JPH02255582A - 酸化物超電導体の改質方法 - Google Patents

酸化物超電導体の改質方法

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JPH02255582A
JPH02255582A JP7718089A JP7718089A JPH02255582A JP H02255582 A JPH02255582 A JP H02255582A JP 7718089 A JP7718089 A JP 7718089A JP 7718089 A JP7718089 A JP 7718089A JP H02255582 A JPH02255582 A JP H02255582A
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JP
Japan
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current
superconductor
sample
oxide superconductor
applying
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Pending
Application number
JP7718089A
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English (en)
Inventor
Naoyuki Ogawa
尚之 小川
Koji Nishio
西尾 光司
Takenobu Sakai
武信 酒井
Izumi Hirabayashi
泉 平林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KOKUSAI CHIYOUDENDOU SANGYO GIJUTSU KENKYU CENTER
NGK Insulators Ltd
Kawasaki Heavy Industries Ltd
Toyota Motor Corp
Original Assignee
KOKUSAI CHIYOUDENDOU SANGYO GIJUTSU KENKYU CENTER
NGK Insulators Ltd
Kawasaki Heavy Industries Ltd
Toyota Motor Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は酸化物超電導体の改質方法に係り、更に詳しく
は、酸化物超電導体の臨界電流密度を大きくすることが
できる酸化物超電導体の改質方法に関する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課題]近年、
超電導特性を有する超電導体で作製された超電導マグネ
ットを用い、核磁気共鳴(NMR)分析装置、磁気浮上
列車などが実用化されっつある。また、将来的にも核融
合などの新エネルギー開発、MHD発電などの新しいエ
ネルギー変換技術にも超電導マグネットの強磁界の適用
が検討されている。
このような超電導体として、例えばY −B a −C
u−0系、B1−3r−Ca−Cu−0系等の酸化物セ
ラミックス系の超電導体が注目されるようになってきた
が、現在のところ、これら酸化物セラミックス系超電導
体の臨界電流(Jc)は低く、従来から緻密化、結晶の
配向化等の方法が試みられているが、未だ充分とはいえ
ないものであった。また、これらの方法は何れも、超電
導体製造の際に適用するものであり、超電導体の組成、
製造方法が異なる場合には適用できないことがある。
[課題を解決するための手段] 本発明者は上記の問題を解決すべく、種々の角度から検
討を重ねた結果、酸化物超電導体に電流を印加すること
により、超電導体の組成等に拘りなく普遍的に酸化物超
電導体の臨界電流密度を大きくすることができることを
見出し1本発明に到達した。
即ち11本発明によれば、酸化物超電導体に電流を印加
することにより、該酸化物超電導体の臨界電流密度を大
きくすることを特徴とする酸化物超電導体の改質方法、
が提供される。
また、本発明で印加する電流の値は、酸化物超電導体の
抵抗(電圧)または表面温度の増加が急激に変化する値
までの範囲である。
本発明者らは、種々実験した結果、第6図に示す通り、
印加電流を増加していくとある一定の所て超電導体の抵
抗または表面温度が急激に大きくなる変化点が存在する
ことを見出した。そして更に、印加電流の増加による。
超電導体の抵抗値あるいは表面温度の値の変化点(屈曲
点)まで印加電流を増加させることにより、臨界電流密
度(JC)が向上するが、この屈曲点を超えて印加電流
を増加させると、臨界電流密度の向上効果は無くなるこ
とを発見した。すなわち、抵抗あるいは表面温度の屈曲
点が超電導体の臨界電流密度が向上する最適な印加電流
値を示すことを見出したのである。
具体的な最適印加電流値としては、対象となる酸化物超
電導体の組成、種類により異なるか、例えば、Y−Ba
−Cu−0系では約80A/cffi2てあり、またB
1−5r−Ca−Cu−0系では約10 OA/c@”
である。
本発明で対象となる材料としては、Y、Ba2Cu30
xなどのY−Ba−Cu−0系、Bi25r2CaCu
、0.等のB1−5r−Ca−Cu−0系などの組成の
如何に拘らず、酸化物セラミックス系超電導体であれば
適用可能である。
また、適用される酸化物超電導体は棒状、塊状などのバ
ルク、線材、テープ、薄膜あるいは圧粉成形体など、そ
の形状の如何に制限はされず、又印加する超電導体は焼
成体に限られず、焼成前の成形体てあってもよい。さら
に、酸化物超電導体の粒度分布、結晶粒径、結晶粒の配
向性などのミクロ組織の如何に関わりなく適用できる。
本発明において、対象たる酸化物超電導体に印加する電
流の種類としても、特に制限はなく、交流、直流、パル
ス電流が使用できる。
次に、酸化物超電導体に電流を印加する方法について、
第1図を参照しつつ説明する。
第1図は酸化物超電導体への電流印加装置を示す概略説
明図である。酸化物超電導体で形成される板状試料lO
の両端部に電極11.11’を設は導線12により電流
回路を構成する。電流回路には、印加する電流を制御す
るための電流制御器13と電流回路を流れている電流を
測定する電流測定器14か設置され、電流制御器13は
電源ユニット15に接続している。また、試料IOの所
定の位置に電圧測定端子16.16’が設けられ、その
間の電圧を測定する電圧測定器17が備えられている他
、熱電対等の温度測定器18か設置されている。さらに
、第1図の装置では、演算制御器19を設け、電流測定
器14、電圧測定器17及び温度測定器18の測定結果
を即座に演算して試料lOの表面温度、抵抗値が急激に
変化する変化点(屈曲点)を求め、その結果を電流調整
器13ヘフイードバツクして最適印加電流密度での試料
への電流印加を自動的に行なわせることができるように
構成されている。
以上の構成において、電流調整器13にて調整された電
流が導線12を通って試料10を流れると、試料10の
表面温度および試料lOの端子16.16’間の電圧、
言い換えれば試料10の抵抗値が検出される。それは第
6図の如くグラフに表わされ、試料IOの表面温度、抵
抗値が急激に変化する変化点(屈曲点)が求められるこ
とになる。
[実施例] 以下、本発明を実施例に基づき、更に詳細に説明するが
本発明はこれらの実施例に限られるものではない。
(実施例1) Y+Ba2Cu:lOxの組成を有する共沈仮焼粉(高
純度化字型)を用い、第2図に示すヒートカーブで再仮
焼を行なった後、粒径44ILm以下まで混合・粉砕し
、次いで3 ton/cm”の成形圧力で15mm(φ
)x3m+s(厚さ)に成形し、第3図に示すヒートカ
ーブで焼成し、酸化物超電導体を得た。
得られた超電導体の平均結晶粒径は約201Lm密度は
理論密度の約70%、比抵抗はlO〜20mΩ”cm、
臨界温度(Tc)は約90にであった。
次に、得られた酸化物超電導体を1 am (厚さ)×
3■(幅)x15+in(長さ)に切り取り、試料とし
た。
上記試料に対し、第1図の装置を用いて電流を印加した
。印加電流としては交流(60Hz)を用い、大気中室
温下で行ない、印加時間は1分とした。
電流を印加した結果、第4図に示す通り、印加前の試料
に比べ、80 A/cm2の電流印加により、臨界電流
密度が約2倍に向上した。
(実施例2) 実施例1で作製した再仮焼粉に11wt%の割合でA 
g 20粉末を添加し1粒径44gm以下まで混合・粉
砕後、実施例1と同様に成形、焼成を行なった。
得られた超電導体の平均結晶粒径は約201Lm、密度
は理論密度の約70%、比抵抗は3〜5mΩ・cm、臨
界温度(Tc)は約90にであった。
実施例1と同一の条件で超電導体試料に電流を印加した
ところ、第5図に示す通り、印加前の試料に比べ、80
 A/cm”の電流印加により、臨界電流密度が約1.
3倍に向上した。
(実施例3) B i20.s 、PbO1SrCO:+ 、CaCO
3及びCuOを、仕込み組成比がBi : 1.84、
Pb:0.34、Sr:2、Ca : 2、Cu:3と
なるように混合・粉砕した後、800°Cで20時間仮
焼し1次いで粒径44μm以下まで混合・粉砕し、次に
3 ton/co+2の成形圧力で15mm(φ)X3
ml(厚さ)に成形した。次に、成形体を、N2:02
=13: 1の雰囲気下、845°Cで20時間焼成し
、酸化物焼結体の超電導体を得た。
得られた超電導体の平均結晶粒径は約20pm、密度は
理論密度の約70%、比抵抗は3〜5mΩ・cm、臨界
温度(Tc)は約85にであった。
実施例1と同一の条件て超電導体試料に電流を印加した
ところ、印加前の試料に比べ、100A/cm2の電流
印加により、臨界電流密度が約2倍に向上した。
(実施例4) YIBa2Cu30yの組成を有する共沈仮焼粉(高純
度化字型)を用い、第2図に示すヒートカーブで再仮焼
を行なった後、粒径44ILm以下まで混合・粉砕し1
次いで3 ton/cm2の成形圧力でl am (厚
さ)x3mn(幅)、x15m++s(長さ)に成形し
、成形体を得た。
得られた成形体の平均結晶粒径は約201Lm、密度は
理論密度の約60%であった。
上記試料に対し、第1図の装置を用いて電流を印加した
。印加電流としてはパルス幅二50+ssのパルス電流
を用い、大気中室温下で行なった。
成形体に電流を印加した結果、印加前の試料に比べ、l
 OOA/c+s2の電流印加により、その後焼成して
得られた焼結体の臨界電流密度が約1.5倍に向上した
[発明の効果] 以上説明したように、本発明に係る酸化物超電導体の改
質方法によれば、酸化物超電導体に適切な電流を印加す
ることによって、超電導体の臨界電流密度を向上させる
ことができるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は酸化物超電導体への電流印加装置を示す概略説
明図、第2図は実施例1での再仮焼ヒートカーブを示す
グラフ、第3図は実施例1での焼成ヒートカーブを示す
グラフ、第4図〜第5図は印加電流密度に対する印加後
と印加前の臨界電流密度の比を示すグラフ、第6図は印
加電流密度に対する試料抵抗又は試料温度の増加程度を
示すグラフである。 io・・・試料、ll、11’−・・電極、導線・・・
1213・・・電流制御器、14−・・電流測定器、1
5・・・電源ユニット、16.16’・・・電圧測定端
子、17−・・電圧測定器、18・・・温度測定器、1
9・・・演算制御器。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)酸化物超電導体に電流を印加することにより、該
    酸化物超電導体の臨界電流密度を大きくすることを特徴
    とする酸化物超電導体の改質方法。
  2. (2)酸化物超電導体の抵抗または表面温度の増加が急
    激に変化する電流値まで、電流を印加する請求項1記載
    の酸化物超電導体の改質方法。
JP7718089A 1989-03-29 1989-03-29 酸化物超電導体の改質方法 Pending JPH02255582A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007242526A (ja) * 2006-03-10 2007-09-20 Sumitomo Electric Ind Ltd 超電導線材

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007242526A (ja) * 2006-03-10 2007-09-20 Sumitomo Electric Ind Ltd 超電導線材

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