JPS60254409A - 磁気記録装置における磁気ヘッド良否判別方法 - Google Patents
磁気記録装置における磁気ヘッド良否判別方法Info
- Publication number
- JPS60254409A JPS60254409A JP11138984A JP11138984A JPS60254409A JP S60254409 A JPS60254409 A JP S60254409A JP 11138984 A JP11138984 A JP 11138984A JP 11138984 A JP11138984 A JP 11138984A JP S60254409 A JPS60254409 A JP S60254409A
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- head
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
Landscapes
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は、磁気テープ装置等の磁気記録装置、特に、ラ
イトヘッドを介して情報を書き込んでいる最中にリード
ヘッドを介して当該書き込み情報を順次読み取るように
した磁気記録装置における磁気ヘッドの良否判別方式に
関する。
イトヘッドを介して情報を書き込んでいる最中にリード
ヘッドを介して当該書き込み情報を順次読み取るように
した磁気記録装置における磁気ヘッドの良否判別方式に
関する。
、［技術の背景］
この種の磁気記録装置、例えば磁気テープ装置における
各磁気ヘッドの構成は、例えば第１図に示ずようになっ
ている。これは、情報の記録媒体となる磁気テープＴの
走行方向（図中の矢印方向）に沿って消去ヘッド１、ラ
イトヘッド２、リードヘッド３が順次配置されたものと
なり、情報の書き込みの際には、消去ヘット１によって
走行している磁気テープＴ上の情報を消去しつつライト
ヘッド２を介して上位装置（図示していない）によって
指定された新たな情報を書き込んでゆき、更に、この書
き込みつつある情報をリードヘッド３を介して順次読み
取り、上位装置によって指定された情報が正確に書き込
まれていか等を確認するようにしてぃる。
各磁気ヘッドの構成は、例えば第１図に示ずようになっ
ている。これは、情報の記録媒体となる磁気テープＴの
走行方向（図中の矢印方向）に沿って消去ヘッド１、ラ
イトヘッド２、リードヘッド３が順次配置されたものと
なり、情報の書き込みの際には、消去ヘット１によって
走行している磁気テープＴ上の情報を消去しつつライト
ヘッド２を介して上位装置（図示していない）によって
指定された新たな情報を書き込んでゆき、更に、この書
き込みつつある情報をリードヘッド３を介して順次読み
取り、上位装置によって指定された情報が正確に書き込
まれていか等を確認するようにしてぃる。
、そして、このような磁気テップ装置では、磁気テープ
Ｔ上に情報がブロック単位（データブロックＤＢ＞に順
次書き込まれ、各ブロックＤＢの間には当該各ブロック
の区切り等を示すギャップ（インクブロックギャップＩ
ＢＧ）が設けられるようになりおり、更に、このギャッ
プＩＢＧの磁気テープＴ上での長さは、通常ライトヘッ
ド２とリードヘッド３との間のヘッド間ギャップＧｈよ
りも長く設定しなければならない。
Ｔ上に情報がブロック単位（データブロックＤＢ＞に順
次書き込まれ、各ブロックＤＢの間には当該各ブロック
の区切り等を示すギャップ（インクブロックギャップＩ
ＢＧ）が設けられるようになりおり、更に、このギャッ
プＩＢＧの磁気テープＴ上での長さは、通常ライトヘッ
ド２とリードヘッド３との間のヘッド間ギャップＧｈよ
りも長く設定しなければならない。
ところで、上記のような磁気テープ装置において、情報
記録媒体となる磁気テープＴへの情報記録密度を上げよ
うとすると、ライトヘッド２とリードヘッド３との間の
ヘッド間ギャップＧｈを狭くしなければならない。とこ
ろがこのヘッド間ギャップＧｈを単に狭くすると、ライ
トヘッド２を介した情報の書き込み時に、リードヘッド
３で検出されるライトヘッド２からの磁束漏れのｆｆ１
（以下フィードスルー量という）が多くなり、リードヘ
ッド３が本来ギャップ■ＢＧである部分でデータを誤検
出したり、リードヘッド３を介した読み取り信号の波形
が歪んで上位装置が読み取りデータを誤って認識すると
いう事態が発生してしまう。
記録媒体となる磁気テープＴへの情報記録密度を上げよ
うとすると、ライトヘッド２とリードヘッド３との間の
ヘッド間ギャップＧｈを狭くしなければならない。とこ
ろがこのヘッド間ギャップＧｈを単に狭くすると、ライ
トヘッド２を介した情報の書き込み時に、リードヘッド
３で検出されるライトヘッド２からの磁束漏れのｆｆ１
（以下フィードスルー量という）が多くなり、リードヘ
ッド３が本来ギャップ■ＢＧである部分でデータを誤検
出したり、リードヘッド３を介した読み取り信号の波形
が歪んで上位装置が読み取りデータを誤って認識すると
いう事態が発生してしまう。
そこで、近年、このような磁気テープ装置では、上記の
ようなフィードスルー酸を減らすために、ライト、リー
ドヘッド２．３の近傍に金属片等を設けたり、或いは、
フィールドスルーの影響を排除するために第２図に示す
ように、リードヘッド３から出力されるリード信号に対
して、読み取り信号として認識すべき部分の閾値を、ラ
イトヘッド２を介した書き込み情報がリードヘッド３に
て検出される以前では高レベルｌ”ｈｌ（例えば、本来
の書き込み情報部における信号ピーク値の２０％程度）
に設定し、本来の書き込み情報を検出している時は低レ
ベルＴｈ２（同信号ピーク値の１０％程度）に設定する
ようにしている。
ようなフィードスルー酸を減らすために、ライト、リー
ドヘッド２．３の近傍に金属片等を設けたり、或いは、
フィールドスルーの影響を排除するために第２図に示す
ように、リードヘッド３から出力されるリード信号に対
して、読み取り信号として認識すべき部分の閾値を、ラ
イトヘッド２を介した書き込み情報がリードヘッド３に
て検出される以前では高レベルｌ”ｈｌ（例えば、本来
の書き込み情報部における信号ピーク値の２０％程度）
に設定し、本来の書き込み情報を検出している時は低レ
ベルＴｈ２（同信号ピーク値の１０％程度）に設定する
ようにしている。
即ち、フィードスルー量は磁気テープ装置等における磁
気ヘッド（ライトヘッド、リードヘッド）の良否を左右
する重要なファクターとなることから、各磁気ヘッドに
対して上記のような種々の対策が講じられることになる
のである。
気ヘッド（ライトヘッド、リードヘッド）の良否を左右
する重要なファクターとなることから、各磁気ヘッドに
対して上記のような種々の対策が講じられることになる
のである。
従って、上記のような種々の対策が有効に働いているか
否かは、対となるライトヘッド、リードヘッドの製品管
邪上重要なことである。
否かは、対となるライトヘッド、リードヘッドの製品管
邪上重要なことである。
［従来技術と問題点］
従来、上記のようにフィードスルーの影響を排除するよ
うにしたライトヘッド、リードヘッド対の製品管理上の
当該磁気ヘッドの良否判別は、磁気テープ装置等の゛磁
気記録装置の製造段階にあっては、フィードスルー量を
直接測定する専用テスタ等を用いて行なっている。
うにしたライトヘッド、リードヘッド対の製品管理上の
当該磁気ヘッドの良否判別は、磁気テープ装置等の゛磁
気記録装置の製造段階にあっては、フィードスルー量を
直接測定する専用テスタ等を用いて行なっている。
しかしながら、磁気記録装置をユーザに納入した後の定
期保守等の段階にあっては、フィードスルー量を直接測
定する携帯用の専用テスタが無いことから、単に、ライ
トヘッドとリードヘッドとのヘッド間ギャップＱｈ等の
チェック程度に留まるものであった。
期保守等の段階にあっては、フィードスルー量を直接測
定する携帯用の専用テスタが無いことから、単に、ライ
トヘッドとリードヘッドとのヘッド間ギャップＱｈ等の
チェック程度に留まるものであった。
［発明の目的］
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、磁気記録
装置をユーザに納入した後の定期保守の段階においても
、フィードスルーの影響に関した磁気ヘッドの良否を容
易に判別できるようにした磁気ヘッド良否判別方式を提
供することを目的としている。
装置をユーザに納入した後の定期保守の段階においても
、フィードスルーの影響に関した磁気ヘッドの良否を容
易に判別できるようにした磁気ヘッド良否判別方式を提
供することを目的としている。
［発明の構成］
上記目的を達成するため、本発明は、所定の間隔をおい
て設置された対となるライトヘッドとリードヘッドとを
有し、これら各磁気ヘッドに対して相対的に移動する磁
気記録媒体に上記ライトヘッドを介して情報を書き込ん
でいる最中に上記リードヘッドを介して当該書き込み情
報を順次読み取るようにした磁気記録装置において、上
記ライトヘッドを介した書き込み情報がリードヘッドに
て検出される以前に該リードヘッドを介して得られるリ
ード信号に対して所定の閾値を設定し、当該閾値と、こ
の閾値を超える当該リード信号の有無に基づいて上記ラ
イトヘッド、リードヘッド対の良否を判別するようにし
たものである。
て設置された対となるライトヘッドとリードヘッドとを
有し、これら各磁気ヘッドに対して相対的に移動する磁
気記録媒体に上記ライトヘッドを介して情報を書き込ん
でいる最中に上記リードヘッドを介して当該書き込み情
報を順次読み取るようにした磁気記録装置において、上
記ライトヘッドを介した書き込み情報がリードヘッドに
て検出される以前に該リードヘッドを介して得られるリ
ード信号に対して所定の閾値を設定し、当該閾値と、こ
の閾値を超える当該リード信号の有無に基づいて上記ラ
イトヘッド、リードヘッド対の良否を判別するようにし
たものである。
［発明の実施例］
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第３図は本発明の一実施例を示すブロック図である。同
図において、１０は上位装置からのライト開始信号Ｓｗ
によって起動し、当該上位装置からの指令に基づいてラ
イトデータを作成するライトデータ作成回路、１１はラ
イトデータ作成回路１０からのライトデータを電流変化
に変換するライト波形発生回路、１２はライトアンプで
あり、ライトデータ作成回路１０からのライトデータが
ライト波形発生回路１１、ライトアンプ１２を介して電
流変化となってライトヘッド２に印加し、上記電流変化
に伴なって発生するライトヘッド２からの磁束変化がラ
イトデータとして走行する磁気テープＴに記録されるよ
うになっている。また、１３は磁気テープＴに記録され
たデータに対応したがリードへラド３からの電流信号を
増幅するプリアンプ、１４はプリアンプ１３からの信号
に対するゲインを調整するゲイン調整回路、１５はゲイ
ン調整回路１４を経て出力されるリードデータに対応し
た信号を微分処理する微分回路、１６は微分回路１４か
らの出力信号に対するノイズを除去するフィルタ、１７
はフィルタ１６を介して入力する微分回路１５からの信
号のピークを検出するピーク検出回路であり、このピー
ク検出回路１７からの出カバターンが当該リードデータ
として上位装置に認識されるようになっている。
図において、１０は上位装置からのライト開始信号Ｓｗ
によって起動し、当該上位装置からの指令に基づいてラ
イトデータを作成するライトデータ作成回路、１１はラ
イトデータ作成回路１０からのライトデータを電流変化
に変換するライト波形発生回路、１２はライトアンプで
あり、ライトデータ作成回路１０からのライトデータが
ライト波形発生回路１１、ライトアンプ１２を介して電
流変化となってライトヘッド２に印加し、上記電流変化
に伴なって発生するライトヘッド２からの磁束変化がラ
イトデータとして走行する磁気テープＴに記録されるよ
うになっている。また、１３は磁気テープＴに記録され
たデータに対応したがリードへラド３からの電流信号を
増幅するプリアンプ、１４はプリアンプ１３からの信号
に対するゲインを調整するゲイン調整回路、１５はゲイ
ン調整回路１４を経て出力されるリードデータに対応し
た信号を微分処理する微分回路、１６は微分回路１４か
らの出力信号に対するノイズを除去するフィルタ、１７
はフィルタ１６を介して入力する微分回路１５からの信
号のピークを検出するピーク検出回路であり、このピー
ク検出回路１７からの出カバターンが当該リードデータ
として上位装置に認識されるようになっている。
上記構成は一般的な磁気テープ装置のものと同様である
が、一方、１８は本来のリード信号に対して、例えば何
％以上をリード信号として認識すべきかのスライスレベ
ル情報（例えば１０％等）を出力づるスライスレベル発
生器であり、このスライスレベル発生器１８は上位装置
からの当該スライスレベルの指定信号Ｓｓに基づいて作
動する制御回路２０によって制御されるようになってい
る。１９はゲイン調整回路１４での設定ゲインに基づい
て、リードヘッド３からの検出信号に対応するゲイン調
整回路１４からの出力信号の振幅を検査する振幅検査回
路であり、この振幅検査回路１９は更に、上位装置から
リード開始信号３ｒが出力している闇、スライスレベル
発生器１８からのスライスレベル情報に基づきゲイン調
整回路１４から出力される信号に対してどのレベル以上
をリード信号として次段の微分回路１５に入力させるか
を決める閾値Ｔｈを設定するようになっ１いる。また、
２１はピーク検出回路１７からピーク検出信号が出力さ
れている間、Ｈレベル信号（タイムセンス信号Ｓｔ）を
出力するタイムセンス回路である。
が、一方、１８は本来のリード信号に対して、例えば何
％以上をリード信号として認識すべきかのスライスレベ
ル情報（例えば１０％等）を出力づるスライスレベル発
生器であり、このスライスレベル発生器１８は上位装置
からの当該スライスレベルの指定信号Ｓｓに基づいて作
動する制御回路２０によって制御されるようになってい
る。１９はゲイン調整回路１４での設定ゲインに基づい
て、リードヘッド３からの検出信号に対応するゲイン調
整回路１４からの出力信号の振幅を検査する振幅検査回
路であり、この振幅検査回路１９は更に、上位装置から
リード開始信号３ｒが出力している闇、スライスレベル
発生器１８からのスライスレベル情報に基づきゲイン調
整回路１４から出力される信号に対してどのレベル以上
をリード信号として次段の微分回路１５に入力させるか
を決める閾値Ｔｈを設定するようになっ１いる。また、
２１はピーク検出回路１７からピーク検出信号が出力さ
れている間、Ｈレベル信号（タイムセンス信号Ｓｔ）を
出力するタイムセンス回路である。
次に、第４図に示すタイミングチャートに従って当該装
置の作動について説明する。
置の作動について説明する。
まず、上位装置からライト開始信号３ｗとリード開始信
号Ｓｒとが同時に出力される。ここで、リード開始信号
Ｓ「の出力時間は磁気テープＴの走行速度とヘッド間ギ
ャップＧｈとに基づいて定められ、ライトヘッド２を介
した書込み情報がリードヘッド３にて検出される以前に
当該リード開始信号Ｓｒは立ち下がるものである。
号Ｓｒとが同時に出力される。ここで、リード開始信号
Ｓ「の出力時間は磁気テープＴの走行速度とヘッド間ギ
ャップＧｈとに基づいて定められ、ライトヘッド２を介
した書込み情報がリードヘッド３にて検出される以前に
当該リード開始信号Ｓｒは立ち下がるものである。
上記のように上位装置からライト開始信号Ｓｗとリード
開始信号Ｓｒとが出力されると、ライトデータ作成回路
１０からのライトデータに対応したライト信号がライト
波形発生回路１１から出力され、このライト信号がライ
トヘッド２を介して走行する磁気テープＴに書込まれる
。この時、ライトヘッド２からの磁束漏れに鵡因したフ
ィードスルーに相当するリード信号がリードヘッド３に
て検出される。ここで、上位装置からのスライスレベル
の指定信号Ｓｓに基づいてスライスレベル発生器１８か
らスライスレベル情報、例えば５％のスライスレベル情
報が出力されると、振幅検査回路１９がゲイン調整回路
１４を経てリード信号に対して上記スライスレベル５％
に相当した同値Ｔｏを設定し、以後、この闇値ＴＯを超
えるリード信号に対して、微分回路１５、フィルタ１６
、ピーク検出回路１７が夫々の処理を行なう。そして、
ピークパルス検出回路１７が上記閾値ＴＯを超えたリー
ド信号のピークを検出する毎にピークパルスを出力し、
当該ピークパルスが出力されている間、タイムセンス回
路２１からタイムセンス信号Ｓｔが出力される。
開始信号Ｓｒとが出力されると、ライトデータ作成回路
１０からのライトデータに対応したライト信号がライト
波形発生回路１１から出力され、このライト信号がライ
トヘッド２を介して走行する磁気テープＴに書込まれる
。この時、ライトヘッド２からの磁束漏れに鵡因したフ
ィードスルーに相当するリード信号がリードヘッド３に
て検出される。ここで、上位装置からのスライスレベル
の指定信号Ｓｓに基づいてスライスレベル発生器１８か
らスライスレベル情報、例えば５％のスライスレベル情
報が出力されると、振幅検査回路１９がゲイン調整回路
１４を経てリード信号に対して上記スライスレベル５％
に相当した同値Ｔｏを設定し、以後、この闇値ＴＯを超
えるリード信号に対して、微分回路１５、フィルタ１６
、ピーク検出回路１７が夫々の処理を行なう。そして、
ピークパルス検出回路１７が上記閾値ＴＯを超えたリー
ド信号のピークを検出する毎にピークパルスを出力し、
当該ピークパルスが出力されている間、タイムセンス回
路２１からタイムセンス信号Ｓｔが出力される。
このようにタイムセンス回路２１からタイムセンス信号
Ｓｔが出力されると、上位装置は、上記スライスレベル
５％に対応した闇値ＴＯと当該タイムセンス信号Ｓｔの
存在に基づいて、当該ライトヘッド２とリードヘッド３
との間には上記閾値１０以上のフィードスルー量が存在
することを認識する。
Ｓｔが出力されると、上位装置は、上記スライスレベル
５％に対応した闇値ＴＯと当該タイムセンス信号Ｓｔの
存在に基づいて、当該ライトヘッド２とリードヘッド３
との間には上記閾値１０以上のフィードスルー量が存在
することを認識する。
更に、上記スライスレベルを種々の値に変化させ、その
時のタイムセンス信号の有無に基づいてより精度良くフ
ィードスルー量を調べることができる。また、通常の磁
気ヘッド対（ライトヘッド、リードヘッド）では、その
フィードスルー量が本来のリード信号の７〜８％程度で
あることから、上記スライスレベルを１０％程度に固定
しておき、その時、タイムセンス信号Ｓｔが出力された
場合、当該磁気ヘッド対は不良と判定できる。
時のタイムセンス信号の有無に基づいてより精度良くフ
ィードスルー量を調べることができる。また、通常の磁
気ヘッド対（ライトヘッド、リードヘッド）では、その
フィードスルー量が本来のリード信号の７〜８％程度で
あることから、上記スライスレベルを１０％程度に固定
しておき、その時、タイムセンス信号Ｓｔが出力された
場合、当該磁気ヘッド対は不良と判定できる。
上記のように本実施例によれば、磁気記録装置または制
御装置のマイクロプログラム、あるいは上位装置にテス
トライトデータ、スライスレベル、タイムセンス信号の
判別等に関するテストプログラムを入力しておけば、当
該磁気ヘッド対のフィードスルーに関する良否を特別な
テスタを用いることなく容易に判別できるようになる。
御装置のマイクロプログラム、あるいは上位装置にテス
トライトデータ、スライスレベル、タイムセンス信号の
判別等に関するテストプログラムを入力しておけば、当
該磁気ヘッド対のフィードスルーに関する良否を特別な
テスタを用いることなく容易に判別できるようになる。
［発明の効果］
以上、説明してきたように、本発明によれば、所定の間
隔をおいて設置されたライトヘッドとリードヘッドとを
有し、これらの各磁気ヘッドに対して相対的に移動する
磁気記録媒体に上記ライトヘッドを介して情報を書込ん
でいる最中に上記リードヘッドを介して当該書込み情報
を順次読み取るようにした磁気記録装置において、上記
ライトヘッドを介した書込み情報がリードヘッドにて検
出される以前に当リードヘッドを介して得られるリード
信号に対して所定の閾値を設定し、当該閾値と、この闇
値を超える当該リード信号の有無に基づいて上記ライト
ヘッド、リードヘッド対の良否を判別するようにしたた
め、特別なテスタ無しにフィードスルーに関する当該磁
気ヘッド対の良否が判別できるようになり、当該磁気記
録装置をユーザに納入した後の定期保守の段階において
も、当該磁気ヘッドについての検査が容易にできるよう
になる。
隔をおいて設置されたライトヘッドとリードヘッドとを
有し、これらの各磁気ヘッドに対して相対的に移動する
磁気記録媒体に上記ライトヘッドを介して情報を書込ん
でいる最中に上記リードヘッドを介して当該書込み情報
を順次読み取るようにした磁気記録装置において、上記
ライトヘッドを介した書込み情報がリードヘッドにて検
出される以前に当リードヘッドを介して得られるリード
信号に対して所定の閾値を設定し、当該閾値と、この闇
値を超える当該リード信号の有無に基づいて上記ライト
ヘッド、リードヘッド対の良否を判別するようにしたた
め、特別なテスタ無しにフィードスルーに関する当該磁
気ヘッド対の良否が判別できるようになり、当該磁気記
録装置をユーザに納入した後の定期保守の段階において
も、当該磁気ヘッドについての検査が容易にできるよう
になる。
第１図は磁気テープ装置における各磁気ヘッドの構成を
示す説明図、第２図はライトヘッドからのフィードスル
ーの影響をリードデータに及ぼさないための対策の一例
を示す説明図、第３図は本発明の一実施例を示すブロッ
ク図、第４図は第３図に示す装置の作動例を示すタイミ
ングチャートである。 ２・・・ライトヘッド ３・・・リードヘッド １４・・・ゲイン調整回路 １５・・・微分回路 １６・・・フィルタ １７・・・ピーク検出回路 １８・・・スライスレベル発生回路 １９・・・振幅検査回路 ２０・・・制御回路 ２１・・・タイムセンス回路 特許出願人 富士通株式会社
示す説明図、第２図はライトヘッドからのフィードスル
ーの影響をリードデータに及ぼさないための対策の一例
を示す説明図、第３図は本発明の一実施例を示すブロッ
ク図、第４図は第３図に示す装置の作動例を示すタイミ
ングチャートである。 ２・・・ライトヘッド ３・・・リードヘッド １４・・・ゲイン調整回路 １５・・・微分回路 １６・・・フィルタ １７・・・ピーク検出回路 １８・・・スライスレベル発生回路 １９・・・振幅検査回路 ２０・・・制御回路 ２１・・・タイムセンス回路 特許出願人 富士通株式会社
Claims (1)
- 所定の間隔をおいて設置された対となるライトヘッドと
リードヘッドとを有し、これら各磁気ヘッドに対して相
対的に移動する磁気記録媒体に上記ライトヘッドを介し
て情報を書き込んでいる最中に上記リードヘッドを介し
て当該書き込み情報を順次読み取るようにした磁気記録
装置において、上記ライトヘッドを介した書き込み情報
がリードヘッドにて検出される以前に該リードヘッドを
介して得られるリード信号に対して所定の閾値を設定し
、当該閾値と、この閾値を超える当該リード信号の有無
に基づいて上記ライトヘッド、リードヘッド対の良否を
判別するようにしたことを特徴とする磁気記録装置にお
ける磁気ヘッド良否判別方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11138984A JPS60254409A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 磁気記録装置における磁気ヘッド良否判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11138984A JPS60254409A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 磁気記録装置における磁気ヘッド良否判別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60254409A true JPS60254409A (ja) | 1985-12-16 |
| JPH0419603B2 JPH0419603B2 (ja) | 1992-03-31 |
Family
ID=14559928
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11138984A Granted JPS60254409A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | 磁気記録装置における磁気ヘッド良否判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60254409A (ja) |
-
1984
- 1984-05-31 JP JP11138984A patent/JPS60254409A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0419603B2 (ja) | 1992-03-31 |
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