JPH02247824A - 光ディスク装置のデータ異常検出方法 - Google Patents
光ディスク装置のデータ異常検出方法Info
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- JPH02247824A JPH02247824A JP6630989A JP6630989A JPH02247824A JP H02247824 A JPH02247824 A JP H02247824A JP 6630989 A JP6630989 A JP 6630989A JP 6630989 A JP6630989 A JP 6630989A JP H02247824 A JPH02247824 A JP H02247824A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスクにデータが正確に記録されたか否か
を判定するのに好適な光デイスク装置のデータ異常検出
方法に関する。
を判定するのに好適な光デイスク装置のデータ異常検出
方法に関する。
第５図は、光ディスクからの読出波形を２値化する従来
の方法を説明するための波形図である。
の方法を説明するための波形図である。
第５図において、５０３と５０４の波形部分は、誤って
２値化されるおそれのあるドロップインとドロップアウ
トの波形形状を示す。すなわち、読出波形５００はスラ
イスレベル５０５によって２値化される。そして、読出
波形５００には、光デイスク上に存在するゴミ等や検出
系の影響により、上記のドロップアウトやドロップイン
の波形５０３．５０４が発生する場合がある。
２値化されるおそれのあるドロップインとドロップアウ
トの波形形状を示す。すなわち、読出波形５００はスラ
イスレベル５０５によって２値化される。そして、読出
波形５００には、光デイスク上に存在するゴミ等や検出
系の影響により、上記のドロップアウトやドロップイン
の波形５０３．５０４が発生する場合がある。
従来技術では、例えば特願昭５８−２０９０３２号明細
書に開示されているように、読出波形５００の波高値が
レベル５０１と５０２の間にある場合、誤って２値化さ
れるおそれがあると判断して、その波形を異常とみなし
、異常が発生したセクタに代わる別な領域に同一データ
の再書き込みを行い、再度異常がない事を確認する事で
正常なデータ再生を保証している。
書に開示されているように、読出波形５００の波高値が
レベル５０１と５０２の間にある場合、誤って２値化さ
れるおそれがあると判断して、その波形を異常とみなし
、異常が発生したセクタに代わる別な領域に同一データ
の再書き込みを行い、再度異常がない事を確認する事で
正常なデータ再生を保証している。
上記した従来技術では、光ディスクに情報を書き込む方
式が、ピットの長さによって光デイスク上に情報を書き
込む方式である場合（通常ピットエツジ記録方式と呼ば
れる）、光ディスクの感度、回路系、光学系等によって
生じる記録ピント長のバラツキが大きくても、これを異
常と判定することができないという問題点があった。
式が、ピットの長さによって光デイスク上に情報を書き
込む方式である場合（通常ピットエツジ記録方式と呼ば
れる）、光ディスクの感度、回路系、光学系等によって
生じる記録ピント長のバラツキが大きくても、これを異
常と判定することができないという問題点があった。
この発明の目的は、ピットエツジ方式の光イブスフ装置
において、ピットの長さが異常となったデータ記録を検
出し、高信幀性の光デイスク装置のデータ異常検出方法
を提供することにある。
において、ピットの長さが異常となったデータ記録を検
出し、高信幀性の光デイスク装置のデータ異常検出方法
を提供することにある。
本発明の磁気ディスク装置のデータ異常検出方法は、光
ディスクから読出された読出信号からピットの前エツジ
と後エツジを検出し、検出された前エツジと後エツジの
出力時間差があらかじめ定められた範囲内か否かを判定
し、あらかじめ定められた範囲外と判定された場合、書
き込まれたデータを異常であると判断し、エラー信号を
出力することを特徴としている。
ディスクから読出された読出信号からピットの前エツジ
と後エツジを検出し、検出された前エツジと後エツジの
出力時間差があらかじめ定められた範囲内か否かを判定
し、あらかじめ定められた範囲外と判定された場合、書
き込まれたデータを異常であると判断し、エラー信号を
出力することを特徴としている。
〔作用〕
この発明によれば、リード・アフター・ライト時に、光
ディスクから読み出された読出信号からピットの前エツ
ジと後エツジが検出され、前エツジと後エツジの出力タ
イミングの時間差を求め、この時間差からデータが再生
可能な範囲内か否かを判定する。再生不可能な範囲であ
ると判定された場合には、データの書き込みに失敗して
いると判断し、エラー信号及び書込パワーや書込パルス
幅の補正値等の書込条件を出力する。
ディスクから読み出された読出信号からピットの前エツ
ジと後エツジが検出され、前エツジと後エツジの出力タ
イミングの時間差を求め、この時間差からデータが再生
可能な範囲内か否かを判定する。再生不可能な範囲であ
ると判定された場合には、データの書き込みに失敗して
いると判断し、エラー信号及び書込パワーや書込パルス
幅の補正値等の書込条件を出力する。
これによって、光ディスクに正確にデータが書き込まれ
たか否かが判断できる。
たか否かが判断できる。
以下、添付の図面に示す実施例により、更に詳細に本発
明について説明する。
明について説明する。
第１図は、この発明の一実施例を示すブロック図である
。第１図において、光デイスク１０１上にピットとして
記録された記録データは、光学ヘッド１０２によって読
出信号１０３に変換される。第２図に示すように、記録
ピット２０２は最初に記録データ２０１が″１”になる
ときその形成が開始され、次に記録データが“１“にな
るときその形成が終了し、以後同様の行程によって形成
される。したかって、記録ピット２０２は、長孔状に形
成される。
。第１図において、光デイスク１０１上にピットとして
記録された記録データは、光学ヘッド１０２によって読
出信号１０３に変換される。第２図に示すように、記録
ピット２０２は最初に記録データ２０１が″１”になる
ときその形成が開始され、次に記録データが“１“にな
るときその形成が終了し、以後同様の行程によって形成
される。したかって、記録ピット２０２は、長孔状に形
成される。
以下、この方式をピットエツジ記録方式と呼ぶ。
なお、第２図に示すように、記録データ２０１の先頭に
は特定形式のデータＳＤが付加されている。
は特定形式のデータＳＤが付加されている。
そして、特定形式のデータＳＤに後ろに、本来記録され
るべきデータが続いている。ここで、特定形式のデータ
ＳＤのパターン形式やピット数は、任意で良い。上記読
出信号１０３は増幅器１０４によって増幅され、読出信
号１０５としてエツジ検出回路１０６に入力される。エ
ツジ検出回路１０６は、第２図に示すように、記録ピッ
ト２０２の前エツジと後エツジを検出して、両者を分離
し、前エツジ検出信号１０７と後エツジ検出信号１０８
として、それぞれＶＦＯ回路１０９．１１３に出力する
。’ＶＦＯ回路１０９は前エツジ検出信号１０７を受け
て、読出用同期クロック１１２とこれに同期した前エツ
ジ検出信号１１１を出力する。ＶＦＯ回路１ｉ３も同様
に後エツジ検出信号１０８を受けて読出用同期クロック
１１４とこれに同期した後エツジ検出信号１１３を出力
する。データ合成回路１１５は、読出用同期クロック１
１２、１１４及び前エツジ検出信号１１２及び後エツジ
検出信号１１３を受けて、第２図に示すように、クロッ
ク１１８に同期した再生信号１１７を形成する。
るべきデータが続いている。ここで、特定形式のデータ
ＳＤのパターン形式やピット数は、任意で良い。上記読
出信号１０３は増幅器１０４によって増幅され、読出信
号１０５としてエツジ検出回路１０６に入力される。エ
ツジ検出回路１０６は、第２図に示すように、記録ピッ
ト２０２の前エツジと後エツジを検出して、両者を分離
し、前エツジ検出信号１０７と後エツジ検出信号１０８
として、それぞれＶＦＯ回路１０９．１１３に出力する
。’ＶＦＯ回路１０９は前エツジ検出信号１０７を受け
て、読出用同期クロック１１２とこれに同期した前エツ
ジ検出信号１１１を出力する。ＶＦＯ回路１ｉ３も同様
に後エツジ検出信号１０８を受けて読出用同期クロック
１１４とこれに同期した後エツジ検出信号１１３を出力
する。データ合成回路１１５は、読出用同期クロック１
１２、１１４及び前エツジ検出信号１１２及び後エツジ
検出信号１１３を受けて、第２図に示すように、クロッ
ク１１８に同期した再生信号１１７を形成する。
また、エツジ検出回路１０６から出力される前エツジ検
出信号１０７と後エツジ検出信号１１３は、第１図に示
すように、記録ピット長ばらつき判定回路１１６に入力
される。記録ピット長ばらつき判定回路１１６は、第２
図に示す特定形式のデータＳＤについて、第３図に示す
ように前エツジ検出信号１０７と後エツジ検出信号１０
８の入力時間差Ｔｅを計測して、時間差Ｔｅが所定の範
囲内に存在するか否かを判定する。例えば、入力時間差
Ｔ ｅが、（Ｔ−Ｔｂ／２）＜Ｔｅ＜ （Ｔ十Ｔｂ／
２）の範囲内にあるか否かが判定される。ここで、′ｒ
はあらかじめ設定された前エツジ検出信号と後エツジ検
出信号の周期を示し、Ｔｂはその許容範囲を示す値であ
る。時間差Ｔｂが、所定の範囲内と判定された場合には
、記録データが正常に書き込まれたと判定される。また
、所定の範囲外と判定された場合には、エラー信号１１
９と補正値信号１２０が出力される。補正値信号１２０
は、ピントの書込条件（パワー設定、パルス幅設定等）
の補正を行うための信号であり、時間差Ｔｏの所定値か
らのずれ量に応じて出力される。
出信号１０７と後エツジ検出信号１１３は、第１図に示
すように、記録ピット長ばらつき判定回路１１６に入力
される。記録ピット長ばらつき判定回路１１６は、第２
図に示す特定形式のデータＳＤについて、第３図に示す
ように前エツジ検出信号１０７と後エツジ検出信号１０
８の入力時間差Ｔｅを計測して、時間差Ｔｅが所定の範
囲内に存在するか否かを判定する。例えば、入力時間差
Ｔ ｅが、（Ｔ−Ｔｂ／２）＜Ｔｅ＜ （Ｔ十Ｔｂ／
２）の範囲内にあるか否かが判定される。ここで、′ｒ
はあらかじめ設定された前エツジ検出信号と後エツジ検
出信号の周期を示し、Ｔｂはその許容範囲を示す値であ
る。時間差Ｔｂが、所定の範囲内と判定された場合には
、記録データが正常に書き込まれたと判定される。また
、所定の範囲外と判定された場合には、エラー信号１１
９と補正値信号１２０が出力される。補正値信号１２０
は、ピントの書込条件（パワー設定、パルス幅設定等）
の補正を行うための信号であり、時間差Ｔｏの所定値か
らのずれ量に応じて出力される。
第３図において、後エツジ検出信号１０Ｂが、３０１の
タイミングにおいて出力された場合には、正常と判定さ
れる。また、後エツジ検出信号１０８が、３０２、３０
３のタイミングにおいて出力された場合には、エラーと
判定され、エラー信号１１９と補正値信号１２０が出力
される。
タイミングにおいて出力された場合には、正常と判定さ
れる。また、後エツジ検出信号１０８が、３０２、３０
３のタイミングにおいて出力された場合には、エラーと
判定され、エラー信号１１９と補正値信号１２０が出力
される。
第４図は、第１図に示す記録ピット長ばらつき判定回路
１１６の具体例を示すブロック図である。
１１６の具体例を示すブロック図である。
第４図に示すように、電己録ピット長ばらつき判定回路
１１６は、前エツジ検出信号１０７と後エツジ検出信号
１０８の時間差Ｔｅを計測するためのカウンタ４０１と
ばらつき判定回路４０２とから構成されている。カウン
タ４０１は、前エツジ検出信号１０７を受けてカウント
を開始し、後エツジ検出信号１０Ｂを受けてカウントを
停止する。カウントされた時間差Ｔｅは、ばらつき判定
回路４０２に入力され、所定の範囲内か否かが判定され
る。そして、所定の範囲外と判定された場合には、上記
したようにエラー信号１１９と補正値信号１２０が出力
される。
１１６は、前エツジ検出信号１０７と後エツジ検出信号
１０８の時間差Ｔｅを計測するためのカウンタ４０１と
ばらつき判定回路４０２とから構成されている。カウン
タ４０１は、前エツジ検出信号１０７を受けてカウント
を開始し、後エツジ検出信号１０Ｂを受けてカウントを
停止する。カウントされた時間差Ｔｅは、ばらつき判定
回路４０２に入力され、所定の範囲内か否かが判定され
る。そして、所定の範囲外と判定された場合には、上記
したようにエラー信号１１９と補正値信号１２０が出力
される。
ばらつき判定回路４０２は、時間差Ｔｅの値に対応した
光の照射パワーや光パルスのパルス幅等の補正値を記録
したメモリを備え、このメモリから補正値を読み出すこ
とによって、補正値信号１２０を出力する。
光の照射パワーや光パルスのパルス幅等の補正値を記録
したメモリを備え、このメモリから補正値を読み出すこ
とによって、補正値信号１２０を出力する。
なお、上記の実施例においては、エツジ検出回路１０６
から出力される前エツジ検出信号１０７と後エツジ検出
信号１０８を記録ピット長ばらつき判定回路１１６に入
力し、データ記録が正確に行われたか否かを判定したが
、この発明はこれに限定されるものではなく、例えばＶ
ＦＯ回路１０９から出力される前エソシネ★出信号１１
１とＶＦＯ回路１１３から出力される後エツジ検出信号
１１３を記録ピット長ばらつき判定回路１１６に入力す
るようにしても良い。
から出力される前エツジ検出信号１０７と後エツジ検出
信号１０８を記録ピット長ばらつき判定回路１１６に入
力し、データ記録が正確に行われたか否かを判定したが
、この発明はこれに限定されるものではなく、例えばＶ
ＦＯ回路１０９から出力される前エソシネ★出信号１１
１とＶＦＯ回路１１３から出力される後エツジ検出信号
１１３を記録ピット長ばらつき判定回路１１６に入力す
るようにしても良い。
以上に説明したように、この実施例によれば、リード・
アフター・ライト時に記録ピットのばらつきチエツクを
正確に行うことが可能になり、データ書き込みの品質を
向上させ、正常なデータ再生を保証することが可能にな
る。
アフター・ライト時に記録ピットのばらつきチエツクを
正確に行うことが可能になり、データ書き込みの品質を
向上させ、正常なデータ再生を保証することが可能にな
る。
〔発明の効果〕
本発明によれば、光デイスク上に書き込まれたデータの
品質保証を十分に行うことができ、したがって再生デー
タの信幀性を大幅に向上させることが可能になる。
品質保証を十分に行うことができ、したがって再生デー
タの信幀性を大幅に向上させることが可能になる。
また、光ディスクの感度、回路系、光学系等によって生
じる記録ピット長のバラツキが大きい場合においても、
データの品質保証を十分に行うことができるので、デー
タの互換性を確保する上でも効果がある。
じる記録ピット長のバラツキが大きい場合においても、
データの品質保証を十分に行うことができるので、デー
タの互換性を確保する上でも効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は第１図に示す実施例の動作を説明するための波形図、
第３図は第１図に示す記録ピント長ばらつき判定回路の
動作を説明するための波形図、第４図は第１図に示す記
録ピット長ばらつき判定回路の具体例を示すブロック図
、第５図は光ディスクからの読出信号を従来技術によっ
て２値化する方法を説明するための波形図である。 １０１・・・光ディスク、１０２・・・光学ヘッド、１
０３・・・読出信号、１０４・・・増幅器、１０６・・
・エツジ検出回路、１０７、１１１・・・前エツジ検出
信号、１０８．１１３・・・後エツジ検出信号、１０９
．１１３−Ｖ Ｆ ０回路、１１５−データ合成回路、
１１６・・・記録ピット長ばらつき判定回路、１１９・
・・エラー信号、１２０・・・補正値信号。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第 図 鷹世−，）２０２ Ｃ＝＝＝＝＝＝＝）（二二＝二＝＝
＝）（＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝：）再を出信号２０３ツ
メ−１゜ イ１１ツシ゛才（出１０８ 再此括］］７ 第 図 弔 図 り嶋− 采 フ
は第１図に示す実施例の動作を説明するための波形図、
第３図は第１図に示す記録ピント長ばらつき判定回路の
動作を説明するための波形図、第４図は第１図に示す記
録ピット長ばらつき判定回路の具体例を示すブロック図
、第５図は光ディスクからの読出信号を従来技術によっ
て２値化する方法を説明するための波形図である。 １０１・・・光ディスク、１０２・・・光学ヘッド、１
０３・・・読出信号、１０４・・・増幅器、１０６・・
・エツジ検出回路、１０７、１１１・・・前エツジ検出
信号、１０８．１１３・・・後エツジ検出信号、１０９
．１１３−Ｖ Ｆ ０回路、１１５−データ合成回路、
１１６・・・記録ピット長ばらつき判定回路、１１９・
・・エラー信号、１２０・・・補正値信号。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第 図 鷹世−，）２０２ Ｃ＝＝＝＝＝＝＝）（二二＝二＝＝
＝）（＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝＝：）再を出信号２０３ツ
メ−１゜ イ１１ツシ゛才（出１０８ 再此括］］７ 第 図 弔 図 り嶋− 采 フ
Claims (1)
- １、光ディスクから読出された読出信号からピットの前
エッジと後エッジを検出し、検出された前エッジと後エ
ッジの出力時間差があらかじめ定められた範囲内か否か
を判定し、あらかじめ定められた範囲外と判定された場
合、書き込まれたデータを異常であると判断し、エラー
信号を出力することを特徴とする磁気ディスク装置のデ
ータ異常検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6630989A JP2672999B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 光ディスク装置のデータ異常検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6630989A JP2672999B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 光ディスク装置のデータ異常検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02247824A true JPH02247824A (ja) | 1990-10-03 |
| JP2672999B2 JP2672999B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=13312087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6630989A Expired - Fee Related JP2672999B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | 光ディスク装置のデータ異常検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2672999B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7116617B2 (en) | 2001-09-20 | 2006-10-03 | Teac Corporation | Optical disk device |
| WO2009122565A1 (ja) * | 2008-04-01 | 2009-10-08 | パイオニア株式会社 | 記録装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
-
1989
- 1989-03-20 JP JP6630989A patent/JP2672999B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7116617B2 (en) | 2001-09-20 | 2006-10-03 | Teac Corporation | Optical disk device |
| WO2009122565A1 (ja) * | 2008-04-01 | 2009-10-08 | パイオニア株式会社 | 記録装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| JPWO2009122565A1 (ja) * | 2008-04-01 | 2011-07-28 | パイオニア株式会社 | 記録装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2672999B2 (ja) | 1997-11-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |