JPH02244834A - 光信号受信装置の試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （概　要〕 光信号を受信して電気信号に変換する光信号受信装置の
試験方法に関し、 複数個の光データリンクを同時に試験することを目的と
し、 光信号源の光出力を複数個の光出力に分割する光カプラ
と、該光カプラからの分割出力をそれぞれ光ファイバを
経由して受信する光リンクと、該光リンクからのディジ
タル出力を比較する比較器と、該比較器からの出力を試
験判定する光リンク試験機とを備え、 前記光リンクの中一つを予め動作の正常性を確認した基
準光リンクとし、残りの光リンクを被試験光リンクとし
、該基準光リンクと残りの被試験光リンクとの出力を前
記比較器により比較し、前記光−リンク試験機により被
試験光リンクの良否を判定するように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、光信号を受信して電気信号に変換する光デイ
ジタルデータリンクなどの光信号受信装置の試験方法に
関する。

光デイジタルデータリンクなどの光信号受信装置（以下
光リンクと呼ぶ）は、光ファイバから出射された光信号
を受信して対応する電気信号に変換する装置である。

近年、データ伝送を目的とする小型かつ低コストの光デ
イジタルデータリンクが開発されているが、これら光リ
ンクを低コストで供給するためには組立後の光リンクの
試験を効率的に行う必要がある。

〔従来の技術〕

従来の光リンクの試験方法を第４図に示す。図において
、１は光信号源、２は被試験光リンク、３は光リンク試
験機を示す。

光信号源１は光パルスのランダムパターン発生器で、試
験データ信号に対応した光信号が光ファイバにより被試
験光リンク２に送出される。被試験光リンク２は光ファ
イバより受信した光信号をディジタルの電気信号に変換
して光リンク試験機３に送出する。光リンク試験機３は
受信したディジタル信号の緒特性が規格内にあるかどう
かをヂエツクし、被試験光リンクの良否を判定する。

光リンクの試験内容はデータ出力の誤り率や、クロック
出力の有無、光信分断アラームの有無等であるが、この
中でも符号誤り率（エラーシ・イト）の試験は最も重要
で、しかもテスト時間が長くかかる場合がある。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の光リンク試験では、一つの項目について試験を行
い、全リンクの試験が終了した後１、つぎの項目の試験
に移る方法がとられていた。このような方法では１つの
光リンク終了毎に試験リンクを交換しなければならず、
取り換え工数がコストを押上げ、試験用の光リンクの数
量が増えればそれだけテスト時間もかかった。

本発明はこれら光リンクの試験を複数個同時に行い、試
験工数の短縮と試験の簡略化を図ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の試験方法の原理構成図を第１図に示す。

図において、１は光信号源、２は被試験光リンク、３は
光リンク試験機、４は光カプラ、５は比較選択器を示し
、被試験光リンク２の中、２０は基準光リンク、２１．
２２．２３は被試験用の光リンクを示す。

光信号源１と光カプラの間は光ファイバで接続し、光カ
プラ４の出力端子と基準光リンク２０及び被試験光リン
ク２１，２２．２３との間はそれぞれ光ファイバで接続
する。また基準光リンク２０の出力と被試験光リンク２
１．２２．２３の出力とを比較選択器５で比較し、比較
結果を光リンク試験機３に人力する。

基準光リンク２０は予め光リンク試験機３で詳細に試験
し合格と判定されたものを使用する。

〔作用〕

光信号源１よりディジタル試験信号に応（じた光信号を
送出し、光ファイバを経由して光カプラ４に入力する。

光カプラ４は入力された光信号−を等分割してパラレル
に送出する。分割して送出される光信号は光ファイバに
よりそれぞれ並列に光リンク２０，２１，２２．２３に
人力される。

基準光リンク２０からのディジタル信号、Ｊ：、被試験
光リンク２１．２２．２３から出力されるディジタル信
号とをそれぞれ比較選択器５で比較し、比較結果を光リ
ンク試験機３に入力し、基準光リンク２０の出力信号と
同一であれば良と判定し５、基準光リンク２０の出力と
同一でなければ不良と判定する。

基準光リンク２０の出力ディジタル信号と被試験光リン
ク２１，２２．２３の出力ディジタル信スとをそれぞれ
比較し、信号の抜けあるいはずれが−・つでもあれば、
光リンク試験機３で該当の被試験光リンクに信号誤り有
りと判断して選別することができる。選別された該当の
被試験光リンクについては別途光リンク試験機３で詳細
なテストを行うことにより不良内容を特定することがで
きる。

〔実施例〕

本発明の試験方法の実施例を第２図りこ示す６図におい
て、ｌは光信号源、４は光カプラ、２０は基準光リンク
、２１．２２．２３は被試験用光リンク、５１，５２゜
５３はＥＸＯＲゲート、３は光リンク試験機を示す。

光カプラ４は１対４の光結合器（スターカプラ）で光学
的に入力量を４つに分割して出力する。この光出力を維
持するため光信号源１の出力は従来より大きくする。　
ＥＸＯＲゲート５１．５２．５３はそれぞれ基準光リン
ク２０の出力と被試験光リンク２１，２２．２３の出力
とを入力し　ｍＱＺ＠Ｑｌｌまたは“ｌ”、′１”の組
合わせであれば“０”を出力し、“０”、“ｌ”または
“１“。

“０”の組合わせであれば“１″を出力する。光リンク
試験機３はＯ′の場合は良と判断し、“１”の場合は不
良即ちエラーがあると判断する。

今光信号源１のディジタル入力と光リンク２０゜２１、
２２．２３のディジタル出力との比較をタイミングチャ
ート第３図に示す０図において、■は光信号源１に入力
される試験用のランダムパターン入力、■は基準光リン
ク２０のディジタル出力、■、■。

■は被試験光リンク２１，２２．２３のディジタル出力
、■、■、■はＥχＯＲゲート５１，５２．５３の比較
選択出力、■は光リンク試験機３の判定信号を示す。

基準光リンク２０の出力■は光信号源ｌの入力信号■と
同一であるので、被試験光リンク２１，２２．２３の出
力■、■、■と基準光リンク２０の出力■とが同一であ
るかどうかのチエツクをＢＸＯＲゲート５１゜５２．５
３で行い、それぞれ同一波形であれば“Ｏ′を出力し、
一つのパルスでも食い違いがあれば“ｌ”を出力するの
で、■、■、■が“０”であれば光リンク試験機３で被
試験光リンクは正常と判断し、■、■、■の中何れかが
“１″を検出すれば光リンク試験機３でその信号を保持
し、該当の被試験光リンクに異常があると判定する。こ
の場合は■の出力に“１”が検出されたので被試験光リ
ンクＮＣＬ２に符号誤りが有ると判定される。

なお本実施例では１対４の光スターカプラを使用して４
分割し、基準光リンク１個と被試験光りツク３個とを比
較判定したが、１対８或いは１対１６の光カプラを使用
することにより更に多数の被試験光リンクの同時試験を
行うことができる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、複数個の光リンクが同時に試験できる
ため、従来のように光リンクを１台毎に接続して試験す
るのに比べ試験工数の短縮が図れる。また符号誤り率試
験のように、長時間を要する試験では試験工数が大幅に
短縮される。また光カプラの対数を大きくすれば、より
多くの光リンクを同時に良否判定でき効果は更に大きい
。

５１．５２．５３はＥＸＯＲゲートを示す、なお■〜■
はタイミングチャートの信号を示す。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理構成図、第２図は実施例の回路構
成図、第３図は実施例のタイミングチャート、第４図は
従来例のブロック構成図を示す。 図において、１は光信号源、２は光リンク、３は光リン
ク試験機、４は光カプラ、５は比較器、２０は基準光リ
ンク、２１．２２．２３は被試験光リンク、入力信号　
■ 実施例のタイミングチャート 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 光信号を受信して電気信号に変換する光信号受信装置（
   光リンク）において、 光信号源（１）の光出力を複数個の光出力に分割する光
   カプラ（４）と、該光カプラ（４）からの分割出力をそ
   れぞれ光ファイバを経由して受信する複数個の光リンク
   （２）と、該複数個の光リンク（２）からの出力を比較
   する比較器（５）と、該比較器（５）からの出力を試験
   判定する光リンク試験機（３）とを備え、 前記複数個の光リンク（２）の中一つを予め動作の正常
   性を確認した基準光リンク（２０）とし、残りの光リン
   ク（２１）他を被試験光リンクとし、該基準光リンク（
   ２０）と残りの被試験光リンク（２１）他との出力を前
   記比較器（５）により比較し、前記光リンク試験機（３
   ）により被試験光リンク（２１）他の良否を判定するこ
   とを特徴とする光信号受信装置の試験方法。