JPH02226811A - プログラム可能な論理装置 - Google Patents
プログラム可能な論理装置Info
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- JPH02226811A JPH02226811A JP89329789A JP32978989A JPH02226811A JP H02226811 A JPH02226811 A JP H02226811A JP 89329789 A JP89329789 A JP 89329789A JP 32978989 A JP32978989 A JP 32978989A JP H02226811 A JPH02226811 A JP H02226811A
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/173—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
- H03K19/177—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form
- H03K19/17704—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns
- H03K19/17708—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns using an AND matrix followed by an OR matrix, i.e. programmable logic arrays
- H03K19/17712—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns using an AND matrix followed by an OR matrix, i.e. programmable logic arrays one of the matrices at least being reprogrammable
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はプログラム可能力論理装置の分野に関するもの
であり、更に詳しくいえばlPROMアレイの性能向上
に関するものである。
であり、更に詳しくいえばlPROMアレイの性能向上
に関するものである。
消去可能かつプログラム可能な続出し専用メモリ(IP
ROM)が曳く知られている。最近、EPROM装置が
プログラム可能な論理アレイに組合わされて、プログラ
ム可能な論理装置(PLD)として一般に知られている
装置が構成されるようになつ次。多くの場合に、PLD
は消去可能でもあるから、PLDは消去可能でかつプロ
グラム可能な論理装置(r:pLD)と呼ばれて含た。
ROM)が曳く知られている。最近、EPROM装置が
プログラム可能な論理アレイに組合わされて、プログラ
ム可能な論理装置(PLD)として一般に知られている
装置が構成されるようになつ次。多くの場合に、PLD
は消去可能でもあるから、PLDは消去可能でかつプロ
グラム可能な論理装置(r:pLD)と呼ばれて含た。
一般に、各装置の九めのメモリ素子はアレイに構成され
、PLDへの各入力は反転入力と非反転入力に分けられ
る。各入力はメモリアレイマトリックスの一対の行線を
形成する。行線は典型的に1語線と呼はれる。メモリセ
ルの各列は列線によりー緒に結合される。列線は典型的
にはビット線と呼ばれる。アレイのそれらのビット線は
メモリアレイから出力を供給する九めに用いられる。し
たがって、それらのビット線の出力はノアゲートの出力
であるが、プール変換を介してn項積項と呼ばれる。次
に、それらの積出力は論理和をとられてそれらの積出力
の和を生ずる。入力端子が種々の行線に設けられるメそ
リアレイを用いる技術と、アレイの列からの積出力を加
え合わせる技術とは従来の技術において周昶である。そ
れらの技術は米国特許第4,609,986号、第4,
617,479号、第4,124,899号の明細書に
記載嘔れている。
、PLDへの各入力は反転入力と非反転入力に分けられ
る。各入力はメモリアレイマトリックスの一対の行線を
形成する。行線は典型的に1語線と呼はれる。メモリセ
ルの各列は列線によりー緒に結合される。列線は典型的
にはビット線と呼ばれる。アレイのそれらのビット線は
メモリアレイから出力を供給する九めに用いられる。し
たがって、それらのビット線の出力はノアゲートの出力
であるが、プール変換を介してn項積項と呼ばれる。次
に、それらの積出力は論理和をとられてそれらの積出力
の和を生ずる。入力端子が種々の行線に設けられるメそ
リアレイを用いる技術と、アレイの列からの積出力を加
え合わせる技術とは従来の技術において周昶である。そ
れらの技術は米国特許第4,609,986号、第4,
617,479号、第4,124,899号の明細書に
記載嘔れている。
各種のPLDが従来知られているが、それらのPLDは
、EPROMセルをアクセスするなめに入力線を結1合
することを要する。一般に、入力線は浮動グー)EPR
OMセルの制御ゲートへ結合され、セルの出力は、浮動
ゲートのプログラムされた状態t7’hはプログラムさ
れていない状態(消去状態)と、消去状態にある時は入
力信号の状態とに依存する。メモリアレイの入力端子か
ら出力端子へ信号路が九どられるものとすると、EPR
OMセルはその信号路内に含まれることに注目されたい
。すなわち、入力信号は、PLDから出力を得ることが
できる前にEPROMをアクセスしなけれはならない。
、EPROMセルをアクセスするなめに入力線を結1合
することを要する。一般に、入力線は浮動グー)EPR
OMセルの制御ゲートへ結合され、セルの出力は、浮動
ゲートのプログラムされた状態t7’hはプログラムさ
れていない状態(消去状態)と、消去状態にある時は入
力信号の状態とに依存する。メモリアレイの入力端子か
ら出力端子へ信号路が九どられるものとすると、EPR
OMセルはその信号路内に含まれることに注目されたい
。すなわち、入力信号は、PLDから出力を得ることが
できる前にEPROMをアクセスしなけれはならない。
信号路中にEPROMセルに存在するとPLDの性能、
とくに速度と電力の性能が阻害される。こうなる理由は
、出力を得ることができる前に、与えられ7’hEPR
OMをアクセスする必要があること、および制御ゲート
に入力信号が存在し穴径でのみlPROMセルをアクセ
スできることである。
とくに速度と電力の性能が阻害される。こうなる理由は
、出力を得ることができる前に、与えられ7’hEPR
OMをアクセスする必要があること、および制御ゲート
に入力信号が存在し穴径でのみlPROMセルをアクセ
スできることである。
PLDの信号路からメモリセルを除くことができるなら
は、PLDの性能を向上できることがわかる。
は、PLDの性能を向上できることがわかる。
本発明は、信号路からメモリを除くことによりブログラ
ム可能な論理装置の性能を向上させるための新規なアー
キテクチャにりいて記述するものである。一実施例にお
いては、バッファされた信号と、その信号の補数信号を
供給するために、レベル変換器とバッファの組合わせへ
入力信号が結合される。アレイの各メモリセルの状態が
それに対応する適切なバッフ7の可能化を制御するよう
に、アレイのメモリが対応するバッファへ結合される。
ム可能な論理装置の性能を向上させるための新規なアー
キテクチャにりいて記述するものである。一実施例にお
いては、バッファされた信号と、その信号の補数信号を
供給するために、レベル変換器とバッファの組合わせへ
入力信号が結合される。アレイの各メモリセルの状態が
それに対応する適切なバッフ7の可能化を制御するよう
に、アレイのメモリが対応するバッファへ結合される。
入力信号が供給される前にメモリセルを読出すことがで
きるから、入力信号に応じてPLDから出力を発生する
のに要する時間が短くなる。
きるから、入力信号に応じてPLDから出力を発生する
のに要する時間が短くなる。
別の実施例においては、バッファから一対の信号を受け
る九めにマルチプレクサが結合される。
る九めにマルチプレクサが結合される。
メモリセルは信号路から再び除去され、入力信号と、そ
の入力信号の補数信号との間で選択するためにメモリセ
ルのそれぞれのマルチプレクサを制御する次めにメモリ
セルの状態が用いられる。
の入力信号の補数信号との間で選択するためにメモリセ
ルのそれぞれのマルチプレクサを制御する次めにメモリ
セルの状態が用いられる。
別の実施例においては、メモリセルの状態がレジスタに
保持されるように、メモリセルの出力端子がシフトレジ
スタへ結合される。保持された情報は、バッファを可能
状態にするために用いられ、または先に述べた実施例の
マルチプレクサを動作させる九めに用いられる。複数の
シフトレジスタを直列に結合できる。バッファまたはマ
ルチプレクサを動作させるために外部プログラミング信
号をシフトレジスタに結合できる。シフトレジスタを介
して外部プログラミングを用いることにょシ、メモリセ
ルを実際にプログラミングすることなしにPLDにプロ
グラムされたセルの状態をPLDにエミュレートさせる
ととができる。
保持されるように、メモリセルの出力端子がシフトレジ
スタへ結合される。保持された情報は、バッファを可能
状態にするために用いられ、または先に述べた実施例の
マルチプレクサを動作させる九めに用いられる。複数の
シフトレジスタを直列に結合できる。バッファまたはマ
ルチプレクサを動作させるために外部プログラミング信
号をシフトレジスタに結合できる。シフトレジスタを介
して外部プログラミングを用いることにょシ、メモリセ
ルを実際にプログラミングすることなしにPLDにプロ
グラムされたセルの状態をPLDにエミュレートさせる
ととができる。
最後に、バッファ操作を行う部品が、メモリアレイへの
入力端子の所の代シにメモリセルの場所に直接置かれる
ように、分布バッファ技術が用いられる。
入力端子の所の代シにメモリセルの場所に直接置かれる
ように、分布バッファ技術が用いられる。
以下に、信号路からメモリセルを除くことにょ夛プログ
ラム可能な論理装置(PLD)の性能を向上させる新規
なアーキテクチャについて説明する。
ラム可能な論理装置(PLD)の性能を向上させる新規
なアーキテクチャについて説明する。
本発明を完全に理解できるようにするために、以下の説
明においては、特定のメモリセルおよび回路部品等のよ
うな特定の事項の詳細について数多く述べである。しか
し、そのような特定の詳細事項なしに本発明を実施でき
ることが尚業者には明らかであろう。その他の場合には
、本発明を不必要に詳しく説明して本発明をあいまいに
しまいようにするなめに、周知の回路は詳しく説明しな
い。
明においては、特定のメモリセルおよび回路部品等のよ
うな特定の事項の詳細について数多く述べである。しか
し、そのような特定の詳細事項なしに本発明を実施でき
ることが尚業者には明らかであろう。その他の場合には
、本発明を不必要に詳しく説明して本発明をあいまいに
しまいようにするなめに、周知の回路は詳しく説明しな
い。
PLDの基本的な部品を示すブロック図が示されている
第1図を参照する。メモリアレイ10への入力端子とし
て複数の入力端子工・〜Inが結合される。各入力端子
工0〜Inが信号をマトリックスの行線へ供給するよう
に、マトリックスアレイ状に配置された複数のメモリセ
ルでメモリアレイ10が構成される。メモリセルの出力
端子はそれの適切な列線へ結合され、それらの列線は検
出増幅器11へ結合される。検出増鳴器11は列からの
出力を検出し、列線の状態に対応する出力を供給する。
第1図を参照する。メモリアレイ10への入力端子とし
て複数の入力端子工・〜Inが結合される。各入力端子
工0〜Inが信号をマトリックスの行線へ供給するよう
に、マトリックスアレイ状に配置された複数のメモリセ
ルでメモリアレイ10が構成される。メモリセルの出力
端子はそれの適切な列線へ結合され、それらの列線は検
出増幅器11へ結合される。検出増鳴器11は列からの
出力を検出し、列線の状態に対応する出力を供給する。
検出増幅器11の出力は各種の方法で用いられる。典型
的なPLDにおいては、検出増幅器11からの出力がマ
クロセル12へ結合される。
的なPLDにおいては、検出増幅器11からの出力がマ
クロセル12へ結合される。
典型的には、各マクロセル12は、通常は論理和される
所定数の積項(p項)、に応答して積項の和を供給する
。マクロセル12からの出力はPLDへ外部で結合され
、メモリセル10へ帰還入力を供給するためにメモリア
レイ10へ結合される。
所定数の積項(p項)、に応答して積項の和を供給する
。マクロセル12からの出力はPLDへ外部で結合され
、メモリセル10へ帰還入力を供給するためにメモリア
レイ10へ結合される。
第4図にはマクロセル12が4つだけ示されているが、
実際の数は設計上の選択の問題であυ、メモリアレイ1
0のサイズとメモリアレイ10のp項の群化とに依存す
る。検出増偏器10とマクロセル12との動作は周知で
ある。
実際の数は設計上の選択の問題であυ、メモリアレイ1
0のサイズとメモリアレイ10のp項の群化とに依存す
る。検出増偏器10とマクロセル12との動作は周知で
ある。
次に、複数のメモリセル27で構成され、典型的にはメ
モリアレイ10で構成される従来の回路20の一部が示
されている第2図を参照する。従来の回路20において
は、各人カニ0〜Inがレベル変換器21への入力とし
て結合される。第2図に示されているレベル変換器21
はインバータでもちる。レベル変換器21の出力端子は
反転バッファ22の入力端子と非反転バッファ23の入
力端子へ結合される。各入力端子のために一対の行線を
供給する丸めに、各バッファ22または23の出力端子
がそれぞれの行線へ結合される。たとえば、入力!0に
対して、それの対応するバッファ22の出力がメモリア
レイの行θ線へ供給され、バッファ23の出力が行O/
線へ供給される(記号/をとこでは補数を示すために用
いる)。通常は、行線はその行のEPROMセルの制御
ゲートへ結合される。更に、はとんどのメモリアレイは
い入力信号の補数に関連する別の行線を有する。その別
の行線は、との場合には、バッファ23の出力端子へ結
合される行線として示されている。
モリアレイ10で構成される従来の回路20の一部が示
されている第2図を参照する。従来の回路20において
は、各人カニ0〜Inがレベル変換器21への入力とし
て結合される。第2図に示されているレベル変換器21
はインバータでもちる。レベル変換器21の出力端子は
反転バッファ22の入力端子と非反転バッファ23の入
力端子へ結合される。各入力端子のために一対の行線を
供給する丸めに、各バッファ22または23の出力端子
がそれぞれの行線へ結合される。たとえば、入力!0に
対して、それの対応するバッファ22の出力がメモリア
レイの行θ線へ供給され、バッファ23の出力が行O/
線へ供給される(記号/をとこでは補数を示すために用
いる)。通常は、行線はその行のEPROMセルの制御
ゲートへ結合される。更に、はとんどのメモリアレイは
い入力信号の補数に関連する別の行線を有する。その別
の行線は、との場合には、バッファ23の出力端子へ結
合される行線として示されている。
第2図においては初めの2段と終段だけが示されている
。初段は入力端子Aを有するものとして示され、第2段
は入力端子Bを有するものとして示されている。また、
第2図の回路20は列Oのそれらのメモリセル24だけ
を示す。列Oのメモリセル24の出力端子は全て線26
へ一緒に結合される。その線26はビット線と一般に呼
ばれる。
。初段は入力端子Aを有するものとして示され、第2段
は入力端子Bを有するものとして示されている。また、
第2図の回路20は列Oのそれらのメモリセル24だけ
を示す。列Oのメモリセル24の出力端子は全て線26
へ一緒に結合される。その線26はビット線と一般に呼
ばれる。
列0の全てのメモリセル24を一緒に結合すると全ての
入力と、それらの入力の補数入力の全てとのプール・ア
ンド機能が得られる。第2図の例においては、lPRO
Mセル30は行01列Oの位置を示すが、lPROMセ
ル31は行Oの補数、列Oの位置を示す。EPROMセ
ル32は行1、列Oの位置を示し、EPROMセル33
は行1の補数、列0位置を示す。入力端子AとBに対す
るメモリセルの列を示す等価0M08回路が第3図に示
されている。
入力と、それらの入力の補数入力の全てとのプール・ア
ンド機能が得られる。第2図の例においては、lPRO
Mセル30は行01列Oの位置を示すが、lPROMセ
ル31は行Oの補数、列Oの位置を示す。EPROMセ
ル32は行1、列Oの位置を示し、EPROMセル33
は行1の補数、列0位置を示す。入力端子AとBに対す
るメモリセルの列を示す等価0M08回路が第3図に示
されている。
次に動作を説明する。セル240列を形成する各EPR
OMセル2Tは、装置がプログラミング中にプログラム
され、ま九は消去されたままである。
OMセル2Tは、装置がプログラミング中にプログラム
され、ま九は消去されたままである。
与えられ九セル27が消去されている状態すなわちプロ
グラムされていない状態にらるものとすると、そのセル
27の導通と非導通は、それの制御ゲートへ加えられる
入力信号の状態に依存する。
グラムされていない状態にらるものとすると、そのセル
27の導通と非導通は、それの制御ゲートへ加えられる
入力信号の状態に依存する。
しかし、与えられたlPROMセル27がプログラムさ
れた状態にあるものとすると、そのセルは導通状態にさ
れない。したがって、それらの消去され九セルだけが、
それの制御ゲートへ加えられた入力信号に応答する。E
PROM27の動作は周知である。
れた状態にあるものとすると、そのセルは導通状態にさ
れない。したがって、それらの消去され九セルだけが、
それの制御ゲートへ加えられた入力信号に応答する。E
PROM27の動作は周知である。
入力信号の状態と、与えられたビット線26へ結合され
ている各lPROMセルの格納されている状態とに依存
するある出力を従来の回路20がそのビット線へ供給す
ることに注目すべきである。
ている各lPROMセルの格納されている状態とに依存
するある出力を従来の回路20がそのビット線へ供給す
ることに注目すべきである。
また、与えられたEPROMセル27がメモリアレイの
実際の信号路中【あることにも注目すべきである。たと
えば、入力1.に対応する回路200部分を調べると、
IrFROM 30と31が実際の信号路に存在するこ
とがわかる。すなわち、入力線IOに信号Aが存在する
と、その信号はJ:PROMセル30と31の少くとも
一方からの出力をビット線26へ供給できる前に、その
信号AはlPROM30.31の制御ゲートへ加えられ
る。入力信号のために1mFROM 3 Gと31の少
くとも一方の導通状態を変えねばならないとすると、そ
のメモリセルから適切な出力を供給できる前に、セルの
トランジスタがそれの状態を、非導通状態から導通状態
というように、変えねばならない。トランジスタの状態
を導通状態から非導通状態へ、またはその逆に変えるた
めにいくらかの時間を要する。ビット線26の電圧の振
れがよシ高い電圧とアース電位の間で振れさせられるな
らば、その状態変化に要する時間が大幅に長くなること
がある。すなわち、5ボルトとアース電位の間の振れに
要する時間は、15ボルトとアース電位の間の振れに要
する時間より短い。更に、与えられた列のある数のセル
が同時に導通したとすると、ビット線26にかなシの電
流が流れ出すことがあり、その結果として、検出増幅器
がそれの定常状態へ復帰できるまでの時間が長くなる。
実際の信号路中【あることにも注目すべきである。たと
えば、入力1.に対応する回路200部分を調べると、
IrFROM 30と31が実際の信号路に存在するこ
とがわかる。すなわち、入力線IOに信号Aが存在する
と、その信号はJ:PROMセル30と31の少くとも
一方からの出力をビット線26へ供給できる前に、その
信号AはlPROM30.31の制御ゲートへ加えられ
る。入力信号のために1mFROM 3 Gと31の少
くとも一方の導通状態を変えねばならないとすると、そ
のメモリセルから適切な出力を供給できる前に、セルの
トランジスタがそれの状態を、非導通状態から導通状態
というように、変えねばならない。トランジスタの状態
を導通状態から非導通状態へ、またはその逆に変えるた
めにいくらかの時間を要する。ビット線26の電圧の振
れがよシ高い電圧とアース電位の間で振れさせられるな
らば、その状態変化に要する時間が大幅に長くなること
がある。すなわち、5ボルトとアース電位の間の振れに
要する時間は、15ボルトとアース電位の間の振れに要
する時間より短い。更に、与えられた列のある数のセル
が同時に導通したとすると、ビット線26にかなシの電
流が流れ出すことがあり、その結果として、検出増幅器
がそれの定常状態へ復帰できるまでの時間が長くなる。
メモリセル27の応答時間を短くするため、し九がって
、PLDの全体の速度を高くするために、回路20のよ
うな従来の回路はビット線をドライブする電流ドライバ
の使用を実現した。第2図において、電流ドライバ29
が電源vCCとビット線26の間に結合されている様子
が示されている。
、PLDの全体の速度を高くするために、回路20のよ
うな従来の回路はビット線をドライブする電流ドライバ
の使用を実現した。第2図において、電流ドライバ29
が電源vCCとビット線26の間に結合されている様子
が示されている。
典型的にはトランジスタ装置である電流ドライバ29は
、装置の高速動作モード中に定常電流を供給する念めに
オン状態を維持する。定常状態の下においては、ビット
線は所定のバイアス点へバイアスされる。メモリセルが
導通状態になると、ビット線26へ結合されている検出
増幅器はそのバイアス点からの変化をビット線26にお
ける状態変化として検出する。しかし、この技術には太
きな欠点がある。よシ高遠の動作を行うことができるが
、電流ドライバ29が連続して動作するからPLDのた
めに非常に大きい電流を必要とする。
、装置の高速動作モード中に定常電流を供給する念めに
オン状態を維持する。定常状態の下においては、ビット
線は所定のバイアス点へバイアスされる。メモリセルが
導通状態になると、ビット線26へ結合されている検出
増幅器はそのバイアス点からの変化をビット線26にお
ける状態変化として検出する。しかし、この技術には太
きな欠点がある。よシ高遠の動作を行うことができるが
、電流ドライバ29が連続して動作するからPLDのた
めに非常に大きい電流を必要とする。
この電流増加はよシ多くの電力と付加電力を消費する必
要がおることを意味する。
要がおることを意味する。
次に、EPROMセル27a を信号路から除去する本
発明のアーキテクチャが示されている第4図を参照する
。EPROM30m、31m、32m、33mは第2図
と第3図に示すEPROMセル30〜33に等しいが、
添字aをつけて示す。しかし、第4図の回路においては
、各EPROMセルの制御ゲートへは5ボルトのような
電圧が供給される。その電圧は、そのセルが消去されて
いるならば、そのセルを導通状態にする。レベル変換器
/ノ(ツ7ア(以下、単にバッファと記す)37″&た
は3Bを可能状態にするために、種々のセル27mの出
力端子はビット線ではなくてそれぞれのバッファ37ま
たは38へ結合される。各人力I6”In (第4図に
はIoと11だけが示されている)が反転レベル変換器
/バッファ37へ結合され、各入力は非反転レベル変換
器/バッファ38へも結合される。バッファ37と38
は別々のレベル変換器および別々のバッファで構成でき
る。バッファ3T、3Bの出力端子は、同じ列の他のバ
ッフ737.38からの出力端子とともにピッI・tl
i!26mへ結合される。第4図に示す回路においては
、各出力端子対は一緒に結合され、それからアンドゲー
トの入力端子として結合される。そのアンドゲートはそ
れの入力端子へ供給される全ての項の論理積をとる。第
4図において、2つの入力IOと!宜が出力端子におい
てアンドゲート35により組合わされて、信号^とBに
対する演算子論理を決定する次めの積項を供給する。
発明のアーキテクチャが示されている第4図を参照する
。EPROM30m、31m、32m、33mは第2図
と第3図に示すEPROMセル30〜33に等しいが、
添字aをつけて示す。しかし、第4図の回路においては
、各EPROMセルの制御ゲートへは5ボルトのような
電圧が供給される。その電圧は、そのセルが消去されて
いるならば、そのセルを導通状態にする。レベル変換器
/ノ(ツ7ア(以下、単にバッファと記す)37″&た
は3Bを可能状態にするために、種々のセル27mの出
力端子はビット線ではなくてそれぞれのバッファ37ま
たは38へ結合される。各人力I6”In (第4図に
はIoと11だけが示されている)が反転レベル変換器
/バッファ37へ結合され、各入力は非反転レベル変換
器/バッファ38へも結合される。バッファ37と38
は別々のレベル変換器および別々のバッファで構成でき
る。バッファ3T、3Bの出力端子は、同じ列の他のバ
ッフ737.38からの出力端子とともにピッI・tl
i!26mへ結合される。第4図に示す回路においては
、各出力端子対は一緒に結合され、それからアンドゲー
トの入力端子として結合される。そのアンドゲートはそ
れの入力端子へ供給される全ての項の論理積をとる。第
4図において、2つの入力IOと!宜が出力端子におい
てアンドゲート35により組合わされて、信号^とBに
対する演算子論理を決定する次めの積項を供給する。
各lPROMセル27aが消去されている時だけ、バッ
ファ3Tま之は38を可能状態にするために、4IPR
OM七ル27aはバッファ37または38へ結合される
。たとえば、第4図において、バッファ41はセル30
mの状態により可能状態にされ、バッファ42はセル3
1aの状態により可能状態にされる。Aが入力!。とし
て示されている。
ファ3Tま之は38を可能状態にするために、4IPR
OM七ル27aはバッファ37または38へ結合される
。たとえば、第4図において、バッファ41はセル30
mの状態により可能状態にされ、バッファ42はセル3
1aの状態により可能状態にされる。Aが入力!。とし
て示されている。
セル30mの消去された状態のためにバッファ41が可
能状態にされたとするとA/が出力端子に現われ、セル
31&の消去された状態の九めにバッファ42が可能状
態にされたとするとAが出力端子に現われる。メモリセ
ル30mと31a がプログラムされたとすると、入力
信号は出力に対して何の作用も及ぼさない。何らかの理
由でメモリセル30mと31楓が消去状態にあるとする
と、2つの直列p形トランジスタ39m 、 19bが
導通状態にあるためにバッファ41.42の出力線が引
下げられる。トランジスタ39m、39b のゲートは
メモ174.ル3Qm、31mへそれぞれ結合される。
能状態にされたとするとA/が出力端子に現われ、セル
31&の消去された状態の九めにバッファ42が可能状
態にされたとするとAが出力端子に現われる。メモリセ
ル30mと31a がプログラムされたとすると、入力
信号は出力に対して何の作用も及ぼさない。何らかの理
由でメモリセル30mと31楓が消去状態にあるとする
と、2つの直列p形トランジスタ39m 、 19bが
導通状態にあるためにバッファ41.42の出力線が引
下げられる。トランジスタ39m、39b のゲートは
メモ174.ル3Qm、31mへそれぞれ結合される。
各入力に対する各メモリセル対は同等に動作する。
アンドゲート35を使用することにより、論理積をとら
れる所定数の入力が選択される。
れる所定数の入力が選択される。
第4図にはEPROM27mだけが示されておシ、図示
を簡単にする九めにそれの負荷トランジスタは示してい
ないことに注目すべきである。しかし、第4図および後
の図に示されているlPROMセルは正しく動作するた
めに負荷トランジスタを必要とする。それらの負荷トラ
ンジスタは第3図に装置29として示され、第8図には
装置61として示されている。
を簡単にする九めにそれの負荷トランジスタは示してい
ないことに注目すべきである。しかし、第4図および後
の図に示されているlPROMセルは正しく動作するた
めに負荷トランジスタを必要とする。それらの負荷トラ
ンジスタは第3図に装置29として示され、第8図には
装置61として示されている。
本発明のアーキテクチャは装置の信号路からEPROM
メモリセル27mを除くことがわかる。すなわち、各E
PROMセル27aはそれぞれのバッファ371九は3
8の可能化を制御する。 EPROMセル27mは信号
路から除かれるから、メモリアレイの入力端子に入力信
号が供給される前に、各lPROMはそれのそれぞれの
バッファ37または28の可能化ま次は不能化を行うこ
とができる。
メモリセル27mを除くことがわかる。すなわち、各E
PROMセル27aはそれぞれのバッファ371九は3
8の可能化を制御する。 EPROMセル27mは信号
路から除かれるから、メモリアレイの入力端子に入力信
号が供給される前に、各lPROMはそれのそれぞれの
バッファ37または28の可能化ま次は不能化を行うこ
とができる。
それから、与えられ九人力線K(1=Inに入力が供給
されると、ピット線26aへ正しい出力を供給する丸め
に、それぞれのバッファを介し℃それを結合する必要が
あるだけである。入力信号が供給される前にEPROM
セル27aをアクセスできるから速度を高くできる。
されると、ピット線26aへ正しい出力を供給する丸め
に、それぞれのバッファを介し℃それを結合する必要が
あるだけである。入力信号が供給される前にEPROM
セル27aをアクセスできるから速度を高くできる。
次に、本発明を実施する別の回路40が示されている第
5図を参照する。各入力端子は、第4図の回路と同様に
、バッファ37,38へ結合される。第5図にはただ2
つの入力I・と!虱が示されているが、入力の実際の数
は純粋に設計上の選択である。各バッファ37.38は
入力信号を反転し九出力と、反転し々い出力をそれぞれ
供給する。バッファ37,3Bの出力端子は、第4図の
回路とは異って、−緒には結合されない。その代シに、
バッファ37.38の各セットはマルチプレクサ(MU
X)43への入力として結合される。
5図を参照する。各入力端子は、第4図の回路と同様に
、バッファ37,38へ結合される。第5図にはただ2
つの入力I・と!虱が示されているが、入力の実際の数
は純粋に設計上の選択である。各バッファ37.38は
入力信号を反転し九出力と、反転し々い出力をそれぞれ
供給する。バッファ37,3Bの出力端子は、第4図の
回路とは異って、−緒には結合されない。その代シに、
バッファ37.38の各セットはマルチプレクサ(MU
X)43への入力として結合される。
マルチプレクサ43のどの入力端子がそれの出力端子へ
結合するかの選択は、それのMUX 43へ結合されて
いるlPROMセル27bの格納されている状態により
決定される。たとえば、入力1.に対して、セル27b
がプログラムされた状態にあるとすると、それはMUX
48 に入力AまたはVの1つを選択させ、セル47が
消去された状態にあるとすると、それは他の入力Aまた
はA/をそれぞれ選択する。
結合するかの選択は、それのMUX 43へ結合されて
いるlPROMセル27bの格納されている状態により
決定される。たとえば、入力1.に対して、セル27b
がプログラムされた状態にあるとすると、それはMUX
48 に入力AまたはVの1つを選択させ、セル47が
消去された状態にあるとすると、それは他の入力Aまた
はA/をそれぞれ選択する。
回路40において、与えられた列−行位置に対してMU
X43の動作を制御する九めに1つのEPROMセル2
7bが利用されるととく注目されたい。MUX43の出
力はそれのそれぞれのアンドゲート44への入力として
結合される。その出力は積項を検出増喝器へ供給する。
X43の動作を制御する九めに1つのEPROMセル2
7bが利用されるととく注目されたい。MUX43の出
力はそれのそれぞれのアンドゲート44への入力として
結合される。その出力は積項を検出増喝器へ供給する。
与えられたアンドゲート44へ結合される入力の散拡積
項の数を決定すること、およびそれは単碌る設計上の選
択であることを理解すべきである。回路40は信号路中
にマルチプレクサ43に関して付加装置を含むが、ある
入力と、その入力の補数の間で選択するために各MUX
43を選択するのに2つのEPROMセルを必要とする
から、EPROMセルの実際の数は半分に減少させられ
たことに注目されたい。また、PLDの速度を高くする
ためにEPROMセル27bは信号路からいぜんとして
除されることに注目すべきである。
項の数を決定すること、およびそれは単碌る設計上の選
択であることを理解すべきである。回路40は信号路中
にマルチプレクサ43に関して付加装置を含むが、ある
入力と、その入力の補数の間で選択するために各MUX
43を選択するのに2つのEPROMセルを必要とする
から、EPROMセルの実際の数は半分に減少させられ
たことに注目されたい。また、PLDの速度を高くする
ためにEPROMセル27bは信号路からいぜんとして
除されることに注目すべきである。
次に、第4図の回路の別の実施例が示されている第6図
を参照する。また、ただ2つの入力がAおよびBとして
示されているが、実際の数は設計上の選択の問題である
。第6図の回路45の各入力端子はバッファ37.38
へ結合され、それらの入力は入力信号の反転出力と非反
転出力をそれぞれ供給する。それらの出力は一緒に結合
されて入力をアンドゲート49へ供給する。アンドゲー
ト49の出力はオアゲート48への入力として結合され
る。その出力は積項の和を供給する。いくつかの等しい
アンドゲートの出力がオアゲー)4Bへの入力として結
合される。積項の実際の構成は再び任意であり、第6図
に示されているアンドゲートの構成は単なる例である。
を参照する。また、ただ2つの入力がAおよびBとして
示されているが、実際の数は設計上の選択の問題である
。第6図の回路45の各入力端子はバッファ37.38
へ結合され、それらの入力は入力信号の反転出力と非反
転出力をそれぞれ供給する。それらの出力は一緒に結合
されて入力をアンドゲート49へ供給する。アンドゲー
ト49の出力はオアゲート48への入力として結合され
る。その出力は積項の和を供給する。いくつかの等しい
アンドゲートの出力がオアゲー)4Bへの入力として結
合される。積項の実際の構成は再び任意であり、第6図
に示されているアンドゲートの構成は単なる例である。
プール変換により他の論理ゲートが等しい論理機能を提
供できることに注目されたい。
供できることに注目されたい。
回路45の別の実施例は、各バッファ37または38を
可能状態にするために、シフトレジスタをEPROMセ
ル27m と組合わせて用いる。第4図に示す回路とは
異って、各EPROMセル27mをバッファ37t7’
hは3Bへ直結する代夛に、EPROM27a 0tt
l力はシフトレジスタ49へ結合される。すなわち、セ
ル30aは出力をシフトレジスタ50へ供給するために
結合され、セル31mはシフトレジスタ51へ結合され
、セル32aはシフトレジスタ52へ結合され、セル3
3mはシフトレジスタ53へ結合される。各シフトレジ
スタ49の出力はそれの対応するバッファ37ま九は3
8へ結合される。たとえば、シフトレジスタ50はバッ
ファ41へ結合され、シフトレジスタ51はバッファ5
2へ結合される。更に、1i:FROMセルの与えられ
た列が全て直列結合されて、シフトレジスタ50の出力
がバッファ41へ結合されるばかりでなく、シフトレジ
スタ51への入力としても結合される。シフトレジスタ
51の出力はバッファ42と、列の次のバッファに対す
る対応するシフトレジスタ等とへ結合される。列の第1
のメモリセル30m に対応する最初のレジスタ50
は外部入力を受け、列の最後のメモリセルに対応する最
後のレジスタは外部で使用する出力を供給する。各メモ
リ列に対して一連のシフトレジスタ49が設けられる。
可能状態にするために、シフトレジスタをEPROMセ
ル27m と組合わせて用いる。第4図に示す回路とは
異って、各EPROMセル27mをバッファ37t7’
hは3Bへ直結する代夛に、EPROM27a 0tt
l力はシフトレジスタ49へ結合される。すなわち、セ
ル30aは出力をシフトレジスタ50へ供給するために
結合され、セル31mはシフトレジスタ51へ結合され
、セル32aはシフトレジスタ52へ結合され、セル3
3mはシフトレジスタ53へ結合される。各シフトレジ
スタ49の出力はそれの対応するバッファ37ま九は3
8へ結合される。たとえば、シフトレジスタ50はバッ
ファ41へ結合され、シフトレジスタ51はバッファ5
2へ結合される。更に、1i:FROMセルの与えられ
た列が全て直列結合されて、シフトレジスタ50の出力
がバッファ41へ結合されるばかりでなく、シフトレジ
スタ51への入力としても結合される。シフトレジスタ
51の出力はバッファ42と、列の次のバッファに対す
る対応するシフトレジスタ等とへ結合される。列の第1
のメモリセル30m に対応する最初のレジスタ50
は外部入力を受け、列の最後のメモリセルに対応する最
後のレジスタは外部で使用する出力を供給する。各メモ
リ列に対して一連のシフトレジスタ49が設けられる。
動作時には、入力信号を供給する前にEPROMセル2
7a の出力をそれのそれぞれのバッファ3γまたは
38に保持するためにシフトレジスタ49が用いられる
。各El:PROMセル27a の格納されている状態
は、各メモリセル27mの出力をそれの対応するシフト
レジスタ411に保持させることにより決定される。シ
フトレジスタ49がそれの対応スるメモリセル27mか
らの出力を保持するト、各メモリセルの読出しが終らさ
れ、読出し動作を終了できる。すなわち、情報がシフト
レジスタ49に保持されたとすると、メモリセル27m
はもはや導通する必要はなく、全てのセルの動作を停止
させることができる。メモリセル27m の動作を停止
させることにより電力が節約される。その保持された情
報は各シフトレジスタ49かもの出力として対応するバ
ッファ37または38へ供給される。この点で、入力信
号を入力端子へ供給できる。メモリセル271は信号路
に再びないことに注目されたい。
7a の出力をそれのそれぞれのバッファ3γまたは
38に保持するためにシフトレジスタ49が用いられる
。各El:PROMセル27a の格納されている状態
は、各メモリセル27mの出力をそれの対応するシフト
レジスタ411に保持させることにより決定される。シ
フトレジスタ49がそれの対応スるメモリセル27mか
らの出力を保持するト、各メモリセルの読出しが終らさ
れ、読出し動作を終了できる。すなわち、情報がシフト
レジスタ49に保持されたとすると、メモリセル27m
はもはや導通する必要はなく、全てのセルの動作を停止
させることができる。メモリセル27m の動作を停止
させることにより電力が節約される。その保持された情
報は各シフトレジスタ49かもの出力として対応するバ
ッファ37または38へ供給される。この点で、入力信
号を入力端子へ供給できる。メモリセル271は信号路
に再びないことに注目されたい。
保持がシフトレジスタ49から必要とされる全てである
とすると、シフトレジスタ490代シにラッチを使用で
きる。しかし、この別の実施例においては、シフトレジ
スタ49は付加目的の九めく用いられる。試験、評価お
よ7びデバツギングのようなある目的のためには、PL
Dのプログラミング動作を迅速に変更することが有利で
あることを理解すべきである。たとえば、lPROMセ
ルを用いる従来のPLD装置においては、装置の性能評
価を行うために、与えられたプログラミングパターンを
各種のlPROMセルにプログラムする必要がある。こ
のプログラミングパターンを変W−fるものとすると、
セルを消去し、それから再プログラムしなければならな
い。典整的な紫外線(tyv ) EFROMにおいて
は、消去し、新しいパターンを再プログラムするために
1時間かかる。最近の7ラツシユlPROMセルを用い
ても、消去およびパターンの再プログラムに1秒かかる
ことがある。本発明の回路により、再プログラミングに
要する時間を1パタ一ンmlO秒のオーダーまでも短縮
できる。
とすると、シフトレジスタ490代シにラッチを使用で
きる。しかし、この別の実施例においては、シフトレジ
スタ49は付加目的の九めく用いられる。試験、評価お
よ7びデバツギングのようなある目的のためには、PL
Dのプログラミング動作を迅速に変更することが有利で
あることを理解すべきである。たとえば、lPROMセ
ルを用いる従来のPLD装置においては、装置の性能評
価を行うために、与えられたプログラミングパターンを
各種のlPROMセルにプログラムする必要がある。こ
のプログラミングパターンを変W−fるものとすると、
セルを消去し、それから再プログラムしなければならな
い。典整的な紫外線(tyv ) EFROMにおいて
は、消去し、新しいパターンを再プログラムするために
1時間かかる。最近の7ラツシユlPROMセルを用い
ても、消去およびパターンの再プログラムに1秒かかる
ことがある。本発明の回路により、再プログラミングに
要する時間を1パタ一ンmlO秒のオーダーまでも短縮
できる。
パターンの再プログラミングに要する時間をそのように
短くするためにシフトレジスタ49が用いられる。セル
27a を再プログラミングする代シニ、希望のプロ
グラミングパターンが外部から入力される。メモリセル
からの出力をエミユレートするために、情報はレジスタ
列49に直列に桁送シされる。メモリセル27mを再プ
ログラミングする代シに、情報は各シフトレジスタに保
持される。この保持動作が終ると、回路45は、メモリ
セル27aがプログラムされるかのように、入力信号に
応答する。lPROMセルの消去とプログラミングより
はるかに速くシフトレジスタは動作するから、速度性能
が得られる。
短くするためにシフトレジスタ49が用いられる。セル
27a を再プログラミングする代シニ、希望のプロ
グラミングパターンが外部から入力される。メモリセル
からの出力をエミユレートするために、情報はレジスタ
列49に直列に桁送シされる。メモリセル27mを再プ
ログラミングする代シに、情報は各シフトレジスタに保
持される。この保持動作が終ると、回路45は、メモリ
セル27aがプログラムされるかのように、入力信号に
応答する。lPROMセルの消去とプログラミングより
はるかに速くシフトレジスタは動作するから、速度性能
が得られる。
更に、回路450E F ROMセル27mとシフトレ
ジスタ49の構成は、与えられたメモリセルから保持さ
れ、かつ後で異なる行の動素子に対応するバッファへ加
えられ九情報を桁送シするとともできる。ま之、直列結
合されているシフトレジスタ490列がメモリセルの各
列のなめに設けられることも理解すべきである。更に、
シフトレジスタ列中の最後のシフトレジスタの出力端子
は出力を装置の外部へ供給できる。その出力は、lPR
OMセル27a に格納されている情報に対応するデー
タ列を供給する。
ジスタ49の構成は、与えられたメモリセルから保持さ
れ、かつ後で異なる行の動素子に対応するバッファへ加
えられ九情報を桁送シするとともできる。ま之、直列結
合されているシフトレジスタ490列がメモリセルの各
列のなめに設けられることも理解すべきである。更に、
シフトレジスタ列中の最後のシフトレジスタの出力端子
は出力を装置の外部へ供給できる。その出力は、lPR
OMセル27a に格納されている情報に対応するデー
タ列を供給する。
次に、第5図に示されている回路40のシフトレジスタ
の構成が示されている第7図を参照する。
の構成が示されている第7図を参照する。
レベル変換器/バッファ37.38と、MUX43と、
アンドゲート44とは第5図に示されている回路5に含
まれているそれらの素子とそれぞれ等しく機能する。し
かし、回路55においては、MUX 43 カlPRO
M セh 27b ヘ直結サレル代’)にlPROMセ
ル27bの出力がシフトレジスタ49bに保持される。
アンドゲート44とは第5図に示されている回路5に含
まれているそれらの素子とそれぞれ等しく機能する。し
かし、回路55においては、MUX 43 カlPRO
M セh 27b ヘ直結サレル代’)にlPROMセ
ル27bの出力がシフトレジスタ49bに保持される。
EFROM27bとシフトレジスタ49bは第6図に示
されている同じ部品と等しく機能する。しかし、第7図
においては、回路におけるのと同様に、MUX43を制
御するために1つのlPROMセルだけが用いられる。
されている同じ部品と等しく機能する。しかし、第7図
においては、回路におけるのと同様に、MUX43を制
御するために1つのlPROMセルだけが用いられる。
EPROMセル27b の出力はそれの対応するシフ
トレジスタ49b に保持される。それは、各MUX4
3の2つの入力のうち、それの出力端子へ結合すべき1
つの入力を選択する。第6図の回路と同様に、外部入力
をシフトレジスタへ供給できる。シフトレジスタ49b
へ供給された列部入力により、個々のEPROMセル2
7b にプログラミング情報を格納する必要なしに、よ
シ高速のプログラミング動作を行うことができる。ま九
、アンドゲート44が4つの入力端子を有するものとし
て示されているが、積項を形成する入力の実際の数は設
計上の選択の問題である。
トレジスタ49b に保持される。それは、各MUX4
3の2つの入力のうち、それの出力端子へ結合すべき1
つの入力を選択する。第6図の回路と同様に、外部入力
をシフトレジスタへ供給できる。シフトレジスタ49b
へ供給された列部入力により、個々のEPROMセル2
7b にプログラミング情報を格納する必要なしに、よ
シ高速のプログラミング動作を行うことができる。ま九
、アンドゲート44が4つの入力端子を有するものとし
て示されているが、積項を形成する入力の実際の数は設
計上の選択の問題である。
次に、第6図の回路45を相補金属−酸化物一半導体(
0MO8)回路で構成し比例を示す第8図を参照する。
0MO8)回路で構成し比例を示す第8図を参照する。
回路60は1つの信号路、図示の例ではA1に対応する
部品だけを示す。電圧Vccと、この場合にはアースで
あるVsaの間で、lPROMメモリセル27bと直列
にp形トランジスタ61が結合される。そのトランジス
タ61とセル27bはクロック制御される0MO8トラ
ンジスタ対として動作する。クロック信号φ2がトラン
ジスタ61のゲートと7リツプフロツプ62の負荷入力
端子とへ加えられる。メモリセル27bの出力端子(メ
モリセル27bのドレインにある)はDL大入力してD
形フリップフロップ62へ結合される。
部品だけを示す。電圧Vccと、この場合にはアースで
あるVsaの間で、lPROMメモリセル27bと直列
にp形トランジスタ61が結合される。そのトランジス
タ61とセル27bはクロック制御される0MO8トラ
ンジスタ対として動作する。クロック信号φ2がトラン
ジスタ61のゲートと7リツプフロツプ62の負荷入力
端子とへ加えられる。メモリセル27bの出力端子(メ
モリセル27bのドレインにある)はDL大入力してD
形フリップフロップ62へ結合される。
フリップフロップ82はφ2によりロードされるラッチ
として動作するが、それのDs入力端子は前段の入力端
子へ結合され、それの出力端子は次段のDs入力端子へ
結合されて、D形フリップフロップ62がシフトレジス
タとして動作できるようにする。第2のクロック信号φ
1がD形フリップフロップ62へ結合されて、そのフリ
ップフロップをクロック制御する。
として動作するが、それのDs入力端子は前段の入力端
子へ結合され、それの出力端子は次段のDs入力端子へ
結合されて、D形フリップフロップ62がシフトレジス
タとして動作できるようにする。第2のクロック信号φ
1がD形フリップフロップ62へ結合されて、そのフリ
ップフロップをクロック制御する。
トランジスタ63〜66はMUX43 として動作す
る。トランジスタ63と65はn形であり、トランジス
タ64と66はp形である。トランジスタ63と64は
一緒に導通状態になって、信号人を送るととができるよ
うにする。トランジスタ65と66は交互に導通して信
号A/を出力端子へ結合できるようにする。レジスタ6
2の非反転出力端子がトランジスタ63,66のゲート
へ結合される。レジスタ62の反転入力端子がトランジ
スタ64.65のゲートへ結合される。したがって、動
作時には、非反転出力Qが高いとするとトランジスタ6
3と64が導通し、他の状態ではトランジスタ65.6
6が導通する。
る。トランジスタ63と65はn形であり、トランジス
タ64と66はp形である。トランジスタ63と64は
一緒に導通状態になって、信号人を送るととができるよ
うにする。トランジスタ65と66は交互に導通して信
号A/を出力端子へ結合できるようにする。レジスタ6
2の非反転出力端子がトランジスタ63,66のゲート
へ結合される。レジスタ62の反転入力端子がトランジ
スタ64.65のゲートへ結合される。したがって、動
作時には、非反転出力Qが高いとするとトランジスタ6
3と64が導通し、他の状態ではトランジスタ65.6
6が導通する。
動作時には、クロック信号φ2が低くなると、メモリセ
ル2Tb に格納されている情報が用いられる。メモ
リセル27bは消去状態にあれば導通し、プログラムさ
れておれば導通しない。メモリセル27bの出力が安定
させられると、クロック信号φ2はその情報をレジスタ
62に保持させる。
ル2Tb に格納されている情報が用いられる。メモ
リセル27bは消去状態にあれば導通し、プログラムさ
れておれば導通しない。メモリセル27bの出力が安定
させられると、クロック信号φ2はその情報をレジスタ
62に保持させる。
そうすると、メモリセル27bに格納されている情報の
読出しを継続するためにはクロック信号φ2を高い状態
に保つ必要はない。レジスタ62に保持されている情報
は一対の0MO8)ランジスタロ3−64tたは65−
66を導通させて、信号AまたはA/を通させる。
読出しを継続するためにはクロック信号φ2を高い状態
に保つ必要はない。レジスタ62に保持されている情報
は一対の0MO8)ランジスタロ3−64tたは65−
66を導通させて、信号AまたはA/を通させる。
次に、第1図に示されているメモリアレイ10に等しい
メモリアレイ10m が示されている第9図を参照する
。このメモリアレイ10aは、列71に並べられた複数
のメモリセル27cを有する。
メモリアレイ10m が示されている第9図を参照する
。このメモリアレイ10aは、列71に並べられた複数
のメモリセル27cを有する。
従来のアーキテクチャ、たとえば第2図の回路20、に
おいては、九だ1組のレベル変換器21およびバッファ
22.23が!0のような各入力線の九めに用いられる
。バッファ22.23の出力端子がそれぞれの行線72
.73へ結合される。それらの稜線は対応するセル行へ
結合される。この従来技術は本発明の回路により容易に
実現できるが、第10図に用いる別のアーキテクチャが
用いられる。
おいては、九だ1組のレベル変換器21およびバッファ
22.23が!0のような各入力線の九めに用いられる
。バッファ22.23の出力端子がそれぞれの行線72
.73へ結合される。それらの稜線は対応するセル行へ
結合される。この従来技術は本発明の回路により容易に
実現できるが、第10図に用いる別のアーキテクチャが
用いられる。
次に、列71aに配置された複数のメモリセル27d
を有するメモリアレイ10bが示されている第10図を
参照する。入力線工0が各列71a内の対応するメモリ
セル27dの行へ結合される。
を有するメモリアレイ10bが示されている第10図を
参照する。入力線工0が各列71a内の対応するメモリ
セル27dの行へ結合される。
しかし、この別のアーキテクチャでは、バッファ37.
38が各メモリセル領域74に分布されるから、第9図
に示されているような完全な行線のなめに一対のバッフ
ァを有する代シに、第10図のアーキテクチャは、破I
w75で示すように各メモリ場所74にバッファ37.
.38を含む。第10図に示す分布アーキテクチャは、
第9図に示す2本の行線72.73ではなくて、1本の
行線76を要する。この分布により、行線の数が減少す
ることと、各メモリ場所74に異なるバッファ構成を設
けるととができるという利点が得られる。好適な実施例
ではバッファ3Tと38を分布させ、かつMUX43と
シフトレジスタ49を用いるならばそれらの装置も分布
させるが、本発明を実施するなめに従来の2本の線T2
と73を用いる技術を容易に実現できることを理解すべ
きである。
38が各メモリセル領域74に分布されるから、第9図
に示されているような完全な行線のなめに一対のバッフ
ァを有する代シに、第10図のアーキテクチャは、破I
w75で示すように各メモリ場所74にバッファ37.
.38を含む。第10図に示す分布アーキテクチャは、
第9図に示す2本の行線72.73ではなくて、1本の
行線76を要する。この分布により、行線の数が減少す
ることと、各メモリ場所74に異なるバッファ構成を設
けるととができるという利点が得られる。好適な実施例
ではバッファ3Tと38を分布させ、かつMUX43と
シフトレジスタ49を用いるならばそれらの装置も分布
させるが、本発明を実施するなめに従来の2本の線T2
と73を用いる技術を容易に実現できることを理解すべ
きである。
本発明のアーキテクチャを用い、lPROMセルをそれ
の信号路から除い之特定のPLDKついて説明したが、
この技術は他の装置で容易に実現でき、PLDに限定さ
れるものではないことを理解すべきである。更に、説明
し九メモリセルのためにEPROM以外のメモリ装置を
容易に使用できる。
の信号路から除い之特定のPLDKついて説明したが、
この技術は他の装置で容易に実現でき、PLDに限定さ
れるものではないことを理解すべきである。更に、説明
し九メモリセルのためにEPROM以外のメモリ装置を
容易に使用できる。
また、第4図乃至第7図に示すEPROMセルは正しい
動作を行うために負荷トランジスタを必要とするが、図
面を複雑にしないために負荷トランジスタは含めなかっ
た。)FROM装置のためのそのような負荷装置は周知
である。第8図にはトランジスタ61が0MO8)ラン
ジスタとして示されている。したがって、第4図乃至第
7図においてトランジスタとして0MO8)ランジスタ
を用いるためには、負荷装置として動作させるためにp
形トランジスタがVce と各メモリセルの出力端子の
間に結合される。更に1第4図にトランジスタ19m
と39bにより示されている実施例を他の図に示す回路
に容易に用いることができる。
動作を行うために負荷トランジスタを必要とするが、図
面を複雑にしないために負荷トランジスタは含めなかっ
た。)FROM装置のためのそのような負荷装置は周知
である。第8図にはトランジスタ61が0MO8)ラン
ジスタとして示されている。したがって、第4図乃至第
7図においてトランジスタとして0MO8)ランジスタ
を用いるためには、負荷装置として動作させるためにp
形トランジスタがVce と各メモリセルの出力端子の
間に結合される。更に1第4図にトランジスタ19m
と39bにより示されている実施例を他の図に示す回路
に容易に用いることができる。
第1図はプログラム可能な論理装置の基本的な部品を示
すブロック図、第2図はメモリセルが信号路中にあるよ
うなメモリアレイの素子を示す従来の技術の回路図、第
3図はメモリアレイへの2人力に対する第2図の等価回
路図、第4図は信号路からメモリセルが除かれている本
発明のアーキテクチャを示す回路図、第5図は信号路か
らメモリセルが除かれ、信号路中のマルチプレクサを制
御する九めにメモリセルを用いる本発明の別の実施例の
回路図、第6図はメモリセルに格納されている状態を保
持するためにシフトレジスタを用いる、第4図に示すア
ーキテクチャを示す回路図、第7図はメモリセルの状態
を保持するためにシフトレジスタを用いる、第5図に示
すアーキテクチャの回路図、第8図は第7図に示すアー
キテクチャにおいてラッ+’、@用いる1つの実施例を
示す回路図、第9図はメモリアレイへの1つの入力端子
における非分布バッファ段の実施例を示す略図、第10
図は本発明で用いられる分布バッファ技術を示すブロッ
ク図である。 10−・・・メモリアレイ、11@・・Φ検出増幅!、
12・拳・中マクロセル、27a#c・・−メモリセル
、30m、31m、32m、33a 働・・−EPRO
Mセル、 37.3g、42 ・令・−バッファ、(4
9)5G 、51.52.53 慟・曝・シフトレジス
タ。 7IG l
すブロック図、第2図はメモリセルが信号路中にあるよ
うなメモリアレイの素子を示す従来の技術の回路図、第
3図はメモリアレイへの2人力に対する第2図の等価回
路図、第4図は信号路からメモリセルが除かれている本
発明のアーキテクチャを示す回路図、第5図は信号路か
らメモリセルが除かれ、信号路中のマルチプレクサを制
御する九めにメモリセルを用いる本発明の別の実施例の
回路図、第6図はメモリセルに格納されている状態を保
持するためにシフトレジスタを用いる、第4図に示すア
ーキテクチャを示す回路図、第7図はメモリセルの状態
を保持するためにシフトレジスタを用いる、第5図に示
すアーキテクチャの回路図、第8図は第7図に示すアー
キテクチャにおいてラッ+’、@用いる1つの実施例を
示す回路図、第9図はメモリアレイへの1つの入力端子
における非分布バッファ段の実施例を示す略図、第10
図は本発明で用いられる分布バッファ技術を示すブロッ
ク図である。 10−・・・メモリアレイ、11@・・Φ検出増幅!、
12・拳・中マクロセル、27a#c・・−メモリセル
、30m、31m、32m、33a 働・・−EPRO
Mセル、 37.3g、42 ・令・−バッファ、(4
9)5G 、51.52.53 慟・曝・シフトレジス
タ。 7IG l
Claims (4)
- (1)複数の入力端子と、それらの入力端子において動
作する内蔵プログラムにより決定される複数の出力端子
とを有するプログラム可能な論理装置(PLD)におい
て、 前記プログラムを格納する複数のメモリセルと、前記入
力端子をバッファする複数のバッファと、を備え、各前
記入力端子は少くとも1つの前記バッファへ結合され、
入力信号を通すために各前記バッファを可能状態にする
ために、各前記バッファに対して、対応する1つの前記
メモリセルが結合され、各前記バッファの可能化は前記
対応するメモリセルの格納されている状態により決定さ
れることを特徴とするプログラム可能な論理装置。 - (2)複数の入力端子と、それらの入力端子において動
作する内蔵プログラムにより決定される複数の出力端子
とを有するプログラム可能な論理装置(PLD)におい
て、 前記プログラムを格納するためにアレイ状に配置された
複数のメモリセルと、 前記入力端子をバッファする複数のバッファと、を備え
、各前記入力端子は一対の前記バッファへ結合され、前
記一対はインバータと非インバータであり、入力信号と
、その入力信号の補数とを通すために各前記バッファを
可能状態にするために、各前記バッファに対して、対応
する1つの前記メモリセルが結合され、各前記バッファ
の可能化は前記対応するメモリセルの格納されている状
態により決定されることを特徴とするプログラム可能な
論理装置。 - (3)複数の入力端子と、それらの入力端子において動
作する内蔵プログラムにより決定される複数の出力端子
とを有するプログラム可能な論理装置(PLD)におい
て、 前記プログラムを格納する複数のメモリセルと、少くと
も1つの前記バッファへおのおの結合される複数のバッ
ファと、 各前記入力端子に対応するバッファへおのおの結合され
る複数のマルチプレクサ(MUX)と、を備え、入力信
号を通すために各前記MUXへの入力端子を選択するた
めに、各前記MUXに対して、対応する1つの前記メモ
リセルが結合され、前記セルの選択は前記対応するメモ
リセルの格納されている状態により決定されることを特
徴とするプログラム可能な論理装置。 - (4)複数の入力端子と、それらの入力端子において動
作する内蔵プログラムにより決定される複数の出力端子
とを有するプログラム可能な論理装置(PLD)におい
て、 前記プログラムを格納するためにアレイ状に配置された
複数のメモリセルと、 前記入力端子をバッファする複数のバッファと、入力信
号とそれの補数を受けるために対応する一対のバッファ
へおのおの結合される複数のマルチプレクサ(MUX)
と、 を備え、各前記入力端子は一対の前記バッファへ結合さ
れ、前記一対はインバータと非インバータであり、対応
する入力端子またはその入力端子の補入力端子を選択す
るために、各前記MUXに対して、対応する1つの前記
メモリセルが結合され、前記MUXの選択は前記対応す
るメモリセルの格納されている状態により決定されるこ
とを特徴とするプログラム可能な論理装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US292,464 | 1988-12-30 | ||
| US07/292,464 US4930097A (en) | 1988-12-30 | 1988-12-30 | Architecture for an improved performance of a programmable logic device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02226811A true JPH02226811A (ja) | 1990-09-10 |
| JP2818803B2 JP2818803B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=23124793
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32978989A Expired - Fee Related JP2818803B2 (ja) | 1988-12-30 | 1989-12-21 | プログラム可能な論理装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4930097A (ja) |
| JP (1) | JP2818803B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5247195A (en) * | 1991-07-26 | 1993-09-21 | Advanced Micro Devices, Inc. | PLDs with high drive capability |
| JPH0676085A (ja) * | 1992-07-03 | 1994-03-18 | Seiko Epson Corp | 配線切替え回路を有する半導体装置 |
| US5432388A (en) * | 1992-08-27 | 1995-07-11 | At&T Global Information Solutions Company | Repeatedly programmable logic array using dynamic access memory |
| US5379442A (en) * | 1993-03-31 | 1995-01-03 | Intel Corporation | Fast primary and feedback path in a programmable logic circuit |
| CN1125006A (zh) * | 1993-05-28 | 1996-06-19 | 加州大学评议会 | 动态互连于一个动态逻辑内核的现场可编程逻辑设备 |
| US6005806A (en) * | 1996-03-14 | 1999-12-21 | Altera Corporation | Nonvolatile configuration cells and cell arrays |
| US6018476A (en) * | 1996-09-16 | 2000-01-25 | Altera Corporation | Nonvolatile configuration cells and cell arrays |
| US6150837A (en) * | 1997-02-28 | 2000-11-21 | Actel Corporation | Enhanced field programmable gate array |
| US6049487A (en) * | 1998-03-16 | 2000-04-11 | Actel Corporation | Embedded static random access memory for field programmable gate array |
| US6038627A (en) * | 1998-03-16 | 2000-03-14 | Actel Corporation | SRAM bus architecture and interconnect to an FPGA |
| US7146441B1 (en) * | 1998-03-16 | 2006-12-05 | Actel Corporation | SRAM bus architecture and interconnect to an FPGA |
| US6772387B1 (en) * | 1998-03-16 | 2004-08-03 | Actel Corporation | Cyclic redundancy checking of a field programmable gate array having an SRAM memory architecture |
| US6237124B1 (en) * | 1998-03-16 | 2001-05-22 | Actel Corporation | Methods for errors checking the configuration SRAM and user assignable SRAM data in a field programmable gate array |
| US7389487B1 (en) * | 1998-04-28 | 2008-06-17 | Actel Corporation | Dedicated interface architecture for a hybrid integrated circuit |
| US6549035B1 (en) | 1998-09-15 | 2003-04-15 | Actel Corporation | High density antifuse based partitioned FPGA architecture |
| US6486701B1 (en) * | 2000-06-12 | 2002-11-26 | Cypress Semiconductor Corp. | CPLD high speed path |
| US6774667B1 (en) | 2002-05-09 | 2004-08-10 | Actel Corporation | Method and apparatus for a flexible chargepump scheme for field-programmable gate arrays |
| US6891394B1 (en) | 2002-06-04 | 2005-05-10 | Actel Corporation | Field-programmable gate array low voltage differential signaling driver utilizing two complimentary output buffers |
| US7378867B1 (en) | 2002-06-04 | 2008-05-27 | Actel Corporation | Field-programmable gate array low voltage differential signaling driver utilizing two complimentary output buffers |
| US6765427B1 (en) | 2002-08-08 | 2004-07-20 | Actel Corporation | Method and apparatus for bootstrapping a programmable antifuse circuit |
| US7434080B1 (en) | 2002-09-03 | 2008-10-07 | Actel Corporation | Apparatus for interfacing and testing a phase locked loop in a field programmable gate array |
| US6750674B1 (en) | 2002-10-02 | 2004-06-15 | Actel Corporation | Carry chain for use between logic modules in a field programmable gate array |
| US7269814B1 (en) | 2002-10-08 | 2007-09-11 | Actel Corporation | Parallel programmable antifuse field programmable gate array device (FPGA) and a method for programming and testing an antifuse FPGA |
| US6885218B1 (en) | 2002-10-08 | 2005-04-26 | Actel Corporation | Parallel programmable antifuse field programmable gate array device (FPGA) and a method for programming and testing an antifuse FPGA |
| US6727726B1 (en) | 2002-11-12 | 2004-04-27 | Actel Corporation | Field programmable gate array architecture including a buffer module and a method of distributing buffer modules in a field programmable gate array |
| US6946871B1 (en) * | 2002-12-18 | 2005-09-20 | Actel Corporation | Multi-level routing architecture in a field programmable gate array having transmitters and receivers |
| US7385420B1 (en) | 2002-12-27 | 2008-06-10 | Actel Corporation | Repeatable block producing a non-uniform routing architecture in a field programmable gate array having segmented tracks |
| US6891396B1 (en) | 2002-12-27 | 2005-05-10 | Actel Corporation | Repeatable block producing a non-uniform routing architecture in a field programmable gate array having segmented tracks |
| US7375553B1 (en) | 2003-05-28 | 2008-05-20 | Actel Corporation | Clock tree network in a field programmable gate array |
| US6825690B1 (en) | 2003-05-28 | 2004-11-30 | Actel Corporation | Clock tree network in a field programmable gate array |
| US6838902B1 (en) * | 2003-05-28 | 2005-01-04 | Actel Corporation | Synchronous first-in/first-out block memory for a field programmable gate array |
| US7385419B1 (en) * | 2003-05-30 | 2008-06-10 | Actel Corporation | Dedicated input/output first in/first out module for a field programmable gate array |
| US6867615B1 (en) * | 2003-05-30 | 2005-03-15 | Actel Corporation | Dedicated input/output first in/first out module for a field programmable gate array |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4124899A (en) * | 1977-05-23 | 1978-11-07 | Monolithic Memories, Inc. | Programmable array logic circuit |
| US4617479B1 (en) * | 1984-05-03 | 1993-09-21 | Altera Semiconductor Corp. | Programmable logic array device using eprom technology |
| US4609986A (en) * | 1984-06-14 | 1986-09-02 | Altera Corporation | Programmable logic array device using EPROM technology |
-
1988
- 1988-12-30 US US07/292,464 patent/US4930097A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-12-21 JP JP32978989A patent/JP2818803B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2818803B2 (ja) | 1998-10-30 |
| US4930097A (en) | 1990-05-29 |
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