JPH02247805A - 磁気ディスクの書き込み電流測定方法およびその電流測定装置 - Google Patents
磁気ディスクの書き込み電流測定方法およびその電流測定装置Info
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- JPH02247805A JPH02247805A JP6876589A JP6876589A JPH02247805A JP H02247805 A JPH02247805 A JP H02247805A JP 6876589 A JP6876589 A JP 6876589A JP 6876589 A JP6876589 A JP 6876589A JP H02247805 A JPH02247805 A JP H02247805A
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- Japan
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- signal
- current value
- magnetic disk
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、磁気ディスクテスターにおける磁気ディス
ク書き込み電流値の測定方式および測定器に関し、詳し
くは適正な書き込み電流値の測定に関するものである。
ク書き込み電流値の測定方式および測定器に関し、詳し
くは適正な書き込み電流値の測定に関するものである。
[従来の技術]
情報記録媒体として多用されている磁気ディスりと磁気
ヘッドは、製造過程において各種のテストが行われるが
、その一つとして制御情報またはテストデータを書き込
む前に、書き込み電流の適正値を決めるための測定が行
われる。
ヘッドは、製造過程において各種のテストが行われるが
、その一つとして制御情報またはテストデータを書き込
む前に、書き込み電流の適正値を決めるための測定が行
われる。
第3図(a)、(b) 、(c)により従来の適正電流
の測定方法を説明する。図(a)に示す磁気ディスク1
の所定のトラックに対して、インデックス(IND)間
、すなわちトラックの1周に、図(b)に示す一定周波
数の書き込み電流Itによりテスト信号が書き込まれ、
その読み出しが行われる。この場合の電流Itの振幅と
読み出されたテスト信号の振幅ERの関係を説明する。
の測定方法を説明する。図(a)に示す磁気ディスク1
の所定のトラックに対して、インデックス(IND)間
、すなわちトラックの1周に、図(b)に示す一定周波
数の書き込み電流Itによりテスト信号が書き込まれ、
その読み出しが行われる。この場合の電流Itの振幅と
読み出されたテスト信号の振幅ERの関係を説明する。
図(C)において、Itの増加に従ってERはある程度
まで比例的に急角度で増加し、それ以上では飽和してピ
ーク値Epに達した後援やかに低下する。低下の原因は
、1wが過大のときは、記録ヘッドの磁界が直前の記録
符号に影響して減磁することによる。以上の特性により
、飽和の手前ではIwの小さい変化によりERが大きく
変化して不安定であり、また過大のときは直前の記録符
号に悪影響を及ぼすので、いずれも好ましくない。これ
に対して、ピーク点pを過ぎて間のない変化の小さい点
qに対する電流値ivcが適正とされている。点qはピ
ーク値Epに1より小さい適当な係数kを乗じたkEp
と振幅ERの曲線との交点より定められる。従来におい
ては、1wをパラメータとして同一トラックに対する書
き込みと読み出しを複数回繰り返してER−It凸曲線
求め、目視などによりピーク値Epを求めてこれに適当
に定められた係数kを乗じ、iwcを決定する方法が行
われている。
まで比例的に急角度で増加し、それ以上では飽和してピ
ーク値Epに達した後援やかに低下する。低下の原因は
、1wが過大のときは、記録ヘッドの磁界が直前の記録
符号に影響して減磁することによる。以上の特性により
、飽和の手前ではIwの小さい変化によりERが大きく
変化して不安定であり、また過大のときは直前の記録符
号に悪影響を及ぼすので、いずれも好ましくない。これ
に対して、ピーク点pを過ぎて間のない変化の小さい点
qに対する電流値ivcが適正とされている。点qはピ
ーク値Epに1より小さい適当な係数kを乗じたkEp
と振幅ERの曲線との交点より定められる。従来におい
ては、1wをパラメータとして同一トラックに対する書
き込みと読み出しを複数回繰り返してER−It凸曲線
求め、目視などによりピーク値Epを求めてこれに適当
に定められた係数kを乗じ、iwcを決定する方法が行
われている。
[解決しようとする課題]
以上の適°正電流値Iwcを求める従来の方法において
は、各電流値Itに対してそれぞれトラック1周の書き
込みと読み出しが行われるので、試験回数が多く、生産
工場において多数の磁気ディスクと磁気ヘッドを組み合
わせて測定する場合に対しては、測定が非常に長時間と
なり、またデータ処理が効率的でない欠点がある。この
ように各電流値に対してそれぞれ、トラック1周のデー
タを必要とする理由は、磁気ディスクの変歪などにより
読み出し信号にモジュレーションが伴う場合があるので
、1周の平均値をとるためである。これに対して、モジ
ュレーションがない場合、またはモジュレーションの補
正が可能であれば、トラックをいくつかに分割してそれ
ぞれに対して電流値を変化させることにより、上記のE
R−It凸曲線うろことができ、テスト時間を著しく短
縮することができる。
は、各電流値Itに対してそれぞれトラック1周の書き
込みと読み出しが行われるので、試験回数が多く、生産
工場において多数の磁気ディスクと磁気ヘッドを組み合
わせて測定する場合に対しては、測定が非常に長時間と
なり、またデータ処理が効率的でない欠点がある。この
ように各電流値に対してそれぞれ、トラック1周のデー
タを必要とする理由は、磁気ディスクの変歪などにより
読み出し信号にモジュレーションが伴う場合があるので
、1周の平均値をとるためである。これに対して、モジ
ュレーションがない場合、またはモジュレーションの補
正が可能であれば、トラックをいくつかに分割してそれ
ぞれに対して電流値を変化させることにより、上記のE
R−It凸曲線うろことができ、テスト時間を著しく短
縮することができる。
この発明は、以」二に鑑みてなされたもので、テスト信
号にモジュレーションがない場合、またはその補正が別
途の手段により可能として、トラックの1周に対して書
き込み電流値を変化してテスト信号を書き込み、適正な
書き込み電流値を測定する方式と、適正電流値を即時に
出力する測定器を提供することを目的とするものである
。
号にモジュレーションがない場合、またはその補正が別
途の手段により可能として、トラックの1周に対して書
き込み電流値を変化してテスト信号を書き込み、適正な
書き込み電流値を測定する方式と、適正電流値を即時に
出力する測定器を提供することを目的とするものである
。
[課題を解決するための手段]
この発明は、磁気ディスクテスターにおける書き込み電
流値の測定方式と測定器である。
流値の測定方式と測定器である。
測定方式においては、磁気ディスクのインデックス信号
間のトラックの1周に対して、振幅が直線的に増加する
一定周波数の書き込み電流によりテスト信号の書き込み
と読み出しを行い、読み出されたテスト信号のエンベロ
ープ信号と、エンベロープ信号のピーク値とをそれぞれ
検出する。検出されたピーク値に対してlより値小さい
一定の係数を乗じた電圧とエンベロープ信号電圧を比較
し、両者の一致点に対する書き込み電流値を適正電流値
とするものである。
間のトラックの1周に対して、振幅が直線的に増加する
一定周波数の書き込み電流によりテスト信号の書き込み
と読み出しを行い、読み出されたテスト信号のエンベロ
ープ信号と、エンベロープ信号のピーク値とをそれぞれ
検出する。検出されたピーク値に対してlより値小さい
一定の係数を乗じた電圧とエンベロープ信号電圧を比較
し、両者の一致点に対する書き込み電流値を適正電流値
とするものである。
次に、測定器はマイクロプロセッサと、マイクロプロセ
ッサにより制御され、振幅が直線的に増加する書き込み
電流を発生する電流発生器と、読み出されたテスト信号
のエンベロープ信号と、そのピーク値をそれぞれ検出す
るエンベロープ検出器およびピーク検出器と、ピーク値
に1より小さい一定の係数を乗する乗算器と、乗算器の
出力電圧とエンベロープ信号電圧を比較して両者の一致
した時点に一致信号を出力するコンパレータ、および一
致信号により一致時点において電流発生器の発生する電
流値を検出する適正電流値検出器により構成される。
ッサにより制御され、振幅が直線的に増加する書き込み
電流を発生する電流発生器と、読み出されたテスト信号
のエンベロープ信号と、そのピーク値をそれぞれ検出す
るエンベロープ検出器およびピーク検出器と、ピーク値
に1より小さい一定の係数を乗する乗算器と、乗算器の
出力電圧とエンベロープ信号電圧を比較して両者の一致
した時点に一致信号を出力するコンパレータ、および一
致信号により一致時点において電流発生器の発生する電
流値を検出する適正電流値検出器により構成される。
[作用コ
以tの書き込み電流値測定方式の作用を第1図(a)、
(b)および(C)により説明する。図(a)において
、トラックのインデックス(IND)間の1周に対して
直線的に増加する書き込み電流Ifによりテスト信号が
書き込まれる。読み出し信号の振幅ERは図(b)に示
され、そのエンベローブイ5号電圧Eeは、横軸を時間
1.=して図(c)の曲線で示される。電圧Eeのピー
ク値Epを検出し、これに適当な係数k (0<k<1
)を乗じた電圧kEpと電圧Eeを比較して両回線が一
致した時点Tpに対応する、図(a)の電流値iwcが
求める適正電流値である。すなわち、トラック1周のデ
ータにより適正電流値かえられる。
(b)および(C)により説明する。図(a)において
、トラックのインデックス(IND)間の1周に対して
直線的に増加する書き込み電流Ifによりテスト信号が
書き込まれる。読み出し信号の振幅ERは図(b)に示
され、そのエンベローブイ5号電圧Eeは、横軸を時間
1.=して図(c)の曲線で示される。電圧Eeのピー
ク値Epを検出し、これに適当な係数k (0<k<1
)を乗じた電圧kEpと電圧Eeを比較して両回線が一
致した時点Tpに対応する、図(a)の電流値iwcが
求める適正電流値である。すなわち、トラック1周のデ
ータにより適正電流値かえられる。
書き込み電流値測定器は上記の測定方式を実現するもの
で、マイクロプロセッサの制御により、書き込み電流発
生器より出力される振幅が直線的に増加する書き込み電
流Itにより、トラックのインデックス信号間に対して
テスト信号の書き込みが行わる。その読み出し信号より
、エンベロープ検出器によりエンベロープ信号電圧Ee
が検出される。さらに、ピーク検出器によりそのピーク
値EPが検出され、Epに乗算器により係数kを乗じた
電圧kEpと電圧Eeとが比較されて、コンパレータに
より両者の一致時点に一致信号が出力される。一致信号
は適正電流値検出器に入力し、入力時点における古き込
み電流発生器の電流値が適正電流値として即時に出力さ
れる。
で、マイクロプロセッサの制御により、書き込み電流発
生器より出力される振幅が直線的に増加する書き込み電
流Itにより、トラックのインデックス信号間に対して
テスト信号の書き込みが行わる。その読み出し信号より
、エンベロープ検出器によりエンベロープ信号電圧Ee
が検出される。さらに、ピーク検出器によりそのピーク
値EPが検出され、Epに乗算器により係数kを乗じた
電圧kEpと電圧Eeとが比較されて、コンパレータに
より両者の一致時点に一致信号が出力される。一致信号
は適正電流値検出器に入力し、入力時点における古き込
み電流発生器の電流値が適正電流値として即時に出力さ
れる。
[実施例]
第2図は、この発明による磁気ディスクの書き込み電流
値測定方式および測定器の実施例に対する概略のブロッ
ク構成を示す。マイクロプロセッサ2の指令により、駆
動制御器1aより駆動電流がモータlbに供給されて磁
気ディスク1が回転し、そのインデックス(IND)が
インデックス検出器1cにより検出される。一方、電流
スィーブ発生器3は振幅が直線的に増加する書き込み電
流を発生するもので、その電流値に対する条件が予め、
マイクロプロセッサ2より設定される。インデックス信
号を起点として書き込み電流が発生され、書き込み/読
み出し増幅器(R/W・AMP)4を経て磁気ヘッド1
dによりテスト信号が書き込まれ、次のインデックス信
号で終了する。
値測定方式および測定器の実施例に対する概略のブロッ
ク構成を示す。マイクロプロセッサ2の指令により、駆
動制御器1aより駆動電流がモータlbに供給されて磁
気ディスク1が回転し、そのインデックス(IND)が
インデックス検出器1cにより検出される。一方、電流
スィーブ発生器3は振幅が直線的に増加する書き込み電
流を発生するもので、その電流値に対する条件が予め、
マイクロプロセッサ2より設定される。インデックス信
号を起点として書き込み電流が発生され、書き込み/読
み出し増幅器(R/W・AMP)4を経て磁気ヘッド1
dによりテスト信号が書き込まれ、次のインデックス信
号で終了する。
終了後、テスト信号は磁気ヘッド1dにより読み出され
、R/W・AMP4を経てエンベロープ検出器5に入力
してエンベロープ信号が検出される。
、R/W・AMP4を経てエンベロープ検出器5に入力
してエンベロープ信号が検出される。
ついで、ピーク検出器6においてエンベロープ信号のピ
ーク値が検出され、乗算器7により係数kが乗ぜられて
コンパレータ(COMP)8の子端子に入力し、一端子
に入力したエンベロープ信号と比較され、両者が一致し
た時点に一致信号が出力されて適正電流値検出器9に転
送される。適正電流値検出器9には、電流スイープ発生
器3より増加する電流値が絶えず入力されており、一致
時点の電流値が検出されてマイクロプロセッサ2に入力
し、適正電流値として出力部2aに表示される。なお、
上記における係数には従来の測定方式の数値によること
は勿論である。
ーク値が検出され、乗算器7により係数kが乗ぜられて
コンパレータ(COMP)8の子端子に入力し、一端子
に入力したエンベロープ信号と比較され、両者が一致し
た時点に一致信号が出力されて適正電流値検出器9に転
送される。適正電流値検出器9には、電流スイープ発生
器3より増加する電流値が絶えず入力されており、一致
時点の電流値が検出されてマイクロプロセッサ2に入力
し、適正電流値として出力部2aに表示される。なお、
上記における係数には従来の測定方式の数値によること
は勿論である。
[発明の効果]
以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスクの書き込み電流測定方式においては、テスト信
号にモジュレーションがない場合、またはその補正を別
途行うことを前提として、トラック1周の測定により書
き込み電流の適正値かえられる。また測定器はえられた
適正電流値が即時に出力され、従来複数回必要とした測
定時間が著しく短縮され、多数の磁気ディスクと磁気ヘ
ッドを組み合わせて行う生産工場の測作業定を効率化す
る効果には大きいものがある。
ディスクの書き込み電流測定方式においては、テスト信
号にモジュレーションがない場合、またはその補正を別
途行うことを前提として、トラック1周の測定により書
き込み電流の適正値かえられる。また測定器はえられた
適正電流値が即時に出力され、従来複数回必要とした測
定時間が著しく短縮され、多数の磁気ディスクと磁気ヘ
ッドを組み合わせて行う生産工場の測作業定を効率化す
る効果には大きいものがある。
第1図は、この発明による磁気ディスクの書き込み電流
測定方式および測定器に対する作用の説明図、第2図は
、この発明による磁気ディスクの書き込み電流測定方式
および測定器の実施例に対する概略ブロック構成図、第
3図(a)、(b)および(c)は、磁気ディスクに対
する従来の書き込み電流測定方法の説明図である。 1・・・磁気ディスク、 1a・・・駆動制御器、
tb・・・モータ% lc・・・インデックス検
出器、1d・・・磁気ヘッド、2・・・マイクロプロセ
ッサ、2a・・・出力部、 4・・・R/W拳AMP。 6・・・ピーク検出器、 8・・・コンパレータ、 3・・・電流スイープ発生器、 5・・・エンベローフ’l[, 7・・・乗算器、 9・・・適正電流検出器。
測定方式および測定器に対する作用の説明図、第2図は
、この発明による磁気ディスクの書き込み電流測定方式
および測定器の実施例に対する概略ブロック構成図、第
3図(a)、(b)および(c)は、磁気ディスクに対
する従来の書き込み電流測定方法の説明図である。 1・・・磁気ディスク、 1a・・・駆動制御器、
tb・・・モータ% lc・・・インデックス検
出器、1d・・・磁気ヘッド、2・・・マイクロプロセ
ッサ、2a・・・出力部、 4・・・R/W拳AMP。 6・・・ピーク検出器、 8・・・コンパレータ、 3・・・電流スイープ発生器、 5・・・エンベローフ’l[, 7・・・乗算器、 9・・・適正電流検出器。
Claims (2)
- (1)磁気ディスクテスターにおいて、磁気ディスクの
インデックス信号間のトラックの1周に対して、振幅が
直線的に増加する一定周波数の書き込み電流によりテス
ト信号の書き込みと読み出しを行い、該読み出された該
テスト信号のエンベロープ信号および該エンベロープ信
号のピーク値をそれぞれ検出し、該検出されたピーク値
に対して1より小さい一定の係数を乗じた電圧と、該エ
ンベロープ信号電圧とを比較し、該比較した両者の一致
点に対する上記書き込み電流値を適正電流値とすること
を特徴とする、磁気ディスクの書き込み電流値測定方式
。 - (2)マイクロプロセッサと、該マイクロプロセッサに
より制御され、振幅が直線的に増加する上記書き込み電
流を発生する書き込み電流発生器と、上記磁気ディスク
に書き込み、かつ読み出された上記テスト信号のエンベ
ロープ信号、および該エンベロープ信号のピーク値をそ
れぞれ検出するエンベロープ検出器およびピーク検出器
と、該ピーク値に1より小さい一定の係数を乗する乗算
器と、該乗算器の出力電圧と該エンベロープ信号電圧を
比較して該両信号電圧の一致した時点に一致信号を出力
するコンパレータ、および該一致信号により該一致時点
における上記書き込み電流発生器の発生する電流値を検
出する適正電流値検出器により構成されたことを特徴と
する、磁気ディスクの書き込み電流値測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6876589A JPH0823922B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 磁気ディスクの書き込み電流測定方法およびその電流測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6876589A JPH0823922B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 磁気ディスクの書き込み電流測定方法およびその電流測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02247805A true JPH02247805A (ja) | 1990-10-03 |
| JPH0823922B2 JPH0823922B2 (ja) | 1996-03-06 |
Family
ID=13383159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6876589A Expired - Lifetime JPH0823922B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 磁気ディスクの書き込み電流測定方法およびその電流測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0823922B2 (ja) |
-
1989
- 1989-03-20 JP JP6876589A patent/JPH0823922B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0823922B2 (ja) | 1996-03-06 |
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