JPH02268448A - 半導体装置の樹脂封止方法及びその装置 - Google Patents
半導体装置の樹脂封止方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH02268448A JPH02268448A JP9100289A JP9100289A JPH02268448A JP H02268448 A JPH02268448 A JP H02268448A JP 9100289 A JP9100289 A JP 9100289A JP 9100289 A JP9100289 A JP 9100289A JP H02268448 A JPH02268448 A JP H02268448A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surface plate
- spacer blocks
- spacer block
- resin sealing
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、トランスファ成形プレスを用いて樹脂成形
する半導体装置の樹脂封止方法及びその装置に関するも
のである。
する半導体装置の樹脂封止方法及びその装置に関するも
のである。
一般に半導体装置の樹脂封止装置は、トランスファ成形
プレスに装着した上下2つの型板を型締めした後、プラ
ンジャーによってトランスファポンド内のレジンタブレ
ットをキャビティ内に圧送し、成形を行うものとして知
られている。
プレスに装着した上下2つの型板を型締めした後、プラ
ンジャーによってトランスファポンド内のレジンタブレ
ットをキャビティ内に圧送し、成形を行うものとして知
られている。
従来、この種の樹脂封止装置の両型板のうち下側の型F
i(以下、下型部分と略す)は第2図(al及びtbl
に示すように構成されている。これを同図に暴づいて説
明すると、同図において、符号(11で示すものはヒー
タ(2)を内蔵する定盤で、ベース(3)の多数のサポ
ートビン(4)を介して固定されており、上端部にはキ
ャビティブロック(5)及びセンタブロック(6)が保
持されている。これら両ブロック(5)。
i(以下、下型部分と略す)は第2図(al及びtbl
に示すように構成されている。これを同図に暴づいて説
明すると、同図において、符号(11で示すものはヒー
タ(2)を内蔵する定盤で、ベース(3)の多数のサポ
ートビン(4)を介して固定されており、上端部にはキ
ャビティブロック(5)及びセンタブロック(6)が保
持されている。これら両ブロック(5)。
(6)のうち、センタブロック(6)にはプランジャ
(図示せず)が、その内部を進退するポット(7)およ
びこのボット(力に連通ずるランナ(8)が設けられて
おり、またキャビティブロック(5)には前記ランナ(
8)に連通するランナ(9)およびこのランナ(9)に
ゲート00+を介して連通ずるキャビティ0υが設けら
れている。03は側方に開口する取付溝(12a) を
をする−体のスペーサブロックで前記定盤10と前記ベ
ース(3)との間に介装され、ボルトαm、041によ
りネジ締付固定されている。かつ前記サポートピン(4
)の外側に設けられている。09は成形パッケージ押出
用のエジェクター機構で前記両スペーサブロック021
間に位置し、前記il+とベース(3)との間に設けら
れている。0[9はプレスのプラテンで、取付金具01
、ボルト0場により前記スペーサブロック075の取付
溝(12a)を固定し、下型部分全体を前記プレスプラ
テンa〜に取付固定されている。amは上型部分く図示
せず)と下型部分との位置決め用のガイドビンで前記定
盤10に嵌入されている。
(図示せず)が、その内部を進退するポット(7)およ
びこのボット(力に連通ずるランナ(8)が設けられて
おり、またキャビティブロック(5)には前記ランナ(
8)に連通するランナ(9)およびこのランナ(9)に
ゲート00+を介して連通ずるキャビティ0υが設けら
れている。03は側方に開口する取付溝(12a) を
をする−体のスペーサブロックで前記定盤10と前記ベ
ース(3)との間に介装され、ボルトαm、041によ
りネジ締付固定されている。かつ前記サポートピン(4
)の外側に設けられている。09は成形パッケージ押出
用のエジェクター機構で前記両スペーサブロック021
間に位置し、前記il+とベース(3)との間に設けら
れている。0[9はプレスのプラテンで、取付金具01
、ボルト0場により前記スペーサブロック075の取付
溝(12a)を固定し、下型部分全体を前記プレスプラ
テンa〜に取付固定されている。amは上型部分く図示
せず)と下型部分との位置決め用のガイドビンで前記定
盤10に嵌入されている。
なお、前記キャビティブロック(5)の上方には上側の
型板(図示せず)が配設されている。
型板(図示せず)が配設されている。
このように構成された半導体装置の樹脂封止装置におい
では、型締め時にボット(7)内に充填された樹脂タブ
レット(図示せず)が加圧されると、ランチt81.(
9)およびゲー1− QOIをil!laしてキャビテ
ィ0υ内に流人し、予めキャビティブロック(5)に装
着されたリードフレームA上の半導体素子(図示Uず)
を樹脂封止する。
では、型締め時にボット(7)内に充填された樹脂タブ
レット(図示せず)が加圧されると、ランチt81.(
9)およびゲー1− QOIをil!laしてキャビテ
ィ0υ内に流人し、予めキャビティブロック(5)に装
着されたリードフレームA上の半導体素子(図示Uず)
を樹脂封止する。
従来の装置では、以上のように構成され、封止時のキャ
ビティブロックの表面温度は1806±3℃程度に温度
コントロールされているが、封止装置の上型部分、下型
部分の質着差による熱変形量の差プレスの上下プラテン
の熱変形量の違い等により、上下位置決め用のガイドブ
ツシュ(図示せず)、ガイドピンα傷に芯ズレが生じ、
両差がかしって嵌入されるためこれらの摩耗が発生し型
締め時に上型、下型の型ズレが起り封止製品の外観が第
2図のように型ずれ18.8゜を待った形状となり製品
が不良とはならないが後工程のり一トが加工時にタイバ
ー力、ト等の金型が破1員するという支障があり、生産
性を著しく低下させていた。
ビティブロックの表面温度は1806±3℃程度に温度
コントロールされているが、封止装置の上型部分、下型
部分の質着差による熱変形量の差プレスの上下プラテン
の熱変形量の違い等により、上下位置決め用のガイドブ
ツシュ(図示せず)、ガイドピンα傷に芯ズレが生じ、
両差がかしって嵌入されるためこれらの摩耗が発生し型
締め時に上型、下型の型ズレが起り封止製品の外観が第
2図のように型ずれ18.8゜を待った形状となり製品
が不良とはならないが後工程のり一トが加工時にタイバ
ー力、ト等の金型が破1員するという支障があり、生産
性を著しく低下させていた。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので簡単な構成で、上型と下型の型ズレを防止でき
る半導体装置の樹脂封止方法及びその’A Tlを得る
ことを目的とする。
たもので簡単な構成で、上型と下型の型ズレを防止でき
る半導体装置の樹脂封止方法及びその’A Tlを得る
ことを目的とする。
この発明に係る半導体装置の樹脂封止方法は、定盤をス
ペーサブロックから離間した状態でサポートピンで支持
すると共に、−ト記スベーサブ「ノックに結合された取
付部材により上記定盤を水平及び垂直方向に僅か変位可
能に支承し、この状態で上型と下型とを型合せする。ま
た、この方法を用いた半導体装置の樹脂封止装置は、上
盤をスペーサブロックから離間した状態で支持するサポ
ートピンと、」二記スペーサブロックに結合され、上記
上皿を水平及び垂直方向に変位可能に支承する取付部子
オを設けたものである。
ペーサブロックから離間した状態でサポートピンで支持
すると共に、−ト記スベーサブ「ノックに結合された取
付部材により上記定盤を水平及び垂直方向に僅か変位可
能に支承し、この状態で上型と下型とを型合せする。ま
た、この方法を用いた半導体装置の樹脂封止装置は、上
盤をスペーサブロックから離間した状態で支持するサポ
ートピンと、」二記スペーサブロックに結合され、上記
上皿を水平及び垂直方向に変位可能に支承する取付部子
オを設けたものである。
〔作 用)
この発明における半導体装置の樹脂封止方法及びその’
A ’11は上型部分又は下型部分のどちらか一方の定
盤がサポートピンに支持された状態で取付部材でフロー
ティング支持され、封止装置の熱変形及び加圧する水平
方向の分力等に基づく上型、下型のキャビティのずれが
確実に防止できる。
A ’11は上型部分又は下型部分のどちらか一方の定
盤がサポートピンに支持された状態で取付部材でフロー
ティング支持され、封止装置の熱変形及び加圧する水平
方向の分力等に基づく上型、下型のキャビティのずれが
確実に防止できる。
(発明の実施例]
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図は本発明に係る半導体装置の樹脂封止4A置を示す図
で、同図において、第2図と同一の部材については同一
符号を付し、詳細な説明は省略する。
図は本発明に係る半導体装置の樹脂封止4A置を示す図
で、同図において、第2図と同一の部材については同一
符号を付し、詳細な説明は省略する。
同図において、Qφは定盤(11を弾性支持するサポー
トピンでベース(3)よりボルト(21)によりネジ締
付固定されている。(22)は側方に開口する取付溝(
22a)を有する一対のスペーサブロックで、前記サポ
ートピンQψの外側に設けられ、かつ前記へ一ス(3)
上に前記定ffl +11と所定の間隔αを隔てて固定
されている。すなわち、型締め時に前記弾性サポートピ
ン(22)が弾性圧m変形した時にも、前記定盤ill
と僅かな間隔が保持されている。(23)は前記定盤+
11とスペーサブロック(22)とを固定する段付ボル
トで、段付ボルトの首下面(23a) と定盤の表面
(1a)との間には所定の間隔(8)が形成されている
。
トピンでベース(3)よりボルト(21)によりネジ締
付固定されている。(22)は側方に開口する取付溝(
22a)を有する一対のスペーサブロックで、前記サポ
ートピンQψの外側に設けられ、かつ前記へ一ス(3)
上に前記定ffl +11と所定の間隔αを隔てて固定
されている。すなわち、型締め時に前記弾性サポートピ
ン(22)が弾性圧m変形した時にも、前記定盤ill
と僅かな間隔が保持されている。(23)は前記定盤+
11とスペーサブロック(22)とを固定する段付ボル
トで、段付ボルトの首下面(23a) と定盤の表面
(1a)との間には所定の間隔(8)が形成されている
。
このように構成された半導体装置の樹脂封止装置におい
ては、定l illがサポートピンt21、スペーサブ
ロック(22)に対し、フリーに取付けられているので
、上下型部分の熱変形量の差や、プレスの熱変形、ガタ
等が発生した場合、下型ガイドビン(191の先端が−
L型ガイドブツシュ(図示せず)の人[コにのぞきさえ
すれば、このガイドビンα9とガイドブ、ンユ(図示せ
ず)が嵌入する時に定盤fi+がキャビティの芯ズレを
解消する方向へサポートビンel 、hを滑ることにな
り、型締め時に」皿上位置決め用のガイドビンOI、ガ
イドブツシュ(図示せず)とが無理な力が作用すること
なく、スムーズに嵌合し、ガイドビン、ブ、ツユが摩耗
することなく長期間に亘り、上下キャビティの型ズレが
無い封止製品を得ることができる。
ては、定l illがサポートピンt21、スペーサブ
ロック(22)に対し、フリーに取付けられているので
、上下型部分の熱変形量の差や、プレスの熱変形、ガタ
等が発生した場合、下型ガイドビン(191の先端が−
L型ガイドブツシュ(図示せず)の人[コにのぞきさえ
すれば、このガイドビンα9とガイドブ、ンユ(図示せ
ず)が嵌入する時に定盤fi+がキャビティの芯ズレを
解消する方向へサポートビンel 、hを滑ることにな
り、型締め時に」皿上位置決め用のガイドビンOI、ガ
イドブツシュ(図示せず)とが無理な力が作用すること
なく、スムーズに嵌合し、ガイドビン、ブ、ツユが摩耗
することなく長期間に亘り、上下キャビティの型ズレが
無い封止製品を得ることができる。
また、上記実施例では、下側部分の定盤フローティング
について説明したが、上型部分のフローティング支持で
あっても、同様の効果を奏する9更に、下型部分、上型
部分ともにフローティング支持ごあっても、同様の効果
を奏する。
について説明したが、上型部分のフローティング支持で
あっても、同様の効果を奏する9更に、下型部分、上型
部分ともにフローティング支持ごあっても、同様の効果
を奏する。
(発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、定盤をスペナブロノク
から離間した状態でナボートピンで支持すると共に、上
記スペーサブロックに結合された取付部材により上記定
盤を水平及び垂直方向に僅か変位可能に支承し、この状
態で上型と下型とを型合せし、またこの方法を用いた半
導体装置の樹脂封止装置は、上盤をスペーサブロックか
ら離間した状態で支持するサポートピンと、上記スペー
サブロックに結合され、上記上盤を水平及び垂直方向に
変位可能に支承する取付部材を設けたのでフローティン
グ構造が簡単となり、装置が極めて安価となる効果があ
る。
から離間した状態でナボートピンで支持すると共に、上
記スペーサブロックに結合された取付部材により上記定
盤を水平及び垂直方向に僅か変位可能に支承し、この状
態で上型と下型とを型合せし、またこの方法を用いた半
導体装置の樹脂封止装置は、上盤をスペーサブロックか
ら離間した状態で支持するサポートピンと、上記スペー
サブロックに結合され、上記上盤を水平及び垂直方向に
変位可能に支承する取付部材を設けたのでフローティン
グ構造が簡単となり、装置が極めて安価となる効果があ
る。
第1図はこの発明の一実施例による樹脂封止装置を示す
図で、第1図(alは平面図、第1図(+1)は断面図
、第2図は従来の封止装置を示す図で、第2図(alは
平面図、第2図(b)は断面図、第3図は正常な封止製
品を示す斜視図、第4図は外観形状不良品の封止製品を
示す斜視図である。 図中、fi+は定盤、eatはサポートピン、(22)
はスペーサブロック、(23)は段付ボルトである。 なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄第1図 1:定盤 2θニブボートビン z2j又べ一゛ワ°プロ゛ンフ 23 : #’;zイすホ゛°ルト 第2図 第3図 第4図
図で、第1図(alは平面図、第1図(+1)は断面図
、第2図は従来の封止装置を示す図で、第2図(alは
平面図、第2図(b)は断面図、第3図は正常な封止製
品を示す斜視図、第4図は外観形状不良品の封止製品を
示す斜視図である。 図中、fi+は定盤、eatはサポートピン、(22)
はスペーサブロック、(23)は段付ボルトである。 なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄第1図 1:定盤 2θニブボートビン z2j又べ一゛ワ°プロ゛ンフ 23 : #’;zイすホ゛°ルト 第2図 第3図 第4図
Claims (2)
- (1)半導体素子をリードフレーム上にボンディングし
た後、樹脂により上記半導体素子を封止する半導体装置
の樹脂封止方法において、定盤をスペーサブロックから
離間した状態でサポートピンで支持すると共に、上記ス
ペーサブロックに結合された取付部材により上記定盤を
水平及び垂直方向に僅か変位可能に支承し、この状態で
上型と下型とを型合せすることを特徴とする半導体装置
の樹脂封止方法。 - (2)上盤をスペーサブロックから離間した状態で支持
するサポートピンと、上記スペーサブロックに結合され
、上記上盤を水平及び垂直方向に変位可能に支承する取
付部材を設けたことを特徴とする請求項第1項記載の半
導体装置の樹脂封止装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9100289A JPH02268448A (ja) | 1989-04-10 | 1989-04-10 | 半導体装置の樹脂封止方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9100289A JPH02268448A (ja) | 1989-04-10 | 1989-04-10 | 半導体装置の樹脂封止方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02268448A true JPH02268448A (ja) | 1990-11-02 |
Family
ID=14014299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9100289A Pending JPH02268448A (ja) | 1989-04-10 | 1989-04-10 | 半導体装置の樹脂封止方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02268448A (ja) |
-
1989
- 1989-04-10 JP JP9100289A patent/JPH02268448A/ja active Pending
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