JPH02247813A

JPH02247813A - 磁気ディスクの電流飽和特性測定方法

Info

Publication number: JPH02247813A
Application number: JP6876789A
Authority: JP
Inventors: Eiji Yuuki; 結城　英詞; Katsuhiro Shimokawa; 下川　活弘
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1989-03-20
Filing date: 1989-03-20
Publication date: 1990-10-03
Anticipated expiration: 2012-09-10
Also published as: JP2652883B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この発明は、磁気ディスクの電流飽和特性の測定方式で
あって、詳しくは磁気ディスクの変歪などにより読み出
し信号に生じたモジュレーシヨンを消去して正しい飽和
特性を求めるものである。

［従来の技術］情報記録媒体として多用されている磁気ディスクは、製
造過程において各種のテストが行われる。

テスト項１】の−・つとして、−１き込み電流に対する
記録媒体の飽和特性があり、飽和特性により適正な占き
込み電流の決定などが行われる。

第４図（ａ　）　、　（ｂ　）　、　（ｃ　）　、　（
ｄ　）により、磁気ディスクに対する従来の電流飽和特
性の測定方法を説明する。図（ａ）に示す磁気ディスク
１の所定のトラックに対して、インデックス（ＩＮＤ）
間、すなわちトラックの１周に、図（ｂ）に示す一定周
波数の−）き込み電流１ｗによりテスト（ｔ、ｌｊ吋が
−）き込まれ、これが読み出される。この場合の電流１
ｗの振幅と読み出されたテスト信号の振幅ＥＲの関係は
、図（Ｃ）のように、Ｉｗの増加に従ってＥＲはある程
度まで比例的に急−ｔ、　’ｊ＋’　してピーク値Ｅｐ
で飽和し、それ以後は緩やかに低ドする。低ドの原因は
、Ｉｗが過大のときは、記録ヘッドの磁界が影響して直
前の記録符号が減磁されることによる。

以−１−の特性により飽和の手前ではＩｗの小さい変化
によりＥＲが大きく変化して不安定であり、また過大の
ときは直前の記録ね号に悪影響を及ぼすのでいずれも好
ましくない。これに対して、ピーク点ｐを過ぎて間のな
い変化の小さい点ｑをとり、点ｑに対する電流値■ｗｃ
が適正電流値であるとされる。点ｑはピーク値Ｅｐに１
より小さい適゛うな係数ｋを乗じて求められる。

以上の適正電流を求めるため、または媒体の記録性能を
知るためには飽和特性を測定することが必要であり、従
来においては、Ｉｗをパラメータとして同一　トラック
に対する書き込みと読み出しを複数回繰り返すことによ
り、第４図（ｃ）の（ＥＲ−Ｉｗ）曲線、すなわち飽和
特性を求める方法がｉＴわれでいる。

［解決しようとする課題］以−１、−の飽和特性の測定においては、各電流値ＩＷ
に対してそれぞれトラック１周の−）き込みと読み出し
を行うものであるが、トラック１周のデータを必要とす
る理由は、磁気ディスクに存在する変歪などにより、読
み出されたテスト信号・に第４図（ｄ）に示すモジュレ
ーションが発生するので、１周の平均値を求めてモジュ
レーションを消去するためである。このようなテスト方
法では、試験回数が多く、生産を場において多数の磁気
ディスクを対象とする場合は、測定が非常に長時間とな
って効率的でない。これに対して、この発明の発明者に
より、モジュレーションがない場合、またはこれが補正
可能なことを前提として、トラックの１周に対して、振
幅が変化する古き込み電流によりとき込みと読み出しを
行い、１周のテストで飽和特性と適正電流を効率的に求
める方法が提案され、別途に「磁気ディスクの占き込み
電流値測定方式および測定器」として特１１１出願され
る。そこで、モジュレーションを消去して正しい飽和特
性を求める方法が問題である。

この発明は以１−に鑑みてなされたもので、磁気ディス
クのトランク１周に対して、振幅が変化する占き込み電
流によりテストイハ号をＪ）き込み、その読み出し信ｚ
７に生じたモジュレーションを消去して、正しい電流飽
和特性のデータと、適正なＩｔき込み電流値の一データ
を出力する測定方式を提供することを［１的とするもの
である。

［課題を解決するための手段］この発明は、磁気ディスクテスターにおける磁気ディス
クの電流飽和特性測定方式であって、マイクロプロセッ
サの制御と演算により、磁気ディスクのトラックの１周
に対して、一定周波数を打し、振幅が磁気ディスクの一
定間隔の回転角度ごとに一定の大きさづつ階段的に増加
する占き込み電流によりテスト信号を書き込み、読み出
したテスト信号のエンベロープ信号を検出する。ｌ−記
の各回転角度におけるエンベロープ信号に対して、ｐめ
測定されメモリに記憶されているモジュレーション補正
係数をそれぞれ乗じた飽和特性データと、適正な古き込
み電流値データを出力する。

上記の予めのｉｉ！ｌｌ定は、トラックの１周に対して
振幅と周波数がともに一定の電流によりテスト（Ｊｉ号
の−１き込みと読み出しを杼う。読み出されたテスト信
号に対するエンベロープ信号と、一定１１１１隔の回転
角度におけるそれぞれの波高値を検出する。

各波高値のトラック１周に対する平均値を計算し、・１
４均値と各波（“５値の比数をモジュレーション補正係
数とするものである。

［作用コ第１図（ａ）、（ｂ）および（Ｃ）により、この発明に
よる電流飽和特性の測定方式の手順を説明する。

マイクロプロセッサの制御により、図（ａ）に示す磁気
ディスクの−・定間隔の回転角度ｅ１＋０２・・・・・
・Ｏｎ　　（ｎはトランク１周の分割数）ごとに、振幅
が段階的に増加する古き込み電流Ｉｗにより、磁気ディ
スクのインデックス間のトラックの１円に対してテスト
信号を８き込む。これを読み出してそのエンベロープ信
号Ｅｅを検出すると、モジュレーションされた図（ｂ）
の波形かえられ、そのピーク値をＥｐで示す。エンベロ
ープ信号Ｅｅの各回転角度における波高値に対してモジ
ュレーション補正係数を乗すると、図（ｃ）の補正エン
ベローブイ５号Ｅｅ′かえられ、これが求める飽和曲線
である。なお、ピーク値Ｅｐに対してｌより小さい適当
な定数ｋを乗じたｋＥｐに対する回転角度Ｏｑより、図
（ａ）のＩｗ　−０曲線により適正電流）ｗｅが求めら
れる。これらの演算はマイクロプロセンサにより行われ
る。

次に、第２図によりモジュレーション補正係数を求める
手順を説明する。磁気ディスクのトラック１周に対して
、一定周波数で一定振幅の書き込み電流によりテスト信
号を古き込み、これを読み出すと図示の波形かえられる
。この波形のエンベロープεｅを検出し、さらに各回転
角度Ｏ１，θ２・・・・・・ｏｎにおける波高値ｅｌ　
、　　ｅ２・・・・・・ｅｎを検出する。各波高値の平
均値Ｍを計算し、平均値Ｍと合波１「Ｇ値の比数を求め
て各回転角度に対するモジュレーション補正係数とする
。この場合のｎはトラックの１周に分割数で、必要な精
度を勘案して適切に定めるものである。

［実施例］第３図は、この発明による電流飽和特性測定方式の実施
例に対する概略ブロック構成図を示す。

図において、マイクロプロセッサ２の指令により、駆動
制御器１ａより駆動電流が供給されてモータ１ｂと磁気
ディスク１が回転し、インデックス検出器１ｃよりイン
デックス信号が出力される。また角度検出７Ｓｉｌｄよ
り一定間隔の角度信号が出力される。占き込み電流レジ
スタ３には予め、マイクロプロセッサより一定振幅の電
流値、および−定間隔の回転角度ごとに振幅が一定の大
きさで段階的に増加する書き込み電流値に対するデータ
が設定される。

モジュレーション補正係数を求める場合は、マイクロプ
ロセッサの指令とインデックス検出器ＩＣよりのインデ
ックス信号により、書き込み電流レジスタ３より一定振
幅の書き込み電流に対するデータを出力して電流発生器
４に与え、書き込み／読み出し増幅器（Ｒ／Ｗ−ＡＭＰ
）５、磁気ヘッド６によりテスト信号を潜き込む。これ
が読み出すレテエンベロープ検出器７によりエンベロー
プ信号が検出され、Ａ／Ｄ変換器８において角度検出器
１ｄよりの角度４５号により、エンベロープ信号の波高
値が、一定角度間隔でＡ／Ｄ変換されてメモリ２ａに転
送されて記憶される。マイクロプロセッサ２の演算によ
り、トラック１周に対する各波高値の・Ｖ均値が計算さ
れ、さらに平均値と各波高値の比数すなわちモジュレー
ション補正係数が計算されてメモリ２ａに記憶される。

電流飽和特性の測定においては、マイクロプロセッサ２
の指令により、インデックス信号を起点として」−記の
角度信号により、ＩＦき込み電流レジスタ３より一■−
記のデータが逐次電流発生器４に入力し、回転角度ごと
に段階的に増加するｒ’Ｊき込み電流が出力してテスト
信号の書き込みが行われ、次のインデックス信号で終了
する。終了後、読み出されたテスト４５号は、上記の補
正係数の場合と同様に、角度信″；ノーごとにエンベロ
ープ信号の波高値がＡ／Ｄ変換されてメモリ２ａに転送
され、マイクロプロセッサ２によりモジュレーション補
正係数が乗ぜられて飽和特性のデータかえられる。

同時に適正な、４き込み電流値が計算され、これらのデ
ータはメモリ２ａに記憶され、また出力部２ｂに出力さ
れる。

［発明の効果］以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスクの電流飽和特性測定方式においては、マイクロ
プロセッサの制御と演算により、トラック１周に段階的
に増加する電流によりテスト信号を古き込み、読み出し
信号にモジュレーション補正係数を乗じて正しい電流飽
和特性と適正な書き込み電流値を迅速に４−１定してそ
のデータを出力するもので、生産Ｔ場における多数の磁
気ディスクに対する測定作業の効ヰ（化に人き（寄与す
るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、（ｂ）および（Ｃ）は、この発明による
磁気ディスクの電流飽和特性測定方式の手順の説明図、
第２図は、第１図の手順に対するモジュレーシロン補正
係数の測定手順の説明図、第３図は、この発明による磁
気ディスクの電流飽和特性ｉ’１ｌｌｌ定方式の実定例
式対する概略ブロック構成図、第４図（ａ）、（ｂ）　
、（ｃ）および（ｄ）は、磁気ディスクに対する従来の
電流飽和測定方法の説明図である。１・・・磁気ディスク、　　　１ａ・・・駆動制御器、
ｉｂ・・・モータ、　　　１ｃ・・・インデックス検出
器、１ｄ・・・角度検出器、　　２・・・マイクロプロ
セッサ、２ａ・・・メモリ、　　　　　　２ｂ・・・出
力部、３・・・書き込み電流レジスタ、４・・・電流発
生器、５・・・Ｒ／Ｗ−ＡＭＰｌ　　　Ｂ・・・磁気ヘ
ッド、７・・・エンベロープ検出器、８・・・Ａ／１）
変換器。第ズＮＤＮＯ粥区第１図（ａ）Ｎ４図（ａ）

Claims

【特許請求の範囲】

（１）磁気ディスクテスターにおいて、マイクロプロセ
ッサの制御および演算により、磁気ディスクのインデッ
クス信号間のトラックの１周に対して、一定の周波数を
有し、振幅が該磁気ディスクの一定間隔の回転角度ごと
に一定の大きさづつ段階的に増加する書き込み電流によ
り、テスト信号の書き込みと読み出しを行い、該読み出
された該テスト信号のエンベロープ信号を検出し、上記
一定間隔の回転角度における該エンベロープ信号に対し
て、予め測定されメモリに記憶されたモジュレーション
補正係数をそれぞれ乗じた飽和特性データと、適正書き
込み電流値データとを出力することを特徴とする、磁気
ディスクの電流飽和特性測定方式。
（２）上記の予めの測定は、上記トラックの１周に対し
て、一定振幅で一定周波数の書き込み電流により書き込
みと読み出しを行い、該読み出されたテスト信号のエン
ベロープ信号および該エンベロープ信号の上記各回転角
度における波高値をそれぞれ検出し、各該波高値の上記
トラックの１周の平均値を計算し、該平均値と該波高値
の比数を上記モジュレーション補正係数とする、請求項
１記載の磁気ディスクの電流飽和特性測定方式。