JPH02258842A - 半導電性重合体組成物 - Google Patents
半導電性重合体組成物Info
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- JPH02258842A JPH02258842A JP7853389A JP7853389A JPH02258842A JP H02258842 A JPH02258842 A JP H02258842A JP 7853389 A JP7853389 A JP 7853389A JP 7853389 A JP7853389 A JP 7853389A JP H02258842 A JPH02258842 A JP H02258842A
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- 239000002131 composite material Substances 0.000 title claims abstract description 24
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 49
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 49
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 claims abstract description 38
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 21
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 12
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims abstract description 10
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 125000002252 acyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 5
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims abstract description 5
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 claims abstract description 5
- 229930195735 unsaturated hydrocarbon Chemical group 0.000 claims abstract description 5
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims abstract description 4
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 3
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical group 0.000 claims abstract 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 16
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 11
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 9
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000012643 polycondensation polymerization Methods 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 claims description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 14
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 abstract description 5
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000006068 polycondensation reaction Methods 0.000 abstract description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 abstract 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 7
- 125000000956 methoxy group Chemical group [H]C([H])([H])O* 0.000 description 7
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 4
- -1 aromatic tertiary amine compounds Chemical class 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 4
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- 235000010724 Wisteria floribunda Nutrition 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 2
- TUCNEACPLKLKNU-UHFFFAOYSA-N acetyl Chemical compound C[C]=O TUCNEACPLKLKNU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000001879 gelation Methods 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical group 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000000693 micelle Substances 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N tetramethyl orthosilicate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)OC LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- 229940126062 Compound A Drugs 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLDMNSXOCDLTTB-UHFFFAOYSA-N Heterophylliin A Natural products O1C2COC(=O)C3=CC(O)=C(O)C(O)=C3C3=C(O)C(O)=C(O)C=C3C(=O)OC2C(OC(=O)C=2C=C(O)C(O)=C(O)C=2)C(O)C1OC(=O)C1=CC(O)=C(O)C(O)=C1 NLDMNSXOCDLTTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 125000000609 carbazolyl group Chemical class C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3NC12)* 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 150000001907 coumarones Chemical class 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 description 1
- 150000002081 enamines Chemical class 0.000 description 1
- 150000008376 fluorenones Chemical class 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 150000007857 hydrazones Chemical class 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 125000001165 hydrophobic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 1
- 101150061302 och1 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 150000004866 oxadiazoles Chemical class 0.000 description 1
- NRNFFDZCBYOZJY-UHFFFAOYSA-N p-quinodimethane Chemical class C=C1C=CC(=C)C=C1 NRNFFDZCBYOZJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 150000003219 pyrazolines Chemical class 0.000 description 1
- 150000003220 pyrenes Chemical class 0.000 description 1
- 125000002294 quinazolinyl group Chemical class N1=C(N=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 150000004053 quinones Chemical class 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- PJANXHGTPQOBST-UHFFFAOYSA-N stilbene Chemical class C=1C=CC=CC=1C=CC1=CC=CC=C1 PJANXHGTPQOBST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003918 triazines Chemical class 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Polymers With Sulfur, Phosphorus Or Metals In The Main Chain (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ゾル・ゲル法によって作成された半導電性無
機・有機複合材料に関する。
機・有機複合材料に関する。
従来の技術
従来より、半導電性材料としては、SiやGeを中心と
するいわゆる化合物半導体が数多く知られている。一方
、ある種の金属酸化物が半導電性を示すことも公知であ
る。しかしながら、これ等の材料は、一般にドライの成
膜方法によって作成されるため、大面積のデバイスを得
ることが難しく、またコストも高いものであった。
するいわゆる化合物半導体が数多く知られている。一方
、ある種の金属酸化物が半導電性を示すことも公知であ
る。しかしながら、これ等の材料は、一般にドライの成
膜方法によって作成されるため、大面積のデバイスを得
ることが難しく、またコストも高いものであった。
一方、有機材料による半導電性材料の開発も近年活発に
進められ、一部の分野では実用に洪されるまで進歩して
いる。特に、高分子ポリマー中に低分子の化合物、例え
ば電荷輸送物質をドープして有機電子写真感光体を得る
など、優れた成果を産んでいる。有機材料を用いた半導
電性材料は、大面積化が容易であり、コストも安価であ
るなど、多くの利点を有している。しかしながら、導電
性が吸湿した水分や高分子ポリマー中の不純物イオンに
よって影響を受けやすく、また、耐候性に劣り、また硬
度及び耐摩耗性にも劣るという欠点があった。
進められ、一部の分野では実用に洪されるまで進歩して
いる。特に、高分子ポリマー中に低分子の化合物、例え
ば電荷輸送物質をドープして有機電子写真感光体を得る
など、優れた成果を産んでいる。有機材料を用いた半導
電性材料は、大面積化が容易であり、コストも安価であ
るなど、多くの利点を有している。しかしながら、導電
性が吸湿した水分や高分子ポリマー中の不純物イオンに
よって影響を受けやすく、また、耐候性に劣り、また硬
度及び耐摩耗性にも劣るという欠点があった。
発明が解決しようとする課題
ところで、近年、ゾル・ゲル法により、金属酸化物半導
体を作成する方法が提案され、大面積デバイスを低コス
トで得ることが可能になった。しかしながら、半導電性
を示す金属酸化物は均一な膜を形成し難く、逆に均一な
膜を形成しやすい金属酸化物は絶縁性であるなど、未だ
実用に共することはできなかった。
体を作成する方法が提案され、大面積デバイスを低コス
トで得ることが可能になった。しかしながら、半導電性
を示す金属酸化物は均一な膜を形成し難く、逆に均一な
膜を形成しやすい金属酸化物は絶縁性であるなど、未だ
実用に共することはできなかった。
一方、均一な膜が形成されやすい金属酸化物に有機分子
をドープして半導電性材料を得ることも提案されている
が(J、^1)pl、Phy、、58.9.1.、p3
559(1985)) 、ドープする有機分子としては
、アルコール可溶性又は水溶性のものしか使用すること
ができず、その応用も限られたものであった。
をドープして半導電性材料を得ることも提案されている
が(J、^1)pl、Phy、、58.9.1.、p3
559(1985)) 、ドープする有機分子としては
、アルコール可溶性又は水溶性のものしか使用すること
ができず、その応用も限られたものであった。
本発明は、上記のような実状に鑑みてなされたものであ
る。
る。
したがって、本発明の目的は、ゾル・ゲル法によって作
成された、有機化合物を安定に含有する半導電性無機・
有機複合材料を提供することにある。
成された、有機化合物を安定に含有する半導電性無機・
有機複合材料を提供することにある。
課題を解決するための手段及び作用
本発明者等は、検討の結果、金属アルコキシドのアルコ
キシ基の一部を分散させる有機化合物と親和性を有する
疎水性置換基に置換することにより、その疎水性置換基
がミセル状に集合したゲル体を形成して、有機化合物分
子に対して親和性を有するようになり、種々の有機化合
物分子をゲル中に相溶させることが可能になることを見
出だし、そして、含有させる有機化合物を選択すること
により、金属酸化物の導電性を自由にコントロールする
ことが可能であることを見出だし、本発明を完成するに
至った。
キシ基の一部を分散させる有機化合物と親和性を有する
疎水性置換基に置換することにより、その疎水性置換基
がミセル状に集合したゲル体を形成して、有機化合物分
子に対して親和性を有するようになり、種々の有機化合
物分子をゲル中に相溶させることが可能になることを見
出だし、そして、含有させる有機化合物を選択すること
により、金属酸化物の導電性を自由にコントロールする
ことが可能であることを見出だし、本発明を完成するに
至った。
本発明の半導電性無機・有機複合材料の第1のものは、
有機化合物の存在下、金属アルコキシドをゾル・ゲル法
により縮重合して形成された半導電性無機・有機複合材
料よりなり、該金属アルコキシドが、下記一般式(I)
、(II)及び(m)OR。
有機化合物の存在下、金属アルコキシドをゾル・ゲル法
により縮重合して形成された半導電性無機・有機複合材
料よりなり、該金属アルコキシドが、下記一般式(I)
、(II)及び(m)OR。
X、0−H2−OR。
OR,(If)
OR。
(式中、Mlは3価の金属原子を表わし、H2は4価の
金属原子又は炭素原子を表わし、RI。
金属原子又は炭素原子を表わし、RI。
R2及びR3はそれぞれ水素原子又は炭素数1〜6のア
ルキル基を表わすが、R,、R2及びR1の少なくとも
一つは炭素数1〜Bのアルキル基を表わし、XI及びX
2はそれぞれ置換基を有してもよい炭素数5以上のアル
キル基、アリール基、アラルキル基、アシル基、複素環
基、又は不飽和炭化水素基を表わすか、又はXlとX2
は互いに結合して環構造を形成する基を表わす)で示さ
れる群から選択された金属アルコキシドの少なくとも1
種であり、該有機化合物は、該金属アルコキシドに含ま
れる基X1又はX2と親和性を有するものであることを
特徴とする。
ルキル基を表わすが、R,、R2及びR1の少なくとも
一つは炭素数1〜Bのアルキル基を表わし、XI及びX
2はそれぞれ置換基を有してもよい炭素数5以上のアル
キル基、アリール基、アラルキル基、アシル基、複素環
基、又は不飽和炭化水素基を表わすか、又はXlとX2
は互いに結合して環構造を形成する基を表わす)で示さ
れる群から選択された金属アルコキシドの少なくとも1
種であり、該有機化合物は、該金属アルコキシドに含ま
れる基X1又はX2と親和性を有するものであることを
特徴とする。
また、第2のものは、上記一般式(I)、(II)及び
(III)で示される群から選択された金属アルコキシ
ドの少なくとも1種と、下記−紋穴(TV)及び(V) 0Rツ (式中、M、は3価の金属原子を表わし、H4は4価の
金属原子又は炭素原子を表わし、R4、R5及びR6は
、それぞれ水素原子、炭素数1〜4のアルキル基を表わ
し、Yは水酸基、炭素数l〜4のアルコキシ基、ハロゲ
ン原子、アミノ基、置換基を有してもよい炭素数1〜4
のアルキル基、置換基を有してよいアリール基、アシル
基、複素環基、又は不飽和炭化水素基を表わす)で示さ
れる群から選択された金属アルコキシドの少なくとも1
種との混合物であり、該有機化合物は、該金属アルコキ
シドに含まれる基X1又はX2と親和性を有するもので
あることを特徴とする。 なお、本明細書において、「
金属アルコキシド」とは、上記−紋穴(■)、(III
)及び(V)中のH2及びH4が炭素原子を表わす場合
も意味するものと定義する。
(III)で示される群から選択された金属アルコキシ
ドの少なくとも1種と、下記−紋穴(TV)及び(V) 0Rツ (式中、M、は3価の金属原子を表わし、H4は4価の
金属原子又は炭素原子を表わし、R4、R5及びR6は
、それぞれ水素原子、炭素数1〜4のアルキル基を表わ
し、Yは水酸基、炭素数l〜4のアルコキシ基、ハロゲ
ン原子、アミノ基、置換基を有してもよい炭素数1〜4
のアルキル基、置換基を有してよいアリール基、アシル
基、複素環基、又は不飽和炭化水素基を表わす)で示さ
れる群から選択された金属アルコキシドの少なくとも1
種との混合物であり、該有機化合物は、該金属アルコキ
シドに含まれる基X1又はX2と親和性を有するもので
あることを特徴とする。 なお、本明細書において、「
金属アルコキシド」とは、上記−紋穴(■)、(III
)及び(V)中のH2及びH4が炭素原子を表わす場合
も意味するものと定義する。
本発明において、原料物質として使用される上記−紋穴
(I)ないしくV)における金属アルコキシドの金属原
子としては、AI、B、Ga5YsF e s S i
s G e % S n y T i及びZ「から選
択されたものが好ましい。
(I)ないしくV)における金属アルコキシドの金属原
子としては、AI、B、Ga5YsF e s S i
s G e % S n y T i及びZ「から選
択されたものが好ましい。
本発明の半導電性無機・有機複合材料の作成に好適に使
用できる金属アルコキシドとしては、次のものが例示さ
れる。
用できる金属アルコキシドとしては、次のものが例示さ
れる。
一般式(りで示される金属アルコキシド:C3H110
−AI (QC)!3)2C7H,5O−AI C
0CHs)2C+5HitOA I (OCH1) 2
C+oHx+0−AI (OC2H5)C1oHnO−
A (QC4He) 、 C,HI30−A 、 C1oHttO−A r C2(lH410−A 2、C1oHttOA 2、 C2gH41O−A (OCH3)2 (OCHi)2 (OCH3)2 (OC3H7)2 (OCsH目)2 CH3CO(CH2)3−0−AI (OCH3)2O ■ CH2−CHCo (CH2)3−0−AI (OCH
3)2CHIGH−CH(CH2)2−C−0−Al
(OCHs)2(5H110−B (OCH3)2 C2aH4+O−B (OCHi)2 −紋穴(II)で示される金属アルコキシド:C3H1
10−5l(OCH3)i 、 C+o
HztO−81(OCHi) 3CzoHi+0−5
l(OCHi)i 、C+oHt+0−5ICOCz
H5)sCB)HHO−5l(OCiH7)s。
−AI (QC)!3)2C7H,5O−AI C
0CHs)2C+5HitOA I (OCH1) 2
C+oHx+0−AI (OC2H5)C1oHnO−
A (QC4He) 、 C,HI30−A 、 C1oHttO−A r C2(lH410−A 2、C1oHttOA 2、 C2gH41O−A (OCH3)2 (OCHi)2 (OCH3)2 (OC3H7)2 (OCsH目)2 CH3CO(CH2)3−0−AI (OCH3)2O ■ CH2−CHCo (CH2)3−0−AI (OCH
3)2CHIGH−CH(CH2)2−C−0−Al
(OCHs)2(5H110−B (OCH3)2 C2aH4+O−B (OCHi)2 −紋穴(II)で示される金属アルコキシド:C3H1
10−5l(OCH3)i 、 C+o
HztO−81(OCHi) 3CzoHi+0−5
l(OCHi)i 、C+oHt+0−5ICOCz
H5)sCB)HHO−5l(OCiH7)s。
0C4H。
CH3CO(CH2)3−0−8l (OCHi)iC
H2−CHCH2CH−CIO−9t (OCH3)
3NIj2 (CH2) IaO−8I (OCH3)
5CXo−c<oc■3)3 CI5H□O−C(OCH3) 3 −紋穴(III) で示される金属アルコキシド: B (OCIII)) B (OCdlg)i Ga (0(jls)s Ga (OC4Hs)s Y (OCHI)! Y (OCdlg9)s Fe(QC■1)1 Fe (OC411g)3 一般式(TV)及び(V)で示される金属アルコキシド
が使用される場合には、上記−紋穴(1)ないしく■)
で示される金属アルコキシドに対して0〜98モル%の
範囲で使用される。
H2−CHCH2CH−CIO−9t (OCH3)
3NIj2 (CH2) IaO−8I (OCH3)
5CXo−c<oc■3)3 CI5H□O−C(OCH3) 3 −紋穴(III) で示される金属アルコキシド: B (OCIII)) B (OCdlg)i Ga (0(jls)s Ga (OC4Hs)s Y (OCHI)! Y (OCdlg9)s Fe(QC■1)1 Fe (OC411g)3 一般式(TV)及び(V)で示される金属アルコキシド
が使用される場合には、上記−紋穴(1)ないしく■)
で示される金属アルコキシドに対して0〜98モル%の
範囲で使用される。
また、上記−紋穴CI)ないしくm)で示される金属ア
ルコキシドと共に使用される一般式(IV)及び(V)
で示される金属アルコキシドとしては、次のものが例示
される。
ルコキシドと共に使用される一般式(IV)及び(V)
で示される金属アルコキシドとしては、次のものが例示
される。
一般式(IV)で示される金属アルコキシド:^1 (
OCIh)3 、 AI (OC2I[5
)3AI (OCxlrt)s 、 ^1
(OC4Hり)3−紋穴(V) で示される金属アルコキシド: S l (OCHI) 4 5凰(OC3117)a 81(OC2Hう)4 91 (OC411s) 4 OCII。
OCIh)3 、 AI (OC2I[5
)3AI (OCxlrt)s 、 ^1
(OC4Hり)3−紋穴(V) で示される金属アルコキシド: S l (OCHI) 4 5凰(OC3117)a 81(OC2Hう)4 91 (OC411s) 4 OCII。
0CII。
C(OCIIi) 4
C(OC4119)4
Ge (OCIII)4
Ge (OCilrs)4
Sn (OCIIi)a
Sn COC41C0C4
1l (OCll3)4
TI (OC411s)4
Zr (OCIIi)4
Zr (OC4Hg)4
OCll。
0CII。
本発明において使用される有機化合物は、金属アルコキ
シドの基X+(又はX2)と親和性を有するものであっ
て、形成される被膜に半導電性を与えるものであれば、
如何なるものでも使用することができる。例えば、オキ
サジアゾール誘導体、ピラゾリン誘導体、芳香族第3級
アミン化合物、トリアジン誘導体、ヒドラゾン誘導体、
キナゾリン誘導体、ベンゾフラン誘導体、スチルベン誘
導体、エナミン誘導体、カルバゾール誘導体、ピレン系
化合物、シアノビニル系化合物、キノン系化合物、ケト
ン系化合物、フルオレノン化合物、キノジメタン系化合
物等の電荷輸送物質があげられる。これ等の材料は、金
属アルコキシドに対して0.1〜99容量%の範囲の含
有量で含有させることができる。
シドの基X+(又はX2)と親和性を有するものであっ
て、形成される被膜に半導電性を与えるものであれば、
如何なるものでも使用することができる。例えば、オキ
サジアゾール誘導体、ピラゾリン誘導体、芳香族第3級
アミン化合物、トリアジン誘導体、ヒドラゾン誘導体、
キナゾリン誘導体、ベンゾフラン誘導体、スチルベン誘
導体、エナミン誘導体、カルバゾール誘導体、ピレン系
化合物、シアノビニル系化合物、キノン系化合物、ケト
ン系化合物、フルオレノン化合物、キノジメタン系化合
物等の電荷輸送物質があげられる。これ等の材料は、金
属アルコキシドに対して0.1〜99容量%の範囲の含
有量で含有させることができる。
本発明の半導電性無機・有機複合材料を形成させる為に
は、上記の金属アルコキシドを、含有させるべき有機化
合物の所定量と共に、適当な溶媒、例えば、水、アルコ
ール、あるいはトルエン、キシレン、ハロゲン化炭化水
素等の有機溶媒の中に添加し、ゲル化させることで行わ
れるか、又は、上記の金属アルコキシドを適当な方法で
ゲル化させた後、含有すべき勇気化合物の所定量を適当
な溶媒に溶解し、ゲルを浸漬することにより、有機化合
物をゲル中に含浸させることで行われる。また、ゲル化
の反応を促進させるために、必要に応じて、酸等の触媒
を用いることも可能である。更に所望により、30℃〜
1500℃の加熱処理を施してもよい。
は、上記の金属アルコキシドを、含有させるべき有機化
合物の所定量と共に、適当な溶媒、例えば、水、アルコ
ール、あるいはトルエン、キシレン、ハロゲン化炭化水
素等の有機溶媒の中に添加し、ゲル化させることで行わ
れるか、又は、上記の金属アルコキシドを適当な方法で
ゲル化させた後、含有すべき勇気化合物の所定量を適当
な溶媒に溶解し、ゲルを浸漬することにより、有機化合
物をゲル中に含浸させることで行われる。また、ゲル化
の反応を促進させるために、必要に応じて、酸等の触媒
を用いることも可能である。更に所望により、30℃〜
1500℃の加熱処理を施してもよい。
上記のようにして形成された本発明の半導電性無機・有
機複合材料は、有機化合物が、金属アルコキシドの縮重
合によって形成されたマトリックス中に分散された状態
になっている。その分散状態は、第1図に示されるよう
に(第1図はケイ素の場合のモデル)、金属アルコキシ
ドの縮重合体よりなるマトリックス中に形成される基X
+(又はX2)が集合したミセル構造に、基X、と親和
性のある有機化合物Aが取り込まれた形になっている。
機複合材料は、有機化合物が、金属アルコキシドの縮重
合によって形成されたマトリックス中に分散された状態
になっている。その分散状態は、第1図に示されるよう
に(第1図はケイ素の場合のモデル)、金属アルコキシ
ドの縮重合体よりなるマトリックス中に形成される基X
+(又はX2)が集合したミセル構造に、基X、と親和
性のある有機化合物Aが取り込まれた形になっている。
したがって、有機化合物は、安定化された状態でマトリ
ックス中に含有されている。
ックス中に含有されている。
実施例
以下、実施例によって本発明を説明する。
実施例1
テトラメトキシシラン(S i (OCHi ) 4
)10重量部、下記構造式で示されるアルコキシシラ
ン10重量部、 CH3(CH2) 7 =Cl1(CH2) 7−Co
−3l(OC2)+5) 3下記構造式で示される電
荷輸送物質10重量部、をシクロへキサノン200重量
部に溶解し、St基板上にチップ塗布法により塗布し、
150℃で90分間乾燥を行い、膜厚1.6μsの膜を
形成した。
)10重量部、下記構造式で示されるアルコキシシラ
ン10重量部、 CH3(CH2) 7 =Cl1(CH2) 7−Co
−3l(OC2)+5) 3下記構造式で示される電
荷輸送物質10重量部、をシクロへキサノン200重量
部に溶解し、St基板上にチップ塗布法により塗布し、
150℃で90分間乾燥を行い、膜厚1.6μsの膜を
形成した。
次に、形成された膜上に真空蒸着によりAuよりなる電
極を形成し、S L/S ioz (表面酸化膜)/
半導電性無機・有機複合材料/Auの構造を有するサン
プルを作成した。
極を形成し、S L/S ioz (表面酸化膜)/
半導電性無機・有機複合材料/Auの構造を有するサン
プルを作成した。
このサンプルに対して、エレクトロメーター(Kel
thkey社製、817型)を用いて、電流−電圧特性
のn1定を実施した。その結果を第2図に示す。
thkey社製、817型)を用いて、電流−電圧特性
のn1定を実施した。その結果を第2図に示す。
第2図から明らかなように、上記の半導電性無機・有機
複合材料よりなる膜は、整流作用を示し1、n型半導体
として作用した。
複合材料よりなる膜は、整流作用を示し1、n型半導体
として作用した。
実施例2
実施例1の電荷輸送物質の代わりに、下記構造式で示さ
れる電荷輸送物質を用いる以外は、全く同様にして半導
電性無機・有機複合材料よりなる膜を作製した。膜厚は
1.3sであった。このサンプルについて、実施例1と
全く同様にして電流−電圧特性の測定を実施した。この
サンプルも実施例1と同様に整流作用を示し、n型半導
体として作用した。
れる電荷輸送物質を用いる以外は、全く同様にして半導
電性無機・有機複合材料よりなる膜を作製した。膜厚は
1.3sであった。このサンプルについて、実施例1と
全く同様にして電流−電圧特性の測定を実施した。この
サンプルも実施例1と同様に整流作用を示し、n型半導
体として作用した。
実施例1と全く同様にして半導電性無機・有機複合膜を
作製した。しかし、乾燥後、添加したシアノ化合物が析
出を起こし均一な膜を得ることができなかった。
作製した。しかし、乾燥後、添加したシアノ化合物が析
出を起こし均一な膜を得ることができなかった。
実施例3
実施例1の電荷輸送物質の代わりに、下記構造式で示さ
れる電荷輸送物質を用いる以外は、全く同様にして半導
電性無機・有機複合材料よりなる膜を作製した。膜厚は
1.5uMであった。このサンプルについて、実施例1
と全く同様にして電流−電圧特性の測定を実施した。こ
のサンプルも実施例1と同様に整流作用を示し、pu半
導体として作用した。
れる電荷輸送物質を用いる以外は、全く同様にして半導
電性無機・有機複合材料よりなる膜を作製した。膜厚は
1.5uMであった。このサンプルについて、実施例1
と全く同様にして電流−電圧特性の測定を実施した。こ
のサンプルも実施例1と同様に整流作用を示し、pu半
導体として作用した。
比較例1
実施例1のうち、アルコキシシランとして、テトラメト
キシシランのみを用いたものを除いては、実施N4 導電性基材として、アルミニウムパイプ上用い、実施f
lJ 1で示された半導電性無機・有機複合膜を同様に
して形成した。膜厚は1.0屑であった。これを下引き
層とし、その上に電荷発生層を形成した。即ち、三方晶
形セレン(米国ゼロックス社製)90重量部、ポリビニ
ルブチラール樹脂10重量部、n−ブタノール300重
量部からなる混合物を、アトライターを用いて分散させ
、得られた分散液1重量部に対してn−ブタノール2重
量部を加えて希釈した液を、上記下引き層の上に引き抜
き塗布し、乾燥させて0.3団の膜を形成した。次に、
N 、 N ’−ジフェニルーN、N’−ビス(3−メ
チルフェニル)c t、t’−ビフェニル]−4.4’
−ジアミン4重量部、ポリカーボネート樹脂6重量部を
トルエン40重量部に溶解させて塗布液を得、上記電荷
発生層上に、引き抜き塗布し、120℃で60分の乾燥
を行って、膜厚21ffiの電荷輸送層を形成した。
キシシランのみを用いたものを除いては、実施N4 導電性基材として、アルミニウムパイプ上用い、実施f
lJ 1で示された半導電性無機・有機複合膜を同様に
して形成した。膜厚は1.0屑であった。これを下引き
層とし、その上に電荷発生層を形成した。即ち、三方晶
形セレン(米国ゼロックス社製)90重量部、ポリビニ
ルブチラール樹脂10重量部、n−ブタノール300重
量部からなる混合物を、アトライターを用いて分散させ
、得られた分散液1重量部に対してn−ブタノール2重
量部を加えて希釈した液を、上記下引き層の上に引き抜
き塗布し、乾燥させて0.3団の膜を形成した。次に、
N 、 N ’−ジフェニルーN、N’−ビス(3−メ
チルフェニル)c t、t’−ビフェニル]−4.4’
−ジアミン4重量部、ポリカーボネート樹脂6重量部を
トルエン40重量部に溶解させて塗布液を得、上記電荷
発生層上に、引き抜き塗布し、120℃で60分の乾燥
を行って、膜厚21ffiの電荷輸送層を形成した。
このようにして得られた電子写真感光体について、種々
の電子写真特性の評価を実施した。電子写真特性の測定
は、富士ゼロックス側製の電子写真特性評価装置を用い
、以下の評価を行った。
の電子写真特性の評価を実施した。電子写真特性の測定
は、富士ゼロックス側製の電子写真特性評価装置を用い
、以下の評価を行った。
感光体流入電流が一10μAになるように帯電し、帯電
後1秒後の感光体表面電位を測定し、V DDP(0)
とした。その後タングステンランプで除電を行い、除電
後の電位を測定し、これを残留電位VRP(0)とした
。次に、感光体流入電流を調整し、V DDPが一50
0vになるように調整し、帯電後0.3秒後に550n
txの単色光を光量を変化させながら露光し、露光後0
.7秒後(帯電後1秒)での電位が一250Vとなる光
量を求めて、光感度E l/2(0)とした。次いで、
感光体流入電流が一1OμAになるように保持し、帯電
・除電を1万回繰り返し、その時の感光体表面電位:
VDDP(10000)、残留電位:VRP(1000
0) 、光感度: E l/2(10000)を測定し
た。
後1秒後の感光体表面電位を測定し、V DDP(0)
とした。その後タングステンランプで除電を行い、除電
後の電位を測定し、これを残留電位VRP(0)とした
。次に、感光体流入電流を調整し、V DDPが一50
0vになるように調整し、帯電後0.3秒後に550n
txの単色光を光量を変化させながら露光し、露光後0
.7秒後(帯電後1秒)での電位が一250Vとなる光
量を求めて、光感度E l/2(0)とした。次いで、
感光体流入電流が一1OμAになるように保持し、帯電
・除電を1万回繰り返し、その時の感光体表面電位:
VDDP(10000)、残留電位:VRP(1000
0) 、光感度: E l/2(10000)を測定し
た。
得られた結果を第1表に示す。
比較例2
アルミニウムパイプ上にポリアミド樹脂:tOffi量
部、メタノール=150重量部、水:40重量部からな
る塗布液を、引き抜き塗布法を用いて、乾燥後の膜厚が
1μsになるように塗布して下引き層を形成し、電荷発
生層及び電荷輸送層は実施例4と全く同様にして電子写
真感光体を作製した。得られた電子写真感光体に就いて
、実施例4と同様にして電子写真特性を評価した。結果
を第1表に示す。
部、メタノール=150重量部、水:40重量部からな
る塗布液を、引き抜き塗布法を用いて、乾燥後の膜厚が
1μsになるように塗布して下引き層を形成し、電荷発
生層及び電荷輸送層は実施例4と全く同様にして電子写
真感光体を作製した。得られた電子写真感光体に就いて
、実施例4と同様にして電子写真特性を評価した。結果
を第1表に示す。
第1表
実施Ml〜3及び比較Mlの比較から分かるように、本
発明によれば、金属酸化物の整流性のコントロールが可
能であり、機能性の無機・有機複合材料を容易に作製す
ることができる。
発明によれば、金属酸化物の整流性のコントロールが可
能であり、機能性の無機・有機複合材料を容易に作製す
ることができる。
更に、実施例4及び比較例2の比較から分かるように、
本発明の無機・有機複合材料を電子写真感光体の下引き
層に応用した場合、繰り返し使用により残留電位の上昇
/光感度の低下のない電子写真感光体を提供することが
可能になる。これは、残留電位の上昇/光感度の低下を
引き起こす空間電荷の蓄積を、本発明の下引き層が起こ
さないためであると考えられる。
本発明の無機・有機複合材料を電子写真感光体の下引き
層に応用した場合、繰り返し使用により残留電位の上昇
/光感度の低下のない電子写真感光体を提供することが
可能になる。これは、残留電位の上昇/光感度の低下を
引き起こす空間電荷の蓄積を、本発明の下引き層が起こ
さないためであると考えられる。
発明の効果
本発明の半導電性無機・有機複合材料においては、疎水
性基を有する有機化合物が、金属アルコキシドの重縮合
体のマトリックス中に安定して含有させた状態のものに
なりでおり、吸湿した水分や高分子ポリマー中の不純物
イオンによる影響を受けがたい材料を提供することが可
能になる。また、大面積のものが容易に得られ、コスト
の点でも有利であると共に、耐候性、硬度、耐摩耗性等
の点でも優れたものである。
性基を有する有機化合物が、金属アルコキシドの重縮合
体のマトリックス中に安定して含有させた状態のものに
なりでおり、吸湿した水分や高分子ポリマー中の不純物
イオンによる影響を受けがたい材料を提供することが可
能になる。また、大面積のものが容易に得られ、コスト
の点でも有利であると共に、耐候性、硬度、耐摩耗性等
の点でも優れたものである。
したがりて、本発明の半導電性無機・有機複合材料は、
例えば、半導体トランジスタ素子、スイッチング素子、
電子写真用材料等として有用である。
例えば、半導体トランジスタ素子、スイッチング素子、
電子写真用材料等として有用である。
第1図は、本発明の半導電性無機・有機複合材料の構造
のモデルを示す説明図であり、第2図は、実施例1の半
導体素子の電流−電圧特性を示すグラフである。 特許出願人 富士ゼロックス株式会社 代理人 弁理士 製部 剛 基板側電圧(X 10’V) 第:2図 第1図
のモデルを示す説明図であり、第2図は、実施例1の半
導体素子の電流−電圧特性を示すグラフである。 特許出願人 富士ゼロックス株式会社 代理人 弁理士 製部 剛 基板側電圧(X 10’V) 第:2図 第1図
Claims (3)
- (1)有機化合物の存在下、金属アルコキシドをゾル・
ゲル法により縮重合して形成された半導電性無機・有機
複合材料よりなり、該金属アルコキシドが、下記一般式
( I )、(II)及び(III)▲数式、化学式、表等があ
ります▼( I ) ▲数式、化学式、表等があります▼(II) ▲数式、化学式、表等があります▼(III) (式中、M_1は3価の金属原子を表わし、M_2は4
価の金属原子又は炭素原子を表わし、R_1、R_2及
びR_3はそれぞれ水素原子又は炭素数1〜6のアルキ
ル基を表わすが、R_1、R_2及びR_3の少なくと
も一つは炭素数1〜6のアルキル基を表わし、X_1及
びX_2はそれぞれ置換基を有してもよい炭素数5以上
のアルキル基、アリール基、アラルキル基、アシル基、
複素環基、又は不飽和炭化水素基を表わすか、又はX_
1とX_2は互いに結合して環構造を形成する基を表わ
す) で示される群から選択された金属アルコキシドの少なく
とも1種であり、該有機化合物は、該金属アルコキシド
に含まれる基X_1又はX_2と親和性を有するもので
あることを特徴とする半導電性無機・有機複合材料。 - (2)有機化合物の存在下、金属アルコキシドをゾル・
ゲル法により縮重合して形成された半導電性無機・有機
複合材料よりなり、該金属アルコキシドが、下記一般式
( I )、(II)及び(III)▲数式、化学式、表等があ
ります▼( I ) ▲数式、化学式、表等があります▼(II) ▲数式、化学式、表等があります▼(III) (式中、M_1、M_2、R_1、R_2、R_3、X
_1及びX_2はそれぞれ前記と同一の意味を有する)
で示される群から選択された金属アルコキシドの少なく
とも1種と、下記一般式(IV)及び(V)▲数式、化学
式、表等があります▼(IV) ▲数式、化学式、表等があります▼(V) (式中、M_3は3価の金属原子を表わし、M_4は4
価の金属原子又は炭素原子を表わし、R_4、R_5及
びR_6は、それぞれ水素原子、炭素数1〜4のアルキ
ル基を表わし、Yは水酸基、炭素数1〜4のアルコキシ
基、ハロゲン原子、アミノ基、置換基を有してもよい炭
素数1〜4のアルキル基、置換基を有してよいアリール
基、アシル基、複素環基、又は不飽和炭化水素基を表わ
す) で示される群から選択された金属アルコキシドの少なく
とも1種との混合物であり、該有機化合物は、該金属ア
ルコキシドに含まれる基X_1又はX_2と親和性を有
するものであることを特徴とする半導電性無機・有機複
合材料。 - (3)金属アルコキシドの金属原子が、Al、B、Ga
、Y、Fe、Si、Ge、Sn、Ti及びZrから選択
されたものである特許請求の範囲第1項又は第2項に記
載の半導電性無機・有機複合材料。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1078533A JP2576066B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 半導電性重合体組成物 |
| DE4010328A DE4010328C2 (de) | 1989-03-31 | 1990-03-30 | Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial und Verfahren zu seiner Herstellung |
| US07/501,841 US5168024A (en) | 1989-03-31 | 1990-03-30 | Inorganic-organic or semiconductive inorganic-organic composite material, production process thereof, and electrophotographic photoreceptor using the composite material |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1078533A JP2576066B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 半導電性重合体組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02258842A true JPH02258842A (ja) | 1990-10-19 |
| JP2576066B2 JP2576066B2 (ja) | 1997-01-29 |
Family
ID=13664551
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1078533A Expired - Fee Related JP2576066B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 半導電性重合体組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2576066B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009545649A (ja) * | 2006-08-04 | 2009-12-24 | ダウ・コーニング・コーポレイション | シリコーン樹脂およびシリコーン組成物 |
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| JPS61192735A (ja) * | 1985-02-15 | 1986-08-27 | マンヴイル コーポレーシヨン | 金属アルコキシドから重合体を製造するための新規な方法 |
| JPS62270628A (ja) * | 1986-02-24 | 1987-11-25 | ロツクウエル・インタ−ナシヨナル・コ−ポレ−シヨン | オキシ金属アルコキシポリマ−の製造方法 |
| JPS63165436A (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-08 | Nippon Steel Corp | 有機金属重合組成物の製造方法 |
| JPS63310705A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-12-19 | ピーピージー インダストリーズ,インコーポレーテッド | 化学的重合法による超電導性セラミックの製造法 |
| JPH01129032A (ja) * | 1987-11-12 | 1989-05-22 | Nippon Soda Co Ltd | ラダー状ポリチタノキサンおよびその製造方法 |
| JPH021778A (ja) * | 1988-02-02 | 1990-01-08 | Hitachi Chem Co Ltd | 半導体の表面保護又は層間絶縁用酸化物被膜形成用塗布液および酸化物被膜の製造法 |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP1078533A patent/JP2576066B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2576066B2 (ja) | 1997-01-29 |
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