JPH02242522A - 誘電体磁器組成物 - Google Patents
誘電体磁器組成物Info
- Publication number
- JPH02242522A JPH02242522A JP1062415A JP6241589A JPH02242522A JP H02242522 A JPH02242522 A JP H02242522A JP 1062415 A JP1062415 A JP 1062415A JP 6241589 A JP6241589 A JP 6241589A JP H02242522 A JPH02242522 A JP H02242522A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dielectric
- composition
- weight
- parts
- quality
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は誘電率、絶縁抵抗、絶縁破壊電圧が高く、良好
度Qにすぐれ、静電容量温度係数が小さく、かつ積層セ
ラミックコンデンサへの利用においては、内部電極の厚
みを薄くしたときの静電容量と良好度Qの低下を防ぎ、
静電容量と良好度Qのバラツキを小さくできる誘電体磁
器組成物に関するものである。
度Qにすぐれ、静電容量温度係数が小さく、かつ積層セ
ラミックコンデンサへの利用においては、内部電極の厚
みを薄くしたときの静電容量と良好度Qの低下を防ぎ、
静電容量と良好度Qのバラツキを小さくできる誘電体磁
器組成物に関するものである。
従来の技術
従来から誘電率、絶縁抵抗が高く、良好度Qにすぐれ、
静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として、下
記のような系が知られている。
静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として、下
記のような系が知られている。
−Bad−TiO2−Nd2O3系
−Ba0−TiO2−Sm2O3系
発明が解決しようとする課題
しかし、これらの組成は、例えば0.11BaO−o、
6 s TiO□−0,21Nd2O3の組成比からな
る誘電体材料を使用し、パラジウムの内部電極厚み4μ
m、誘電体厚み12μm、内部電極の重なり寸法1.2
・慴×0.7請、誘電体層数19の積層構造をもつ積層
セラミックコンデンサを作製すると、静電容量の平均値
ニア42pF、良好度Qの平均値:8700、静電容量
温度係数の平均値:N 35 p p m / ”C1
絶縁抵抗の平均[直:6.0X1012Ω、絶縁破壊強
度の平均値:117kv/mπであり、絶縁抵抗と絶縁
破壊強度において満足のできる値ではない。まだ、結晶
粒径が1〜5μmと大きいため、素体中の気孔率が大き
くなるとともに結晶粒子1個当たりにかかる電界強度が
犬きくなり、絶縁破壊強度も満足のできる直ではない。
6 s TiO□−0,21Nd2O3の組成比からな
る誘電体材料を使用し、パラジウムの内部電極厚み4μ
m、誘電体厚み12μm、内部電極の重なり寸法1.2
・慴×0.7請、誘電体層数19の積層構造をもつ積層
セラミックコンデンサを作製すると、静電容量の平均値
ニア42pF、良好度Qの平均値:8700、静電容量
温度係数の平均値:N 35 p p m / ”C1
絶縁抵抗の平均[直:6.0X1012Ω、絶縁破壊強
度の平均値:117kv/mπであり、絶縁抵抗と絶縁
破壊強度において満足のできる値ではない。まだ、結晶
粒径が1〜5μmと大きいため、素体中の気孔率が大き
くなるとともに結晶粒子1個当たりにかかる電界強度が
犬きくなり、絶縁破壊強度も満足のできる直ではない。
さらに、積層セラミックコンデンサのコストダウンを行
うため、および素体内部の構造欠陥であるデラミネーシ
ョンの発生を防ぐため、パラジウムの内部電極厚みを4
μmから2μmに薄くすると、上記の組成比の誘電体材
料を使用し、上記の誘電体厚み、内部電葦重なシ寸法、
誘電体層数の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサ
の静電容量の平均値が610 pFと小さくなるととも
に静電容量のバラツキが266〜了13 pF ト大き
くなる。さらに、良好度Qの平均直も4000と低くな
るとともに良好+tQのバラツキが600〜8800と
大きくなるという課題があった。
うため、および素体内部の構造欠陥であるデラミネーシ
ョンの発生を防ぐため、パラジウムの内部電極厚みを4
μmから2μmに薄くすると、上記の組成比の誘電体材
料を使用し、上記の誘電体厚み、内部電葦重なシ寸法、
誘電体層数の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサ
の静電容量の平均値が610 pFと小さくなるととも
に静電容量のバラツキが266〜了13 pF ト大き
くなる。さらに、良好度Qの平均直も4000と低くな
るとともに良好+tQのバラツキが600〜8800と
大きくなるという課題があった。
課題を解決するだめの手段
57、
これらの課題を解決するために本発明は、一般弐XBa
O−7[:’(’rio2)(1−、n)(ZrO2)
、n’:1−zRe206と表した時、 (ただし−X+y+Z=1.OO o、001≦m≦0.200 Re203は、La2oイPr2o、1/3、Nd2o
5、Sm2O3から選ばれる少なくとも一種以上の希土
類元素の酸化物) x、y、zが以下に表す各点a、b、c、d。
O−7[:’(’rio2)(1−、n)(ZrO2)
、n’:1−zRe206と表した時、 (ただし−X+y+Z=1.OO o、001≦m≦0.200 Re203は、La2oイPr2o、1/3、Nd2o
5、Sm2O3から選ばれる少なくとも一種以上の希土
類元素の酸化物) x、y、zが以下に表す各点a、b、c、d。
e、fで囲まれるモル比の範囲からなる主成分100重
量部に対し、副成分としてバナジウム酸化物ヲV、、0
5に換3E Lテo、oo es 〜1.oooN量部
含有したことを特徴とする誘電体磁器組成物を提案する
ものである。
量部に対し、副成分としてバナジウム酸化物ヲV、、0
5に換3E Lテo、oo es 〜1.oooN量部
含有したことを特徴とする誘電体磁器組成物を提案する
ものである。
作 用
第1図は本発明にかかる組成物の主成分の組成範囲を示
す三元図であシ、主成分の組成範囲を限定した理由を第
1図を参照しながら説明する。第1図において、A@域
では焼結が著しく困慮である。また、B領域では良好度
Qが低下し実用的でなくなる。さらに、C,D頂戦では
静電容量温度係数がマイナス側に犬きくなりすぎて実用
的でなくなる。そして、E領域では静電容量温度係数が
プラス方向に移行するが誘電率が小さく実用的でなくな
る。また、Re2O3をLa2o5、Pr2o1173
、Nd2O,、Sm2O3から選ぶことによfi、La
2o5、Pr20.、.5、Nd2o5、Sm203(
7)順で誘電率を大きく下げることなく、静電容量温度
係数をプラス方向に移行することが可能であり、La2
o5、Pr2011/3.Nd2o3,5m2o5の1
種あるいは組合せにより静電容量温度係数の調節が可能
である。
す三元図であシ、主成分の組成範囲を限定した理由を第
1図を参照しながら説明する。第1図において、A@域
では焼結が著しく困慮である。また、B領域では良好度
Qが低下し実用的でなくなる。さらに、C,D頂戦では
静電容量温度係数がマイナス側に犬きくなりすぎて実用
的でなくなる。そして、E領域では静電容量温度係数が
プラス方向に移行するが誘電率が小さく実用的でなくな
る。また、Re2O3をLa2o5、Pr2o1173
、Nd2O,、Sm2O3から選ぶことによfi、La
2o5、Pr20.、.5、Nd2o5、Sm203(
7)順で誘電率を大きく下げることなく、静電容量温度
係数をプラス方向に移行することが可能であり、La2
o5、Pr2011/3.Nd2o3,5m2o5の1
種あるいは組合せにより静電容量温度係数の調節が可能
である。
また、TiO2をZr 02で置換することにょ)。
誘電率、良好度Q、静電容量温度係数、絶縁抵抗の値を
大きく変えることなく、結晶粒径を小さく7 、、 し、絶縁破壊強度を大きくする効果を有し、その置換率
mが0.001未満では置換効果はなく、方、o200
を纏えると誘電率、良好度Q、絶縁抵抗が低下する。
大きく変えることなく、結晶粒径を小さく7 、、 し、絶縁破壊強度を大きくする効果を有し、その置換率
mが0.001未満では置換効果はなく、方、o200
を纏えると誘電率、良好度Q、絶縁抵抗が低下する。
第2図は本発明にかかる組成物○主成分に対し、副成分
v205の含有効果を積層セラミックコンデンザの・特
性で示すグラフであシ、v205の含有範囲を限定した
理由をグラフを参照しながら説明する。第2図に示すよ
うにv2o!iを含有することにより、絶縁抵抗、絶縁
破壊強度が向、ヒし、また静電容量と良好度Qを高め、
静電容量と良好度Qのバラツキを小さくする効果を有す
る。そして、v205の含有により、絶縁抵抗、他線破
壊強度は向上するが、v205の含有液が主成分100
重量部に対し−0,005重叶部未満壮#遊容量と良好
度Qが低く、まだ静電容量と良好度Qのバラツキが大き
いため、この発明の範囲から除外した。
v205の含有効果を積層セラミックコンデンザの・特
性で示すグラフであシ、v205の含有範囲を限定した
理由をグラフを参照しながら説明する。第2図に示すよ
うにv2o!iを含有することにより、絶縁抵抗、絶縁
破壊強度が向、ヒし、また静電容量と良好度Qを高め、
静電容量と良好度Qのバラツキを小さくする効果を有す
る。そして、v205の含有により、絶縁抵抗、他線破
壊強度は向上するが、v205の含有液が主成分100
重量部に対し−0,005重叶部未満壮#遊容量と良好
度Qが低く、まだ静電容量と良好度Qのバラツキが大き
いため、この発明の範囲から除外した。
方、v205の含有縫が主成分に対し、1. OO0重
量部を戦えると良好度Q、絶縁抵抗が低下し、静電容量
温度係数がマイナス側に大きくなり、実用的でなくなる
。
量部を戦えると良好度Q、絶縁抵抗が低下し、静電容量
温度係数がマイナス側に大きくなり、実用的でなくなる
。
本発明′dさらに、上記祖戎物に、マンガン、亜鉛、鉄
およびケイ素の駿化物から選ばれる少なくとも一種以上
を、そ凡ぞれMn02= ZnOFe2O3およびS
iO□に換算して主・成分と副成分を合わせた100重
量部に対し、0.06〜1.00重量部添加せしめた構
1戎とすることができる。これらの添加物は磁器の暁@
畦を向上させる効果を有し、その添加量が0.05重量
部未満では添加効果はなく。
およびケイ素の駿化物から選ばれる少なくとも一種以上
を、そ凡ぞれMn02= ZnOFe2O3およびS
iO□に換算して主・成分と副成分を合わせた100重
量部に対し、0.06〜1.00重量部添加せしめた構
1戎とすることができる。これらの添加物は磁器の暁@
畦を向上させる効果を有し、その添加量が0.05重量
部未満では添加効果はなく。
一方、1.00重量部を吠えると誘電率が低下し実用的
でなくなる。
でなくなる。
実施例
以下に、本発明を具体的実施例により説明する。
(実施例1)
出発原料には化学的に高純度のBaCO3,’rio2
、ZrOLaOPro 、Nd2O3、Sm2032
− 23− 6 Nおよびv205扮
末乞下記の第1表に示す組成比になるように装置し、め
Dうボールを備えたゴム内張りのボールミルに純水とと
もに入れ、湿式混合後、脱水乾燥した。この乾茅粉末を
高アルミナ質9 ぺ−1 のルツボに入れ、空気中で11oo”cにて2時間仮焼
した。この仮焼粉末を、めのうボールを備えたゴム内張
りのボールミルに純火とともに入れ、湿式粉砕後、脱水
乾燥した。この粉砕粉末に、有機バインダーを加え、均
質とした寓、32メソシユのふるいを通して整粒し、金
型と油圧プレスを用いて成形圧力1tOn/CrIで直
径15φπ、厚み0.4顧に成形した。次いで、成形円
板をジルコニア粉末を“放いたアルミナ質のサヤに入れ
、空気中にて下記の第1表に示す組成比の誘電体磁器を
得た。
、ZrOLaOPro 、Nd2O3、Sm2032
− 23− 6 Nおよびv205扮
末乞下記の第1表に示す組成比になるように装置し、め
Dうボールを備えたゴム内張りのボールミルに純水とと
もに入れ、湿式混合後、脱水乾燥した。この乾茅粉末を
高アルミナ質9 ぺ−1 のルツボに入れ、空気中で11oo”cにて2時間仮焼
した。この仮焼粉末を、めのうボールを備えたゴム内張
りのボールミルに純火とともに入れ、湿式粉砕後、脱水
乾燥した。この粉砕粉末に、有機バインダーを加え、均
質とした寓、32メソシユのふるいを通して整粒し、金
型と油圧プレスを用いて成形圧力1tOn/CrIで直
径15φπ、厚み0.4顧に成形した。次いで、成形円
板をジルコニア粉末を“放いたアルミナ質のサヤに入れ
、空気中にて下記の第1表に示す組成比の誘電体磁器を
得た。
このようにして得られた誘電体磁器円板は、厚みと直径
を測定し、誘電率、良好IQ、静覗容量温度係数測定用
試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電極を焼き付け
、絶縁抵抗、杷縁破壊強度測定用試料は、誘電体磁器円
板の外周より内側に1魔の唱で銀電極の無い部分を設け
、銀電極を焼き付けた。そして誘電率、良好度Q、静五
容量温度係数は、YHP社製デジタルLCRメータのモ
デル4275Aを使用し、測定温度20゛C1測定10
、、−7 電圧1.OVrms 、測定周波数IMl−1zでの測
定より求めた。なお、静電容量温度係数、げ、20’C
185゛Cの静電容量を測定し1次式により求めた。
を測定し、誘電率、良好IQ、静覗容量温度係数測定用
試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電極を焼き付け
、絶縁抵抗、杷縁破壊強度測定用試料は、誘電体磁器円
板の外周より内側に1魔の唱で銀電極の無い部分を設け
、銀電極を焼き付けた。そして誘電率、良好度Q、静五
容量温度係数は、YHP社製デジタルLCRメータのモ
デル4275Aを使用し、測定温度20゛C1測定10
、、−7 電圧1.OVrms 、測定周波数IMl−1zでの測
定より求めた。なお、静電容量温度係数、げ、20’C
185゛Cの静電容量を測定し1次式により求めた。
TG=(C−Go )/Co X 1/65X106T
C:静電容量温度係数(ppm/℃)Go:20”Cで
の静電容−1廿(pF)G:BE5’Qでの静電容量C
pF )まだ、誘電率は次式より求めた。
C:静電容量温度係数(ppm/℃)Go:20”Cで
の静電容−1廿(pF)G:BE5’Qでの静電容量C
pF )まだ、誘電率は次式より求めた。
K −143,8X Co X t/D2K :誘電
率 CO:20’Cでの静電容量(pF) D :誘電体磁器の直径(πm) t :誘電体磁器の厚み(yym ) さらに、絶縁抵抗は、YHP社製HRメータのモデ#4
329Aを使用し、測定電圧5 Q V、D、C。
率 CO:20’Cでの静電容量(pF) D :誘電体磁器の直径(πm) t :誘電体磁器の厚み(yym ) さらに、絶縁抵抗は、YHP社製HRメータのモデ#4
329Aを使用し、測定電圧5 Q V、D、C。
測定時間1分間による測定より求めた。
そして、絶縁破壊強度は、菊水電子工業:掬製高電圧電
源Pf(535に一3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速変50V/secにより求めた絶禄
彼壊電圧を誘電体厚みで除算し、11 /、−7 1廖当シの絶縁破壊強度とした。また、結晶粒径は1倍
率400での光学顕微鏡観察より求めた。
源Pf(535に一3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速変50V/secにより求めた絶禄
彼壊電圧を誘電体厚みで除算し、11 /、−7 1廖当シの絶縁破壊強度とした。また、結晶粒径は1倍
率400での光学顕微鏡観察より求めた。
試験条件を第1表に併せて示し、試験結果を下記の第2
表に示す。
表に示す。
(以下余 白)
13へ
14、−ノ
(実施例2)
出発原料には化学的に高純度のBaCO3,TiO2、
zrO2、L?L203. Pr60.、− Nd
2O3,Sm2O3゜v2051Mno2、ZnO、F
e2O,、および$102粉末を下記の第3表に示す組
成比になるように秤量し、それ以後は、実施例1の場合
と同様に処理して第3表に示す組成比の透電体磁器を得
た。
zrO2、L?L203. Pr60.、− Nd
2O3,Sm2O3゜v2051Mno2、ZnO、F
e2O,、および$102粉末を下記の第3表に示す組
成比になるように秤量し、それ以後は、実施例1の場合
と同様に処理して第3表に示す組成比の透電体磁器を得
た。
これらの試料の試験方法は、実施例1と同様であり、試
験条件を第3表に併せて示し、試験結果を下記の第4表
に示す。
験条件を第3表に併せて示し、試験結果を下記の第4表
に示す。
(以 下 余 白)
17 ヘー/
(実施例3)
呂発原料には化学的に高純度のBaCO3,TiO2゜
ZrOLa OPr ONd O、Sm2032 智
25 − 611− 25およ
びv205粉末を使用し、主成分0.11 BaO−0
−68((T iOz ) o、 9 (Zr O2)
ol) O−21Nd 205に対シ、v205を
OO,001,0,0050,010,0,10o、
1.000.2.000 wtH含有した坂焼扮砕粉を
実施例1と同様の方法で作製する。ただし、v205
含有量0,0.0012、○0OWt(Xは、この発
明の範囲外であり、0.005.0.010.0.10
0,1.000 wt%は、この発明の範囲内である。
ZrOLa OPr ONd O、Sm2032 智
25 − 611− 25およ
びv205粉末を使用し、主成分0.11 BaO−0
−68((T iOz ) o、 9 (Zr O2)
ol) O−21Nd 205に対シ、v205を
OO,001,0,0050,010,0,10o、
1.000.2.000 wtH含有した坂焼扮砕粉を
実施例1と同様の方法で作製する。ただし、v205
含有量0,0.0012、○0OWt(Xは、この発
明の範囲外であり、0.005.0.010.0.10
0,1.000 wt%は、この発明の範囲内である。
この仮焼粉砕粉末に、有機バインダー、可塑剤、分散剤
、有機溶剤を加え、アルミナボールを備えたポリエチレ
ン製ポットで混合し、スラリーを作製した。混合後、3
00メソシユのナイロン布を使用し、ろ過した。ろ過後
のスラリーは、ドクターブレードにより、焼結後の誘電
体厚みが12μmとなるように、離型処理をしたポリエ
ステルフィルム上にシートを成形した。
、有機溶剤を加え、アルミナボールを備えたポリエチレ
ン製ポットで混合し、スラリーを作製した。混合後、3
00メソシユのナイロン布を使用し、ろ過した。ろ過後
のスラリーは、ドクターブレードにより、焼結後の誘電
体厚みが12μmとなるように、離型処理をしたポリエ
ステルフィルム上にシートを成形した。
8A−2
次に、ポリエステルフィルムから剥したシー1〜10枚
を支持台の上に、積層した。この上に、昭栄化学・、掬
裏向部電極パラジウムベース)ML3724を焼結後の
内部電極厚みが2μmとなるようにスクリーン印刷し、
乾燥した。この上にポリエステルフィルムから剥したシ
ート1枚を積層した。この上に、焼結後の内部電極重な
り寸法が1.2717ffX0.7fffflとなるよ
うに印刷位置をずらして内部電盃パラジウムペーストを
印刷し、乾燥後、ポリエステルフィルムから剥したシー
ト1枚を積層した。これらの操作を、誘電体層数が19
となるまで操り返しだ。この上に、ポリエステルフィル
ムから剥したシート10攻を積層した。この積層体を焼
結後、内部電極重なシ寸法が1.2 ffff XO,
7777711、誘電体厚みが12μm、誘電体層数が
19の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサとなる
ように切断した。この切断した試料は、ジルコニア粉末
を放いたアルミナ質のザヤに入れ、空気中にて室温から
360′Cまでを5℃/ h rで昇温し、350゛C
より1oo’c/hrf昇温し。
を支持台の上に、積層した。この上に、昭栄化学・、掬
裏向部電極パラジウムベース)ML3724を焼結後の
内部電極厚みが2μmとなるようにスクリーン印刷し、
乾燥した。この上にポリエステルフィルムから剥したシ
ート1枚を積層した。この上に、焼結後の内部電極重な
り寸法が1.2717ffX0.7fffflとなるよ
うに印刷位置をずらして内部電盃パラジウムペーストを
印刷し、乾燥後、ポリエステルフィルムから剥したシー
ト1枚を積層した。これらの操作を、誘電体層数が19
となるまで操り返しだ。この上に、ポリエステルフィル
ムから剥したシート10攻を積層した。この積層体を焼
結後、内部電極重なシ寸法が1.2 ffff XO,
7777711、誘電体厚みが12μm、誘電体層数が
19の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサとなる
ように切断した。この切断した試料は、ジルコニア粉末
を放いたアルミナ質のザヤに入れ、空気中にて室温から
360′Cまでを5℃/ h rで昇温し、350゛C
より1oo’c/hrf昇温し。
19、、。
1270℃で2時間焼成後、1oo”C/hrで室温ま
で降温した。次いで、焼成後の試料゛は、耐水サンドペ
ーパーを内側に貼ったポリエチレンボットに純水ととも
に入れ、ポリエチレンボットを回転させ焼成後の試料面
を研磨し、外部電極と接合する内部型、原部分を充分露
出させた。この試料はポリエチレンポットより取り出し
乾燥後、内部電極露出部分に銀の外部電極を焼き付け、
内部電極と導通させ、積層セラミックコンデンサを作製
した。
で降温した。次いで、焼成後の試料゛は、耐水サンドペ
ーパーを内側に貼ったポリエチレンボットに純水ととも
に入れ、ポリエチレンボットを回転させ焼成後の試料面
を研磨し、外部電極と接合する内部型、原部分を充分露
出させた。この試料はポリエチレンポットより取り出し
乾燥後、内部電極露出部分に銀の外部電極を焼き付け、
内部電極と導通させ、積層セラミックコンデンサを作製
した。
これらの試料の静電容量、良好度Q、静電容耽温度係数
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度は、実施例1と同様の条件で
の測定により求めた。まだ、積層構造の確認は、積層セ
ラミックコンデンサの長さ方向および幅方向の約1/2
の研磨断面を、内部電極型なり寸法U倍率100、誘電
体厚みと内部電極厚みは倍率400での光学頑微境観察
より求めた。
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度は、実施例1と同様の条件で
の測定により求めた。まだ、積層構造の確認は、積層セ
ラミックコンデンサの長さ方向および幅方向の約1/2
の研磨断面を、内部電極型なり寸法U倍率100、誘電
体厚みと内部電極厚みは倍率400での光学頑微境観察
より求めた。
この測定結果を第2図に示す。
なお、実施例における誘電体磁器の作製方法では、Ba
GO,、ZrO2,TiO2,La2O3,Pr60.
、、NdOSmOVOMnOZnO Fe2O3および5102 を使用したが、この方法
に限定されるものではなく、所望の組成比になるように
、BaTi05などの化合物、あるいは炭談塩、水酸出
動など空気中での加鴻により、B?LOZrOT10
LaO?rONd05m0 、 ’VO−
MnOZn○、Fe2o3 およびSiO□ となる
化合物を防用しても実施例と同程度の特性を得ることが
できる。
GO,、ZrO2,TiO2,La2O3,Pr60.
、、NdOSmOVOMnOZnO Fe2O3および5102 を使用したが、この方法
に限定されるものではなく、所望の組成比になるように
、BaTi05などの化合物、あるいは炭談塩、水酸出
動など空気中での加鴻により、B?LOZrOT10
LaO?rONd05m0 、 ’VO−
MnOZn○、Fe2o3 およびSiO□ となる
化合物を防用しても実施例と同程度の特性を得ることが
できる。
まだ、主成分をあらかじめ仮焼し、副成分を添加しても
実施例と同程度の特性を得ることができる。
実施例と同程度の特性を得ることができる。
発明の効果
以とのように本発明によれば、誘電率、絶縁抵抗、絶縁
破壊電圧が高く、良好度Qにすぐれ、静電容量温度係数
が小さく、かつ積層セラミックコンデンサへの利用にお
いては、内部電極の厚みを薄くシフこときの静電容量と
良好度Qの低下を防ぎ。
破壊電圧が高く、良好度Qにすぐれ、静電容量温度係数
が小さく、かつ積層セラミックコンデンサへの利用にお
いては、内部電極の厚みを薄くシフこときの静電容量と
良好度Qの低下を防ぎ。
静屯容計と良好度Qのバラツキを小さくてきるた21
/、 め、内部電極の厚みを薄くして、積層セラミノクコンデ
ンザのコストダウンが行えるとともに内部構造欠陥であ
るデラミネーションの発生を防ぐことができる。また、
絶縁破壊電圧が高いため、誘電体層の厚みを薄くシ、素
体の小型化、大容量化が可能である。
/、 め、内部電極の厚みを薄くして、積層セラミノクコンデ
ンザのコストダウンが行えるとともに内部構造欠陥であ
るデラミネーションの発生を防ぐことができる。また、
絶縁破壊電圧が高いため、誘電体層の厚みを薄くシ、素
体の小型化、大容量化が可能である。
さらに、マンガン、亜鉛、鉄およびケイ素の酸化物の添
加により、焼成温度を低下させることができる。
加により、焼成温度を低下させることができる。
第1図、け本発明にかかる組成物の主成分の組成範囲を
説明する三元図、第2図は本発明にかかる主成分0.1
1BaO−0,68((TiO2)、、(ZrO2)o
、+ )−0,21Nd206に対する副成分v205
ノ含有効果を、誘電体厚み:12μm、内部電極重なり
寸法:1.2朋X0.7ffiπ、誘電体層数=19の
積層構造をもつ積層セラミックコンデンサの電気特性で
示すグラフである。
説明する三元図、第2図は本発明にかかる主成分0.1
1BaO−0,68((TiO2)、、(ZrO2)o
、+ )−0,21Nd206に対する副成分v205
ノ含有効果を、誘電体厚み:12μm、内部電極重なり
寸法:1.2朋X0.7ffiπ、誘電体層数=19の
積層構造をもつ積層セラミックコンデンサの電気特性で
示すグラフである。
Claims (2)
- (1)一般式 xBaO−y〔(TiO_2)_(_1_−_m_)(
ZrO_2)_m〕−zRe_2O_3と表した時、 (ただし、x+y+z=1.00 0.001≦m≦0.200 Re_2O_3は、La_2O_3、Pr_2O_1_
1_/_3、Nd_2O_3、Sm_2O_3から選ば
れる少なくとも一種以上の希土類元素の酸化物) x,y,zが以下に表す各点a,b,c,d,e,fで
囲まれるモル比の範囲からなる主成分100重量部に対
し、副成分としてバナジウム酸化物をV_2O_5に換
算して0.005〜1.000重量部含有したことを特
徴とする誘電体磁器組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼ - (2)主成分と副成分を合わせた100重量部に対して
、マンガン、亜鉛、鉄およびケイ素の酸化物から選ばれ
る少なくとも一種以上を、それぞれMnO_2、ZnO
、Fe_2O_3およびSiO_2に換算して0.05
〜1.00重量部添加したことを特徴とする特許の請求
範囲第1項記載の誘電体磁器組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1062415A JP2938468B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1062415A JP2938468B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02242522A true JPH02242522A (ja) | 1990-09-26 |
| JP2938468B2 JP2938468B2 (ja) | 1999-08-23 |
Family
ID=13199497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1062415A Expired - Fee Related JP2938468B2 (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2938468B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0986076A3 (en) * | 1998-09-11 | 2006-05-10 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition and laminated ceramic parts |
| CN109180184A (zh) * | 2018-07-19 | 2019-01-11 | 西安交通大学 | 一种抑制锆钛酸钡陶瓷漏导的方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4959299A (ja) * | 1972-10-12 | 1974-06-08 | ||
| JPS6283364A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-16 | 宇部興産株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
-
1989
- 1989-03-15 JP JP1062415A patent/JP2938468B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4959299A (ja) * | 1972-10-12 | 1974-06-08 | ||
| JPS6283364A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-16 | 宇部興産株式会社 | 誘電体磁器組成物 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0986076A3 (en) * | 1998-09-11 | 2006-05-10 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Dielectric ceramic composition and laminated ceramic parts |
| CN109180184A (zh) * | 2018-07-19 | 2019-01-11 | 西安交通大学 | 一种抑制锆钛酸钡陶瓷漏导的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2938468B2 (ja) | 1999-08-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0355002B2 (ja) | ||
| JP2001351828A (ja) | 非還元性誘電体セラミック及びそれを用いた積層セラミックコンデンサ | |
| KR890004114B1 (ko) | 자기 콘덴서 | |
| JPH0518201B2 (ja) | ||
| JP3634930B2 (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02242522A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| KR900002518B1 (ko) | 유전체 자기조성물 | |
| JPH0323261A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JP2684754B2 (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02242517A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH02242516A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH0518202B2 (ja) | ||
| JPS6386319A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JP2508373B2 (ja) | 誘電体磁器組成物および誘電体磁器の製造方法 | |
| JPH02267166A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JP2928258B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JP2933634B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JP2907437B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JP2568565B2 (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JP2928259B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JPH05266711A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH05334915A (ja) | 誘電体磁器組成物 | |
| JPH0323259A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JP2933635B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
| JPH08171814A (ja) | 誘電体磁器組成物及びそれを用いた積層セラミックコンデンサ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |