JPH02252287A - プリント配線板のはんだマスク形成方法 - Google Patents
プリント配線板のはんだマスク形成方法Info
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- JPH02252287A JPH02252287A JP7455689A JP7455689A JPH02252287A JP H02252287 A JPH02252287 A JP H02252287A JP 7455689 A JP7455689 A JP 7455689A JP 7455689 A JP7455689 A JP 7455689A JP H02252287 A JPH02252287 A JP H02252287A
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- Japan
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- solder mask
- wiring board
- mask
- printed wiring
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- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はプリント配線板の製造方法に関し、特にはんだ
マスクの印刷不良を改善したはんだマスク形成方法であ
る。
マスクの印刷不良を改善したはんだマスク形成方法であ
る。
最近、プリント配線板上に部品を塔載したプリント配線
板の実装において、実装の高密度化が急速に進んでいる
。特に最近注目を集めているVLSIを搭載したプリン
ト配線板および面実装技術による面実装基板の普及によ
り、プリント配線板の細線パターン化と、はんだ付けラ
ンドの面積の縮小化が進んでいる。
板の実装において、実装の高密度化が急速に進んでいる
。特に最近注目を集めているVLSIを搭載したプリン
ト配線板および面実装技術による面実装基板の普及によ
り、プリント配線板の細線パターン化と、はんだ付けラ
ンドの面積の縮小化が進んでいる。
更に、これら高密度プリント配線板を大型化し、部品の
実装あるいは装置の効率化が進められている。
実装あるいは装置の効率化が進められている。
しかし、このようなプリント配線板の微細パターン化、
大型化が進むにつれて、はんだマスクパターンの形成に
大きな問題が生じるようになった。それは、従来のスク
リーン印刷法により、はんだマスク用インキ(ソルダー
レジストインキ)をプリント配線板上に印刷塗布しても
パターン間隔が狭いためにインキがパターンの間に入ら
なかったり、またスクリーンの目開きを大きくしてイン
キの出を多くしてインキをパターン間に入る様にすると
、はんだ付けを必要とするスルホール内やはんだ付けラ
ンドにはんだマスク用インキが付着したりして、インキ
が回路パターンに入らなかった場合は絶縁不良、はんだ
付けランドにインキが付着した場合ははんだ付け不良な
どを生じ、かつそれらの不良はパターンの高密度化およ
びプリント配線板の大型化により多数発生するようにな
った。
大型化が進むにつれて、はんだマスクパターンの形成に
大きな問題が生じるようになった。それは、従来のスク
リーン印刷法により、はんだマスク用インキ(ソルダー
レジストインキ)をプリント配線板上に印刷塗布しても
パターン間隔が狭いためにインキがパターンの間に入ら
なかったり、またスクリーンの目開きを大きくしてイン
キの出を多くしてインキをパターン間に入る様にすると
、はんだ付けを必要とするスルホール内やはんだ付けラ
ンドにはんだマスク用インキが付着したりして、インキ
が回路パターンに入らなかった場合は絶縁不良、はんだ
付けランドにインキが付着した場合ははんだ付け不良な
どを生じ、かつそれらの不良はパターンの高密度化およ
びプリント配線板の大型化により多数発生するようにな
った。
これらの問題を解決する方法として、上記スクリーン印
刷法に代えて1976年項より、従来多層プリント配線
板の回路パターン形成法に採用されていた写真法(フォ
トリソグラフィー法)によるはんだマスクパターンの形
成法が採用されるようになった。フォトリソグラフィー
法によるはんだマスクパターンの形成法には、プリント
配線板上に厚さ25μmのカバーフィルムと称する保護
膜の付いた感光膜を形成した後、保護膜上に厚さ170
μmのネガ(またはポジ)フィルムを真空中で密着させ
て、露光現像する方法(米国E 、 I 、du Po
ntドライフィルムリルダーレジスト″バクレル″を使
用する方法)と液状の感光性膜をプリント配線板上に形
成し、その液状の塗暎と300μIIl〜1000μm
の間隔でネガ(またはポジ)フィルムを置いて露光現像
する方法(米国W、R。
刷法に代えて1976年項より、従来多層プリント配線
板の回路パターン形成法に採用されていた写真法(フォ
トリソグラフィー法)によるはんだマスクパターンの形
成法が採用されるようになった。フォトリソグラフィー
法によるはんだマスクパターンの形成法には、プリント
配線板上に厚さ25μmのカバーフィルムと称する保護
膜の付いた感光膜を形成した後、保護膜上に厚さ170
μmのネガ(またはポジ)フィルムを真空中で密着させ
て、露光現像する方法(米国E 、 I 、du Po
ntドライフィルムリルダーレジスト″バクレル″を使
用する方法)と液状の感光性膜をプリント配線板上に形
成し、その液状の塗暎と300μIIl〜1000μm
の間隔でネガ(またはポジ)フィルムを置いて露光現像
する方法(米国W、R。
G race社のアキエトレース法)および感光性膜を
プリント配線上に形成した後、その感光性膜上に厚さ1
70μ■のネガ(またはポジ)フィルムを真空中で密着
させて、露光現像する方法(スイス国Ciba G e
igy社のプロピマー法)などがある。
プリント配線上に形成した後、その感光性膜上に厚さ1
70μ■のネガ(またはポジ)フィルムを真空中で密着
させて、露光現像する方法(スイス国Ciba G e
igy社のプロピマー法)などがある。
第1図は、従来のスクリーン印刷法によってはんだマス
クを形成する時の概略の工程を示したものである。第1
図Aは基材す上に金属箔aを貼付した積層板の断面図で
あり、第1図Bは前記積層板を表面処理し、エツチング
レジストC(タムラ化研製“ER−40IC”)を印刷
し、乾燥したものの断面図である。第1図Cは前記第1
図Bに示した段階のものをエツチングし、エツチングレ
ジストを除去したものの断面図である。第1図りは前記
第1図Cに示したエツチングレジストを除去したものを
表面処理してその上にはんだマスクインキd(タムラ化
研製”USR−2G”)をスクリーン印刷し、硬化した
ものの断面図である。第1図Eは前記第1図りに示した
ものの外形を調整したり、穴加工したものの断面図であ
る。
クを形成する時の概略の工程を示したものである。第1
図Aは基材す上に金属箔aを貼付した積層板の断面図で
あり、第1図Bは前記積層板を表面処理し、エツチング
レジストC(タムラ化研製“ER−40IC”)を印刷
し、乾燥したものの断面図である。第1図Cは前記第1
図Bに示した段階のものをエツチングし、エツチングレ
ジストを除去したものの断面図である。第1図りは前記
第1図Cに示したエツチングレジストを除去したものを
表面処理してその上にはんだマスクインキd(タムラ化
研製”USR−2G”)をスクリーン印刷し、硬化した
ものの断面図である。第1図Eは前記第1図りに示した
ものの外形を調整したり、穴加工したものの断面図であ
る。
第2図は従来のスクリーン印刷法によってはんだマスク
を形成する場合の不良例を示す概略図である。第2図A
〜第2図Cは第1図A〜第1図Cと全く同一であり、第
2図り及び第2図Eはマスクの不良例を示している。
を形成する場合の不良例を示す概略図である。第2図A
〜第2図Cは第1図A〜第1図Cと全く同一であり、第
2図り及び第2図Eはマスクの不良例を示している。
この従来の方法は、−貫ラインの大量生産に適している
。その生産性は、1分間に大きさ50cm X 50c
mのプリント配線板を12枚処理でき、非常に効率が良
い。しかし、スクリーン印刷法によって多量の印刷を行
うと、印刷面上に金属箔の凹凸パターンが存在すること
も手伝って、はんだマスクインキがスクリーン版の裏に
まわり込み、第2図り及びEに示すように、はんだマス
クdがd′のように不必要な部分に印刷されて、はんだ
付け不良の原因となっている。部品を高密度に実装する
ためのプリント配線板では、この不良が重大な欠点とな
り、スクリーン印刷による高解像度のはんだマスクパタ
ーンの形成は不可と断定されつつある。
。その生産性は、1分間に大きさ50cm X 50c
mのプリント配線板を12枚処理でき、非常に効率が良
い。しかし、スクリーン印刷法によって多量の印刷を行
うと、印刷面上に金属箔の凹凸パターンが存在すること
も手伝って、はんだマスクインキがスクリーン版の裏に
まわり込み、第2図り及びEに示すように、はんだマス
クdがd′のように不必要な部分に印刷されて、はんだ
付け不良の原因となっている。部品を高密度に実装する
ためのプリント配線板では、この不良が重大な欠点とな
り、スクリーン印刷による高解像度のはんだマスクパタ
ーンの形成は不可と断定されつつある。
第3図は、E、1.du Pant社が開発したネガ型
ドライフィルム(E、1.du Pant社″′Vac
lel 8000”)を使用した時のはんだマスクの形
成方法の概略の工程を示したものである。
ドライフィルム(E、1.du Pant社″′Vac
lel 8000”)を使用した時のはんだマスクの形
成方法の概略の工程を示したものである。
第3図A−Cの工程は第1図へ〜Cの工程と全く同じで
ある。第3図りは第3図Cに示したものを表面処理して
、その上に保護フィルムe及びはんだマスクdを備えた
ネガ型ドライフィルムはんだマスクを真空ラミネートし
たものの断面である。ドライフィルムのラミネートは、
30mmHg以下の真空度で、ラミネート温度を110
〜170℃にし、1〜211I1分の速度で行った。第
3図Eは不透光膜パターンhを有するアートワークfの
位置合わせをし、30mmHgの真空度で真空密着させ
、17m1j/alのランプ照度で約12秒間露光(必
要露光エネルギー 200mj/ al )する工程の
説明図である。第3図Fは前記第3図Eに示したドライ
フィルムの保護膜(カバーフィルム)et!、*去して
現像し、硬化させ、はんだマスクdを形成したものの断
面図である。第3図Gは前記第3図Fに示したものの外
形を調整したり、穴加工したものの断面図である。
ある。第3図りは第3図Cに示したものを表面処理して
、その上に保護フィルムe及びはんだマスクdを備えた
ネガ型ドライフィルムはんだマスクを真空ラミネートし
たものの断面である。ドライフィルムのラミネートは、
30mmHg以下の真空度で、ラミネート温度を110
〜170℃にし、1〜211I1分の速度で行った。第
3図Eは不透光膜パターンhを有するアートワークfの
位置合わせをし、30mmHgの真空度で真空密着させ
、17m1j/alのランプ照度で約12秒間露光(必
要露光エネルギー 200mj/ al )する工程の
説明図である。第3図Fは前記第3図Eに示したドライ
フィルムの保護膜(カバーフィルム)et!、*去して
現像し、硬化させ、はんだマスクdを形成したものの断
面図である。第3図Gは前記第3図Fに示したものの外
形を調整したり、穴加工したものの断面図である。
この第3図に示した従来の方法は、像の再現性に優れる
反面、ランプからの熱によるアートワークの熱損傷を防
止するために、ランプとアートワークの距離を50cm
以上離す必要があり、そのためのランプ照度が17mW
/ alと低く、アートワークの位置合せ時間と具2&
9き時間を加えた露光に要する時間は20秒間必要とな
る。1分当りの処理枚数は大きさ50cmX 50cm
のプリン1〜配線板で3枚程度でスクリーン印刷の17
4程度の処理能力しか得られない。また、アートワーク
fを保護膜eを介して密着させているため、より精密な
像を得ようとするとさらに平行度の良い光源が必要とな
る欠点もある。
反面、ランプからの熱によるアートワークの熱損傷を防
止するために、ランプとアートワークの距離を50cm
以上離す必要があり、そのためのランプ照度が17mW
/ alと低く、アートワークの位置合せ時間と具2&
9き時間を加えた露光に要する時間は20秒間必要とな
る。1分当りの処理枚数は大きさ50cmX 50cm
のプリン1〜配線板で3枚程度でスクリーン印刷の17
4程度の処理能力しか得られない。また、アートワーク
fを保護膜eを介して密着させているため、より精密な
像を得ようとするとさらに平行度の良い光源が必要とな
る欠点もある。
第4図はCiba G eigy社の開発したプロピマ
ー法を説明するもので、第4図A−Cの工程は第1図A
−Cの工程と全く同じである。
ー法を説明するもので、第4図A−Cの工程は第1図A
−Cの工程と全く同じである。
この方法では前記第3図りのラミネート工程を省略して
おり、第4図りに示すように、感光性樹脂を有機溶剤で
溶解した溶液(Ciba−a eigy社製″′プロピ
マー52″′)を直接にプリント配線板a、bの上に塗
布し、70〜80’Cで30分間乾燥し、1分間冷却し
てネガ型感光性膜dを形成し、しかる後、第4図Eに示
すように、その上に直接にパターンを有するアートワー
クfを真空密着させ、露光する方法である。アートワー
クfの真空密着は30 +a m Hg以下の真空度で
行われ、露光は17mV/ aJのランプ照度で約20
秒行う(必要露光エネルギー350mj/d)。第4図
Eで露光したものを現像露光し、硬化して第4図Fに示
したようなはんだマスクdを形成し、これを前述と同様
に第4図Gに示したように、外形を調整したり、穴加工
する。この方法は第3図に示したドライフィルム法に比
較して高解像度が得られ、しかも材料費はドライフィル
ムの1/3程度になる。
おり、第4図りに示すように、感光性樹脂を有機溶剤で
溶解した溶液(Ciba−a eigy社製″′プロピ
マー52″′)を直接にプリント配線板a、bの上に塗
布し、70〜80’Cで30分間乾燥し、1分間冷却し
てネガ型感光性膜dを形成し、しかる後、第4図Eに示
すように、その上に直接にパターンを有するアートワー
クfを真空密着させ、露光する方法である。アートワー
クfの真空密着は30 +a m Hg以下の真空度で
行われ、露光は17mV/ aJのランプ照度で約20
秒行う(必要露光エネルギー350mj/d)。第4図
Eで露光したものを現像露光し、硬化して第4図Fに示
したようなはんだマスクdを形成し、これを前述と同様
に第4図Gに示したように、外形を調整したり、穴加工
する。この方法は第3図に示したドライフィルム法に比
較して高解像度が得られ、しかも材料費はドライフィル
ムの1/3程度になる。
しかし、この方法もアートワークの位置合せ時間、真空
引きの時間を加えた露光に要する時間は30秒間必要と
なる。1分間当りの処理枚数は大きさ50cm X 5
0cmのプリント配線板で2枚程度と、スクリーン印刷
法のl/6程度の処理能力しか得られない。
引きの時間を加えた露光に要する時間は30秒間必要と
なる。1分間当りの処理枚数は大きさ50cm X 5
0cmのプリント配線板で2枚程度と、スクリーン印刷
法のl/6程度の処理能力しか得られない。
第5図はW、R,Grace社が開発したアキュ1〜レ
ース法を説明するもので、第5図A−Cの工程は第1図
A−Cの工程と全く同じである。この方法では第5図り
に示すようにネガ型無溶剤液状感光性膜d (W、R,
Grace社製“S M A−5000″′)を形成し
、この場合冷却は不要である。次に、第5図Eに示すよ
うに、液状感光性膜dとアートワークfとの間の間隔(
ギャップ)gを調整しながら、アートワークfの位置合
わせをし、8mW/aJのランプ照度で約20秒間露光
する(必要露光エネルギー160mj/ aiT )。
ース法を説明するもので、第5図A−Cの工程は第1図
A−Cの工程と全く同じである。この方法では第5図り
に示すようにネガ型無溶剤液状感光性膜d (W、R,
Grace社製“S M A−5000″′)を形成し
、この場合冷却は不要である。次に、第5図Eに示すよ
うに、液状感光性膜dとアートワークfとの間の間隔(
ギャップ)gを調整しながら、アートワークfの位置合
わせをし、8mW/aJのランプ照度で約20秒間露光
する(必要露光エネルギー160mj/ aiT )。
第5図Eで露光したもの・を現像し、硬化し、穴加工す
る工程(第5図F。
る工程(第5図F。
G)は第4図F、Gに示した工程と同じである。
この方法では、感光性膜の形成、露光、現像が一貫ライ
ンで生産でき、自動化による人件費の大幅な削減と言う
面から見るとスクリーン印刷法と同様な効果を持ってい
る。
ンで生産でき、自動化による人件費の大幅な削減と言う
面から見るとスクリーン印刷法と同様な効果を持ってい
る。
しかし、この方法は第5図Eに示されるように、液状感
光性膜dとツーl−ワークfとの間に0.3mm〜1
、 Ommの間隔(ギャップ)を必要とし、高い解像度
を得るためには平行光が得られる露光装置が必要となる
。また、そのために照度もさらに低下し、8mW/al
の照度しが得られず、ツーl−ワークの位置合せ時間と
ギャップ調整時間を含めるとその露光に要する時間は3
0秒となる。1分当り処理枚数は、大きさ50cm X
50cmのプリント配線板で2枚程度と、スクリーン
印刷の176程度の能力しか得られない。また、設備も
全自動−貫ラインで約2億円程度の投資を要する点にも
問題がある。
光性膜dとツーl−ワークfとの間に0.3mm〜1
、 Ommの間隔(ギャップ)を必要とし、高い解像度
を得るためには平行光が得られる露光装置が必要となる
。また、そのために照度もさらに低下し、8mW/al
の照度しが得られず、ツーl−ワークの位置合せ時間と
ギャップ調整時間を含めるとその露光に要する時間は3
0秒となる。1分当り処理枚数は、大きさ50cm X
50cmのプリント配線板で2枚程度と、スクリーン
印刷の176程度の能力しか得られない。また、設備も
全自動−貫ラインで約2億円程度の投資を要する点にも
問題がある。
以上述べたとおり、第1図及び第2図・で説明したスク
リーン印刷では解像度に問題があり、第3〜第5図に示
した従来法では生産性の面と設備に費用がかかりすぎる
面で問題があり1部品を高密度に実装するプリント配線
板に広く利用されていないのが実状である。
リーン印刷では解像度に問題があり、第3〜第5図に示
した従来法では生産性の面と設備に費用がかかりすぎる
面で問題があり1部品を高密度に実装するプリント配線
板に広く利用されていないのが実状である。
本発明は従来の欠点を克服した、プリント配線板上には
んだマスクパターンを形成する方法を提供することを目
的としさらに精度良いはんだマスクパターンからなるプ
リント配線板の製造方法を提供することを目的とする。
んだマスクパターンを形成する方法を提供することを目
的としさらに精度良いはんだマスクパターンからなるプ
リント配線板の製造方法を提供することを目的とする。
本発明者は前記目的を達成するために鋭意研究した結果
、導体回路が形成されたプリント配線板に、あらかじめ
溶剤現像性又はアルカリ現像性の感光性はんだマスクを
導体層の厚み以上に塗布し、その逆面から光を照射し、
しかる後に溶剤又はアルカリ水溶液で現像処理を施して
導体上のはんだマスクを除去した第1のはんだマスクを
形成し、次にプリント配線板の導体上のはんだ付け部に
掛からないように第2のはんだマスクを形成することを
特徴とするプリント配線板のはんだマスク形成方法であ
る。
、導体回路が形成されたプリント配線板に、あらかじめ
溶剤現像性又はアルカリ現像性の感光性はんだマスクを
導体層の厚み以上に塗布し、その逆面から光を照射し、
しかる後に溶剤又はアルカリ水溶液で現像処理を施して
導体上のはんだマスクを除去した第1のはんだマスクを
形成し、次にプリント配線板の導体上のはんだ付け部に
掛からないように第2のはんだマスクを形成することを
特徴とするプリント配線板のはんだマスク形成方法であ
る。
本発明に使用する溶剤現像性又はアルカリ現像性の感光
性はんだマスク(以下第1のはんだマスクと云う)はエ
ポキシ樹脂とα、β不飽和カルボン酸を反応させ、これ
に多塩基性酸無水物を反応させて得られたエポキシアク
リレート系樹脂、ビスフェノール型エポキシアクリレー
ト樹脂、ノボラック型エポキシアクリレート樹脂に増感
剤例えば2−メチル−〔4−(メチルチオ)フェニル〕
−2−モルフォリノ−1−プロパノン等を希釈剤に溶か
して塗布し易くした一般にネガ型感光性しジス1−剤と
呼ばれているものである。これらの感光性レジスト剤は
光硬化性、アルカリ水溶液又は溶剤により現像可能なも
のである。特に本発明者らが先に発明した少くとも2個
の末端エポキシ基を含有するエポキシ樹脂とα、β不飽
和カルボン酸を反応させ、後多塩基性酸無水物を反応さ
せて得られる多官能エポキシアクリレート樹脂に増感剤
、1,3.5−トリスグリシジルイソシアヌル酸よりな
るエポキシ樹脂及びエポキシ樹脂硬化剤を配合したもの
が好適である。
性はんだマスク(以下第1のはんだマスクと云う)はエ
ポキシ樹脂とα、β不飽和カルボン酸を反応させ、これ
に多塩基性酸無水物を反応させて得られたエポキシアク
リレート系樹脂、ビスフェノール型エポキシアクリレー
ト樹脂、ノボラック型エポキシアクリレート樹脂に増感
剤例えば2−メチル−〔4−(メチルチオ)フェニル〕
−2−モルフォリノ−1−プロパノン等を希釈剤に溶か
して塗布し易くした一般にネガ型感光性しジス1−剤と
呼ばれているものである。これらの感光性レジスト剤は
光硬化性、アルカリ水溶液又は溶剤により現像可能なも
のである。特に本発明者らが先に発明した少くとも2個
の末端エポキシ基を含有するエポキシ樹脂とα、β不飽
和カルボン酸を反応させ、後多塩基性酸無水物を反応さ
せて得られる多官能エポキシアクリレート樹脂に増感剤
、1,3.5−トリスグリシジルイソシアヌル酸よりな
るエポキシ樹脂及びエポキシ樹脂硬化剤を配合したもの
が好適である。
本発明に使用する上記第1のはんだマスク組成物には通
常のスクリーン印刷用レジストが使用されている各種添
加物、例えば充填剤。
常のスクリーン印刷用レジストが使用されている各種添
加物、例えば充填剤。
チキントロピー剤、レベリング剤、着色剤、消泡剤等を
適宜添加することができる。
適宜添加することができる。
この第1のはんだマスク組成物を導体回路があらかじめ
形成されているプリント配線板(第6図C)にスクリー
ン印刷法等の適宜の方法によって同プリント配線板(Q
)の全面に、導体層(第6図a)の厚み以上に塗布して
第1のはんだマスク層(第6図d)は、塗布後乾燥、要
すれば80℃前後に加熱して乾燥して第1のはんだマス
ク層を形成する。後、該第1のはんだマスク層が形成さ
れていないプリント配線板の裏面から光を照射し、導体
(a)上以外の第1のはんだマスク層は光の照射により
硬化し、導体(a)上の第1はんだマスク層は導体によ
り光が遮ぎ、られて硬化されない。この裏面よりの光照
射操作の終了後の処理液の、アルカリ水溶液又は現像用
溶剤は、アルカリ水溶液としては0.5〜10重量%の
水酸化カリ、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸
水素ナトリウム及びモノエタノールアミン、ジェタノー
ルアミン、トリエタノールアミンなどのアルカノールア
ミンの水71g液等である。
形成されているプリント配線板(第6図C)にスクリー
ン印刷法等の適宜の方法によって同プリント配線板(Q
)の全面に、導体層(第6図a)の厚み以上に塗布して
第1のはんだマスク層(第6図d)は、塗布後乾燥、要
すれば80℃前後に加熱して乾燥して第1のはんだマス
ク層を形成する。後、該第1のはんだマスク層が形成さ
れていないプリント配線板の裏面から光を照射し、導体
(a)上以外の第1のはんだマスク層は光の照射により
硬化し、導体(a)上の第1はんだマスク層は導体によ
り光が遮ぎ、られて硬化されない。この裏面よりの光照
射操作の終了後の処理液の、アルカリ水溶液又は現像用
溶剤は、アルカリ水溶液としては0.5〜10重量%の
水酸化カリ、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸
水素ナトリウム及びモノエタノールアミン、ジェタノー
ルアミン、トリエタノールアミンなどのアルカノールア
ミンの水71g液等である。
又、現像用有機溶剤としてはトリクロルエタン、トリク
ロルエチレン、パークロルエチレンなどのハロゲン化炭
化水素、メチルセロソルブ、エチルセロリルブ、プチル
セロリルプ、ブチルカルピトールなどの多他アルコール
エーテル類、トルエン、キシレン、テトラリンなどの芳
香族炭化水素類などの少なくても1種が用いられる。
ロルエチレン、パークロルエチレンなどのハロゲン化炭
化水素、メチルセロソルブ、エチルセロリルブ、プチル
セロリルプ、ブチルカルピトールなどの多他アルコール
エーテル類、トルエン、キシレン、テトラリンなどの芳
香族炭化水素類などの少なくても1種が用いられる。
そして、好適には炭酸ナトリウムの水溶液、を使用して
導体(a)上の第1のはんだマスク層を溶解除去し、第
1のはんだマスク層(d)は導体(a)以外の面に形成
させる、(第6図E参照)。なお、この第1のはんだマ
スク層を加熱約150℃程度にして熱硬化させれば更に
第1のはんだマスク層が強固に形成される。
導体(a)上の第1のはんだマスク層を溶解除去し、第
1のはんだマスク層(d)は導体(a)以外の面に形成
させる、(第6図E参照)。なお、この第1のはんだマ
スク層を加熱約150℃程度にして熱硬化させれば更に
第1のはんだマスク層が強固に形成される。
このように導体(a)の上面を除いた面に第1のはんだ
マスク層(d)が形成されたプリント配線板上のはんだ
付け部(h)に掛からない様に第2のはんだマスク(第
6図Fのd“)をスクリーン印刷法で塗布する。
マスク層(d)が形成されたプリント配線板上のはんだ
付け部(h)に掛からない様に第2のはんだマスク(第
6図Fのd“)をスクリーン印刷法で塗布する。
本発明に使用する第2のはんだマスクは光硬化型樹脂を
主成分とするもので、ポリオールアクリレート、ポリエ
ステルアクリレート。
主成分とするもので、ポリオールアクリレート、ポリエ
ステルアクリレート。
ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、ポリエ
ーテルアクリレート、メラミンアクリレートなどのアク
リル系オリゴマーや光硬化型樹脂を挙げることができる
。また短時間の紫外線照射により硬化し、電気絶縁性、
耐熱性、硬さ、密着性、柔軟性及び耐溶剤性等が要求さ
れるはんだマスク用としては、特にエポキシアクリレー
ト、ウレタンアクリレートが好ましい。これらの樹脂の
希釈剤としてはカルピトール(メタ)アクリレート、2
−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−エチル
ヘキシル(メタ)アクリレート、イソボロル(メタ)ア
クリレート等の単官能性を有するエチレングリコールジ
アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アク
リレート、ポリエチレンクリコール#200ジ(メタ)
アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリ
レート、1.3〜プチレンゲリコールジ(メタ)アクリ
レート、1,6−ヘキサンゲリコールジ(メタ)アクリ
レート、トリメチロールプロパン1−リ(メタ)アクリ
レ−1−、ペンタエリストールトリ(メタ)アクリレー
ト、ペンタエリスリト−ルテトラアクリレート等を使用
することができる。
ーテルアクリレート、メラミンアクリレートなどのアク
リル系オリゴマーや光硬化型樹脂を挙げることができる
。また短時間の紫外線照射により硬化し、電気絶縁性、
耐熱性、硬さ、密着性、柔軟性及び耐溶剤性等が要求さ
れるはんだマスク用としては、特にエポキシアクリレー
ト、ウレタンアクリレートが好ましい。これらの樹脂の
希釈剤としてはカルピトール(メタ)アクリレート、2
−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−エチル
ヘキシル(メタ)アクリレート、イソボロル(メタ)ア
クリレート等の単官能性を有するエチレングリコールジ
アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アク
リレート、ポリエチレンクリコール#200ジ(メタ)
アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリ
レート、1.3〜プチレンゲリコールジ(メタ)アクリ
レート、1,6−ヘキサンゲリコールジ(メタ)アクリ
レート、トリメチロールプロパン1−リ(メタ)アクリ
レ−1−、ペンタエリストールトリ(メタ)アクリレー
ト、ペンタエリスリト−ルテトラアクリレート等を使用
することができる。
光増感剤はベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベ
ンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエー
テル、2−メチルアントラキノン、2−t−ブチルアン
トラキノン、2−エチルアントラキノン、チオキサント
ン、ベンジル、ベンゾフェノン、アセトフェノン、α−
ジェトキシアセトフェノンもしくはこれらの混合物が使
用できる、スクリーン印刷法が好適である。
ンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエー
テル、2−メチルアントラキノン、2−t−ブチルアン
トラキノン、2−エチルアントラキノン、チオキサント
ン、ベンジル、ベンゾフェノン、アセトフェノン、α−
ジェトキシアセトフェノンもしくはこれらの混合物が使
用できる、スクリーン印刷法が好適である。
以上の成分の他の充填剤として硫酸バリウム、タルク、
炭酸カルシウム、シリカ更に着色剤、レベリング剤、消
泡剤などを添加することもできる。
炭酸カルシウム、シリカ更に着色剤、レベリング剤、消
泡剤などを添加することもできる。
この第2のはんだマスク用組成物の塗布方法としては、
スクリーン印刷法、ローラーティング法、スプレー法、
カーテンコーター法、オフセット法など、その使用条件
、対象プリント配線板により適宜選択することができる
。
スクリーン印刷法、ローラーティング法、スプレー法、
カーテンコーター法、オフセット法など、その使用条件
、対象プリント配線板により適宜選択することができる
。
以上の如くして得られたプリント配線板(C)の導体(
a)を除く全表面に第1のはんだマスク(d)層を有し
、導体(a)上のはんだ付け部(e)上を除く全表面に
第2のはんだマスク(d#)層を有する高密度プリント
配線板を多量生産に適したはんだマスク形成方法である
。
a)を除く全表面に第1のはんだマスク(d)層を有し
、導体(a)上のはんだ付け部(e)上を除く全表面に
第2のはんだマスク(d#)層を有する高密度プリント
配線板を多量生産に適したはんだマスク形成方法である
。
次に本発明の実施例並びに本発明の方法による効果を説
明する。
明する。
実施例を第6図によって説明する。
スクリーン印刷法により、導体回路があらかじめ形成さ
れているプリン1〜配線板(c)上に、スクリーン印刷
法により全面に約180のエポキシ当量を有するフェノ
ールノボラック系エポキシ樹脂(DEN−485)約1
80重量部、ブチルセロソルブアセテート(不活性有機
溶剤)80重量部、アクリル酸80重量部、ハイドロキ
ノン約1.5重量部及びエステル化触媒としてエチルア
ミン約3重量部よりなる混合物を約100℃で16時間
反応させて酸価15のエポキシアクリレートを得た。次
に、テトラヒドロ無水フタル酸を約100重量部加えて
100℃で30分間反応させて得た反応生成物100重
量部に対して2−クロルチオキサントン3重量部、4,
4−ジメチルアミノベンゾフェノン1重量部、トリメチ
ロールプロパントリアクリレ−1−50重量部を混合し
た後、さらにタルク50重量部、シアニングリーン1重
量部、シリコーンオイル1重量部、アエロシール3重量
部を加えてなる第1のはんだマスク組成物(d)を導体
の厚み以上に塗布する。後80℃で5分間乾燥する、(
第6図り参照)。
れているプリン1〜配線板(c)上に、スクリーン印刷
法により全面に約180のエポキシ当量を有するフェノ
ールノボラック系エポキシ樹脂(DEN−485)約1
80重量部、ブチルセロソルブアセテート(不活性有機
溶剤)80重量部、アクリル酸80重量部、ハイドロキ
ノン約1.5重量部及びエステル化触媒としてエチルア
ミン約3重量部よりなる混合物を約100℃で16時間
反応させて酸価15のエポキシアクリレートを得た。次
に、テトラヒドロ無水フタル酸を約100重量部加えて
100℃で30分間反応させて得た反応生成物100重
量部に対して2−クロルチオキサントン3重量部、4,
4−ジメチルアミノベンゾフェノン1重量部、トリメチ
ロールプロパントリアクリレ−1−50重量部を混合し
た後、さらにタルク50重量部、シアニングリーン1重
量部、シリコーンオイル1重量部、アエロシール3重量
部を加えてなる第1のはんだマスク組成物(d)を導体
の厚み以上に塗布する。後80℃で5分間乾燥する、(
第6図り参照)。
かくして得られたプリント配線板を、前工程により第1
のはんだマスク層(d)が有る面の裏面から紫外線を2
5mw/cJ (オークs/s製HMII−680c
)で20秒間露光する。
のはんだマスク層(d)が有る面の裏面から紫外線を2
5mw/cJ (オークs/s製HMII−680c
)で20秒間露光する。
後、プリント配線板を1%炭酸ナトリウム水溶液に30
秒浸漬すると、導体(a)上の第1のはんだマスク(d
)が除去されたプリント配線板(第6図E)が得られる
。
秒浸漬すると、導体(a)上の第1のはんだマスク(d
)が除去されたプリント配線板(第6図E)が得られる
。
次に、エポキシアクリレート樹脂(Mti : 200
0) 100部、トリメチロールプロパントリアクリレ
ート50部、2−ヒドロキシエチルアクリレ−1−30
部、2−メチルアントラキノン3部、フタロシアニング
リーン1部、タルク25部及びシリコーン消泡剤1部よ
りなる第2のはんだマスク組成物(d#)を導体層のは
んだ付け部(h)に掛からないようにスクリーン印刷法
で塗布し、一般の紫外線照射装置(照度300mW/C
II?)で3秒間露光し第2のはんだマスク層(d“)
を形成し製品とする(第6図F)。
0) 100部、トリメチロールプロパントリアクリレ
ート50部、2−ヒドロキシエチルアクリレ−1−30
部、2−メチルアントラキノン3部、フタロシアニング
リーン1部、タルク25部及びシリコーン消泡剤1部よ
りなる第2のはんだマスク組成物(d#)を導体層のは
んだ付け部(h)に掛からないようにスクリーン印刷法
で塗布し、一般の紫外線照射装置(照度300mW/C
II?)で3秒間露光し第2のはんだマスク層(d“)
を形成し製品とする(第6図F)。
従来技術で述べた従来例第1〜5図と本発明の実施例(
第6図)の特徴を比較して下記の表1に示す。
第6図)の特徴を比較して下記の表1に示す。
表1 従来例と実施例の比較
〔発明の効果〕
以上述べたように、本発明の方法によれば。
解像度の良好なはんだマスクが、極めて高い生産性で得
られる。
られる。
第1図〜第5図は従来法によるはんだマスクの製造工程
を示す概略図であり、第6図は本発明の方法によるはん
だマスクの製造工程を示す概略図である。 a・・・金属箔 b・・・基 材C・・・
エツチングレジスト 以上のとおり本発明は、解像性は第3図〜第5図に比較
しやや劣るが、第1図のスクリーン印刷法よりも第1の
はんだマスクを形成し凹凸面の少ない上に第2のはんだ
マスクを形成するため高い解像度を示す。しかも生産性
の面ではスクリーン印刷法と同等で、高密度プリント配
線板の量産用のはんだマスク形成に適していることがわ
かる。 e・・・保護フィルム(カバーフィルム)f・・・アー
トワーク g・・・間 隙h・・・はんだ付け部 馬1 県 篤2回
を示す概略図であり、第6図は本発明の方法によるはん
だマスクの製造工程を示す概略図である。 a・・・金属箔 b・・・基 材C・・・
エツチングレジスト 以上のとおり本発明は、解像性は第3図〜第5図に比較
しやや劣るが、第1図のスクリーン印刷法よりも第1の
はんだマスクを形成し凹凸面の少ない上に第2のはんだ
マスクを形成するため高い解像度を示す。しかも生産性
の面ではスクリーン印刷法と同等で、高密度プリント配
線板の量産用のはんだマスク形成に適していることがわ
かる。 e・・・保護フィルム(カバーフィルム)f・・・アー
トワーク g・・・間 隙h・・・はんだ付け部 馬1 県 篤2回
Claims (1)
- 1.導体回路が形成されたプリント配線板上に、あらか
じめ溶剤現像性又はアルカリ現像性の感光性はんだマス
クを導体層の厚み以上に塗布し、塗布した裏面から光を
照射し、しかる後に溶剤またはアルカリ水溶液で現像処
理を施して導体層上のはんだマスク層を除去した第1の
はんだマスクを形成し、次にプリント配線板の導体層の
はんだ付け部に掛からないように第2のはんだマスクを
形成することを特徴とするプリント配線板のはんだマス
クの形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7455689A JPH02252287A (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | プリント配線板のはんだマスク形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7455689A JPH02252287A (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | プリント配線板のはんだマスク形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02252287A true JPH02252287A (ja) | 1990-10-11 |
Family
ID=13550625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7455689A Pending JPH02252287A (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | プリント配線板のはんだマスク形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02252287A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0278295A (ja) * | 1988-09-14 | 1990-03-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント配線板の製造方法 |
-
1989
- 1989-03-27 JP JP7455689A patent/JPH02252287A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0278295A (ja) * | 1988-09-14 | 1990-03-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント配線板の製造方法 |
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