JPH0226050Y2 - - Google Patents

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JPH0226050Y2
JPH0226050Y2 JP14660083U JP14660083U JPH0226050Y2 JP H0226050 Y2 JPH0226050 Y2 JP H0226050Y2 JP 14660083 U JP14660083 U JP 14660083U JP 14660083 U JP14660083 U JP 14660083U JP H0226050 Y2 JPH0226050 Y2 JP H0226050Y2
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JP
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axis
sample stage
arm
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axis rotation
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JP14660083U
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JPS6053042U (ja
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本考案は表面分析装置用試料ステージに係り、
詳しくは、表面分析室内に突出配置されたアーム
と、このアームの内端に配設された試料台とを備
え、かつ、前記アームがその突出方向(Z軸)及
びこれと互いに直交する2方向(X軸、Y軸)の
それぞれに沿つて移動可能に構成された表面分析
装置用試料ステージに関する。
(ロ) 従来の技術 従来から、試料の表面分析を行う分析機器にお
いては、その表面分析室内に突出配置され、か
つ、内端に試料台が配設されたアームをXYZの
3軸方向に沿つて移動させたうえで位置決め調整
しうる構成の試料ステージが採用されている。と
ころが、近年、表面研究用に種々の分析機器が複
合化されるにつれて、試料台を移動することが可
能なばかりでなく、各軸まわりにも回転可能に構
成することが強く望まれるようになつた。
(ハ) 目的 本考案は、上記要望に応えるべく創案されたも
のであつて、試料台をXYZの3軸方向に沿つて
移動させることによつて位置決め調整しうるばか
りか、これらの3軸それぞれまわりの回転調整を
も互いに他の軸から独立した状態で容易に行うこ
とができる構成の表面分析装置用試料ステージを
提供することを目的としている。
(ニ) 構成 本考案は、このような目的を達成するため、表
面分析室内に突出配置されたアーム2と、このア
ーム2の内端に配設された試料台4とを備え、か
つ、前記アーム2がその突出方向(Z軸)及びこ
れと互いに直交する2方向(X軸、Y軸)のそれ
ぞれに沿つて移動可能に構成された表面分析装置
用試料ステージ1において、前記アーム2はZ軸
まわりに回転可能に支持され、このアーム2の内
端には揺動枠3がX軸まわりに揺動自在で支持さ
れ、この揺動枠3には前記試料台4がY軸まわり
に回転自在で支持される一方、表面分析室外に
は、前記揺動枠3のX軸まわりの揺動操作用のX
軸回転操作具9と、前記試料台4のY軸まわりの
回転操作用ならびに前記アーム2のZ軸まわりの
回転操作用を兼ねたY軸兼Z軸回転操作具10
と、前記アーム2と試料台4のいずれか一方の回
転動作切り換え操作用のクラツチ操作具11とが
それぞれ設けられ、前記揺動枠3はX軸回転伝動
系12を介してX軸回転操作具9に連結され、前
記試料台4はY軸回転伝動系14に、前記アーム
2はZ軸回転伝動系15にそれぞれ連結され、こ
れらのY軸回転伝動系14及びZ軸回転伝動系1
5と前記Y軸兼Z軸回転操作具10との間には、
前記クラツチ操作具11の操作に応じて前記Y軸
兼Z軸回転操作具10をY軸回転伝動系14とZ
軸回転伝動系15とのいずれか一方に択一的に接
続する接続切換クラツチ機構13が設けられてい
ることを特徴とするものである。
(ホ) 実施例 以下、本考案の実施例を図面に基づいて詳細に
説明する。
第1図は本考案に係る表面分析装置用試料ステ
ージの外観を示す側面図、第2図はその要部の外
観を拡大して示す底面図であり、第3図はZ軸ま
わりに回転操作された状態を拡大して示す縦断側
面図である。なお、説明の都合上、第1図及び第
3図においては、紙面の左右方向をZ軸、その上
下方向をY軸とし、紙面と直交する表裏方向をX
軸としている。
この表面分析装置用試料ステージ1は、表面分
析室(図示していない)の外壁に連結固定された
取付枠5によつて一体的に支持されるものであ
り、表面分析室内に突出配置されるとともに、こ
の突出方向(Z軸)及びこれと互いに直交する2
方向(X軸、Y軸)のそれぞれに沿つて移動可能
に構成されたアーム2を備えている。そして、こ
のアーム2の内端にはX軸まわりに揺動自在で支
持された揺動枠3が設けられ、かつ、この揺動枠
3にはY軸まわりに回転自在で支持された試料台
4が設けられている。
また、表面分析室外には、アーム2をXYZの
3軸方向に沿つて移動させるための移動ステージ
機構50が設けられている。そして、この移動ス
テージ機構50は、取付枠5に支持されてZ軸方
向に延出された移動ステージ台51と、この移動
ステージ台51上に配置されてZ軸に沿つて移動
するZ軸ステージ52と、このZ軸ステージ52
に支持されてY軸方向に沿つて移動するY軸ステ
ージ53と、このY軸ステージ53上に配設され
てX軸方向に沿つて移動するX軸ステージ54と
から構成されており、アーム2はこのX軸ステー
ジ54によつて支持されている。
ところで、この移動ステージ機構50は、送り
ネジなどのような一般的な直線駆動機構を利用し
て構成されたものであり、その具体的な構成は周
知であるから、図示及び説明を省略する。そし
て、この移動ステージ機構50を構成する移動ス
テージ台51にはZ軸ステージ52を移動させる
ためのZ軸位置調整操作具8が、また、Z軸ステ
ージ52にはY軸ステージ53を移動させるため
のY軸位置調整操作具7が配設される一方、Y軸
ステージ53にはX軸ステージ54を移動させる
ためのX軸位置調整操作具6が設けられている。
さらに、取付枠5の表面分析室外には、X軸回
転伝動系12を介して揺動枠3をX軸まわりに揺
動操作するX軸回転操作具9と、Y軸回転伝動系
14を介して試料台4をY軸まわりに回転操作
し、また、Z軸回転伝動系15を介してアーム2
をZ軸まわりに回転操作するY軸兼Z軸回転操作
具10と、クラツチ操作具11とがそれぞれ設け
られている。そして、Y軸回転伝動系14とZ軸
回転伝動系15との間には、クラツチ操作具11
の操作により、これら両者の回転動作を択一的に
切り換える、すなわち、アーム2及び試料台4の
いずれか一方のみの回転動作に切り換えるための
接続切換クラツチ機構13が設けられている。そ
こで、この接続切換クラツチ機構13によつて切
り換えられたY軸回転伝動系14は試料台4のみ
を回転駆動することになり、Z軸回転伝動系15
は揺動枠3及び試料台4を含むアーム2の全体を
回転駆動することになる。
このX軸回転伝動系12は、アーム2内を貫通
して配設された伝動軸16を備えており、この伝
動軸16の外端は周知のベローズを用いてなる直
線導入器(図示していない)を介してX軸回転操
作具9に連結されている。また、この伝動軸16
の内端はアーム2に支持された揺動枠3の近傍位
置にまで延出されており、この内端にはラツク1
8が連結されている。そして、このラツク18
は、アーム2の内端に回転自在で支持されたピニ
オン17と噛み合わされている。さらに、このピ
ニオン17は揺動枠3に固着された扇形歯車19
とも噛み合わされており、ラツク18から伝達さ
れた駆動力を扇形歯車19へ伝達することによ
り、この扇形歯車19を回転駆動するように構成
されている。
そこで、このX軸回転伝動系12においては、
取付枠5に設けられたX軸回転操作具9を回転操
作すれば、この回転力が直線導入器を介して伝動
軸16に直線駆動力として伝達されることにな
る。そして、この伝動軸16と連結されたラツク
18と噛み合うピニオン17が回転駆動され、さ
らに、このピニオン17と噛み合う扇形歯車19
が回転駆動される結果、アーム2によつて揺動自
在に支持された揺動枠3がX軸まわりに揺動動作
することになる。
つぎに、Y軸回転伝動系14は、上述した伝動
軸16に外嵌された伝動管20を備えており、こ
の伝動管20の外端は周知のベローズを用いた回
転導入器(図示していない)を介してY軸兼Z軸
回転操作具10に連結されている。なお、この伝
動管20の取付板5寄り部分は、後述するよう
に、アーム2の全体をZ軸まわりに回転操作する
ためのZ軸回転伝動系15として兼用されること
になる。また、このY軸回転伝動系14は、伝動
管20の内端にスプライン嵌合されることによつ
て伝動管20の軸心(Z軸)に沿う方向にのみ移
動しうる原動プーリ21と、揺動枠3に回転自在
で支持されて試料台4に連結された回転軸22
と、その内端に配設された従動プーリ23とを具
備している。そして、これらの両プーリ21,2
3は、第3図における要部のみを取り出して模式
的に示す第4図のように、原動プーリ枠24で回
転自在に支持された一対の遊転プーリ25と揺動
枠3に回転自在で支持された一対の遊転プーリ2
6とを介して掛けわたされたワイヤ27によつて
連結されている。
また、このY軸回転伝動系14は、伝動管20
の内端側に外嵌されたバネ座ブロツク28を備え
ており、このバネ座ブロツク28にはバイアスス
プリング29が嵌着されている。そして、このバ
ネ座ブロツク28と揺動枠3に固着された一方の
遊転プーリ26とは互いに所定長さのクランク3
0を介して連結されており、このクランク30に
よつてバネ座ブロツク28を揺動枠3の揺動動作
に伴つて移動させるようになつている。そのた
め、この揺動枠3の揺動動作に伴うワイヤ27の
張力変化は、クランク30と前記バイアススプリ
ング29とによつて防止されることになる。
さらに、アーム2とY軸兼Z軸回転操作具10
との間における取付板5の表面分析室内側位置に
は、前記伝動管20を兼用するY軸回転伝動系1
4とZ軸回転伝動系15とを択一的に切り換え操
作するための接続切換クラツチ機構13が設けら
れている。そして、この接続切換クラツチ機構1
3は、伝動管20に外嵌され、Z軸に沿う摺動の
み可能な第1クラツチパツド31と、アーム2の
外端2aに固着されたクラツチ板32と、このク
ラツチ板32の回転動作を制止するためにZ軸に
沿う摺動のみ可能な第2クラツチパツド33とを
備えており、バネ弾性を有する両クラツチパツド
31,33はクラツチ板32を挟んだ状態で対向
配置されている。
さらにまた、取付枠5の内面には、伝動軸16
及び伝動管20とそれぞれ平行配置されて表面分
析室内側へ向かう複数本のガイドバー34が互い
に離間した状態で突設されており、これらのガイ
ドバー34の所定位置にはZ軸に沿う摺動のみ可
能な第1連動プレート35(図では、左側)と第
2連動プレート36とがそれぞれ取り付けられて
いる。そして、この第1連動プレート35には、
その外端に配設された連結部材37を介して第2
クラツチパツド33が連結されている。
一方、伝動管20の互いに離間した所定位置そ
れぞれには、Z軸に沿う摺動のみ可能に外嵌され
た第1クラツチブロツク38(図では、左側)
と、外嵌して固着された第2クラツチブロツク3
9とが設けられており、この第1クラツチブロツ
ク38の内面には第1クラツチパツド31が固着
されている。そして、この第1クラツチブロツク
38の外周凹部38aには第1連動プレート35
の内端が、また、第2クラツチブロツク39の外
周凹部39aには第2連動プレート36の内端が
それぞれ遊嵌されている。従つて、第1連動プレ
ート35をZ軸に沿つて摺動させると、その摺動
方向によつて選択された第1及び第2クラツチパ
ツド31,33のいずれか一方がクラツチ板32
に当接して押し付けられることになる。
つぎに、取付枠5に設けられたクラツチ操作具
11と接続切換クラツチ機構13との相互関係構
造について説明する。このクラツチ操作具11
は、第3図に示すように、ベベルギヤ40とジヨ
イント軸41とを介して第1ピニオン42(図で
は、下側)に連結されており、この第1ピニオン
42にはZ軸に沿つて支持されたリングギヤ43
が噛み合つている。そして、このリングギヤ43
は、Z軸に関して対称となる取付枠5の所定位置
に遊嵌された第2ピニオン44(図では、上側)
とも噛み合つている。
さらに、これらの第1及び第2ピニオン42,
44それぞれは第2連動プレート36によつて摺
動自在に支持されたクラツチ駆動軸45,46の
外端に取り付けられる一方、これらのクラツチ駆
動軸45,46それぞれのねじ切り形成された内
端は第1連動プレート35を挿通したうえ、この
第1連動プレート35の外面に固着されたナツト
47,48と螺合されている。すなわち、これら
のクラツチ駆動軸45,46とナツト47,48
とは送りねじ機構を構成していることになり、ク
ラツチ駆動軸45,46が回転動作すれば、ガイ
ドバー34によつて支持された第1連動プレート
35がZ軸に沿つて摺動することになる。
そこで、この取付枠5に設けられたクラツチ操
作具11を回転操作すれば、接続切換クラツチ機
構13を構成する第1連動プレート35がZ軸に
沿つて螺進退することになり、これに伴つて変位
した第1及び第2クラツチパツド31,33のう
ちのいずれか一方が選択されたうえ、クラツチ板
32に押し付けられて連結されることになる。そ
して、このとき、第2クラツチパツド31とクラ
ツチ板32とが連結されれば、伝動管20がZ軸
回転伝動系15として機能してクラツチ板32が
固着されたアーム2とY軸兼Z軸回転操作具10
とが互いに接続される結果、このY軸兼Z軸回転
操作具10の回転操作によつて揺動枠3及び試料
台4を含むアーム2の全体がZ軸まわりに回転す
ることになる。
また、このとき、クラツチ板32と第2クラツ
チパツド33とが連結されれば、このクラツチ板
32の回転が第2クラツチパツド33によつて制
止されることになる。そこで、Y軸兼Z軸回転操
作具10と連結された伝動管20によつて原動プ
ーリ21が回転操作されることになり、この原動
プーリ21がワイヤ27を介して試料台4の従動
プーリ23を回転させる結果、この試料台4のみ
がY軸に回転することになる。なお、ここで、Y
軸及びZ軸回転伝動系14,15を構成する伝動
管20が回転操作された場合には、これが外嵌さ
れた伝動軸16も共に回転するように構成されて
いることはいうまでもない。
(ヘ) 考案の効果 以上説明したように、本考案においては、表面
分析室内に突出配置されたアームの内端にはX軸
まわりに揺動自在で支持された揺動枠を設け、か
つ、この揺動枠にはY軸まわりに回転自在で支持
された前記試料台を設けるとともに、X軸回転伝
動系を介して揺動枠のみを揺動操作するX軸回転
操作具と、Y軸回転伝動系を介して試料台を回転
操作し、もしくは、Z軸回転伝動系を介してアー
ムをZ軸回りに回転操作するY軸兼Z軸回転操作
具と、クラツチ操作具とを設ける一方、このクラ
ツチ操作具の操作によつてアーム及び試料台のい
ずれか一方のみの回転動作に切り換える接続切換
クラツチ機構を設けている。
したがつて、本考案に係る表面分析装置用試料
ステージによれば、XYZの3軸に沿う位置決め
調整はいうまでもなく、従来例では行うことので
きなかつた3軸それぞれまわりの回転調整を他の
軸から独立した状態で容易に行うことが可能とな
り、試料を載置する試料台の角度調整を容易に行
うことができるという優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本考案の実施例に係り、
第1図は本考案に係る表面分析装置用試料ステー
ジの外観を示す側面図、第2図はその要部の外観
を拡大して示す底面図、第3図はZ軸まわりに回
転操作された状態を拡大して示す縦断側面図であ
り、さらに、第4図は第3図の要部のみを取り出
して模式的に示す説明図である。 図における符号1は表面分析装置用試料ステー
ジ、2はアーム、3は揺動枠、4は試料台、9は
X軸回転操作具、10はY軸兼Z軸回転操作具、
11はクラツチ操作具、12はX軸回転伝動系、
13は接続切換クラツチ機構、14はY軸回転伝
動系、15はZ軸回転伝動系である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 表面分析室内に突出配置されたアーム2と、こ
    のアーム2の内端に配設された試料台4とを備
    え、かつ、前記アーム2がその突出方向(Z軸)
    及びこれと互いに直交する2方向(X軸、Y軸)
    のそれぞれに沿つて移動可能に構成された表面分
    析装置用試料ステージ1において、 前記アーム2はZ軸まわりに回転可能に支持さ
    れ、このアーム2の内端には揺動枠3がX軸まわ
    りに揺動自在で支持され、この揺動枠3には前記
    試料台4がY軸まわりに回転自在で支持される一
    方、 表面分析室外には、前記揺動枠3のX軸まわり
    の揺動操作用のX軸回転操作具9と、前記試料台
    4のY軸まわりの回転操作用ならびに前記アーム
    2のZ軸まわりの回転操作用を兼ねたY軸兼Z軸
    回転操作具10と、前記アーム2と試料台4のい
    ずれか一方の回転動作切り換え操作用のクラツチ
    操作具11とがそれぞれ設けられ、 前記揺動枠3はX軸回転伝動系12を介してX
    軸回転操作具9に連結され、前記試料台4はY軸
    回転伝動系14に、前記アーム2はZ軸回転伝動
    系15にそれぞれ連結され、 これらのY軸回転伝動系14及びZ軸回転伝動
    系15と前記Y軸兼Z軸回転操作具10との間に
    は、前記クラツチ操作具11の操作に応じて前記
    Y軸兼Z軸回転操作具10をY軸回転伝動系14
    とZ軸回転伝動系15とのいずれか一方に択一的
    に接続する接続切換クラツチ機構13が設けられ
    ていることを特徴とする表面分析装置用試料ステ
    ージ。
JP14660083U 1983-09-20 1983-09-20 表面分析装置用試料ステ−ジ Granted JPS6053042U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14660083U JPS6053042U (ja) 1983-09-20 1983-09-20 表面分析装置用試料ステ−ジ

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14660083U JPS6053042U (ja) 1983-09-20 1983-09-20 表面分析装置用試料ステ−ジ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6053042U JPS6053042U (ja) 1985-04-13
JPH0226050Y2 true JPH0226050Y2 (ja) 1990-07-17

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ID=30326269

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JP14660083U Granted JPS6053042U (ja) 1983-09-20 1983-09-20 表面分析装置用試料ステ−ジ

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JPS6053042U (ja) 1985-04-13

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