JPH0223538A - 光学的情報記録再生装置 - Google Patents
光学的情報記録再生装置Info
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- JPH0223538A JPH0223538A JP17245888A JP17245888A JPH0223538A JP H0223538 A JPH0223538 A JP H0223538A JP 17245888 A JP17245888 A JP 17245888A JP 17245888 A JP17245888 A JP 17245888A JP H0223538 A JPH0223538 A JP H0223538A
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光学的情報記録再生装置におけるフォーカス
制御装置に関するもので、特に臨界角法を用いたフォー
カス制御装置に関する。
制御装置に関するもので、特に臨界角法を用いたフォー
カス制御装置に関する。
[従来の技術]
近年、光ビームを用いて情報を高密度に記録したり、あ
るいは高密度で記録した情報を高密度で再生したりでき
る光学的な記録、再生装置が実用化されつつある。
るいは高密度で記録した情報を高密度で再生したりでき
る光学的な記録、再生装置が実用化されつつある。
光学的情報記録再生装置では記録媒体に光ビームを照射
し、情報を正確に記録・再生するためにトラッキング制
御やフォーカス制御が行なわれる。
し、情報を正確に記録・再生するためにトラッキング制
御やフォーカス制御が行なわれる。
例えば特公昭80−32264号公報にはトラッキング
制御の例が示されており、トラッキングエラー信号に応
じて光ビームスポットのトラックからのずれをなくシ、
トラックに追従する様に制御している。トラッキングエ
ラー信号は、記録媒体からの透過・反射光ビームから得
ている。
制御の例が示されており、トラッキングエラー信号に応
じて光ビームスポットのトラックからのずれをなくシ、
トラックに追従する様に制御している。トラッキングエ
ラー信号は、記録媒体からの透過・反射光ビームから得
ている。
従って、光ビームを放射するレーザ光源の強度変化や記
録媒体の透過率・反射率の変化等により反射光ビームの
強度から変化するとトラッキングエラー信号が変化する
。これらの変化の影響を受けずに光ビームスポットのト
ラックからのずれをトラックエラー信号として検出する
ために、差出力によりトラックエラー信号を検出するた
めの二分割光検出器の和出力に応じて制御回路のゲイン
を調整するものである。
録媒体の透過率・反射率の変化等により反射光ビームの
強度から変化するとトラッキングエラー信号が変化する
。これらの変化の影響を受けずに光ビームスポットのト
ラックからのずれをトラックエラー信号として検出する
ために、差出力によりトラックエラー信号を検出するた
めの二分割光検出器の和出力に応じて制御回路のゲイン
を調整するものである。
[発明が解決しようとする課題]
フォーカス制御においてもフォーカスエラー信号を記録
媒体からの透過・反射光ビームから得ているので、特公
昭60−32284号公報で示す様なゲイン調整を行な
う事は有効である。
媒体からの透過・反射光ビームから得ているので、特公
昭60−32284号公報で示す様なゲイン調整を行な
う事は有効である。
しかしながら、臨界角法においてフォーカスエラー信号
検出用の光検出器の和出力をゲイン調整に用いると以下
の様な問題を生じる。
検出用の光検出器の和出力をゲイン調整に用いると以下
の様な問題を生じる。
臨界角法によるフォーカスエラー検出はその感度が高い
が周囲の圧力に影響され易い、なぜならば周囲の圧力が
変化すると1界角面に接している空気の屈折率が変化す
るために臨界角が変化するためである。その具体的な例
は特開昭62−200538号公報に記載されている。
が周囲の圧力に影響され易い、なぜならば周囲の圧力が
変化すると1界角面に接している空気の屈折率が変化す
るために臨界角が変化するためである。その具体的な例
は特開昭62−200538号公報に記載されている。
そして、フォーカスエラー信号の圧力に対する感度特性
と、フォーカスエラー信号検出用の光検出器の和出力の
圧力に対する特性とは逆の特性になる。
と、フォーカスエラー信号検出用の光検出器の和出力の
圧力に対する特性とは逆の特性になる。
従って、圧力が変化して例えばフォーカスエラー信号の
感度が低下した場合には、本来感度を上げるべくゲイン
調整がなされなければならないが、光検出器の和出力は
逆特性で増加しているためにゲインを減少させる様に制
御が働いてしまう。即ち、圧力の変化によりゲイン調整
が逆に行なわれてしまうという問題を有している。
感度が低下した場合には、本来感度を上げるべくゲイン
調整がなされなければならないが、光検出器の和出力は
逆特性で増加しているためにゲインを減少させる様に制
御が働いてしまう。即ち、圧力の変化によりゲイン調整
が逆に行なわれてしまうという問題を有している。
口課題を解決するための手段]
本発明は上記問題を解決するために、臨界角法によるフ
ォーカスエラー検出において、臨界角プリズムに入射す
る前の光ビームに相当する光量を光検出器で検出して、
この検出出力に基づきフォーカス制御における利得制御
を行なうものである。
ォーカスエラー検出において、臨界角プリズムに入射す
る前の光ビームに相当する光量を光検出器で検出して、
この検出出力に基づきフォーカス制御における利得制御
を行なうものである。
[作用コ
上記の様な手段を講じると、圧力の変化により臨界角プ
リズムの臨界角が変化しても、臨界角プリズムに入射す
る前の光ビームに相当する光量を利得制御に用いるので
、圧力の変化の影響を受けない利得制御を行なう。
リズムの臨界角が変化しても、臨界角プリズムに入射す
る前の光ビームに相当する光量を利得制御に用いるので
、圧力の変化の影響を受けない利得制御を行なう。
[実施例]
以下図面に基づき、本発明の詳細な説明する。
第1図および第2図は本発明の第1実施例を示す図であ
る。
る。
半導体レーザ1は、P偏光の光ビームを放射する。波長
は例えば830nmもしくは780nmである。半導体
レーザ1から放射された光ビームはコリメータレンズ2
で平行光となり、整形プリズム3で楕円光が日光となり
透過する。整形プリズム3を透過した光ビームは、1/
4波長板4を介して円偏光となり、対物レンズ5で微小
スポットに収束されて記録媒体6上に照射される。記録
媒体6を反射した光ビームは再び対物レンズ5を透過し
、1/4波長板4でS偏光となり整形プリズム3の偏光
面33で反射される。
は例えば830nmもしくは780nmである。半導体
レーザ1から放射された光ビームはコリメータレンズ2
で平行光となり、整形プリズム3で楕円光が日光となり
透過する。整形プリズム3を透過した光ビームは、1/
4波長板4を介して円偏光となり、対物レンズ5で微小
スポットに収束されて記録媒体6上に照射される。記録
媒体6を反射した光ビームは再び対物レンズ5を透過し
、1/4波長板4でS偏光となり整形プリズム3の偏光
面33で反射される。
偏光面33で反射された光ビームは、半透鏡プリズム7
で2分割され透過された光ビームは二分割光検出器8に
入射する。反射された光ビームは、臨界角プリズム10
で反射され二分割光検出器11に入射する。二分割光検
出器11の出力は差動増幅器12で差出力を求める。こ
れが対物レンズ5と記録媒体6との距離が合焦位置から
どちらへどの位ずれを生じているか示すフォーカスエラ
ー信号となる。フォーカスニラ−i号はAGC回路13
(オートゲインコントロール回路)でゲイン調整された
後、位相補償回路14、駆動回路15を経てフォーカス
コイル16に加え、対物レンズ5を光軸方向に移動させ
て合焦位置に保持している。一方、二分割光検出器8の
出力は加算増幅器17で和出力を得、差動増幅器18で
差出力を得ている。この和出力がR6信号(再生信号)
となり差出力がトラッキングエラー信号となる。トラッ
キングエラー信号はフォーカスエラー信号と同様に、A
GC回路19、位相補償回路20、駆動回路21を経て
トラッキングコイル22に加え、前記媒体6上で光ビー
ムのスポットがオントラックになる様に対物レンズをト
ラックと垂直な方向に移動し制御する。AGC回路13
.19のゲイン制御は、加算増幅器17の出力で行なっ
ている。
で2分割され透過された光ビームは二分割光検出器8に
入射する。反射された光ビームは、臨界角プリズム10
で反射され二分割光検出器11に入射する。二分割光検
出器11の出力は差動増幅器12で差出力を求める。こ
れが対物レンズ5と記録媒体6との距離が合焦位置から
どちらへどの位ずれを生じているか示すフォーカスエラ
ー信号となる。フォーカスニラ−i号はAGC回路13
(オートゲインコントロール回路)でゲイン調整された
後、位相補償回路14、駆動回路15を経てフォーカス
コイル16に加え、対物レンズ5を光軸方向に移動させ
て合焦位置に保持している。一方、二分割光検出器8の
出力は加算増幅器17で和出力を得、差動増幅器18で
差出力を得ている。この和出力がR6信号(再生信号)
となり差出力がトラッキングエラー信号となる。トラッ
キングエラー信号はフォーカスエラー信号と同様に、A
GC回路19、位相補償回路20、駆動回路21を経て
トラッキングコイル22に加え、前記媒体6上で光ビー
ムのスポットがオントラックになる様に対物レンズをト
ラックと垂直な方向に移動し制御する。AGC回路13
.19のゲイン制御は、加算増幅器17の出力で行なっ
ている。
第2図にAGC回路の一例を示す。
加算増幅器17の出力をA−D変換回路23テテシタル
に変換する。その出力をCPU24に送り1アナログス
イツチ25のいずれかを8bitで選択し、減衰抵抗2
6を選択する。27は差動増幅器で、反転入力端子には
差動増幅器12または18からのフォーカスエラー信号
やトラッキングエラー信号や入力し、非反転入力端子に
は減衰抵抗26が接続されている。差動増幅器27の出
力は帰還抵抗28で非反転入力端子に接続され、帰還抵
抗28と減衰抵抗26により決まる増幅率で、フォーカ
スエラー信号、またはトラッキングエラー信号が増幅さ
れる。
に変換する。その出力をCPU24に送り1アナログス
イツチ25のいずれかを8bitで選択し、減衰抵抗2
6を選択する。27は差動増幅器で、反転入力端子には
差動増幅器12または18からのフォーカスエラー信号
やトラッキングエラー信号や入力し、非反転入力端子に
は減衰抵抗26が接続されている。差動増幅器27の出
力は帰還抵抗28で非反転入力端子に接続され、帰還抵
抗28と減衰抵抗26により決まる増幅率で、フォーカ
スエラー信号、またはトラッキングエラー信号が増幅さ
れる。
以上の様に構成すれば、ゲイン制御は臨界角プリズムに
入射する前の光ビームの光111c基づいて行なわれる
ため、圧力等の影響によりフォーカスエラー信号の感度
が大きい場合には更に太き(、小さい場合には更に小さ
くという反対方向への調整を防止することができる。
入射する前の光ビームの光111c基づいて行なわれる
ため、圧力等の影響によりフォーカスエラー信号の感度
が大きい場合には更に太き(、小さい場合には更に小さ
くという反対方向への調整を防止することができる。
次に第3図に基づき本発明の第2実施例を説明する。
第1図と同じ部分には同じ符号を付し詳細は省略する。
また図示されていない部分は第1図と同じとする。
第1図と異なる点は、加算増幅器17の出力を用いてA
GC回路13のゲイン制御を行なうのではなく、光検出
9の和出力と臨界角プリズム10を透過する光を二分割
光検出器29で検出して加算増幅器30で得た和出力と
を加算増幅器31で合わせた和出力に基づきゲイン制御
を行なっている点と、半透鏡プリズム7を透過した光を
単レンズ32を介して光検出器8に入射している点であ
る。光検出器11から得た和出力は、圧力の影響を受け
て変動するが、その変動分は臨界角プリズム10を透過
する光量で示される。従って、光検出器11の和出力と
臨界角プリズム10を透過する光量を合わせれば、即ち
臨界角プリズム10に入射する前の光量を示すので、臨
界角プリズム10が圧力により受ける影響を含まない信
号となる。この信号を使用してゲイン制御を行なうこと
によりゲインの設定は圧力の影響を受けないで行なうこ
とができる。
GC回路13のゲイン制御を行なうのではなく、光検出
9の和出力と臨界角プリズム10を透過する光を二分割
光検出器29で検出して加算増幅器30で得た和出力と
を加算増幅器31で合わせた和出力に基づきゲイン制御
を行なっている点と、半透鏡プリズム7を透過した光を
単レンズ32を介して光検出器8に入射している点であ
る。光検出器11から得た和出力は、圧力の影響を受け
て変動するが、その変動分は臨界角プリズム10を透過
する光量で示される。従って、光検出器11の和出力と
臨界角プリズム10を透過する光量を合わせれば、即ち
臨界角プリズム10に入射する前の光量を示すので、臨
界角プリズム10が圧力により受ける影響を含まない信
号となる。この信号を使用してゲイン制御を行なうこと
によりゲインの設定は圧力の影響を受けないで行なうこ
とができる。
また、単レンズ32を用いて光ビームを集光するので、
受光する光検出器8は小さいもので済む。
受光する光検出器8は小さいもので済む。
次に第4図を用いて本発明の第3実施例について説明す
る。この実施例は透過型のフォーカス検出の例である。
る。この実施例は透過型のフォーカス検出の例である。
偏口プリズム3で分割され半透鏡プリズム71で反射し
た光ビームは単レンズ32を介して集光され、光検出器
8で検出されRp倍信号得る。一方、半透鏡プリズム7
1を透過する光ビームはその出射面で屈折されて方向を
変えた後、臨界角プリズム10に入射する。臨界角プリ
ズムで透過した光を二分割光検出器11で受光し、差動
増幅器12で得たその差出力をフォーカスエラー信号と
する。また、臨界角プリズム10で反射した光を二分割
光検出器29で検出し、和出力を加算増幅器30で得る
。この加算増幅器30の和出力と、光検出器11の和出
力とを加算増幅器31で得て、この信号でAGC回路1
3のゲイン制御を行なう。
た光ビームは単レンズ32を介して集光され、光検出器
8で検出されRp倍信号得る。一方、半透鏡プリズム7
1を透過する光ビームはその出射面で屈折されて方向を
変えた後、臨界角プリズム10に入射する。臨界角プリ
ズムで透過した光を二分割光検出器11で受光し、差動
増幅器12で得たその差出力をフォーカスエラー信号と
する。また、臨界角プリズム10で反射した光を二分割
光検出器29で検出し、和出力を加算増幅器30で得る
。この加算増幅器30の和出力と、光検出器11の和出
力とを加算増幅器31で得て、この信号でAGC回路1
3のゲイン制御を行なう。
この例も、第2実施例と同様にゲイン制御に用いる信号
は臨界角プリズム10に入射する前の信号に相当するの
でゲイン制御は圧力等の影響を受けないで行なうことが
できる。
は臨界角プリズム10に入射する前の信号に相当するの
でゲイン制御は圧力等の影響を受けないで行なうことが
できる。
尚、本発明は上記実施例に限られるものではな(種々の
変形が考えられる。何次ば上記実施例では偏光面で反射
した光ビームを半透鏡プリズムで2分割して、各々フォ
ーカスエラー信号用とRp倍信号びトラッキングエラー
信号用に用いているが、半透鏡プリズムで分割せずにそ
のまま臨界角プリズムに入射し、四分割光検出器で反射
光を受光し、全和光量からRp信号得、隣接する素子の
和出力の差からフォーカスエラー信号とトラッキング信
号を得て、(但し、フォーカスエラー信号を得るときと
、トラッキンプリズムの透過光と反射した全和光量から
AGC回路の制御信号を得ても良い。また、これを第3
図で示す透過型のフォーカスエラー検出に適用してもよ
い。
変形が考えられる。何次ば上記実施例では偏光面で反射
した光ビームを半透鏡プリズムで2分割して、各々フォ
ーカスエラー信号用とRp倍信号びトラッキングエラー
信号用に用いているが、半透鏡プリズムで分割せずにそ
のまま臨界角プリズムに入射し、四分割光検出器で反射
光を受光し、全和光量からRp信号得、隣接する素子の
和出力の差からフォーカスエラー信号とトラッキング信
号を得て、(但し、フォーカスエラー信号を得るときと
、トラッキンプリズムの透過光と反射した全和光量から
AGC回路の制御信号を得ても良い。また、これを第3
図で示す透過型のフォーカスエラー検出に適用してもよ
い。
[発明の効果コ
以上説明したようにこの発明によれば、臨界角法を用い
たフォーカス制御において、臨界角プリズムに入射する
前の光ビームに相当する光量を検出し、この検出出力信
号に基づいてフォーカス制御の利得制御を行なうので、
圧力に影響を受けやすい臨界角法を用いたフォーカス制
御においても圧力の影響を受けずにフォーカス制御の利
得制御を行なうことができる。
たフォーカス制御において、臨界角プリズムに入射する
前の光ビームに相当する光量を検出し、この検出出力信
号に基づいてフォーカス制御の利得制御を行なうので、
圧力に影響を受けやすい臨界角法を用いたフォーカス制
御においても圧力の影響を受けずにフォーカス制御の利
得制御を行なうことができる。
第1図は本発明の第1実施例の構成を示す図、第2図は
、第1実施例で使用しているAGC回路の一例を示す図
、第3図は、第2実施例を示す図、第4図は第3実施例
を示す図である。 10・・・臨界角プリズム、8,11.29・・・光検
出器13.19・・・AGC[l、1B・・・フォーカ
スコイル特許出願人 オリンパス光学工業株式会社(
第3 区 δ + 1..7I 第4 区 第 21
、第1実施例で使用しているAGC回路の一例を示す図
、第3図は、第2実施例を示す図、第4図は第3実施例
を示す図である。 10・・・臨界角プリズム、8,11.29・・・光検
出器13.19・・・AGC[l、1B・・・フォーカ
スコイル特許出願人 オリンパス光学工業株式会社(
第3 区 δ + 1..7I 第4 区 第 21
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光ビームを放射するレーザ光源と、前記レーザ光源から
放射された光ビームを記録媒体へと導く光学系と前記光
学系の一部で前記記録媒体からの反射光を分離する光分
割手段と、前記光分割手段により取り出された光ビーム
の少なくとも一部が入射する臨界角プリズムとを有する
光学的情報記録再生装置において、 前記臨界角プリズムに入射する前の光ビームに相当する
光量を検出する光検出器を有し、前記光検出器の出力信
号に基づきフォーカス制御の利得制御を行なうことを特
徴とする光学的情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17245888A JPH0223538A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光学的情報記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17245888A JPH0223538A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光学的情報記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0223538A true JPH0223538A (ja) | 1990-01-25 |
Family
ID=15942367
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17245888A Pending JPH0223538A (ja) | 1988-07-11 | 1988-07-11 | 光学的情報記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0223538A (ja) |
-
1988
- 1988-07-11 JP JP17245888A patent/JPH0223538A/ja active Pending
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