JPH02253645A - 光半導体装置およびそれに用いる光半導体封止用エポキシ樹脂組成物 - Google Patents
光半導体装置およびそれに用いる光半導体封止用エポキシ樹脂組成物Info
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- JPH02253645A JPH02253645A JP1075658A JP7565889A JPH02253645A JP H02253645 A JPH02253645 A JP H02253645A JP 1075658 A JP1075658 A JP 1075658A JP 7565889 A JP7565889 A JP 7565889A JP H02253645 A JPH02253645 A JP H02253645A
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- Japan
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- epoxy resin
- formula
- optical semiconductor
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- formulas
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、耐熱信頬性、熱衝撃信顛性、耐湿信頼性お
よび光透過性に優れた光半導体装置に関するものである
。
よび光透過性に優れた光半導体装置に関するものである
。
受光素子および発光素子等の光半導体素子の封止材料に
は、透明性、熱衝撃性および耐湿性に優れていなければ
ならないという観点からエポキシ樹脂組成物が使用され
ており、良好な成績をおさめている。しかしながら、従
来から用いられているエポキシ樹脂組成物は、透明性に
は優れているが、耐湿性、熱衝撃性および耐熱性に劣る
という欠点を有している。
は、透明性、熱衝撃性および耐湿性に優れていなければ
ならないという観点からエポキシ樹脂組成物が使用され
ており、良好な成績をおさめている。しかしながら、従
来から用いられているエポキシ樹脂組成物は、透明性に
は優れているが、耐湿性、熱衝撃性および耐熱性に劣る
という欠点を有している。
このように、耐湿性、熱衝撃性および耐熱性に劣るエポ
キシ樹脂組成物で光半導体素子を樹脂封止すると、素子
の腐食やワイヤー断線が早く進み、光半導体装置の寿命
が短くなることから、透明性を損なうことなく上記のよ
うな欠点が克服された封止樹脂の開発が強く望まれてい
る。
キシ樹脂組成物で光半導体素子を樹脂封止すると、素子
の腐食やワイヤー断線が早く進み、光半導体装置の寿命
が短くなることから、透明性を損なうことなく上記のよ
うな欠点が克服された封止樹脂の開発が強く望まれてい
る。
この発明は、このような事情に鑑みなされたもので、透
明性、特に400〜1000nII+における光透過率
が高く、耐湿性、熱衝撃性および耐熱性に優れた光半導
体装置の提供をその目的とする。
明性、特に400〜1000nII+における光透過率
が高く、耐湿性、熱衝撃性および耐熱性に優れた光半導
体装置の提供をその目的とする。
上記の目的を達成するため、この発明の光半導体装置は
、下記の(A)〜(D)成分を含むエポキシ樹脂組成物
を用いて光半導体素子を封止するという構成をとる。
、下記の(A)〜(D)成分を含むエポキシ樹脂組成物
を用いて光半導体素子を封止するという構成をとる。
(A)下記の一般式(J)で表されるエポキシ樹脂。
(B)酸無水物系硬化剤。
(C)硬化促進剤。
(D)メルカプト基を有するシランカップリング剤
(作用)
すなわち、本発明者らは、透明性、特に400〜110
00nにおける光透過率に優れ、しがも耐湿性、熱衝撃
性および耐熱性が良好な封止樹脂を求めて一連の研究を
重ねた。その結果、上記のような特殊なエポキシ樹脂を
用いると、上記特性が向上することを突き止めた。そし
て、さらに研究を重ねた結果、上記特殊なエポキシ樹脂
と硬化剤と硬化促進剤とを組み合わせ、さらにメルカプ
ト基を有するシランカップリング剤を組み合わせると、
−層上記特性、なかでも耐湿性がより向上した封止樹脂
が得られることを見出しこの発明に到達した。
00nにおける光透過率に優れ、しがも耐湿性、熱衝撃
性および耐熱性が良好な封止樹脂を求めて一連の研究を
重ねた。その結果、上記のような特殊なエポキシ樹脂を
用いると、上記特性が向上することを突き止めた。そし
て、さらに研究を重ねた結果、上記特殊なエポキシ樹脂
と硬化剤と硬化促進剤とを組み合わせ、さらにメルカプ
ト基を有するシランカップリング剤を組み合わせると、
−層上記特性、なかでも耐湿性がより向上した封止樹脂
が得られることを見出しこの発明に到達した。
この発明に用いるエポキシ樹脂組成物は、特殊なエポキ
シ樹脂(A成分)と、特定の配合割合の酸無水物系硬化
剤(B成分)と、硬化促進剤(C成分)と、メルカプト
基を有するシランカップリング剤(D成分)とを用いて
得られるものであって、通常、粉末状もしくはそれを打
錠したタブレット状になっている。
シ樹脂(A成分)と、特定の配合割合の酸無水物系硬化
剤(B成分)と、硬化促進剤(C成分)と、メルカプト
基を有するシランカップリング剤(D成分)とを用いて
得られるものであって、通常、粉末状もしくはそれを打
錠したタブレット状になっている。
上記A成分の特殊なエポキシ樹脂は、下記の一般式(1
)で表されるエポキシ樹脂であり、式中のRIは活性水
素を有する有機化合物の残基である。上記有機化合物と
しては、アルコール類、フェノール類、カルボン酸類、
アミン類およびチオール類等があげられる。
)で表されるエポキシ樹脂であり、式中のRIは活性水
素を有する有機化合物の残基である。上記有機化合物と
しては、アルコール類、フェノール類、カルボン酸類、
アミン類およびチオール類等があげられる。
上記一般式(I)で表されるエポキシ樹脂は活性水素を
有する化合物を開始剤とし、4−ビニルシクロヘキセン
−1−オキサイドを触媒存在下で重合せしめ、得られた
重合体をエポキシ化することにより得られる(特開昭6
0−161973号公報参照)。例えば、前記一般式(
1)において、Rtがトリメチロールプロパン残基であ
り、Aが下記の構造式で表される脂環式エポキシ樹脂が
あげられる。
有する化合物を開始剤とし、4−ビニルシクロヘキセン
−1−オキサイドを触媒存在下で重合せしめ、得られた
重合体をエポキシ化することにより得られる(特開昭6
0−161973号公報参照)。例えば、前記一般式(
1)において、Rtがトリメチロールプロパン残基であ
り、Aが下記の構造式で表される脂環式エポキシ樹脂が
あげられる。
(以下余白)
さらに、上記一般式(1)で表される脂環式エポキシ樹
脂以外に、得られるエポキシ樹脂組成物の特性を損なわ
ない範囲であれば通常用いられる従来公知の他のエポキ
シ樹脂を併用することができる。具体的には、ビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ
樹脂、脂環式エポキシ樹脂、ビスフェノールA型ノボラ
ックエポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート等
があげられ、単独でもしくは併せて用いられる。
脂以外に、得られるエポキシ樹脂組成物の特性を損なわ
ない範囲であれば通常用いられる従来公知の他のエポキ
シ樹脂を併用することができる。具体的には、ビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ
樹脂、脂環式エポキシ樹脂、ビスフェノールA型ノボラ
ックエポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート等
があげられ、単独でもしくは併せて用いられる。
また、場合によりノボラック型エポキシ樹脂も併せて用
いることができる。なお、上記従来公知の他のエポキシ
樹脂の配合量は、所期の目的を損なわない範囲であれば
特に限定するものではないが、通常、A成分の一般式(
1)で表される脂環式エポキシ樹脂に対して5〜80重
量%(以下「%」と略す)の割合に設定するのが好まし
く、より好ましいのは10〜60%である。
いることができる。なお、上記従来公知の他のエポキシ
樹脂の配合量は、所期の目的を損なわない範囲であれば
特に限定するものではないが、通常、A成分の一般式(
1)で表される脂環式エポキシ樹脂に対して5〜80重
量%(以下「%」と略す)の割合に設定するのが好まし
く、より好ましいのは10〜60%である。
上記A成分の特殊なエポキシ樹脂とともに用いられるB
成分の酸無水物系硬化剤としては、ヘキサヒドロ無水フ
タル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水フタル酸、無
水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、無水メチルへ
キサヒドロフタル酸および無水コハク酸等の無色および
淡黄色のものがあげられ、単独でもしくは併せて用いる
ことができる。所期の目的である光透過性、耐湿性、熱
衝撃性等の諸特性を損なわない範囲内であればアミン類
、フェノール類等のエポキシ樹脂に対して用いられる従
来公知の硬化剤を併用しても差し支えない。上記B成分
の酸無水物系硬化剤の配合量は、上記A成分である特殊
なエポキシ樹脂および場合により併用される従来公知の
エポキシ樹脂の全エポキシ基に対して0.5〜1.5当
量の範囲に設定することが好適である。耐湿性等の諸特
性をより向上させるには、0.65〜0.85当量の範
囲に設定することが望ましい、すなわち、B成分の酸無
水物系硬化剤の配合量が0.5当量を下回ると、樹脂組
成物の硬化後の色相が劣化するとともにガラス転析温度
が低下し、逆に1.5当量を上回ると耐湿性が低下する
傾向がみられる。その結果、例えば、上記範囲外で酸無
水物系硬化剤が配合されたエポキシ樹脂組成物で樹脂封
止された光半導体装置でと、素子の腐食およびワイヤー
断線等が早く進行し装置の寿命が低下しがちとなる。
成分の酸無水物系硬化剤としては、ヘキサヒドロ無水フ
タル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水フタル酸、無
水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、無水メチルへ
キサヒドロフタル酸および無水コハク酸等の無色および
淡黄色のものがあげられ、単独でもしくは併せて用いる
ことができる。所期の目的である光透過性、耐湿性、熱
衝撃性等の諸特性を損なわない範囲内であればアミン類
、フェノール類等のエポキシ樹脂に対して用いられる従
来公知の硬化剤を併用しても差し支えない。上記B成分
の酸無水物系硬化剤の配合量は、上記A成分である特殊
なエポキシ樹脂および場合により併用される従来公知の
エポキシ樹脂の全エポキシ基に対して0.5〜1.5当
量の範囲に設定することが好適である。耐湿性等の諸特
性をより向上させるには、0.65〜0.85当量の範
囲に設定することが望ましい、すなわち、B成分の酸無
水物系硬化剤の配合量が0.5当量を下回ると、樹脂組
成物の硬化後の色相が劣化するとともにガラス転析温度
が低下し、逆に1.5当量を上回ると耐湿性が低下する
傾向がみられる。その結果、例えば、上記範囲外で酸無
水物系硬化剤が配合されたエポキシ樹脂組成物で樹脂封
止された光半導体装置でと、素子の腐食およびワイヤー
断線等が早く進行し装置の寿命が低下しがちとなる。
上記A成分およびB成分とともに用いられるC成分の硬
化促進剤としては、1.8−ジアザ−ビシクロ(5,4
,O)ウンデセン−7,2−メチルイミダゾール、2−
エチル−4−メチルイミダゾール、トリメチルアミン、
トリエチルアミン等の三級アミン類およびその誘導体、
ジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィン、トリ
ーnブチルホスフィン等の有機ホスフィン化合物および
その塩類、第四アンモニウム塩等の有機金属塩類等があ
げられ、単独でもしくは併せて用いられる。このような
硬化促進剤の配合量は、用いられる全エポキシ樹脂10
0重量部(以下「部Jと略す)に対して、0.05〜7
.0部の範囲に設定することが好適である。より好まし
くは0.2〜3.0部である。すなわち、上記C成分の
配合量が0.05部を下回ると、130〜170°Cと
いう光半導体装置の成形温度では硬化速度が遅くなって
しまい、逆に7.0部を上回ると、硬化した際にエポキ
シ樹脂組成物が着色する場合があるからである。
化促進剤としては、1.8−ジアザ−ビシクロ(5,4
,O)ウンデセン−7,2−メチルイミダゾール、2−
エチル−4−メチルイミダゾール、トリメチルアミン、
トリエチルアミン等の三級アミン類およびその誘導体、
ジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィン、トリ
ーnブチルホスフィン等の有機ホスフィン化合物および
その塩類、第四アンモニウム塩等の有機金属塩類等があ
げられ、単独でもしくは併せて用いられる。このような
硬化促進剤の配合量は、用いられる全エポキシ樹脂10
0重量部(以下「部Jと略す)に対して、0.05〜7
.0部の範囲に設定することが好適である。より好まし
くは0.2〜3.0部である。すなわち、上記C成分の
配合量が0.05部を下回ると、130〜170°Cと
いう光半導体装置の成形温度では硬化速度が遅くなって
しまい、逆に7.0部を上回ると、硬化した際にエポキ
シ樹脂組成物が着色する場合があるからである。
上記A成分、B成分およびC成分とともに用いられるD
成分のメルカプト基を有するシランカップリング剤とし
ては、一般に使用されているメルカプト基含有シランカ
ップリング剤が用いられる。しかしながら、所期の目的
を損なわない範囲内において、他のシランカップリング
剤やチタネート系カップリング剤等どのようなカップリ
ング剤と併用しても差し支えはない。このようなメルカ
プト基含有シランカップリング剤の配合量は、用いられ
る全エポキシ樹脂100部に対してメルカプト基含有シ
ランカップリング剤が0.01〜10゜0部の範囲内に
なるように設定することが好適である。より好ましいの
は、0.2〜3.0部である。
成分のメルカプト基を有するシランカップリング剤とし
ては、一般に使用されているメルカプト基含有シランカ
ップリング剤が用いられる。しかしながら、所期の目的
を損なわない範囲内において、他のシランカップリング
剤やチタネート系カップリング剤等どのようなカップリ
ング剤と併用しても差し支えはない。このようなメルカ
プト基含有シランカップリング剤の配合量は、用いられ
る全エポキシ樹脂100部に対してメルカプト基含有シ
ランカップリング剤が0.01〜10゜0部の範囲内に
なるように設定することが好適である。より好ましいの
は、0.2〜3.0部である。
すなわち、上記り成分の配合量が0.01部を下回ると
、光半導体装置の耐湿特性が著しく低下する傾向がみら
れ、逆に10.0部を上回ると硬化した際にエポキシ樹
脂組成物が着色する場合がみられるからである。なお、
このD成分のメルカプト基含有シランカップリング剤と
しては、所期の目的を損なわない範囲内でエポキシ樹脂
、硬化剤等、他の原料で変性したものを使用しても差し
支えはない。 また、この発明では、上記A成分、B成
分、C成分およびD成分以外に、必要に応じて従来から
用いられている染料、顔料、変性剤、酸化防止剤、離型
剤、カップリング剤、充填剤等を用いることができる。
、光半導体装置の耐湿特性が著しく低下する傾向がみら
れ、逆に10.0部を上回ると硬化した際にエポキシ樹
脂組成物が着色する場合がみられるからである。なお、
このD成分のメルカプト基含有シランカップリング剤と
しては、所期の目的を損なわない範囲内でエポキシ樹脂
、硬化剤等、他の原料で変性したものを使用しても差し
支えはない。 また、この発明では、上記A成分、B成
分、C成分およびD成分以外に、必要に応じて従来から
用いられている染料、顔料、変性剤、酸化防止剤、離型
剤、カップリング剤、充填剤等を用いることができる。
この発明に用いるエポキシ樹脂組成物は、例えば、つぎ
のようにして製造することができる。すなわち、上記特
殊なエポキシ樹脂(A成分)、酸無水物系硬化剤(B成
分)、硬化促進剤(C成分)、メルカプト基含有シラン
カップリング剤(D成分)および必要に応じて染料、顔
料、変性剤。
のようにして製造することができる。すなわち、上記特
殊なエポキシ樹脂(A成分)、酸無水物系硬化剤(B成
分)、硬化促進剤(C成分)、メルカプト基含有シラン
カップリング剤(D成分)および必要に応じて染料、顔
料、変性剤。
酸化防止剤、離型剤、カップリング剤、充填剤等を配合
する。そして、これを、常法に準じてドライプレンド法
、または、溶融ブレンド法を適宜採用して混合、混練す
ることにより製造することができる。
する。そして、これを、常法に準じてドライプレンド法
、または、溶融ブレンド法を適宜採用して混合、混練す
ることにより製造することができる。
このようなエポキシ樹脂組成物を用いての光半導体の封
止は特に限定されるものではなく、例えば、トランスフ
ァー成形等の公知のモールド方法により行うことができ
る。
止は特に限定されるものではなく、例えば、トランスフ
ァー成形等の公知のモールド方法により行うことができ
る。
このようにして得られる光半導体装置は、優れた透明性
を有し、しかも、耐湿性、耐熱性および熱衝撃性にもす
ぐれている。
を有し、しかも、耐湿性、耐熱性および熱衝撃性にもす
ぐれている。
以上のように、この発明の光半導体装置は、前記の一般
式(1)で表される特殊なエポキシ樹脂(A成分)と、
酸無水物系硬化剤(B成分)と硬化促進剤(C成分)お
よびメルカプト基含有シランカップリング剤(D成分)
を必須成分とする特殊なエポキシ樹脂組成物によって封
止されているため、400〜11000nにおける光透
過率が高く保持された状態で、耐湿性、熱衝撃性および
耐熱性が極めて高くなっている。
式(1)で表される特殊なエポキシ樹脂(A成分)と、
酸無水物系硬化剤(B成分)と硬化促進剤(C成分)お
よびメルカプト基含有シランカップリング剤(D成分)
を必須成分とする特殊なエポキシ樹脂組成物によって封
止されているため、400〜11000nにおける光透
過率が高く保持された状態で、耐湿性、熱衝撃性および
耐熱性が極めて高くなっている。
つぎに、実施例について比較例と併せて説明する。
〔実施例1〜6、比較例1〜4〕
後記の第1表にしたがって、各原料を配合し、ミキシン
グロール機で溶融混練を行い、熟成したのち目的とする
微粉末状のエポキシ樹脂組成物を得た。
グロール機で溶融混練を行い、熟成したのち目的とする
微粉末状のエポキシ樹脂組成物を得た。
(以下余白)
以上の実施例および比較例によって得られた微粉末状の
エポキシ樹脂組成物を用い、光半導体素子(チップサイ
ズ:1.5wa四方×厚み0.5 trm )をトラン
スファーモールド(成形条件:150°C×4分)し、
さらに120°C×16時間の条件でアフターキュアー
することにより光半導体装置を得た(パッケージサイズ
:縦4.5 mm X横6、OmmX厚み3ma+)。
エポキシ樹脂組成物を用い、光半導体素子(チップサイ
ズ:1.5wa四方×厚み0.5 trm )をトラン
スファーモールド(成形条件:150°C×4分)し、
さらに120°C×16時間の条件でアフターキュアー
することにより光半導体装置を得た(パッケージサイズ
:縦4.5 mm X横6、OmmX厚み3ma+)。
このようにして得られた光半導体装置について、プレッ
シャークツカー保存試験(PCT下)(121°CX2
気圧の条件下)でのリーク電流の変動を測定し、さらに
封止物の色相について調べた。その結果を下記の第2表
に示した。なお、測定方法を下記に示す。
シャークツカー保存試験(PCT下)(121°CX2
気圧の条件下)でのリーク電流の変動を測定し、さらに
封止物の色相について調べた。その結果を下記の第2表
に示した。なお、測定方法を下記に示す。
<PCT後のリーク電流の変動測定〉
作製した光半導体装置をPCT条件下各20゜40.6
0.90時間投入した後、常温および常温にて2時間放
置した。これを電圧10Vで30秒間印加させ、そのと
きのリーク電流値を測定した。
0.90時間投入した後、常温および常温にて2時間放
置した。これを電圧10Vで30秒間印加させ、そのと
きのリーク電流値を測定した。
(余 白 )
第2表の結果から、実施例品は透明性を高く保持したま
ま耐湿信頼性、耐熱信頼性のすべてにおいて比較例品に
比べ優れていることがわかる。
ま耐湿信頼性、耐熱信頼性のすべてにおいて比較例品に
比べ優れていることがわかる。
特許出願人 日東電工株式会社
代理人 弁理士 西 藤 征 彦
手続補正書
(自発)
1゜
1材生のb
平成1年特許願第75658号
2、発明の名称
光半導体装置
3゜
補正をする者
事牛との関係 特許出願人
住所 力所成*tn帥1丁目1番2号
名称 (396)日東電工株式会社
イ豐者鎌居五朗
明
細
書
6、補正の内容
(1)明細書第10頁第1行目および第17頁第1表下
の注意書き*1において、それぞれとあるをいずれも と訂正する。
の注意書き*1において、それぞれとあるをいずれも と訂正する。
Claims (3)
- (1)下記の(A)〜(D)成分を含有するエポキシ樹
脂組成物を用いて光半導体素子を封止してなる光半導体
装置。 (A)下記の一般式( I )で表されるエポキシ樹脂。 ▲数式、化学式、表等があります▼…( I ) 式( I )において、R_1は1個の活性水素を有する
有機化合物残基であり、n_1、n_2…n_lは0ま
たは1〜100の整数であつてその和が1〜100であ
り、lは1〜100の整数である。また、Aは置換基を
有する下記シクロヘキサン骨格 ▲数式、化学式、表等があります▼ (ただし、Xは▲数式、化学式、表等があります▼、−
CH=CH_2または−CH(OH)−CH_2−OR
_2であつて、R_2は水素、アルキル基、カーボアル
キル基またはカーボアリール基のいずれか一つで、少な
くとも一般式( I )の樹脂中に1個以上の▲数式、化
学式、表等があります▼を含む)である。 (B)酸無水物系硬化剤。 (C)硬化促進剤。 (D)メルカプト基を有するシランカップリング剤 - (2)上記A成分のエポキシ樹脂以外に、ビスフェノー
ルA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂
、脂環式エポキシ樹脂、ビスフェノールA型ノボラック
エポキシ樹脂およびトリグリシジルイソシアヌレートか
らなる群から選ばれた少なくとも一つのエポキシ樹脂が
併用されている請求項(1)記載の光半導体装置。 - (3)下記の(A)〜(D)成分を含む光半導体封止用
エポキシ樹脂組成物。 (A)下記の一般式( I )で表されるエポキシ樹脂。 ▲数式、化学式、表等があります▼…( I ) 式( I )において、R_1は1個の活性水素を有する
有機化合物残基であり、n_1、n_2…n_lは0ま
たは1〜100の整数であつてその和が1〜100であ
り、lは1〜100の整数である。また、Aは置換基を
有する下記シクロヘキサン骨格 ▲数式、化学式、表等があります▼ (ただし、Xは−CH−CH_2、−CH=CH_2ま
たは−CH(OH)−CH_2−OR_2であつて、R
_2は水素、アルキル基、カーボアルキル基またはカー
ボアリール基のいずれか一つで、少なくとも一般式(
I )の樹脂中に1個以上の▲数式、化学式、表等があり
ます▼を含む)である。 (B)酸無水物系硬化剤。 (C)硬化促進剤。 (D)メルカプト基を有するシランカップリング剤
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1075658A JP2703617B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | 光半導体装置およびそれに用いる光半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1075658A JP2703617B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | 光半導体装置およびそれに用いる光半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02253645A true JPH02253645A (ja) | 1990-10-12 |
| JP2703617B2 JP2703617B2 (ja) | 1998-01-26 |
Family
ID=13582553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1075658A Expired - Lifetime JP2703617B2 (ja) | 1989-03-27 | 1989-03-27 | 光半導体装置およびそれに用いる光半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2703617B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6221510B1 (en) * | 1998-04-23 | 2001-04-24 | Nitto Denko Corporation | Epoxy resin composition for encapsulating photosemiconductor element and photosemiconductor device |
| JP2008222741A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Nitto Denko Corp | 光半導体素子封止用エポキシ樹脂組成物およびそれを用いた光半導体装置 |
| JP2020070391A (ja) * | 2018-11-01 | 2020-05-07 | 株式会社ダイセル | 硬化性エポキシ樹脂組成物 |
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-
1989
- 1989-03-27 JP JP1075658A patent/JP2703617B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6221510B1 (en) * | 1998-04-23 | 2001-04-24 | Nitto Denko Corporation | Epoxy resin composition for encapsulating photosemiconductor element and photosemiconductor device |
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| JP2703617B2 (ja) | 1998-01-26 |
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