを目的としている。
発明の概要
本発明に係る光記録媒体は、基板と、この基板上に形成
された記録膜とからなり、この記録膜にエネルギービー
ムを照射することにより、この記録膜にピットを形成し
て情報を記録するようにした光記録媒体において、 前記記録膜は、Teを主成分としてCr、CおよびHを
含む薄膜であり、 基板が、 エチレンと、下記一般式[I]で表わされる環状オレフ
ィンとの共重合体とからなる環状オレフィン系ランダム
共重合体から形成されていることを特徴としている。
された記録膜とからなり、この記録膜にエネルギービー
ムを照射することにより、この記録膜にピットを形成し
て情報を記録するようにした光記録媒体において、 前記記録膜は、Teを主成分としてCr、CおよびHを
含む薄膜であり、 基板が、 エチレンと、下記一般式[I]で表わされる環状オレフ
ィンとの共重合体とからなる環状オレフィン系ランダム
共重合体から形成されていることを特徴としている。
(式[I]において、nは0もしくは正の整数であり、
R1ないしR12はそれぞれ水素原子、ノ\ロゲン原子
または炭化水素基を示し、R9−R12は、互いに結合
して単環または多環の基を形成していでもよく、かつ該
単環または多環の基が二重結合を有していてもよく、 またR9とRlOとで、またはR11とR12とで、ア
ルキリデン基を形成していてもよい)。
R1ないしR12はそれぞれ水素原子、ノ\ロゲン原子
または炭化水素基を示し、R9−R12は、互いに結合
して単環または多環の基を形成していでもよく、かつ該
単環または多環の基が二重結合を有していてもよく、 またR9とRlOとで、またはR11とR12とで、ア
ルキリデン基を形成していてもよい)。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体中におい
ては、該環状オレフィン成分は一般式[■]で表わされ
る構造を形成している。
ては、該環状オレフィン成分は一般式[■]で表わされ
る構造を形成している。
(式[1]において、nは0もしくは正の整数であり、
RないしR12はそれぞれ水素原子、ハロ■ ゲン原子または炭化水素基を示し、R−R12は、互い
に結合して単環または多環の基を形成していでもよく、
かつ該単環または多環の基が二重結合を有していてもよ
く、 IQ またR とRとで、またはRliとR12とで、アルキ
リデン基を形成していてもよい)。
RないしR12はそれぞれ水素原子、ハロ■ ゲン原子または炭化水素基を示し、R−R12は、互い
に結合して単環または多環の基を形成していでもよく、
かつ該単環または多環の基が二重結合を有していてもよ
く、 IQ またR とRとで、またはRliとR12とで、アルキ
リデン基を形成していてもよい)。
発明の詳細な説明
以下本発明に係る光記録媒体について、具体的に説明す
る。
る。
本発明に係る光記録媒体10は、第1−図に示すように
、基板11上に光記録膜12が積層された構造を有して
いる。
、基板11上に光記録膜12が積層された構造を有して
いる。
また、本発明に係る光記録媒体10は、2枚の記録媒体
10を、外周部に介在する外周スペーサと内周部に介在
する内周スペーサとを介してその光記録膜12同士が対
面するようにして貼り合せ、エアーサンドイッチ構造の
光記録媒体としても良い。
10を、外周部に介在する外周スペーサと内周部に介在
する内周スペーサとを介してその光記録膜12同士が対
面するようにして貼り合せ、エアーサンドイッチ構造の
光記録媒体としても良い。
この際、スペーサと光記録媒体との接合は、超音波溶接
によって行なっても、接着剤、たとえばホットメルト接
着剤を用いて行なっても良い。
によって行なっても、接着剤、たとえばホットメルト接
着剤を用いて行なっても良い。
基 板
本発明に係る光記録媒体では、上記のような基板11は
、 エチレンと、下記一般式[I]で表わされる環状オレフ
ィンとの共重合体とからなり、135℃のデカリン中で
測定した極限粘度[η]が0.05〜10dA!/gの
範囲にある環状オレフィン系ランダム共重合体から形成
されている。
、 エチレンと、下記一般式[I]で表わされる環状オレフ
ィンとの共重合体とからなり、135℃のデカリン中で
測定した極限粘度[η]が0.05〜10dA!/gの
範囲にある環状オレフィン系ランダム共重合体から形成
されている。
ランダム共重合体について説明する。
上記一般式[I]で表わされる環状オレフィンについて
さらに詳しく説明すると、上記一般式[11で表わされ
る環状オレフィンは、上記式[I]で表わされる他、以
下に記載する式[I −a]で表わすこともできる。
さらに詳しく説明すると、上記一般式[11で表わされ
る環状オレフィンは、上記式[I]で表わされる他、以
下に記載する式[I −a]で表わすこともできる。
(式[I]において、nは0もしくは正の整数であり、
R1ないしR12はそれぞれ水素原子、ハロゲン原子ま
たは炭化水素基を示し、R9−R12は、互いに結合し
て単環または多環の基を形成していてもよく、かつ該単
環または多環の基が二重結合を有していてもよく、 またR とRとで、またはR11とR12とで、アルキ
リデン基を形成していてもよい)。
R1ないしR12はそれぞれ水素原子、ハロゲン原子ま
たは炭化水素基を示し、R9−R12は、互いに結合し
て単環または多環の基を形成していてもよく、かつ該単
環または多環の基が二重結合を有していてもよく、 またR とRとで、またはR11とR12とで、アルキ
リデン基を形成していてもよい)。
上記のような環状オレフィン系ランダム共重合体は、そ
の軟化温度(TMA)が70℃以上であることが好まし
い。以下、このような軟化温度(TMA)が70℃以上
である環状オレフィン系ただし、上記[I−a]におい
て、nはOまたは1であり、mは0または正の整数であ
り、R1−R18は、それぞれ独立に、水素原子、ハロ
ゲン原子および炭化水素基よりなる群から選ばれる原子
もしくは基を表わす。
の軟化温度(TMA)が70℃以上であることが好まし
い。以下、このような軟化温度(TMA)が70℃以上
である環状オレフィン系ただし、上記[I−a]におい
て、nはOまたは1であり、mは0または正の整数であ
り、R1−R18は、それぞれ独立に、水素原子、ハロ
ゲン原子および炭化水素基よりなる群から選ばれる原子
もしくは基を表わす。
そして、R15〜R18は、互いに結合して単環または
多環の基を形成していてもよく、かつ該単環または多環
の基が二重結合を有していてもよい。
多環の基を形成していてもよく、かつ該単環または多環
の基が二重結合を有していてもよい。
また、R15とR16とで、またはR17とR18とで
アルキリデン基を形成していてもよい。
アルキリデン基を形成していてもよい。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体中におい
ては、該環状オレフィン成分は一般式[■]で表わされ
る構造を形成している。
ては、該環状オレフィン成分は一般式[■]で表わされ
る構造を形成している。
アルキリデン基を形成していてもよい)。
なお、環状オレフィンを、上記のように[I −a]で
表わすと、環状オレフィン系ランダム共重合体中におい
ては、該環状オレフィン成分は、以下に示す式[II−
a]で表わされる構造を形成している。
表わすと、環状オレフィン系ランダム共重合体中におい
ては、該環状オレフィン成分は、以下に示す式[II−
a]で表わされる構造を形成している。
(式[11]において、nはOもしくは正の整数であり
、RないしR12はそれぞれ水素原子、ハロゲン原子ま
たは炭化水素基を示し、R9−R12は、互いに結合し
て単環または多環の基を形成していてもよく、かっ該単
環または多環の基が二重結合を有していてもよく、 またR とRとで、またはR11とR12とで、1ま ただし、上記[H−a]において、nは0または1であ
り、mはOまたは正の整数であり、R1−R18は、そ
れぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原子および炭化水素
基よりなる群から選ばれる原子もしくは基を表イっず。
、RないしR12はそれぞれ水素原子、ハロゲン原子ま
たは炭化水素基を示し、R9−R12は、互いに結合し
て単環または多環の基を形成していてもよく、かっ該単
環または多環の基が二重結合を有していてもよく、 またR とRとで、またはR11とR12とで、1ま ただし、上記[H−a]において、nは0または1であ
り、mはOまたは正の整数であり、R1−R18は、そ
れぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原子および炭化水素
基よりなる群から選ばれる原子もしくは基を表イっず。
そして、R15〜R18は、互いに結合して単環または
多環の基を形成していてもよく、かっ該単環または多環
の基が二重結合を有していてもよい。
多環の基を形成していてもよく、かっ該単環または多環
の基が二重結合を有していてもよい。
また、R15とR16とで、またはRI7とRIllと
でアルキリデン基を形成していてもよい。
でアルキリデン基を形成していてもよい。
上記のような環状オレフィン系ランダム共重合体の構成
成分である環状オレフィンは、一般式[IIで表わされ
る不飽和単量体からなる群から選ばれた少なくとも1種
の環状オレフィンである。
成分である環状オレフィンは、一般式[IIで表わされ
る不飽和単量体からなる群から選ばれた少なくとも1種
の環状オレフィンである。
一般式中[IIで表わされる環状オレフィンは、シクロ
ペンタジェン類と相応するオレフィン類とをディールス
・アルダ−反応で縮合させることにより容易に製造する
ことができる。
ペンタジェン類と相応するオレフィン類とをディールス
・アルダ−反応で縮合させることにより容易に製造する
ことができる。
一般式[IIで表わされる環状オレフィンとして、具体
的には、以下に記載した化合物、あるい2.5 7.1
0 はテトラシクロ[4,4,0,1,1]−]3−ドデセ
ン14,5.8−ジメタノ−1,2,3,4,4a、
5.8.8a〜オクタヒドロナフタレン)のほかに、2
−メチル−1,4,5,8ジメタノ−1,2,3,4,
4a、 5.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2−
エチル−1,4,5,8−ジメタノ刊、2,344m、
5.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2−プロピ
ル−1458−ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5
.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2−へキシル−
1,4,5,8−ジメタノー1.2.3.4.イa、
5.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2,3−ジメ
チル−1,4,5,8−ジメタノ−I2344a、 5
.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2−メチル−3
エチル−1,4,5,8−ジメタノ−1,2,3,4,
4a 58 Haミオフタヒドロナフタレン2−クロロ
−1458ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5.8
.8a−オクタヒドロナフタレン、2−ブロモ−1,4
,5,8−ジメタノ利2344a、 5.8.8a−オ
クタヒドロナフタレン、2−フルオロL 4.5.8−
ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5.8.8a−オ
クタヒドロナフタレン、2,3−ジクロロ−1,45,
8−ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5.8.8a
−オクタヒドロナフタレン、2−シクロへキシル−]、
4.5.8−ジメタノ−123、4,4a、 5.8
.8a−オクタヒドロナフタレン、2−n−ブチル−1
,4,5,8−ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5
88a−オクタヒドロナフタレン、2−イソブチル−1
,4,5,8−ジメタノ−1,2,3,4,4B、 5
.8.8a−オクタヒドロナフタレンなどのオクタヒド
ロナフタレン類を例示することができる。
的には、以下に記載した化合物、あるい2.5 7.1
0 はテトラシクロ[4,4,0,1,1]−]3−ドデセ
ン14,5.8−ジメタノ−1,2,3,4,4a、
5.8.8a〜オクタヒドロナフタレン)のほかに、2
−メチル−1,4,5,8ジメタノ−1,2,3,4,
4a、 5.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2−
エチル−1,4,5,8−ジメタノ刊、2,344m、
5.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2−プロピ
ル−1458−ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5
.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2−へキシル−
1,4,5,8−ジメタノー1.2.3.4.イa、
5.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2,3−ジメ
チル−1,4,5,8−ジメタノ−I2344a、 5
.8.8a−オクタヒドロナフタレン、2−メチル−3
エチル−1,4,5,8−ジメタノ−1,2,3,4,
4a 58 Haミオフタヒドロナフタレン2−クロロ
−1458ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5.8
.8a−オクタヒドロナフタレン、2−ブロモ−1,4
,5,8−ジメタノ利2344a、 5.8.8a−オ
クタヒドロナフタレン、2−フルオロL 4.5.8−
ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5.8.8a−オ
クタヒドロナフタレン、2,3−ジクロロ−1,45,
8−ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5.8.8a
−オクタヒドロナフタレン、2−シクロへキシル−]、
4.5.8−ジメタノ−123、4,4a、 5.8
.8a−オクタヒドロナフタレン、2−n−ブチル−1
,4,5,8−ジメタノ−1,2,3,4,4a、 5
88a−オクタヒドロナフタレン、2−イソブチル−1
,4,5,8−ジメタノ−1,2,3,4,4B、 5
.8.8a−オクタヒドロナフタレンなどのオクタヒド
ロナフタレン類を例示することができる。
さらに、式で表わされる環状オレフィン[IIの例とし
ては、以下に記載する化合物を挙げることができる。
ては、以下に記載する化合物を挙げることができる。
(以下余白)
すなわち、本発明において使、用される上記式[I]で
表わされる環状オレフィンとしては、具体的には、 ビシクロ[2,2,11ヘプト−2−エン誘導本テトラ
シクロ[4,4,0,12、S 、 17 、1 ”
]−]3−ドデセン誘導 倣キサシクロ[6,6,1,136,1111,13,
Q2.7.Q9.+4]4−へプタデンセン誘導朱 オクタシクロ[8,8,0,12,”、1’、7,1目
y+e、1重3.l6Q3.e、QI217]−5−ト
コセン誘導4本ペンタシクロ[6,6,1,13・6.
02・7.09・14]−4−へキサデセン誘導化 ヘプタシクロ−5−イコセン誘導本 ヘプタシクロー5−ヘンエイコセン誘導体、トリシクロ
[4,3,0,12、6コー3−デセン誘導4本トリシ
クロ[4,3,0,12,6]−3−ウンデセン誘導本
ペンタシクロ[6,5,1,13・6,02・?、Q9
.+3]−4−ペンタデセン誘導本 ペンタシクロペンタデカジエン誘導イ札ペンタシクロ[
4,7,0,12・5.08・13.19・+2]−3
−ペンl タデセン誘導本 ペンタシクロ[7,g、QJ3.e、Q2.7.l+1
1.+7.Qo、16112.151−4−エイコセン
誘導化および ノナシクロ[9,10,1,1,4,7,03・8,0
2・Ill、Q12・21113・2G、Q14・19
.116・Il+] 5−ベンタコセン誘導体を挙げる
ことができる。
表わされる環状オレフィンとしては、具体的には、 ビシクロ[2,2,11ヘプト−2−エン誘導本テトラ
シクロ[4,4,0,12、S 、 17 、1 ”
]−]3−ドデセン誘導 倣キサシクロ[6,6,1,136,1111,13,
Q2.7.Q9.+4]4−へプタデンセン誘導朱 オクタシクロ[8,8,0,12,”、1’、7,1目
y+e、1重3.l6Q3.e、QI217]−5−ト
コセン誘導4本ペンタシクロ[6,6,1,13・6.
02・7.09・14]−4−へキサデセン誘導化 ヘプタシクロ−5−イコセン誘導本 ヘプタシクロー5−ヘンエイコセン誘導体、トリシクロ
[4,3,0,12、6コー3−デセン誘導4本トリシ
クロ[4,3,0,12,6]−3−ウンデセン誘導本
ペンタシクロ[6,5,1,13・6,02・?、Q9
.+3]−4−ペンタデセン誘導本 ペンタシクロペンタデカジエン誘導イ札ペンタシクロ[
4,7,0,12・5.08・13.19・+2]−3
−ペンl タデセン誘導本 ペンタシクロ[7,g、QJ3.e、Q2.7.l+1
1.+7.Qo、16112.151−4−エイコセン
誘導化および ノナシクロ[9,10,1,1,4,7,03・8,0
2・Ill、Q12・21113・2G、Q14・19
.116・Il+] 5−ベンタコセン誘導体を挙げる
ことができる。
以下にこのような化合物の具体的な例を示す。
などのようなビシクロ[2,2,11
導体;
ヘプト
エン誘
Sl
CH。
ン
5.1叶ジメチルテトラ
9−エチル−11,12−ジメ
9−イソブチル
11、12
5、8.9.10−テトラメチ
ユ1
2、7.9− )リメチルテ
CH。
−)−O
8−メチルテトラシフ
8−エチルテトラシフ
18]
3−ドデセン
ヘキシルテトラシ
ュ】
+ 11 ] −3
ドデセン
8−メチル
エチルテ
ドデセン
一3−ドデセン
1す
3−ドデセン
・I f+ ] −3
ドデセン
ユ3
.12
5.17.11Iコ
3−ドデセ
ン
一ドデセン
、12
6.17.111]−3−ドデセ
ン
5+ 17・’ e]−3−F テセ:/父
5.17・18コー3−ドデセン
7・10]
ドデセン
3−ドデセン
、+eココ−−ドデセン
、12.6,17.111コー3
ドデセ
ン
iダ
[4,4,0,12・5.17・Il!] 3−ドデセ
ン クロ[4,4,0,12 17・ +9] 3−ドデセン [4,4,0,12・5.17 目1−3 ドデセン 一ドデセン 8−インプロピリデン 14] 4−へブタデセン ドデセン デセン 、1e] ドデセン デセン 一ドデセン などのテトラシクロ[4,4,0,125,17,11
1コー3 ドデセ ン誘導体; (以下余白) ヘプタデセン ag′ 3.111.Q3.8.Q12 17] 5−トコセン誘導体; +s、(12’、7.Q* +4] 4−ヘプ タデセン などのへキサシクロ[6,6,1,13・6.1111
・I 3 、 Q2・7,09.14コー4−ヘプタデ
セン誘導体; トコセン lfl、113 + 6 、 Q3 8.01 2.17]−5 トコセン 15−エチルオクタシフ +vl−5−トコセン などのペンタシクロ[6,6,1,13,6,02?、
Q9.14]−4− などのオクタシクロ[8,8,0,12・9.14・7
,1目・Il+、11ヘキサデセン誘導体。
ン クロ[4,4,0,12 17・ +9] 3−ドデセン [4,4,0,12・5.17 目1−3 ドデセン 一ドデセン 8−インプロピリデン 14] 4−へブタデセン ドデセン デセン 、1e] ドデセン デセン 一ドデセン などのテトラシクロ[4,4,0,125,17,11
1コー3 ドデセ ン誘導体; (以下余白) ヘプタデセン ag′ 3.111.Q3.8.Q12 17] 5−トコセン誘導体; +s、(12’、7.Q* +4] 4−ヘプ タデセン などのへキサシクロ[6,6,1,13・6.1111
・I 3 、 Q2・7,09.14コー4−ヘプタデ
セン誘導体; トコセン lfl、113 + 6 、 Q3 8.01 2.17]−5 トコセン 15−エチルオクタシフ +vl−5−トコセン などのペンタシクロ[6,6,1,13,6,02?、
Q9.14]−4− などのオクタシクロ[8,8,0,12・9.14・7
,1目・Il+、11ヘキサデセン誘導体。
ヘプタシクロ[8,7,0
などのトリシクロ[4,3,0,12・5コデセン誘導
体; コモン などのへブタシクロ−5−イコセン誘導体あるX/)は
へブタシクロ−5 ヘンエイコセン誘導体; メチル トリシフ などのトリシクロ[4,4,0,12 5]−3 ウンデセン誘導 体 3/ 1.6−シメチルペンタ セン などのペンタシクロ [47,Q、12.s、Qll、+3,1912] −3−ペンタデセン誘導体; 14、15 ジメチルペン +6,112 15] 4−エイ コモン などのペンタシクロ[6,5,1,13・6.O2?
、 Q9 、 l 3 ] 、、−]4.−ペンタデセ
ン誘導体 ;、7.lI[1 17,0目 16.11 15] −4−エイコセン などのへブタシクロ [7I8.Q、13.6.Q2.7.lI9.+7.Q
10,112 15] −4−エイコセン誘導体; などのジエン化合物; 21、ll3.28.Qld丁9,1 5.18] 5−ベンタコセン 3.211.QIA、+9.ll5.Ie]5−ヘンタ
コセン などのノナシクロ[jJ IQ、 l、 14.v、Q
3.ll、Q2.Ill、Q10.21,113.29
.QIA、+9,116.111] 5−ベンタコセ
ン誘導体; (以下余白) 汐、め この環状オレフィン系ランダム共重合体は、上記のよう
にエチレンおよび前記環状オレフィンを必須成分とする
ものであるが、該必須の二成分の他に本発明の目的を損
なわない範囲で、必要に応じて他の共重合可能な不飽和
単量体成分を含有していてもよい。任意に共重合されて
いてもよい該不飽和単量体として、具体的には、たとえ
ば生成するランダム共重合体中のエチレン成分単位と等
モル未満の範囲のプロピレン、1−ブテン、4−メチル
−1−ペンテン、1−ヘキセン、1−オクテン、1−デ
セン、1−ドデセン、1−テトラデセン、1−へキサデ
セン、1−オクタデセン、l−エイコセンなどの炭素原
子数が3〜20のα−オレフィンなどを例示することが
できる。
体; コモン などのへブタシクロ−5−イコセン誘導体あるX/)は
へブタシクロ−5 ヘンエイコセン誘導体; メチル トリシフ などのトリシクロ[4,4,0,12 5]−3 ウンデセン誘導 体 3/ 1.6−シメチルペンタ セン などのペンタシクロ [47,Q、12.s、Qll、+3,1912] −3−ペンタデセン誘導体; 14、15 ジメチルペン +6,112 15] 4−エイ コモン などのペンタシクロ[6,5,1,13・6.O2?
、 Q9 、 l 3 ] 、、−]4.−ペンタデセ
ン誘導体 ;、7.lI[1 17,0目 16.11 15] −4−エイコセン などのへブタシクロ [7I8.Q、13.6.Q2.7.lI9.+7.Q
10,112 15] −4−エイコセン誘導体; などのジエン化合物; 21、ll3.28.Qld丁9,1 5.18] 5−ベンタコセン 3.211.QIA、+9.ll5.Ie]5−ヘンタ
コセン などのノナシクロ[jJ IQ、 l、 14.v、Q
3.ll、Q2.Ill、Q10.21,113.29
.QIA、+9,116.111] 5−ベンタコセ
ン誘導体; (以下余白) 汐、め この環状オレフィン系ランダム共重合体は、上記のよう
にエチレンおよび前記環状オレフィンを必須成分とする
ものであるが、該必須の二成分の他に本発明の目的を損
なわない範囲で、必要に応じて他の共重合可能な不飽和
単量体成分を含有していてもよい。任意に共重合されて
いてもよい該不飽和単量体として、具体的には、たとえ
ば生成するランダム共重合体中のエチレン成分単位と等
モル未満の範囲のプロピレン、1−ブテン、4−メチル
−1−ペンテン、1−ヘキセン、1−オクテン、1−デ
セン、1−ドデセン、1−テトラデセン、1−へキサデ
セン、1−オクタデセン、l−エイコセンなどの炭素原
子数が3〜20のα−オレフィンなどを例示することが
できる。
上記のような軟化点(TMA)が70℃以上である環状
オレフィン系ランダム共重合体において、エチレンに由
来する繰り返し単位(a)は、40〜85モル%、好ま
しくは50〜75モル%の範囲で存在しており、また該
環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)は15〜
60モル%、好ましくは25〜50モル%の範囲で存在
しており、エチレンに由来する繰り返し単位(a)およ
び該環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)は、
ランダムに実質上線状に配列している。なお、エチレン
組成および環状オレフィン組成は13C−NMRによっ
て測定した。この環状オレフィン系ランダム共重合体が
実質上線状であり、ゲル状架橋構造を有していないこと
は、該共重合体が135℃のデカリン中に完全に溶解す
ることによって確認できる。
オレフィン系ランダム共重合体において、エチレンに由
来する繰り返し単位(a)は、40〜85モル%、好ま
しくは50〜75モル%の範囲で存在しており、また該
環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)は15〜
60モル%、好ましくは25〜50モル%の範囲で存在
しており、エチレンに由来する繰り返し単位(a)およ
び該環状オレフィンに由来する繰り返し単位(b)は、
ランダムに実質上線状に配列している。なお、エチレン
組成および環状オレフィン組成は13C−NMRによっ
て測定した。この環状オレフィン系ランダム共重合体が
実質上線状であり、ゲル状架橋構造を有していないこと
は、該共重合体が135℃のデカリン中に完全に溶解す
ることによって確認できる。
このような環状オレフィン系ランダム共重合体の135
℃のデカリン中で測定した極限粘度[η]は、0.05
〜10dA’/g、好ましくは0.08〜5dj!/g
の範囲にある。
℃のデカリン中で測定した極限粘度[η]は、0.05
〜10dA’/g、好ましくは0.08〜5dj!/g
の範囲にある。
また環状オレフィン系ランダム共重合体のサーマル・メ
カニカル・アナライザーで測定した軟化温度(TMA)
は、70℃以上、好ましくは90〜250℃、さらに好
ましくは100〜200°Cの範囲にある。なお軟化温
度(TMA)は、デュポン社製Thermomecha
nical Analyse+を用いて1mm厚さシー
トの熱変形挙動により測定した。すなわちシート上に石
英製針をのせ、荷重49gをかけ、5°C/分で昇温し
でいき、針が0.635mm侵入した温度をTMAとし
た。また、該環状オレフィン系ランダム共重合体のガラ
ス転移温度(Tg)は、通常50〜230℃、好ましく
は70〜210℃の範囲にあることが望ましい。
カニカル・アナライザーで測定した軟化温度(TMA)
は、70℃以上、好ましくは90〜250℃、さらに好
ましくは100〜200°Cの範囲にある。なお軟化温
度(TMA)は、デュポン社製Thermomecha
nical Analyse+を用いて1mm厚さシー
トの熱変形挙動により測定した。すなわちシート上に石
英製針をのせ、荷重49gをかけ、5°C/分で昇温し
でいき、針が0.635mm侵入した温度をTMAとし
た。また、該環状オレフィン系ランダム共重合体のガラ
ス転移温度(Tg)は、通常50〜230℃、好ましく
は70〜210℃の範囲にあることが望ましい。
また、この環状オレフィン系ランダム共重合体のX線回
折法によって測定した結晶化度は、0〜10%、好まし
くは0〜7%、とくに好ましくは0〜5%の範囲、であ
る。
折法によって測定した結晶化度は、0〜10%、好まし
くは0〜7%、とくに好ましくは0〜5%の範囲、であ
る。
本発明における基板を構成する上記の環状オレフィン共
重合体は、特開昭60−168708号公報、特開昭6
1−120816号公報、特開昭61−115912号
公報、特開昭61−115916号公報、特願昭61−
!15905号公報、特願昭61−95906号公報、
特開昭61−271308号公報、特開昭61−272
216号公報などにおいて本出願人が提案した方法に従
い適宜条件を選択することにより、製造することができ
る。
重合体は、特開昭60−168708号公報、特開昭6
1−120816号公報、特開昭61−115912号
公報、特開昭61−115916号公報、特願昭61−
!15905号公報、特願昭61−95906号公報、
特開昭61−271308号公報、特開昭61−272
216号公報などにおいて本出願人が提案した方法に従
い適宜条件を選択することにより、製造することができ
る。
また、基板を形成する樹脂として、上記のような環状オ
レフィンランダム共重合体と共に、上述の式[I]で表
わされる環状オレフィンが開環重合することにより形成
される次式[Ir[]で表わされる繰り返し単位を含む
重合体もしくは共重合体が含まれていてもよく、さらに
上記式[III]で表わされる繰り返し単位を水添する
ことにより形成される次式[1v]て示すような繰り返
し単位を含む重合体あるいは共重合体が含まれていても
よい。
レフィンランダム共重合体と共に、上述の式[I]で表
わされる環状オレフィンが開環重合することにより形成
される次式[Ir[]で表わされる繰り返し単位を含む
重合体もしくは共重合体が含まれていてもよく、さらに
上記式[III]で表わされる繰り返し単位を水添する
ことにより形成される次式[1v]て示すような繰り返
し単位を含む重合体あるいは共重合体が含まれていても
よい。
ただし、上記式[m]および[IV]において、nおよ
びR−R12は、前記式[I]で示される環状オレフィ
ンにおけるnおよびR〜R12と同じ意味である。
びR−R12は、前記式[I]で示される環状オレフィ
ンにおけるnおよびR〜R12と同じ意味である。
また上記の環状オレフィン共重合体には、必要に応じ、
耐熱安定剤、耐候安定剤、帯電防止剤、スリップ剤、ア
ンチブロッキング剤、防曇剤、滑剤、染料、顔料、天然
油、合成油、ワックスなどを配合することができ、その
配合割合は適宜量である。たとえば、任意成分として配
合される安定剤として具体的には、テトラキス[メチレ
ン−3(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェ
ニル)プロピオネートコメタン、β−(3,5−ジー(
−ブチル−4ヒドロキシフェニル)プロピオン酸アルキ
ルエステル(特に炭素数18以下のアルキルエステルが
好ましい)、2.2’−オキザミドビス[エチル−3(
3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プ
ロピオネートなどのフェノール系酸化防止剤、ステアリ
ン酸亜鉛、ステアリン酸カルシウム、12ヒドロキシス
テアリン酸カルシウムなどの脂肪酸金属塩、グリセリン
モノステアレート、グリセリンモノラウレート、グリセ
リンジステアレート、ペンタエリスリトールモノステア
レート、ペンタエリスリトールジステアレート、ペンタ
エリスリトールトリステアレート等の多価アルコール脂
肪酸エステルなどを挙げることができる。これらは単独
で配合してもよいが、組合わせて配合してもよく、たと
えばテトラキス[メチレン−3(3,5−ジt−ブチル
ー4−ヒドロキシフェニル)プロピオネートコメタンと
ステアリン酸亜鉛およびグリセリンモノステアレートと
の組合せ等を例示することができる。
耐熱安定剤、耐候安定剤、帯電防止剤、スリップ剤、ア
ンチブロッキング剤、防曇剤、滑剤、染料、顔料、天然
油、合成油、ワックスなどを配合することができ、その
配合割合は適宜量である。たとえば、任意成分として配
合される安定剤として具体的には、テトラキス[メチレ
ン−3(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェ
ニル)プロピオネートコメタン、β−(3,5−ジー(
−ブチル−4ヒドロキシフェニル)プロピオン酸アルキ
ルエステル(特に炭素数18以下のアルキルエステルが
好ましい)、2.2’−オキザミドビス[エチル−3(
3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プ
ロピオネートなどのフェノール系酸化防止剤、ステアリ
ン酸亜鉛、ステアリン酸カルシウム、12ヒドロキシス
テアリン酸カルシウムなどの脂肪酸金属塩、グリセリン
モノステアレート、グリセリンモノラウレート、グリセ
リンジステアレート、ペンタエリスリトールモノステア
レート、ペンタエリスリトールジステアレート、ペンタ
エリスリトールトリステアレート等の多価アルコール脂
肪酸エステルなどを挙げることができる。これらは単独
で配合してもよいが、組合わせて配合してもよく、たと
えばテトラキス[メチレン−3(3,5−ジt−ブチル
ー4−ヒドロキシフェニル)プロピオネートコメタンと
ステアリン酸亜鉛およびグリセリンモノステアレートと
の組合せ等を例示することができる。
本発明では特に、フェノール系酸化防止剤および多価ア
ルコールの脂肪酸エステルとを組合せて用いることが好
ましく、該多価アルコールの脂肪酸エステルは3価以上
の多価アルコールのアルコール性水酸基の一部がエステ
ル化された多価アルコール脂肪酸エステルであることが
好ましい。
ルコールの脂肪酸エステルとを組合せて用いることが好
ましく、該多価アルコールの脂肪酸エステルは3価以上
の多価アルコールのアルコール性水酸基の一部がエステ
ル化された多価アルコール脂肪酸エステルであることが
好ましい。
このような多価アルコールの脂肪酸エステルとしては、
具体的には、グリセリンモノステアレート、グリセリン
モノラウレート、グリセリンモノミリステート、グリセ
リンモノパルミテート、グリセリンジステアレート、グ
リセリンジラウレート等のグリセリン脂肪酸エステル、
ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタエリス
リトールモノラウレート、ペンタエリスリトールジステ
アレート、ペンタエリスリトールジラウレート、ペンタ
エリスリトールトリステアレート等のペンタエリスリト
ールの脂肪酸エステルが用いられる。
具体的には、グリセリンモノステアレート、グリセリン
モノラウレート、グリセリンモノミリステート、グリセ
リンモノパルミテート、グリセリンジステアレート、グ
リセリンジラウレート等のグリセリン脂肪酸エステル、
ペンタエリスリトールモノステアレート、ペンタエリス
リトールモノラウレート、ペンタエリスリトールジステ
アレート、ペンタエリスリトールジラウレート、ペンタ
エリスリトールトリステアレート等のペンタエリスリト
ールの脂肪酸エステルが用いられる。
このようなフェノール系酸化防止剤は、環状オレフィン
系ランダム共重合体組成物100重量部に対して0.0
1〜10重量部好ましくは0.05〜3重量部さらに好
ましくは0.1〜1重量部の量で用いられ、また多価ア
ルコールの脂肪酸エステルは該組成物100重量部に対
して0.01〜10重量部好ましくは0.05〜3重量
部の量で用いられる。
系ランダム共重合体組成物100重量部に対して0.0
1〜10重量部好ましくは0.05〜3重量部さらに好
ましくは0.1〜1重量部の量で用いられ、また多価ア
ルコールの脂肪酸エステルは該組成物100重量部に対
して0.01〜10重量部好ましくは0.05〜3重量
部の量で用いられる。
本発明に係る光記録媒体では、基板11として上記のよ
うな環状オレフィン系ランダム共重合体が用いられてお
り、このような光記録媒体は、理由は定かではないが、
ポリカーボネート、ポリ(メタ)アクリレートなどを基
板として用いた光記録媒体と比較して記録感度が優れて
いる。またこの環状オレフィン系ランダム共重合体から
なる基板11と記録膜12とは密着性に優れており、し
たがって記録膜は長期安定性に優れるとともに記録膜の
酸化が効果的に防止される。したがってこの環状オレフ
ィン系ランダム共重合体か、らなる基板11上に記録膜
12を積層してなる光記録媒体は、記録感度に優れ、ま
た耐久性および長期安定性にも優れている。また本発明
に係る光記録媒体10は反りがなく割れが生ずることが
ない。
うな環状オレフィン系ランダム共重合体が用いられてお
り、このような光記録媒体は、理由は定かではないが、
ポリカーボネート、ポリ(メタ)アクリレートなどを基
板として用いた光記録媒体と比較して記録感度が優れて
いる。またこの環状オレフィン系ランダム共重合体から
なる基板11と記録膜12とは密着性に優れており、し
たがって記録膜は長期安定性に優れるとともに記録膜の
酸化が効果的に防止される。したがってこの環状オレフ
ィン系ランダム共重合体か、らなる基板11上に記録膜
12を積層してなる光記録媒体は、記録感度に優れ、ま
た耐久性および長期安定性にも優れている。また本発明
に係る光記録媒体10は反りがなく割れが生ずることが
ない。
記 録 膜
本発明で用いられる上記のような記録膜12は、Teを
主成分としてCr、CおよびHを少なくとも含む薄膜で
あり、Te以外の低融点元素あるいはその他の成分を含
んでもよい。記録膜12中に含ませることが可能なTe
以外の元素としては、T iSMnXN i、Z r、
Nbz Ta、All 。
主成分としてCr、CおよびHを少なくとも含む薄膜で
あり、Te以外の低融点元素あるいはその他の成分を含
んでもよい。記録膜12中に含ませることが可能なTe
以外の元素としては、T iSMnXN i、Z r、
Nbz Ta、All 。
Pt、SmXB15 In5Se、Pb、Co。
S i、Sb、Ge、Ag、Pd、Sn、Zn等が例示
される。
される。
このような記録膜12に含まれるCrの含有割合は、記
録膜中に含まれる全原子数に対して、0.1〜40原子
%、好ましくは0.5〜10原子%、特に好ましくは1
〜4原子%の範囲にあるか、または記録膜中のTeおよ
びCrの合計原子数に対してのCrの含有割合が、0.
1〜40原子%、好ましくは0.5〜10原子%、特に
好ましくは1〜4原子%の範囲にあることが好ましい。
録膜中に含まれる全原子数に対して、0.1〜40原子
%、好ましくは0.5〜10原子%、特に好ましくは1
〜4原子%の範囲にあるか、または記録膜中のTeおよ
びCrの合計原子数に対してのCrの含有割合が、0.
1〜40原子%、好ましくは0.5〜10原子%、特に
好ましくは1〜4原子%の範囲にあることが好ましい。
このような範囲でCrを含ませることによって、記録膜
12の耐酸化性を向上させるにもかかわらず、記録感度
が低下せず、場合によっては記録膜度を向上させること
ができるからである。
12の耐酸化性を向上させるにもかかわらず、記録感度
が低下せず、場合によっては記録膜度を向上させること
ができるからである。
また、記録膜12中のCの含有量は、記録膜の寿命及び
記録感度の向上の点から、記録膜全体の原子数に対して
40原子%未満、好ましくは3〜20原子%または記録
膜中のTe5CrおよびCの合計原子数に対して、40
原子%未満、好ましくは3〜20原子%であることが望
ましい。このような範囲でCを含有させることにより、
記録感度および記録マージンの向上を図ることが可能と
なる。
記録感度の向上の点から、記録膜全体の原子数に対して
40原子%未満、好ましくは3〜20原子%または記録
膜中のTe5CrおよびCの合計原子数に対して、40
原子%未満、好ましくは3〜20原子%であることが望
ましい。このような範囲でCを含有させることにより、
記録感度および記録マージンの向上を図ることが可能と
なる。
また、記録膜12中のHの含有量は、寿命等の点から全
体に対して1〜40原子%好ましくは3〜25原子%で
あることが望ましい。なお、記録膜12中に含まれる各
元素の含有量は、金属元素(TeSCtなど)について
はICP発光分析法(誘導結合型プラズマ発光分析法)
によって、またCについてはX線光電子分光法(ESC
A) 、Hについては有機元素分析法によって測定され
る。
体に対して1〜40原子%好ましくは3〜25原子%で
あることが望ましい。なお、記録膜12中に含まれる各
元素の含有量は、金属元素(TeSCtなど)について
はICP発光分析法(誘導結合型プラズマ発光分析法)
によって、またCについてはX線光電子分光法(ESC
A) 、Hについては有機元素分析法によって測定され
る。
上記のような組成を有する記録膜12に情報を書込むに
は、記録すべき情報に応じて変調(オン・オフ)された
レーザビーム等のエネルギービームを該記録膜12に照
射することにより、その照射部分にピットを形成すれば
よい。このピットは、穴や凹部等のような物理的変化部
であってもよいし、屈折率や反射率等の光学的特性を変
化させた光学特性変化部であってもよい。
は、記録すべき情報に応じて変調(オン・オフ)された
レーザビーム等のエネルギービームを該記録膜12に照
射することにより、その照射部分にピットを形成すれば
よい。このピットは、穴や凹部等のような物理的変化部
であってもよいし、屈折率や反射率等の光学的特性を変
化させた光学特性変化部であってもよい。
このような記録膜12の膜厚は、十分な光反射率を得る
程度に厚く、かつ感度を損なわない程度に薄いことが必
要である。具体的には、記録膜12に穴などの物理的変
化部を形成する場合には、記録膜の膜厚は100人〜1
μm好ましくは100〜5000人さら1こ好ましくは
150〜700人程度である。また記録膜12に反射率
または屈折率などの光学的特性変化部を形成する場合に
は、記録膜の膜厚は100人〜1μm好ましくは100
〜5000人さらに好ましくは200〜2000人程度
である。
程度に厚く、かつ感度を損なわない程度に薄いことが必
要である。具体的には、記録膜12に穴などの物理的変
化部を形成する場合には、記録膜の膜厚は100人〜1
μm好ましくは100〜5000人さら1こ好ましくは
150〜700人程度である。また記録膜12に反射率
または屈折率などの光学的特性変化部を形成する場合に
は、記録膜の膜厚は100人〜1μm好ましくは100
〜5000人さらに好ましくは200〜2000人程度
である。
このような記録膜12を基板11の表面に成膜するには
、たとえば次のようにして行なうことができる。
、たとえば次のようにして行なうことができる。
まず、TeおよびCrをそれぞれ別々のターゲットとし
て、もしくはTe−Cr合金をターゲットとし、Cおよ
びHを含む有機ガス、たとえばCH4やC2H2ガスと
、Arガスとの混合ガス中で、マグネトロンスパッタリ
ング法により、基板11上に、CおよびHを含むTe−
Cr合金薄膜から成る記録膜12を成膜する。また、ス
パッタリング法を用いることなく、CH4とTeCr合
金の蒸気とをプラズマ状にして基板にCおよびHを含む
Te−Cr合金薄膜からなる記録膜12を成膜すること
も可能である。また、気相成長またはプラズマ気相成長
によっても、同様の記録膜12を形成することが可能で
ある。さらに他の方法としてT e 1Cr N CS
Fl原子の一部または全部をイオン化してビーム状とし
て基板上に積もらせるようにしてもよい。
て、もしくはTe−Cr合金をターゲットとし、Cおよ
びHを含む有機ガス、たとえばCH4やC2H2ガスと
、Arガスとの混合ガス中で、マグネトロンスパッタリ
ング法により、基板11上に、CおよびHを含むTe−
Cr合金薄膜から成る記録膜12を成膜する。また、ス
パッタリング法を用いることなく、CH4とTeCr合
金の蒸気とをプラズマ状にして基板にCおよびHを含む
Te−Cr合金薄膜からなる記録膜12を成膜すること
も可能である。また、気相成長またはプラズマ気相成長
によっても、同様の記録膜12を形成することが可能で
ある。さらに他の方法としてT e 1Cr N CS
Fl原子の一部または全部をイオン化してビーム状とし
て基板上に積もらせるようにしてもよい。
このようなCおよびHを含むTe−Cr合金薄膜から成
る記録膜12中のTeおよびCrの含有原子数比は、T
eとCrとを同時スパッタする際には、それぞれの印加
電圧によって、合金ターゲットを用いる場合には合金組
成によって自由に制御される。また、Te−Cr合金薄
膜から成る記録膜12中のCおよびHの含有量は、CH
4とArとの混合比または印加電圧またはスパッタ時の
ガス圧により自由に制御できる。この場合、膜が化学的
に最も安定するHの含有量はCの含有量によって決まる
。ここでは膜中に水素ガス(H2)が発生するほど多量
に含有させない限り、H含有量は任意に選ぶことができ
る。さらに膜厚はスパッタリング時間に比例するので、
自由に制御できる。
る記録膜12中のTeおよびCrの含有原子数比は、T
eとCrとを同時スパッタする際には、それぞれの印加
電圧によって、合金ターゲットを用いる場合には合金組
成によって自由に制御される。また、Te−Cr合金薄
膜から成る記録膜12中のCおよびHの含有量は、CH
4とArとの混合比または印加電圧またはスパッタ時の
ガス圧により自由に制御できる。この場合、膜が化学的
に最も安定するHの含有量はCの含有量によって決まる
。ここでは膜中に水素ガス(H2)が発生するほど多量
に含有させない限り、H含有量は任意に選ぶことができ
る。さらに膜厚はスパッタリング時間に比例するので、
自由に制御できる。
このようにして形成されるCおよびHを含有するTe−
Cr合金薄膜から成る記録膜12における反射率あるい
は消衰係数などの光学特性は、CとHとの含有量によっ
て異なり、情報記録用として利用するには、上記のよう
な光学特性に応じて膜厚が決定される。
Cr合金薄膜から成る記録膜12における反射率あるい
は消衰係数などの光学特性は、CとHとの含有量によっ
て異なり、情報記録用として利用するには、上記のよう
な光学特性に応じて膜厚が決定される。
上記のような条件で形成した記録膜12は、Teなどの
低融点金属単体で形成した膜に比べて著しく耐酸化性お
よび記録感度が向上している。
低融点金属単体で形成した膜に比べて著しく耐酸化性お
よび記録感度が向上している。
たとえば、Cr、CおよびHを含有するTe記録膜では
、高温、高湿下に長期間保存したときの反射率の変化は
、Crの含有量が多い程少なく、Te単独の記録膜に比
較して、本発明に係る記録膜の耐酸化性が向上している
ことが実験により確認された。
、高温、高湿下に長期間保存したときの反射率の変化は
、Crの含有量が多い程少なく、Te単独の記録膜に比
較して、本発明に係る記録膜の耐酸化性が向上している
ことが実験により確認された。
また、たとえば本発明に係る記録膜によれば、記録用エ
ネルギー出力が比較的小さく、記録感度が向上している
ことが実験により確認された。
ネルギー出力が比較的小さく、記録感度が向上している
ことが実験により確認された。
さらに、第2図に示すように、本発明に係る光記録媒体
(図中、曲線A)は、従来のCおよびHを含むTe膜を
有する光記録媒体(図中、曲線B)に比較して、記録用
エネルギー出力の微小変動■に対してC/N比がほとん
ど変化せず、記録マージンが広いことが確認された。
(図中、曲線A)は、従来のCおよびHを含むTe膜を
有する光記録媒体(図中、曲線B)に比較して、記録用
エネルギー出力の微小変動■に対してC/N比がほとん
ど変化せず、記録マージンが広いことが確認された。
さらにまた、第3図に示すように、本発明に係る光記録
媒体(図中、曲線A)は、従来のCおよびHを含むTe
膜を有する光記録媒体(図中、曲線B)に比較して、反
射率の経時的変化がほとんどなく、耐久性が向上するこ
とも確認された。このことは後述する表2からも明らか
である。
媒体(図中、曲線A)は、従来のCおよびHを含むTe
膜を有する光記録媒体(図中、曲線B)に比較して、反
射率の経時的変化がほとんどなく、耐久性が向上するこ
とも確認された。このことは後述する表2からも明らか
である。
また本発明では、上述したように基板11上に記録膜1
2を成膜した後、必要に応じて、この記録膜12または
記録膜12と基板11を、不活性ガス、還元性ガス、も
しくは酸素を含んだガス雰囲気中で、熱処理することも
できる。熱処理温度は、記録膜中に含まれるTeの融点
以下であることが必要であり、好ましくは70〜300
℃特に90〜150℃の温度範囲がよい。また熱処理時
間は5秒以上であることが好ましい。
2を成膜した後、必要に応じて、この記録膜12または
記録膜12と基板11を、不活性ガス、還元性ガス、も
しくは酸素を含んだガス雰囲気中で、熱処理することも
できる。熱処理温度は、記録膜中に含まれるTeの融点
以下であることが必要であり、好ましくは70〜300
℃特に90〜150℃の温度範囲がよい。また熱処理時
間は5秒以上であることが好ましい。
このように、記録膜12を基板11上に形成した後に記
録膜12または記録膜12と基板11を熱処理すること
で、記録膜における記録感度が向上すると共に、記録マ
ージンが広がる。これは熱処理によって、記録膜がある
程度結晶化される等によると考えられる。
録膜12または記録膜12と基板11を熱処理すること
で、記録膜における記録感度が向上すると共に、記録マ
ージンが広がる。これは熱処理によって、記録膜がある
程度結晶化される等によると考えられる。
なお、本発明は、第1図に示す実施例に限定されず、本
発明の範囲内で種々に改変することができる。
発明の範囲内で種々に改変することができる。
たとえば、第4図に示すように、基板11と記錫膜12
との間に、下地層13を積層させるようにしてもよい。
との間に、下地層13を積層させるようにしてもよい。
下地層13としては、たとえばフッ化マグネシウム(M
gF2)などからなるフッ化物膜、酸化ケイ素(SI0
2.5IO)もしくは窒化ケイ素(SJN4)などから
なるケイ素化合物膜、Ti、Ni5Cr、AIまたはN
i−Crなどからなる金属薄膜、ポリテトラフルオロエ
チレン(PTFE)薄膜などのフッ素置換の炭化水素化
合物および/またはそのポリマーの薄膜、Cr−CH薄
膜(Cr、 CおよびHを含む膜)などが用いられる
。下地層13の膜厚は、その材質によっても異なるが、
一般に、10〜1000人、好ましくは50〜500人
である。このような膜厚に設定することで、透明性を維
持することができると共に、下地層13としての種々の
特性を発揮することができる。
gF2)などからなるフッ化物膜、酸化ケイ素(SI0
2.5IO)もしくは窒化ケイ素(SJN4)などから
なるケイ素化合物膜、Ti、Ni5Cr、AIまたはN
i−Crなどからなる金属薄膜、ポリテトラフルオロエ
チレン(PTFE)薄膜などのフッ素置換の炭化水素化
合物および/またはそのポリマーの薄膜、Cr−CH薄
膜(Cr、 CおよびHを含む膜)などが用いられる
。下地層13の膜厚は、その材質によっても異なるが、
一般に、10〜1000人、好ましくは50〜500人
である。このような膜厚に設定することで、透明性を維
持することができると共に、下地層13としての種々の
特性を発揮することができる。
このような下地層13を基板11の表面に形成するには
、記録層12を形成する場合と同様に、マグネトロンス
パッタリング法、気相成長法、プラズマ気相成長法、蒸
着法またはスピンコード法などの塗布によって行なえば
よい。
、記録層12を形成する場合と同様に、マグネトロンス
パッタリング法、気相成長法、プラズマ気相成長法、蒸
着法またはスピンコード法などの塗布によって行なえば
よい。
このような下地層13を、基板11と記録膜12との間
に設ければ、記録感度がさらに向上し、場合によっては
記録マージンもさらに広がることになる。
に設ければ、記録感度がさらに向上し、場合によっては
記録マージンもさらに広がることになる。
また上記のような記録膜12を上記のような基板11上
に積層してなる光記録媒体は、特に記録感度に優れ、ま
た場合によっては記録マージンもさらに広くなっている
。
に積層してなる光記録媒体は、特に記録感度に優れ、ま
た場合によっては記録マージンもさらに広くなっている
。
また、本発明によれば、第1図または第4図に示す光記
録媒体10における記録膜12の表面に表面層を形成す
るようにしてもよい。表面層を形成する材質としては、
記録膜の元素、5iSTi等の酸化物、窒化物、金属な
どが用いられる。表面層の膜厚は、その材質によっても
異なるが、5〜100人、好ましくは10〜50人であ
る。
録媒体10における記録膜12の表面に表面層を形成す
るようにしてもよい。表面層を形成する材質としては、
記録膜の元素、5iSTi等の酸化物、窒化物、金属な
どが用いられる。表面層の膜厚は、その材質によっても
異なるが、5〜100人、好ましくは10〜50人であ
る。
発明の効果
本発明に係る光記録媒体は、Teを主成分とし、さらに
Cr、CおよびHを含有する記録膜を、エチレンと環状
オレフィンとのランダム共重合体からなる基板上に積層
してなる構造を有しているため、記録感度に優れ、しか
も基板と記録膜との密着性に優れ、かつ耐酸化性にも優
れているという優れた効果を有している。
Cr、CおよびHを含有する記録膜を、エチレンと環状
オレフィンとのランダム共重合体からなる基板上に積層
してなる構造を有しているため、記録感度に優れ、しか
も基板と記録膜との密着性に優れ、かつ耐酸化性にも優
れているという優れた効果を有している。
[実施例]
以下、本発明をさらに具体的な実施例に基づき説明する
が、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
が、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
実施例1
真空容器を排気後、ArガスおよびCHt、ガスを導入
し、内部圧力を6 X 10’Torrとした( Ar
/ CH4= 9 / 1 :ガス流量比)。次に、T
eおよびCrをターゲットとし、同時スパッタを行なっ
た。その際、各々のターゲットに与える電圧およびスパ
ッタ時間を制御することによりT e g7Cr 2
C4Hvの組成を有する膜厚240人の記録膜をエチレ
ンとテトラシクロ[44,012・5.17・101−
3−ドデセン(構造式= ω以下DMONと略記する)
の非品性の共重合体(”’C−NMR分析で測定したエ
チレン含量59モル%、DMON含量41モル%、13
5℃デカリン中で測定した極限粘度[η]が0.42d
l/ g 、軟化温度(TMA)154°C)からなる
光デイスク基板(以下、PO基板という)上に成膜し、
光記録媒体を得た。
し、内部圧力を6 X 10’Torrとした( Ar
/ CH4= 9 / 1 :ガス流量比)。次に、T
eおよびCrをターゲットとし、同時スパッタを行なっ
た。その際、各々のターゲットに与える電圧およびスパ
ッタ時間を制御することによりT e g7Cr 2
C4Hvの組成を有する膜厚240人の記録膜をエチレ
ンとテトラシクロ[44,012・5.17・101−
3−ドデセン(構造式= ω以下DMONと略記する)
の非品性の共重合体(”’C−NMR分析で測定したエ
チレン含量59モル%、DMON含量41モル%、13
5℃デカリン中で測定した極限粘度[η]が0.42d
l/ g 、軟化温度(TMA)154°C)からなる
光デイスク基板(以下、PO基板という)上に成膜し、
光記録媒体を得た。
実施例2
記録膜の膜厚を290人とした以外は、実施例1と同様
にしてT e s7Cr 2 Ci、 H7の記録膜を
PO基板上に成膜した。
にしてT e s7Cr 2 Ci、 H7の記録膜を
PO基板上に成膜した。
実施例3,4
実施例1,2を各々100℃の温度でN2雰囲気下で2
0分間熱処理を施した。
0分間熱処理を施した。
実施例5
T e 97 Cr 3合金ターゲツトを用い、ガス流
量比をA r / CH4= 9 / 1とし、実施例
1と同様にしてTe Cr CH、膜厚230人の
記錫膜をPO基板上に成膜した。
量比をA r / CH4= 9 / 1とし、実施例
1と同様にしてTe Cr CH、膜厚230人の
記錫膜をPO基板上に成膜した。
実施例6
真空容器を排気後、ArガスおよびCHi、ガスを導入
し、内部圧力を6 X 10’Tor+とした(Ar/
CH4=9/トガス流量比)。次に、TeおよびCrを
ターゲットとし、同時スパッタを行なった。その際、各
々のターゲットに与える電圧およびスパッタ時間を制御
することにより、記録膜中のTe、CrおよびCの原子
数比が次の式、(Te Cr 98.8 1.2 )96C4で表わせるTe。
し、内部圧力を6 X 10’Tor+とした(Ar/
CH4=9/トガス流量比)。次に、TeおよびCrを
ターゲットとし、同時スパッタを行なった。その際、各
々のターゲットに与える電圧およびスパッタ時間を制御
することにより、記録膜中のTe、CrおよびCの原子
数比が次の式、(Te Cr 98.8 1.2 )96C4で表わせるTe。
Cr、CおよびHを含む記録膜を240人の膜厚でPO
基板上に成膜し、光記録媒体を得た。
基板上に成膜し、光記録媒体を得た。
実施例7
記録膜の膜厚を290人とした以外は、実施例6と同様
にして、Te1CrおよびCの原子数比が次の式、(T
e98Cr2)96C4で表わせるTe、Cr5Cおよ
びHを含む記録膜をPO基板上に成膜した。
にして、Te1CrおよびCの原子数比が次の式、(T
e98Cr2)96C4で表わせるTe、Cr5Cおよ
びHを含む記録膜をPO基板上に成膜した。
実施例8
記録膜の膜厚を260人とした以外は、実施例6と同様
にして、Te、CrおよびCの原子数比が次の式、(T
e Cr 96.8 3.2 )96°47表わせるTe、Cr
、CおよびHを含む記録膜をPO基板上に成膜した。
にして、Te、CrおよびCの原子数比が次の式、(T
e Cr 96.8 3.2 )96°47表わせるTe、Cr
、CおよびHを含む記録膜をPO基板上に成膜した。
実施例9
膜厚を230人とした以外は、実施例6と同様にして、
Te1CrおよびCの原子数比が次の式、(Te92C
r8)98C2で表わせるTe、Cr。
Te1CrおよびCの原子数比が次の式、(Te92C
r8)98C2で表わせるTe、Cr。
CおよびHを含む記録膜をPO基板上に成膜した。
実施例10
T e 97 Cr 3の合金ターゲットを用い、記録
膜の膜厚を230人とした以外は、実施例6と同様にし
て、Te5CrおよびCの原子数比が次の式、(Te
Cr 97.5 2.5 )96C4で表わせるTe。
膜の膜厚を230人とした以外は、実施例6と同様にし
て、Te5CrおよびCの原子数比が次の式、(Te
Cr 97.5 2.5 )96C4で表わせるTe。
Cr、CおよびHを含む記録膜をPO基板上に成膜した
。
。
実施例11
T e 94 Cr 6の合金ターゲットを用い、記録
膜の膜厚を250人とした以外は、実施例6と同様にし
て、Te、CrおよびCの原子数比が次の式、(Te
Cr 95.1 4.9 )98C2で表わせるTe。
膜の膜厚を250人とした以外は、実施例6と同様にし
て、Te、CrおよびCの原子数比が次の式、(Te
Cr 95.1 4.9 )98C2で表わせるTe。
Cr、CおよびHを含む記録膜をPO基板上に成膜した
。
。
実施例12〜17
実施例6〜11の光記録媒体を各々100 ’Cの温度
でN2雰囲気下で20分間熱処理を施した。
でN2雰囲気下で20分間熱処理を施した。
[試験結果]
(1)1800rpmでディスクを回転させ3.7MH
2の周波数でレーザー光を照射し、記録特性を調べた。
2の周波数でレーザー光を照射し、記録特性を調べた。
ここでC/Nmaxとはレーザーパワーを変えた際のC
/N比の最大値を示す。記録感度はC/ N max
X O,9< C/Nとなるレーザーパワーの最小値を
、マージンとはC/N > C/NmgxX0.9とな
るレーザーパワーの範囲を表わす。
/N比の最大値を示す。記録感度はC/ N max
X O,9< C/Nとなるレーザーパワーの最小値を
、マージンとはC/N > C/NmgxX0.9とな
るレーザーパワーの範囲を表わす。
結果を表1に示す。
表1
(2)温度70℃、相対湿度85%の環境下に500時
間放置した後の反射率Rを当初の反射率表 盤目状の切傷を付ける。
間放置した後の反射率Rを当初の反射率表 盤目状の切傷を付ける。
セロハンテープにチバン製)
価する。
評 価
■成膜直後
を用いて剥離評
表3
[基板と光記録膜との密着性評価]
以下の方法により実施例3の光記録媒体の基板と光記録
膜との密着性の評価を行った。
膜との密着性の評価を行った。
結果を表3に示す。
密着性試験
基盤目試験(Its K5400)
試料の記録膜上に、直交する縦横11本ずつの平行線を
カッターナイフを用いて1 mmの間隔でひく。1dの
中に100個の升目ができるように基$1 : 100
/+00は100個の升目のうち剥離しなかった升目が
100個あることを示す。
カッターナイフを用いて1 mmの間隔でひく。1dの
中に100個の升目ができるように基$1 : 100
/+00は100個の升目のうち剥離しなかった升目が
100個あることを示す。
第1図は本発明の一実施例に係る光記録媒体の概略断面
図、第2,3図は本発明に係る光記録媒体と従来の光記
録媒体との作用効果上の相違を示すグラフ、第4図は本
発明の他の実施例に係る光記録媒体の概略断面図である
。 10・・・光記録媒体 11・・・基板12・・
・記録膜 13・・・下地層第 図
図、第2,3図は本発明に係る光記録媒体と従来の光記
録媒体との作用効果上の相違を示すグラフ、第4図は本
発明の他の実施例に係る光記録媒体の概略断面図である
。 10・・・光記録媒体 11・・・基板12・・
・記録膜 13・・・下地層第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)基板と、この基板上に形成された記録膜とからなり
、この記録膜にエネルギービームを照射することにより
、この記録膜にピットを形成して情報を記録するように
した光記録媒体において、前記記録膜は、Teを主成分
としてCr、CおよびHを含む薄膜であり、基板が、 エチレンと、下記一般式[ I ]で表わされる環状オレ
フィンとの共重合体とからなる環状オレフィン系ランダ
ム共重合体から形成されていることを特徴とする光記録
媒体: ▲数式、化学式、表等があります▼・・・[ I ] (式[ I ]において、nは0もしくは正の整数であり
、R^1ないしR^1^2はそれぞれ水素原子、ハロゲ
ン原子または炭化水素基を示し、R^9〜R^1^2は
、互いに結合して単環または多環の基を形成していても
よく、かつ該単環または多環の基が二重結合を有してい
てもよく、 またR^9とR^1^0とで、またはR^1^1とR^
1^2とで、アルキリデン基を形成していてもよい)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1308540A JPH02223477A (ja) | 1988-11-28 | 1989-11-28 | 光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63-300357 | 1988-11-28 | ||
| JP30035788 | 1988-11-28 | ||
| JP1308540A JPH02223477A (ja) | 1988-11-28 | 1989-11-28 | 光記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02223477A true JPH02223477A (ja) | 1990-09-05 |
Family
ID=26562308
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1308540A Pending JPH02223477A (ja) | 1988-11-28 | 1989-11-28 | 光記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02223477A (ja) |
-
1989
- 1989-11-28 JP JP1308540A patent/JPH02223477A/ja active Pending
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