JPH02246299A - 多層セラミック回路基板及びその製造方法 - Google Patents
多層セラミック回路基板及びその製造方法Info
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- JPH02246299A JPH02246299A JP6606089A JP6606089A JPH02246299A JP H02246299 A JPH02246299 A JP H02246299A JP 6606089 A JP6606089 A JP 6606089A JP 6606089 A JP6606089 A JP 6606089A JP H02246299 A JPH02246299 A JP H02246299A
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- resistor
- circuit board
- multilayer ceramic
- ceramic circuit
- resistors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
大規模集積回路(LSI)素子を搭載するための多層セ
ラミック回路基板の製造方法に関し、抵抗器の実装面積
が小さく、また基板の焼成後で抵抗値の調節が可能な抵
抗内蔵の多層セラミック回路基板を提供することを目的
とし、三次元配線を有するた多層セラミック回路基板で
あって、抵抗体から成り該基板を上下方向に貫通する抵
抗器用穴の上下にはそれぞれ電極部が設けられ、該基板
の各層から基板表面の他の電極部に接続する引き出し線
路は該抵抗体のいずれか1つに接続され、他の電極部の
選定により抵抗体の少なくとも1つを電極部と他の電極
部との間に組み入れて該基板の抵抗値を調整する構成と
したことを特徴とする多層セラミック回路基板、および
三次元配線を有する多層セラミック回路基板の製造方法
において、予め複数枚のグリーンシートの所定位置に抵
抗器用穴を形成し、この穴に抵抗体を設ける工程と、前
記グリーンシートの各層から表面に設けた電極部に達す
る独立した引き出し線路を形成する工程と、前記グリー
ンシートを位置合わせして積層したのち焼成する工程と
を含むことを特徴とする多層セラミック回路基板の製造
方法を含み構成する。
ラミック回路基板の製造方法に関し、抵抗器の実装面積
が小さく、また基板の焼成後で抵抗値の調節が可能な抵
抗内蔵の多層セラミック回路基板を提供することを目的
とし、三次元配線を有するた多層セラミック回路基板で
あって、抵抗体から成り該基板を上下方向に貫通する抵
抗器用穴の上下にはそれぞれ電極部が設けられ、該基板
の各層から基板表面の他の電極部に接続する引き出し線
路は該抵抗体のいずれか1つに接続され、他の電極部の
選定により抵抗体の少なくとも1つを電極部と他の電極
部との間に組み入れて該基板の抵抗値を調整する構成と
したことを特徴とする多層セラミック回路基板、および
三次元配線を有する多層セラミック回路基板の製造方法
において、予め複数枚のグリーンシートの所定位置に抵
抗器用穴を形成し、この穴に抵抗体を設ける工程と、前
記グリーンシートの各層から表面に設けた電極部に達す
る独立した引き出し線路を形成する工程と、前記グリー
ンシートを位置合わせして積層したのち焼成する工程と
を含むことを特徴とする多層セラミック回路基板の製造
方法を含み構成する。
本発明は、大規模集積回路(LSI)素子を搭載するた
めの多層セラミック回路基板の製造方法に関する。
めの多層セラミック回路基板の製造方法に関する。
C従来の技術〕
近年の情報処理装置の大容量化と高速化に対応して、L
SIやVLS Iを高密度に実装することの可能な回路
基板が要求されている。このため、回路基板の内部には
銅などを材料とする電気抵抗の低い配線を三次元的に張
り巡らせ多層構造とする必要がある。さらには、外部回
路とのインピーダンスマツチングなどをとるために抵抗
器などを内蔵した、よりコンパクトな回路基板が望まれ
ている。
SIやVLS Iを高密度に実装することの可能な回路
基板が要求されている。このため、回路基板の内部には
銅などを材料とする電気抵抗の低い配線を三次元的に張
り巡らせ多層構造とする必要がある。さらには、外部回
路とのインピーダンスマツチングなどをとるために抵抗
器などを内蔵した、よりコンパクトな回路基板が望まれ
ている。
第7図は従来の抵抗器を内蔵する多層セラミック回路基
板の構成図である。同図において、グリーンシート1上
に酸化ルテニウム(RuO*)などの導電性ペーストを
厚膜印刷して抵抗器2を形成し、また基板表面に形成し
た電極部3に達する引き出し線路4を形成したものを、
多数枚積層したのち焼成するものが知られている。
板の構成図である。同図において、グリーンシート1上
に酸化ルテニウム(RuO*)などの導電性ペーストを
厚膜印刷して抵抗器2を形成し、また基板表面に形成し
た電極部3に達する引き出し線路4を形成したものを、
多数枚積層したのち焼成するものが知られている。
しかし、従来の抵抗器2を内蔵する多層セラミック回路
基板では、抵抗器2の数が多くなると総印刷面積も大き
くなってしまい、層数の増加など基板の大型化につなが
る。また、抵抗器2が基板の内部に封入されてしまうた
め、焼成後の抵抗値の調節が極めて困難である。
基板では、抵抗器2の数が多くなると総印刷面積も大き
くなってしまい、層数の増加など基板の大型化につなが
る。また、抵抗器2が基板の内部に封入されてしまうた
め、焼成後の抵抗値の調節が極めて困難である。
そこで本発明は、抵抗器の実装面積が小さく、また基板
の焼成後で抵抗値の調節が可能な抵抗内蔵の多層セラミ
ック回路基板を提供することを目的とする。
の焼成後で抵抗値の調節が可能な抵抗内蔵の多層セラミ
ック回路基板を提供することを目的とする。
上記課題は、三次元配線を有するた多層セラミック回路
基板であって、抵抗体から成り該基板を上下方向に貫通
する抵抗器用穴の上下にはそれぞれ電極部が設けられ、
該基板の各層から基板表面の他の電極部に接続する引き
出し線路は該抵抗体のいずれか1つに接続され、他の電
極部の選定により抵抗体の少なくとも1つを電極部と他
の電極部との間に組み入れて該基板の抵抗値を調整する
構成としたことを特徴とする多層セラミツ夛回路基板、
および三次元配線を有する多層セラミック回路基板の製
造方法において、予め複数枚のグリーンシートの所定位
置に抵抗器用穴を形成し、この穴に抵抗体を設ける工程
と、前記グリーンシートの各層から表面に設けた電極部
に達する独立した引き出し線路を形成する工程と、前記
グリーンシートを位置合わせして積層したのち焼成する
工程とを含むことを特徴とする多層セラミック回路基板
の製造方法によって解決される。
基板であって、抵抗体から成り該基板を上下方向に貫通
する抵抗器用穴の上下にはそれぞれ電極部が設けられ、
該基板の各層から基板表面の他の電極部に接続する引き
出し線路は該抵抗体のいずれか1つに接続され、他の電
極部の選定により抵抗体の少なくとも1つを電極部と他
の電極部との間に組み入れて該基板の抵抗値を調整する
構成としたことを特徴とする多層セラミツ夛回路基板、
および三次元配線を有する多層セラミック回路基板の製
造方法において、予め複数枚のグリーンシートの所定位
置に抵抗器用穴を形成し、この穴に抵抗体を設ける工程
と、前記グリーンシートの各層から表面に設けた電極部
に達する独立した引き出し線路を形成する工程と、前記
グリーンシートを位置合わせして積層したのち焼成する
工程とを含むことを特徴とする多層セラミック回路基板
の製造方法によって解決される。
第1図は本発明の原理説明図である。同図において、1
1は複数枚の積層されるグリーンシート、12は各グリ
ーンシート11のそれぞれに穿孔された抵抗器形成用穴
、13は前記抵抗器形成用穴12に設けた抵抗体、14
はグリーンシート11の各層から基板表面に設けた他の
電極部16に達するよう独立して形成した引き出し線路
であり、グリーンシート11を位置合わせして積層した
のち焼成することにより三次元配線を有する多層セラミ
ック回路基板が製造される。なお、工5は抵抗器用大工
2の上下に形成された電極部である。第2図は第1図の
多層セラミック回路基板の等価回路図であり、グリーン
シート11の厚さ方向に抵抗体13が直列に接続され、
また各抵抗体13間から表面の他の電極部16に引き出
し線路14が形成され、かつ内部の引き出し線路14の
一部と電極部15はLS117に接続されている。なお
、抵抗体13は、抵抗穴12に導電性ペースト21を充
填すること、抵抗器穴12にグリーンシート11の焼成
温度より低い温度で焼成し、グリーンシート11と同等
の厚さを有する導電性チップ31を充填すること、また
は抵抗穴12に導電性を有する抵抗粉末41を充填する
ことによっても形成される。
1は複数枚の積層されるグリーンシート、12は各グリ
ーンシート11のそれぞれに穿孔された抵抗器形成用穴
、13は前記抵抗器形成用穴12に設けた抵抗体、14
はグリーンシート11の各層から基板表面に設けた他の
電極部16に達するよう独立して形成した引き出し線路
であり、グリーンシート11を位置合わせして積層した
のち焼成することにより三次元配線を有する多層セラミ
ック回路基板が製造される。なお、工5は抵抗器用大工
2の上下に形成された電極部である。第2図は第1図の
多層セラミック回路基板の等価回路図であり、グリーン
シート11の厚さ方向に抵抗体13が直列に接続され、
また各抵抗体13間から表面の他の電極部16に引き出
し線路14が形成され、かつ内部の引き出し線路14の
一部と電極部15はLS117に接続されている。なお
、抵抗体13は、抵抗穴12に導電性ペースト21を充
填すること、抵抗器穴12にグリーンシート11の焼成
温度より低い温度で焼成し、グリーンシート11と同等
の厚さを有する導電性チップ31を充填すること、また
は抵抗穴12に導電性を有する抵抗粉末41を充填する
ことによっても形成される。
本発明によれば、抵抗体13がLSI素子実装面に対し
て垂直に形成されるため、抵抗体13の実装面積を小さ
くできる。さらに各層から基板表面に設けた他の電極部
16に引き出し線路14を設けることによって、焼成後
に基板表面の他の電極部16を選択することによって抵
抗値を調節することができる。
て垂直に形成されるため、抵抗体13の実装面積を小さ
くできる。さらに各層から基板表面に設けた他の電極部
16に引き出し線路14を設けることによって、焼成後
に基板表面の他の電極部16を選択することによって抵
抗値を調節することができる。
以下、本発明を図示の一実施例により具体的に説明する
。
。
第3図は本発明第一実施例の多層セラミック回路基板の
構成図である。なお1.第1図に対応する部分は同一の
符号を記す(以下の実施例も同様とする)。
構成図である。なお1.第1図に対応する部分は同一の
符号を記す(以下の実施例も同様とする)。
同図において、アルミナ、はうけい酸ガラス、バインダ
ー、溶剤を混合してスラリーを作製し、ドクターブレー
ド法によって厚さ500 μm程度のグリンシート11
を作製した。これを100mm角に打ち抜き、0.3a
+m φのドリルでスルーホールを形成した。そして抵
抗器用穴12として0.2mn+ φ程度のスルーホー
ルに抵抗体として抵抗ペースト21を、引き出し線用の
スルーホールに銅ペーストを充填したのち、表面(基板
の両面)の他の電極部16に達するための引き出し線路
14をスクリーン印刷した。抵抗ペースト21は、それ
ぞれ粒径3μmのLaB、粉末とはうけい酸ガラス粉末
とを2:1の割合で混合し、混練して作製した。次にこ
れらのグリーンシート11を位置合わせして10枚重ね
て加圧積層した。続いて1000°Cの窒素中で焼成し
、全体の厚さが4IllIm程度の多層セラミック基板
を得た。
ー、溶剤を混合してスラリーを作製し、ドクターブレー
ド法によって厚さ500 μm程度のグリンシート11
を作製した。これを100mm角に打ち抜き、0.3a
+m φのドリルでスルーホールを形成した。そして抵
抗器用穴12として0.2mn+ φ程度のスルーホー
ルに抵抗体として抵抗ペースト21を、引き出し線用の
スルーホールに銅ペーストを充填したのち、表面(基板
の両面)の他の電極部16に達するための引き出し線路
14をスクリーン印刷した。抵抗ペースト21は、それ
ぞれ粒径3μmのLaB、粉末とはうけい酸ガラス粉末
とを2:1の割合で混合し、混練して作製した。次にこ
れらのグリーンシート11を位置合わせして10枚重ね
て加圧積層した。続いて1000°Cの窒素中で焼成し
、全体の厚さが4IllIm程度の多層セラミック基板
を得た。
上記製造方法によれば、得られた抵抗器の抵抗値をデジ
タルマルチメータを用い、四端子法によって測定したと
ころ、10層の抵抗体の抵抗値はそれぞれ4.8〜6.
0Ωであり、これを直列につなぐことによって0〜54
Ωの抵抗値が約5.4Ω刻みで得られた。
タルマルチメータを用い、四端子法によって測定したと
ころ、10層の抵抗体の抵抗値はそれぞれ4.8〜6.
0Ωであり、これを直列につなぐことによって0〜54
Ωの抵抗値が約5.4Ω刻みで得られた。
また、得られた抵抗器の寸法は、0.2 Xo、2 X
4Il1113であった。同様の抵抗器を従来法(スク
リーン印刷法など)で作製するためには、膜厚0.02
5m−1線幅0.5a+mと仮定すると、線長は1.2
Ωm必要(計算による)である。すなわち、本実施例で
は抵抗値の実装面積を小さくすることが可能である。
4Il1113であった。同様の抵抗器を従来法(スク
リーン印刷法など)で作製するためには、膜厚0.02
5m−1線幅0.5a+mと仮定すると、線長は1.2
Ωm必要(計算による)である。すなわち、本実施例で
は抵抗値の実装面積を小さくすることが可能である。
この例では、(0,2X0.2)八〇、5 Xl、2)
=1/15となる。
=1/15となる。
第4図は本発明第二実施例の多層セラミック回路基板の
構成図である。
構成図である。
同図において、第1実施例と同様の方法により厚さ50
0 μ鋼程度のグリンシートを作製した。これを100
mm角に打ち抜き、0.3mm φのドリルでスルーホ
ールを形成し、ここに銅ペーストを充填した。続いて所
定の位置に抵抗器用穴12として0.2mmφ程度のス
ルーホールをグリーンシート11を貫通するように形成
し、導電性チップ31を充填したのち、表面(基板の両
面)の他の電極部16に達するための引き出し線14を
スクリーン印刷した。次に、これらのグリーンシート1
1を位置合わせして10枚重ねて加圧積層した。続いて
1000°Cの窒素中で焼成し、全体の厚さが4mm程
度の多層セラミック基板を得た。
0 μ鋼程度のグリンシートを作製した。これを100
mm角に打ち抜き、0.3mm φのドリルでスルーホ
ールを形成し、ここに銅ペーストを充填した。続いて所
定の位置に抵抗器用穴12として0.2mmφ程度のス
ルーホールをグリーンシート11を貫通するように形成
し、導電性チップ31を充填したのち、表面(基板の両
面)の他の電極部16に達するための引き出し線14を
スクリーン印刷した。次に、これらのグリーンシート1
1を位置合わせして10枚重ねて加圧積層した。続いて
1000°Cの窒素中で焼成し、全体の厚さが4mm程
度の多層セラミック基板を得た。
導電性チップ31は次のように作製した。まず、それぞ
れ粒径3μmのLaBb粉末とはうけい酸ガラス粉末と
を2:lの割合で混合しこれを加圧成形したのち100
0°Cで熱処理した。得られた焼成体をめのう乳鉢で粉
砕したのちふるいがけし、粒径が400〜500μmの
球状のチップを得た。
れ粒径3μmのLaBb粉末とはうけい酸ガラス粉末と
を2:lの割合で混合しこれを加圧成形したのち100
0°Cで熱処理した。得られた焼成体をめのう乳鉢で粉
砕したのちふるいがけし、粒径が400〜500μmの
球状のチップを得た。
上記製造方法によれば、得られた抵抗器の抵抗値をデジ
タルマルチメータを用い、四端子法によって測定したと
ころ、10層の抵抗値の抵抗値はそれぞれ4.0〜5.
6Ωであり、これを直列につなぐことによって0〜48
Ωの抵抗値が約4.8Ω刻みで得られた。
タルマルチメータを用い、四端子法によって測定したと
ころ、10層の抵抗値の抵抗値はそれぞれ4.0〜5.
6Ωであり、これを直列につなぐことによって0〜48
Ωの抵抗値が約4.8Ω刻みで得られた。
また、得られた抵抗器の寸法は0.2X0.2X4ms
″であった。同様の抵抗器を従来法(スクリーン印刷法
など)で作製するためには、膜厚0.025mm、線幅
0.5+*mと仮定すると、線長は1.2mm必要(計
算による)である。すなわち、本実施例によると抵抗値
の実装面積を小さくすることが可能である。
″であった。同様の抵抗器を従来法(スクリーン印刷法
など)で作製するためには、膜厚0.025mm、線幅
0.5+*mと仮定すると、線長は1.2mm必要(計
算による)である。すなわち、本実施例によると抵抗値
の実装面積を小さくすることが可能である。
この例では、(0,2x0.2)/(0,5xl、2)
=1/15となる。
=1/15となる。
第5図は本発明第三実施例の多層セラミック回路基板の
構成図である。
構成図である。
同図において、第1実施例と同様の方法により厚さ50
0μm程度のグリンシートを作製した。これを100+
+us角に打ち抜き、0.3+am φのドリルでスル
ーホールを形成した。そして抵抗器用穴12として0.
2mm φ程度のスルーホールに抵抗粉末41を、引き
出し線用のスルーホールに銅ペーストを充填したのち、
表面(基板の両面)の他の電極部16に達するための引
き出し線14をスクリーン印刷した。
0μm程度のグリンシートを作製した。これを100+
+us角に打ち抜き、0.3+am φのドリルでスル
ーホールを形成した。そして抵抗器用穴12として0.
2mm φ程度のスルーホールに抵抗粉末41を、引き
出し線用のスルーホールに銅ペーストを充填したのち、
表面(基板の両面)の他の電極部16に達するための引
き出し線14をスクリーン印刷した。
抵抗粉末には、それぞれ粒径3μ慣のLaB、粉末とは
うけい酸ガラス粉末とを2:1の割合で混合したものを
用いた0次にこれらのグリーンシート11を位置合わせ
して10枚重ねて加圧積層した。続いて1000℃の窒
素中で焼成し、全体の厚さが4IllII+程度の多層
セラミック基板を得た。
うけい酸ガラス粉末とを2:1の割合で混合したものを
用いた0次にこれらのグリーンシート11を位置合わせ
して10枚重ねて加圧積層した。続いて1000℃の窒
素中で焼成し、全体の厚さが4IllII+程度の多層
セラミック基板を得た。
上記製造方法によれば、得られた抵抗器の抵抗値をデジ
タルマルチメータを用い、四端子法によって測定した。
タルマルチメータを用い、四端子法によって測定した。
10層の抵抗値の抵抗値はそれぞれ4.5〜6.4Ωで
あり、これを直列につなぐことによって0〜55Ωの抵
抗値が約5.5Ω刻みで得られた。なお、第二と第三の
実施例においても、第一の実施例と同様に、抵抗器用穴
12の上下には電極部15を形成する。
あり、これを直列につなぐことによって0〜55Ωの抵
抗値が約5.5Ω刻みで得られた。なお、第二と第三の
実施例においても、第一の実施例と同様に、抵抗器用穴
12の上下には電極部15を形成する。
また、得られた抵抗器の寸法は0.2X0.2X4ms
+″であった。同様の抵抗器を従来法(スクリーン印刷
法)で作製するためには、膜厚0.025mm 、線幅
0.5mmと仮定すると、線長は1 、2mm必要(計
算による)である。すなわち、本発明によると抵抗値の
実装面積を小さくすることが可能である。この例では、
(0,2xO,2)/(0,5xl、2)=1/15と
なる。
+″であった。同様の抵抗器を従来法(スクリーン印刷
法)で作製するためには、膜厚0.025mm 、線幅
0.5mmと仮定すると、線長は1 、2mm必要(計
算による)である。すなわち、本発明によると抵抗値の
実装面積を小さくすることが可能である。この例では、
(0,2xO,2)/(0,5xl、2)=1/15と
なる。
なお、上記各実施例では、基板表面の他の電極部16を
一直線上配置されるように形成しているが、例えば、第
6図に示すように、抵抗体13の電極部15を中心とす
る円周上に他の電極部16が位置するように形成すれば
、さらにコンパクトにすることが可能になる。
一直線上配置されるように形成しているが、例えば、第
6図に示すように、抵抗体13の電極部15を中心とす
る円周上に他の電極部16が位置するように形成すれば
、さらにコンパクトにすることが可能になる。
以上説明した様に本発明によれば、セラミック回路基板
に抵抗体をLSI素子実装面に対して垂直に形成するこ
とで、抵抗器の実装面積が小さく、また焼成後の抵抗値
の調節が可能な抵抗内蔵多層セラミック回路基板が得ら
れ、装置の小型化および高性能化に寄与するところが大
きい。
に抵抗体をLSI素子実装面に対して垂直に形成するこ
とで、抵抗器の実装面積が小さく、また焼成後の抵抗値
の調節が可能な抵抗内蔵多層セラミック回路基板が得ら
れ、装置の小型化および高性能化に寄与するところが大
きい。
第1図は本発明の原理説明図、
第2図は第1図の多層セラミ回路基板の等価回路図、
第3図は本発明第一実施例の多層セラミック回路基板の
構成図、 第4図は本発明第二実施例の多層セラミック回路基板の
構成図、 第5図は本発明第三実施例の多層セラミック回路基板の
構成図、 第6図は本発明実施例の電極部の配置を示す図、第7図
は従来の抵抗器を内蔵する多層セラミック回路基板の構
成図である。 図中、 11はグリーンシート、 12は抵抗器用穴、 13は抵抗体、 14は引き出し線路、 15は電極部、 16は他の電極部、 17はLS I。 21は抵抗ペースト、 31は導電性チップ、 41は抵抗粉末 を示す。
構成図、 第4図は本発明第二実施例の多層セラミック回路基板の
構成図、 第5図は本発明第三実施例の多層セラミック回路基板の
構成図、 第6図は本発明実施例の電極部の配置を示す図、第7図
は従来の抵抗器を内蔵する多層セラミック回路基板の構
成図である。 図中、 11はグリーンシート、 12は抵抗器用穴、 13は抵抗体、 14は引き出し線路、 15は電極部、 16は他の電極部、 17はLS I。 21は抵抗ペースト、 31は導電性チップ、 41は抵抗粉末 を示す。
Claims (2)
- (1) 三次元配線を有する多層セラミック回路基板で
あって、 抵抗体(13)から成り該基板を上下方向に貫通する抵
抗器用穴(12)の上下にはそれぞれ電極部(15)が
設けられ、 該基板の各層から基板表面の他の電極部(16)に接続
する引き出し線路(14)は該抵抗体(13)のいずれ
か1つに接続され、 他の電極部(16)の選定により抵抗体(13)の少な
くとも1つを電極部(15)と他の電極部(16)との
間に組み入れて該基板の抵抗値を調整する構成としたこ
とを特徴とする多層セラミック回路基板。 - (2) 三次元配線を有する多層セラミック回路基板の
製造方法において、 予め複数枚のグリーンシート(11)の所定位置に抵抗
器用穴(12)を形成し、この穴(12)に抵抗体(1
3)を設ける工程と、 前記グリーンシート(11)の各層から表面に設けた他
の電極部(16)に達する独立した引き出し線路(14
)を形成する工程と、 前記グリーンシート(11)を位置合わせして積層した
のち焼成する工程とを含むことを特徴とする多層セラミ
ック回路基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6606089A JPH02246299A (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 多層セラミック回路基板及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6606089A JPH02246299A (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 多層セラミック回路基板及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02246299A true JPH02246299A (ja) | 1990-10-02 |
Family
ID=13304941
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6606089A Pending JPH02246299A (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 多層セラミック回路基板及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02246299A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994022281A1 (fr) * | 1993-03-19 | 1994-09-29 | Fujitsu Limited | Carte de circuit imprime feuilletee |
| US5910755A (en) * | 1993-03-19 | 1999-06-08 | Fujitsu Limited | Laminate circuit board with selectable connections between wiring layers |
| JP2006269692A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Tdk Corp | 多層セラミック基板及びその製造方法 |
-
1989
- 1989-03-20 JP JP6606089A patent/JPH02246299A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1994022281A1 (fr) * | 1993-03-19 | 1994-09-29 | Fujitsu Limited | Carte de circuit imprime feuilletee |
| US5910755A (en) * | 1993-03-19 | 1999-06-08 | Fujitsu Limited | Laminate circuit board with selectable connections between wiring layers |
| JP2006269692A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Tdk Corp | 多層セラミック基板及びその製造方法 |
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