JPH02262223A - 静電偏向型撮像管 - Google Patents
静電偏向型撮像管Info
- Publication number
- JPH02262223A JPH02262223A JP8274189A JP8274189A JPH02262223A JP H02262223 A JPH02262223 A JP H02262223A JP 8274189 A JP8274189 A JP 8274189A JP 8274189 A JP8274189 A JP 8274189A JP H02262223 A JPH02262223 A JP H02262223A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- image pickup
- glass bulb
- rough surface
- electrodes
- Prior art date
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- Pending
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- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ビデオカメラ装置等に用いて好適な静電偏向
型撮像管に関する。
型撮像管に関する。
本発明のビデオカメラ装置等に用いて好適なもので、本
発明の第1の発明はヒータ及びカソードを含む電子銃と
、撮像管内表面に電子銃より放射され8電子ビームを制
御する電極を有する静電偏向型撮像管において、ヒータ
近傍の撮像管内表面を粗面とし、他の少くとも一部撮像
管内表面を平滑面としたものであり、本発明の第2の発
明は上述の静電偏向型撮像管において、ヒータ近傍の撮
像管内表面を第1の粗面とし、他の少くとも一部を、第
1の粗面より平滑な第2の粗面としたもので、電極像や
ヒータ光の洩れがなく、電極耐圧の向上した撮像管を得
る様にしたものである。
発明の第1の発明はヒータ及びカソードを含む電子銃と
、撮像管内表面に電子銃より放射され8電子ビームを制
御する電極を有する静電偏向型撮像管において、ヒータ
近傍の撮像管内表面を粗面とし、他の少くとも一部撮像
管内表面を平滑面としたものであり、本発明の第2の発
明は上述の静電偏向型撮像管において、ヒータ近傍の撮
像管内表面を第1の粗面とし、他の少くとも一部を、第
1の粗面より平滑な第2の粗面としたもので、電極像や
ヒータ光の洩れがなく、電極耐圧の向上した撮像管を得
る様にしたものである。
第3図は、静電集束・静電偏向型(以下、「S・S型」
という)の撮像管の一例を示すものである。
という)の撮像管の一例を示すものである。
同図において、(1)はガラスバルブ、(2)はフェー
スプレート、(3)はターゲツト面(光電変換面)、(
4)は冷封止用のインジウム、(5)は金属リングであ
る。ターゲツト面(3)には、バイアス電圧として例え
ば+50Vが印加されている。
スプレート、(3)はターゲツト面(光電変換面)、(
4)は冷封止用のインジウム、(5)は金属リングであ
る。ターゲツト面(3)には、バイアス電圧として例え
ば+50Vが印加されている。
また、(6)はフェースプレート(2)を貫通してター
ゲツト面(3)に接触するようになされている信号取出
用の電極である。
ゲツト面(3)に接触するようになされている信号取出
用の電極である。
また、G6 はメツシュ状電極であり、メツシュホルダ
ー(7)に取付けられる。この電極G6 は、メツシュ
ホルダー(7)、インジウム(4)を介して金属リング
(5)に接続される。そして、この金属リング(5)を
介して電極G6 に所定電圧、例えば+1500 Vが
印加される。
ー(7)に取付けられる。この電極G6 は、メツシュ
ホルダー(7)、インジウム(4)を介して金属リング
(5)に接続される。そして、この金属リング(5)を
介して電極G6 に所定電圧、例えば+1500 Vが
印加される。
また、HE、に、Gl 及びG2 は、夫々電子銃を構
成するヒータ、カソード、第1グリツド電極及び第2グ
リツド電極である。電極G1 及びG2には、夫々例え
ば+4v及び+350Vが印加される。(8)はこれら
を固定するためのビードガラスであり、LAはビーム制
限開孔である。
成するヒータ、カソード、第1グリツド電極及び第2グ
リツド電極である。電極G1 及びG2には、夫々例え
ば+4v及び+350Vが印加される。(8)はこれら
を固定するためのビードガラスであり、LAはビーム制
限開孔である。
また、G、、G、及びG5 は、夫々第3、第4及び第
5グリツド電極である。これらの電極63〜G、は、ガ
ラスバルブ(1)の内面にクロム、ニッケル等の金属が
蒸着された後、レーザーによるカッティングにより所定
パターンに形成される。これら電極G3〜G5 により
集束用の電極系が構成されると共に、G、は偏向兼用の
電極でもある。
5グリツド電極である。これらの電極63〜G、は、ガ
ラスバルブ(1)の内面にクロム、ニッケル等の金属が
蒸着された後、レーザーによるカッティングにより所定
パターンに形成される。これら電極G3〜G5 により
集束用の電極系が構成されると共に、G、は偏向兼用の
電極でもある。
これら電極G3〜G5 は、第4図にその展開図を示す
ように形成される。即ち、電極G、は絶縁されて入り込
んでいる4つの電極部H,,H−、V。
ように形成される。即ち、電極G、は絶縁されて入り込
んでいる4つの電極部H,,H−、V。
及びV−が交互に配された、いわゆるアローパターンと
される。この場合、電極8H+〜V−からのリート責1
2H,)〜(12V−)は、電極G3 が形成されると
同時にガラスバルブ(1)の内面に形成される。
される。この場合、電極8H+〜V−からのリート責1
2H,)〜(12V−)は、電極G3 が形成されると
同時にガラスバルブ(1)の内面に形成される。
これらリード(12)1.)〜(12V−)は電極G3
と絶縁され、かつ管軸と平行にこれを横切るように形
成される。リード<12)1+)〜(12V−)の先端
部には幅広のコンタクト部CTが形成される。電極G5
は電極G4 と管周方向に沿って分離される。
と絶縁され、かつ管軸と平行にこれを横切るように形
成される。リード<12)1+)〜(12V−)の先端
部には幅広のコンタクト部CTが形成される。電極G5
は電極G4 と管周方向に沿って分離される。
尚、第4図において、G6 はメツシュ状電極G6と
接続される電極であり、電極G、〜G、が形成されると
同時にガラスバルブ(1)の内面に同様に形成される。
接続される電極であり、電極G、〜G、が形成されると
同時にガラスバルブ(1)の内面に同様に形成される。
また、SLは真空排気のために電極G、及びG2 を管
外から加熱するに際し、電極G3を加熱しないように設
けられたスリットであり、MAは角度合せのためのマー
クである。
外から加熱するに際し、電極G3を加熱しないように設
けられたスリットであり、MAは角度合せのためのマー
クである。
第3図に戻って、(13)はその一端がステムピン(1
4)に接続されたコンタクタ−スプリングを示し、この
スプリング(13)の他端は上述したリート責12H,
)〜(12L)のコンタクト部CTに接触するようにな
される。このスプリング及びステムピンはリード(12
H,)〜(12’1l−)に対して夫々設けられる。そ
して、ステムピン・スプリング及びリード(12Hヤ)
〜(121を介して、電極G、を構成する電極部H+及
びH−には、0〜20Vの範囲の所定電圧、例えば+1
3Vを中心に対称的に変化する水平偏向電圧が印加され
、また、電極部V、及びV−にも、所定電圧、例えば+
13Vを中心に対称的に変化する垂直偏向電圧が印加さ
れる。
4)に接続されたコンタクタ−スプリングを示し、この
スプリング(13)の他端は上述したリート責12H,
)〜(12L)のコンタクト部CTに接触するようにな
される。このスプリング及びステムピンはリード(12
H,)〜(12’1l−)に対して夫々設けられる。そ
して、ステムピン・スプリング及びリード(12Hヤ)
〜(121を介して、電極G、を構成する電極部H+及
びH−には、0〜20Vの範囲の所定電圧、例えば+1
3Vを中心に対称的に変化する水平偏向電圧が印加され
、また、電極部V、及びV−にも、所定電圧、例えば+
13Vを中心に対称的に変化する垂直偏向電圧が印加さ
れる。
また、(15)はその一端はステムピン(16)に接続
されたコンタクタ−スプリングを示し、このスプリング
(15)の他端は上述した電極G、に接触するようにな
される。そして、このステムピン(16)及びスプリン
グ(15)を介して電極G3 に所定電圧、例えば+8
45vが印加される。
されたコンタクタ−スプリングを示し、このスプリング
(15)の他端は上述した電極G、に接触するようにな
される。そして、このステムピン(16)及びスプリン
グ(15)を介して電極G3 に所定電圧、例えば+8
45vが印加される。
又、電極G5は、例えばガラスバルブ(1)の側面にあ
けられた穴(17)にフリットガラス(18)を用いて
封着された電極ピン(19)に接続される。そして、電
極GS には、この電極ピン(19)を介して所定電圧
、例えば+545vが印加される。
けられた穴(17)にフリットガラス(18)を用いて
封着された電極ピン(19)に接続される。そして、電
極GS には、この電極ピン(19)を介して所定電圧
、例えば+545vが印加される。
第5図において、破線で示すものは電極G3〜Ga’で
形成される静電レンズの等電位面で、これら形成される
静電レンズにより電子ビームBrnの集束が行われる。
形成される静電レンズの等電位面で、これら形成される
静電レンズにより電子ビームBrnの集束が行われる。
そして、電極G、及びG6’間に形成される静電レンズ
によりランディングエラーの補正が行われる。尚、この
第5図において、破線で示される電位は、電極G、によ
る偏向電界Eを除いたものである。また、電子ビームB
m の偏向は、電極G4 による偏向電界Eによって行
わる。
によりランディングエラーの補正が行われる。尚、この
第5図において、破線で示される電位は、電極G、によ
る偏向電界Eを除いたものである。また、電子ビームB
m の偏向は、電極G4 による偏向電界Eによって行
わる。
第6図は、ガラスバルブ(1)の内面に蒸着された金属
をレーザーでカッティングし、電極G3〜G6を所定パ
ターンに形成する装置の概略図である。
をレーザーでカッティングし、電極G3〜G6を所定パ
ターンに形成する装置の概略図である。
同図において、(1)はガラスバルブであり、(la)
は金属、例えばクロムが内面に蒸着された部分である。
は金属、例えばクロムが内面に蒸着された部分である。
ガラスバルブ(1)は、チャッキングヘッド(21)及
び(22)間に挟持される。ヘッド(21)、 (22
)は回転可能とされ、パルスモータ(23)によっテ回
転させられ、これによりガラスバルブ(1)の回転方向
(径方向)θの位置が制御されると共に、ヘッド(21
)、 (22) は管軸方向Z方向に移動可能とされ
、パルスモータ(24)によって移動させられ、これに
よりガラスバルブ(1)の管軸方向Zの位置が制御され
る。
び(22)間に挟持される。ヘッド(21)、 (22
)は回転可能とされ、パルスモータ(23)によっテ回
転させられ、これによりガラスバルブ(1)の回転方向
(径方向)θの位置が制御されると共に、ヘッド(21
)、 (22) は管軸方向Z方向に移動可能とされ
、パルスモータ(24)によって移動させられ、これに
よりガラスバルブ(1)の管軸方向Zの位置が制御され
る。
また、(25)はレーザー、例えばYAGレーザーであ
り、一定位置に固定される。このレーザー(25)から
のレーザー光(26)はレンズ(27)で集束され、ガ
ラスバルブ(1)のクロム蒸着部分(1a)に照射する
ようにするようになされている。
り、一定位置に固定される。このレーザー(25)から
のレーザー光(26)はレンズ(27)で集束され、ガ
ラスバルブ(1)のクロム蒸着部分(1a)に照射する
ようにするようになされている。
また、(28)はCP U、 (29)はROMであり
、ROM(29)の中にはカットチ°−タ、即ちカット
する部分の管軸方向Z及び径方向θの位置データが予め
書き込まれている。第7図は、このROM(29>のメ
モリーマツプを示しており、その所定アドレスにはTマ
ークデータ(マークMAのデータ)、リングカットデー
タ(電極G、及びG、の境界と電極G、及びG6 の
境界のデータ)、コンタクタ−データ (リード(12
H,)〜(12V−)及びコンタクト部CTのデータ〉
、アローパターン■、■、■′■のデータ(電極部H+
〜V−の境界のデータ)が書き込まれている。アローパ
ターン■、■、■′■のデータとは、第8図に示すよう
に境界の■。
、ROM(29)の中にはカットチ°−タ、即ちカット
する部分の管軸方向Z及び径方向θの位置データが予め
書き込まれている。第7図は、このROM(29>のメ
モリーマツプを示しており、その所定アドレスにはTマ
ークデータ(マークMAのデータ)、リングカットデー
タ(電極G、及びG、の境界と電極G、及びG6 の
境界のデータ)、コンタクタ−データ (リード(12
H,)〜(12V−)及びコンタクト部CTのデータ〉
、アローパターン■、■、■′■のデータ(電極部H+
〜V−の境界のデータ)が書き込まれている。アローパ
ターン■、■、■′■のデータとは、第8図に示すよう
に境界の■。
■、■′、■に夫々対応する部分のデータである。
ROM(29)の位置データはCP U(28)に供給
され、このCP U(28)より入出カポ−) (30
)を介して、上述したパルスモータ(23)及び(24
)には、位置データに応じた制御信号S1 及びS2
が供給されパルスモータ(23)、 (24) が制
御される。
され、このCP U(28)より入出カポ−) (30
)を介して、上述したパルスモータ(23)及び(24
)には、位置データに応じた制御信号S1 及びS2
が供給されパルスモータ(23)、 (24) が制
御される。
そして、ガラスバルブ(1)の管軸方向Zの位置、径方
向θの位置が位置データに応じて制御される。
向θの位置が位置データに応じて制御される。
結局、レーザー光(26)の照射位置が位置データに応
じて順次変えられることとなり、第4図に示す様に所定
パターン電極が形成される。
じて順次変えられることとなり、第4図に示す様に所定
パターン電極が形成される。
尚CP U(28)より人力ボート(30)を介してレ
ーザー(25)に制御信号が供給され、レーザー光(2
6)のオンオフ制御が行なわれる。
ーザー(25)に制御信号が供給され、レーザー光(2
6)のオンオフ制御が行なわれる。
畝上の従来構成によって静電偏向型撮像管を得る場合に
ガラスバルブ(1)内面にはクロム、ニッケル等の金属
を直接コーティング或いは鍍金しているが、第3図でヒ
ータHEで加熱され、発光した光L1 は例えば、ス
テム表面のゲッタ膜で反射し、電極G3 に光L2 と
して入射し、この電極G、で再び反射した光L3 は電
極G4 に入射し、ここで再び反射した光り、は電極G
、に入射し、電極G。
ガラスバルブ(1)内面にはクロム、ニッケル等の金属
を直接コーティング或いは鍍金しているが、第3図でヒ
ータHEで加熱され、発光した光L1 は例えば、ス
テム表面のゲッタ膜で反射し、電極G3 に光L2 と
して入射し、この電極G、で再び反射した光L3 は電
極G4 に入射し、ここで再び反射した光り、は電極G
、に入射し、電極G。
で反射した光L5 はターゲツト面(3)に達して映像
画面に影響を与える等の問題があった。この様な問題を
解決するためにガラスバルブ内壁全体をサンドブラスト
等で機械的に粗面とし、更に酸処理等のエツチングを1
〜2分程度行って機械的粗面を滑らかにすることで、第
9図に示す様にガラスバルブ(1)内壁をフロスト面(
1b〉にした後にクロム蒸着部分(1a)を形成させて
いた。この様な蒸着部分(1a)上に電極G、〜G6’
を構成するためにYAGレーザ−(25〉からのレーザ
ー光(26)でガラスバルブ(1)のフロスト面(1b
)上にコーティングされたクロム蒸着部分(1a)に焦
点を合せてクロムを昇華(IC)させてカッティングを
行なうが、例えば、電極G、と電極64 間を絶縁させ
る場合に、比較的深く形成されたフロスト面(1b)の
凹部(31)に深く入り込んだクロムが反射を起こし、
カッティングが完全に行なえず凹部(31)内にクロム
片(32)が残留することがあり、この結果各電極03
〜G6’間の絶縁耐圧が低下したものとなり、この様な
ガラスバルブを用いて撮像管を構成させ、各電極にテス
ト等で所定の電圧を印加すると、電掻管で放電を起こし
、エージング装置や撮像管検査装置のICやLSIを破
壊する虞れがあった。又、−度放電を起こすとターゲツ
ト面のフォトコン等を傷つける等の問題があった。
画面に影響を与える等の問題があった。この様な問題を
解決するためにガラスバルブ内壁全体をサンドブラスト
等で機械的に粗面とし、更に酸処理等のエツチングを1
〜2分程度行って機械的粗面を滑らかにすることで、第
9図に示す様にガラスバルブ(1)内壁をフロスト面(
1b〉にした後にクロム蒸着部分(1a)を形成させて
いた。この様な蒸着部分(1a)上に電極G、〜G6’
を構成するためにYAGレーザ−(25〉からのレーザ
ー光(26)でガラスバルブ(1)のフロスト面(1b
)上にコーティングされたクロム蒸着部分(1a)に焦
点を合せてクロムを昇華(IC)させてカッティングを
行なうが、例えば、電極G、と電極64 間を絶縁させ
る場合に、比較的深く形成されたフロスト面(1b)の
凹部(31)に深く入り込んだクロムが反射を起こし、
カッティングが完全に行なえず凹部(31)内にクロム
片(32)が残留することがあり、この結果各電極03
〜G6’間の絶縁耐圧が低下したものとなり、この様な
ガラスバルブを用いて撮像管を構成させ、各電極にテス
ト等で所定の電圧を印加すると、電掻管で放電を起こし
、エージング装置や撮像管検査装置のICやLSIを破
壊する虞れがあった。又、−度放電を起こすとターゲツ
ト面のフォトコン等を傷つける等の問題があった。
本発明は畝上の問題点に鑑みなされたもので、その目的
とするところは放電が起こりに<<、同時にヒータ光の
拡散を確実に行なえる静電偏向型撮像管を提供するにあ
る。
とするところは放電が起こりに<<、同時にヒータ光の
拡散を確実に行なえる静電偏向型撮像管を提供するにあ
る。
本発明の静電偏向型撮像管はとの1例が第1図に示され
ている様に、第1の発明はヒータHE及びカソードKを
含む電子銃G、、G2 と、撮像管内表面に電子銃G1
.G2より放射される電子ビームを制御する電極G 3
. G 4. G s、 G s ’を有する静電偏向
型撮像管(33)において、ヒータHE近傍の撮像管内
表面を粗面(34)とし、他の少くとも一部撮像管内表
面を平滑面(35)としたものであり、第2の発明は上
述の静電偏向型撮像管(33)において、ヒータHE近
傍の撮像管内表面を第1の粗面(34)とし、他の少く
とも一部を、第1の粗面(34)より平滑な第2の粗面
(35a) としたものである。
ている様に、第1の発明はヒータHE及びカソードKを
含む電子銃G、、G2 と、撮像管内表面に電子銃G1
.G2より放射される電子ビームを制御する電極G 3
. G 4. G s、 G s ’を有する静電偏向
型撮像管(33)において、ヒータHE近傍の撮像管内
表面を粗面(34)とし、他の少くとも一部撮像管内表
面を平滑面(35)としたものであり、第2の発明は上
述の静電偏向型撮像管(33)において、ヒータHE近
傍の撮像管内表面を第1の粗面(34)とし、他の少く
とも一部を、第1の粗面(34)より平滑な第2の粗面
(35a) としたものである。
本発明によればヒータHE近傍のガラスバルブCυの内
面を粗面(34)とし、他を平滑面(35)或いは粗面
(34)より平滑な粗面(35a) としたのでヒー
タ光を良好に拡散することができると共にクロム片が残
留することがなく電極Gj、G、等をカッティイブをす
ることが出来、放電の起こりにくい静電偏向型撮像管が
得られる。
面を粗面(34)とし、他を平滑面(35)或いは粗面
(34)より平滑な粗面(35a) としたのでヒー
タ光を良好に拡散することができると共にクロム片が残
留することがなく電極Gj、G、等をカッティイブをす
ることが出来、放電の起こりにくい静電偏向型撮像管が
得られる。
以下、本発明の静電偏向型撮像管の一実施例を第1図及
び第2図について説明する。
び第2図について説明する。
尚、本発明に於いて第3図乃至第9図で説明した従来例
と対応する部分には同一符号を付して重複説明を省略す
る。
と対応する部分には同一符号を付して重複説明を省略す
る。
第1図は本例のS−8型の撮像管の断面を示す模式図、
第2図は電極を示すガラスバルブの斜視図であり、同図
でガラスバルブ(1)の内面に第4図で説明した電極パ
ターンG、、 G、、 G5. G、’を形成する前2
こガラスバルブ(1)内面を粗面(34)にする。
第2図は電極を示すガラスバルブの斜視図であり、同図
でガラスバルブ(1)の内面に第4図で説明した電極パ
ターンG、、 G、、 G5. G、’を形成する前2
こガラスバルブ(1)内面を粗面(34)にする。
この粗面範囲はガラスバルブ(1)内に挿入するヒータ
HE、カソードにとG + 、 G 2電極を含む電子
銃並にガラスバルブ(1)内面に蒸着される電極G3電
極G4 のコンタクト部CT、 リード(12H,)
〜(12L) を覆う部分で、これを第1図及び第2
図でフロスト部(36)とする。このフロスト部(36
〉の長さはガラスバルブ全長が例えば9九〇であると略
半分の47mm程度である。フロスト部(36)を形成
するには先ずサンドブラスト等の機械的処理によってガ
ラスバルブ(1)内面を粗し、次にフッ酸等の酸処理に
よってサンドブラストで粗された粗面(34)をエツチ
ングする。このエツチング処理時間を従来の2分程度か
ら倍の4分程度に延長すると粗面がなめされることで、
YAGレーザーで電極G3〜G6’を、カッティングし
た後の電極間の絶縁耐圧ハ従来(7)1400 V 〜
1500 V カ1800 V迄高められた。
HE、カソードにとG + 、 G 2電極を含む電子
銃並にガラスバルブ(1)内面に蒸着される電極G3電
極G4 のコンタクト部CT、 リード(12H,)
〜(12L) を覆う部分で、これを第1図及び第2
図でフロスト部(36)とする。このフロスト部(36
〉の長さはガラスバルブ全長が例えば9九〇であると略
半分の47mm程度である。フロスト部(36)を形成
するには先ずサンドブラスト等の機械的処理によってガ
ラスバルブ(1)内面を粗し、次にフッ酸等の酸処理に
よってサンドブラストで粗された粗面(34)をエツチ
ングする。このエツチング処理時間を従来の2分程度か
ら倍の4分程度に延長すると粗面がなめされることで、
YAGレーザーで電極G3〜G6’を、カッティングし
た後の電極間の絶縁耐圧ハ従来(7)1400 V 〜
1500 V カ1800 V迄高められた。
この様にフロスト部(36)をヒータHE近傍だけに配
設することでヒータHEが加熱され、ゲッタを飛ばすこ
とでステム(38)内表面に蒸着したゲッタの反射膜(
39)で反射されるヒータHEからのヒータ光L1は粗
面(34)で散乱して、電極G、、 G、、 G5゜G
6’で反射してターゲツト面(3)に達して、ターゲツ
ト面(3)を損傷させる等の弊害を減少させることが出
来る。
設することでヒータHEが加熱され、ゲッタを飛ばすこ
とでステム(38)内表面に蒸着したゲッタの反射膜(
39)で反射されるヒータHEからのヒータ光L1は粗
面(34)で散乱して、電極G、、 G、、 G5゜G
6’で反射してターゲツト面(3)に達して、ターゲツ
ト面(3)を損傷させる等の弊害を減少させることが出
来る。
本例ではガラスバルブ(1)の全長が例えば93mmの
場合、路上半分の長さの約45mm程度はフロスト部(
36)とされず平滑面(35)とされるか或いは粗面(
34)よりは平滑な粗面(35a) と成されている
。
場合、路上半分の長さの約45mm程度はフロスト部(
36)とされず平滑面(35)とされるか或いは粗面(
34)よりは平滑な粗面(35a) と成されている
。
次に第4図で説明した電極G、、 G、、 G5. G
6のパターンを形成するためにクロム蒸着fffl(3
5)をガラスバルブ(1)内面に形成する。このクロム
蒸着部(35)の長さは例えば、ガラスバルブ(1)の
全長が93mmの場合ターゲツト面(3)の配設面から
略73mm程度で、残りの長さはクロム非蒸着部(37
)となる。
6のパターンを形成するためにクロム蒸着fffl(3
5)をガラスバルブ(1)内面に形成する。このクロム
蒸着部(35)の長さは例えば、ガラスバルブ(1)の
全長が93mmの場合ターゲツト面(3)の配設面から
略73mm程度で、残りの長さはクロム非蒸着部(37
)となる。
クロムの蒸着厚は略2500〜3000人程度である。
次に第6図乃至第9図で説明したと同様にYAGレーザ
−(25)のレーザー光(26)によって第4図に示す
と同様の電極パターンG、、 G、、 G5. G、
をカッティングする。
−(25)のレーザー光(26)によって第4図に示す
と同様の電極パターンG、、 G、、 G5. G、
をカッティングする。
フロスト部(36)以外の平滑面(35)或いは粗面(
34)より平滑な粗面(35a) の形成された部分
に蒸着されたクロムをカッティングする際、レーザー光
(26)のレーザーパワーレーザー径等を同一にし、各
電極G3〜G6 間のカット幅を一定に定めれば、粗
面(34)上にクロムを蒸着する場合に比較して絶縁耐
圧は1800 V程度で常に安定している。通常上記し
た各電極G3〜G6’間のカット幅の絶縁耐圧を測定す
るにはペルジャー内に入れたガラスバルブ(1)の例え
ば電極G4 とGs 間に0〜2000 V程度の電圧
を供給し、目視或いは電流計等の電流値で放電の有無を
確認している。又、カメラによる絶縁耐圧測定などでは
例えば1500 Vの電圧の供給されるGo’電極に0
〜2600 V程度の電圧を供給するが、この電圧供給
端子と接地電位に接続した電流計間にノイズ除去用の0
.03μF程度のコンデンサが挿入されている。電極G
5 には第1の抵抗器と第1のコンデンサの直列回路を
介して接地電位に接続されると共に第1の抵抗器の一端
に接続した第2の抵抗器と第2のコンデンサの直列回路
を介して+545Vの電圧源に接続される。上述の電極
G6 に接続した電流計の出力をレコーダで記録し、急
激な変化があれば、その時のG6′電圧供給電圧を放電
電圧としているが、この様な耐圧測定時に、上述のノイ
ズ除去用のコンデンサのエネルギーが放電し、リークが
発生して電極Gs に接続している測定回路のICやL
SIを破壊する。
34)より平滑な粗面(35a) の形成された部分
に蒸着されたクロムをカッティングする際、レーザー光
(26)のレーザーパワーレーザー径等を同一にし、各
電極G3〜G6 間のカット幅を一定に定めれば、粗
面(34)上にクロムを蒸着する場合に比較して絶縁耐
圧は1800 V程度で常に安定している。通常上記し
た各電極G3〜G6’間のカット幅の絶縁耐圧を測定す
るにはペルジャー内に入れたガラスバルブ(1)の例え
ば電極G4 とGs 間に0〜2000 V程度の電圧
を供給し、目視或いは電流計等の電流値で放電の有無を
確認している。又、カメラによる絶縁耐圧測定などでは
例えば1500 Vの電圧の供給されるGo’電極に0
〜2600 V程度の電圧を供給するが、この電圧供給
端子と接地電位に接続した電流計間にノイズ除去用の0
.03μF程度のコンデンサが挿入されている。電極G
5 には第1の抵抗器と第1のコンデンサの直列回路を
介して接地電位に接続されると共に第1の抵抗器の一端
に接続した第2の抵抗器と第2のコンデンサの直列回路
を介して+545Vの電圧源に接続される。上述の電極
G6 に接続した電流計の出力をレコーダで記録し、急
激な変化があれば、その時のG6′電圧供給電圧を放電
電圧としているが、この様な耐圧測定時に、上述のノイ
ズ除去用のコンデンサのエネルギーが放電し、リークが
発生して電極Gs に接続している測定回路のICやL
SIを破壊する。
この様なリークの発生率の高い電極の順位は電極Gs’
−電極G、→電極G5−電極G、である。従って、電極
Gy、 G−、Ga’近傍にはフロスト部を形成せず絶
縁耐圧が安定な平滑面(35)或いは粗面(34)より
平滑な粗面(35a) としている。
−電極G、→電極G5−電極G、である。従って、電極
Gy、 G−、Ga’近傍にはフロスト部を形成せず絶
縁耐圧が安定な平滑面(35)或いは粗面(34)より
平滑な粗面(35a) としている。
上述の実施例では平滑面(35)を電極G、、 G5.
G6部分としたが粗面(34)に対する平滑面(35
)或いは粗面(34)より平滑な粗面(35a) の
割合は電極に印加する電圧に応じて適宜選択し得る。又
、電極G3に対応する部分のみ粗面を形成しない様にし
てもよい。
G6部分としたが粗面(34)に対する平滑面(35
)或いは粗面(34)より平滑な粗面(35a) の
割合は電極に印加する電圧に応じて適宜選択し得る。又
、電極G3に対応する部分のみ粗面を形成しない様にし
てもよい。
又、上述の例ではS−8型について説明したが電磁集束
−静電偏向型の撮像管にも適用可能であり、本発明の要
旨を逸脱しない範囲で種々変更することが出来る。
−静電偏向型の撮像管にも適用可能であり、本発明の要
旨を逸脱しない範囲で種々変更することが出来る。
本発明によればヒータ近傍を粗面とすることでヒータ光
を拡散し、ヒーター光洩れを防止し、高電圧印加の行な
われる各電極間の絶縁耐圧は平滑面とすることで絶縁耐
圧が向上した静電偏向型撮像管が得られる。
を拡散し、ヒーター光洩れを防止し、高電圧印加の行な
われる各電極間の絶縁耐圧は平滑面とすることで絶縁耐
圧が向上した静電偏向型撮像管が得られる。
第1図は本発明の静電偏向型撮像管の断面図、第2図は
本発明の電極を示すガラスバルブの斜視図、第3図は従
来のS−8型撮像管の断面図、第4図は電極パターンを
示す展開図、第5図は静電レンズを示す図、第6図はカ
ッティング装置の概略図、第7図はメモリマツプ、第8
図は電極部H+〜V−の境界の説明図、第9図はカッテ
ィング状態を示すガラスバルブの断面図である。 (1)はガラスバルブ、03〜G6′ は被着電極、(
34)は粗面、(35)は平滑面である。 tJ&tFI)I?〜V−1jiのftaQ)第8図 〃Vティンア°4欠′懸、を鱒ガ°ラズへ゛ルブあ訴ば
第9図
本発明の電極を示すガラスバルブの斜視図、第3図は従
来のS−8型撮像管の断面図、第4図は電極パターンを
示す展開図、第5図は静電レンズを示す図、第6図はカ
ッティング装置の概略図、第7図はメモリマツプ、第8
図は電極部H+〜V−の境界の説明図、第9図はカッテ
ィング状態を示すガラスバルブの断面図である。 (1)はガラスバルブ、03〜G6′ は被着電極、(
34)は粗面、(35)は平滑面である。 tJ&tFI)I?〜V−1jiのftaQ)第8図 〃Vティンア°4欠′懸、を鱒ガ°ラズへ゛ルブあ訴ば
第9図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ヒータ及びカソードを含む電子銃と、撮像管内表面
に該電子銃より放射される電子ビームを制御する電極を
有する静電偏向型撮像管において、 上記ヒータ近傍の上記撮像管内表面を粗面とし、他の少
くとも一部撮像管内表面を平滑面としたことを特徴とす
る静電偏向型撮像管。 2、ヒータ及びカソードを含む、電子銃と、撮像管内表
面に該電子銃より放射される電子銃より放射される電子
ビームを制御する電極を有する静電偏向型撮像管におい
て、 上記ヒータ近傍の上記撮像管内表面を第1の粗面とし、
他の少くとも一部を、上記第1の粗面より平滑な第2の
粗面としたことを特徴とする静電偏向型撮像管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8274189A JPH02262223A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 静電偏向型撮像管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8274189A JPH02262223A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 静電偏向型撮像管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02262223A true JPH02262223A (ja) | 1990-10-25 |
Family
ID=13782842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8274189A Pending JPH02262223A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 静電偏向型撮像管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02262223A (ja) |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP8274189A patent/JPH02262223A/ja active Pending
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