JPH0226096A - アディティブ法配線板の製造方法 - Google Patents
アディティブ法配線板の製造方法Info
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- JPH0226096A JPH0226096A JP63175133A JP17513388A JPH0226096A JP H0226096 A JPH0226096 A JP H0226096A JP 63175133 A JP63175133 A JP 63175133A JP 17513388 A JP17513388 A JP 17513388A JP H0226096 A JPH0226096 A JP H0226096A
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Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、アディティブ法配線板の有利な製造方法に関
する。
する。
従来、アディティブ法によって得られる多層回路基板は
、複数層の導電回路を絶縁層を介して積層させたもので
、電気製品等の部品として種々利用されている。この多
層回路基板の製造は、例えば、第6図(A)に示される
絶縁基板1の両面に銅パターン2を設けたプリント回路
基板30両面に、第6図(B)に示されるように絶縁N
4を積層させ、ついで第6図(C)に示されるように絶
縁層4の表面にアディティブ層5を積層させて、このア
ディティブ層5の表面をクロム酸混液(CrQz +
H2SO4)で表面親水化(粗化)した後、この表面に
塩化パラジウム等の触媒を付与して表面活性化処理(た
だし、予め触媒が配合された場合には除く)を行い、こ
の表面の非回路形成部分を写真的手法により感光性ラッ
カー(フォトレジスト)で又はスクリーン印刷法により
マスキングしくレジスト皮膜の形成)、つぎに回路形成
部分に無電解メツキを行うことによりなされる。第6図
(B)および第6図(C)に示される絶縁層4およびア
ディティブN5の積層は、例えば、特開昭62−236
726号公報、特開昭62−236727号公報に開示
されるような方法(減圧下)で行われる。
、複数層の導電回路を絶縁層を介して積層させたもので
、電気製品等の部品として種々利用されている。この多
層回路基板の製造は、例えば、第6図(A)に示される
絶縁基板1の両面に銅パターン2を設けたプリント回路
基板30両面に、第6図(B)に示されるように絶縁N
4を積層させ、ついで第6図(C)に示されるように絶
縁層4の表面にアディティブ層5を積層させて、このア
ディティブ層5の表面をクロム酸混液(CrQz +
H2SO4)で表面親水化(粗化)した後、この表面に
塩化パラジウム等の触媒を付与して表面活性化処理(た
だし、予め触媒が配合された場合には除く)を行い、こ
の表面の非回路形成部分を写真的手法により感光性ラッ
カー(フォトレジスト)で又はスクリーン印刷法により
マスキングしくレジスト皮膜の形成)、つぎに回路形成
部分に無電解メツキを行うことによりなされる。第6図
(B)および第6図(C)に示される絶縁層4およびア
ディティブN5の積層は、例えば、特開昭62−236
726号公報、特開昭62−236727号公報に開示
されるような方法(減圧下)で行われる。
なお、第6図(A)に示されるプリント回路基板3は、
通常の銅張り積層板でサブトラクティブ法により作製さ
れたものが一般的である。
通常の銅張り積層板でサブトラクティブ法により作製さ
れたものが一般的である。
しかしながら、このように多層回路基板を製造するのは
、第6図(A)〜第6図(C)に示されるようにアディ
ティブ法配線板の製造に手間がかかるために、製造工程
が複雑となるなどの問題がある。
、第6図(A)〜第6図(C)に示されるようにアディ
ティブ法配線板の製造に手間がかかるために、製造工程
が複雑となるなどの問題がある。
本発明は、製造工程を簡略化したアディティブ法配線板
の製造方法を提供することを目的とする。
の製造方法を提供することを目的とする。
このため、本発明は、アディティブ層(無電解メツキに
より回路が形成される有機N)と、エポキシ樹脂および
合成ゴムを主成分とする絶縁層(内層回路に対し絶縁機
能を有する有機層)とからなる複層フィルムを基板へ減
圧下に積層させ、ついで得られる積層体を加熱硬化させ
ることを特徴とするアディティブ法配線板の製造方法を
要旨とするものである。
より回路が形成される有機N)と、エポキシ樹脂および
合成ゴムを主成分とする絶縁層(内層回路に対し絶縁機
能を有する有機層)とからなる複層フィルムを基板へ減
圧下に積層させ、ついで得られる積層体を加熱硬化させ
ることを特徴とするアディティブ法配線板の製造方法を
要旨とするものである。
以下、図を参照して本発明の構成につき詳しく説明する
。
。
第1図は、本発明で用いる複層フィルムの一例の断面説
明図である。第1図において、複層フィルムMは絶縁層
4とアディティブ層5からなる。
明図である。第1図において、複層フィルムMは絶縁層
4とアディティブ層5からなる。
絶縁層4は、本発明において特徴あるもので減圧下での
内層回路へのラミネーション性、また常圧下で硬化が可
能であるなどの利点を有し、内層回路に対し絶縁機能を
有する有機層であって、エポキシ樹脂と合成ゴムとの配
合物からなる。エポキシ樹脂としては、ビスフェノール
・エビクロルヒトリンクイブ、ノボラックタイプや脂環
型のエポキシ樹脂などを用いることができる。また、難
燃性を付与する場合には、Br化エポキシ樹脂を用いて
もよい。合成ゴムとしては、スチレン・ブタジェンゴム
、ブタジェンゴム、アクリロニトリル・ブタジェンゴム
、クロロプレンゴム、イソプレンゴム、ブチルゴムなど
を用いることができる。なかでもアクリロニトリル・ブ
タジェンゴム(NBR)が特に好ましい。アディティブ
層5は無電解メツキにより回路が形成される有機層であ
って、この層もまた、通常使用されるものでよく、例え
ば、NBR、ブタジェンゴム(BR)、スチレン・ブタ
ジェンゴム(SBR)等のゴム成分とフェノール樹脂、
エポキシ樹脂、メラミン樹脂等の硬化性樹脂成分とのブ
レンド物である。
内層回路へのラミネーション性、また常圧下で硬化が可
能であるなどの利点を有し、内層回路に対し絶縁機能を
有する有機層であって、エポキシ樹脂と合成ゴムとの配
合物からなる。エポキシ樹脂としては、ビスフェノール
・エビクロルヒトリンクイブ、ノボラックタイプや脂環
型のエポキシ樹脂などを用いることができる。また、難
燃性を付与する場合には、Br化エポキシ樹脂を用いて
もよい。合成ゴムとしては、スチレン・ブタジェンゴム
、ブタジェンゴム、アクリロニトリル・ブタジェンゴム
、クロロプレンゴム、イソプレンゴム、ブチルゴムなど
を用いることができる。なかでもアクリロニトリル・ブ
タジェンゴム(NBR)が特に好ましい。アディティブ
層5は無電解メツキにより回路が形成される有機層であ
って、この層もまた、通常使用されるものでよく、例え
ば、NBR、ブタジェンゴム(BR)、スチレン・ブタ
ジェンゴム(SBR)等のゴム成分とフェノール樹脂、
エポキシ樹脂、メラミン樹脂等の硬化性樹脂成分とのブ
レンド物である。
絶縁層4は内層回路基板への積層に際し内層回路基板の
銅パターンとの密着の向上のために未硬化の状態にある
が、アディティブ層5は未硬化であっても硬化していて
もよい。
銅パターンとの密着の向上のために未硬化の状態にある
が、アディティブ層5は未硬化であっても硬化していて
もよい。
アディティブ層5が未硬化の場合には、その表面にポリ
エチレンテレフタレートフィルム(PET)等の離型フ
ィルムを被せてアディティブ層5の表面保護を行うとよ
い。
エチレンテレフタレートフィルム(PET)等の離型フ
ィルムを被せてアディティブ層5の表面保護を行うとよ
い。
アディティブ層5が硬化している場合には、未硬化の場
合に比して絶縁層4の成分がアディティブ層5に拡散す
るのが防止されるため、無電解メツキに際してのアディ
ティブ層5の粗化が容易となる。
合に比して絶縁層4の成分がアディティブ層5に拡散す
るのが防止されるため、無電解メツキに際してのアディ
ティブ層5の粗化が容易となる。
また、内層回路基板との接着性をさらに高めるために、
第2図に示すように、絶縁層4に接着剤層6を積層させ
てもよい。
第2図に示すように、絶縁層4に接着剤層6を積層させ
てもよい。
絶縁層4の成分がアディティブ層5に拡散するのを防止
するために、第3図に示すように、絶縁層4とアディテ
ィブ層5との間にバリヤー層7を介在させてもよい。
するために、第3図に示すように、絶縁層4とアディテ
ィブ層5との間にバリヤー層7を介在させてもよい。
さらに、絶縁層4の成分がアディティブ層5に拡散する
のを防止するために、第4図に示すように、絶縁層のア
ディティブ層と接する部分8を硬化させてもよい。
のを防止するために、第4図に示すように、絶縁層のア
ディティブ層と接する部分8を硬化させてもよい。
本発明においては、上述した複層フィルムMを回路基板
(第6図(A)に示すプリント回路基板3に同じ)へ減
圧下に積層させる。
(第6図(A)に示すプリント回路基板3に同じ)へ減
圧下に積層させる。
この積層は、真空ラミネータを用いて行えばよい。減圧
は、数トール−数十トール程度でよい。減圧で行うのは
、層間にボイドが発生するのを防止するためである。こ
のようにして、第5図に示す積層体Tが得られる。
は、数トール−数十トール程度でよい。減圧で行うのは
、層間にボイドが発生するのを防止するためである。こ
のようにして、第5図に示す積層体Tが得られる。
なお、本発明による複層フィルムが使用できる基板は、
特に限定されるものではない。
特に限定されるものではない。
例えば、デイツプコート法やカーテンコート法によるア
ディティブ層形成が困難な0.1〜0.05 mm程度
の積層板に使用してもよい。
ディティブ層形成が困難な0.1〜0.05 mm程度
の積層板に使用してもよい。
第5図では、絶縁基板1の上面に銅パターン2 (内層
回路)が配されていて、この上に絶縁層4およびアディ
ティブ層5が積層されている。10は、離型フィルムで
ある。
回路)が配されていて、この上に絶縁層4およびアディ
ティブ層5が積層されている。10は、離型フィルムで
ある。
つぎに、本発明においては、積層体Tを常圧下に加熱硬
化させるのである。この硬化は、120°C〜170℃
の温度で1時間〜4時間積層体Tを加熱することにより
行えばよい。
化させるのである。この硬化は、120°C〜170℃
の温度で1時間〜4時間積層体Tを加熱することにより
行えばよい。
このようにして得られる配線板のアディティブ層の表面
を常法により活性化処理し、無電解メツキを行うことが
できる。
を常法により活性化処理し、無電解メツキを行うことが
できる。
以下に実施例および比較例を示す。
実施例1
第6図(A)に示されるメツキ触媒入り両面プリント回
路基板(日立化成工業■製)の両面に、第1図に示す複
層フィルム(メツキ触媒入り)を積層させ、第5図に示
す積層体を作製した。この積層に際しては、真空ラミネ
ータを用い、真空度40トール、ラミネートロール表面
温度100℃、基板送り速度1.3m/分、ロール加圧
3kg/cmでラミネーションを行った。
路基板(日立化成工業■製)の両面に、第1図に示す複
層フィルム(メツキ触媒入り)を積層させ、第5図に示
す積層体を作製した。この積層に際しては、真空ラミネ
ータを用い、真空度40トール、ラミネートロール表面
温度100℃、基板送り速度1.3m/分、ロール加圧
3kg/cmでラミネーションを行った。
つぎに、積層体からその表面の離型フィルムを剥がし、
150℃にセントされた電気オーブン中、常圧にて2時
間硬化処理を行った。
150℃にセントされた電気オーブン中、常圧にて2時
間硬化処理を行った。
得られた積層成形品を用いて、下記■〜■の項目につき
評価試験を行った。この結果を表1に示す。
評価試験を行った。この結果を表1に示す。
■ 樹脂層の厚み(μ)。
硬化後のアディティブ層(以下、AD層という)および
絶縁層の厚みを5箇所の破断断面の写真を光学顕微鏡で
撮ることにより測定し、目標厚に対するバラツキで示し
た。
絶縁層の厚みを5箇所の破断断面の写真を光学顕微鏡で
撮ることにより測定し、目標厚に対するバラツキで示し
た。
■ 複層フィルム中のボイドの発生。
積層成形品を目視で観察することにより、複層フィルム
中におけるボイドの発生の有無を確認した。ボイドの発
生が認められなかった場合は「○」、ボイドの発生が認
められた場合は「×」とした。
中におけるボイドの発生の有無を確認した。ボイドの発
生が認められなかった場合は「○」、ボイドの発生が認
められた場合は「×」とした。
■ 回路パターン形成における不良箇所。
積層成形品の両外面(AD層)をクロム酸混液で粗化し
、回路パターン以外の部分にメンキレジストを印刷し、
導体回路を無電解銅メツキにより所定厚みまで銅を付加
し、回路パターンを形成し、その回路パターンに不良箇
所が発生したか否か目視により観察した。
、回路パターン以外の部分にメンキレジストを印刷し、
導体回路を無電解銅メツキにより所定厚みまで銅を付加
し、回路パターンを形成し、その回路パターンに不良箇
所が発生したか否か目視により観察した。
不良箇所が認められなかった場合は「○」、不良箇所が
認められた場合は「×」とした。
認められた場合は「×」とした。
なお、「−」は試験を行っていない場合である。
■ 回路パターンの密着性。
上記■で得た回路基板につき、JIS C64815,
7に準拠してその回路パターンを引き剥がすことにより
1.引き剥がし強さを測定した。
7に準拠してその回路パターンを引き剥がすことにより
1.引き剥がし強さを測定した。
1.8 kgf/cm以上の場合は「○」、それ未満の
場合は「×」とした。なお、「−」は試験を行っていな
い場合である。
場合は「×」とした。なお、「−」は試験を行っていな
い場合である。
実施例2
第6図(A)に示されるメツキ触媒入り両面プリント回
路基板(日立化成工業■製)の両面に、第1図に示す複
層フィルム(メツキ触媒入り、AD層は硬化)を積層さ
せ、第5図に示す積層体を作製した。この積層に際して
は、真空ラミネータを用い、真空度20トール、ラミネ
ートロール表面温度80℃、基板送り速度1.3 m/
分、ロール加圧4kg/cmでラミネーションを行った
。
路基板(日立化成工業■製)の両面に、第1図に示す複
層フィルム(メツキ触媒入り、AD層は硬化)を積層さ
せ、第5図に示す積層体を作製した。この積層に際して
は、真空ラミネータを用い、真空度20トール、ラミネ
ートロール表面温度80℃、基板送り速度1.3 m/
分、ロール加圧4kg/cmでラミネーションを行った
。
つぎに、積層体の表面に離型フィルムを付けたまま、1
50℃にセットされた電気オープン中、常圧にて1時間
硬化処理を行った。得られた積層成形品について、その
表面から離型フィルムを剥がした後、実施例1と同様に
評価試験を行った。この結果を表1に示す。
50℃にセットされた電気オープン中、常圧にて1時間
硬化処理を行った。得られた積層成形品について、その
表面から離型フィルムを剥がした後、実施例1と同様に
評価試験を行った。この結果を表1に示す。
実施例3
第6図(A)に示されるプリント回路基板(ただし、メ
ツキ触媒なし)の両面に、第4図のフィルムを用い、第
5図に示したのと同様な構成になるように真空ラミネー
タを用い、真空度40トール、ラミネートロール表面温
度100℃、基板送り速度1.3 m/分、ロール加圧
4kg/cmでラミネーションを行った。
ツキ触媒なし)の両面に、第4図のフィルムを用い、第
5図に示したのと同様な構成になるように真空ラミネー
タを用い、真空度40トール、ラミネートロール表面温
度100℃、基板送り速度1.3 m/分、ロール加圧
4kg/cmでラミネーションを行った。
つぎに、この複層フィルムを貼り合わせた基板をオート
クレーブ中で5トールに減圧処理を施しながら7kg/
cJの圧力で150℃×2時間硬化処理を行った。得ら
れた積層成形品について、実施例1と同様に評価試験を
行った。この結果を表1に示す。
クレーブ中で5トールに減圧処理を施しながら7kg/
cJの圧力で150℃×2時間硬化処理を行った。得ら
れた積層成形品について、実施例1と同様に評価試験を
行った。この結果を表1に示す。
ただし、評価項目■、■については、クロム酸混液で粗
化処理後、触媒(塩化パラジウム)付加、活性化処理を
行い、回路パターン以外の部分にメツキレジストを印刷
し、導体回路を無電解銅メ・7キ法により所定厚みまで
付加し、回路パターンを形成し、回路パターンに不良箇
所が発生したかどうかを目視により観察した。
化処理後、触媒(塩化パラジウム)付加、活性化処理を
行い、回路パターン以外の部分にメツキレジストを印刷
し、導体回路を無電解銅メ・7キ法により所定厚みまで
付加し、回路パターンを形成し、回路パターンに不良箇
所が発生したかどうかを目視により観察した。
比較例1
第6図(A)に示されるメツキ触媒入り両面プリント回
路基板(日立化成工業■製)の両面に、第1図に示す複
層フィルム(メツキ触媒入り、AD層は硬化)を積層さ
せ、第5図に示す積層体を作製した。この積層に際して
は、通常のロールラミネータを用い、ラミネートロール
表面温度100℃、基板送り速度1.3 m/分、ロー
ル加圧4kg/cmでラミネーションを行った。
路基板(日立化成工業■製)の両面に、第1図に示す複
層フィルム(メツキ触媒入り、AD層は硬化)を積層さ
せ、第5図に示す積層体を作製した。この積層に際して
は、通常のロールラミネータを用い、ラミネートロール
表面温度100℃、基板送り速度1.3 m/分、ロー
ル加圧4kg/cmでラミネーションを行った。
つぎに、実施例2と同様の硬化処理を行い、実施例1と
同様の評価試験を行った。この結果を表1に示す。
同様の評価試験を行った。この結果を表1に示す。
(本頁以下余白)
l土
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、複層フィルムを回
路基板へ減圧下に積層させ、ついで得られる積層体を常
圧下に加熱硬化させたから、下記の効果を奏することが
できる。
路基板へ減圧下に積層させ、ついで得られる積層体を常
圧下に加熱硬化させたから、下記の効果を奏することが
できる。
(11複層フィルムを回路基板へ合わせて減圧下に積層
させればでよいので、第6図(A)〜第6図(C)に示
される従来の方法に比してアディティブ法配線板の製造
工程を簡略化することができる。
させればでよいので、第6図(A)〜第6図(C)に示
される従来の方法に比してアディティブ法配線板の製造
工程を簡略化することができる。
(2)減圧下に積層させるために、各層間にボイドの発
生のない積層成形品(アディティブ法配線板)を得るこ
とができる。
生のない積層成形品(アディティブ法配線板)を得るこ
とができる。
第1図〜第4図はそれぞれ本発明で用いる複層フィルム
の一例の断面説明図、第5図は複層フィルムを回路基板
へ減圧下に積層させて得られる積層体の一部切欠き断面
説明図、第6図(A)〜(C)はアディティブ法による
従来の多層回路基板の製造工程を示す説明図である。 1・・・絶縁基板、2・・・銅パターン、3・・・プリ
ント回路基板、4・・・絶縁層、5・・・アディティブ
層、6・・・接着剤層、7・・・バリヤー層、8・・・
絶縁層のアディティブ層と接する部分、10・・・離型
フィルム。 竺1図 す六″ シiフ 図 第 第 図(A) 第 図(B) 第 図 (C)
の一例の断面説明図、第5図は複層フィルムを回路基板
へ減圧下に積層させて得られる積層体の一部切欠き断面
説明図、第6図(A)〜(C)はアディティブ法による
従来の多層回路基板の製造工程を示す説明図である。 1・・・絶縁基板、2・・・銅パターン、3・・・プリ
ント回路基板、4・・・絶縁層、5・・・アディティブ
層、6・・・接着剤層、7・・・バリヤー層、8・・・
絶縁層のアディティブ層と接する部分、10・・・離型
フィルム。 竺1図 す六″ シiフ 図 第 第 図(A) 第 図(B) 第 図 (C)
Claims (2)
- 1.アディティブ層と、エポキシ樹脂および合成ゴムを
主成分とする絶縁層とからなる複層フィルムを基板へ減
圧下に積層させ、ついで得られる積層体を加熱硬化させ
ることを特徴とするアディティブ法配線板の製造方法。 - 2.加熱硬化を常圧下で行う請求項1記載のアディティ
ブ法配線板の製造方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63175133A JPH0728125B2 (ja) | 1988-07-15 | 1988-07-15 | アディティブ法配線板の製造方法 |
| US07/335,433 US5153987A (en) | 1988-07-15 | 1989-04-10 | Process for producing printed wiring boards |
| DE89303543T DE68909853T2 (de) | 1988-07-15 | 1989-04-11 | Verfahren und Film zur Herstellung von gedruckten Schaltungsplatten. |
| EP89303543A EP0351034B1 (en) | 1988-07-15 | 1989-04-11 | Process and film for producing printed wiring boards |
| KR1019890004848A KR920000988B1 (ko) | 1988-07-15 | 1989-06-08 | 인쇄 배선반의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63175133A JPH0728125B2 (ja) | 1988-07-15 | 1988-07-15 | アディティブ法配線板の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0226096A true JPH0226096A (ja) | 1990-01-29 |
| JPH0728125B2 JPH0728125B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=15990864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63175133A Expired - Lifetime JPH0728125B2 (ja) | 1988-07-15 | 1988-07-15 | アディティブ法配線板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0728125B2 (ja) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54125284A (en) * | 1978-03-23 | 1979-09-28 | Hitachi Chem Co Ltd | Production of flexible printed circuit |
| JPS5512716A (en) * | 1978-07-13 | 1980-01-29 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of forming printed circuit |
| JPS60141873A (ja) * | 1983-12-27 | 1985-07-26 | Rishiyou Kogyo Kk | 化学メツキ用接着剤組成物 |
| JPS62236727A (ja) * | 1986-04-08 | 1987-10-16 | Canon Inc | アデイテイブ法用多層基板の製造方法 |
| JPS62236726A (ja) * | 1986-04-08 | 1987-10-16 | Canon Inc | アデイテイブ法用多層基板の製造方法 |
| JPS6323983A (ja) * | 1986-07-17 | 1988-02-01 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | アデイテイブめつき用接着剤 |
-
1988
- 1988-07-15 JP JP63175133A patent/JPH0728125B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54125284A (en) * | 1978-03-23 | 1979-09-28 | Hitachi Chem Co Ltd | Production of flexible printed circuit |
| JPS5512716A (en) * | 1978-07-13 | 1980-01-29 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of forming printed circuit |
| JPS60141873A (ja) * | 1983-12-27 | 1985-07-26 | Rishiyou Kogyo Kk | 化学メツキ用接着剤組成物 |
| JPS62236727A (ja) * | 1986-04-08 | 1987-10-16 | Canon Inc | アデイテイブ法用多層基板の製造方法 |
| JPS62236726A (ja) * | 1986-04-08 | 1987-10-16 | Canon Inc | アデイテイブ法用多層基板の製造方法 |
| JPS6323983A (ja) * | 1986-07-17 | 1988-02-01 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | アデイテイブめつき用接着剤 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0728125B2 (ja) | 1995-03-29 |
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