JPH0222570A - Ｉｃのハンドリング装置 - Google Patents
Ｉｃのハンドリング装置Info
- Publication number
- JPH0222570A JPH0222570A JP63172412A JP17241288A JPH0222570A JP H0222570 A JPH0222570 A JP H0222570A JP 63172412 A JP63172412 A JP 63172412A JP 17241288 A JP17241288 A JP 17241288A JP H0222570 A JPH0222570 A JP H0222570A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- section
- handling
- measurement
- socket
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- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 62
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＩＣのハンドリング装置に関し、特にＩＣのハ
ンドリングに使用されるコンタクタソケットの測定を行
うための装置に関する。
ンドリングに使用されるコンタクタソケットの測定を行
うための装置に関する。
一般にＩＣのハンドリング装置では、ハンドリングに使
用するコンタクタソケットが劣化すると正常なハンドリ
ングが不能となり、製品歩留りに大きく影響する。この
ため、コンタクタソケットの良否を判断するための１つ
としてコンタクタソケットの接触抵抗を測定することが
行われる。従来、この測定は作業者が定期的にハンドリ
ング装置を操作して、全リードが短絡された専用のＩＣ
をハンドリング装置内部のコンタクタソケットにセット
することにより行っている。
用するコンタクタソケットが劣化すると正常なハンドリ
ングが不能となり、製品歩留りに大きく影響する。この
ため、コンタクタソケットの良否を判断するための１つ
としてコンタクタソケットの接触抵抗を測定することが
行われる。従来、この測定は作業者が定期的にハンドリ
ング装置を操作して、全リードが短絡された専用のＩＣ
をハンドリング装置内部のコンタクタソケットにセット
することにより行っている。
〔発明が解決しようとする課題］
上述した従来のハンドリング装置では、作業者が手作業
で接触抵抗の測定を行うため、測定工数がかかるという
問題がある。また、測定時期や測定間隔を作業者の判断
により決定しているため、測定時期判断を適切に設定す
ることが難しい。更に、測定に際しては全リードを短絡
したＩＣが必要であり、このＩＣを管理することも面倒
である。
で接触抵抗の測定を行うため、測定工数がかかるという
問題がある。また、測定時期や測定間隔を作業者の判断
により決定しているため、測定時期判断を適切に設定す
ることが難しい。更に、測定に際しては全リードを短絡
したＩＣが必要であり、このＩＣを管理することも面倒
である。
本発明は上述した問題を解消して、自動的にコンタクタ
ソケットの測定を行うことができるハンドリング装置を
提供することを目的としている。
ソケットの測定を行うことができるハンドリング装置を
提供することを目的としている。
本発明のＩＣのハンドリング装置は、コンタクタソケッ
トに嵌合してそのリードを短絡する測定ブロック部と、
測定ブロック部の邪魔にならないように通常位置から退
避される搬送レール部と、コンタクタソケットのリード
の接触抵抗を測定する測定部と、コンタクタソケットの
測定が異常°のときに警告を発生する警告発生部と、コ
ンタクタソケットの測定条件を予め設定する設定入力部
と、ＩＣのハンドリング動作を制御するとともに、ハン
ドリング個数や時間の情報を出力するハンドリング本体
制御部と、前記設定入力部からの設定信号とハンドリン
グ本体制御部からのハンドリング情報信号に基づいて前
記測定ブロック部、＊送し−ル部及び測定部を制御し、
かつ測定部の測定結果信号に基づいてコンタクタソケッ
トの良否を判定し、前記警告発生部及びハンドリング本
体制御部に夫々所定の信号を出力する制御部とを備えて
いる。
トに嵌合してそのリードを短絡する測定ブロック部と、
測定ブロック部の邪魔にならないように通常位置から退
避される搬送レール部と、コンタクタソケットのリード
の接触抵抗を測定する測定部と、コンタクタソケットの
測定が異常°のときに警告を発生する警告発生部と、コ
ンタクタソケットの測定条件を予め設定する設定入力部
と、ＩＣのハンドリング動作を制御するとともに、ハン
ドリング個数や時間の情報を出力するハンドリング本体
制御部と、前記設定入力部からの設定信号とハンドリン
グ本体制御部からのハンドリング情報信号に基づいて前
記測定ブロック部、＊送し−ル部及び測定部を制御し、
かつ測定部の測定結果信号に基づいてコンタクタソケッ
トの良否を判定し、前記警告発生部及びハンドリング本
体制御部に夫々所定の信号を出力する制御部とを備えて
いる。
上述した構成では、設定入力部に予め設定された条件に
基づいて、制御部が測定ブロック部、ｖｉ送レしル部、
測定部を動作させてコンタクタソケットの測定を行い、
かつこの測定結果に基づいて警告を発生し、或いはハン
ドリング装置の動作を停止させ、これにより不良コンタ
クタソケットによるＩＣハンドリングを自動的に防止す
る。
基づいて、制御部が測定ブロック部、ｖｉ送レしル部、
測定部を動作させてコンタクタソケットの測定を行い、
かつこの測定結果に基づいて警告を発生し、或いはハン
ドリング装置の動作を停止させ、これにより不良コンタ
クタソケットによるＩＣハンドリングを自動的に防止す
る。
次に、本発明を図面を参照して説明する。
第１図は本発明のハンドリング装置の全体構成を示すブ
ロック図である０図において、１は制御部であり、測定
ブロック部２．警告発生部３．搬送レール部４及びテス
ター５を制御する。また、この制御部１には設定入力部
６．タイマ一部７から信号が入力され、かつハンドリン
グ装置本体制御部８との間で信号を送受するようになっ
ている。
ロック図である０図において、１は制御部であり、測定
ブロック部２．警告発生部３．搬送レール部４及びテス
ター５を制御する。また、この制御部１には設定入力部
６．タイマ一部７から信号が入力され、かつハンドリン
グ装置本体制御部８との間で信号を送受するようになっ
ている。
測定ブロック部２は、測定ブロック２１．駆動アクチュ
エータ２２及び駆動ドライバ２３を有している。測定ブ
ロック２１は測定されるコンタクタソケットＡのリード
が接触される端子を有し、この端子は表面に金めつきを
施してその表面抵抗を極めて小さくした上で各端子を短
絡させている。
エータ２２及び駆動ドライバ２３を有している。測定ブ
ロック２１は測定されるコンタクタソケットＡのリード
が接触される端子を有し、この端子は表面に金めつきを
施してその表面抵抗を極めて小さくした上で各端子を短
絡させている。
駆動アクチエエータ２２は駆動ドライバ２３によって制
御され、この駆動ドライバ２３が制御部１から測定駆動
信号ａを受けたときに、測定ブロック２１を駆動して測
定されるコンタクタソケットＡに嵌合させるように動作
する。
御され、この駆動ドライバ２３が制御部１から測定駆動
信号ａを受けたときに、測定ブロック２１を駆動して測
定されるコンタクタソケットＡに嵌合させるように動作
する。
警告発生部３は、警告発生器３１と駆動ドライバ３２を
有し、制御部１から警告信号すを受けたときに警告発生
器３１から警告を発生させる。
有し、制御部１から警告信号すを受けたときに警告発生
器３１から警告を発生させる。
搬送レール部４は、搬送レール４１．駆動アクチュエー
タ４２及び駆動ドライバ４３を有している。搬送レール
４１はハンドリングされる図外のＩＣを搬送するもので
あり、その一部は前記測定ブロック２１に対応する箇所
で分割形成され、測定ブロック２１がコンタクタソケッ
トＡに嵌合する際に邪魔にならないように退避でき−る
ようにしている。駆動アクチュエータ４２は駆動ドライ
バ４３によって制御され、前記制御器１からレール駆動
信号Ｃを受けたときに、搬送レール４１の分割された部
分を前記測定ブロック２１の前方位置から移動退避させ
る。
タ４２及び駆動ドライバ４３を有している。搬送レール
４１はハンドリングされる図外のＩＣを搬送するもので
あり、その一部は前記測定ブロック２１に対応する箇所
で分割形成され、測定ブロック２１がコンタクタソケッ
トＡに嵌合する際に邪魔にならないように退避でき−る
ようにしている。駆動アクチュエータ４２は駆動ドライ
バ４３によって制御され、前記制御器１からレール駆動
信号Ｃを受けたときに、搬送レール４１の分割された部
分を前記測定ブロック２１の前方位置から移動退避させ
る。
テスター５はハンドリング装置とは別体に設けられてお
り、前記測定ブロック部２の測定ブロック２１に嵌合さ
れたコンタクタソケットＡに電気的に接触し、ＤＣ測定
機能によって測定ブロック２１で短絡された各リードの
接触抵抗を測定する。
り、前記測定ブロック部２の測定ブロック２１に嵌合さ
れたコンタクタソケットＡに電気的に接触し、ＤＣ測定
機能によって測定ブロック２１で短絡された各リードの
接触抵抗を測定する。
この測定は前記制御部１からの測定開始要求信号ｄを受
けて実行し、測定結果信号ｅを制御部１に出力する。
けて実行し、測定結果信号ｅを制御部１に出力する。
設定入力部６には測定時期や測定間隔等の条件が設定さ
れ、この設定信号ｆを前記制御部１に出力する。測定時
期は、例えばハンドリング装置本体における通常の選別
作業において不良が何個連続して発生した時にコンタク
タソケットの測定を行うかを設定する。また、測定間隔
は、例えば設定した測定個数や測定時間を経過する毎に
測定を行うようにする。
れ、この設定信号ｆを前記制御部１に出力する。測定時
期は、例えばハンドリング装置本体における通常の選別
作業において不良が何個連続して発生した時にコンタク
タソケットの測定を行うかを設定する。また、測定間隔
は、例えば設定した測定個数や測定時間を経過する毎に
測定を行うようにする。
タイマ一部７からは、上述した時間を測定するための基
準となる時間信号ｇが制御部１に出力される。
準となる時間信号ｇが制御部１に出力される。
ハンドリング装置本体制御部８は、ハンドリングしたＩ
Ｃの個数や、その不良品の個数等のハンドリング情報信
号りを前記制御部ｌに出力し、逆に制御部１からは作業
停止又は作業続行の作業信号ｉが入力される。
Ｃの個数や、その不良品の個数等のハンドリング情報信
号りを前記制御部ｌに出力し、逆に制御部１からは作業
停止又は作業続行の作業信号ｉが入力される。
したがって、この構成ではハンドリング装置本体におい
て所定の数１時間のＩＣハンドリングが進行され、その
信号りが制御部１に入力されると、制御部１では設定入
力部６からの設定信号ｆとタイマー７の時間信号ｇを比
較し、設定条件を満たした時点で測定駆動信号ａとレー
ル駆動信号すを出力する。これにより、搬送レール４１
はその一部が退避され、測定ブロック２１は前方に移動
され、ＩＣに代えてコンタクタソケットＡに嵌合される
。
て所定の数１時間のＩＣハンドリングが進行され、その
信号りが制御部１に入力されると、制御部１では設定入
力部６からの設定信号ｆとタイマー７の時間信号ｇを比
較し、設定条件を満たした時点で測定駆動信号ａとレー
ル駆動信号すを出力する。これにより、搬送レール４１
はその一部が退避され、測定ブロック２１は前方に移動
され、ＩＣに代えてコンタクタソケットＡに嵌合される
。
これと同時にテスター５には制御部１から測定開始要求
信号ｄが入力され、テスター５はコンタクタソケットＡ
における接触抵抗を測定する。そして、その測定結果信
号ｅを制御部１に出力する。
信号ｄが入力され、テスター５はコンタクタソケットＡ
における接触抵抗を測定する。そして、その測定結果信
号ｅを制御部１に出力する。
制御部１ではこの結果に基づき、測定結果が正常の場合
には各部を元の状態に戻し、ハンドリング本体制御部８
に対して作業を続行するように作業信号ｉを出力する。
には各部を元の状態に戻し、ハンドリング本体制御部８
に対して作業を続行するように作業信号ｉを出力する。
これにより、再び通常のハンドリングが再開される。
一方、測定結果が異常の場合には、制御部ｌは警告信号
すを出力して警告発生器３１から警告を発生し、作業者
に異常を告知する。同時に作業停止の作業信号ｉをハン
ドリング本体制御部８に出力し、以後のハンドリングを
停止させる。
すを出力して警告発生器３１から警告を発生し、作業者
に異常を告知する。同時に作業停止の作業信号ｉをハン
ドリング本体制御部８に出力し、以後のハンドリングを
停止させる。
これにより、設定した条件に基づいて自動的にしかも適
切なコンタクタソケットの測定が実現でき、コンタクタ
ソケットの劣化によるハンドリング不良を未然に防止で
きる。また、ここでは測定ブロックにコンタクタソケッ
トのリードの短絡機能を持たせているため、リードが短
絡されたＩＣを用意する必要もない。
切なコンタクタソケットの測定が実現でき、コンタクタ
ソケットの劣化によるハンドリング不良を未然に防止で
きる。また、ここでは測定ブロックにコンタクタソケッ
トのリードの短絡機能を持たせているため、リードが短
絡されたＩＣを用意する必要もない。
第２図は本発明の他の実施例のブロック図であり、第１
図と同一部分には同一符号を付し、詳細な説明は省略す
る。
図と同一部分には同一符号を付し、詳細な説明は省略す
る。
この実施例では、第１図の実施例のテスターに代えて、
接触抵抗を測定するためのＤＣ電源供給部と電圧降下分
を検出して接触抵抗を測定及び判定する接触抵抗判定部
５Ａを設け、これをハンドリング装置内に配設している
。
接触抵抗を測定するためのＤＣ電源供給部と電圧降下分
を検出して接触抵抗を測定及び判定する接触抵抗判定部
５Ａを設け、これをハンドリング装置内に配設している
。
したがって、ハンドリング装置自身に接触抵抗を測定及
び判定する機能を保有することになり、テスターを別体
に設ける必要はない、このため、テスターとの間に特別
な信号授受の取り決めを設定する必要がなく、テスター
の選別プログラムを一時的に停止させる必要もない等の
利点がある。
び判定する機能を保有することになり、テスターを別体
に設ける必要はない、このため、テスターとの間に特別
な信号授受の取り決めを設定する必要がなく、テスター
の選別プログラムを一時的に停止させる必要もない等の
利点がある。
以上説明したように本発明は、設定入力部に予め設定さ
れた条件に基づいて、制御部が測定ブロック部、搬送レ
ール部、測定部を動作させてコンタクタソをットの測定
を行い、かつこの測定結果に基づいて警告を発生し、或
いはハンドリング装置の動作を停止させるので、自動的
にしかも適切なコンタクタソケットの測定が実現でき、
コンタクタソケットの劣化によるハンドリング不良を未
然に防止できる。また、測定ブロックはコンタクタソケ
ットのリードの短絡機能を有しているため、リードが短
絡されたＩＣを用意する必要がないという効果もある。
れた条件に基づいて、制御部が測定ブロック部、搬送レ
ール部、測定部を動作させてコンタクタソをットの測定
を行い、かつこの測定結果に基づいて警告を発生し、或
いはハンドリング装置の動作を停止させるので、自動的
にしかも適切なコンタクタソケットの測定が実現でき、
コンタクタソケットの劣化によるハンドリング不良を未
然に防止できる。また、測定ブロックはコンタクタソケ
ットのリードの短絡機能を有しているため、リードが短
絡されたＩＣを用意する必要がないという効果もある。
第１図は本発明の一実施例の全体構成を示すブロック図
、第２図は本考案の他の実施例の全体構成を示すブロッ
ク図である。 １・・・制御部、２・・・測定ブロック部、３・・・警
告発生部、４・・・搬送レール部、５・・・テスター、
５Ａ・・・接触抵抗測定部、６・・・設定入力部、７・
・・タイマ一部、８・・・ハンドリング本体制御部、２
１・・・測定ブロック、２２・・・駆動アクチュエータ
、２３・・・駆動ドライバ、３１・・・警告発生器、３
２・・・駆動ドライバ、４１・・・搬送レール、４２・
・・駆動アクチュエータ、４３・・・駆動ドライバ、Ａ
・・・コンタクタソケット。
、第２図は本考案の他の実施例の全体構成を示すブロッ
ク図である。 １・・・制御部、２・・・測定ブロック部、３・・・警
告発生部、４・・・搬送レール部、５・・・テスター、
５Ａ・・・接触抵抗測定部、６・・・設定入力部、７・
・・タイマ一部、８・・・ハンドリング本体制御部、２
１・・・測定ブロック、２２・・・駆動アクチュエータ
、２３・・・駆動ドライバ、３１・・・警告発生器、３
２・・・駆動ドライバ、４１・・・搬送レール、４２・
・・駆動アクチュエータ、４３・・・駆動ドライバ、Ａ
・・・コンタクタソケット。
Claims (1)
- １、ＩＣのハンドリングに使用するコンタクタソケット
に嵌合して該コンタクタソケットのリードを短絡する測
定ブロック部と、ＩＣを搬送するとともに前記測定ブロ
ック部がコンタクタソケットと嵌合する際に通常位置か
ら退避される搬送レール部と、測定ブロック部に嵌合さ
れたコンタクタソケットのリードの接触抵抗を測定する
測定部と、コンタクタソケットの測定が異常のときに警
告を発生する警告発生部と、コンタクタソケットの測定
条件を予め設定する設定入力部と、ＩＣのハンドリング
動作を制御するとともに、ハンドリング個数や時間の情
報を出力するハンドリング本体制御部と、前記設定入力
部からの設定信号とハンドリング本体制御部からのハン
ドリング情報信号に基づいて前記測定ブロック部、搬送
レール部及び測定部を制御し、かつ測定部の測定結果信
号に基づいてコンタクタソケットの良否を判定し、前記
警告発生部及びハンドリング本体制御部に夫々所定の信
号を出力する制御部とを備えることを特徴とするＩＣの
ハンドリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63172412A JPH0222570A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | Ｉｃのハンドリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63172412A JPH0222570A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | Ｉｃのハンドリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0222570A true JPH0222570A (ja) | 1990-01-25 |
Family
ID=15941479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63172412A Pending JPH0222570A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | Ｉｃのハンドリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0222570A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04181175A (ja) * | 1990-11-15 | 1992-06-29 | Nec Yamagata Ltd | 半導体装置の特性測定用ソケットの摩耗チェック方法 |
| US7348547B2 (en) | 2006-02-28 | 2008-03-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Position detecting apparatus and image processing apparatus provided with the same |
-
1988
- 1988-07-11 JP JP63172412A patent/JPH0222570A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04181175A (ja) * | 1990-11-15 | 1992-06-29 | Nec Yamagata Ltd | 半導体装置の特性測定用ソケットの摩耗チェック方法 |
| US7348547B2 (en) | 2006-02-28 | 2008-03-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Position detecting apparatus and image processing apparatus provided with the same |
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