JPH02237217A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPH02237217A
JPH02237217A JP1058153A JP5815389A JPH02237217A JP H02237217 A JPH02237217 A JP H02237217A JP 1058153 A JP1058153 A JP 1058153A JP 5815389 A JP5815389 A JP 5815389A JP H02237217 A JPH02237217 A JP H02237217A
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JP
Japan
Prior art keywords
transistor
circuit
electrode
field effect
emitter
Prior art date
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Pending
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JP1058153A
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English (en)
Inventor
Akihiro Kusakari
草刈 彰広
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [概 要] 半導体集積回路、特にハイボーラ・MOS}ランジスタ
混在回路において、前段のエミッタフオロア出力により
、直接、後段のPチャネル型のMOS}ランジスクを駆
動する回路に関し、前段出力回路のヘース・エミッタ電
圧の影響を取り除き、後段入力回路の入カレヘルを共通
線の電位まで引き上げることを目的とし、 コレクタ電極が、共通線に接続される第1.2のnpn
型のトランジスタから成る前段出力回路と、ソース電極
が、前記共通線に接続される第12のPチャンネル型の
電界効果トランジスタから成る後段入力回路とを具備し
、前記第1のnpn型のトランジスタのエミソタ電極が
第1のPチャンネル型の電界効果トランジスタのゲー1
・電極に接続され、前記第2のnpn型のトランジスタ
のエミック電極が第2のPチャンネル型の電界効果トラ
ンジスタのゲート電極に接続される半導体集積回路にお
いて、 前記前段出ノ]回路と、後段入力回路との間に第3 4
のPチャンネル型の電界効果トランジスタを設け、前記
第3のPチャンネル型の電界効果トランジスタのゲート
電極は、前記第1のnpn型のトランジスタのベース電
極に接続され、かつ該第3のPチャンネル型の電界効果
トランジスタのソース及びドレイン電極が、それぞれ前
記共通線と、前記第2のnpn型のトランジスタのエミ
ッタ電極とに接続され、前記第4のpチャンネル型の電
界効果トランジスタのゲート電極は、前記第2のnpn
型のトランジスタのヘースN.Ffiに接続され、かつ
該第4のPチャンネル型の電界効果トランジスタのソー
ス及びドレイン電極が、それぞれ前記共通線と、前記第
1のnpn型トランジスタのエミッタ電極とに接続され
ていることを含み構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体集積回路に関するものであり、更に詳
しく言えばハイボーラ・MOSI−ランジス夕混在回路
において、エミンクフオロア出力により、直接Pチャネ
ル型のMOSI−ランジスクを駆動する回路に関するも
のである。
近年、高速動作をするF. C L (Emitter
 Coupled1、ogic)回路等にバイボーラト
ランジスタ回路を用い、読出し線選択回路等に電界効果
型トランジスタを使用したハイボーラ・MOS}ランジ
スタ混在回路が利用されている ところで、エミックフオロア出力により、直接、Pチャ
ンネルもMOS}ランジスタ回路を駆動すると、バイボ
ーラトランジスタのヘース・エミツタ電圧の影響が現れ
る。これにより、PチャンネルMOS+−ランジスタ回
路のゲート入力電圧が不安定になって、該回路が誤動作
をするという問題がある。
そこで、ベース・エミッタ電圧の影響を取り除いて、P
チャンネルMOS}ランジスタ回路を安定に動作させる
回路の要望がある。
〔従来の技術〕
第3.4図は、従来例に係る説明図である。
第3図は、従来例の半導体集積回路装置に係る説明図を
示している。
図において、メモリ回路等の読出しアンプ回路は、np
n型のトランジスタQl1、Q12から成るスイッチン
グ回路と、npn型のトランジスタQ13,Q14から
成るE C T−回路と、pchMOS}ランジスタT
l1、T12から成る駆動出力回路より構成されている
VBEIは、トランジスタQ13のベース・エミッタ電
圧であり、共通線■SSの電位を0[v1、電源線VC
Cの電圧を−5.2[V]  とすると、約0.7〜0
.8 [V] 程度である。
第4図は、従来例に係る問題点を説明する図である。
図において、3はpchMOs}ランジスタT12の入
力電圧波形であり、E C L回路のトランジスタQ1
4のベースに「H」を人力することによって、p c 
hMOs }ランジスタT12を駆動したものである。
この入力電圧波形3は、r1、レヘルが−5.2[V]
であり、rHJ’レベルが−0.8[V] である。こ
れは、トランジスタQI4のヘース・エミッタ電圧VB
E2の影響により、川−IJ  ’レベルが共通線■S
Sの電位OV=rH,レヘルに到達しないものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
従って、p c hMOs }ランジスクT14の闇値
電圧νthを−0.81ν]程度とすると、ri−rJ
′レヘルに包まれる少量のノイズ信号によって、pch
MOs}ランジスタT14が導通したり、導通しなかっ
たりすることがある。
このため、ノイズマージンが低下し、pchMOSトラ
ンジスタTl1、TI2を含む後段入力回路のトランジ
スタ動作が不安定になるという状態を招く。
これにより、当該読出しアンプ回路等の信頼度が低下す
るという問題がある。
本発明は、かかる従来の問題点に鑑ノで創作されたもの
であり、前段出力回路のヘース・エミッタ電圧の影響を
取り除き、後段入力回路の入力信号レベルを共通線の電
位まで引き上げることを可能とする半導体集積回路の提
供を目的とする。
〔課題を解決するための手段] 第1図は、本発明の半導体集積回路に係る原理図を示し
ている。
その回路は、コレクタ電極CI,C2が、共通線VSS
に接続される第1.2のnprl型のトランジスタQl
.Q2から成る前段出力回路1と、ソース電極Sl.S
2が、前記共通線■ssに接続される第1,2のPチャ
ンネル型の電界効果トランジスタT1、T2から成る後
段入力回路2とを具備し、 前記第1のnpn型のトランジスタQ1のエミッタ電極
E1が第1のPチャンネル型の電界効果トランジスタT
1のゲート電極G1に接続され、前記第2のnpn型の
トランジスタQ2のエミッ夕電極E2が第2のPチャン
ネル型の電界効果トランジスタT2のゲー1・電極G2
に接続される半導体集積回路において、前記前段出力回
路1と、後段入力回路2との間に第3,4のPチャンネ
ル型の電界効果トランジスタT3,T4を設け、前記第
3のPチャンネル型の電界効果トランジスタT3のゲー
ト電極G3は、前記第1のnpn型のトランジスタQ1
のヘース電極B1に接続され、かつ該第3のPチャンネ
ル型の電界効果トランジスタT3のソース及びドレイン
電極S3及びD3が、それぞれ前記共通線■SSと、前
記第2のnpn型のトランジスタQ2のエミッタ電極E
2とに接続され、前記第4のpチャンネル型の電界効果
トランジスタT4のゲート電極G4は、前記第2のnp
n型のトランジスタQ2のベース電極B2に接続され、
かつ該第4のPチャンネル型の電界効果トランジスタT
4のソース及びドレイン電極S4及びD4が、それぞれ
前記共通線■SSと、前記第1のnpn型トランジスタ
Q1のエミッタ電極E1とに接続されていることを特徴
とし、上記目的を達成する。
〔作 用] 本発明によれば、前段出力回路1と、後段入方回路2と
の間に、第3,4のPチャンネル型の電界効果トランジ
スタT3,T4が設けられている。
このため、例えば、第1のnpn型のトランジスタQl
のベース電極Blに「L」レベル,第2のnpn型のト
ランジスタQ2のベース電極B2に「■]」レベルの信
号がそれぞれ入力されると、次の動作が可能となる。す
なわち第2のnpn型のトランジスタQ2が導通して、
そのエミッタ出力は、該第2のnpl型のトランジスタ
Q2のべ一ス・エミッタ電圧VBEだけ電位が下るもの
のゲート電極63が第Iのnpn型トランジスタQ1の
ベース電極B1に接続された第3のPチャンネル型の電
界効果トランジスタT3が導通することにより、第2の
npn型のトランジスタQ2のエミッタ出力を共通線■
SSの電位に引き上げることができる。
同様に、第1のnpn型のトランジスタQ 1 0)ベ
ース電極B1に「I]」レベル.第2のnpn型のトラ
ンジスタQ2のヘース電極2に「L」レヘルの信号がそ
れぞれ人力された場合においても、第1のn p n 
型のトランジスタQ1のエミンタ出力を共通綿■SSの
電位に引き上げることが可イ指となる。
これにより、従来に比べて、ノイズマージンを大きくす
ることができ、第1,2のPチャネル型の電界効果トラ
ンジスタTI,T2を含む後段入力回路のトランジスタ
動作を安定させることが可能となる。
[実施例] 次に図を参照しながら本発明の実施例について説明をす
る。
第2図は、本発明の実施例に係る半導体集積回路に係る
説明図であり、半導体記憶装置等のセンスアンプ回路を
示している。
図において、前段出力回路Iはnpn型のトランジスタ
Ql〜Q4,負荷抵抗1?L1,RL2及び定電流源I
Q − I 2から成る。トランジスタQ3,Q4及び
負荷抵抗RLI,RT=2ばスイッチング回路であり、
トランジスタQ3,Q4の両エミッタ電極は、相互に接
続されて定電流源■0に至る。また、トランジスタQ3
,Q4のコレクタ電極は、それぞれ負荷抵抗RLI,R
L2を介して共通線VSS=o f:V)に接続されて
いる。そして、トランジスタQ1,2のヘース電極に入
ノノ信号if,i2が供給されると、コレクタ出力がr
HJ,又は「I、」レベルになる。
1〜ランジスタQl.Q2は、EC I− (Emit
terCoupled Logic)回路であり、トラ
ンジスタQ1、Q2のコレクタ電極C1、C2は、共通
綿VSS=O (V)に接続されている。また、スイッ
チング回路からの出力は、それぞれトランジスタQIQ
2のベース電極B1、B2に接続される。
トランジスタQ1、Q2のエミッタ電極EIE2は、そ
れぞれ定電流源II,+2及び後段入力回路2のpch
MOs}ランジスタT1、T2のゲート電極G1、G2
に接続される。
また、後段入力回路2は、pchMOs}ランジスタT
1、T2から成る。pchMOsl・ランジスタTI 
 T2のソース電極S1、S2は共通線VSS=o f
:V:lに接続され、ドレイン電極DJ,D2は他の回
路に接続される。
これまでは、従来例のセンスアンプ回路と同様であるが
、本発明の実施例では、さらに前段出力回路1と後段入
力回路2との間に、pchMOsトランジスタT3,T
4を設けている。
このpchMOs}ランジスタT3,T4のゲト電極C
,3, G/Iは、前段出力回路1のトランジスタQ1
、Q2のベース電極B1、B2にそれぞれ接続される。
また、pchMOshランジスタT3,T/Iのソース
電極S3,S4は、共通線VSS=0 (V)に接続さ
れる。
さらに、pchMOsI・ランジスクT3のドレイン電
極D3が前段出力回路1のトランジスタQ2のエミッタ
電極E2に接続され、同様にpchMOSI−ランジス
タT4のドレイン電極D4がトランジスタQ1のエミッ
タ電極E1にそれぞれ接続される。
このようにして、前段出力回路1と後段入力回路2との
間に、pchMOsトランジスタT3T4が設けられて
いる。
このため、次のような動作が可能となる。例えば、まず
スイッチング回路のトランジスタQ3Q4のベース電極
ムこil−rHJ,i2=「L,1レヘルの信号が入力
されると、トランジスタQ3が導通し、駆動電流Tdが
流れることによって、E C L回路のトランジスタQ
1のヘース入力A点が「H」レベル,同様にトランジス
タQ2のベース入力B点がr J− Jレヘルになる。
次いで、E C L回路のトランジスタQ2が導通して
、そのエミンタ出力は、該トランジスタQ2のベース・
エミソタ電圧VBE分だけ電位が下がるものの、ゲー1
・電極G3がトランジスタQ1のベース電極1に接続さ
れたpchMOs}ランジスタT3が導通することによ
り、トランジスタQ2のエミンタ出力を共通綿VSSの
電位O (V)に引き上げることが可能となる。
同様に、スイッチング回路のトランジスタQ3Q4のヘ
ース電極の人力信号が反転して、il=Ng ,i 2
−N{」レヘルになった場合、ECI,回路のトランジ
タQ1のベース入力A点が「L」レベル,トランジスタ
Q2のベース入力B点が[I]」 レベルになる。
次いで、E C L回路のトランジスタQ1が導通して
、そのエミッタ出力は、該トランジスタQ1がベース・
エミッタ電圧VBEI分だけ電位が下がるものの、ゲー
ト電極G4がトランジスタQ2のベース電極B2に接続
されたpchMOs}ランジスタT4が導通することに
より、トランジスタQ1のエミッタ出力を共通線■SS
の電位O[V)に引き上げることが可能となる。
これにより、従来に比べてノイズマージンを大きくする
ことができ、pchMOs}ランジスクT1、T2を含
む後段入力回路2のトランジスタ動作を安定させること
ができる。
〔発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、前段出力回路と、
後段入力回路との間に設けたpchMoSトランジスタ
によって、前段出力回路のエミッタ出力を共通線の電位
とほとんど等しくすることができる。
このため、ノイズマージンが大きくなり、後段入力回路
以降のトランジスタ動作を安定させることが可能となる
これにより、高性能,高信頼度の半導体集積回路装置の
製造に寄与するところが大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の半導体集積回路に係る原理図、 第2図は、本発明の実施例の半導体集積回路に係る説明
図、 第3図は、従来例の半導体集積回路に係る説明図、 第4図は、従来例に係る問題点を説明する図である。 (符号の説明) 1・・・前段出力回路、 2・・・後段入力回路、 Q1、Q2・・・npn型のトランジスタ、T1〜T4
・・・Pチャンネル型の 電界効果トランジスタ、 CI  C2・・・コレクタ電極、 BI  B2・・・ベース電極、 EI  E2・・・エミック電極、 G1〜G4・・・ゲート電極、 81〜S4・・・ソース電極、 D1〜D4・・・ドレイン電極、 VSS・・・共通線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 コレクタ電極(C1、C2)が、共通線(VSS)に接
    続される第1、2のnpn型のトランジスタ(Q1、Q
    2)から成る前段出力回路(1)と、ソース電極(S1
    、S2)が、前記共通線(VSS)に接続される第1、
    2のPチャンネル型の電界効果トランジスタ(T1、T
    2)から成る後段入力回路(2)とを具備し、 前記第1のnpn型のトランジスタ(Q1)のエミッタ
    電極(E1)が前記第1のPチャンネル型の電界効果ト
    ランジスタ(T1)のゲート電極(G1)に接続され、 前記第2のnpn型のトランジスタ(Q2)のエミッタ
    電極(E2)が第2のPチャンネル型の電界効果トラン
    ジスタ(T2)のゲート電極(G2)に接続される半導
    体集積回路において、前記前段出力回路(1)と、後段
    入力回路(2)との間に第3、4のPチャンネル型の電
    界効果トランジスタ(T3、T4)を設け、 前記第3のPチャンネル型の電界効果トランジスタ(T
    3)のゲート電極(G3)は、前記第1のnpn型のト
    ランジスタ(Q1)のベース電極(B1)に接続され、
    かつ該第3のPチャンネル型の電界効果トランジスタ(
    T3)のソース及びドレイン電極(S3及びD3)が、
    それぞれ前記共通線(VSS)と、前記第2のnpn型
    のトランジスタ(Q2)のエミッタ電極(E2)とに接
    続され、 前記第4のpチャンネル型の電界効果トランジスタ(T
    4)のゲート電極(G4)は、前記第2のnpn型のト
    ランジスタ(Q2)のベース電極(B2)に接続され、
    かつ該第4のPチャンネル型の電界効果トランジスタ(
    T4)のソース及びドレイン電極(S4及びD4)が、
    それぞれ前記共通線(VSS)と、前記第1のnpn型
    トランジスタ(Q1)のエミッタ電極(E1)とに接続
    されていることを特徴とする半導体集積回路。
JP1058153A 1989-03-10 1989-03-10 半導体集積回路 Pending JPH02237217A (ja)

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