JPH02242522A - 誘電体磁器組成物 - Google Patents

誘電体磁器組成物

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JPH02242522A
JPH02242522A JP1062415A JP6241589A JPH02242522A JP H02242522 A JPH02242522 A JP H02242522A JP 1062415 A JP1062415 A JP 1062415A JP 6241589 A JP6241589 A JP 6241589A JP H02242522 A JPH02242522 A JP H02242522A
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Hidenori Kuramitsu
秀紀 倉光
Osamu Yamashita
修 山下
Satoshi Endo
遠藤 悟司
Takeshi Kimura
猛 木村
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は誘電率、絶縁抵抗、絶縁破壊電圧が高く、良好
度Qにすぐれ、静電容量温度係数が小さく、かつ積層セ
ラミックコンデンサへの利用においては、内部電極の厚
みを薄くしたときの静電容量と良好度Qの低下を防ぎ、
静電容量と良好度Qのバラツキを小さくできる誘電体磁
器組成物に関するものである。
従来の技術 従来から誘電率、絶縁抵抗が高く、良好度Qにすぐれ、
静電容量温度係数が小さい誘電体磁器組成物として、下
記のような系が知られている。
−Bad−TiO2−Nd2O3系 −Ba0−TiO2−Sm2O3系 発明が解決しようとする課題 しかし、これらの組成は、例えば0.11BaO−o、
6 s TiO□−0,21Nd2O3の組成比からな
る誘電体材料を使用し、パラジウムの内部電極厚み4μ
m、誘電体厚み12μm、内部電極の重なり寸法1.2
・慴×0.7請、誘電体層数19の積層構造をもつ積層
セラミックコンデンサを作製すると、静電容量の平均値
ニア42pF、良好度Qの平均値:8700、静電容量
温度係数の平均値:N 35 p p m / ”C1
絶縁抵抗の平均[直:6.0X1012Ω、絶縁破壊強
度の平均値:117kv/mπであり、絶縁抵抗と絶縁
破壊強度において満足のできる値ではない。まだ、結晶
粒径が1〜5μmと大きいため、素体中の気孔率が大き
くなるとともに結晶粒子1個当たりにかかる電界強度が
犬きくなり、絶縁破壊強度も満足のできる直ではない。
さらに、積層セラミックコンデンサのコストダウンを行
うため、および素体内部の構造欠陥であるデラミネーシ
ョンの発生を防ぐため、パラジウムの内部電極厚みを4
μmから2μmに薄くすると、上記の組成比の誘電体材
料を使用し、上記の誘電体厚み、内部電葦重なシ寸法、
誘電体層数の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサ
の静電容量の平均値が610 pFと小さくなるととも
に静電容量のバラツキが266〜了13 pF ト大き
くなる。さらに、良好度Qの平均直も4000と低くな
るとともに良好+tQのバラツキが600〜8800と
大きくなるという課題があった。
課題を解決するだめの手段 57、 これらの課題を解決するために本発明は、一般弐XBa
O−7[:’(’rio2)(1−、n)(ZrO2)
、n’:1−zRe206と表した時、 (ただし−X+y+Z=1.OO o、001≦m≦0.200 Re203は、La2oイPr2o、1/3、Nd2o
5、Sm2O3から選ばれる少なくとも一種以上の希土
類元素の酸化物) x、y、zが以下に表す各点a、b、c、d。
e、fで囲まれるモル比の範囲からなる主成分100重
量部に対し、副成分としてバナジウム酸化物ヲV、、0
5に換3E Lテo、oo es 〜1.oooN量部
含有したことを特徴とする誘電体磁器組成物を提案する
ものである。
作  用 第1図は本発明にかかる組成物の主成分の組成範囲を示
す三元図であシ、主成分の組成範囲を限定した理由を第
1図を参照しながら説明する。第1図において、A@域
では焼結が著しく困慮である。また、B領域では良好度
Qが低下し実用的でなくなる。さらに、C,D頂戦では
静電容量温度係数がマイナス側に犬きくなりすぎて実用
的でなくなる。そして、E領域では静電容量温度係数が
プラス方向に移行するが誘電率が小さく実用的でなくな
る。また、Re2O3をLa2o5、Pr2o1173
、Nd2O,、Sm2O3から選ぶことによfi、La
2o5、Pr20.、.5、Nd2o5、Sm203(
7)順で誘電率を大きく下げることなく、静電容量温度
係数をプラス方向に移行することが可能であり、La2
o5、Pr2011/3.Nd2o3,5m2o5の1
種あるいは組合せにより静電容量温度係数の調節が可能
である。
また、TiO2をZr 02で置換することにょ)。
誘電率、良好度Q、静電容量温度係数、絶縁抵抗の値を
大きく変えることなく、結晶粒径を小さく7 、、 し、絶縁破壊強度を大きくする効果を有し、その置換率
mが0.001未満では置換効果はなく、方、o200
を纏えると誘電率、良好度Q、絶縁抵抗が低下する。
第2図は本発明にかかる組成物○主成分に対し、副成分
v205の含有効果を積層セラミックコンデンザの・特
性で示すグラフであシ、v205の含有範囲を限定した
理由をグラフを参照しながら説明する。第2図に示すよ
うにv2o!iを含有することにより、絶縁抵抗、絶縁
破壊強度が向、ヒし、また静電容量と良好度Qを高め、
静電容量と良好度Qのバラツキを小さくする効果を有す
る。そして、v205の含有により、絶縁抵抗、他線破
壊強度は向上するが、v205の含有液が主成分100
重量部に対し−0,005重叶部未満壮#遊容量と良好
度Qが低く、まだ静電容量と良好度Qのバラツキが大き
いため、この発明の範囲から除外した。
方、v205の含有縫が主成分に対し、1. OO0重
量部を戦えると良好度Q、絶縁抵抗が低下し、静電容量
温度係数がマイナス側に大きくなり、実用的でなくなる
本発明′dさらに、上記祖戎物に、マンガン、亜鉛、鉄
およびケイ素の駿化物から選ばれる少なくとも一種以上
を、そ凡ぞれMn02=  ZnOFe2O3およびS
iO□に換算して主・成分と副成分を合わせた100重
量部に対し、0.06〜1.00重量部添加せしめた構
1戎とすることができる。これらの添加物は磁器の暁@
畦を向上させる効果を有し、その添加量が0.05重量
部未満では添加効果はなく。
一方、1.00重量部を吠えると誘電率が低下し実用的
でなくなる。
実施例 以下に、本発明を具体的実施例により説明する。
(実施例1) 出発原料には化学的に高純度のBaCO3,’rio2
、ZrOLaOPro  、Nd2O3、Sm2032
−    23−     6  Nおよびv205扮
末乞下記の第1表に示す組成比になるように装置し、め
Dうボールを備えたゴム内張りのボールミルに純水とと
もに入れ、湿式混合後、脱水乾燥した。この乾茅粉末を
高アルミナ質9 ぺ−1 のルツボに入れ、空気中で11oo”cにて2時間仮焼
した。この仮焼粉末を、めのうボールを備えたゴム内張
りのボールミルに純火とともに入れ、湿式粉砕後、脱水
乾燥した。この粉砕粉末に、有機バインダーを加え、均
質とした寓、32メソシユのふるいを通して整粒し、金
型と油圧プレスを用いて成形圧力1tOn/CrIで直
径15φπ、厚み0.4顧に成形した。次いで、成形円
板をジルコニア粉末を“放いたアルミナ質のサヤに入れ
、空気中にて下記の第1表に示す組成比の誘電体磁器を
得た。
このようにして得られた誘電体磁器円板は、厚みと直径
を測定し、誘電率、良好IQ、静覗容量温度係数測定用
試料は、誘電体磁器円板の両面全体に銀電極を焼き付け
、絶縁抵抗、杷縁破壊強度測定用試料は、誘電体磁器円
板の外周より内側に1魔の唱で銀電極の無い部分を設け
、銀電極を焼き付けた。そして誘電率、良好度Q、静五
容量温度係数は、YHP社製デジタルLCRメータのモ
デル4275Aを使用し、測定温度20゛C1測定10
、、−7 電圧1.OVrms 、測定周波数IMl−1zでの測
定より求めた。なお、静電容量温度係数、げ、20’C
185゛Cの静電容量を測定し1次式により求めた。
TG=(C−Go )/Co X 1/65X106T
C:静電容量温度係数(ppm/℃)Go:20”Cで
の静電容−1廿(pF)G:BE5’Qでの静電容量C
pF )まだ、誘電率は次式より求めた。
K  −143,8X Co X t/D2K :誘電
率 CO:20’Cでの静電容量(pF) D :誘電体磁器の直径(πm) t :誘電体磁器の厚み(yym ) さらに、絶縁抵抗は、YHP社製HRメータのモデ#4
329Aを使用し、測定電圧5 Q V、D、C。
測定時間1分間による測定より求めた。
そして、絶縁破壊強度は、菊水電子工業:掬製高電圧電
源Pf(535に一3形を使用し、試料をシリコンオイ
ル中に入れ、昇圧速変50V/secにより求めた絶禄
彼壊電圧を誘電体厚みで除算し、11 /、−7 1廖当シの絶縁破壊強度とした。また、結晶粒径は1倍
率400での光学顕微鏡観察より求めた。
試験条件を第1表に併せて示し、試験結果を下記の第2
表に示す。
(以下余 白) 13へ 14、−ノ (実施例2) 出発原料には化学的に高純度のBaCO3,TiO2、
zrO2、L?L203.  Pr60.、−  Nd
2O3,Sm2O3゜v2051Mno2、ZnO、F
e2O,、および$102粉末を下記の第3表に示す組
成比になるように秤量し、それ以後は、実施例1の場合
と同様に処理して第3表に示す組成比の透電体磁器を得
た。
これらの試料の試験方法は、実施例1と同様であり、試
験条件を第3表に併せて示し、試験結果を下記の第4表
に示す。
(以 下 余 白) 17 ヘー/ (実施例3) 呂発原料には化学的に高純度のBaCO3,TiO2゜
ZrOLa OPr ONd O、Sm2032 智 
    25 −    611−     25およ
びv205粉末を使用し、主成分0.11 BaO−0
−68((T iOz ) o、 9 (Zr O2)
 ol)  O−21Nd 205に対シ、v205を
OO,001,0,0050,010,0,10o、 
1.000.2.000 wtH含有した坂焼扮砕粉を
実施例1と同様の方法で作製する。ただし、v205 
 含有量0,0.0012、○0OWt(Xは、この発
明の範囲外であり、0.005.0.010.0.10
0,1.000 wt%は、この発明の範囲内である。
この仮焼粉砕粉末に、有機バインダー、可塑剤、分散剤
、有機溶剤を加え、アルミナボールを備えたポリエチレ
ン製ポットで混合し、スラリーを作製した。混合後、3
00メソシユのナイロン布を使用し、ろ過した。ろ過後
のスラリーは、ドクターブレードにより、焼結後の誘電
体厚みが12μmとなるように、離型処理をしたポリエ
ステルフィルム上にシートを成形した。
8A−2 次に、ポリエステルフィルムから剥したシー1〜10枚
を支持台の上に、積層した。この上に、昭栄化学・、掬
裏向部電極パラジウムベース)ML3724を焼結後の
内部電極厚みが2μmとなるようにスクリーン印刷し、
乾燥した。この上にポリエステルフィルムから剥したシ
ート1枚を積層した。この上に、焼結後の内部電極重な
り寸法が1.2717ffX0.7fffflとなるよ
うに印刷位置をずらして内部電盃パラジウムペーストを
印刷し、乾燥後、ポリエステルフィルムから剥したシー
ト1枚を積層した。これらの操作を、誘電体層数が19
となるまで操り返しだ。この上に、ポリエステルフィル
ムから剥したシート10攻を積層した。この積層体を焼
結後、内部電極重なシ寸法が1.2 ffff XO,
7777711、誘電体厚みが12μm、誘電体層数が
19の積層構造をもつ積層セラミックコンデンサとなる
ように切断した。この切断した試料は、ジルコニア粉末
を放いたアルミナ質のザヤに入れ、空気中にて室温から
360′Cまでを5℃/ h rで昇温し、350゛C
より1oo’c/hrf昇温し。
19、、。
1270℃で2時間焼成後、1oo”C/hrで室温ま
で降温した。次いで、焼成後の試料゛は、耐水サンドペ
ーパーを内側に貼ったポリエチレンボットに純水ととも
に入れ、ポリエチレンボットを回転させ焼成後の試料面
を研磨し、外部電極と接合する内部型、原部分を充分露
出させた。この試料はポリエチレンポットより取り出し
乾燥後、内部電極露出部分に銀の外部電極を焼き付け、
内部電極と導通させ、積層セラミックコンデンサを作製
した。
これらの試料の静電容量、良好度Q、静電容耽温度係数
、絶縁抵抗、絶縁破壊強度は、実施例1と同様の条件で
の測定により求めた。まだ、積層構造の確認は、積層セ
ラミックコンデンサの長さ方向および幅方向の約1/2
の研磨断面を、内部電極型なり寸法U倍率100、誘電
体厚みと内部電極厚みは倍率400での光学頑微境観察
より求めた。
この測定結果を第2図に示す。
なお、実施例における誘電体磁器の作製方法では、Ba
GO,、ZrO2,TiO2,La2O3,Pr60.
、、NdOSmOVOMnOZnO Fe2O3および5102  を使用したが、この方法
に限定されるものではなく、所望の組成比になるように
、BaTi05などの化合物、あるいは炭談塩、水酸出
動など空気中での加鴻により、B?LOZrOT10 
    LaO?rONd05m0  、  ’VO−
MnOZn○、Fe2o3  およびSiO□ となる
化合物を防用しても実施例と同程度の特性を得ることが
できる。
まだ、主成分をあらかじめ仮焼し、副成分を添加しても
実施例と同程度の特性を得ることができる。
発明の効果 以とのように本発明によれば、誘電率、絶縁抵抗、絶縁
破壊電圧が高く、良好度Qにすぐれ、静電容量温度係数
が小さく、かつ積層セラミックコンデンサへの利用にお
いては、内部電極の厚みを薄くシフこときの静電容量と
良好度Qの低下を防ぎ。
静屯容計と良好度Qのバラツキを小さくてきるた21 
/、 め、内部電極の厚みを薄くして、積層セラミノクコンデ
ンザのコストダウンが行えるとともに内部構造欠陥であ
るデラミネーションの発生を防ぐことができる。また、
絶縁破壊電圧が高いため、誘電体層の厚みを薄くシ、素
体の小型化、大容量化が可能である。
さらに、マンガン、亜鉛、鉄およびケイ素の酸化物の添
加により、焼成温度を低下させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、け本発明にかかる組成物の主成分の組成範囲を
説明する三元図、第2図は本発明にかかる主成分0.1
1BaO−0,68((TiO2)、、(ZrO2)o
、+ )−0,21Nd206に対する副成分v205
ノ含有効果を、誘電体厚み:12μm、内部電極重なり
寸法:1.2朋X0.7ffiπ、誘電体層数=19の
積層構造をもつ積層セラミックコンデンサの電気特性で
示すグラフである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一般式 xBaO−y〔(TiO_2)_(_1_−_m_)(
    ZrO_2)_m〕−zRe_2O_3と表した時、 (ただし、x+y+z=1.00 0.001≦m≦0.200 Re_2O_3は、La_2O_3、Pr_2O_1_
    1_/_3、Nd_2O_3、Sm_2O_3から選ば
    れる少なくとも一種以上の希土類元素の酸化物) x,y,zが以下に表す各点a,b,c,d,e,fで
    囲まれるモル比の範囲からなる主成分100重量部に対
    し、副成分としてバナジウム酸化物をV_2O_5に換
    算して0.005〜1.000重量部含有したことを特
    徴とする誘電体磁器組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼
  2. (2)主成分と副成分を合わせた100重量部に対して
    、マンガン、亜鉛、鉄およびケイ素の酸化物から選ばれ
    る少なくとも一種以上を、それぞれMnO_2、ZnO
    、Fe_2O_3およびSiO_2に換算して0.05
    〜1.00重量部添加したことを特徴とする特許の請求
    範囲第1項記載の誘電体磁器組成物。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0986076A3 (en) * 1998-09-11 2006-05-10 Murata Manufacturing Co., Ltd. Dielectric ceramic composition and laminated ceramic parts
CN109180184A (zh) * 2018-07-19 2019-01-11 西安交通大学 一种抑制锆钛酸钡陶瓷漏导的方法

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JPS4959299A (ja) * 1972-10-12 1974-06-08
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