JPH0223704A - 温度補償回路 - Google Patents

温度補償回路

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Publication number
JPH0223704A
JPH0223704A JP63174494A JP17449488A JPH0223704A JP H0223704 A JPH0223704 A JP H0223704A JP 63174494 A JP63174494 A JP 63174494A JP 17449488 A JP17449488 A JP 17449488A JP H0223704 A JPH0223704 A JP H0223704A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
temperature compensation
compensation circuit
operational amplifier
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63174494A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Hino
樋野 均
Shigeki Yamakawa
茂樹 山川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP63174494A priority Critical patent/JPH0223704A/ja
Publication of JPH0223704A publication Critical patent/JPH0223704A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は温度変化によって部品、装置等の特性及び性
能が劣化、変化することを防止、補償する温度補償回路
に関するものである。
〔従来の技術〕
第5図は例えば、CQ出版社の“実用電子回路ハンドブ
ック”に示された従来の温度補償回路であり、図におい
て、1はシリコンダイオード、2゜3.4は抵抗、5は
シリコンダイオード1の温度依存特性を検出し、出力す
るオペアンプ、6.7はオペアンプ5の入力抵抗、8は
オペアンプ5の温度検出出力のオフセットを調整する可
変抵抗、9はオペアンプ5の帰還用抵抗、10はオペア
ンプ5の温度検出出力の検出感度を調整する可変抵抗、
11はオペアンプ5の温度検出出力端子である。
次に、動作について説明する。
シリコンダイオード1の接合電圧は温度依存特性を有し
ている。シリコンダイオード1の接合電圧は、入力抵抗
6を介し、オペアンプ5の負入力端子に入力されている
。下限の低温において、入力抵抗7を介しオペアンプ5
の正入力端子にオフセット電圧を可変抵抗8を調整する
ことにより設定しておく。
次いで、上限の高温において、温度検出出力の検出感度
を可変抵抗10を調整することにより設定する。ここで
、部品、装置の温度特性の劣化。
変化を補償する様に、オフセット電圧及び温度検出感度
を任意に可変抵抗8.10によって設定することにより
、部品、装置の温度特性の補償を行なうことができる。
温度と出力電圧、即ち温度補償電圧との関係を第6図に
示す。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の温度補償回路は以上のようにシリコンダイオード
の温度依存特性を利用して構成されており、0℃以上1
00℃以下の温度範囲においては、シリコンダイオード
の接合電圧は比較的直線的に変化するが、0℃以下の温
度では、接合電圧が直線的変化からずれる傾向の特性を
有しているため、部品、装置の温度特性の劣化、変化が
直線的で無い場合や、0℃以下の温度において温度補償
が必要な場合には、精度の良い温度補償が困難であった
り、また低温用の温度補償回路を別に設けなければなら
ないなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、部品、装置の温度特性の劣化。
変化が直線的でない場合でも、精度の良い温度補償がで
きるとともに、0℃以下の低温度範囲においても温度補
償ができ、調整も比較的容易な温度補償回路を得ること
を目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る温度補償回路は、温度検出素子に低温用
、高温用の温度トランスデユーサを用い、低、高温度範
囲を別々に温度検出し、低温度時及び高温度時の温度補
償を独立に設定できるようにするとともに、部品、装置
の温度特性の劣化、変化が直線的でない場合でも温度補
償特性を容易に設定し、温度補償を行うことができるよ
うにしたものである。
〔作用〕
この発明における温度補償回路は低温用、高温用の温度
トランスデユーサにより独立に温度検出を行い、低温度
時及び高温度時の温度補償を独立に設定するようにした
から、低温度範囲と高温度範囲とでそれぞれ独立に温度
補償を行なうことができ、さらには低温度範囲から高温
度範囲にわたって精度よく直線的に温度補償を行うこと
もでき、調整も比較的容易に行なうことができる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、12.13は温度トランスデユーサ、14
〜21は抵抗、22.23は温度トランスデユーサ12
.13からの温度に応じた電流を増幅するトランジスタ
、24.25はそれぞれのトランジスタ22.23のエ
ミッタ電流を調整し、オペアンプ5の温度検出出力の検
出感度を設定する可変抵抗である。5〜9.11は第5
図の従来の温度補償回路と同様である。
次に、動作について説明する。
常温(室温)において、入力抵抗7を介しオペアンプ5
の正入力端子にオフセント電圧を可変抵抗8を調整する
ことにより設定しておく。温度トランスデユーサ12.
13の電流は、温度に対し直線(比例)的な温度依存特
性を有している。下限の低温において、温度トランスデ
ユーサ12の電流を増幅するトランジスタ22のエミッ
タ電流を可変抵抗24にて調整することにより、温度検
出出力の低温時での検出感度を設定する。次いで、同様
に上限の温度において、温度トランスデユーサ13の電
流を増幅するトランジスタ23のエミッタ電流を可変抵
抗25にて調整することにより、温度検出出力の高温時
での検出感度を設定する。
ここで、部品、装置の温度特性の劣化、変化を補償する
様に、オフセント電圧及び低温時、高温時の温度検出感
度を任意に可変抵抗8. 24. 25によって設定す
ることにより部品、装置の温度特性の補償を行うことが
できる。温度と出力電圧、即ち温度補償電圧との関係を
第2図に示す。
なお、上記実施例では温度トランスデユーサ13.14
の電流を増幅するためにトランジスタ22.23を設け
て構成したものを示したが、この増幅素子としては第3
図の他の実施例に示すようにオペアンプ26.27とト
ランジスタ22.23とを組合せた構成としたものでも
良い。第3図において、オペアンプ26はトランジスタ
22の小信号正接感度、即ちトランジスタ22の小信号
入力時の人、出力特性の非直線性を補正するためのもの
であり、オペアンプ27は同様にトランジスタ23の小
信号正接感度を補正するためのものである。この実施例
においても、基本的には、第1図の実施例と同様な動作
をし、温度補償を行う。
そして、本実施例においてはさらにトランジスタ22.
23の小信号正接感度を補正する様にオペアンプ26.
27を追加しているため、常温時に設定したオフセット
電圧を中心に、低温度範囲から高温度範囲にわたって直
線的に温度補償することが可能となる。温度と出力電圧
、即ち温度補償電圧との関係を第4図に示す。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、温度補償回路を、温
度検出素子に低温用、高温用の温度トランスデユーサを
用いて構成したので、部品、装置の温度特性の劣化、変
化を低温度から高温度範囲にわたって精度良く補償でき
、また調整も比較的容易に行えるものが得られる効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による温度補償回路を示す
回路構成図、第2図は上記実施例の回路の温度と出力電
圧(温度補償電圧)との関係を示す動作特性図、第3図
はこの発明の他の実施例を示す回路構成図、第4図は第
3図の回路の動作特性図、第5図は従来の温度補償回路
を示す回路構成図、第6図は従来の温度補償回路の動作
特性図である。 1はシリコンダイオード、2〜4は抵抗、5はオペアン
プ、6.7は抵抗、8は可変抵抗、9は抵抗、10は可
変抵抗、11は出力端子、1213は温度トランスデユ
ーサ、14〜21は抵抗、22.23はトランジスタ、
24.25は可変抵抗、26.27はオペアンプである
。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. それぞれ低温度範囲時、高温度範囲時検出用の温度トラ
    ンスデューサからなる温度検出素子と、該温度検出素子
    の検出結果に応じてそれぞれ低温度範囲時と高温度範囲
    時とで独立に温度補償を行う温度補償手段とを備えたこ
    とを特徴とする温度補償回路。
JP63174494A 1988-07-12 1988-07-12 温度補償回路 Pending JPH0223704A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63174494A JPH0223704A (ja) 1988-07-12 1988-07-12 温度補償回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63174494A JPH0223704A (ja) 1988-07-12 1988-07-12 温度補償回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0223704A true JPH0223704A (ja) 1990-01-25

Family

ID=15979473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63174494A Pending JPH0223704A (ja) 1988-07-12 1988-07-12 温度補償回路

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JP (1) JPH0223704A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015070481A (ja) * 2013-09-30 2015-04-13 富士電機株式会社 センサ信号出力回路およびセンサ信号出力回路の調整方法

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