JPH07110926A - ヘッドの試験方法 - Google Patents

ヘッドの試験方法

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JPH07110926A
JPH07110926A JP25737093A JP25737093A JPH07110926A JP H07110926 A JPH07110926 A JP H07110926A JP 25737093 A JP25737093 A JP 25737093A JP 25737093 A JP25737093 A JP 25737093A JP H07110926 A JPH07110926 A JP H07110926A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
test
head
track
disk medium
Prior art date
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Pending
Application number
JP25737093A
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English (en)
Inventor
Tetsuro Ishikawa
哲朗 石川
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH07110926A publication Critical patent/JPH07110926A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ヘッドの試験方法に関し、試験時間を短縮す
ることを目的とする。 【構成】 トラック上の所定位置によって分割されたト
ラックの前半領域又は後半領域に対し最高周波数のデー
タを試験用ヘッド2を介して書込むと共に、トラックの
後半領域又は前半領域に対し最低周波数のデータを書込
む書込み手段4と、トラック上のデータを試験用ヘッド
2に読出させて、最高周波数のデータ及び最低周波数の
データのレベルを夫々測定する測定手段3と、測定手段
3の測定結果から試験用ヘッド2の良否を判定する判定
手段6とを備えた試験装置において、ディスク媒体1上
の一つのトラックの前半領域と後半領域に対し、ディス
ク媒体1の1回転中に最高及び最低周波数のデータを書
込ませ、続いて、ディスク媒体1の1回転中に最高及び
最低周波数のデータを夫々読出させて測定手段3にレベ
ル測定を行わせることにより、試験用ヘッド2の良否判
定を行う構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はヘッドが読出す最高周波
数のデータ及び最低周波数のデータのレベルを測定し
て、該ヘッドの良否を判定する際の試験時間を短縮し得
るヘッドの試験方法に関する。
【0002】作成された磁気ヘッドの良否を判定するた
めには、各種の試験項目があるが、この試験項目の代表
的なものに、ディスク装置のデータ転送速度から決定さ
れる最高周波数のデータと最低周波数のデータの読出し
レベルと、この読出しレベルから算出される分解能とが
ある。
【0003】従って、ヘッドの試験装置は、ディスク媒
体に最高周波数のデータを記録した後、このデータを磁
気ヘッドに読出させてレベルを測定し、最低周波数のデ
ータを記録した後、このデータを磁気ヘッドに読出させ
てレベルを測定している。
【0004】ところが、近年、情報処理装置のダウンサ
イジング化の要望に対応して、ディスク装置の生産量が
増大し、且つコストダウンの要求も強くなり、この磁気
ヘッドを試験する時間の短縮が求められている。
【0005】
【従来の技術】図5は従来技術の一例を説明する図であ
る。従来のヘッド試験装置は、ディスク媒体を回転させ
るスピンドルモータの回転軸に取付けたエンコーダ等か
ら得られる信号に基づき、図5(A) ので示すトラック
の先頭位置を表すインデックスを検出すると、試験用ヘ
ッドにイレーズ信号を送出して、ディスク媒体が一周回
転する間、このトラックをイレーズする。
【0006】そして、次に試験用ヘッドが使用されるデ
ィスク装置のデータ転送速度から決定されるデータの最
高周波数に対応して、図5(A) のHF書込みに示す如
く、トラックの全領域に対して、最高周波数のデータを
試験用ヘッドに送出することにより書込む。
【0007】そして、図5(A) のHF読出しに示す如
く、書込まれた最高周波数のデータを試験用ヘッドを介
して読出し、続いて、前記同様イレーズに示す如く、こ
のトラックの全領域をイレーズした後、続いて、LF書
込みに示す如く、最低周波数のデータを書込み、続い
て、LF読出しに示す如く、書込まれた最低周波数のデ
ータを読出させる。
【0008】ディスク媒体に書込まれる最高周波数のデ
ータと最低周波数のデータは、磁化反転位置が等間隔に
なるようなデータであるため、試験用ヘッドが読出すデ
ータの波形は、最高周波数のデータの場合、図5(B) に
示す如く、磁化反転間隔が狭いため相互に干渉されて正
弦波となるが、最低周波数のデータの場合は、図5(C)
に示す如く、独立波形が読出される。
【0009】ヘッド試験装置は、図5(B) に示す正弦波
の1トラック分におけるレベルの平均値と、図5(C) に
示す独立波形の1トラック分におけるレベルの平均値と
を測定して、夫々の規格範囲内にあるものを良品とし、
且つ、そのレベル比を求めて規格範囲内にあるものを分
解能においても良品とする。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上記の如く、従来のヘ
ッド試験装置は、1個の被試験用ヘッドに対して、最高
周波数のデータと最低周波数のデータの読出しレベルを
測定するが、このために、図5(A) に示す如く、ディス
ク媒体を6回転させる必要があり、試験時間が長いとい
う問題がある。
【0011】本発明はこのような問題点に鑑み、最高周
波数のデータと最低周波数のデータの読出しレベル測定
に、1トラック分の領域を必要としないことから、1ト
ラック上に両方の周波数のデータを書込むことで、従来
の1/2の時間でレベル測定を可能にし、試験時間の短
縮を計ることを目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理を説
明するブロック図である。試験装置は、ディスク媒体1
上に形成されたトラック上の所定位置によって分割され
た前記トラックの前半領域又は後半領域に対し所定の最
高周波数のデータを試験用ヘッド2を介して書込むと共
に、前記トラックの後半領域又は前半領域に対し所定の
最低周波数のデータを前記試験用ヘッド2を介して書込
む書込み手段4と、この書込み手段4が書込んだ前記ト
ラック上のデータを前記試験用ヘッド2に読出させて、
前記最高周波数のデータ及び前記最低周波数のデータの
レベルを夫々測定する測定手段3と、この測定手段3の
測定結果から前記試験用ヘッド2の良否を判定する判定
手段6とを備えている。
【0013】そして、前記ディスク媒体1上の一つのト
ラックの前半領域と後半領域に対し、このディスク媒体
1の1回転中に前記最高周波数のデータ及び最低周波数
のデータを夫々書込ませ、続いて、このディスク媒体1
の1回転中に前記最高周波数のデータ及び最低周波数の
データを夫々読出させて前記測定手段3にレベル測定を
行わせることにより、前記試験用ヘッド2の良否判定を
行う。
【0014】
【作用】上記の如く構成することにより、トラックのイ
レーズを行うために、ディスク媒体の1回転が必要とな
るが、最高周波数のデータと最低周波数のデータのレベ
ル測定のためには、データの書込みにディスク媒体の1
回転と、読出しに1回転を必要とするのみで良いため、
従来に比し測定時間を1/2に短縮させることが出来
る。
【0015】
【実施例】図2は本発明の一実施例を示す回路のブロッ
ク図で、図3と図4は図2の動作を説明する図である。
【0016】インデックス作成回路13は、ディスク媒
体を回転させるスピンドルモータの回転軸に取付けられ
たスピンドルエンコーダ12から得られる信号から、ト
ラックの先頭位置を示すインデックス信号と、このトラ
ックの中央位置を示す1/2インデックス信号とを作成
すると、シーケンス制御回路10に送出する。
【0017】シーケンス制御回路10は、インデックス
信号を受信すると、次のインデックス信号を受信するま
で、シンセサイザー11に指示して、イレーズ信号を前
置増幅回路7に送出させ、試験用ヘッド2にイレーズ信
号を送出させて、図4のイレーズに示すシーケンスにお
いて、で示す二つのインデックスの間、即ち、1トラ
ック分の領域をイレーズさせる。
【0018】シーケンス制御回路10は、前記次のイン
デックス信号を受信すると、シンセサイザー11に指示
して、所定の時間の間、最高周波数のデータを前置増幅
回路7を経て試験用ヘッド2に送出させ、1/2インデ
ックス信号を受信すると、シンセサイザー11に指示し
て、所定の時間の間、最低周波数のデータを前置増幅回
路7を経て試験用ヘッド2に送出させる。
【0019】従って、ディスク媒体のトラック上には、
図3に示す如く、インデックスに続いての斜線で示
す最高周波数のデータが書込まれ、ディスク媒体の回
転むらを吸収するためのギャップが形成された後、1/
2インデックスに続いての斜線で示す最低周波数の
データが書込まれ、ディスク媒体の回転むらを吸収す
るためのギャップがインデックスとの間に形成され
る。
【0020】そして、これは、図4のHF/LF書込み
に示すシーケンスにおいて実行される。シーケンス制御
回路10は、シンセサイザー11にデータの書込みを行
わせた後、インデックス信号を受信すると、シンセサイ
ザー11を経て前置増幅回路7の動作方向を切替えさ
せ、試験用ヘッド2が読取るデータを主増幅回路8に送
出させる。
【0021】シーケンス制御回路10は、前置増幅回路
7の動作方向切替えと同時に、平均値検出回路9を所定
の時間(前記ギャップの領域まで試験用ヘッド2が到達
しない時間、即ち、図3ので示す領域内を読出す時
間)イネーブルとするため、平均値検出回路9は、主増
幅回路8が増幅して送出する最高周波数のデータの平均
レベルを検出しプロセッサ14に送出する。
【0022】そして、シーケンス制御回路10は1/2
インデックスを受信すると、平均値検出回路9を所定の
時間(前記ギャップの領域まで試験用ヘッド2が到達し
ない時間、即ち、図3ので示す領域内を読出す時間)
イネーブルとするため、平均値検出回路9は、主増幅回
路8が増幅して送出する最低周波数のデータの平均レベ
ルを検出してプロセッサ14に送出する。
【0023】プロセッサ14は、最高周波数のデータの
平均レベルと、最低周波数のデータの平均レベルとが、
夫々所定のレベル範囲内にあるか判定し、試験用ヘッド
2の良否を決定する。
【0024】そして、分解能も算出して規格範囲内にあ
るものを良品とする。これは、図4のHF/LF読出し
に示すシーケンスにおいて実行される。従って、図4の
イレーズ、HF/LF書込み、HF/LF読出しに示す
如く、ディスク媒体が3回転すると、試験用ヘッド2の
レベル測定試験と分解能の試験が完了する。
【0025】
【発明の効果】以上説明した如く、本発明は従来の試験
方法に比し1/2の時間で試験が完了するため、磁気ヘ
ッドの試験工数を削減することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の原理を説明するブロック図
【図2】 本発明の一実施例を示す回路のブロック図
【図3】 図2の動作を説明する図(その1)
【図4】 図2の動作を説明する図(その2)
【図5】 従来技術の一例を説明する図
【符号の説明】
1 ディスク媒体 2 試験用ヘッド 3 測定手段 4 書込み手段 6 判定手段 7 前置増幅回路 8 主増幅回路 9 平均値検出回路 10 シーケンス制御回路 11 シンセサイザー 12 スピンドルエンコーダ 13 インデックス作成回路 14 プロセッサ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディスク媒体(1) 上に形成されたトラッ
    ク上の所定位置によって分割された該トラックの前半領
    域又は後半領域に対し所定の最高周波数のデータを試験
    用ヘッド(2) を介して書込むと共に、該トラックの後半
    領域又は前半領域に対し所定の最低周波数のデータを該
    試験用ヘッド(2) を介して書込む書込み手段(4) と、 該書込み手段(4) が書込んだ前記トラック上のデータを
    前記試験用ヘッド(2)に読出させて、前記最高周波数の
    データ及び前記最低周波数のデータのレベルを夫々測定
    する測定手段(3) と、 該測定手段(3) の測定結果から前記試験用ヘッド(2) の
    良否を判定する判定手段(6) と、 を備えた試験装置におけるヘッド試験方法であって、 前記ディスク媒体(1) 上の一つのトラックの前半領域と
    後半領域に対し、該ディスク媒体(1) の1回転中に前記
    最高周波数のデータ及び最低周波数のデータを夫々書込
    ませ、続いて、該ディスク媒体(1) の1回転中に前記最
    高周波数のデータ及び最低周波数のデータを夫々読出さ
    せて前記測定手段(3) にレベル測定を行わせることによ
    り、前記試験用ヘッド(2) の良否判定を行うことを特徴
    とするヘッドの試験方法。
JP25737093A 1993-10-15 1993-10-15 ヘッドの試験方法 Pending JPH07110926A (ja)

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Effective date: 20000201