JPH02223855A - イオンセンサ - Google Patents
イオンセンサInfo
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- JPH02223855A JPH02223855A JP1044555A JP4455589A JPH02223855A JP H02223855 A JPH02223855 A JP H02223855A JP 1044555 A JP1044555 A JP 1044555A JP 4455589 A JP4455589 A JP 4455589A JP H02223855 A JPH02223855 A JP H02223855A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はイオン感応性電界効果トランジスタを用いたイ
オンセンナに関し、特にその組立構造に関する。
オンセンナに関し、特にその組立構造に関する。
溶液中のイオン濃度を測定する方法としてガラス電極型
イオンセンサは、溶液とガラス電極との電位差がイオン
濃度により変化することを利用して高入力インピーダン
スの電圧計で測定した電圧変化からイオン濃度を求めて
いる。このガラス電極型のイオンセンサに変わり、宮原
裕二他により「電子通信学会技術研究会資料CPM81
−93」1981年、第61頁に記載の論文「半導体技
術を用いたバイオセンサJに述べられているバイオセン
サが開発されている。これは、一種のシリコン電界効果
トランジスタの表面に酵素膜を固定化したイオン感応性
電界効果トランジスタ(以下l5FETという)により
、l5FETと溶液との間に発生する電圧をゲート電圧
として作用させ、このl5FETを流れる電流変化から
イオン濃度を検出するl5FETイオンセンサである。
イオンセンサは、溶液とガラス電極との電位差がイオン
濃度により変化することを利用して高入力インピーダン
スの電圧計で測定した電圧変化からイオン濃度を求めて
いる。このガラス電極型のイオンセンサに変わり、宮原
裕二他により「電子通信学会技術研究会資料CPM81
−93」1981年、第61頁に記載の論文「半導体技
術を用いたバイオセンサJに述べられているバイオセン
サが開発されている。これは、一種のシリコン電界効果
トランジスタの表面に酵素膜を固定化したイオン感応性
電界効果トランジスタ(以下l5FETという)により
、l5FETと溶液との間に発生する電圧をゲート電圧
として作用させ、このl5FETを流れる電流変化から
イオン濃度を検出するl5FETイオンセンサである。
このl5FETイオンセンサは応答速度が早いので溶液
のイオン濃度をリアルタイムでかつ連続して測定でき、
半導体集積化技術により大量生産が容易であるため低価
格性で、さらに小型なので収り扱いが容易であるなどの
長所がある。
のイオン濃度をリアルタイムでかつ連続して測定でき、
半導体集積化技術により大量生産が容易であるため低価
格性で、さらに小型なので収り扱いが容易であるなどの
長所がある。
従来、本発明者等が開発して来たl5FETイオンセン
サの構造は、第6図に示すように、例えばSO3(シリ
コン・オン・サファイア)基板を用いてソース、ドレイ
ン、ゲート絶縁膜から構成され互いに独立した2個のl
5FETの一方の1SFET21上に酵素固定化膜5と
、他方のl5FET22上に失活した酵素膜により参照
膜6がそれぞれ固定化されたセンサチップ1をその一部
が突出するように、例えばフレキシブル・プリント基板
(以下、FPC基板という)で作成したリード電極基板
の先端部に、例えば常温硬化型のエポキシ系の接着剤6
1で固定し、センサチップ1とリード電極基板7との引
出し電極3,8との間をボンディングワイヤ62で接続
した後、接続部周辺を例えば常温硬化型のエポキシ系の
接着剤63で絶縁封止したものである。酵素固定化膜5
が固定化されたl5FET、21は測定溶液のイオン濃
度を検出し、参照膜6が固定化されたTSFET22は
測定溶液と反応しないが、二つのl5FETの出力差を
測定することで温度変化などによるドリフタが相殺され
安定な測定が可能となっている。
サの構造は、第6図に示すように、例えばSO3(シリ
コン・オン・サファイア)基板を用いてソース、ドレイ
ン、ゲート絶縁膜から構成され互いに独立した2個のl
5FETの一方の1SFET21上に酵素固定化膜5と
、他方のl5FET22上に失活した酵素膜により参照
膜6がそれぞれ固定化されたセンサチップ1をその一部
が突出するように、例えばフレキシブル・プリント基板
(以下、FPC基板という)で作成したリード電極基板
の先端部に、例えば常温硬化型のエポキシ系の接着剤6
1で固定し、センサチップ1とリード電極基板7との引
出し電極3,8との間をボンディングワイヤ62で接続
した後、接続部周辺を例えば常温硬化型のエポキシ系の
接着剤63で絶縁封止したものである。酵素固定化膜5
が固定化されたl5FET、21は測定溶液のイオン濃
度を検出し、参照膜6が固定化されたTSFET22は
測定溶液と反応しないが、二つのl5FETの出力差を
測定することで温度変化などによるドリフタが相殺され
安定な測定が可能となっている。
上述したような従来のl5FETイオンセンサは、溶液
中で使用されるため、耐水性に優れた絶縁封止が要求さ
れる。従って、この組立に当たっては特にセンサチップ
とリード電極基板の引出し電極との接続部周辺の絶縁封
止が重要であり、さらには既に酵素膜が付いているもの
を扱うので接着剤や絶縁封止材料の選定およびその作業
条件が限定される。一般に、酵素膜は温度に対して鋭敏
で、例えば60℃の温度に10分程度さらすとその機能
を失ってしまうので、従来、接着剤や絶縁封止材料には
常温で硬化するエポキシ系の接着剤が用いられている。
中で使用されるため、耐水性に優れた絶縁封止が要求さ
れる。従って、この組立に当たっては特にセンサチップ
とリード電極基板の引出し電極との接続部周辺の絶縁封
止が重要であり、さらには既に酵素膜が付いているもの
を扱うので接着剤や絶縁封止材料の選定およびその作業
条件が限定される。一般に、酵素膜は温度に対して鋭敏
で、例えば60℃の温度に10分程度さらすとその機能
を失ってしまうので、従来、接着剤や絶縁封止材料には
常温で硬化するエポキシ系の接着剤が用いられている。
このなめ、接着力が十分でなく溶液中に漏れが発生して
動作しないとか、このような接着剤は粘度が高く封止作
業時にボンディングワイヤが変形してワイヤの断線とか
ワイヤ間短絡が発生し不良になる欠点があった。
動作しないとか、このような接着剤は粘度が高く封止作
業時にボンディングワイヤが変形してワイヤの断線とか
ワイヤ間短絡が発生し不良になる欠点があった。
本発明の目的は、このような問題を解決し、絶縁封止性
に優れるとともに組立ての作業性に優れ製造コストが安
価なイオンセンサを提供することにある。
に優れるとともに組立ての作業性に優れ製造コストが安
価なイオンセンサを提供することにある。
本発明によるイオンセンサの構成は、少なくも酵素固定
化膜を備えたイオン感応性電界効果トランジスタを含む
センサチップとリード電極基板とが、これらセンサチッ
プ及びリード電極基板各々の引出し電極同士が対向する
向きで層間絶縁層で固定されると共に、前記引出し電極
同士は前記層間絶縁層に設けた開口部において異方性導
電樹脂で接続されていることを特徴とする。
化膜を備えたイオン感応性電界効果トランジスタを含む
センサチップとリード電極基板とが、これらセンサチッ
プ及びリード電極基板各々の引出し電極同士が対向する
向きで層間絶縁層で固定されると共に、前記引出し電極
同士は前記層間絶縁層に設けた開口部において異方性導
電樹脂で接続されていることを特徴とする。
本発明の構成をとることにより、センサチップとリード
電極基板との電気的接続部周辺は層間絶縁層によって完
全に取り囲まれて良好な絶縁封止が達成される。また、
その製造にあっては層間絶縁層の形成は酵素固定化膜の
固定化と切り話して行うことができるため、温度制限が
ないので絶縁性と密着性に優れた絶縁材料を選択して使
用ができる。さらに、センサチップとリード電極基板の
各々の層間絶縁膜同士と、電気的接続を行う異方性導電
樹脂を超音波溶接により全て同時に行うことができるの
で組立工程が簡略化され低コストが達成される。この超
音波溶接は、数ミリ秒の短時間で行えるので、溶接時の
温度上昇による酵素膜の劣化などへの影響は無い。
電極基板との電気的接続部周辺は層間絶縁層によって完
全に取り囲まれて良好な絶縁封止が達成される。また、
その製造にあっては層間絶縁層の形成は酵素固定化膜の
固定化と切り話して行うことができるため、温度制限が
ないので絶縁性と密着性に優れた絶縁材料を選択して使
用ができる。さらに、センサチップとリード電極基板の
各々の層間絶縁膜同士と、電気的接続を行う異方性導電
樹脂を超音波溶接により全て同時に行うことができるの
で組立工程が簡略化され低コストが達成される。この超
音波溶接は、数ミリ秒の短時間で行えるので、溶接時の
温度上昇による酵素膜の劣化などへの影響は無い。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明のイオンセンサの一実施例を説明する模
式的斜視図である。図において、1はセンサチップでS
O8基板を用いてソース電極、ドレイン電極、ゲート絶
縁膜(図示していない)から成る2個のl5FET2の
ソース、ドレイン両電極から引き出された複数の引き出
し電極3及びその先端部以外を覆う絶縁保護膜4が半導
体集積化技術により形成されている。2個のl5FET
2の一方のI 5FET21には酵素固定化膜5が、他
方のl5FET22には失活した酵素膜による参照膜6
が形成されている。7は例えばFPC基板で作成された
リード電極基板で、l5FETの引出し電極3に一対一
に対応した複数の引出し電極8を有し、その先端部を除
く表面はポリイミドフィルムによる絶縁膜9で被覆され
、図示していないがリード電極基板7を延長した先端は
カードコネクタ状に加工されている。このセンサチップ
1とリード電極基板7にはその先端部分の複数の引き出
し電極3,8を囲むように、開口部11を有した例えば
ポリイミド樹脂から成る層間絶縁層10が設けられてい
る。この開口部11は例えばNi粒子を含有する異方性
導電樹脂12が埋め込まれ、複数の引出し電極3.8と
の間を電気的に接続している。
式的斜視図である。図において、1はセンサチップでS
O8基板を用いてソース電極、ドレイン電極、ゲート絶
縁膜(図示していない)から成る2個のl5FET2の
ソース、ドレイン両電極から引き出された複数の引き出
し電極3及びその先端部以外を覆う絶縁保護膜4が半導
体集積化技術により形成されている。2個のl5FET
2の一方のI 5FET21には酵素固定化膜5が、他
方のl5FET22には失活した酵素膜による参照膜6
が形成されている。7は例えばFPC基板で作成された
リード電極基板で、l5FETの引出し電極3に一対一
に対応した複数の引出し電極8を有し、その先端部を除
く表面はポリイミドフィルムによる絶縁膜9で被覆され
、図示していないがリード電極基板7を延長した先端は
カードコネクタ状に加工されている。このセンサチップ
1とリード電極基板7にはその先端部分の複数の引き出
し電極3,8を囲むように、開口部11を有した例えば
ポリイミド樹脂から成る層間絶縁層10が設けられてい
る。この開口部11は例えばNi粒子を含有する異方性
導電樹脂12が埋め込まれ、複数の引出し電極3.8と
の間を電気的に接続している。
第2図から第5図は、第1図の実施例の製造方法を説明
するための斜視図である。
するための斜視図である。
第2図は第一の工程においてl5FETが形成されたウ
ェハに層間絶縁層を形成した状態を示す斜視図である。
ェハに層間絶縁層を形成した状態を示す斜視図である。
l5FETは、例えば厚さ350μmのサファイア上に
ノンドープのシリコンが0.6μmの厚さにエピタキシ
ャル成長された直径2インチのSO8基板20に半導体
集積化技術を用いて、エツチングで島状シリコン層を形
成し、イオン注入法でホー素をドープしてp層、さらに
リンをドープしてn+のソース領域とトレイン領域を作
り、次に熱酸化で厚さ100OAの酸化シリコン層を形
成し、その後表面全体にCVD法で窒化シリコン層を約
100OAの厚さに形成したものである。このI 5F
ET2のソース領域とドレイン領域からは例えばアルミ
ニュームを蒸着しフォトエツチングすることで形成した
引出し電極3が引出されている。
ノンドープのシリコンが0.6μmの厚さにエピタキシ
ャル成長された直径2インチのSO8基板20に半導体
集積化技術を用いて、エツチングで島状シリコン層を形
成し、イオン注入法でホー素をドープしてp層、さらに
リンをドープしてn+のソース領域とトレイン領域を作
り、次に熱酸化で厚さ100OAの酸化シリコン層を形
成し、その後表面全体にCVD法で窒化シリコン層を約
100OAの厚さに形成したものである。このI 5F
ET2のソース領域とドレイン領域からは例えばアルミ
ニュームを蒸着しフォトエツチングすることで形成した
引出し電極3が引出されている。
このような複数のl5FETが形成されたウェハに対し
て、まず絶縁樹脂(例えばデュポン社製P I 255
5ポリイミド樹脂)をスピン塗布によってウェハ全面に
塗布し、150℃で30分間プリベークして厚み約10
μmの層間絶縁層10を形成し、さらに層間絶縁膜の前
記引き出し電極に対応した一部に、フォトレジストによ
り開ロバターンを設けて通常行われるドライエツチング
法によって開口部11を形成する。
て、まず絶縁樹脂(例えばデュポン社製P I 255
5ポリイミド樹脂)をスピン塗布によってウェハ全面に
塗布し、150℃で30分間プリベークして厚み約10
μmの層間絶縁層10を形成し、さらに層間絶縁膜の前
記引き出し電極に対応した一部に、フォトレジストによ
り開ロバターンを設けて通常行われるドライエツチング
法によって開口部11を形成する。
第3図は第二の工程において、第一の工程が完了したウ
ェハ内の各l5FETに酵素固定化膜5と参照膜6を形
成した状態を示す、ここでは酵素と架橋剤を含む蛋白質
溶液の一例として尿素を検出する場合について説明する
。まず、スピン塗布によりフォトレジスト(例えばシプ
レー社AZI450J)を塗布し60℃で乾燥した後、
フォトマスクを用い露光、現像して参照膜が設けられる
l5FET部のフォトレジストを除去する。次に、酵素
を含まない15%牛血清アルブミンを含む0.2モル、
PH8,5のトリス−塩酸緩衝液500μηと、0.7
5%グルタルアルデヒド水溶液500μiとを攪はん混
合した後、そのウェハをアセトン溶液に浸してフォトレ
ジスト膜を溶解し、フォトレジスト上に塗布されていた
固定化膜を除去する°ことで参照用l5FETが形成さ
れる。 次に、再び前述と同様のフォトレジスト工程を
繰返し、酵素固定化膜が設けられるl5FET部のフォ
トレジストを除去し、15%牛血清アルブミンを含む0
.2モル、PH8,5のトリス−塩酸緩衝液250μj
に、同じ緩衝液で調整した1 00 m g / dρ
のウレア「ゼ(ベーリンガー・マンハイム社製、約50
U / m g )溶液250μρを加え、0.75
%0グルタルアルデヒド水溶液500μlとを攪はん混
合した溶液をスピン塗布し、室温に30分放置して乾燥
した後、ウェハをアセトン溶液に浸してフォトレジスト
膜を溶解して、フォトレジスト上に塗布されていた固定
化膜を除去することで酵素膜を固定化したl5FETが
形成される。
ェハ内の各l5FETに酵素固定化膜5と参照膜6を形
成した状態を示す、ここでは酵素と架橋剤を含む蛋白質
溶液の一例として尿素を検出する場合について説明する
。まず、スピン塗布によりフォトレジスト(例えばシプ
レー社AZI450J)を塗布し60℃で乾燥した後、
フォトマスクを用い露光、現像して参照膜が設けられる
l5FET部のフォトレジストを除去する。次に、酵素
を含まない15%牛血清アルブミンを含む0.2モル、
PH8,5のトリス−塩酸緩衝液500μηと、0.7
5%グルタルアルデヒド水溶液500μiとを攪はん混
合した後、そのウェハをアセトン溶液に浸してフォトレ
ジスト膜を溶解し、フォトレジスト上に塗布されていた
固定化膜を除去する°ことで参照用l5FETが形成さ
れる。 次に、再び前述と同様のフォトレジスト工程を
繰返し、酵素固定化膜が設けられるl5FET部のフォ
トレジストを除去し、15%牛血清アルブミンを含む0
.2モル、PH8,5のトリス−塩酸緩衝液250μj
に、同じ緩衝液で調整した1 00 m g / dρ
のウレア「ゼ(ベーリンガー・マンハイム社製、約50
U / m g )溶液250μρを加え、0.75
%0グルタルアルデヒド水溶液500μlとを攪はん混
合した溶液をスピン塗布し、室温に30分放置して乾燥
した後、ウェハをアセトン溶液に浸してフォトレジスト
膜を溶解して、フォトレジスト上に塗布されていた固定
化膜を除去することで酵素膜を固定化したl5FETが
形成される。
本実施例では尿素を検出する場合で例示したが、この地
間様の方法で種々の酵素固定化膜を用いることが可能で
ある。酵素固定化膜は、本実施例の場合窒化シリコン膜
への密着性も良好であったが、さらに密着性を向上させ
るために酵素固定化膜の塗布の前にプライマー処理を行
うことも可能である。前述の工程が終了したウェハをダ
イシングソーにより切断しスクライブすることでシング
ルチップ化されたセンサチップ1が得られる。
間様の方法で種々の酵素固定化膜を用いることが可能で
ある。酵素固定化膜は、本実施例の場合窒化シリコン膜
への密着性も良好であったが、さらに密着性を向上させ
るために酵素固定化膜の塗布の前にプライマー処理を行
うことも可能である。前述の工程が終了したウェハをダ
イシングソーにより切断しスクライブすることでシング
ルチップ化されたセンサチップ1が得られる。
本実施例で得られたチップサイズは幅0.6mm、長さ
4mmである。
4mmである。
第4図は第三の工程によって作成されたリード電極基板
を示す図である6例えばポリイミド樹脂をベースとした
FPC基板を用い所定の引出し電極8とその先端部を除
いた部分への絶縁膜9があらかじめ加工されたリード電
圧基板7に、絶縁樹脂(例えば、デュポン社製PI25
55ポリイミド樹脂)をスピン塗布によってリード電極
基板全面に塗布し、150℃で30分間プリベークして
厚み約10μmの層間絶縁層10を形成し、さらに層間
絶縁膜の引出し電極8に対応した一部に、フォトレジス
トにより開ロバターンを設けて通常行われるドライエツ
チング法によって開口部11を形成する。この工程は、
リード電極基板−個についても加工可能であるが、量産
性や仕上がりの均一性のためにほそめ複数個を含むシー
ト上で上記加工を行い、その完了後に個々にカッティン
グして個別化する方が具合が良い。 第5図は第四の工
程を示すための図で、各々層間絶縁膜と開口部11を形
成したセンサチップ1とリード電極基板7とを超音波溶
接する状態を示したものである0図のように、センサチ
ップ1とリード電極基板7の各々の開口部11を互いに
向合うように重合わせ、センサチップ1が下になるよう
に金属性の載1台50に置き、開口部より若干小さい異
方性導電樹脂12を開口11に入れ、上方から超音波ホ
ーン51を圧接しながら超音波発振器52を作動させて
センサチップ1とリード電極基板7のおのおのの層間絶
縁膜10と引出し電極3.8同士を異方性導電樹脂12
を介して溶接する。
を示す図である6例えばポリイミド樹脂をベースとした
FPC基板を用い所定の引出し電極8とその先端部を除
いた部分への絶縁膜9があらかじめ加工されたリード電
圧基板7に、絶縁樹脂(例えば、デュポン社製PI25
55ポリイミド樹脂)をスピン塗布によってリード電極
基板全面に塗布し、150℃で30分間プリベークして
厚み約10μmの層間絶縁層10を形成し、さらに層間
絶縁膜の引出し電極8に対応した一部に、フォトレジス
トにより開ロバターンを設けて通常行われるドライエツ
チング法によって開口部11を形成する。この工程は、
リード電極基板−個についても加工可能であるが、量産
性や仕上がりの均一性のためにほそめ複数個を含むシー
ト上で上記加工を行い、その完了後に個々にカッティン
グして個別化する方が具合が良い。 第5図は第四の工
程を示すための図で、各々層間絶縁膜と開口部11を形
成したセンサチップ1とリード電極基板7とを超音波溶
接する状態を示したものである0図のように、センサチ
ップ1とリード電極基板7の各々の開口部11を互いに
向合うように重合わせ、センサチップ1が下になるよう
に金属性の載1台50に置き、開口部より若干小さい異
方性導電樹脂12を開口11に入れ、上方から超音波ホ
ーン51を圧接しながら超音波発振器52を作動させて
センサチップ1とリード電極基板7のおのおのの層間絶
縁膜10と引出し電極3.8同士を異方性導電樹脂12
を介して溶接する。
本実施例において、超音波発振器52として発振周波数
28KHz、出力150Wのものを用い、超音波ホーン
51を押し付けながら振幅10μmの横振動を1秒間付
与することで行った。
28KHz、出力150Wのものを用い、超音波ホーン
51を押し付けながら振幅10μmの横振動を1秒間付
与することで行った。
以上のようにして組立てたイオンセンサを0゜9%塩化
ナトリューム水溶液に入れリード電極基板の引出し電極
と水溶液間の漏れ電流を調べたところ機能上問題となる
漏れは発見できなかった。
ナトリューム水溶液に入れリード電極基板の引出し電極
と水溶液間の漏れ電流を調べたところ機能上問題となる
漏れは発見できなかった。
以上詳述したように本発明によるイオンセンサは、セン
サチップとリード電極基板との電気的接続部周辺が絶縁
性に優れた材料を用いた層間絶縁層により取囲まれて完
全な絶縁封止が行われ、しかも絶縁封止と異方性導電樹
脂による電気的接続を超音波溶接により同時にしかも短
時間で組立てられるので、低製造コストを実現すること
が可能となった。
サチップとリード電極基板との電気的接続部周辺が絶縁
性に優れた材料を用いた層間絶縁層により取囲まれて完
全な絶縁封止が行われ、しかも絶縁封止と異方性導電樹
脂による電気的接続を超音波溶接により同時にしかも短
時間で組立てられるので、低製造コストを実現すること
が可能となった。
層間絶縁膜、11・・・開口部、12・・・異方性導電
樹脂、50・・・載置台、51・・・超音波ホーン、5
2・・・超音波発振器、61.63・・・接着剤、62
・・・ボンディングワイヤ。
樹脂、50・・・載置台、51・・・超音波ホーン、5
2・・・超音波発振器、61.63・・・接着剤、62
・・・ボンディングワイヤ。
Claims (1)
- 少なくも酵素固定化膜を備えたイオン感応性電界効果ト
ランジスタを含むセンサチップとリード電極基板とが、
これらセンサチップ及びリード電極基板各々の引出し電
極同士が対向する向きで層間絶縁層で固定されると共に
、前記引出し電極同士は前記層間絶縁層に設けた開口部
において異方性導電樹脂で接続されていることを特徴と
するイオンセンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1044555A JPH02223855A (ja) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | イオンセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1044555A JPH02223855A (ja) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | イオンセンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02223855A true JPH02223855A (ja) | 1990-09-06 |
Family
ID=12694747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1044555A Pending JPH02223855A (ja) | 1989-02-23 | 1989-02-23 | イオンセンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02223855A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11223616A (ja) * | 1997-11-19 | 1999-08-17 | Robert Bosch Gmbh | センサエレメント及びセンサエレメントの製造方法 |
| WO2004059311A1 (de) * | 2002-12-20 | 2004-07-15 | Endress + Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Halbleitersensor mit frontseitiger kontaktierung |
| JP2010526311A (ja) * | 2007-05-09 | 2010-07-29 | コンセジョ スペリオール デ インベスティガショネス シエンティフィカス | インピーダンスセンサー及びその利用 |
-
1989
- 1989-02-23 JP JP1044555A patent/JPH02223855A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11223616A (ja) * | 1997-11-19 | 1999-08-17 | Robert Bosch Gmbh | センサエレメント及びセンサエレメントの製造方法 |
| JP4536836B2 (ja) * | 1997-11-19 | 2010-09-01 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | センサエレメント及びセンサエレメントの製造方法 |
| WO2004059311A1 (de) * | 2002-12-20 | 2004-07-15 | Endress + Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Halbleitersensor mit frontseitiger kontaktierung |
| CN100425982C (zh) * | 2002-12-20 | 2008-10-15 | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 | 具有前侧键合的半导体传感器 |
| US7799606B2 (en) | 2002-12-20 | 2010-09-21 | Endress + Hauser Conducta Gesellschaft Fur Mess- U. Regeltechnik Mbh + Co. Kg | Semiconductor sensor having a front-side contact zone |
| JP2010526311A (ja) * | 2007-05-09 | 2010-07-29 | コンセジョ スペリオール デ インベスティガショネス シエンティフィカス | インピーダンスセンサー及びその利用 |
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