JPH02267185A - 液相エピタキシャル成長装置および液相エピタキシャル成長方法 - Google Patents
液相エピタキシャル成長装置および液相エピタキシャル成長方法Info
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- JPH02267185A JPH02267185A JP8757389A JP8757389A JPH02267185A JP H02267185 A JPH02267185 A JP H02267185A JP 8757389 A JP8757389 A JP 8757389A JP 8757389 A JP8757389 A JP 8757389A JP H02267185 A JPH02267185 A JP H02267185A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 title claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 34
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 9
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 4
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000009963 fulling Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、エピタキシトル成長装置およびエピタキシャ
ル成長方法しこ関するものである。
ル成長方法しこ関するものである。
1従来の技術]
化合物半導体を用いて作製される例えばレーリ゛は■溝
形ス1ヘライブレーザや埋込みヘテ1]構造レリ“(B
t−ル−ザ)等、各科のものが開発されているが、活
性層にお(Jる渦部を形成する場合は従来まり液相成長
法又【よ気相成長法を用いて結晶表面の全面に均一に結
晶成長を行わU、その後)Al−、Iツヂング等により
パターンを作製して渦部を形成し、その上に更に液相法
又は気相法を用いて溝部を押めるように結晶を成長さひ
る方法が用いられている。この方法は微細パターンを形
成づ−る場合に有効であり、半導体レーザ等の光素子を
はじめ、種々の半導体素子の作製に広く用いられている
。
形ス1ヘライブレーザや埋込みヘテ1]構造レリ“(B
t−ル−ザ)等、各科のものが開発されているが、活
性層にお(Jる渦部を形成する場合は従来まり液相成長
法又【よ気相成長法を用いて結晶表面の全面に均一に結
晶成長を行わU、その後)Al−、Iツヂング等により
パターンを作製して渦部を形成し、その上に更に液相法
又は気相法を用いて溝部を押めるように結晶を成長さひ
る方法が用いられている。この方法は微細パターンを形
成づ−る場合に有効であり、半導体レーザ等の光素子を
はじめ、種々の半導体素子の作製に広く用いられている
。
U発明が解決しようとJ−る課題J
上述したように半導体レーザ等の半導体素子を作製リ−
る場合は結晶成長を行う工程と結晶を取出して渦部を作
製覆る工程とその上に結晶成長を11わせる工程とが必
要であるが、これらの各工程は工程毎に前処理、後処理
を行わねばならず非常に手数と時間とを要しその土高度
の熟練が必要である。更に土ツヂングによる溝と成長界
面との密着が不確実となる場合があり、ボイドの発勺そ
の他種々のi−ラブルが発生ずる嫌いがあった。
る場合は結晶成長を行う工程と結晶を取出して渦部を作
製覆る工程とその上に結晶成長を11わせる工程とが必
要であるが、これらの各工程は工程毎に前処理、後処理
を行わねばならず非常に手数と時間とを要しその土高度
の熟練が必要である。更に土ツヂングによる溝と成長界
面との密着が不確実となる場合があり、ボイドの発勺そ
の他種々のi−ラブルが発生ずる嫌いがあった。
本発明の目的は、半導体シー1f等の゛1′導体索了子
の製作1−稈を短縮覆る−「ピッ4シヤル成長装買及び
エピタキシャル成長方法提供することにある。
の製作1−稈を短縮覆る−「ピッ4シヤル成長装買及び
エピタキシャル成長方法提供することにある。
「課題を解決1−るための手段1
本発明(,1、化合物半導体を構成する原石の溶液が収
容されている溶液溜めと、溶液溜めに対向して溶液溜め
より分配される溶液を貯溜1)る分配槽とを偵Iえ、ス
ライダにレッ1〜された阜根を分配槽の下面を通過させ
つつ基板表面に上記溶液を順次接触させてエピタキシャ
ル層を成I(δぜるスライドボート式液相エビクニ1シ
Aフル成艮”A I’7にa3いで、上記分配槽に、基
板表面と対向する平面に縞状のスリットを有し基板表面
に溶液が接触Jる部分どジ1接触部分とを交互に形成さ
ゼるlこめの部分成長治具を設(〕たことを第1の特徴
とし、又フライ1ミボー1−式の液相1−ピタキシX・
ル成長プノ法にA3いて、上述の第1の特徴にa3ける
エピタ1シトル成艮装冒の部分成長治具を用い−C十記
阜根表面の任意の部分にエピタキシトル層を成長さ氾る
か、名しくは上記部分成長治具を用い−で上記基板表面
の11息の部分のみをヌル1〜バツクして四部を形成し
、そのJAM板上にエピタキシャル層を成長させること
を第2の特徴としてd3す、この製作工程が短縮δれる
ようにして目的の達成を計っている。
容されている溶液溜めと、溶液溜めに対向して溶液溜め
より分配される溶液を貯溜1)る分配槽とを偵Iえ、ス
ライダにレッ1〜された阜根を分配槽の下面を通過させ
つつ基板表面に上記溶液を順次接触させてエピタキシャ
ル層を成I(δぜるスライドボート式液相エビクニ1シ
Aフル成艮”A I’7にa3いで、上記分配槽に、基
板表面と対向する平面に縞状のスリットを有し基板表面
に溶液が接触Jる部分どジ1接触部分とを交互に形成さ
ゼるlこめの部分成長治具を設(〕たことを第1の特徴
とし、又フライ1ミボー1−式の液相1−ピタキシX・
ル成長プノ法にA3いて、上述の第1の特徴にa3ける
エピタ1シトル成艮装冒の部分成長治具を用い−C十記
阜根表面の任意の部分にエピタキシトル層を成長さ氾る
か、名しくは上記部分成長治具を用い−で上記基板表面
の11息の部分のみをヌル1〜バツクして四部を形成し
、そのJAM板上にエピタキシャル層を成長させること
を第2の特徴としてd3す、この製作工程が短縮δれる
ようにして目的の達成を計っている。
「作 用」
本発明のエピターA−シャル成長装置およびエピタキシ
ャル成長方法では基板表面に成長溶液を接触させる分配
槽の中に基板表面と対向する平面に縞状のスリブ1〜を
イi 1J−る部分成長治具をセラ1へし、基板表面に
溶液の接触する部分と非接触部分とを交Hに形成させて
エピタキシャル層を成長させるようにし、例えば発光ダ
イス−ドアレイを作製する場合Cま部分成長治具を使用
する場合と使用しない場合とを交りに行ってエピタキシ
ャル層を成長さぼるよ−うにし、基板トに必要な成長層
を有する発光ダイオードアレイを短期間で作製すること
ができる。
ャル成長方法では基板表面に成長溶液を接触させる分配
槽の中に基板表面と対向する平面に縞状のスリブ1〜を
イi 1J−る部分成長治具をセラ1へし、基板表面に
溶液の接触する部分と非接触部分とを交Hに形成させて
エピタキシャル層を成長させるようにし、例えば発光ダ
イス−ドアレイを作製する場合Cま部分成長治具を使用
する場合と使用しない場合とを交りに行ってエピタキシ
ャル層を成長さぼるよ−うにし、基板トに必要な成長層
を有する発光ダイオードアレイを短期間で作製すること
ができる。
[実 施 例]
以下、本発明の実施例について図を用いながら説明Jる
。第1図(J本発明のTピッキシXフル成長装置の一実
施例を承り説明図、第2図(a) 、 (b)は第1図
の部分成長治f−Jの平面図及び△−Δ′線断面図であ
る。
。第1図(J本発明のTピッキシXフル成長装置の一実
施例を承り説明図、第2図(a) 、 (b)は第1図
の部分成長治f−Jの平面図及び△−Δ′線断面図であ
る。
両図において、1はグラフアイ]〜ボー1〜本体、2は
基板、3A、3B、3Cは夫々原料の溶液が入っている
溶液溜め、4△、4+3.=lICは溶液溜め3A、3
B、3Cより溶液の分配を受ける分配槽、と)は溶液溜
め/I11にセットされた部分成長治具、6はそのスリ
ブ1へ、7は基板2を移動させるスライダ、8はスライ
ダ操負棒、9は溶液溜め3△〜3Cを移動させる溶液溜
め操作棒である。
基板、3A、3B、3Cは夫々原料の溶液が入っている
溶液溜め、4△、4+3.=lICは溶液溜め3A、3
B、3Cより溶液の分配を受ける分配槽、と)は溶液溜
め/I11にセットされた部分成長治具、6はそのスリ
ブ1へ、7は基板2を移動させるスライダ、8はスライ
ダ操負棒、9は溶液溜め3△〜3Cを移動させる溶液溜
め操作棒である。
この装置を動作ざゼる場合は基板2に例えばガリウム・
ヒ素(G:1Δs)、溶液に1.J Q a溶液を用い
、ボーl−全イホを高温に保持して−・定時間経過後溶
液溜め操作捧9を移動ざぜて各溶液溜め3△3B、3G
の溶液の一部を分配槽4△、4B、/ICに移づ。次に
スライダ操作棒8によりスライダ7を移動して基板2を
分配槽4△、/lI3 /ICの溶液と接触するよう
に移動させる。この時分配槽4[3には部分成長治具5
jがセットされており、又部分成長治具5にはスリブ1
〜6が設()られているので基板2が分配槽4Bの下面
に達した時、基板2の表面にはスリット6により溶液が
接触刃る部分と接触しない部分とが縞状に交Hに生ずる
ことになる。尚、部分成長部具4のスリブ1〜6は第1
図、第2図に限られるものではなく、任意の形状及び配
列の方向を自由に選択することがrl fit:である
。
ヒ素(G:1Δs)、溶液に1.J Q a溶液を用い
、ボーl−全イホを高温に保持して−・定時間経過後溶
液溜め操作捧9を移動ざぜて各溶液溜め3△3B、3G
の溶液の一部を分配槽4△、4B、/ICに移づ。次に
スライダ操作棒8によりスライダ7を移動して基板2を
分配槽4△、/lI3 /ICの溶液と接触するよう
に移動させる。この時分配槽4[3には部分成長治具5
jがセットされており、又部分成長治具5にはスリブ1
〜6が設()られているので基板2が分配槽4Bの下面
に達した時、基板2の表面にはスリット6により溶液が
接触刃る部分と接触しない部分とが縞状に交Hに生ずる
ことになる。尚、部分成長部具4のスリブ1〜6は第1
図、第2図に限られるものではなく、任意の形状及び配
列の方向を自由に選択することがrl fit:である
。
第3図(a)は部分成長治具5を用いてメルトバックを
行った場合の部分拡大図を示すもので。
行った場合の部分拡大図を示すもので。
10はGa溶液の未飽和液、11は空隙部、12は溶液
溜め4Δの溶液と接触した後の基板を承り。
溜め4Δの溶液と接触した後の基板を承り。
第3図(b)はメルトバック後のlJ板面断面図承りも
ので13がメルトバック部である。
ので13がメルトバック部である。
第4図はJビタキシトル層の成長の様子を承り−もので
同図(a)は溶液と基板との接触状況を示し同図(b)
は結晶成長後の状況を示す。14が部分成長部である。
同図(a)は溶液と基板との接触状況を示し同図(b)
は結晶成長後の状況を示す。14が部分成長部である。
このように本発明の部分成長部具を用いてエピ全1シ1
フル成長を行わけることにより、安定したメルトバック
を行うことができる。
フル成長を行わけることにより、安定したメルトバック
を行うことができる。
次に第1図及び第2図に示づ装置を用いて]−ビター1
−シャル成長を行わける場合の二個について説明する。
−シャル成長を行わける場合の二個について説明する。
実施例く△)第5図は])型a a A s W板2の
上にP型Ga1−xAρX△S (x=0.2)15を
20 a mの厚さに成長さμ、次の部分成長治具によ
る二層目の部分に0aAj Asを溶解させた未飽和の
Ga溶液を入れてメルトバックを行い、その後n型のG
aAS層16全160l1の厚さに成長させたしのであ
る。llil図に示りように成艮条1′1を適切に調整
することにJ、り表面の平坦なれ11品を得ることがで
きる。
上にP型Ga1−xAρX△S (x=0.2)15を
20 a mの厚さに成長さμ、次の部分成長治具によ
る二層目の部分に0aAj Asを溶解させた未飽和の
Ga溶液を入れてメルトバックを行い、その後n型のG
aAS層16全160l1の厚さに成長させたしのであ
る。llil図に示りように成艮条1′1を適切に調整
することにJ、り表面の平坦なれ11品を得ることがで
きる。
実施例(B )第6図はP型QaAs基板2の十にP型
G a i−x A D XΔs (x =0.05)
17を20μmの厚さに成長さけ、次に部分成長部具
を用いてメル1へバックを行なって四部18を形成し、
その後基板2ど部分成長部(15とを切離し、溶液溜め
513の温度を下げて再び部分成長治具5と基板とを組
合Vてn型Ga1−XΔQxΔs(x0.3>19を成
長さけ、ぞの1にn型G a△S20を成長さけたムの
である。
G a i−x A D XΔs (x =0.05)
17を20μmの厚さに成長さけ、次に部分成長部具
を用いてメル1へバックを行なって四部18を形成し、
その後基板2ど部分成長部(15とを切離し、溶液溜め
513の温度を下げて再び部分成長治具5と基板とを組
合Vてn型Ga1−XΔQxΔs(x0.3>19を成
長さけ、ぞの1にn型G a△S20を成長さけたムの
である。
このようにしてr]型Ga Aρ AS層19を
波長670 n rrの光導波路とする、断面発光タイ
オードアレイを(’l製することが−t’ Qる。[発
明の効果] 以上述べたように本発明にJ、れば次のような効果が寄
られる。
波長670 n rrの光導波路とする、断面発光タイ
オードアレイを(’l製することが−t’ Qる。[発
明の効果] 以上述べたように本発明にJ、れば次のような効果が寄
られる。
(1)V渦形ス1へライブレーリ”或いは押込形へ)−
[1接合レーリ゛等、高瓜な技術を要1)る素子を類1
稈で容易に作製覆ることができる。
[1接合レーリ゛等、高瓜な技術を要1)る素子を類1
稈で容易に作製覆ることができる。
(2)知丁稈で処理Jることができるので結晶成長時の
渇1σ管理が容易とイヱリ、多]−稈処理11.)に牛
する熱歪等の悲影響を除去することができる。
渇1σ管理が容易とイヱリ、多]−稈処理11.)に牛
する熱歪等の悲影響を除去することができる。
(3)T程の短縮や熱歪の除去等により素了品貿を向上
させ原価低減をSすることができる。
させ原価低減をSすることができる。
4、図面の簡甲イJ &f明
第1図(31本発明の1−ピクキシャル成長装置の=一
実施例を示づ説明図、第2図は部分成長部具の平面図及
び△−Δ′線IIJi面図、第こ3図εJ1り)2図の
7H1(分成艮治[,1を用いて形成したヌル1ヘハツ
クにJ、ろ基板の部分断面図、第4図は部分成長部具を
・用い(結晶成[11わせた場合の3.(板面J!j図
、第)〕同図び第6図は部分成長部(−1を用いて(’
l装した発光素子の断面図である。
実施例を示づ説明図、第2図は部分成長部具の平面図及
び△−Δ′線IIJi面図、第こ3図εJ1り)2図の
7H1(分成艮治[,1を用いて形成したヌル1ヘハツ
クにJ、ろ基板の部分断面図、第4図は部分成長部具を
・用い(結晶成[11わせた場合の3.(板面J!j図
、第)〕同図び第6図は部分成長部(−1を用いて(’
l装した発光素子の断面図である。
2 : ilを根、
3△、 3F3.30 :溶液溜め、
4△、4I3,4C:分配槽、
5:部分成長部具、
6:スリブ1〜.
1318:メル1へバック部。
代理人 づr押土 λ9111 利 ぺ・り
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、化合物半導体を構成する原料の溶液が収容されてい
る溶液溜めと、該溶液溜めに対向して溶液溜より分配さ
れる前記溶液の一部を貯溜する分配槽とを備え、スライ
ダにセットされた基板を前記分配槽の下面を通過させつ
つ基板表面に前記分配槽内の溶液を接触させるスライド
ボート式液相エピタキシャル成長装置において、前記分
配槽に、前記基板表面と対向する平面の縞状のスリット
を有し、前記基板表面に前記溶液が接触する部分と非接
触部分とを交互に形成させるための部分成長治具が設け
てあることを特徴とする液相エピタキシャル成長装置。 2、化合物半導体を構成する原料の溶液を溶液溜めに収
容し、該溶液溜めより分配された前記溶液を分配槽に貯
溜し、該分配槽の下面をスライダにセットされた基板を
通過させて基板表面に前記溶液を接触させてエピタキシ
ャル層を成長させるスライドボート式液相エピタキシャ
ル成長方法におい特許請求の範囲第1項記載のエピタキ
シャル成長装置の部分成長治具を用いて前記基板表面の
任意の部分にエピタキシャル層を成長させるか若しくは
前記部分成長治具を用いて前記基板表面の任意の部分の
みをメルトバックして凹部を形成し、その後基板上にエ
ピタキシャル層を成長させることを特徴とする液相エピ
タキシャル成長方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8757389A JPH02267185A (ja) | 1989-04-06 | 1989-04-06 | 液相エピタキシャル成長装置および液相エピタキシャル成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8757389A JPH02267185A (ja) | 1989-04-06 | 1989-04-06 | 液相エピタキシャル成長装置および液相エピタキシャル成長方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02267185A true JPH02267185A (ja) | 1990-10-31 |
Family
ID=13918743
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8757389A Pending JPH02267185A (ja) | 1989-04-06 | 1989-04-06 | 液相エピタキシャル成長装置および液相エピタキシャル成長方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02267185A (ja) |
-
1989
- 1989-04-06 JP JP8757389A patent/JPH02267185A/ja active Pending
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