JPH02230783A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

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JPH02230783A
JPH02230783A JP4982389A JP4982389A JPH02230783A JP H02230783 A JPH02230783 A JP H02230783A JP 4982389 A JP4982389 A JP 4982389A JP 4982389 A JP4982389 A JP 4982389A JP H02230783 A JPH02230783 A JP H02230783A
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JP
Japan
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semiconductor laser
pair
optical
laser device
light
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Application number
JP4982389A
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English (en)
Inventor
Takeshi Kato
猛 加藤
Katsuaki Chiba
千葉 勝昭
Kenichi Mizuishi
賢一 水石
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、複数レーザビームを出射する半導体レーザ装
置に関する. 〔従来の技術〕 光ディスク等の光応用機器において、マルチビーム半導
体レーザ装置の利用が検討され始めている。複数のレー
ザビームに異なる機能を割り振ることによって,光応用
機優の多機能・高速化を目指している. 従来のマルチビーム半導体レーザ装置は、例えばプロシ
ーデイングス・オブ・インターナショナル・シンポジウ
ム・オン・オプテイ力ル メモリ; 1987年,ジャ
パニーズ ジャーナル オブアプライド フイジイツク
ス,26巻(1987年)サブルメント2 6 − 4
 Proc.Int.Symp.on Optical
Memory, 1987, Japanese Jo
urnal of AppliedPhysics, 
Vol.26 (1987)Supplement 2
6−4や1988年春季第35回応用物理学関係連合講
演会講演予稿集,p.El98,講演番号3 0 p 
− Z Q − 31C記載のようなハイブリッド型レ
ーザアレイが知られている.本レーザ装置は一対の半導
体レーザの電極面同士を互いに対向させた構造を特徴と
し、熱干渉を起こさずにビーム間隔を数10μmまで近
接させ得る.ビーム間隔は、光応用機能の光学系を小型
化するためにできる限り近接させることが望ましい. ところで、前述の光応用機器ではビーム毎に機能が異な
るので、各ビームの光出力を独立に検出しレーザ各々を
個別に制御しなければならない.しかし上記の装置自身
は光検出機能を持っていないので、装置外部に光検出素
子(受光素子)とこれヘビームを導くための光学系を設
ける必要があり,機器のサイズが大きくなるという問題
があった.光応用機器を小型化するためには、レーザ装
置内部に受光素子を設けることが必須である.レーザ装
置内部に受光素子を配置する方法に関しては、従来のシ
ングルビーム半導体レーザ装置のものが知られている.
例えば特開昭60−12786号公報に記載のように、
ビーム出射方向に対して受光素子(チップサイズ約1■
角)の受光面(数100μmφ)が凡そ垂直になるよう
に配置していた. この方法を上記マルチビーム半導体レーザ装置に適用し
、受光素子を並列に並べた図を第6図に示す.第6図に
おいて、101,102はレーザ、103,104はサ
ブマウント.105,106はマウント,1o7は台座
、108,109は受光素子110,111はそれぞれ
受光素子108,109の受光面である.図から明らか
な様に、この方法では、レーザ101,102同士のビ
ーム間隔は約1mmまで離れてしまう.したがって、レ
ーザ装置自体と光応用機器の光学系のサイズを小型化で
きないという問題がある.さらに、ビームは数10’の
拡がり角度で出射するので、レーザ101のビームが受
光面111に,レーザ102のビームが受光面110に
入射して、大きなクロストークが生じる問題がある.す
なわち、従来の受光素子配置方法をマルチビーム半導体
レーザ装置に流用しても、各ビーム独立検出はできない
レーザ装置内部に受光素子を配置する方法として,新た
に第7図に示すような方法も考えられる。
第7図において、120,121はレーザ、122,1
23はサブマウント、124,125はマウント、12
6は台座.127,128は受光素子、129,130
はそれぞれ受光素子127,128の受光面である.レ
ーザ120,121と受光素子127, 1 2 8が
、それぞれ共通のサブマウント122,123に積載さ
れている.この方法によれば、ビーム間隔を数10μm
まで近接させ得る。
但し、レーザ120のビームが受光面130に、レーザ
121のビーム受光面129に入射るので、依然として
クロストークの問題が残る.第8図は,横軸にビーム間
隔、縦軸にグロストークをとったグラフである.クロス
トークは、受光面に入射する信号光量に対するクロスト
ーク光量をdB表示で相対的に表した.第7図の結果は
、bの線に示されている(レーザ120,121の端面
と受光面129,130の中心までの距離はそれぞれ5
00μm.レーザ120,121の電極面と受光面12
9,130の段差は100μmである).この結果から
解るように、例えばビーム間隔50μmの場合クロスト
ークが−3.4dBもあり,実用上支障がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来のマルチビーム半導体レーザ装置は、光検出機
能について配慮されていない.また、該装置に従来の光
検出技術を適用しても、同一受光素子に複数ビームが入
射するので、クロストークが大きくビーム各々の独立検
出ができないという問題があった. 本発明の目的は、ビーム各々を独立に検出する機能を備
えたマルチビーム半導体レーザ装置を提供し、さらに該
装置の小型化を図ることにある.〔課題を解決するため
の手段〕 本発明は上記目的を達成するために、上記従来の一対の
レーザから出射される2つのビームを一対の光導波路に
それぞれ入射させ,光軸に対して斜めに加工された前記
光導波路の光出射端面によって反射された2つのビーム
を一対の受光素子にそれぞれ入射させたものである. 〔作用〕 上記一対のレーザから出射される2つのビームは、それ
ぞれ別々の光路を通って別個の受光素子に到達するので
、独立に検出される.各ビームは光導波路によって閉じ
込められているので、角度拡がりは生じず受光素子間の
クロストークが防止される.また、上記斜め加工面によ
り光路が方向変換されているので、受光素子同士の受光
面を対向させるような形で配置することが可能であり,
受光素子を並列に並べた場合に比べてレーザ装置が小型
化され得る. 〔実施例〕 以下、本発明の実施例を図面と共に説明する.第1図は
本発明の第1実施例を示す全体斜視図、第2図は第1実
施例の部分拡大図である.まず、全体の構成について述
べる. 第1図及び第2図において、一対の半導体レーザチップ
1,2は、電極面同士が相対向するように配置されてい
る.さらに、レーザ1,2はそれぞれサブマウント3,
・4を介して、空間を隔てて向い合う2つのマウント5
,6上に分離して積載されている.マウント5,6は台
座↓2に固定され、台座12は板に溶接されている.板
22の穴20.21はねじ止め用である.キャップ8は
板22に溶接されており,窓7からレーザ1,2の2本
のビームが出射する.電極ピン13はレーザ1駆動用,
14はレーザ1の光検出用、17はレーザ2駆動用、1
6はレーザ2の光検出用、15はアースピンである.1
8.19は、板22とピン13,14を電気的に絶縁す
るための封止ガラマウント5側(レーザ1側)とマウン
ト6側(レーザ2側)はほぼ同様の構造と部品構成にな
っており(マウント6側は陰になって見えないが)、互
いに対を成して向き合っている.第2図にはマウント5
側だけを拡大して示した.レーザ1のビームは,活性層
31から上方と下方に出射される。
下方に出射されたビームは、面32から光導波路9に入
射し、斜め加工面33で反射されて、受光素子11の受
光面35に入射する.光導波路9は接着射34によって
サブマウント10固定され、10はマウント5に固定さ
れている. 次に、各部品の詳細を述べる.本第1実施例を例えば光
ディスク装置に用いる場合は、レーザ1に発振波長78
0nmの低雑音再生用レーザ、レーザ2に発振波長83
0nmの高出力書込用レーザを採用した.レーザチップ
のサイズは、数100μm角、厚さ約100μmである
.サブマウント3.4は電気絶縁性・高熱伝導性SiC
セラミックス(厚さ200μm)から成り、その表面に
は電極配線用のA u / P t / T iメタラ
イズバターン36,37が形成されている.レーザの上
部電極はワイヤ38とパターン36、ワイヤ39を介し
てピン18に接続され、下部電極はパターン37とワイ
ヤ40を介してマウント5にアースされている.ワイヤ
は全てAu線を用いた.光導波路9は、光透過率が良い
ガラス材料、例えば石英ガラスを用いた.作成法は、ま
ずガラス板に垂直面加工と斜め面加工(それぞれ面32
と33に対応)を行ない、これを所望の大きさに切り出
す.第1実施例で使用した光導波路9のサイズは、幅2
00μm.厚さ100μ、長さ1.35m、斜め加工の
角度45゜とした.なお,レーザ1への面32の反射戻
り光を低減するために、面32に無反射コーティングを
施した.レーザ1と面32の距離は50μmにとった.
サブマウント10は,厚さ200μmのSiウェハを切
り出して作成した.受光素子11はPIN型ホトダイオ
ード、受光面35のサイズは300μmφである.受光
素子の上部電極はワイヤ41によってビン14に接続さ
れ、下部電極はマウント5にアースされてぃる. マウント5,6は、熱伝導率の良いCuから成る.マウ
ント5,6の表面はサブマウント3,4や光検出素子1
1等を半田付けする際の濡れ性を良くするためA u 
/ N iメッキが施されている.マウント5,6は、
レーザ1と2の発光点の位置を相対的に位置合わした後
に台座12に半田によって固定される.半田の疲労を低
減するために台座12はマウント5,6と同じ<Cuか
ら成り、表面はメッキされている.台座12の形が階段
状になっているのは(第1図参照).39.41等のワ
イヤ付け作業を行ないやすくするためである。
本第1実施例によれば、一対の半導体レーザチップから
出射される2つのビームは、それぞれ別別の光導波路よ
って導かれ、一対の受光素子によって検出される.すな
わち、2つのビームを独立に検出できる効果がある.光
導波路の入射面のサイズは、ビーム間クロストークが許
容範囲内に抑えられる程度に小さく、各ビームとの光結
合効率が十分得られる程度に大きい.光結合効率は、レ
ーザチップに対して光導波路(サブマウント)の位置を
調節することで所望の値が得られる.また,斜め加工面
によって光路が方向変換されているので、受光素子を対
向するように配置でき小型集積化が可能になった.さら
にハイブリッド型構造であるので、レーザチップ及び受
光素子の組み合わせを任意に選べ、レーザや受光素子,
光導波路間の相対的な位置関係を必要に応じて簡単に変
更できる利点がある. 本第1実施例の効果を、第8図のグラフに示す.第8図
において、横軸はビーム間隔,縦軸はクロストークであ
る.本第1実施例の結果をaの線に示した.図から,本
第1実施例よれば、ビーム間隔を50μm以下に狭めて
も尚−20dB以下にクロストークが抑えられており、
実用上まったく問題はなく各ビームの独立検出が行なえ
る.前述の第7図の技術の結果(bの線)と比較すれば
、本第1実施例の効果は明らか゛である.上記第1実施
例では、レーザチップと光導波路のサブマウントが異な
っていた. 以下、第2実施例では共通のサブマウントを用いた場合
について説明する.第3図は第2実施例の部分拡出図で
ある.全体的な構成は第1図の第1実施例の同様である
ので省略する. 50はレーザ1と光導波路9、受光素子11共通のサブ
マウントである.SiCセラミックスから成る.受光素
子11の部分には段差が設けられている.表面には部分
的にA u / P t / T iメタライズ(51
,52.53)が施されている.レーザ1の上部電極は
ワイヤ54,パターン51,ワイヤ55を介して電極ピ
ンに接続され、下部電極はパターン52とワイン56に
とってマウント5にアースされている.受光素子11の
上部電極はワイヤ58によって電極ビンに,下部電極は
パターン53とワイヤ57を介してマウント5にアース
される.光導波路9は、表面に部分的にAu/ N i
 / T iメタライズ59が施され、半田6oによっ
てサブマウント50に固定されている。パターン52は
、電極配線と半田付けの両方の役割を兼ねている. レーザ1側と2側は対称的な構造になっているので、2
側については説明を省略した.本第2実施例によれば、
サブマウント50の上にレーザ1,受光素子11,光導
波路9を予め組み立てておき、後からサブマウント50
をマウント5に固定すればよい.第1実施例が各素子を
マウント5の上に順次組み立てて行かねばならなかった
のに比べて、作業性が向上する効果がある.また、レー
ザ1や受光素子11の極性が変更した場合であっても,
サブマウント50上のメタライズパターンとワイヤ付け
を若干変えることにより対応可能である(第1実施例で
は受光素子11の下部電極の極性がアースに固定されて
いた).第1実施例では接看剤34によって先導波路9
を固定していたが、第2実施例では光導波路9も半田固
定されているので耐熱特性が良く、信頼性が向上する効
果がある. 第4図は、本発明の第3の実施例の側面図である,全体
的な構成は第1図に準ずる.マウント5側と6側は対称
的なので、5側のみ示した.本第3実施例では、レーザ
1と光導波路70の光結台効率を高めるために,光導波
路70の入射面にレンズ71を形成させた.レーザ1か
ら出射したビームは、レンズ71で集光され,面72で
反射されて(図中矢印)受光素子に入射する.本第4実
・施例によれば、レーザビームを高感度で独立に検出で
きる効果がある. 第5図は、本発明の第4実施例の側面図である.全体的
な構成は第1図に準ずる.マウント5側と6側は対称的
なので、5側だけを示す.本第4実施例では、光導波路
73を伝搬するビームの受光素子11への入射効率を高
めるために、面74を曲面形状にして、反射光を受光素
子11の受光面へ集光させた(図中矢印).本第5実施
例によれば、レーザビームの受光効率が向上する効果が
ある. 以上、本発明を図面を用いて説明した.本発明の要件は
,一対の半導体レーザチップから出射される2つのレー
ザ光を一対の光導波路に入射させ、光軸に対して斜めに
加工された前記光導波路の光出射端面によって反射され
た2つのレーザ光を一対の受光素子によって検出したこ
とにある.したがって、本発明はレーザチップ,受光素
子,光導波路の特性,タイプや装置の各構成部品の材料
,サイズ等によって制限されるものではない.光導波路
として、実施例中ではガラス角材を用いたが,ファイバ
やチャンネル型光導波路を採用することも可能である.
レーザチップ,受光素子,光導波路をモノリシックに集
・積化したちのもを互いに対向させて配置するような構
成も採り得る。また、実施例では一対のレーザチチップ
を示したが、更に複数対のチップがある場合でも、本発
明の効果は明らかである.なお、本発明の半導体レーザ
装置により、例えば光ディスク装置,レーザビームプリ
ンタ,光計測センサ等の光応用機器において各レーザチ
ップの独立制御を行ない,多機能・高速化を実現するこ
とができた. 〔発明の効果〕 本発明の半導体レーザ装置によれば、複数のレーザービ
ームを独立に検出することが可能になるので、各レーザ
の独立制御が行なえる.これにより、本装置を用いた光
応用機器の多機能化を簡便に実現できる効果がある.ま
た、本装置は機能が付加されたにも関わらず小型である
ので、光応用機器自体も小型化され得る効果がある.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の全体斜視図、第2図は
第1実施例の部分拡大斜視図、第3図は第2実施例の部
分拡大斜視図、第4図は第3実施例の部分側面図,第5
図は第4実施例の部分側面図、第6図及び第7図のいず
れも従来の光検出技術を示す図、第8図はビーム間隔と
クロストークの関係を示すグラフ図である. 1,2・・・レーザ、3,4・・・サブマウント,5,
6・・・マウント、9・・・光導波路、11・・・受光
素子、12・・・台座、32.33・・・面.7.2 3,4 5・6 ? レーサ プブマウ′/ト マフント 先4液浴 台座 70  尤導液み 71  L −/ x− サブマウント /03. 109. /27. /273史先粂多

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、少なくとも一対の半導体レーザチップの電極面同士
    が相対向するように配置された半導体レーザ装置におい
    て、該一対の半導体レーザチップから出射した2つのレ
    ーザ光が一対の光導波路に入射し、且つ光軸に対して斜
    めに加工された前記一対の光導波路の光出射端面で反射
    したのち、一対の受光素子によつて検出されることを特
    徴とする半導体レーザ装置。 2、請求項1記載の半導体レーザ装置において、上記一
    対の半導体レーザチップが空間を隔てて向い合う2つの
    マウントにそれぞれ分離して積載され、上記一対の光導
    波路及び上記一対の受光素子がそれぞれに対応する半導
    体レーザチップと同じ該マウント上に積載されているこ
    とを特徴とする半導体レーザ装置。 3、請求項1または2記載の半導体レーザ装置において
    、上記一対の半導体レーザチップが端面発光型、上記一
    対の受光素子が面受光型から成り、該一対の半導体レー
    ザチップの光軸がこれに対応する上記一対の光導波路の
    光軸とほぼ平行かつ一致し、前記一対の受光素子の光軸
    とほぼ直交していることを特徴とする半導体レーザ装置
    。 4、請求項2または3記載の半導体レーザ装置において
    、上記半導体レーザチップ、上記光導波路または上記受
    光素子を電気絶縁材料から成るサブマウント介してマウ
    ント上に積載し、該サブマウント表面にメタライズパタ
    ーンを形成したことを特徴とする半導体レーザ装置。 5、請求項2から4のいずれかに記載の半導体レーザ装
    置において、上記光導波路として、レーザ光の入射面及
    び出射面以外の側面の一部にメタライズを施したことを
    特徴とする半導体レーザ装置。 6、請求項1記載の半導体レーザ装置において、上記光
    導波路のレーザ入射面にレンズを形成したことを特徴と
    する半導体レーザ装置。 7、請求項1記載の半導体レーザ装置において、上記光
    導波路の斜め加工面を曲面形状としたことを特徴とする
    半導体レーザ装置。 8、請求項1記載の半導体レーザ装置を用い前記一対の
    半導体レーザチップの2つのレーザ光を独立に検出し、
    該レーザ光の出力を個別に制御したことを特徴とする光
    応用機器。
JP4982389A 1989-03-03 1989-03-03 半導体レーザ装置 Pending JPH02230783A (ja)

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JP (1) JPH02230783A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0560358A3 (en) * 1992-03-11 1994-05-18 Sumitomo Electric Industries Semiconductor laser and process for fabricating the same
WO2016170921A1 (ja) * 2015-04-21 2016-10-27 三菱電機株式会社 レーザー光源モジュール

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EP0560358A3 (en) * 1992-03-11 1994-05-18 Sumitomo Electric Industries Semiconductor laser and process for fabricating the same
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